JP2509022Y2 - 回路基板検査装置 - Google Patents
回路基板検査装置Info
- Publication number
- JP2509022Y2 JP2509022Y2 JP1989128960U JP12896089U JP2509022Y2 JP 2509022 Y2 JP2509022 Y2 JP 2509022Y2 JP 1989128960 U JP1989128960 U JP 1989128960U JP 12896089 U JP12896089 U JP 12896089U JP 2509022 Y2 JP2509022 Y2 JP 2509022Y2
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- Japan
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- probe
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は回路基板検査装置に関し、さらに詳しく言
えば、Ｘ−Ｙユニットを有する回路基板検査装置に関す
るものである。
えば、Ｘ−Ｙユニットを有する回路基板検査装置に関す
るものである。
この種の回路基板検査装置は第５図に示されているよ
うに、例えば２つのＸ−Ｙユニット1A,1Bを備えてい
る。各ユニット1A,1Bは、Ｘ方向に配向された案内レー
ル２と、Ｙ方向に配向され同案内レール２に沿って例え
ばサーボモータなどにてＸ方向に往復的に駆動されるア
ーム３とを有し、各アーム３にはそれぞれ可動部４が同
アーム３に沿って上記と同じく例えばサーボモータなど
にてＹ方向に往復動し得るように取付けられている。第
６図に示されているように、可動部４には回路基板６の
測定部位に接触するプローブピン５が設けられている。
この場合詳しくは図示されていないが、可動部４にはプ
ローブピン５を上下させるためのピン駆動機構が設けら
れている。
うに、例えば２つのＸ−Ｙユニット1A,1Bを備えてい
る。各ユニット1A,1Bは、Ｘ方向に配向された案内レー
ル２と、Ｙ方向に配向され同案内レール２に沿って例え
ばサーボモータなどにてＸ方向に往復的に駆動されるア
ーム３とを有し、各アーム３にはそれぞれ可動部４が同
アーム３に沿って上記と同じく例えばサーボモータなど
にてＹ方向に往復動し得るように取付けられている。第
６図に示されているように、可動部４には回路基板６の
測定部位に接触するプローブピン５が設けられている。
この場合詳しくは図示されていないが、可動部４にはプ
ローブピン５を上下させるためのピン駆動機構が設けら
れている。
この装置によれば、一対のプローブピン５を回路基板
６の任意の測定ポイントへ動かすことができるため、被
検査回路基板ごとにそれ専用のピンボードを作らなくて
よいという利点がある。
６の任意の測定ポイントへ動かすことができるため、被
検査回路基板ごとにそれ専用のピンボードを作らなくて
よいという利点がある。
ところで、回路基板にコンデンサが実装されている場
合には検査の一環として、その極性を判別する必要があ
る。この点に関し、本出願人は先に特願昭61-264664号
として、電解コンデンサの一方のリード端子に直流電圧
を加え、そのリード端子と金属ケース間に発生する電流
もしくは電圧を測定して極性を判別する方法を提案し
た。第７図を例にとってその方法を手短に説明すると、
同図に示されているように回路基板６にリード同一方向
型電解コンデンサ７が実装されている場合には、直流電
圧源に接続されているプローブピン８を回路基板６の上
方から一方のリード端子7aに接触させるとともに、測定
部に接続されているプローブピン９を回路基板６の下方
からコンデンサの金属ケース7cに接触させる。そして、
プローブピン８よりリード端子7aにの電圧を印加する
のであるが、リード端子7aの極性が加えられた直流電圧
と同一極性、すなわち正極の場合には、瞬間的に比較的
大きな突入電流が発生するが急速に減衰し、以後微小の
漏れ電流が測定される。他方、プローブピン８を負極側
のリード端子7bに接触させそれにの電圧を印加した場
合には、その負極側端子7bと金属ケース7c間は通常低イ
