JP2605519B2 - 磁気探傷方法およびその装置 - Google Patents
磁気探傷方法およびその装置Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は金属体の表面または内部
に存在する欠陥を磁気を用いて検出する磁気探傷方法お
よびこの方法を用いた磁気探傷装置に関する。
に存在する欠陥を磁気を用いて検出する磁気探傷方法お
よびこの方法を用いた磁気探傷装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】金属体としての薄鋼帯の内部または表面
に疵，異物等の欠陥が存在すると、この薄鋼帯を絞り加
工する場合や、曲げ加工する場合に亀裂が発生して致命
的な損傷を被る懸念がある。したがって、薄鋼帯製造工
場の検査ラインにおいて、欠陥の発生と欠陥規模とを精
度よく検出する必要がある。
に疵，異物等の欠陥が存在すると、この薄鋼帯を絞り加
工する場合や、曲げ加工する場合に亀裂が発生して致命
的な損傷を被る懸念がある。したがって、薄鋼帯製造工
場の検査ラインにおいて、欠陥の発生と欠陥規模とを精
度よく検出する必要がある。
【０００３】従来から、薄鋼帯の表面または内部に存在
する欠陥を効率よく検出する検出法として磁気探傷方法
が提唱されている。この磁気探傷方法においては、薄鋼
帯の表面に対向させて磁化器を配置して、この磁化器の
磁化コイルに励磁電流を流し、薄鋼帯を直流磁化する。
そして、直流磁化された薄鋼帯内に欠陥が存在すると、
欠陥の規模に応じた漏洩磁束が生じる。そして、この漏
洩磁束を薄鋼帯表面の近傍に配設された磁気センサでも
って検出することによって、欠陥の発生位置と欠陥規模
を測定できる。
する欠陥を効率よく検出する検出法として磁気探傷方法
が提唱されている。この磁気探傷方法においては、薄鋼
帯の表面に対向させて磁化器を配置して、この磁化器の
磁化コイルに励磁電流を流し、薄鋼帯を直流磁化する。
そして、直流磁化された薄鋼帯内に欠陥が存在すると、
欠陥の規模に応じた漏洩磁束が生じる。そして、この漏
洩磁束を薄鋼帯表面の近傍に配設された磁気センサでも
って検出することによって、欠陥の発生位置と欠陥規模
を測定できる。
【０００４】そして、薄鋼帯を静止した状態で測定する
のみならず、例えば工場等の製造ライン等において、走
行中の薄鋼帯に存在する欠陥を連続的に検出できる磁気
探傷装置が提唱されている（実開昭６３−１０７８４９
号公報，実開昭６１−１７００６８号公報）。
のみならず、例えば工場等の製造ライン等において、走
行中の薄鋼帯に存在する欠陥を連続的に検出できる磁気
探傷装置が提唱されている（実開昭６３−１０７８４９
号公報，実開昭６１−１７００６８号公報）。
【０００５】この磁気探傷装置においては、走行する薄
鋼帯の一方面に当接して、薄鋼帯が走行することによっ
て回転する中空ロール内に、磁化器と磁気センサとが中
空ロールに連動して回転しないように固定軸に固定され
ている。そして、磁化器でもって薄鋼帯内の走行方向に
磁界を生起させ、薄鋼帯内に存在する欠陥に起因する漏
洩磁束を磁化器の磁極間に配設された前記磁気センサで
検出する。欠陥規模は漏洩磁束の大きさに比例するの
で、磁気センサの出力信号レベルが欠陥規模に対応す
る。このような磁気センサを中空ロール内の軸方向、す
なわち、薄鋼帯の幅方向に多数配設すれば、薄鋼帯の厚
さ，材質が一定の条件においては、薄鋼帯に存在する欠
陥の幅方向の発生位置と概略の欠陥規模を検出できる。
鋼帯の一方面に当接して、薄鋼帯が走行することによっ
て回転する中空ロール内に、磁化器と磁気センサとが中
空ロールに連動して回転しないように固定軸に固定され
ている。そして、磁化器でもって薄鋼帯内の走行方向に
磁界を生起させ、薄鋼帯内に存在する欠陥に起因する漏
洩磁束を磁化器の磁極間に配設された前記磁気センサで
検出する。欠陥規模は漏洩磁束の大きさに比例するの
で、磁気センサの出力信号レベルが欠陥規模に対応す
る。このような磁気センサを中空ロール内の軸方向、す
なわち、薄鋼帯の幅方向に多数配設すれば、薄鋼帯の厚
さ，材質が一定の条件においては、薄鋼帯に存在する欠
陥の幅方向の発生位置と概略の欠陥規模を検出できる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
たような漏洩磁束を測定する磁気探傷装置においてもま
だ解消すべき次のような問題かあった。
たような漏洩磁束を測定する磁気探傷装置においてもま
だ解消すべき次のような問題かあった。
【０００７】図１２（ａ）（ｂ）を用いて問題点を説明
する。図１２は薄鋼帯内に磁化器でもって磁界を発生さ
せた状態を示す。そして、図１２（ａ）は内部に欠陥が
存在する場合の磁力線を示し、図１２（ｂ）は欠陥が全
く存在しない健全部における磁力線の状態を示す。
する。図１２は薄鋼帯内に磁化器でもって磁界を発生さ
せた状態を示す。そして、図１２（ａ）は内部に欠陥が
存在する場合の磁力線を示し、図１２（ｂ）は欠陥が全
く存在しない健全部における磁力線の状態を示す。
【０００８】欠陥が存在する図１２（ａ）においては、
薄鋼帯の外部に磁力線が大きくはみ出て、漏洩磁束を形
成する。そして、この漏洩磁束が薄鋼帯の表面近傍に配
設された磁気センサで検出される。
薄鋼帯の外部に磁力線が大きくはみ出て、漏洩磁束を形
成する。そして、この漏洩磁束が薄鋼帯の表面近傍に配
設された磁気センサで検出される。
【０００９】一方、欠陥が存在しない図１２（ｂ）の健
全部においては、薄鋼帯に外部に全く磁力線がはみ出な
いことはなく、例えば材質の組成等の影響等によって、
微小の磁力線が必ずはみ出る。このように、たとえ健全
部であってもある程度の磁力線は外部へはみ出て、浮遊
磁束を形成する。
全部においては、薄鋼帯に外部に全く磁力線がはみ出な
いことはなく、例えば材質の組成等の影響等によって、
微小の磁力線が必ずはみ出る。このように、たとえ健全
部であってもある程度の磁力線は外部へはみ出て、浮遊
磁束を形成する。
