JP2513034B2 - Lsi回路 - Google Patents

Lsi回路

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JP2513034B2
JP2513034B2 JP1169798A JP16979889A JP2513034B2 JP 2513034 B2 JP2513034 B2 JP 2513034B2 JP 1169798 A JP1169798 A JP 1169798A JP 16979889 A JP16979889 A JP 16979889A JP 2513034 B2 JP2513034 B2 JP 2513034B2
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Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明はテストパターン作成およびシュミレーショ
ンを容易にできるようにしたLSI回路に関する。
[従来の技術] 従来、LSI回路においては、LSI回路を構成する個々の
回路ブロックのテストを行うためには個々の回路ブロッ
クの入出力信号を取り出す信号入出力端子が必要とな
る。しかし、回路ブロックの数に対してLSI回路の端子
の数が不足している場合や、LSI回路の回路規模が大き
く,すなわち、LSI回路が数多くの回路ブロックで構成
されているために回路ブロックの数に応じた信号入出力
端子を設けることがスペースからみて不可能な場合があ
る。
[発明が解決しようとする課題] 上述したように従来のLSI回路においては、各回路ブ
ロックの入出力信号を取り出して各回路ブロックを独立
してテストすることができない場合があるので、LSI回
路全体を対象にして試験を行わなければならず、試験の
テストパターンおよびシュミレーションは複雑なものに
なるという問題があった。
[課題を解決するための手段] この発明のLSI回路は、信号入力端子および各回路ブ
ロックの出力端子を入力とするとともに、信号出力端子
および各回路ブロックの入力端子を出力とし、外部から
の所定の制御信号に応じて各入力および出力間を任意に
切り替え接続することにより、信号入力端子および信号
出力端子間に1つ以上の任意の回路ブロックを接続する
スイッチ回路網を備えるものである。
[作用] スイッチ回路網に制御信号を与えて、LSI回路の信号
入力端子に任意の回路ブロックの入力端子を接続すると
ともに、LSI回路の信号出力端子をこの回路ブロックの
出力端子に接続することにより、この回路ブロックの入
出力信号をLSI回路の信号入力端子および信号出力端子
に取り出すことができる。
[実施例] 次にこの発明について図面を参照して説明する。
第1図はこの発明のLSI回路の一実施例を示すブロッ
ク図である。
1は信号入力端子、2は制御入力端子、41〜4nは所定
の機能を果たす第1〜第nの回路ブロック、5は信号出
力端子である。3はスイッチ回路網であり、信号入力端
子1と回路ブロック41〜4nの入力端子との間、および信
号出力端子5と回路ブロック41〜4nとの間を制御入力端
子2から入力する制御信号に従って接続するようになっ
ている。また、スイッチ回路網3は、上記制御信号に従
って回路ブロック41〜4nの入力端子と出力端子との間も
接続するようになっている。
次にLSI回路のテスト動作について説明する。
第2図(a)〜(d)はLSI回路の実際の動作を示す
ブロック図であり、第1図と同一符号は同一部分を示
す。
まず、制御入力端子2を介してスイッチ回路網3に制
御信号を与えることによって、信号入力端子1を一括し
て第1の回路ブロック41の入力端子に接続するととも
に、信号出力端子5を第1の回路ブロック41の出力端子
に接続する(第2図(a))。この状態で信号入力端子
1から所定のテスト信号を入力するとともに、信号出力
端子5からの出力信号をモニタして第1の回路ブロック
41単体に対するテストを行う。
次に、制御入力端子2を介してスイッチ回路網3に制
御信号を与えることによって、信号入力端子1を一括し
て第2の回路ブロック42の入力端子に接続するととも
に、信号出力端子を第2の回路ブロック42に接続する
(第2図(b))。この状態で上記と同様に第2の回路
ブロック42単体に対してテストを行う。
以下同様にして第nの回路ブロック4nまで順次回路ブ
ロック単体でのテストを行う(第2図(c))。
最後に、LSI回路における回路ブロック41〜4n間の接
続が所期の状態になるように、制御入力端子2を介して
スイッチ回路網3に制御信号を与えて信号入力端子1、
信号出力端子5、および回路ブロック41〜4nの入出力端
子の相互間を接続する(第2図(d))。