ンピーダンスであることから、突入電流の減衰後比較的
大きな電流が流れ、その漏れ電流により比較的高い電圧
が測定される。
合には検査の一環として、その極性を判別する必要があ
る。この点に関し、本出願人は先に特願昭61-264664号
として、電解コンデンサの一方のリード端子に直流電圧
を加え、そのリード端子と金属ケース間に発生する電流
もしくは電圧を測定して極性を判別する方法を提案し
た。第７図を例にとってその方法を手短に説明すると、
同図に示されているように回路基板６にリード同一方向
型電解コンデンサ７が実装されている場合には、直流電
圧源に接続されているプローブピン８を回路基板６の上
方から一方のリード端子7aに接触させるとともに、測定
部に接続されているプローブピン９を回路基板６の下方
からコンデンサの金属ケース7cに接触させる。そして、
プローブピン８よりリード端子7aにの電圧を印加する
のであるが、リード端子7aの極性が加えられた直流電圧
と同一極性、すなわち正極の場合には、瞬間的に比較的
大きな突入電流が発生するが急速に減衰し、以後微小の
漏れ電流が測定される。他方、プローブピン８を負極側
のリード端子7bに接触させそれにの電圧を印加した場
合には、その負極側端子7bと金属ケース7c間は通常低イ
ンピーダンスであることから、突入電流の減衰後比較的
大きな電流が流れ、その漏れ電流により比較的高い電圧
が測定される。
このようにして、電解コンデンサの極性を回路基板に
実装した状態で判別することができるのであるが、Ｘ−
Ｙユニットの場合には、そのプローブピン5,5がともに
回路基板６の一方の面側に配置されるため、上記のよう
なコンデンサの極性判別方法を適用することは困難とさ
れていた。
実装した状態で判別することができるのであるが、Ｘ−
Ｙユニットの場合には、そのプローブピン5,5がともに
回路基板６の一方の面側に配置されるため、上記のよう
なコンデンサの極性判別方法を適用することは困難とさ
れていた。
上記課題を解決するため、この考案は、被検査回路基
板の一方の面側においてその基板面と平行な平面に沿っ
てＸ−Ｙ方向に移動する可動部を有し、同可動部に上記
被検査回路基板の測定部位に電気的に接触するプローブ
ピンを設けてなる回路基板検査装置において、上記被検
査回路基板の他方の面側に配置されたピンボードと、円
筒状のポスト本体の下端に同ポスト本体の軸線から偏心
した位置に上記ピンボードに対する取付孔を有する基部
が取り付けられたプローブポストとを備え、同プローブ
ポストが上記取付孔を中心として上記ピンボード上に回
転可能に立設されているとともに、上記ポスト本体に上
記被検査回路基板に実装されている電解コンデンサの金
属ケースに接触してその極性を判別する極性判別用プロ
ーブピンが支持されていることを特徴としている。
板の一方の面側においてその基板面と平行な平面に沿っ
てＸ−Ｙ方向に移動する可動部を有し、同可動部に上記
被検査回路基板の測定部位に電気的に接触するプローブ
ピンを設けてなる回路基板検査装置において、上記被検
査回路基板の他方の面側に配置されたピンボードと、円
筒状のポスト本体の下端に同ポスト本体の軸線から偏心
した位置に上記ピンボードに対する取付孔を有する基部
が取り付けられたプローブポストとを備え、同プローブ
ポストが上記取付孔を中心として上記ピンボード上に回
転可能に立設されているとともに、上記ポスト本体に上
記被検査回路基板に実装されている電解コンデンサの金
属ケースに接触してその極性を判別する極性判別用プロ
ーブピンが支持されていることを特徴としている。
上記構成によれば、Ｘ−Ｙユニットのプローブピンと
回路基板を境にしてその反対側に配置された極性判別用
プローブピンとにより、Ｘ−Ｙ型の回路基板検査装置に
おいても回路基板に実装されている電解コンデンサの極
性を確実に検出することができる。
回路基板を境にしてその反対側に配置された極性判別用
プローブピンとにより、Ｘ−Ｙ型の回路基板検査装置に
おいても回路基板に実装されている電解コンデンサの極
性を確実に検出することができる。
この場合において、被検査回路基板に実装されている
電解コンデンサと極性判別用プローブピンとの間に位置
ずれが生じたとしても、ポスト本体をその基部の取付孔