【００１０】したがって、磁気センサの出力信号には、
たとえ健全部であってもこの浮遊磁束に対応する値を含
む。逆に、欠陥が存在している場合には、欠陥に起因す
る漏洩磁束と浮遊磁束との合計に対応した値が磁気セン
サの出力信号に含まれる。
たとえ健全部であってもこの浮遊磁束に対応する値を含
む。逆に、欠陥が存在している場合には、欠陥に起因す
る漏洩磁束と浮遊磁束との合計に対応した値が磁気セン
サの出力信号に含まれる。
【００１１】大規模欠陥のみを問題にする場合は、この
浮遊磁束の影響は少ない。しかし、小規模な欠陥まで精
度よく検出する場合は、この浮遊磁束の影響を無視でき
ない。この浮遊磁束の大きさは、検査対象としての薄鋼
帯の磁気抵抗、すなわち、薄鋼帯の板厚や材質によって
大きく変動する。したがって、この一定しない浮遊磁束
を含む漏洩磁束を測定したとしても、この漏洩磁束の大
きさは欠陥規模に対応しない。
浮遊磁束の影響は少ない。しかし、小規模な欠陥まで精
度よく検出する場合は、この浮遊磁束の影響を無視でき
ない。この浮遊磁束の大きさは、検査対象としての薄鋼
帯の磁気抵抗、すなわち、薄鋼帯の板厚や材質によって
大きく変動する。したがって、この一定しない浮遊磁束
を含む漏洩磁束を測定したとしても、この漏洩磁束の大
きさは欠陥規模に対応しない。
【００１２】また、欠陥を連続して検出している過程に
おいては、この浮遊磁束は磁気センサの出力信号におい
ては雑音レベル（バックグランドノイズを含む）とな
る。よつて、この雑音レベルが薄鋼帯の種類を変更する
毎に変動すれば、出力信号のＳ／Ｎが変動する。
おいては、この浮遊磁束は磁気センサの出力信号におい
ては雑音レベル（バックグランドノイズを含む）とな
る。よつて、この雑音レベルが薄鋼帯の種類を変更する
毎に変動すれば、出力信号のＳ／Ｎが変動する。
【００１３】このため、一定のしきい値で欠陥の有無を
自動的に判断し、さらに欠陥規模を特定する場合に正確
に作動しないことになる。また、実際には、浮遊磁束が
変動すると、漏洩磁束も浮遊磁束の変動分以上に変動す
るので、欠陥規模に対応しない出力信号が得られること
になる。
自動的に判断し、さらに欠陥規模を特定する場合に正確
に作動しないことになる。また、実際には、浮遊磁束が
変動すると、漏洩磁束も浮遊磁束の変動分以上に変動す
るので、欠陥規模に対応しない出力信号が得られること
になる。
【００１４】したがって、上述した磁気探傷方法および
磁気探傷装置においては、検査対象となる薄鋼帯の板厚
や材質の違いで、たとえ同一規模の欠陥であったとして
も、欠陥の検出信号レベルが異なり、欠陥の検出精度が
低下し、装置全体の欠陥検出の信頼性が低下する問題が
ある。
磁気探傷装置においては、検査対象となる薄鋼帯の板厚
や材質の違いで、たとえ同一規模の欠陥であったとして
も、欠陥の検出信号レベルが異なり、欠陥の検出精度が
低下し、装置全体の欠陥検出の信頼性が低下する問題が
ある。
【００１５】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、磁化器の励磁電流値を制御することによっ
て、たとえ検査対象としての金属体の厚さや材質が変化
したとしても、磁気センサにて検出された欠陥の検出信
号の信号レベルは、常に欠陥規模に正確に対応した値と
なり、かつ雑音となる浮遊磁束のレベルを常に一定に維
持でき、結果として、欠陥検出精度を向上できかつ検出
信号のＳ／Ｎを向上できる磁気探傷方法及び磁気探傷装
置を提供することを目的とする。
ものであり、磁化器の励磁電流値を制御することによっ
て、たとえ検査対象としての金属体の厚さや材質が変化
したとしても、磁気センサにて検出された欠陥の検出信
号の信号レベルは、常に欠陥規模に正確に対応した値と
なり、かつ雑音となる浮遊磁束のレベルを常に一定に維
持でき、結果として、欠陥検出精度を向上できかつ検出
信号のＳ／Ｎを向上できる磁気探傷方法及び磁気探傷装
置を提供することを目的とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明の方法は、磁化器でもって金属体内に磁界を発
生させ、この金属体の内部または表面の欠陥に起因して
生じる漏洩磁束を磁気センサでもって検出する磁気探傷
方法において、金属体における欠陥が生じていない健全
部においても発生する浮遊磁束を検出し、検出された浮
遊磁束が予め定められた一定値になるように、磁化器の
励磁電流を制御するようにしている。
に本発明の方法は、磁化器でもって金属体内に磁界を発
生させ、この金属体の内部または表面の欠陥に起因して
生じる漏洩磁束を磁気センサでもって検出する磁気探傷
方法において、金属体における欠陥が生じていない健全
部においても発生する浮遊磁束を検出し、検出された浮
遊磁束が予め定められた一定値になるように、磁化器の
励磁電流を制御するようにしている。
【００１７】また、本発明の装置は、金属体の表面に対
向配設され、この金属体内に磁界を発生させる磁化器
と、この磁化器に励磁電流を供給する磁化電源と、金属
体の近傍に配設され、金属板の内部または表面の欠陥に
起因して生じる漏洩磁束を検出する磁気センサとを備え
た磁気探傷装置において、金属体における欠陥が生じて
いない健全部に発生する浮遊磁束を磁気センサで検出す
る浮遊磁束検出手段と、この検出された浮遊磁束が予め
定められた一定値になるように、前記励磁電流を制御す
る励磁電流制御手段とを備えたものである。
向配設され、この金属体内に磁界を発生させる磁化器
と、この磁化器に励磁電流を供給する磁化電源と、金属
体の近傍に配設され、金属板の内部または表面の欠陥に
起因して生じる漏洩磁束を検出する磁気センサとを備え
た磁気探傷装置において、金属体における欠陥が生じて
いない健全部に発生する浮遊磁束を磁気センサで検出す
る浮遊磁束検出手段と、この検出された浮遊磁束が予め
定められた一定値になるように、前記励磁電流を制御す
る励磁電流制御手段とを備えたものである。
【００１８】さらに、磁化器を、金属体の走行路に直交
する固定軸に回転自在に支持され走行路を走行する金属
