JPS6258354A - 主記憶のテスト方法 - Google Patents

主記憶のテスト方法

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Publication number
JPS6258354A
JPS6258354A JP60199970A JP19997085A JPS6258354A JP S6258354 A JPS6258354 A JP S6258354A JP 60199970 A JP60199970 A JP 60199970A JP 19997085 A JP19997085 A JP 19997085A JP S6258354 A JPS6258354 A JP S6258354A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
main memory
processor
test
bus
processors
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP60199970A
Other languages
English (en)
Inventor
Akinori Horikawa
堀川 顯憲
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
Priority to JP60199970A priority Critical patent/JPS6258354A/ja
Publication of JPS6258354A publication Critical patent/JPS6258354A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、主記憶と複数のプロセッサがバスに接続され
たシステムにおいて主記憶に対する書込み、読出しテス
ト(以下、R/ Wテストという)方法に関する。
〔従来の技術〕
近年、主記憶と複数のプロセッサをバスに接続し、主記
憶とプロセッサ間のデータの授受をする方式は広く行わ
れてきた。このようなシステムにおいては、バスおよび
主記憶が正常に動作するのを保障することはシステムの
信頼性の上で重大である。
したがって、従来はシステムのイニシャリゼイション時
に、バスに接続されたプロセッサの1つが他のプロセッ
サに対し主記憶のR/Wテストの指示を出すことにより
、指示を受は取った各プロセッサはR/Wテストを行い
、テスト実行プロ七ツサがエラー・チェックを行い、故
障の有無を判断するという方式が行われてきた。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述した従来の主記憶のテスト方法は、テスト結果にエ
ラーが生じてもそのエラーの原因がプロセッサ側にある
のか、バスおよび主記憶側にあるかを簡単に切り分ける
ことはむずかしいという欠点がある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の主記憶のテスト方法は、主記憶と複数のプロセ
ッサがバスに接続されたシステムにおいて、前記プロセ
ッサの一つは、他の全てのプロセッサに対し、主記憶に
対する書込み、挽出しテストの開始の指示を出(−1前
記指示を受取った各プロセッサは、主記憶に対する吉込
み、読出しテストを開始し、その結果の情報を主記憶の
特定番地に格納し、前記指示を発したプロセッサも主配
憶に対する賽込み、読出しテストを行い、その結果を主
記憶の特定番地に格納し、全プロセッサの書込み、読出
しテスト終了後、前記指示を発したプロセッサは主記憶
上に格納された書込み、読出しテスト結果の情報を読出
しチェックする。
このように、主記憶とバス接続された全プロセッサが順
次主記憶をR/ Wテストし、その結果を主記憶上の特
定番地に格納し、この格納された情報をチェックするこ
とによりその故障がプロセッサ側かバス/主記憶側にあ
るかを簡単に切分けることができ、プロセッサ側が故障
の場合該プロセッサを容易に知ることができ、プロセッ
サのバスからの切離し可能となり、さらに障害の除去が
容易になる。
〔実施例〕
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
第1図は本発明の主記憶のテスト方法が適用されたシス
テムの一実施例のブロック図である。
このシステムは、データバス5と、このデータバス5に
接続された主記憶1およびプロセッサ2゜8.4と、プ
ロセッサ(8VP)2かラフロセッサ8.4に主記憶1
のテストを実行する指示コマンドの送出およびプロセッ
サ2とプロセッサ8および4間のデータの授受を行なう
ためのバス6からなる。
・次に、本実施例における主記憶1のテストについて説
明する。
システムイニシャリゼイション時、5vp2H各プロセ
ッサ3.4の主記憶1への読出し/書込み機能および主
記憶1、データバス5をテストするため、データバス5
下のプロセッサ8.4に対し主記憶1のR/Wテストの
開始指示のコマンドをバス6を通して各プロセッサ3.
4毎に順次、送出する。前記コマンドを受は取ったプロ
セッサ3または4は主記憶1に対しR/Wテストを開始
し、その結果(エラーの有無およびエラーの詳細情報)
を主記憶1内の、プロセッサ毎にきめられた特定番地に
格納し、テストの終了を5VP2ヘバス6を通じて通知
する。一方、8VPQd各プロセッサ8.4に対し前記
指示コマンドを送出すると5vp2.自身も主記憶1に