を中心として回転させることにより、極性判別用プロー
ブピンを電解コンデンサの金属ケースに対応する位置に
設定することできる。
電解コンデンサと極性判別用プローブピンとの間に位置
ずれが生じたとしても、ポスト本体をその基部の取付孔
を中心として回転させることにより、極性判別用プロー
ブピンを電解コンデンサの金属ケースに対応する位置に
設定することできる。
以下、この考案の実施例を第１図ないし第４図を参照
しながら詳細に説明する。
しながら詳細に説明する。
この回路基板検査装置は、第１図に示されているよう
に、Ｘ−Ｙユニット10を備えている。作図の都合上、同
図にはその一方しか示されていないが、実際には第５図
と同じくこのＸ−Ｙユニット10はもう一つ設けられてい
る。同Ｘ−Ｙユニット10は、例えばＸ方向に配向された
案内レール11と、Ｙ方向に配向されていて図示しない例
えばサーボモータなどにて案内レール11に沿ってＸ方向
に往復動されるアーム12とを有している。このアーム12
には、上記と同様図示しない例えばサーボモータなどに
て同アーム12に沿ってＹ方向に往復動される可動部13が
設けられている。可動部13には、検査に供される回路基
板６の測定部位に電気的に接触するプローブピン14が取
付けられている。図示されていないが、可動部13には所
定のストロークでプローブピン14を上下動させるエアシ
リンダなどのピン駆動機構が設けられている。
に、Ｘ−Ｙユニット10を備えている。作図の都合上、同
図にはその一方しか示されていないが、実際には第５図
と同じくこのＸ−Ｙユニット10はもう一つ設けられてい
る。同Ｘ−Ｙユニット10は、例えばＸ方向に配向された
案内レール11と、Ｙ方向に配向されていて図示しない例
えばサーボモータなどにて案内レール11に沿ってＸ方向
に往復動されるアーム12とを有している。このアーム12
には、上記と同様図示しない例えばサーボモータなどに
て同アーム12に沿ってＹ方向に往復動される可動部13が
設けられている。可動部13には、検査に供される回路基
板６の測定部位に電気的に接触するプローブピン14が取
付けられている。図示されていないが、可動部13には所
定のストロークでプローブピン14を上下動させるエアシ
リンダなどのピン駆動機構が設けられている。
回路基板６はプローブピン14の移動エリア内に置かれ
るのであるが、その下面にはピンボード15が配置されて
いる。ピンボード15は例えばアクリル樹脂などの電気絶
縁性の板状体からなり、これには多数の透孔15a…が所
定の間隔をもって規則正しく穿設されている。
るのであるが、その下面にはピンボード15が配置されて
いる。ピンボード15は例えばアクリル樹脂などの電気絶
縁性の板状体からなり、これには多数の透孔15a…が所
定の間隔をもって規則正しく穿設されている。
第２図によく示されているように、このピンボード15
に極性判別用プローブピン16が植設されるのであるが、
この場合、同プローブピン16は金属製の円筒体からなる
プローブポスト17を介してピンボード15に植設される。
詳しくは図示されていないが、プローブポスト17にはネ
ジが形成されており、そのネジに螺合するナットなどに
てピンボード15に固定される。このプローブポスト17は
図示しない適当な接続リード線などにて測定部に電気的
に接続される。
に極性判別用プローブピン16が植設されるのであるが、
この場合、同プローブピン16は金属製の円筒体からなる
プローブポスト17を介してピンボード15に植設される。
詳しくは図示されていないが、プローブポスト17にはネ
ジが形成されており、そのネジに螺合するナットなどに
てピンボード15に固定される。このプローブポスト17は
図示しない適当な接続リード線などにて測定部に電気的
に接続される。
上記のようにして、回路基板６の下面側に極性判別用
プローブピン16が電解コンデンサ７の金属ケース7cに接
触するように設けられるのであるが、第３図に示されて
いるように、金属ケース7cが図示斜線のようにプローブ
ポスト17を立てる透孔15aに対して位置的にずれが生ず
る場合のことを考慮して、この考案では第４図に例示さ
れているプローブポスト18を使用するようにしている。
すなわち、同プローブポスト18は上記プローブポスト17