次に、スイッチ回路網3の具体例について説明する。
第3図はスイッチ回路網3の具体例である3入力3出
力のマトリクススイッチを示す回路図である。マトリク
ススイッチは、入力端子I1〜I3、出力端子O1〜O3、およ
びクロスポイントP11〜P33で構成されており、例えば、
クロスポイントP13に矢印で示す制御信号が入力すると
そのクロスポイントP13は閉となり、入力端子I1と出力
端子O3との間が接続されるようになっている。
また、第4図は第3図のスイッチ回路網をゲートで構
成した場合の回路図であり、第3図と同一符号は相当部
分を示す。11〜19はANDゲート、20〜22はORゲート、C11
〜C33は制御信号入力端子である。動作は第3図の場合
と同様であり、例えば、制御信号入力端子C13に制御信
号が入力すると、入力端子I1に入力した信号は出力端子
O3から出力する。この状態は第3図でクロスポイントP
13が閉となった状態と同じである。
なお、上述したマトリクススイッチのサイズは3入力
3出力なので、制御信号入力端子は3×3=9となる。
しかし、マトリクススイッチのサイズが大きくなると、
制御信号入力端子の数が膨大な数になるため、制御信号
をシリアルで形式で入力してシリアル/パラレル変換す
るなどの工夫が必要となる。また、マトリクススイッチ
のサイズが大きくなると、クロスポイントを構成する素
子数も膨大な数になるので、上述したようなスイッチ回
路網を多段構成にする必要がある。
[発明の効果] 以上説明したように、この発明のLSI回路によれば、
スイッチ回路網に制御信号を与えて、LSI回路の信号入
力端子に任意の回路ブロックの入力端子を接続するとと
もに、LSI回路の信号出力端子をこの回路ブロックの出
力端子に接続することにより、この回路ブロックの入出
力信号をLSI回路の信号入力端子および信号出力端子に
取り出すことができる。
したがって、LSI回路が多くの回路ブロックから構成
されている場合においても、全ての回路ブロックについ
て個々の入出力信号をLSI回路の信号入力端子および信
号出力端子に独立して取り出すことができるので、各回
路ブロックを独立してテストすることができるため、従
来に比較してLSI回路のテストパターンおよびシュミレ
ーションが容易になる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明のLSI回路一実施例を示すブロック
図、第2図は同実施例における動作を示すブロック図、
第3図,第4図は同実施例におけるスイッチ回路網の具
体例を示す回路図である。 1……信号入力端子、2……制御入力端子、3……スイ
ッチ回路網、41〜4n……第1〜第nの回路ブロック、5
……信号出力端子。

Claims (1)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】信号入力端子と、信号出力端子と、複数の
    回路ブロックとを有するLSI回路において、 信号入力端子および各回路ブロックの出力端子を入力と
    するとともに、信号出力端子および各回路ブロックの入
    力端子を出力とし、外部からの所定の制御信号に応じて
    各入力および出力間を任意に切り替え接続することによ
    り、信号入力端子および信号出力端子間に1つ以上の任
    意の回路ブロックを接続するスイッチ回路網を備えるこ
    とを特徴とするLSI回路。
JP1169798A 1989-07-03 1989-07-03 Lsi回路 Expired - Lifetime JP2513034B2 (ja)

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JPH0335178A JPH0335178A (ja) 1991-02-15
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62150180A (ja) * 1985-12-25 1987-07-04 Nec Corp 集積回路
JPS63257242A (ja) * 1987-04-14 1988-10-25 Nec Corp 論理回路付半導体記憶装置
JPH02112777A (ja) * 1988-10-21 1990-04-25 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路
JPH02128462A (ja) * 1988-11-08 1990-05-16 Matsushita Electron Corp 半導体集積回路装置

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