JP2697435B2 - 磁気探傷装置の校正方法及び装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、鋼板に磁界を発生させ
て、漏洩磁束をリニア状に配設された複数の磁気センサ
からなる磁気センサ群でもって検出することによって鋼
板に存在する欠陥を検出する磁気探傷装置の校正方法及
びその校正装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】磁気を利用して、鋼板の内部あるいは表
面に存在する疵，気泡等の欠陥を検出する磁気探傷装置
は、被探傷体としての鋼板を静止させた状態で、磁気探
傷装置を鋼板の全表面に亘って移動させて各位置におけ
る欠陥の有無を検出する必要があった。しかし、磁束を
検出する磁気センサをリニア状に配設した磁気センサ群
を内部に組込み、一定速度で走行中の薄鋼帯の全幅に存
在する欠陥を連続的に検出できる磁気探傷装置が提唱さ
れている（実開昭６３−１０７８４９号公報）。

【０００３】図１９は上述した走行中の薄鋼帯の欠陥を
連続的に検出する磁気探傷装置を示す図であり、同図
（ａ）（ｂ）はそれぞれ異なる方向から見た断面模式図
である。

【０００４】図中１は非磁性材料で形成された中空ロー
ルであり、この中空ロール１の中心軸に固定軸２の一端
が貫通されている。この固定軸２の他端は図示しない建
屋のフレームに固定されている。そして、固定軸２は中
空ロール１の中心軸に位置するように一対のころがり軸
受３ａ，３ｂでもって中空ロール１の両端の内周面に支
持されている。したがって、この中空ロール１は固定軸
２を回転中心軸として自由に回転する。

【０００５】この中空ロール１内において、略コ字断面
形状を有した磁化鉄心４ｃが、その各磁極４ａ，４ｂが
中空ロール１の内周面に近接する姿勢で、支持部材５を
介して固定軸２に固定されている。この磁化鉄心４ｃに
磁化コイル６が巻装されている。したがって、この磁化
鉄心４ｃと磁化コイル６とで磁化器４を構成している。
磁化鉄心４ｃの磁極４ａ，４ｂの間に複数の磁気センサ
７ａを軸方向にリニア状に配列してなる磁気センサ群７
がやはり固定軸２に固定されている。

【０００６】磁化コイル６に励磁電流を供給するための
電源ケーブル８および磁気センサ群７の各磁気センサ７
ａの出力信号を取出すための信号ケーブル９は固定軸２
内を経由して外部へ導出されている。したがって、磁化
器４および磁気センサ群７の位置は固定され、中空ロー
ル１が磁化器４および磁気センサ群７の外周を微小間隙
を有して回転する。

【０００７】このような構成の磁気探傷装置の中空ロー
ル１の外周面を例えば矢印ａ方向に走行状態の薄鋼帯１
０の一方面に所定圧力でもって押し当てると、固定軸２
はフレームに固定されているので、中空ロール１が矢印
ｂ方向に回転する。

【０００８】このような磁気探傷装置において、磁化コ
イル６に励磁電流を供給すると、磁化鉄心４ｃの各磁極
４ａ，４ｂと走行中の薄鋼帯１０とで閉じた磁路が形成
される。そして、薄鋼帯１０の内部あるは表面に欠陥が
存在すると、薄鋼帯１０内の磁路が乱れ、漏洩磁束が生
じる。この漏洩磁束が磁気センサ群７を構成する該当欠
陥位置に対向する磁気センサ７ａで検出され、該磁気セ
ンサ７ａから該当欠陥に対応する信号が出力される。

【０００９】検出された信号はその信号レベルが薄鋼帯
１０内部または表面の欠陥の規模（大きさ）と対応する
ので、出力信号の信号レベルを測定することによって薄
鋼帯１０の内部または表面に存在する欠陥の幅方向の発
生位置とその規模が把握できる。

【００１０】このように鋼板の内部または表面に存在す
る欠陥の規模を磁気センサ群７を構成する各磁気センサ
７ａで検出された漏洩磁束の強度で判定している。した
がって、各磁気センサ７ａの感度を全部の磁気センサ７
ａに亘って均一になるように調整する必要がある。ま
た、他の磁気探傷装置との間における磁気センサ群７全
体としての感度も一致させる必要がある。経時的な感度
の変化に対しては定期的に調整する必要がある。さら
に、検出量と欠陥規模の絶対値との対応も把握しておく
必要がある。

【００１１】このため、従来は、それぞれ規模の異なる
標準となる人工欠陥を有した標準欠陥試料を被探傷体と
同一の材料で複数個作成し、作成された各標準欠陥試料
を線状の磁気センサ群７を構成する１個１個の各磁気セ
ンサ７ａ上において、各磁気センサ７ａ１個づづ感度を
校正していた。

【００１２】

【発明が解決しようとする課題】しかし、標準欠陥試料
を用いて磁気センサ群７の各磁気感センサ７ａを校正す
る場合は、標準欠陥試料の経時変化が問題となる。腐食
や取扱い上の不注意による損傷や劣化が経時変化の大き
な要因であるが、他にも標準欠陥試料の材質的劣化が問
題となる場合がある。よって、標準欠陥試料の保管や破
損時の再製作に多大の時間と労力を必要とした。

【００１３】また、校正作業に多くの時間と労力が必要
であった。すなわち、標準欠陥試料と対象となる磁気セ
ンサ７ａとの相対位置を全部の磁気センサ７ａに亘って
同一条件に設定する必要がある。したがって、１個の磁
気センサ７ａの感度を校正するのに多大の時間を必要と
し、磁気センサ群７が多数の磁気センサ７ａで構成され
ていた場合には、これらの時間が累積されるので、１個
の磁気探傷装置を校正する場合の作業能率が大幅に低下
する問題がある。

【００１４】さらに、標準欠陥試料と各磁気センサ７ａ
との相対位置調整は操作者がマニアル操作で実行するの
で、位置合せ精度に各磁気センサ７ａ間でバラツキが生
じて、どうしても校正精度が低下する問題もある。

【００１５】また、薄鋼帯１０の幅方向に多数の磁気セ
ンサ７ａがリニア状に配列されているか、そのうちの１
部の磁気センサ７ａが特に劣化した場合、薄鋼帯１０の
うちの該当磁気センサ７ａが対向する部分の欠陥検出感
度が低下する。

【００１６】

【００１７】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、装置の稼働期間中においても、実際の欠陥
検出動作に支障を与える事なく、自動的に各磁気センサ
の感度補正を実行できる磁気探傷装置の校正方法及び装
置を提供することを目的とする。

【００１８】

【００１９】

【００２０】

【００２１】

【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明の磁気探傷装置の校正方法は、複数のコイルを
溶接接続してなる移動状態の鋼板に磁界を発生させ、欠
陥に起因して生じる漏洩磁束をリニア状に配設された複
数の磁気センサからなる磁気センサ群で検出することに
よって、鋼板の内部または表面の欠陥を検出する磁気探
傷装置おいて、

【００２２】各磁気センサの出力信号を一定周期で読取
り、各磁気センサ毎に定められたセンサ感度補正値に基
づいて感度補正を行い、この感度補正された各出力信号
から溶接部を検出し、一つの溶接部を検出してから次の
溶接部を検出するまでに得られた各出力信号に含まれる
欠陥に起因して生じる欠陥信号を検出し、この検出され
た欠陥信号および溶接部を示す溶接信号を除去した後の
各出力信号の各磁気センサ毎の時系列平均値および全部
の磁気センサに亘って時系列平均値を平均した全体平均
値を算出し、この各磁気センサ毎の時系列平均値および
全体平均値から各磁気センサ毎のセンサ感度補正値の修
正量を算出し、この算出された各修正量に基づいて各磁
気センサ毎のセンサ感度補正値を自動修正するようにし
ている。さらに、本発明の磁気探傷装置の校正装置は、
上述した磁気探傷装置において、

【００２３】各磁気センサの出力信号を一定周期で読取
る出力信号読取手段と、各磁気センサ毎に定められたセ
ンサ感度補正値に基づいて各出力信号に対する感度補正
を行う感度補正手段と、この感度補正された各出力信号
から溶接部を検出する溶接部検出手段と、一つの溶接部
を検出してから次の溶接部を検出するまでに得られた各
出力信号に含まれる欠陥に起因して生じる欠陥信号を検
出する欠陥信号検出手段と、この検出された欠陥信号お
よび溶接部を示す溶接信号を除去した後の各出力信号の
各磁気センサ毎の時系列平均値および全部の磁気センサ
に亘って時系列平均値を平均した全体平均値を算出する
平均値算出手段と、この各磁気センサ毎の時系列平均値
および全体平均値から各磁化センサ毎の感度補正値の修
正量を算出する修正量算出手段と、この算出された各修
正量に基づいて各磁気センサ毎のセンサ感度補正値を自
動修正するセンサ感度補正値自動修正手段とを備えたも
のである。

【００２４】

【作用】このように構成された磁気探傷装置の校正方法
および校正装置について説明する。

【００２５】

【００２６】

【００２７】例えば製鉄工場の圧延ラインを流れる鋼板
は一般に複数のコイルを溶接接続して帯状に形成されて
いる。したがって、溶接部が磁気センサ群の配設位置を
通過すると、各磁気センサの出力信号に一斉に溶接部に
起因する溶接信号が現れる。また、鋼板の健全部におい
ても各磁気センサの出力信号には浮遊磁束に起因する地
合雑音が検出される。この地合雑音の信号レベルは鋼板
の種類やロット毎（コイル毎）に若干異なる場合もある
が、同一コイルにおいては等しいと見なすことができ
る。したがって、溶接部や欠陥が存在しない健全部にお
ける幅方向に配設された各磁気センサの出力信号の信号
レベルは等しい筈である。

【００２８】よって、本発明においては、幅方向に配設
された各磁気センサの各出力信号を読取り、各磁気セン
サ毎に定められたセンサ感度補正値に基づいて感度補正
を行う。そして、一定周期毎に読取られた感度補正後の
出力信号に基づいて溶接部が検出される。そして、溶接
部相互間に存在する１コイル分の各出力信号を読取り、
この読取った出力信号から欠陥信号および溶接信号を排
除する。すなわち、１コイル分の地合雑音のみを含む各
出力信号が抽出される。そして、この抽出された各出力
信号が各磁気センサ毎に時系列的に平均され、さらに鋼
板の幅方向に配列された全部の磁気センサに亘って平均
されて全体平均値が得られる。そして、この各磁気セン
サ毎の時系列的平均および全体平均値に基づいて前述し
た各磁気センサ毎のセンサ感度補正値に対する修正量が
算出される。そして、この修正量に基づいて各センサ感
度補正値が修正される。よって、それ以降修正されたセ
ンサ感度補正値でもって各磁気センサの出力信号が感度
補正される。上述した修正処理は通常の欠陥検出動作と
全く独立して実行できるので、通常の欠陥検出動作に何
等支障が生じることなく、自動的に感度が校正される。

【００２９】

【実施例】以下本発明の一実施例を図面を用いて説明す
る。

【００３０】第１図は実施例の校正方法を用いた校正装
置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面
模式図である。図１９の従来の磁気探傷装置と同一部分
には同一符号が付してある。したがって、重複する部分
の詳細説明は省略されている。

【００３１】非磁性材料で形成された中空ロール１の中
心軸に固定軸２の一端が貫通されている。固定軸２は中
空ロール１の中心軸に位置するように一対のころがり軸
受でもって回転自在に支持されている。したがって、こ
の中空ロール１は固定軸２を回転中心軸として自由に回
転する。

【００３２】この中空ロール１内において、磁化器４の
磁化コイル６が巻装された磁気鉄心４ｃが、その各磁極
４ａ，４ｂが中空ロール１の内周面に近接する姿勢で、
支持部材５を介して固定軸２に固定されている。磁化鉄
心４ｃの磁極４ａ，４ｂの間に複数の磁気センサ７ａを
軸方向にリニア状に配列してなる磁気センサ群７がやは
り固定軸２に固定されている。

【００３３】前記各磁気センサ７ａは、強磁性材料で形
成された棒状コアに検出コイルを巻装し、この検出コイ
ルに外部信号源から交流の励磁電流を印加して、棒状コ
アを過飽和域まで励磁した状態で使用する過飽和型の磁
気センサで構成されている。そして、この実施例におい
ては、棒状コアの軸、すなわち磁気センサ７ａの軸が薄
鋼帯１０に直交する方向に配設されている。したがっ
て、この磁気センサ７ａは薄鋼帯１０の欠陥に起因して
発生する漏洩磁束の垂直成分を検出する垂直型の磁気セ
ンサである。

