JP2549751B2 - パルス位置計測型計器駆動回路 - Google Patents

パルス位置計測型計器駆動回路

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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R23/00Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
    • G01R23/02Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage
    • G01R23/10Arrangements for measuring frequency, e.g. pulse repetition rate; Arrangements for measuring period of current or voltage by converting frequency into a train of pulses, which are then counted, i.e. converting the signal into a square wave
    • GPHYSICS
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    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R29/00Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
    • G01R29/02Measuring characteristics of individual pulses, e.g. deviation from pulse flatness, rise time or duration
    • G01R29/027Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values
    • G01R29/0276Indicating that a pulse characteristic is either above or below a predetermined value or within or beyond a predetermined range of values the pulse characteristic being rise time

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Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は外部より入力されるパルスのエッジ間幅を
計測し、その量に応じて計器、指針の位置を決めるよう
に制御され、特にパルスが急変化、または変動する場合
の出力データの処理を適用されるパルス位置計測型計器
駆動回路に関する。
(従来の技術) 第6図は従来のパルス位置計測型計器駆動回路の構成
を示すブロック図であり、外部より入力されるパルスの
エッジ間幅を計測し、その計測量に応じた仕事をする一
般的な回路である。端子61には入力パルス信号INが与え
られ、パルス制御回路62によってリセット信号R及びラ
ッチ信号Gが生成される。基準クロックパルスCPにより
バイナリカウンタ63が動作し、ラッチ信号Gがラッチ回
路64に発せられるまで、計測量DATが、カウントアップ
信号CNTによりカウントアップされ、その時間分だけ出
力される。
第7図は上記第6図中の各信号のタイミングチャート
である。信号INのパルスのエッジ(立上がり)を検出し
てから次のエッジを検出した時点で計測量(データ)が
決まる。すなわち、例えば1つ前のエッジ間の時間T1の
データが次のエッジ間の時間T2だけ出力される。このデ
ータに従い、計器指針の位置が決定されことになる。
しかしながら、このような構成では計測開始のパルス
エッジを検出し、次のパルスエッジが入力されなかっ
た、または長時間入力されなかった場合には、前のパル
スエッジ間で計測されたデータを出力し続けることにな
る。そうなると、実際の計測値とは異なるデータが出力
されていることが多い。
(発明が解決しようとする課題) このように、従来では1つのデータを得るための計測
開始のパルスエッジを検出し、次の計測終了のパルスエ
ッジが入力されなかった、または長時間入力されなかっ
た場合には、前のパルスエッジ間で計測されたデータを
出力し続けてしまい、実際とは異なったデータが出力さ
れるという欠点がある。
この発明は上記のような事情を考慮してなされたもの
であり、その目的は、入力パルス信号が急減するような
不連続性の条件下でも、より正確な計器駆動を確立する
パルス幅計測型計器駆動回路を提供することにある。
[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明のパルス位置計測型計器駆動回路は、外部よ
り入力されるパルスのエッジ毎にラッチ信号を出力する
と共にリセット信号を生成して各パルスのエッジ間幅の
時間量を繰り返し計測するパルス位置計測手段と、前記
パルスが所定時間のうちで、かつ複数の特定回数以上連
続して入力されたことを検出するパルス数検出手段と、
前記パルス数検出手段の検出から引き続き前記所定時間
経過後、まだ次のパルスが入力されない前記パルス位置
計測手段実行中に割り込みラッチ信号を生成する割り込
み制御手段と、前記パルス位置計測手段で生成されるラ
ッチ信号と割り込み制御手段で生成される割り込みラッ
チ信号とで形成されるラッチ信号間毎に前記パルス位置
計測手段における時間量に応じて計器、指針の位置を決
めるための計測データを出力するデータ制御手段とを具
備したことを特徴としている。
(作用) この発明では、入力パルス信号のパルスが急減する
と、設定されたタイマにより所定時間の経過後、割り込
みラッチ信号を出力し、パルスの次のエッジが検出され
る以前にデータをスムーズに減らすことができる。これ
により、短所である次のパルスが来ない場合の動作を確
立させる。
(実施例) 以下、図面を参照してこの発明を実施例により説明す
る。
第1図はこの発明に係るパルス位置計測型計器駆動回
路の一実施例による構成を示すブロック図である。端子