対しR/Wテストを開始し、その結果を主記憶lの特定
番地に格納する。
ここで、R/Wテストを実行した結果を格納する番地は
、1つのプロセッサが格納した情報を、他方のプロセッ
サのR/Wテストによる書込みによって壊されるのを防
ぐため、R,/Wテストされる主記憶1のエリア外の番
地に設定されている。
各プロセッサ8.4のR,/Wテストの終了は、バス6
を通して8VPzに通知される。8VPzは全プロセッ
サ8.4のテストの終了およびS■P2自身のR/Wテ
ストが終了したことを確認すると、前記特定番地に格納
されたR/〜Vテストの結果の情報を読出す。全ての結
果が正常を示していればR,/Wテストは正常に終了し
たことを示し、全結果がエラーを示していれば、バス5
もしくは主記憶】のエラーがあることを示し、少数のプ
ロセッサのテスト結果がエラーを示し、他は正常を示し
ていれば、プロセッサ側にエラーがあると5vP2は判
断し、当該プロセッサのデータバス5の使用を禁じ、バ
ス5から切り離す指示を出す。
なお5本実施例では、データバス5下の2つのプロセッ
サ8.4が前記コマンドに応答(−てI七/Wテストを
実行するが、プロセッサの数は、S■P2の外2つであ
る必4はなく、1つでもまた8つ以上のシステムに対し
ても本発明は適用できることは明白である。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、主記憶とバス接続された
全プロセッサが順次主記憶をR/Wテストし、その結果
を主記憶上の特定番地に格納し、この格納された情報を
チェックすることにより、その故障がプロセッサ側かバ
ス/主記憶側にあるかを簡単に切分けることができ、プ
ロセッサ側が故障の場合、該プロセッサを容易に知るこ
とができ、プロセッサのバスからの切離しが可能ともな
り、さらに障害の除去を容易にする効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の主記憶のテスト方法が鏑用されたシス
テムの一実施例を示すブロック図である。 1 :主記憶、 2 :プロセッサ(IVP)、 3.4:プロセッサ、 5 :データバス、 6  :5VPzと他のプロセッサ3.4を接続するバ
ス。。 第1図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 主記憶と複数のプロセッサがバスに接続されたシステム
    において、 前記プロセッサの一つは、他の全てのプロセッサに対し
    、主記憶に対する書込み、読出しテストの開始の指示を
    出し、前記指示を受取った各プロセッサは、主記憶に対
    する書込み、読出しテストを開始し、その結果の情報を
    主記憶の特定番地に格納し、前記指示を発したプロセッ
    サも主記憶に対する書込み、読出しテストを行い、その
    結果を主記憶の特定番地に格納し、全プロセッサの書込
    み、読出しテスト終了後、前記指示を発したプロセッサ
    は主記憶上に格納された書込み、読出しテスト結果の情
    報を読出しチェックする主記憶のテスト方法。
JP60199970A 1985-09-09 1985-09-09 主記憶のテスト方法 Pending JPS6258354A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP60199970A JPS6258354A (ja) 1985-09-09 1985-09-09 主記憶のテスト方法

Applications Claiming Priority (1)

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JP60199970A JPS6258354A (ja) 1985-09-09 1985-09-09 主記憶のテスト方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS6258354A true JPS6258354A (ja) 1987-03-14

Family

ID=16416621

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP60199970A Pending JPS6258354A (ja) 1985-09-09 1985-09-09 主記憶のテスト方法

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JP (1) JPS6258354A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015184796A (ja) * 2014-03-20 2015-10-22 日立オートモティブシステムズ株式会社 電子制御装置及びメモリ診断方法
US10248479B2 (en) 2015-05-25 2019-04-02 Fujitsu Limited Arithmetic processing device storing diagnostic results in parallel with diagnosing, information processing apparatus and control method of arithmetic processing device

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