と同様に金属製の円筒体からなるポスト本体18aの下端
に、同ポスト本体18aから所定距離ずれた位置にネジ取
付孔19aを有する基部19を一体的に形成したものからな
る。このプローブポスト18は、その基部19のネジ取付孔
19aをピンボード15の所定の透孔15aに合致させてネジ止
めすることにより同ピンボード15に取付けられ、その透
孔15aを中心として回転させることにより、ポスト本体1
8aを金属ケース7cに対応する位置に設定することができ
る。
プローブピン16が電解コンデンサ７の金属ケース7cに接
触するように設けられるのであるが、第３図に示されて
いるように、金属ケース7cが図示斜線のようにプローブ
ポスト17を立てる透孔15aに対して位置的にずれが生ず
る場合のことを考慮して、この考案では第４図に例示さ
れているプローブポスト18を使用するようにしている。
すなわち、同プローブポスト18は上記プローブポスト17
と同様に金属製の円筒体からなるポスト本体18aの下端
に、同ポスト本体18aから所定距離ずれた位置にネジ取
付孔19aを有する基部19を一体的に形成したものからな
る。このプローブポスト18は、その基部19のネジ取付孔
19aをピンボード15の所定の透孔15aに合致させてネジ止
めすることにより同ピンボード15に取付けられ、その透
孔15aを中心として回転させることにより、ポスト本体1
8aを金属ケース7cに対応する位置に設定することができ
る。
電解コンデンサ７の極性を判別するには、第７図に関
連する説明で述べたように、プローブピン14を例えば一
方のリード端子7aに接触させるとともに、プローブピン
16を金属ケース7cに接触させ、プローブピン14よりリー
ド端子7aにの直流電圧を印加し、プローブピン16を介
してそのときの電流もしくは電圧を検出することにより
行われる。なお、図示されていないもう一つのＸ−Ｙユ
ニットのプローブピンをプローブピン14と同時に他方の
リード端子7bに接触させて同プローブピンよりそのリー
ド端子7bにの直流電圧を印加するようにしてもよい。
連する説明で述べたように、プローブピン14を例えば一
方のリード端子7aに接触させるとともに、プローブピン
16を金属ケース7cに接触させ、プローブピン14よりリー
ド端子7aにの直流電圧を印加し、プローブピン16を介
してそのときの電流もしくは電圧を検出することにより
行われる。なお、図示されていないもう一つのＸ−Ｙユ
ニットのプローブピンをプローブピン14と同時に他方の
リード端子7bに接触させて同プローブピンよりそのリー
ド端子7bにの直流電圧を印加するようにしてもよい。
上記実施例ではリード同一方向型電解コンデンサが例
として用いられているが、この考案はリード反対方向型
であっても適用可能である。
として用いられているが、この考案はリード反対方向型
であっても適用可能である。
以上説明したように、この考案によれば、Ｘ−Ｙユニ
ットにて駆動される一対のプローブピンとは別に、被検
査回路基板裏面側のピンボード上に偏心回転により位置
調整可能なプローブポストを介して極性判別用プローブ
ピンを設けたことにより、被検査回路基板に実装されて
いる電解コンデンサと極性判別用プローブピンとの間に
位置ずれが生じた場合でも、そのずれ分を調整して電解
コンデンサの極性判別を行なうことができる。
ットにて駆動される一対のプローブピンとは別に、被検
査回路基板裏面側のピンボード上に偏心回転により位置
調整可能なプローブポストを介して極性判別用プローブ
ピンを設けたことにより、被検査回路基板に実装されて
いる電解コンデンサと極性判別用プローブピンとの間に
位置ずれが生じた場合でも、そのずれ分を調整して電解
コンデンサの極性判別を行なうことができる。
第１図はこの考案の一実施例に係る回路基板検査装置の
要部を概略的に示した斜視図、第２図はコンデンサの極
性判別時の状態を示した側面図、第３図はピンボードの
透孔とコンデンサの金属ケースの位置関係を示した説明
図、第４図はこの考案に適用されるプローブポストの一
実施例を示した斜視図、第５図は従来例を示した概略的
な平面図、第６図は同従来例の可動部を示した斜視図、
第７図は電解コンデンサの極性判別方法の一例を説明す