体の表面に接することによって回転する中空ロール内に
配設することが、測定精度を向上する上で効果がある。
する固定軸に回転自在に支持され走行路を走行する金属
体の表面に接することによって回転する中空ロール内に
配設することが、測定精度を向上する上で効果がある。
【００１９】
【作用】先ず、浮遊磁束が予め定められた一定値になる
ように磁化器の励磁電流を制御すると、欠陥に起因する
検出信号レベルが、たとえ検査対象の金属体の板厚や材
質が変化したとしても一定値を維持する理由を説明す
る。
ように磁化器の励磁電流を制御すると、欠陥に起因する
検出信号レベルが、たとえ検査対象の金属体の板厚や材
質が変化したとしても一定値を維持する理由を説明す
る。
【００２０】前述したように検査対象となる金属体は板
厚や材質によって変化する磁気抵抗Ｒが存在する。した
がって、外部の磁化器によって同一の磁界を印加したと
しても金属体内に生起される磁界の強度が異なる。すな
わち、磁気抵抗Ｒが増加すると内部を通る磁束数Ｎが減
少し、磁気抵抗Ｒが減少すると磁束数Ｎが増加する。ま
た、浮遊磁束は微細な結晶や組成の不揃いに起因すると
考えると、磁気抵抗Ｒに比例したミクロな欠陥と見なす
ことが可能である。このミクロな欠陥の規模をＡ（＝ｋ
1 Ｒ）とすると、この欠陥の存在により外部へはみ出し
た磁力線が浮遊磁束となる。よって、この浮遊磁束Φ0
は(1) 式となる。 Φ0 ＝ｋＡＮ＝ｋ・ｋ1 ＲＮ …(1) 同様に本来の欠陥の規模をＢとすると、この欠陥に起因
する漏洩磁束Φ1は(2)式となる。 Φ1 ＝ｋＢＮ …(2) なお、ｋは定数である。よって、磁気センサで検出され
る磁束Φは浮遊磁束と漏洩磁束とを加算した値となる。 Φ＝Φ0 ＋Φ1 ＝ｋ（ＡＮ＋ＢＮ） …(3)
厚や材質によって変化する磁気抵抗Ｒが存在する。した
がって、外部の磁化器によって同一の磁界を印加したと
しても金属体内に生起される磁界の強度が異なる。すな
わち、磁気抵抗Ｒが増加すると内部を通る磁束数Ｎが減
少し、磁気抵抗Ｒが減少すると磁束数Ｎが増加する。ま
た、浮遊磁束は微細な結晶や組成の不揃いに起因すると
考えると、磁気抵抗Ｒに比例したミクロな欠陥と見なす
ことが可能である。このミクロな欠陥の規模をＡ（＝ｋ
1 Ｒ）とすると、この欠陥の存在により外部へはみ出し
た磁力線が浮遊磁束となる。よって、この浮遊磁束Φ0
は(1) 式となる。 Φ0 ＝ｋＡＮ＝ｋ・ｋ1 ＲＮ …(1) 同様に本来の欠陥の規模をＢとすると、この欠陥に起因
する漏洩磁束Φ1は(2)式となる。 Φ1 ＝ｋＢＮ …(2) なお、ｋは定数である。よって、磁気センサで検出され
る磁束Φは浮遊磁束と漏洩磁束とを加算した値となる。 Φ＝Φ0 ＋Φ1 ＝ｋ（ＡＮ＋ＢＮ） …(3)
【００２１】（１）（２）（３） 式において、たとえ
金属体の材質や板厚が変化しても、漏洩磁束Φ1 が変化
しないことが条件となる。したがって、磁束数Ｎが一定
である必要がある。この磁束数Ｎを一定にするには、浮
遊磁束Φ0 を一定に制御すればよい。すなわち、例えば
材質や板厚が変化して磁気抵抗Ｒが増加すると磁束数Ｎ
が低下するが、浮遊磁束Φ0 が一定であれば、外部から
この金属体に印加する磁界の強度を上昇させて磁束数Ｎ
の低下分を補う必要がある。したがって、浮遊磁束Φ0
が一定であれば、磁束数Ｎは一定となる。その結果、た
とえ検査対象の金属体の板厚や材質が変化したとして
も、本来の欠陥に起因する検出信号レベルが一定とな
る。
金属体の材質や板厚が変化しても、漏洩磁束Φ1 が変化
しないことが条件となる。したがって、磁束数Ｎが一定
である必要がある。この磁束数Ｎを一定にするには、浮
遊磁束Φ0 を一定に制御すればよい。すなわち、例えば
材質や板厚が変化して磁気抵抗Ｒが増加すると磁束数Ｎ
が低下するが、浮遊磁束Φ0 が一定であれば、外部から
この金属体に印加する磁界の強度を上昇させて磁束数Ｎ
の低下分を補う必要がある。したがって、浮遊磁束Φ0
が一定であれば、磁束数Ｎは一定となる。その結果、た
とえ検査対象の金属体の板厚や材質が変化したとして
も、本来の欠陥に起因する検出信号レベルが一定とな
る。
【００２２】そして、この発明においては、金属体の健
全部においても発生する浮遊磁束を検出して、検出され
た浮遊磁束が一定値になるように磁化器の励磁電流値を
制御している。
全部においても発生する浮遊磁束を検出して、検出され
た浮遊磁束が一定値になるように磁化器の励磁電流値を
制御している。
【００２３】よって、検査対象となる金属体の板厚や材
質が変更になった時に、浮遊磁束が予め設定された基準
サンプルに対する基準浮遊磁束に一致するように励磁電
流を調整すれば、種類が異なる全て金属体に対して同一
ゲインで欠陥規模を測定できる。
質が変更になった時に、浮遊磁束が予め設定された基準
サンプルに対する基準浮遊磁束に一致するように励磁電
流を調整すれば、種類が異なる全て金属体に対して同一
ゲインで欠陥規模を測定できる。
【００２４】また、磁化器を金属体が接触する中空ロー
ル内に収納することによって、磁化器と金属体との間の
距離を常に一定値に制御でき、金属体内に発生する磁界
の強度を同一種類の金属体に対して常に一定値に制御で
き、装置全体の測定精度を向上できる。
ル内に収納することによって、磁化器と金属体との間の
距離を常に一定値に制御でき、金属体内に発生する磁界
の強度を同一種類の金属体に対して常に一定値に制御で
き、装置全体の測定精度を向上できる。
【００２５】
【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。図２は実施例の磁気探傷方法を採用した磁気探傷装
置の概略構成を示す図であり、同図（ａ）（ｂ）はそれ
ぞれ異なる方向から見た断面模式図である。
る。図２は実施例の磁気探傷方法を採用した磁気探傷装
置の概略構成を示す図であり、同図（ａ）（ｂ）はそれ
ぞれ異なる方向から見た断面模式図である。
【００２６】非磁性材料で形成された中空ロール１の中
心に固定軸２の一端が貫通されている。この固定軸２の