11には入力パルス信号INが与えられ、パルス制御回路12
によってリセット信号R及びラッチ信号Gが生成され
る。基準クロックパルスCPにより、パルス位置計測カウ
ンタ13が動作し、ラッチ信号Gがラッチ回路14に発せら
れるまで、計測量DATが、カウンタ13によりカウントア
ップされ、その時間分だけ出力される。また、カウンタ
オーバフロー時にはリセット信号ROがラッチ回路14に与
えられる。
上記パルス位置計測カウンタ13に接続されるパルス検
出回路15,16,17は、それぞれ所定時間T1,T2,T3が設定さ
れたタイマを有しており、Tn(n=1,2,3)時間未満の
入力パルスがN回以上入力されたかを検出する回路であ
る。これら検出回路15,16,17に各々接続されるデータ制
御回路18,19,20は、上記パルス検出回路での条件が満た
され、かつ次の新パルスまでにそれぞれTn以上の時間が
計測された場合にラッチ回路を開くようにパルス制御回
路に信号を出力する回路である。
上記パルス検出回路、データ制御回路により、1つの
データを得るための計測開始のパルスエッジを検出し、
次の計測終了のパルスエッジが入力されなかった、また
は長時間入力されなかった場合に、ラッチ信号Gをラッ
チ回路に与え、計測データを割り込ませる。これによ
り、従来のように前のパルスエッジ間で計測されたデー
タを出力し続けることはなくなる。
第2図はこの発明の回路におけるデータ制御動作を示
すフローチャートである。パルス検出回路15,16,17は実
際何個設けてもよく、個々に同じフローを実行するの
で、説明上STnとして総括的に示す。対になるデータ制
御回路18,19,20も同様にDTnとして示す。
入力パルス信号INの周波数が高い値から低い値に急変
したと仮定して場合を想定して第2図のフローチャート
をスタート31にはいる。判定処理32では、カウンタ13
が、パルス検出回路STnで設定されたタイマの時間Tn以
上のカウント動作を実行したかが検証される。実行した
ならば、判定処理33により、信号INのパルスがTn時間未
満で所定数(N回)以上入力されたかが検証される。す
なわち、Tn時間未満のパルスが連続的に所定数回検出さ
れ、次のパルスがTn時間以上のものであるならば、Tn時
間経過後、処理34が行われる。すなわち、データ制御回
路DTnによってパルス制御回路にラッチ回路14を開くよ
うに信号が出力され、その時点でデータをラッチする。
その後、処理35に移り、パルス検出回路STnのカウント
値をクリアしてスタート31に戻る。
上記フローチャート内の36〜39及び40〜42の処理の流
れはそれぞれ通常のデータ出力動作を示す。43,44の処
理の流れはオーバーフロー時の対処である。
第3図はこの発明を自動車等のスピードメータの指針
制御に実施したタイミングチャートである。
入力パルス信号INとしてスピード信号SPが入力され
る。このスピード信号のパルスエッジ間幅が小から大に
なったことをパルス検出回路STnが検出し、パルス位置
計測カウンタ13のカウンタ途中のデータをラッチするよ
うラッチ信号Gが発生される(第3図の51)。その後、
次のパルスエッジが検出され、リセット信号Rにより、
カウンタ13がリセットされる。
上記構成の場合、パルス検出回路STn及びデータ制御
回路DTnは1対のみの動作であり、例えば第1図のパル
ス検出回路15及びデータ制御回路18の1対のみ設けて動
作させ、タイマでのラッチ動作を1回のみとしている。
自動車等ではスピードセンサ取付け位置にずれがあ
る。これにより、発生されるスピード信号のパルス幅の
バラツキがあり、自動車が一定スピードで走行していて
もパルスがまちまちに入力されることが多い。このた
め、第2図のフローチャートでも説明したように、パル
ス検出回路DTnで設定されたTn時間未満のパルスがN回
(ここでは4回)のカウントを満たさない限り、Tn時間
以上のパルスが入力されても、カウンタ13のカウンタ途
中のデータをラッチしないようにしている(第3図の5
2)。
また、第3図の51で示す割り込ませたラッチ信号の後
にすぐパルスエッジが検出され、ラッチ信号53がまたデ
ータをラッチする動作が見られる。これは、あまり必要
のない動作であるから、第4図に示すブロック図のよう
に、データ制御回路DTnの動作から一定時間ラッチ信号
を出力させないように制御するタイマ回路21を第1図の
構成に付加すると、この問題が解消される。
以上、第1図または第4図のような構成によれば、第
5図に示されるように、スピード信号SPのパルスエッジ
間が大きくなった場合、スピードメータの指針角をスム
ーズに減らすことができる。従来では破線のようなオー
バフローによるデータクリアであり、指針角の指示が実
際とはかけ離れた表示をしていた。この発明により、入
力パルスの次のエッジが検出される以前に指針角のため
のデータをスムーズに減らすことができるので、指針角
の指示が的確になる。また、パルス検出回路DTn及びデ
ータ制御回路DTnにより、パルス位置計測カウンタ13の
カウント途中のデータラッチ動作回数を限定できる。こ
のようなことから、0Hz以上のパルス信号かつパルス幅
に連続性のないパルス信号を入力して制御駆動する自動
車等のスピードメータに好適である。
[発明の効果] 以上説明したようにこの発明によれば、設定されたタ
イマにより所定時間の経過後、割り込みラッチ信号を出
力し、パルスの次のエッジが検出される以前にデータを
スムーズに減らすことができるので、不連続性の条件下
でも正確な計器駆動を確立するパルス幅計測型計器駆動
回路が提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例による構成を示すブロック
図、第2図はこの発明の回路におけるデータ制御動作を
示すフローチャート、第3図はこの発明を自動車等のス
ピードメータの指針制御を実施したタイミングチャー
ト、第4図はこの発明の他の実施例による構成を示すブ
ロック図、第5図は自動車等のスピードメータの指針制
御での効果を示すタイミングチャート、第6図は従来の
パルス位置計測型計器駆動回路の構成を示すブロック
図、第7図は第6図のデータ制御動作を示すタイミング
チャートである。 11……端子、12……パルス制御回路、13……パルス位置
計測カウンタ、14……ラッチ回路、15,16,17……パルス
検出回路、18,19,20……データ制御回路、21……タイマ
回路。

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】外部より入力されるパルスのエッジ毎にラ
    ッチ信号と共にリセット信号を生成して各パルスのエッ
    ジ間幅の時間量を繰り返し計測するパルス位置計測手段
    と、 前記パルスの幅が所定時間より小さく、かつ複数の特定
    回数以上連続して入力されたことを検出するパルス数検
    出手段と、 前記パルス数検出手段の検出から引き続き前記所定時間
    経過後、まだ次のパルスが入力されない前記パルス位置
    計測手段実行中に割り込みラッチ信号を生成する割り込
    み制御手段と、 前記パルス位置計測手段で生成されるラッチ信号と割り
    込み制御手段で生成される割り込みラッチ信号とで形成
    されるラッチ信号間毎に前記パルス位置計測手段におけ
    る時間量に応じて計器、指針の位置を決めるための計測
    データを出力するデータ制御手段と を具備したことを特徴とするパルス位置計測型計器駆動
    回路。
  2. 【請求項2】前記割り込み制御手段による割り込みラッ
    チ信号生成後一定時間内に前記パルス位置計測手段によ
    りパルスのエッジを検出してもラッチ信号を生成しない
    ようにするタイマ制御手段を有し、このタイマ制御手段
    により前記一定時間内では前記計測データを無効にする
    ことを特徴とする請求項1記載のパルス位置計測型計器
    駆動回路。
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Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2995097B2 (ja) * 1991-02-22 1999-12-27 東芝テック株式会社 位置検出装置
JPH08289594A (ja) * 1995-02-15 1996-11-01 Nippondenso Co Ltd ステップモータの駆動制御方法とその装置
US6219624B1 (en) 1998-08-03 2001-04-17 Visteon Global Technologies, Inc. Synchronous timer vehicle speed measurement
JP2006234514A (ja) * 2005-02-23 2006-09-07 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 回転速度検出装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS52102059A (en) * 1976-02-20 1977-08-26 Okuma Machinery Works Ltd Positionndetecting system
JPS57206862A (en) * 1981-06-16 1982-12-18 Honda Motor Co Ltd Meter for vehicle
JP2569589B2 (ja) * 1986-08-28 1997-01-08 日本電気株式会社 カウンタ回路
JP2536291B2 (ja) * 1987-03-04 1996-09-18 日本電装株式会社 速度測定装置
JP2549522B2 (ja) * 1987-07-08 1996-10-30 自動車機器株式会社 車速測定方法
JPH01316664A (ja) * 1988-06-17 1989-12-21 Nissan Motor Co Ltd ディジタル式速度計
JPH0675077B2 (ja) * 1988-11-24 1994-09-21 ローム株式会社 メータ駆動装置

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KR950014500B1 (ko) 1995-12-02
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