【００３４】そして、複数の垂直型の磁気センサ７ａを
リニア状に配設してなる板状形状を有した磁気センサ群
７に校正用コイル１２が巻装されている。そして、この
校正用コイル１２に励磁電流Ｉを供給する電源ケーブル
は前記磁化器４に励磁電流を供給する電源ケーブルと同
様に固定軸２を介して外部へ導き出される。

【００３５】このような構成において、中空ロール１の
外周面を例えば矢印ａ方向に走行状態の薄鋼帯１０の一
方面に所定圧力でもって押し当てると、中空ロール１が
矢印ｂ方向に回転する。

【００３６】このような状態で、磁化コイル６に励磁電
流が供給されると、磁化鉄心４ｃの各磁極４ａ，４ｂと
走行中の薄鋼帯１０とで閉じた磁路が形成される。薄鋼
帯１０の内部あるは表面に欠陥が存在すると漏洩磁束が
生じる。この漏洩磁束の垂直成分が磁気センサ群７を構
成する該当欠陥位置に対向する垂直型の磁気センサ７ａ
で検出されて出力信号として出力される。図２は実施例
の校正装置が組込まれた磁気探傷装置の概略構成を示す
ブロック図である。

【００３７】磁化器４の磁化コイル６には固定軸２内を
配線された電源ケーブル８を介して磁化電源回路１３か
ら励磁電流が供給される。また、磁気センサ群７を構成
する各磁気センサ７ａの各出力信号は信号ケーブル９を
介してマルチプレクサ１４へ入力される。マルチプレク
サ１４はデータ処理制御装置１５からの切換指令にて、
入力されている各磁気センサ７からの各出力信号のうち
１つの出力信号を順番に選択して次の信号処理回路１６
へ送出する。

【００３８】信号処理回路１６は、各磁気センサ７ａか
ら入力された出力信号を該当磁気センサ７ａが検出した
漏洩磁束の大きさに対応した検出電圧Ｖ0 に変換する回
路であり、具体的には、雑音除去のためのローパスフィ
ルタ、ピーク値検出回路，加減算回路、増幅器等で構成
されている。信号処理回路１６から出力された各各磁気
センサ７ａ毎の検出電圧Ｖ0 はデータ処理制御装置１５
へ入力される。

【００３９】また、磁気センサ群７に巻装された校正用
コイル１２には、固定軸２内を配線された電源ケーブル
１７を介して校正用電源回路１９から例えば周波数６０
Hzの交流の励磁電流Ｉが供給される。なお、この励磁電
流の電流値Ｉは電源ケーブル１７に介挿された電流計２
０で検出される。

【００４０】データ処理制御装置１５は一種のマイクロ
コンピュータで形成されており、内部に各磁気センサ７
ａ毎に感度係数Ｋａを記憶する感度校正メモリを有して
おり、信号処理回路１６から入力された各検出電圧Ｖ0
に該当磁気センサ７ａに対応する感度係数Ｋａを乗算し
て、薄鋼帯１０における該当磁気センサ７ａに対向する
位置に発生している欠陥の規模を示す電圧Ｖf を算出し
て、表示器２１へ表示する。 Ｖf ＝Ｋａ・Ｖ0 (1)

【００４１】また、データ処理制御装置１５は磁化電源
回路１３および校正用電源回路１９に対してそれぞれオ
ン／オフ信号を送出して、各電源回路１３，１９の動作
を制御する。

【００４２】このような校正装置においては、実際の欠
陥規模と校正用コイル１２を励磁することによって生じ
る擬似漏洩磁束との関係を、校正用コイル１２の励磁電
流Ｉと実際の欠陥規模との関係でもって予め調べておく
必要がある（初期校正作業）。

【００４３】すなわち、0.2 ，0.3 ，0.6 ，0.9mmφの
各標準欠陥を有した標準欠陥試料を準備する。そして、
磁化電源回路１３を起動して磁化器４を駆動する。その
状態で標準欠陥試料を前記薄鋼帯１０の代りに中空ロー
ル１に巻付ける。ガウジ欠陥の場合0.2 mmφを標準欠陥
と見なすと、この0.2 mmφの標準欠陥を検出した場合の
信号処理回路１６の検出電圧Ｖ0 が２Ｖになるように、
信号処理回路１６の増幅器のゲインを調整する。

【００４４】増幅器のゲイン調整が終了すると、標準欠
陥試料を除去して、校正用電源回路１９を起動する。そ
して、校正用コイル１２に前述した交流の励磁電流を印
加して、擬似漏洩磁束を磁気センサ群７の磁気検出領域
に亘って均一に形成させる。

【００４５】なお、校正用コイル１２に交流電流を印加
させて交流磁界を発生させる理由は、実際の薄鋼帯１０
の探傷を実施する場合においては、薄鋼帯１０は中空ロ
ール１上を走行するので、実際の欠陥に起因する漏洩磁
束は振動波形となるから、その漏洩磁束波形にできるだ
け近似させるためである。

【００４６】そして、各磁気センサ７ａでこの擬似漏洩
磁束が検出され、信号処理回路１６から各磁気センサ７
ａに対応した各検出電圧Ｖ0 が出力される。そして、各
検出電圧Ｖ0 のほぼ平均レベルが基準電圧Ｖs （＝５
Ｖ）になるように校正用電源回路１９を操作して励磁電
流Ｉを調整する。このときの電流値を校正基準電流Ｉs
とする。そして、この校正基準電流Ｉs をデータ処理制
御装置１５内のメモリに設定する。したがって、校正基
準電流Ｉs を流した場合に生じる擬似漏洩磁束の強度
は、実際の0.5 mmφの標準欠陥に起因する漏洩磁束の強
度に対応した強度となる。

【００４７】以上で、実際の標準欠陥試料を用いた初期
校正作業を終了する。なお、この初期校正作業は、この
磁気探傷装置を製造して、工場出荷時の製品検査工程で
実施される。

【００４８】次に、この磁気探傷装置を実際の薄鋼帯の
生産現場の検査ラインに据付けた後における一定期間毎
に、または毎日の起動開始時に自動的に実行される通常
の自動校正処理を説明する。

【００４９】図３は、この磁気探傷装置の電源を投入し
た場合に、データ処理制御装置１５が実施する自動校正
処理を示す流れ図である。なお、この状態においては、
薄鋼帯１０はまだ搬入されていない。

【００５０】装置の電源が投入されると、各電子回路お
よび磁化電源回路１３を投入して、動作状態にする。そ
して、Ｐ（プログラムステップ）１にて、校正用電源回
路１９に対してメモリに設定さている校正基準電流Ｉs
を校正用コイル１２へ印加させる。なお、電流計２０の
電流値を監視することによって、校正用コイル１２の励
磁電流Ｉの電流値は正確に校正基準電流Ｉs に制御され
る。

【００５１】その状態で、Ｐ２にて、信号処理回路１６
から入力される各磁気センサ７ａの各検出電圧Ｖ0 を読
取る。次に各検出電圧Ｖ0 と校正基準電流Ｉs に対応す
る基準電圧Ｖs である５Ｖとの比で示される各感度係数
Ｋa を算出する。 Ｋａ＝Ｖ0 ／Ｖs …(2)

【００５２】Ｐ３にて、求めた各磁気センサ７ａ毎の感
度係数Ｋａを前述した感度係数メモリへ設定する。その
後、校正用電源回路１９へ電源遮断指令を送出して、校
正用コイル１２に対する励磁電流Ｉを遮断する。以上で
自動校正処理を終了する。

【００５３】なお、実際の薄鋼帯１０に対する磁気探傷
時においては、データ処理制御装置１５は、信号処理回
路１６から順次入力される各磁気センサ７ａの検出電圧
Ｖ0を感度係数メモリに記憶されている該当磁気センサ
７ａに対する感度係数Ｋａを用いて前記(1) 式にて欠陥
規模に対応する電圧Ｖf を算出して表示器２１に表示す
る。なお、表示に当たっては、前記電圧Ｖfを欠陥の大
きさの［ｍｍ］の単位に変換して表示してもよい。

【００５４】このように構成された校正装置が組込まれ
た磁気探傷装置によれば、一旦、工場出荷時に校正用コ
イル１２の励磁電流と実際の標準欠陥の規模との間の関
係を精密に初期校正しておけば、製造工場の検査ライン
に据付けた後は、例えば装置の電源を投入すれば、自動
的に各磁気センサ７ａの感度係数Ｋａが修正される。

【００５５】すなわち、校正用電源回路１９から校正用
コイル１２へ基準励磁電流Ｉs を印加するのみで、磁気
センサ群７を校正する各磁気センサ７ａに対して擬似漏
洩磁束を印加することができるので、従来の校正手法で
説明したような標準欠陥試料を使用する必要がない。し
たがって、この磁気探傷装置を使用する一般ユーザにと
っては、標準欠陥試料を作製し、また管理する必要もな
い。

【００５６】また、磁気センサ群７の磁気検出領域より
広い領域で均一磁界を発生させる校正用コイル１２を使
用することにより、磁気センサ群７を構成する各磁気セ
ンサ７ａは完全に同一磁界強度を検出する。したがっ
て、従来手法のように、各磁気感センサ毎に標準欠陥試
料を一定条件で位置合せする必要がないので、校正作業
の作業能率を大幅に向上できる。さらに、操作者が位置
合せする必要がないので、位置合せ誤差に起因する校正
精度が低下することを未然に防止できる。

【００５７】さらに、校正用コイル１２の励磁電流Ｉの
値を変更することによって、擬似的な欠陥規模を容易に
複数段階に設定可能であるので、よりきめ細かくより正
確に各磁気センサ７ａの感度を校正できる。

【００５８】さらに、従来手法における標準欠陥試料の
代りに、この標準欠陥試料の人口欠陥によって発生する
であろう漏洩磁束に対応する擬似漏洩磁束を発生する磁
化器を別途準備して、この磁化器による擬似漏洩磁束で
もって各磁気センサの感度を調整することが考えられる
が、校正する毎に、この磁化器に対する取付け，取外し
操作を実施する必要があり、毎回高い取付け位置精度を
維持することは困難である。また、この磁化器の取扱い
が繁雑である。

【００５９】しかし、この実施例においては、擬似漏洩
磁束を発生する校正用コイル１２はこの磁気探傷装置を
製作する過程で既にこの磁気探傷装置内に組込まれてい
る。また、校正用電源回路１９もこの磁気探傷装置の制
御回路内に予め組込まれている。したがって、ユーザが
校正を実施するために、別途校正を実施するための治具
や測定器を準備する必要がない。よって、校正作業能率
を大幅に向上できる。また、可動部分が存在しないの
で、取付け取外し作業に起因する取付け誤差が除去され
るので、校正精度を大幅に向上できる。

【００６０】このように、校正作業の作業能率を大幅に
向上できると共に、校正精度も大幅に向上できる。ま
た、標準欠陥試料を使用しないので、校正作業に不慣れ
な者であっても簡単に校正作業を実施できる。

【００６１】図４は本発明の他の実施例に係わる構成装
置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面
模式図である。図１と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の説明を省略する。この
実施例においては、校正用コイル１２が巻装された磁気
センサ群７を構成する各磁気センサとして水平型の磁気
センサ７ｂを用いている。

【００６２】この水平型の磁気センサ７ｂにおいては、
磁気センサを構成する前述した棒状コアの軸が薄鋼帯１
０に対して平行に配設されている。よって、この水平型
の磁気センサ７ｂは薄鋼帯１０の欠陥に起因して発生す
る漏洩磁束の水平成分を検出する。

【００６３】なお、水平型の各磁気センサ７ｂから出力
される出力信号に対する処理は、前述した垂直型の各磁
気センサ７ａの出力信号に対する処理と全く同一であ
る。したがって、前述した図２に示す回路構成および図
３に示す校正処理手順がそのまま使用できる。次に、こ
の水平型の磁気センサ７ｂと垂直型の磁気センサ７ａと
の検出特性の差を実験結果を用いて説明する。

【００６４】発明者は、前述した0.2 ，0.3 ，0.6 ，0.
9 mmφの各標準欠陥を有した標準欠陥試料を準備して、
４種類の各標準欠陥に起因する各漏洩磁束の水平成分お
よび垂直成分を水平型の磁気センサ７ｂおよび垂直型の
磁気センサ７ａを用いてそれぞれ測定した。測定結果を
図５に示す。信号波形ａが漏洩磁束の水平成分であり、
信号波形ｂが垂直成分である。図示するように、水平磁
束分布特性は略山形形状となり、垂直磁束分布特性は中
央位置で０ラインを横切る略正弦波形となる。

【００６５】そして、水平型の磁気センサ７ｂにて検出
された漏洩磁束の水平成分と垂直型の磁気センサ７ａで
検出された漏洩磁束の垂直成分との各相対出力の関係を
図６に示す。この特性から理解できるように、漏洩磁束
の水平成分と垂直成分とは正の相関関係を有する。した
がって、磁気センサ群７に組込む名磁気センサとしては
いずれか一方の型の磁気センサを用いればよい。

【００６６】図７は検出感度を改良した水平型の磁気セ
ンサ７ｂを示す図である。この水平型の磁気センサ７ｂ
においては、水平方向磁束の検出感度を向上させるため
に、棒状コアの両端を薄鋼帯１０側に曲げ形成して、中
央部に図示しない検出コイルおよび校正用コイル１２を
巻装している。

【００６７】図８は本発明の他の実施例に係わる校正装
置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面
模式図である。図１と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明を省略する。

【００６８】この実施例装置においては、擬似漏洩磁束
を発生させる校正用コイル３１ａ，３１ｂが磁化器４の
磁気鉄心４ｃに巻回されている。このように構成された
磁気探傷装置においても、この校正用コイル３１ａ，３
１ｂによって擬似漏洩磁束を発生させることが可能であ
るので、図１に示した実施例とほぼ同様の効果を得るこ
とができる。

【００６９】なお、図８の磁気センサ群７は、漏洩磁束
の垂直成分を検出する垂直型の磁気センサ７ａを用いて
いるが、前述したように、水平成分を検出する水平型の
磁気センサ７ｂを用いることも可能である。

【００７０】そして、この実施例のように磁気鉄心４ｃ
に巻回された校正用コイル３１ａ，３１ｂによる擬似漏
洩磁束に対しては、漏洩磁束の水平成分を検出する水平
型の磁気センサ７ｂで構成された磁気センサ群７を採用
する方が好ましい。

【００７１】図９は本発明のさらに別の実施例の校正装
置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面
模式図である。図１と同一部分には同一符号が付してあ
る。したがって、重複する部分の詳細説明を省略する。

【００７２】この実施例装置においては、薄鋼帯１０の
中空ロール１に対する接触部における上下振動を抑制す
るために別の中空ロール１ａを設けたものである。すな
わち、この中空ロール１ａは固定軸２ａに対して回転自
在に設けられ、薄鋼帯１０が矢印ａ方向に移動すると、
矢印ｃ方向に回転する。そして、この中空ロール１ａの
固定軸２ａに取付けられたコア棒３２に校正用コイル３
３が巻装されている。なお、このコア棒３２は薄鋼帯１
０に対して垂直方向に取付けられている。また、校正用
コイル３３の電源ケーブルは固定軸２ａを介して外部に
導き出されている。

【００７３】このような構成であっても、磁気センサ群
７を構成する垂直型の各磁気センサ７ａは校正用コイル
３３によって薄鋼帯１０に対して主に垂直方向に発生さ
れた擬似漏洩磁束を検出できるので、前述した実施例と
ほぼ同様の効果を得ることができる。

【００７４】図１０は本発明のさらに別の実施例の校正
装置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断
面模式図である。図９と同一部分には同一符号が付して
ある。したがって、重複する部分の詳細説明を省略す
る。

【００７５】この実施例装置においては、上側の中空ロ
ール１ａ内に薄鋼帯１０と平行する水平方向にコア棒３
２ａが取付られ、このコア棒３２ａに校正用コイル３３
が巻装されている。さらに、下側の中空ロール１内に設
けられた磁気センサ群７を構成する各磁気センサを水平
型の磁気センサ７ｂを用いている。

【００７６】このような構成であっても、磁気センサ群
７を構成する水平型の各磁気センサ７ｂは校正用コイル
３３によって薄鋼帯１０に対して主に水平方向に発生さ
れた擬似漏洩磁束を検出できるので、前述した実施例と
ほぼ同様の効果を得ることができる。

【００７７】図１１は本発明のさらに別の実施例の校正
装置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断
面模式図である。図９と同一部分には同一符号が付して
ある。したがって、重複する部分の詳細説明を省略す
る。

【００７８】この実施例においては、上側の中空ロール
１ａ内に複数の垂直型の磁気センサ７ａで構成された磁
気センサ群７が収納されている。そして、下側の中空ロ
ール１内には、磁気センサ群７を除去して、その位置に
薄鋼帯１０に対して垂直方向に取付けらたコア棒３４に
巻装された校正用コイル３５を配設している。すなわ
ち、この校正用コイル３５は磁化器４の磁化鉄心４ｃ内
に収納されている。

【００７９】このような構造では、上側の中空ロール１
ａには薄鋼帯１０の重力が直接印加されないので、下側
の中空ロール１の厚みに比較して、上側の中空ロール１
ａの厚みを薄く設定できる。したがって、磁気センサ群
７と薄鋼帯１０との間の距離を短く設定でき、磁気セン
サ群７の検出感度を上昇できる。

【００８０】そして、磁気センサ群７の各垂直型の磁気
センサ７ａは校正用コイル３５によって薄鋼帯１０に対
して主に垂直方向に発生された擬似漏洩磁束を検出でき
るので、前述した実施例とほぼ同様の効果を得ることが
できる。

【００８１】図１２は本発明のさらに別の実施例の校正
装置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断
面模式図である。図１１と同一部分には同一符号が付し
てある。したがって、重複する部分の詳細説明を省略す
る。

【００８２】この実施例においては、上側の中空ロール
１ａ内の配設された磁気センサ群７を構成する各磁気セ
ンサは水平型の磁気センサ７ｂで形成されている。それ
に対応して、下側の中空ロール１内に、薄鋼帯１０に平
行する水平方向にコア棒３４ａが配設されており、この
コア棒３４ａに校正用コイル３５が巻装されている。

【００８３】このような構成であっても、磁気センサ群
７の水平型の各磁気センサ７ｂは校正用コイル３５によ
って薄鋼帯１０に対して主に平行方向に発生された擬似
漏洩磁束を検出できるので、前述した実施例とほぼ同様
の効果を得ることができる。

【００８４】図１３は本発明のさらに別の実施例の校正
装置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断
面模式図である。図１１と同一部分には同一符号が付し
てある。したがって、重複する部分の詳細説明を省略す
る。

【００８５】この実施例においては、上側の中空ロール
１ａ内に収納された複数の垂直型の磁気センサ７ａで構
成された磁気センサ群７に校正用コイル３６が巻装され
ている。

【００８６】このような構成であっても、磁気センサ群
７を構成する垂直型の各磁気センサ７ａは校正用コイル
３６によって発生された薄鋼帯１０に直交する垂直方向
の擬似漏洩磁束を検出できるので、前述した実施例とほ
ぼ同様の効果を得ることができる。

【００８７】図１４は本発明のさらに別の実施例の校正
装置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断
面模式図である。図１３と同一部分には同一符号が付し
てある。したがって、重複する部分の詳細説明を省略す
る。

【００８８】この実施例においては、上側の中空ロール
１ａ内に収納された校正用コイル３６が巻装された磁気
センサ群７を構成する各磁気センサとして水平型の磁気
センサ７ｂが用られている。

【００８９】このような構成であっても、磁気センサ群
７を構成する水平型の各磁気センサ７ｂは校正用コイル
３６によって発生された薄鋼帯１０に平行する水平方向
の擬似漏洩磁束を検出できるので、前述した実施例とほ
ぼ同様の効果を得ることができる。図１５は本発明のさ
らに別の実施例の校正装置が組込まれた磁気探傷装置が
設置された製鉄工場における圧延ラインを示す模式図で
ある。

【００９０】供給リール４１ａ，４１ｂから交互に供給
される薄鋼帯１０は、その終端位置を次の薄鋼帯１０の
先端に溶接する溶接機４２を通過する。溶接機４２を通
過した薄鋼帯１０は、ロール４３ａ，４３ｂでもって走
行方向が１８０度変換されて、ルーパーロール４４で走
行方向を再度１８０度変換され、さらに、ロール４４
ｃ，４４ｄで走行方向が９０度づづ変換される。そし
て、薄鋼帯１０は磁気探傷装置を構成する一対の中空ロ
ール１，１ａの間を通過する。磁気探傷装置を通過した
薄鋼帯１０はロール４４ｅ，圧延機４５を経由して、巻
取リール４６ａ，４６ｂに交互に巻取られる。前記ルー
パーロール４４は、図中矢印方向に移動可能であり、溶
接機４２にて溶接作業を行ってる期間に右方向に移動し
て、圧延機４５に常時一定速度で薄鋼帯１０を供給する
機能を有する。

【００９１】この実施例の磁気探傷装置においては、図
示するように、下側の中空ロール１内に複数の磁気セン
サ７ａからなる磁気センサ群７が収納されており、上側
の中空ロール１ａ内に磁化器４が収納されている。図１
６は実施例の校正装置が組込まれた磁気探傷装置の電気
的構成を示すブロック図である。

【００９２】薄鋼帯１０の幅方向に配列された各磁気セ
ンサ７ａから出力される信号はそれぞれ磁気検出回路４
７によって、漏洩磁束または浮遊磁束に対応する出力信
号に変換される。各磁気センサ７ａ毎の出力信号は増幅
器４８でもって所定の増幅率で増幅された後、マルチプ
レクサ４９へ入力される。マルチプレクサ４９はデータ
処理部５０からの切換指令にて、入力されている各磁気
センサ７ａからの各出力信号を一定のサンプリング周波
数に基づいて順次選択して次のＡ／Ｄ変換器５１へ送出
する。Ａ／Ｄ変換器５１は入力された各アナログの出力
信号をデシタルの出力信号に変換してデータ処理部５０
へ送出する。

【００９３】データ処理部５０は、一種のマイクロコン
ピュータで構成されており、Ａ／Ｄ変換器５１を介して
入力された各磁気センサ７ａの出力信号に対して各種の
演算処理を実行する。また、このデータ処理部５０には
各磁気センサ７ａ毎の出力信号の値を欠陥規模に対応し
た正しい値に補正するためのセンサ感度補正値Ｋ_itを記
憶する感度補正メモリ５２が接続されている。さらに、
このデータ処理部５０には操作者が各種指令を入力した
り、データ処理部５０における演算結果等を表示する入
出力装置５３が接続されている。

【００９４】このよに構成された磁気探傷装置におい
て、各磁気センサ７ａの各出力信号は例えば図１７に示
す信号波形となる。すなわち、溶接部が磁気センサ群７
位置を通過すると全部の磁気センサ７ａの出力信号にこ
の溶接部に起因する溶接信号５４が現れる。従って、溶
接信号５４が出現する周期は一つのコイル長Ｌに対応す
る周期である。また、薄鋼帯１０の表面または内部に欠
陥が存在すると、該当欠陥の対向位置に配設された磁気
センサ７ａの出力信号に欠陥信号５５が現れる。欠陥信
号５５は全部の磁気センサ７ａに亘って一斉に現れるこ
とはないので、溶接信号５４と簡単に区別できる。ま
た、たとえ薄鋼帯１０の溶接や欠陥が存在しない健全部
であっても出力信号には一定信号レベルＡを有する地会
雑音が現れる。そして、前記サンプリング周波数の周期
は十分短いので、各出力信号に含まれれる溶接信号５４
および欠陥信号５５が見逃されることはない。

【００９５】そして、通常の欠陥検出処理状態時におい
ては、データ処理部５０へ入力された各磁気センサ７ａ
からのサンブリングされた各出力信号は感度補正値メモ
リ５２に記録されている各磁気センサ７ａ毎のセンサ感
度補正値Ｋ_itによって欠陥規模に対応した値に変換され
て入出力装置５３に表示される。しかして、この装置の
監視者は薄鋼帯１０におれける欠陥の存在とその規模を
把握できる。

【００９６】さらに、前記データ処理部５０において
は、前述した一定のサンプリング周期毎に各磁気センサ
７ａの出力信号がＡ／Ｄ変換器５１を介して入力される
と、図１８の流図に従って、感度補正値メモリ５２に記
憶されている各センサ感度補正値Ｋ_itを修正するように
プログラム構成されている。

【００９７】先ずＱ１にて、薄鋼帯１０の移動速度を検
出する。なお、薄鋼帯１０における健全部の周囲に発生
する浮遊磁束の強度は移動速度が変動すると大きく変動
する。また、同一欠陥規模であっても薄鋼帯１０の移動
速度が変化すると、磁気センサ７ａの各出力信号レベル
も大きく変動する。したがって、感度補正値メモリ５２
内の各センサ感度補正値Ｋ_itは予め定められた一定速度
範囲内で有効に作用する。よって、Ｑ２にて、測定され
た移動速度が適性範囲に存在することを確認する。適性
範囲でなければ、今回の検出信号はセンサ感度修正には
使用しない。

【００９８】移動速度が適性範囲であれは、各増幅器４
８で増幅した後の各出力信号を読取る（Ｑ３）。そし
て、読取った出力信号に対して感度補正値メモリ５２に
記憶されている該当磁気センサ７ａに対応するセンサ感
度補正値Ｋ_itを用いて感度補正を行う（Ｑ４）。

【００９９】その後、読取った出力信号が溶接信号５４
であるか否かを前述した手法でもって調べる。溶接信号
５４でなれければ（Ｑ５）、Ｑ６へ進む。Ｑ６において
は、該当出力信号が欠陥信号５５であるか否かを前述し
た手法で調べる。具体的には、出力信号の値Ｂ_itがしき
い値Ｓ_s より大きいとき、欠陥信号５５と見なす。欠陥
信号５５であれは、今回の出力信号をセンサ感度補正値
の修正には使用しない。

【０１００】欠陥信号５５でなければ、この出力信号は
地合雑音であると判断できる。そして、Ｑ７にて、この
地合雑音の値Ｂ_itを地合雑音の合計値Ｓ_i に加算する。
なお、添字ｉはｉ番目の磁気センサ７ａであることを示
し、ｔは今回得られた出力信号であることを示す。ま
た、加算回数Ｎ_iをインクリメントする。 Ｓ_i ＝Ｓ_i ＋Ｂ_it …(3) Ｎ_i ＝Ｎ_i ＋１ …(4) 加算処理が終了すると次の周期における出力信号の入力
待ちとなる。

【０１０１】また、Ｑ５にて、読取った出力信号が溶接
信号５４であった場合には、溶接部が磁気センサ群７位
置に達したので、図１７における１コイル分の各出力信
号の溶接信号５４及び欠陥信号５５を除去した残りの地
合雑音の値Ｂ_itの加算処理が終了したと判断する。そし
て、Ｑ８へ進む。Ｑ８においては、まず、各磁気センサ
７ａ毎の地合雑音における時系列的な平均値Ａ_i を算出
する。 Ａ_i ＝Ｓ_i ／Ｎ_i …(5)

【０１０２】次に各磁気センサ７ａ毎の地合雑音の平均
値Ａ₁ ，Ａ₂ ，…，Ａ_i ，…が算出されると、薄鋼帯１
０の幅方向に配設された全部の磁気センサ７ａの地合雑
音の平均値Ａ₁ ，Ａ₂ ，…，Ａ_i ，…の全体平均値Ａ_a
を算出する。同時にこの全体平均値Ａ_a を算出するのに
用いた全出力信号数Ｎ_a を算出する。

【０１０３】

【数１】

【０１０４】ここで、Ｎ_i ＜αＮ_a ［（０＜α＜
１） α；操作者が予め設定した値］のときは、加算し
た出力信号数が少ないと判断して、(6)(7)の計算式から
ｉ番目の磁気センサ７ａを計算から除外する。そして、
除外したことを入出力装置５３に表示し、操作者に警告
する。全体平均値Ａ_a が算出されると、各磁気センサ７
ａの平均値Ａ_i における全体平均値Ａ_a からのずれ量で
示される修正量ΔＡ_i を算出する。 ΔＡ_i ＝（Ａ_i −Ａ_a ）／Ａ_a …(8) 次に、Ｑ９にて、算出された修正量ΔＡ_i が適性である
か否かを(9) 式でもって判断する。 ｜ΔＡ_i ｜＜β （β：操作者が予め設定した値） …(9)

【０１０５】すなわち、(9) 式が成立しない場合で、か
つｉが少ない場合は、該当磁気センサ７ａに異常が発生
したと判断して、入出力装置５３を介して操作者に警告
する（Ｑ１０）。また、(9) 式が成立しない場合でか
つ、ｉが多い場合は、薄鋼帯１０の表面仕上げが異常に
粗雑であり、今回得られた全体平均値Ａ_a を今回のセン
サ感度補正には使用しない。

【０１０６】そして、Ｑ９にて(9) 式の条件を満足する
と、Ｑ１１において、実際に感度補正値メモリ５２に記
憶されている各磁気センサ７ａのセンサ感度補正値Ｋ_it
を(10)式に従って修正する。 Ｋ_it＝Ｋ_it-1（１−γ・ΔＡ_i ） …(10) Ｋ_it-1：前回のセンサ感度補正値 γ ：感度補正の重み関数（操作者が予め設定した値 ０≦γ≦１） Ｋ_it ：今回のセンサ感度補正値

【０１０７】以上で、感度補正値メモリ５２に記憶され
ている各磁気センサ７ａ毎のセンサ感度補正値Ｋ_itが修
正された。なお、修正処理が終了すると、加算値Ｓ_i ，
加算回数Ｎ_i を０の初期状態にクリアする。

【０１０８】なお、この磁気探傷装置を新規に稼働する
場合は当然感度補正値メモリ５２にはセンサ感度補正値
Ｋ_itは設定されていないので、他の磁気センサの平均的
な感度等を参考にして操作者が適切な各値を初期設定す
る。すると、試験稼働期間中に溶接部が検出される毎に
上述した自己学習にて正しいセンサ感度補正値に補正さ
れていく。

【０１０９】なお、この場合、試験稼働期間中または一
部の磁気センサ７ａを交換した当座は、一時的に修正量
ΔＡ_i が大きな値になることがあるので、(9) 式に示す
条件を外した状態で稼働させる。

【０１１０】このように構成された磁気探傷装置の校正
方法および校正装置によれば、試験稼働を経て一旦各磁
気センサ７ａにおける正しいセンサ感度補正値Ｋ_itが感
度補正値メモリ５２に記憶されると、それ以降は、薄鋼
帯１０の溶接部が磁気センサ群７位置を通過する毎に、
各磁気センサ７ａのセンサ感度補正値Ｋ_itが、地合雑音
の信号レベルを用いて最適値になるように自動的に修正
される。

【０１１１】上述した各磁気センサ７ａのセンサ感度補
正値Ｋ_itの修正処理は、薄鋼帯１０における各磁気セン
サ７ａを用いた通常の欠陥検出動作に何等影響を与えも
のではない。したがって、各磁気センサ７ａの感度校正
を実行するために、この磁気探傷装置が設置された圧延
ライン等における圧延動作を停止する必要はない。ま
た、校正処理のために、圧延ラインを流れる薄鋼帯１０
が一時的に無検査状態になることもない。また、一定期
間毎に特別に校正作業を実施する必要がないので、磁気
探傷装置に対する保守管理が簡素化される。