他端は図示しない建屋のフレームに支持されている。そ
して、固定軸２は中空ロール１の中心に位置するように
一対のころがり軸受３ａ，３ｂでもって中空ロール１の
両端の内周面に支持されている。したがって、この中空
ロール１は固定軸２を回転中心軸として自由に回転す
る。
心に固定軸２の一端が貫通されている。この固定軸２の
他端は図示しない建屋のフレームに支持されている。そ
して、固定軸２は中空ロール１の中心に位置するように
一対のころがり軸受３ａ，３ｂでもって中空ロール１の
両端の内周面に支持されている。したがって、この中空
ロール１は固定軸２を回転中心軸として自由に回転す
る。
【００２７】中空ロール１内に、略コ字断面形状を有し
た磁化鉄心４ｃが、その各磁極４ａ，４ｂが中空ロール
１の内周面に近接する姿勢で、支持部材５を介して固定
軸２に固定されている。この磁化鉄心４ｃに磁化コイル
６が巻装されている。したがって、この磁化鉄心４ｃと
磁化コイル６とで磁化器４を構成している。磁化鉄心４
ｃの磁極４ａ，４ｂの間に複数の磁気センサ７ａを軸方
向にアレイ状に配列してなる磁気センサ群７がやはり固
定軸２に固定されている。
た磁化鉄心４ｃが、その各磁極４ａ，４ｂが中空ロール
１の内周面に近接する姿勢で、支持部材５を介して固定
軸２に固定されている。この磁化鉄心４ｃに磁化コイル
６が巻装されている。したがって、この磁化鉄心４ｃと
磁化コイル６とで磁化器４を構成している。磁化鉄心４
ｃの磁極４ａ，４ｂの間に複数の磁気センサ７ａを軸方
向にアレイ状に配列してなる磁気センサ群７がやはり固
定軸２に固定されている。
【００２８】磁化コイル６に励磁電流を供給するための
電源ケーブル８および磁気センサ群７の各磁気センサ７
ａの検出信号を取出すための信号ケーブル９は固定軸２
内を経由して外部へ導出されている。したがって、磁化
器４および磁気センサ群７の位置は固定され、中空ロー
ル１が磁化器４および磁気センサ群７の外周を微小間隙
を有して回転する。
電源ケーブル８および磁気センサ群７の各磁気センサ７
ａの検出信号を取出すための信号ケーブル９は固定軸２
内を経由して外部へ導出されている。したがって、磁化
器４および磁気センサ群７の位置は固定され、中空ロー
ル１が磁化器４および磁気センサ群７の外周を微小間隙
を有して回転する。
【００２９】このような構成の磁気探傷装置の中空ロー
ル１の外周面を例えば矢印ａ方向に走行状態の金属体と
しての薄鋼帯１０の一方面に所定圧力でもって押し当て
ると、固定軸２はフレームに固定されているので、中空
ロール１が矢印ｂ方向に回転する。図１は各磁気センサ
７ａから得られた検出信号を処理するとともに、磁化器
４を制御する制御装置１１を示すブロック図である。
ル１の外周面を例えば矢印ａ方向に走行状態の金属体と
しての薄鋼帯１０の一方面に所定圧力でもって押し当て
ると、固定軸２はフレームに固定されているので、中空
ロール１が矢印ｂ方向に回転する。図１は各磁気センサ
７ａから得られた検出信号を処理するとともに、磁化器
４を制御する制御装置１１を示すブロック図である。
【００３０】各磁気ンサ７ａから各信号ケーブル９を介
して導出された検出信号は制御装置１１内のマルチプレ
クサ１２へ入力される。マルチプレクサ１２はデータ処
理部１４からの指令によって、一定のサンプリング周期
でもって、各磁気センサ７ａから入力された各検出信号
を時分割多重化して次の信号処理回路１３へ送出する。
信号処理回路１３は、内部に雑音除去のためのローパス
フィルタ，ピーク値検出回路．加減演算回路，増幅器，
Ａ／Ｄ変換器等を内臓している。そして、信号処理回路
１３は入力した各磁気センサ７ａの検出信号を漏洩磁束
に対応したデジタルの出力電圧Ｖ0 に変換して次のデー
タ処理部１４へ送出する。
して導出された検出信号は制御装置１１内のマルチプレ
クサ１２へ入力される。マルチプレクサ１２はデータ処
理部１４からの指令によって、一定のサンプリング周期
でもって、各磁気センサ７ａから入力された各検出信号
を時分割多重化して次の信号処理回路１３へ送出する。
信号処理回路１３は、内部に雑音除去のためのローパス
フィルタ，ピーク値検出回路．加減演算回路，増幅器，
Ａ／Ｄ変換器等を内臓している。そして、信号処理回路
１３は入力した各磁気センサ７ａの検出信号を漏洩磁束
に対応したデジタルの出力電圧Ｖ0 に変換して次のデー
タ処理部１４へ送出する。
【００３１】データ処理部１４は、例えばマイクロコン
ピュータから構成されており、内部記憶部に前記各磁気
センサ７ａ毎の感度係数Ｋa を記憶する。そして、各磁
気センサ７ａの出力電圧Ｖ0 に各感度係数Ｋa を乗算し
て、欠陥規模に対応する電圧Ｖf を求めて表示器１５へ
表示する。 Ｖf ＝Ｋa ・Ｖ0 …(4) また、このデータ処理部１４には、操作パネル１６、お
よび磁化器４の磁化コイル６に励磁電流Ｉを供給する磁
化電源１７が接続されている。
ピュータから構成されており、内部記憶部に前記各磁気
センサ７ａ毎の感度係数Ｋa を記憶する。そして、各磁
気センサ７ａの出力電圧Ｖ0 に各感度係数Ｋa を乗算し
て、欠陥規模に対応する電圧Ｖf を求めて表示器１５へ
表示する。 Ｖf ＝Ｋa ・Ｖ0 …(4) また、このデータ処理部１４には、操作パネル１６、お
よび磁化器４の磁化コイル６に励磁電流Ｉを供給する磁
化電源１７が接続されている。
【００３２】このような磁気検出装置において、磁化電
源１７から磁化コイル６に励磁電流Ｉを供給すると、磁
化鉄心４ｃの各磁極４ａ，４ｂと走行中の薄鋼帯１０と
で閉じた磁路が形成される。そして、薄鋼帯１０の内部
あるいは表面に欠陥が存在すると、薄鋼帯１０内の磁路
が乱れ、漏洩磁束が生じる。この漏洩磁束が磁気センサ
群７を構成する該当欠陥位置に対向する磁気センサ７ａ
で検出され、この磁気センサ７ａから該当欠陥に対応す
る検出信号が出力される。そして、信号処理回路１３か
ら出力された薄鋼帯１０の幅方向に各位置の出力電圧Ｖ
0 は欠陥規模に対応する電圧Ｖf に変換されて、図４ま
たは図７に示すフォーマットで表示器１５に表示さる。
源１７から磁化コイル６に励磁電流Ｉを供給すると、磁
化鉄心４ｃの各磁極４ａ，４ｂと走行中の薄鋼帯１０と
で閉じた磁路が形成される。そして、薄鋼帯１０の内部
あるいは表面に欠陥が存在すると、薄鋼帯１０内の磁路
が乱れ、漏洩磁束が生じる。この漏洩磁束が磁気センサ
群７を構成する該当欠陥位置に対向する磁気センサ７ａ
で検出され、この磁気センサ７ａから該当欠陥に対応す
る検出信号が出力される。そして、信号処理回路１３か
ら出力された薄鋼帯１０の幅方向に各位置の出力電圧Ｖ
0 は欠陥規模に対応する電圧Ｖf に変換されて、図４ま
たは図７に示すフォーマットで表示器１５に表示さる。
【００３３】図４は全く欠陥が存在しない薄鋼帯１０を
測定した場合における表示器１５に表示された各幅方向
位置の各出力電圧を示す図である。台形特性の中央部の
レベルが薄鋼帯１０における浮遊磁束に対応する雑音レ
ベルであり、両端部のレベルが薄鋼帯１０が存在しない
中空ロール１における雑音レベルである。図４は薄鋼帯
１０に全く欠陥が存在した場合における各幅方向位置に
おける浮遊磁束に起因する雑音信号と欠陥検出信号の各
レベルを示す図である。そして、前記データ処理部１４
は図３に示す電流調整処理を実行するようにプログラム
構成されている。
測定した場合における表示器１５に表示された各幅方向
位置の各出力電圧を示す図である。台形特性の中央部の
レベルが薄鋼帯１０における浮遊磁束に対応する雑音レ
ベルであり、両端部のレベルが薄鋼帯１０が存在しない
中空ロール１における雑音レベルである。図４は薄鋼帯
１０に全く欠陥が存在した場合における各幅方向位置に
おける浮遊磁束に起因する雑音信号と欠陥検出信号の各
レベルを示す図である。そして、前記データ処理部１４
は図３に示す電流調整処理を実行するようにプログラム
構成されている。
【００３４】すなわち、流れ図が開始されると、磁気セ
ンサ郡７の幅方向の中央部におけるＭ個の磁気センサ７
ａからの各出力電圧Ｖf を取出す。そして、図７に示す
ように、実際の欠陥が存在していた場合を考慮して、予
め設定されたしきい値以上の出力電圧Ｖf を破棄する。
そして、破棄後の各出力電圧Ｖf の平均値Ｖf0を算出す
る。そして、この平均値Ｖf0をｍ個単位で移動平均す
る。
ンサ郡７の幅方向の中央部におけるＭ個の磁気センサ７
ａからの各出力電圧Ｖf を取出す。そして、図７に示す
ように、実際の欠陥が存在していた場合を考慮して、予
め設定されたしきい値以上の出力電圧Ｖf を破棄する。
そして、破棄後の各出力電圧Ｖf の平均値Ｖf0を算出す
る。そして、この平均値Ｖf0をｍ個単位で移動平均す
る。
【００３５】そして、予め設定された基準電圧Ｖfs（設
定雑音レベル）からこの移動平均値Ｖf0を減算して、こ
の偏差ΔＶ（＝Ｖfs−Ｖf0）が予め設定された±０．５
Ｖの許容誤差ΔＶa 範囲内に入るか否かを判断する。許
容範囲に入っていれば、なにもしない。許容範囲を上方
に外れれば、磁化器１７へ磁化電流Ｉの増加指令を送出
し、逆に許容範囲を下方に外れれば、磁化器１７へ磁化
電流Ｉの減少指令を送出する。したがって、検出された
移動平均値Ｖf0が基準電圧Ｖfsになるように、磁化器４
に対する励磁電流Ｉが変化し、最終的に、検出された浮
遊磁束が予め設定された基準値に一致する。
定雑音レベル）からこの移動平均値Ｖf0を減算して、こ
の偏差ΔＶ（＝Ｖfs−Ｖf0）が予め設定された±０．５
Ｖの許容誤差ΔＶa 範囲内に入るか否かを判断する。許
容範囲に入っていれば、なにもしない。許容範囲を上方
に外れれば、磁化器１７へ磁化電流Ｉの増加指令を送出
し、逆に許容範囲を下方に外れれば、磁化器１７へ磁化
電流Ｉの減少指令を送出する。したがって、検出された
移動平均値Ｖf0が基準電圧Ｖfsになるように、磁化器４
に対する励磁電流Ｉが変化し、最終的に、検出された浮
遊磁束が予め設定された基準値に一致する。
【００３６】したがって、たとえ薄鋼帯１０の板厚や材
質が変化したとしても、浮遊磁束に対応する出力電圧Ｖ
f が基準電圧Ｖfsに一致するので、薄鋼帯１０内の磁力
線数Ｎが一定となり、同一規模の欠陥に対しては同一出
力電圧ＶF が得られる。発明者は実施例装置の効果を確
認するために予め欠陥規模が既知の複数のサンプルを用
いて欠陥測定を行った。
質が変化したとしても、浮遊磁束に対応する出力電圧Ｖ
f が基準電圧Ｖfsに一致するので、薄鋼帯１０内の磁力
線数Ｎが一定となり、同一規模の欠陥に対しては同一出
力電圧ＶF が得られる。発明者は実施例装置の効果を確
認するために予め欠陥規模が既知の複数のサンプルを用
いて欠陥測定を行った。
【００３７】そして、図５（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）に
示すように、同一材質Ａを用い、板厚0.16 mm の鋼板に
直径0.2 mm，0.3 mm，0.6 mmのドリル貫通孔を加工し、
前記鋼板と同一材質Ａで、板厚0.1 mm，0.16 mm ，0.32
mm の各々２枚の薄鋼帯で前記ドリル貫通孔を加工した
薄鋼帯を挟むように重ねて、板厚ｄが異なる４種類の人
工欠陥サンプル１８ａ，１８ｂ，１８ｃ，１８ｄを作成
した。
示すように、同一材質Ａを用い、板厚0.16 mm の鋼板に
直径0.2 mm，0.3 mm，0.6 mmのドリル貫通孔を加工し、
前記鋼板と同一材質Ａで、板厚0.1 mm，0.16 mm ，0.32
mm の各々２枚の薄鋼帯で前記ドリル貫通孔を加工した
薄鋼帯を挟むように重ねて、板厚ｄが異なる４種類の人
工欠陥サンプル１８ａ，１８ｂ，１８ｃ，１８ｄを作成
した。
【００３８】さらに、図６（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）に
示すように、板厚0.16 mm の鋼板に直径0.2 mmのドリル
貫通孔を加工したそれぞれ材質Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅのみが異
なる４種類の人工欠陥サンプル１９ａ，１９ｂ，１９
ｃ，１９ｄを作成した。
示すように、板厚0.16 mm の鋼板に直径0.2 mmのドリル
貫通孔を加工したそれぞれ材質Ｂ，Ｃ，Ｄ，Ｅのみが異
なる４種類の人工欠陥サンプル１９ａ，１９ｂ，１９
ｃ，１９ｄを作成した。
【００３９】そして、これらの合計８種類の人工欠陥サ
ンプル１８ａ〜１９ｄに対して、磁化器４に対する励磁
電流Ｉを一定値に固定した状態で、図１，図２に示す実
施例装置を用いて欠陥測定を実施した。測定結果を図７
に示す。図７の測定結果でも理解できるように、材質や
板厚が異なれば、たとえ同一欠陥規模であっても、欠陥
検出信号の出力電圧レベルが異なることが理解できる。
同時に、浮遊磁束を示す雑音電圧レベルも異なる。
ンプル１８ａ〜１９ｄに対して、磁化器４に対する励磁
電流Ｉを一定値に固定した状態で、図１，図２に示す実
施例装置を用いて欠陥測定を実施した。測定結果を図７
に示す。図７の測定結果でも理解できるように、材質や
板厚が異なれば、たとえ同一欠陥規模であっても、欠陥
検出信号の出力電圧レベルが異なることが理解できる。
同時に、浮遊磁束を示す雑音電圧レベルも異なる。
【００４０】図８に板厚ｄと欠陥検出信号の出力電圧レ
ベルとの関係を示す。この図から明らかなように、同一
欠陥規模であっても、板厚ｄが厚くなると出力電圧レベ
ルが低下する。また、板厚ｄが厚くなると浮遊磁束に対
応する雑音電圧レベルが低下する。
ベルとの関係を示す。この図から明らかなように、同一
欠陥規模であっても、板厚ｄが厚くなると出力電圧レベ
ルが低下する。また、板厚ｄが厚くなると浮遊磁束に対
応する雑音電圧レベルが低下する。
【００４１】なお、図８には、磁気センサ７ａを図１に
示すように中空ロール１内に収納した場合と、図１１に
示すように、中空ロール１の外側に配設した場合におけ
る出力電圧レベルの比較も同時に表示している。図示す
るように、磁気センサ７ａを中空ロール１内に収納した
場合と、磁気センサ７ａを中空ロール１外へ配設した場
合とでは、欠陥検出特性相互間に統計上の有意差は認め
られない。よって、以後は磁気センサ７ａが中空ロール
１内に収納された装置で実験した結果について述べる。
示すように中空ロール１内に収納した場合と、図１１に
示すように、中空ロール１の外側に配設した場合におけ
る出力電圧レベルの比較も同時に表示している。図示す
るように、磁気センサ７ａを中空ロール１内に収納した
場合と、磁気センサ７ａを中空ロール１外へ配設した場
合とでは、欠陥検出特性相互間に統計上の有意差は認め
られない。よって、以後は磁気センサ７ａが中空ロール
１内に収納された装置で実験した結果について述べる。
【００４２】図１０に、各材質毎に、同一規模の欠陥
（０．２mmドリル貫通孔）に対する欠陥検出信号の出力
電圧レベルとそのときの浮遊磁束に対応する雑音電圧レ
ベルとの比較を示す。この図から理解できるように、各
材質の欠陥に対する出力電圧レベルに対する雑音電圧レ
ベルの比は各材質に亘ってほぼ一定していることが理解
できる。
（０．２mmドリル貫通孔）に対する欠陥検出信号の出力
電圧レベルとそのときの浮遊磁束に対応する雑音電圧レ
ベルとの比較を示す。この図から理解できるように、各
材質の欠陥に対する出力電圧レベルに対する雑音電圧レ
ベルの比は各材質に亘ってほぼ一定していることが理解
できる。
【００４３】そこで、欠陥に起因する検出信号の出力電
圧レベルが磁化器４に印加する励磁電流Ｉ0 に比例する
と仮定する。そして、各材質Ａ〜Ｅおよび各板厚0.16mm
〜0.8mm における0.2 mmドリル貫通孔の欠陥を測定した
時の各出力電圧レベルが、基準となる人工欠陥サンプル
１８ａにおける出力電圧レベルに一致するためには、そ
れぞれ基準励磁電流Ｉ0 に対してどのくらいの比率の励
磁電流を供給したらよいかを示す励磁電流比を求めた。
結果を表１に示す。
圧レベルが磁化器４に印加する励磁電流Ｉ0 に比例する
と仮定する。そして、各材質Ａ〜Ｅおよび各板厚0.16mm
〜0.8mm における0.2 mmドリル貫通孔の欠陥を測定した
時の各出力電圧レベルが、基準となる人工欠陥サンプル
１８ａにおける出力電圧レベルに一致するためには、そ
れぞれ基準励磁電流Ｉ0 に対してどのくらいの比率の励
磁電流を供給したらよいかを示す励磁電流比を求めた。
結果を表１に示す。
【００４４】
【表１】
【００４５】前述したように、出力電圧レベルに対する
雑音電圧レベルの比は各材質に亘ってほぼ一定している
ので、この各励磁電流比は同一の浮遊磁束に対応する雑
音電圧レベルを得るための励磁電流比でもある。
雑音電圧レベルの比は各材質に亘ってほぼ一定している
ので、この各励磁電流比は同一の浮遊磁束に対応する雑
音電圧レベルを得るための励磁電流比でもある。
【００４６】そして、この表に示す励磁電流比に対応す
るそれぞれの励磁電流Ｉを磁化器４に供給した状態で、
規模が異なるそれぞれの欠陥を測定した。測定結果を図
１０（ａ）（ｂ）に示す。
るそれぞれの励磁電流Ｉを磁化器４に供給した状態で、
規模が異なるそれぞれの欠陥を測定した。測定結果を図
１０（ａ）（ｂ）に示す。
【００４７】図１０（ａ）にも明らかなように、たとえ
板厚ｄが変化したとしても、各欠陥規模毎にほぼ一定の
電圧出力レベルおよび雑音電圧レベルを確保することが
できた。また、図１０（ｂ）に示すように、たとえ材質
が変化したとしても、各欠陥規模毎にほぼ一定の電圧出
力レベルおよび雑音電圧レベルを確保することができ
た。
板厚ｄが変化したとしても、各欠陥規模毎にほぼ一定の
電圧出力レベルおよび雑音電圧レベルを確保することが
できた。また、図１０（ｂ）に示すように、たとえ材質
が変化したとしても、各欠陥規模毎にほぼ一定の電圧出
力レベルおよび雑音電圧レベルを確保することができ
た。
【００４８】このように、たとえ検査対象となる薄鋼帯
１０の材質や板厚が変化したとしても、磁気センサ７ａ
で検出される浮遊磁束が常に一定値になるように磁化器
４に対する励磁電流Ｉを制御することによって、常に欠
陥規模に対して正確に対応した出力値が得られる。
１０の材質や板厚が変化したとしても、磁気センサ７ａ
で検出される浮遊磁束が常に一定値になるように磁化器
４に対する励磁電流Ｉを制御することによって、常に欠
陥規模に対して正確に対応した出力値が得られる。
【００４９】また、雑音電圧レベルとなる浮遊磁束が一
定値に制御されるので、磁気センサ７ａの検出信号に含
まれる雑音信号レベルを常に一定値に維持できるので、
常に安定したＳ／Ｎを維持できる。このように、一定し
たＳ／Ｎでもって欠陥規模に対した正確な出力値が得ら
れるので、欠陥検精度を大幅に向上できる。
定値に制御されるので、磁気センサ７ａの検出信号に含
まれる雑音信号レベルを常に一定値に維持できるので、
常に安定したＳ／Ｎを維持できる。このように、一定し
たＳ／Ｎでもって欠陥規模に対した正確な出力値が得ら
れるので、欠陥検精度を大幅に向上できる。
【００５０】なお、本発明は上述した実施例に限定され
るものではない。実施例装置においては、磁気センサ７
ａを中空ロール１内へ収納したが、例えば、図１１に示
すように外部に設けることが可能である。すなわち、図
１１の実施例においては、中空ロール１に薄鋼帯１０を
挟んで対向する位置に固定軸２ａが配設されており、こ
の固定軸２ａに支持部材を介して、多数の下向きの磁気
センサ７ｂからなる磁気センサ群が固定されたいる。し
たがって、中空ロール１内には磁気センサ７ａは設けら
れていない。各磁気センサ７ｂは薄鋼帯１０を介して磁
化器４の各磁極４ａ，４ｂに対向する。
るものではない。実施例装置においては、磁気センサ７
ａを中空ロール１内へ収納したが、例えば、図１１に示
すように外部に設けることが可能である。すなわち、図
１１の実施例においては、中空ロール１に薄鋼帯１０を
挟んで対向する位置に固定軸２ａが配設されており、こ
の固定軸２ａに支持部材を介して、多数の下向きの磁気
センサ７ｂからなる磁気センサ群が固定されたいる。し
たがって、中空ロール１内には磁気センサ７ａは設けら
れていない。各磁気センサ７ｂは薄鋼帯１０を介して磁
化器４の各磁極４ａ，４ｂに対向する。
【００５１】このように構成された磁気探傷装置であっ
ても、磁化器４でもって薄鋼帯に磁界が形成され、欠陥
に起因する漏洩磁束を各磁気センサ７ｂで検出できる。
よって、先に説明した実施例とほぼ同様の効果を得るこ
とができる。
ても、磁化器４でもって薄鋼帯に磁界が形成され、欠陥
に起因する漏洩磁束を各磁気センサ７ｂで検出できる。
よって、先に説明した実施例とほぼ同様の効果を得るこ
とができる。
【００５２】
【発明の効果】以上説明したように本発明の磁気探傷方
法および磁気探傷装置によれば、磁化器によって検査対
象としての金属体内に磁界を発生させたときに欠陥が生
じていない健全部においても発生する浮遊磁束を検出
し、検出された浮遊磁束が予め定められた一定値になる
ように、磁化器の励磁電流を制御している。したがっ
て、たとえ検査対象としての金属体の厚さや材質が変化
したとしても、磁気センサにて検出された欠陥の検出信
号の信号レベルは、常に欠陥規模に正確に対応した値と
なる。また、雑音となる浮遊磁束のレベルを常に一定に
維持でき、結果として、欠陥検出精度を向上できかつ検
出信号のＳ／Ｎを向上できる。
法および磁気探傷装置によれば、磁化器によって検査対
象としての金属体内に磁界を発生させたときに欠陥が生
じていない健全部においても発生する浮遊磁束を検出
し、検出された浮遊磁束が予め定められた一定値になる
ように、磁化器の励磁電流を制御している。したがっ
て、たとえ検査対象としての金属体の厚さや材質が変化
したとしても、磁気センサにて検出された欠陥の検出信
号の信号レベルは、常に欠陥規模に正確に対応した値と
なる。また、雑音となる浮遊磁束のレベルを常に一定に
維持でき、結果として、欠陥検出精度を向上できかつ検
出信号のＳ／Ｎを向上できる。
【図１】 本発明の一実施例に係わる磁気探傷方法を適
用した磁気探傷装置の制御装置を示すブロック図、
用した磁気探傷装置の制御装置を示すブロック図、
【図２】 同装置の概略構成を示す断面模式図、
【図３】 同装置の動作を示す流れ図、
【図４】 同装置で測定した欠陥のない健全部における
出力電圧特性図、
出力電圧特性図、
【図５】 同装置の効果を確認するための人工欠陥サン
プルを示す図、
プルを示す図、
【図６】 同じく同効果を確認するための人工欠陥サン
プルを示す図、
プルを示す図、
【図７】 同人工欠陥サンプルを測定した結果を示す
図、
図、
【図８】 同人工欠陥サンプルを測定した結果を板厚を
横軸に示す図、
横軸に示す図、
【図９】 同人工欠陥サンプルを測定した結果を材質を
横軸に示す図、
横軸に示す図、
【図１０】 同人工欠陥サンプルを励磁電流を変化させ
て測定した結果を示す図、
て測定した結果を示す図、
【図１１】 本発明の他の実施例に係わる磁気探傷装置
の概略構成を示す断面模式図、
の概略構成を示す断面模式図、
【図１２】 一般的な薄鋼帯内を通過する磁束の状態を
示す図。
示す図。
１…中空ロール、２，２ａ…固定軸、４…磁化器、６…
磁化コイル、７ａ，７ｂ…磁気センサ、１０…薄鋼帯、
１１…制御装置、１２…マルチプレクサ、１３…信号処
理回路、１４…データ処理部、１５…表示器、１７…磁
化電源。
磁化コイル、７ａ，７ｂ…磁気センサ、１０…薄鋼帯、
１１…制御装置、１２…マルチプレクサ、１３…信号処
理回路、１４…データ処理部、１５…表示器、１７…磁
化電源。
Claims (3)
- 【請求項１】 磁化器でもって金属体内に磁界を発生さ
せ、この金属体の内部または表面の欠陥に起因して生じ
る漏洩磁束を磁気センサでもって検出する磁気探傷方法
において、 前記金属体における欠陥が生じていない健全部において
も発生する浮遊磁束を検出し、検出された浮遊磁束が予
め定められた一定値になるように、前記磁化器の励磁電
流を制御する磁気探傷方法。 - 【請求項２】 金属体の表面に対向配設され、この金属
体内に磁界を発生させる磁化器と、この磁化器に励磁電
流を供給する磁化電源と、前記金属体の近傍に配設さ
れ、前記金属板の内部または表面の欠陥に起因して生じ
る漏洩磁束を検出する磁気センサとを備えた磁気探傷装
置において、 前記金属体における欠陥が生じていない健全部に発生す
る浮遊磁束を前記磁気センサで検出する浮遊磁束検出手
段と、この検出された浮遊磁束が予め定められた一定値
になるように、前記励磁電流を制御する励磁電流制御手
段とを備えた磁気探傷装置。 - 【請求項３】 前記磁化器は、金属体の走行路に直交す
る固定軸に回転自在に支持され前記走行路を走行する金
属体の表面に接することによって回転する中空ロール内
に配設されたことを特徴とする請求項２記載の磁気探傷
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23324591A JP2605519B2 (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | 磁気探傷方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23324591A JP2605519B2 (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | 磁気探傷方法およびその装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0572180A JPH0572180A (ja) | 1993-03-23 |
| JP2605519B2 true JP2605519B2 (ja) | 1997-04-30 |
Family
ID=16952051
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23324591A Expired - Fee Related JP2605519B2 (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | 磁気探傷方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2605519B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH085610A (ja) * | 1991-06-04 | 1996-01-12 | Nkk Corp | 磁気検出方法及びその装置 |
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|---|---|---|---|---|
| JP4019964B2 (ja) * | 2003-02-10 | 2007-12-12 | Ｊｆｅスチール株式会社 | 漏洩磁束探傷方法および装置 |
| JP4650167B2 (ja) * | 2005-08-29 | 2011-03-16 | Ｊｆｅエンジニアリング株式会社 | 欠陥検出方法および欠陥検出装置 |
| JP2010048552A (ja) * | 2006-12-14 | 2010-03-04 | Osaka Univ | 非破壊検査装置及び非破壊検査方法 |
| JP2010107229A (ja) * | 2008-10-28 | 2010-05-13 | Ntn Corp | バルクハウゼンノイズ検査装置および検査方法 |
| JP5471243B2 (ja) * | 2009-01-13 | 2014-04-16 | 株式会社ジェイテクト | 加工変質層検出装置、加工変質層検出方法およびセンタレス研削盤 |
| JP5699793B2 (ja) * | 2011-05-11 | 2015-04-15 | 新日鐵住金株式会社 | 人工空間を有する鋼板とその製造方法並びにこれを用いた漏洩磁束探傷装置の評価方法 |
| JP6735137B2 (ja) * | 2016-04-21 | 2020-08-05 | 宇部興産株式会社 | 誘導加熱ヘッド、誘導加熱装置及び金属体の検出装置 |
| JP6697565B2 (ja) | 2016-08-26 | 2020-05-20 | 三井化学株式会社 | 電子機器用筐体、電子機器用筐体の製造方法、展開図状金属樹脂接合板および電子装置 |
| JP7084733B2 (ja) * | 2017-02-10 | 2022-06-15 | セイコーＮｐｃ株式会社 | 磁気センサを用いた磁性体の漏洩磁束検出装置及び漏洩磁束検出方法 |
| WO2018147264A1 (ja) * | 2017-02-10 | 2018-08-16 | 東洋鋼鈑株式会社 | 磁気センサを用いた磁性体の漏洩磁束検出装置及び漏洩磁束検出方法 |
| EP3775868A1 (en) * | 2018-03-27 | 2021-02-17 | Illinois Tool Works, Inc. | Magnetic inspection machines with true gauss magnetic measurements |
| EP4194846A1 (en) * | 2021-12-08 | 2023-06-14 | Eddyfi Canada Inc. | Multiplexing readout circuit and method for electromagnetic inspection array probe |
-
1991
- 1991-09-12 JP JP23324591A patent/JP2605519B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH085610A (ja) * | 1991-06-04 | 1996-01-12 | Nkk Corp | 磁気検出方法及びその装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0572180A (ja) | 1993-03-23 |
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