るための側面図である。 図中、7a,7bはリード端子、7cは金属ケース、10はＸ−
Ｙユニット、11は案内レール、12はアーム、13は可動
部、14はプローブピン、15は回路基板、15aは透孔、16
は極性判別用プローブピン、17,18はプローブポスト、1
9は基部、19aはネジ孔である。
要部を概略的に示した斜視図、第２図はコンデンサの極
性判別時の状態を示した側面図、第３図はピンボードの
透孔とコンデンサの金属ケースの位置関係を示した説明
図、第４図はこの考案に適用されるプローブポストの一
実施例を示した斜視図、第５図は従来例を示した概略的
な平面図、第６図は同従来例の可動部を示した斜視図、
第７図は電解コンデンサの極性判別方法の一例を説明す
るための側面図である。 図中、7a,7bはリード端子、7cは金属ケース、10はＸ−
Ｙユニット、11は案内レール、12はアーム、13は可動
部、14はプローブピン、15は回路基板、15aは透孔、16
は極性判別用プローブピン、17,18はプローブポスト、1
9は基部、19aはネジ孔である。
Claims (1)
- 【請求項１】被検査回路基板の一方の面側においてその
基板面と平行な平面に沿ってＸ−Ｙ方向に移動する可動
部を有し、同可動部に上記被検査回路基板の測定部位に
電気的に接触するプローブピンを設けてなる回路基板検
査装置において、上記被検査回路基板の他方の面側に配
置されたピンボードと、円筒状のポスト本体の下端に同
ポスト本体の軸線から偏心した位置に上記ピンボードに
対する取付孔を有する基部が取り付けられたプローブポ
ストとを備え、同プローブポストが上記取付孔を中心と
して上記ピンボード上に回転可能に立設されているとと
もに、上記ポスト本体に上記被検査回路基板に実装され
ている電解コンデンサの金属ケースに接触してその極性
を判別する極性判別用プローブピンが支持されているこ
とを特徴とする回路基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989128960U JP2509022Y2 (ja) | 1989-11-02 | 1989-11-02 | 回路基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989128960U JP2509022Y2 (ja) | 1989-11-02 | 1989-11-02 | 回路基板検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0368082U JPH0368082U (ja) | 1991-07-03 |
| JP2509022Y2 true JP2509022Y2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=31676630
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989128960U Expired - Fee Related JP2509022Y2 (ja) | 1989-11-02 | 1989-11-02 | 回路基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2509022Y2 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52138257U (ja) * | 1976-04-15 | 1977-10-20 | ||
| JPS5717461U (ja) * | 1980-06-27 | 1982-01-29 | ||
| JPS63119216A (ja) * | 1986-11-06 | 1988-05-23 | 日置電機株式会社 | 電解コンデンサの極性判別方法及びその装置 |
-
1989
- 1989-11-02 JP JP1989128960U patent/JP2509022Y2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0368082U (ja) | 1991-07-03 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |