JP2597205B2 - 温度検出回路 - Google Patents
温度検出回路Info
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- JP2597205B2 JP2597205B2 JP1291026A JP29102689A JP2597205B2 JP 2597205 B2 JP2597205 B2 JP 2597205B2 JP 1291026 A JP1291026 A JP 1291026A JP 29102689 A JP29102689 A JP 29102689A JP 2597205 B2 JP2597205 B2 JP 2597205B2
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- Japan
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- output voltage
- diode
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は温度検出回路に関し、特に単一のダイオード
の温度対出力電圧特性を利用して温度を検出する回路に
関する。
の温度対出力電圧特性を利用して温度を検出する回路に
関する。
〔従来の技術〕 従来、この種の温度検出回路として、第５図に示す回
路が提案されている。図において、１はダイオードであ
り、このダイオード１の両端に抵抗R3，R4をそれぞれ接
続し、かつ抵抗R3の他端を電源供給端子２（ここでは、
負電源−Ｖ）に接続し、抵抗R4の他端を接地している。
そして、ダイオード１の両端に出力電圧端子3,4をそれ
ぞれ接続し、この出力電圧端子3,4から出力される電圧V
3，V4を検出するように構成されている。
路が提案されている。図において、１はダイオードであ
り、このダイオード１の両端に抵抗R3，R4をそれぞれ接
続し、かつ抵抗R3の他端を電源供給端子２（ここでは、
負電源−Ｖ）に接続し、抵抗R4の他端を接地している。
そして、ダイオード１の両端に出力電圧端子3,4をそれ
ぞれ接続し、この出力電圧端子3,4から出力される電圧V
3，V4を検出するように構成されている。
この温度検出回路では、ダイオード１の両端電圧は電
流一定の条件では絶対温度に比例して変化されることを
利用しており、電源供給端子２と接地との間に一定の電
圧を印加してダイオード１に定電流を流しておけば、出
力電圧端子3,4間から出力される電圧は、絶対温度に比
例して変化される。したがって、出力電圧端子3,4間の
電圧の差分を検出することによって、この時の温度変化
分を検出することができる。
流一定の条件では絶対温度に比例して変化されることを
利用しており、電源供給端子２と接地との間に一定の電
圧を印加してダイオード１に定電流を流しておけば、出
力電圧端子3,4間から出力される電圧は、絶対温度に比
例して変化される。したがって、出力電圧端子3,4間の
電圧の差分を検出することによって、この時の温度変化
分を検出することができる。
第６図はその温度対出力電圧の特性の一例を示す図で
ある。
ある。
上述した従来の温度検出回路は、ダイオード１の両端
電圧の差分に基づいて温度変化を検出しているが、第６
図に示したように、温度対出力電圧特性の温度係数は、
電源供給端子２の電源電圧で決定されてしまう。このた
め、第５図のように電源供給端子２に負電源を印加して
いる状態では、その温度係数は正の係数に限定されるこ
とになる。したがって、この種の温度検出回路を種々の
回路の温度補償回路等に用いる場合に、温度対出力電圧
特性に負の温度係数が要求されるような場合には、この
温度検出回路をそのまま利用することができず、特性を
反転するための回路が必要とされる等、回路の複雑化を
まねくという問題がある。
電圧の差分に基づいて温度変化を検出しているが、第６
図に示したように、温度対出力電圧特性の温度係数は、
電源供給端子２の電源電圧で決定されてしまう。このた
め、第５図のように電源供給端子２に負電源を印加して
いる状態では、その温度係数は正の係数に限定されるこ
とになる。したがって、この種の温度検出回路を種々の
回路の温度補償回路等に用いる場合に、温度対出力電圧
特性に負の温度係数が要求されるような場合には、この
温度検出回路をそのまま利用することができず、特性を
反転するための回路が必要とされる等、回路の複雑化を
まねくという問題がある。
本発明の目的は、温度対出力電圧特性の温度係数を任
意に調整することを可能とし、そのままで種々の回路へ
の適用を可能にした温度検出回路を提供することにあ
る。
意に調整することを可能とし、そのままで種々の回路へ
の適用を可能にした温度検出回路を提供することにあ
る。
本発明の温度検出回路は、一定の電流が通流されるダ
イオードに、可変抵抗と、直列接続した２つの抵抗とを
それぞれ並列接続してブリッジ回路を構成し、前記可変
抵抗の可動接点と前記２つの抵抗の接続点からそれぞれ
出力される電圧の差を検出するように構成しており、前
記可変抵抗の調整により出力電圧差の温度対出力電圧特
性の温度係数を変化調整し得るようにしている。
イオードに、可変抵抗と、直列接続した２つの抵抗とを
それぞれ並列接続してブリッジ回路を構成し、前記可変
抵抗の可動接点と前記２つの抵抗の接続点からそれぞれ
出力される電圧の差を検出するように構成しており、前
記可変抵抗の調整により出力電圧差の温度対出力電圧特
性の温度係数を変化調整し得るようにしている。
この構成によれば、可変抵抗によりブリッジ回路の定
数を変化させることで、ダイオード両端の電圧とブリッ
ジ回路の出力電圧の関係を変化させ、温度変化に応じて
変化されるダイオード両端電圧を異なる温度係数の状態
で出力させることが可能となる。
数を変化させることで、ダイオード両端の電圧とブリッ
ジ回路の出力電圧の関係を変化させ、温度変化に応じて
変化されるダイオード両端電圧を異なる温度係数の状態
で出力させることが可能となる。
次に、本発明を図面を参照して説明する。
第１図は本発明の一実施例の回路図である。図におい
て、１はダイオードであり、このダイオード１には抵抗
r1，r2の抵抗比を変化し得る可変抵抗VRと、直列に接続
した抵抗R1，R2とからなるブリッジ回路を並列に接続し
ている。また、ダイオード１の両端にはそれぞれ抵抗
R3，R4を接続し、かつ抵抗R3の他端に電源供給端子（負
電源−Ｖ）２を接続し、抵抗R4の他端を接地している。
そして、前記可変抵抗VRの可動接点と、抵抗R1，R2の接
続点とにそれぞれ出力電圧端子3,4を接続し、これらの
出力電圧端子3,4から出力電圧を検出し、かつその差分
を検出するように構成している。
て、１はダイオードであり、このダイオード１には抵抗
r1，r2の抵抗比を変化し得る可変抵抗VRと、直列に接続
した抵抗R1，R2とからなるブリッジ回路を並列に接続し
ている。また、ダイオード１の両端にはそれぞれ抵抗
R3，R4を接続し、かつ抵抗R3の他端に電源供給端子（負
電源−Ｖ）２を接続し、抵抗R4の他端を接地している。
そして、前記可変抵抗VRの可動接点と、抵抗R1，R2の接
続点とにそれぞれ出力電圧端子3,4を接続し、これらの
出力電圧端子3,4から出力電圧を検出し、かつその差分
を検出するように構成している。
なお、抗R3またはR4のいずれか一方は特に設けなくと
もよい。
もよい。
この構成によれば、ブリッジ回路の可変抵抗VRを調整
して抵抗r1，r2の抵抗比を変化させることで、温度検出
回路としての温度対出力電圧特性の温度係数を任意に変
化させることが可能となる。
して抵抗r1，r2の抵抗比を変化させることで、温度検出
回路としての温度対出力電圧特性の温度係数を任意に変
化させることが可能となる。
即ち、R3又はR4≪R1，R2に設定している場合、回路電
流をｉとし、ダイオード１の両端の電圧をVFとすると、
出力電圧端子3,4の各出力電圧V3，V4はそれぞれ次の式
で求められる。
流をｉとし、ダイオード１の両端の電圧をVFとすると、
出力電圧端子3,4の各出力電圧V3，V4はそれぞれ次の式
で求められる。
V3＝iR4＋〔R2／（R1＋R2）〕VF V4＝iR4＋〔R1／（r1＋r2）〕VF この結果、出力電圧端子3,4の電圧差分ΔＶ（V4−
V3）は、 ΔＶ＝〔R2／（R1＋R2）−r1／（r1＋r2）〕VFとして求
められる。
V3）は、 ΔＶ＝〔R2／（R1＋R2）−r1／（r1＋r2）〕VFとして求
められる。
つまり、温度が変化し、VFがVF＋ΔVFになったとすれ
ば、その変動量は 〔R2／（R1＋R2）−r1／（r1＋r2）〕ΔVFとなる。
ば、その変動量は 〔R2／（R1＋R2）−r1／（r1＋r2）〕ΔVFとなる。
したがって、 r1（r1＋r2）をＡとし、R2／（R1＋R2）をＢとしたと
き、 Ａ＞Ｂのとき、負の温度係数 Ａ＜Ｂのとき、正の温度係数 Ａ＝Ｂのとき、温度係数が零 となる。
き、 Ａ＞Ｂのとき、負の温度係数 Ａ＜Ｂのとき、正の温度係数 Ａ＝Ｂのとき、温度係数が零 となる。
即ち、可変抵抗VRを調整することで、第２図に示すよ
うに、負の温度係数10,正の温度係数11,零の温度係数12
の任意に設定でき、その温度係数による温度検出ができ
る。これにより、この種の温度検出回路を例えば温度補
償回路等に利用する場合でも、この温度補償回路で要求
される温度係数に適合する温度検出回路として容易に構
成することが可能となり、温度検出回路の応用範囲を拡
大することが可能となる。
うに、負の温度係数10,正の温度係数11,零の温度係数12
の任意に設定でき、その温度係数による温度検出ができ
る。これにより、この種の温度検出回路を例えば温度補
償回路等に利用する場合でも、この温度補償回路で要求
される温度係数に適合する温度検出回路として容易に構
成することが可能となり、温度検出回路の応用範囲を拡
大することが可能となる。
なお、第３図のように、ダイオード１の抵抗R4側の端
子を接地する代わりに、正の電源供給端子５として構成
してもよく、このように構成した場合でも上述の関係に
基づいた温度検出が可能とされる。
子を接地する代わりに、正の電源供給端子５として構成
してもよく、このように構成した場合でも上述の関係に
基づいた温度検出が可能とされる。
また、第４図はブリッジ回路の出力電圧の変動量を差
動増幅器６へ入力し、これらを比較した上で比較結果を
出力端子７に出力させるように構成した回路の一例を示
している。
動増幅器６へ入力し、これらを比較した上で比較結果を
出力端子７に出力させるように構成した回路の一例を示
している。
この回路では、可変抵抗VRを調整し、前記した値A,B
の関係により出力端子７における出力電圧の変動は次の
通りとなる。
の関係により出力端子７における出力電圧の変動は次の
通りとなる。
Ａ＝Ｂのとき、ダイオード１の温度変動に対し、出力
端子７の出力電圧の変動はない。
端子７の出力電圧の変動はない。
Ａ＞Ｂのとき、ダイオード１の温度が上昇すれば、出
力端子７の出力電圧が上がり、ダイオード１の温度が下
降すれば出力端子７の出力電圧が下がる（正の温度係
数）。
力端子７の出力電圧が上がり、ダイオード１の温度が下
降すれば出力端子７の出力電圧が下がる（正の温度係
数）。
Ａ＜Ｂのとき、ダイオード１の温度が上昇すれば、出
力端子７の出力電圧が下がり、ダイオード１の温度が下
降すれば、出力端子７の出力電圧が上がる（負の温度係
数）。
力端子７の出力電圧が下がり、ダイオード１の温度が下
降すれば、出力端子７の出力電圧が上がる（負の温度係
数）。
ここで、第４図においても、第３図に示したように接
地端子を正の電源供給端子に置き代えてもよい。
地端子を正の電源供給端子に置き代えてもよい。
以上説明したように本発明は、可変抵抗を含むブリッ
ジ回路の定数を変化させることで、ダイオード両端の電
圧とブリッジ回路の出力電圧の関係を変化させることが
でき、これによりダイオード両端電圧を異なる温度係数
の状態で出力させることが可能となる。したがって、任
意の温度係数を有する温度検出回路として利用すること
が可能となり、被温度検出物に見合う温度検出を実現し
て応用範囲の拡大、信頼性及び保守の容易化を実現でき
る効果がある。
ジ回路の定数を変化させることで、ダイオード両端の電
圧とブリッジ回路の出力電圧の関係を変化させることが
でき、これによりダイオード両端電圧を異なる温度係数
の状態で出力させることが可能となる。したがって、任
意の温度係数を有する温度検出回路として利用すること
が可能となり、被温度検出物に見合う温度検出を実現し
て応用範囲の拡大、信頼性及び保守の容易化を実現でき
る効果がある。
第１図は本発明の一実施例の回路図、第２図は第１図の
回路における温度対出力電圧特性図、第３図は第１図の
変形例の回路図、第４図は本発明の他の実施例の回路
図、第５図は従来の温度検出回路の一例を示す回路図、
第６図は第５図の回路における温度対出力電圧特性図で
ある。 １……ダイオード、２……電圧供給端子（負）、3,4…
…出力電圧端子、５……電圧供給端子（正）、６……差
動増幅器、７……出力端子、VR……可変抵抗、R1〜R5…
…抵抗。
回路における温度対出力電圧特性図、第３図は第１図の
変形例の回路図、第４図は本発明の他の実施例の回路
図、第５図は従来の温度検出回路の一例を示す回路図、
第６図は第５図の回路における温度対出力電圧特性図で
ある。 １……ダイオード、２……電圧供給端子（負）、3,4…
…出力電圧端子、５……電圧供給端子（正）、６……差
動増幅器、７……出力端子、VR……可変抵抗、R1〜R5…
…抵抗。
Claims (1)
- 【請求項１】一定の電流が通流されるダイオードに、可
変抵抗と、直列接続した２つの抵抗とをそれぞれ並列接
続してブリッジ回路を構成し、前記可変抵抗の可動接点
と前記２つの抵抗の接続点からそれぞれ出力される電圧
の差を検出するように構成し、前記可変抵抗の調整によ
り前記出力電圧差の温度対出力電圧特性の温度係数を変
化調整し得るように構成したことを特徴とする温度検出
回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1291026A JP2597205B2 (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | 温度検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1291026A JP2597205B2 (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | 温度検出回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03152430A JPH03152430A (ja) | 1991-06-28 |
| JP2597205B2 true JP2597205B2 (ja) | 1997-04-02 |
Family
ID=17763491
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1291026A Expired - Lifetime JP2597205B2 (ja) | 1989-11-10 | 1989-11-10 | 温度検出回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2597205B2 (ja) |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59126259A (ja) * | 1983-01-06 | 1984-07-20 | Nippon Electric Ind Co Ltd | 通風状態と温度の監視装置 |
| JPS59166826A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-20 | Seiko Epson Corp | 温度検出回路 |
-
1989
- 1989-11-10 JP JP1291026A patent/JP2597205B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59126259A (ja) * | 1983-01-06 | 1984-07-20 | Nippon Electric Ind Co Ltd | 通風状態と温度の監視装置 |
| JPS59166826A (ja) * | 1983-03-11 | 1984-09-20 | Seiko Epson Corp | 温度検出回路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH03152430A (ja) | 1991-06-28 |
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Legal Events
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