【０１１２】

【０１１３】

【発明の効果】以上説明したように本発明の磁気探傷装
置の校正方法及び装置によれば、複数のコイルを溶接接
続してなる移動状態の鋼板に存在する欠陥を溶接部分と
区別して検出する場合において、出力信号に含まれる地
合雑音の信号レベルを利用して各磁気センサの感度を自
動的に修正するようにしている。よって、通常の欠陥検
出処理動作に何等影響を与える事なく、校正処理が実施
されるので、保守管理を大幅幅に簡素化できる。さら
に、異常が発生した磁気センサはその時点で検出される
ので、装置全体の信頼性が向上する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施例に係わる校正方法を用いた
校正装置が組込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示
す断面模式図、

【図２】 同実施例装置の電気的構成を示すブロック
図、

【図３】 同実施例装置の動作を示す流れ図、

【図４】 本発明の他の実施例の校正装置が組込まれた
磁気探傷装置の要部を取出して示す断面模式図、

【図５】 磁気センサの配列方向と各磁気センサの検出
波形との関係を示す波形図、

【図６】 図５の各磁気センサで検出された垂直磁束と
水平磁束との関係を示す図、

【図７】 校正用コイルが巻装された水平型の磁気セン
サの構成を示す模式図、

【図８】 本発明の別の実施例の校正装置が組込まれた
磁気探傷装置の要部を取出して示す断面模式図、

【図９】 本発明のさらに別の実施例の校正装置が組込
まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面模式図、

【図１０】 本発明のさらに別の実施例の校正装置が組
込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面模式
図、

【図１１】 本発明のさらに別の実施例の校正装置が組
込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面模式
図、

【図１２】 本発明のさらに別の実施例の校正装置が組
込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面模式
図、

【図１３】 本発明のさらに別の実施例の校正装置が組
込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面模式
図、

【図１４】 本発明のさらに別の実施例の校正装置が組
込まれた磁気探傷装置の要部を取出して示す断面模式
図、

【図１５】 本発明のさらに別の実施例の校正装置が組
込まれた磁気探傷装置が設置された工場の圧延ラインを
示す図、

【図１６】 同実施例装置の電気的構成を示すブロック
図、

【図１７】 同実施例装置における各磁気センサの出力
信号波形図、

【図１８】 同実施例装置の動作を示す流れ図、

【図１９】 一般的な磁気探傷装置おける薄鋼帯の走行
方向に平行および直交する面で切断した断面模式図。

【符号の説明】

１，１ａ…中空ロール、４…磁化器、４ａ，４ｂ…磁
極，４ｃ…磁化鉄心、６…磁化コイル、７…磁気センサ
群、７ａ…垂直型の磁気センサ、７ｂ…水平型の磁気セ
ンサ、１０…薄鋼帯、１２，３１ａ，３１ｂ，３３，３
５，３６…校正用コイル、１３…磁化電源回路、１５…
データ処理制御装置、１６…信号処理回路、１９…校正
用電源回路。４２…溶接機、４５…圧延機、４７…磁気
検出回路、４８…増幅器、５０…データ処理部、５１…
Ａ／Ｄ変換器、５２…感度補正値メモリ、５４…溶接信
号、５５…欠陥信号。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 竹腰 篤尚 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日本鋼管株式会社内 (56)参考文献 特開 昭54−123989（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−95252（ＪＰ，Ａ) 実開 昭63−107849（ＪＰ，Ｕ) 実公 平１−25347（ＪＰ，Ｙ２) 実公 平６−28691（ＪＰ，Ｙ２)

Claims (2)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数のコイルを溶接接続してなる移動状
   態の鋼板に磁界を発生させ、欠陥に起因して生じる漏洩
   磁束をリニア状に配設された複数の磁気センサからなる
   磁気センサ群で検出することによって、前記鋼板の内部
   または表面の欠陥を検出する磁気探傷装置の校正方法に
   おいて、 前記各磁気センサの出力信号を一定周期で読取り、各磁
   気センサ毎に定められたセンサ感度補正値に基づいて感
   度補正を行い、この感度補正された各出力信号から前記
   溶接部を検出し、一つの溶接部を検出してから次の溶接
   部を検出するまでに得られた各出力信号に含まれる前記
   欠陥に起因して生じる欠陥信号を検出し、この検出され
   た欠陥信号および前記溶接部を示す溶接信号を除去した
   後の各出力信号の各磁気センサ毎の時系列平均値および
   全部の磁気センサに亘って前記時系列平均値を平均した
   全体平均値を算出し、この各磁気センサ毎の時系列平均
   値および全体平均値から各磁気センサ毎の前記センサ感
   度補正値の修正量を算出し、この算出された各修正量に
   基づいて各磁気センサ毎のセンサ感度補正値を自動修正
   することを特徴とする磁気探傷装置の校正方法。
2. 【請求項２】 複数のコイルを溶接接続してなる移動状
   態の鋼板に磁界を発生させ、欠陥に起因して生じる漏洩
   磁束をリニア状に配設された複数の磁気センサからなる
   磁気センサ群で検出することによって、前記鋼板の内部
   または表面の欠陥を検出する磁気探傷装置の校正装置に
   おいて、 前記各磁気センサの出力信号を一定周期で読取る出力信
   号読取手段と、各磁気センサ毎に定められたセンサ感度
   補正値に基づいて前記各出力信号に対する感度補正を行
   う感度補正手段と、この感度補正された各出力信号から
   前記溶接部を検出する溶接部検出手段と、一つの溶接部
   を検出してから次の溶接部を検出するまでに得られた各
   出力信号に含まれる前記欠陥に起因して生じる欠陥信号
   を検出する欠陥信号検出手段と、この検出された欠陥信
   号および前記溶接部を示す溶接信号を除去した後の各出
   力信号の各磁気センサ毎の時系列平均値および全部の磁
   気センサに亘って前記時系列平均値を平均した全体平均
   値を算出する平均値算出手段と、この各磁気センサ毎の
   時系列平均値および全体平均値から各磁気センサ毎の前
   記感度補正値の修正量を算出する修正量算出手段と、こ
   の算出された各修正量に基づいて前記各磁気センサ毎の
   センサ感度補正値を自動修正するセンサ感度補正値自動
   修正手段とを備えたことを特徴とする磁気探傷装置の校
   正装置。