JP3006431U - 非接続信号検出板による液晶表示器基板の検査装置 - Google Patents

非接続信号検出板による液晶表示器基板の検査装置

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JP3006431U
JP3006431U JP1994009784U JP978494U JP3006431U JP 3006431 U JP3006431 U JP 3006431U JP 1994009784 U JP1994009784 U JP 1994009784U JP 978494 U JP978494 U JP 978494U JP 3006431 U JP3006431 U JP 3006431U
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liquid crystal
crystal display
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electrode
signal
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JP1994009784U
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Inventor
秀嗣 山岡
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有限会社チェック電子
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【目的】この考案は、静電結合を使用することによっ
て、液晶表示器基板のドライバＩＣの足浮き、半田ブリ
ッジ等を検査する機能検査装置に関する。 【構成】液晶表示器基板コントローラで、液晶表示器基
板７．を制御し、当該基板に搭載された、ドライバＩＣ
４．を駆動する。プリント基板の配線パターン６．を通
して、当該電極に信号が送られる。当該電極の上に絶縁
シート２．を敷き、その上に、信号検出板（金属板電
極）１．を置く。信号検出板１．に接続されたリード線
１１．を通して波形処理回路３．に信号が送られる。波
形処理回路３．から出力された信号により、ＩＣの足浮
き、半田ブリッジ等をパソコンで判定する。

Description

【考案の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】
この考案は，液晶表示器基板の組立後にＩＣの足浮き，半田ブリッジ等を，簡 単に検出する装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の基板検査装置は液晶表示器基板のタテ約６４０×２個、ヨコ約４００個 の電極それぞれにピンを立てるか、又は接続して個々の電極から信号が出てい るかどうかを検査していた。これは検査治具を複雑かつ高精度にする必要があ り、高価なものとなっていた。又検査装置についても入出力点数が、非常に多 くなるため高価なものを使用する必要があった。
【０００３】
【考案が解決しようとする課題】
この高価な検査装置や治具を、何とか低価格で使い安いものを、と言う強い要 望にこたえるために考案されたのである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】
その構成を説明すると、 （イ） 液晶表示器基板７．のドライバーＩＣ４．を、液晶表示器基板コ ントローラ９．で駆動する。 （ロ） 液晶表示器基板コントローラ９．はパソコン１０．により制御さ れる。 （ハ） ドライバーＩＣ４．を駆動することにより、電極８．に信号が送 られる。 （ニ） これを絶縁シート２．を介して、信号検出板（金属板電極）１． で検出し、波形処理回路３．を通して、パソコンに取り込む。
【０００５】
【作用】 次に本考案の作用を述べると、ドライバーＩＣ４．を液晶基板コントローラ ９．で駆動することにより電極８．に信号が送られ、静電結合により絶縁シ ート２．を通して信号検出板１．で信号を検出する。検出された信号を波形 処理回路３．で処理し、パソコンに取り込む。 途中、ＩＣの足浮きがあれば、タテ信号では信号は途切れ、半田ブリッジが あれば信号レベルが低くなる。又、ヨコ信号では足浮きがあれば上向きパル ス、半田ブリッジであれば、下向きパルスが出力される。 これらをパソコンで処理し、ＩＣの足浮き箇所、半田のブリッジ箇所を特定 する。
【０００６】
【実施例】
（イ） 液晶表示器基板コントローラ９．をパソコン１０．で制御し、液晶 表示器基板７．を駆動する。 （ロ） 液晶表示器基板７．に搭載された、液晶ドライバＩＣ４．も当然駆 動され、プリント基板の配線パターン６．を通して、当該電極８． に信号が送られる。 （ハ） 当該電極８．の上に絶縁シート２．を敷き、その上に信号検出基板 （金属板電極）１．を置く。 （ニ） 信号検出板１．に接続されたリード線１１．を通って波形処理回路 ３．に送られる。 （ホ） 波形処理回路３．で処理された信号をパソコン１０．に取り込み液 晶ドライバＩＣ４．の足浮き、半田ブリッジ等の検査を行い、足浮 き、半田ブリッジ等の箇所をそれぞれ特定する。
【０００７】
【考案の効果】
以上説明したように、本考案の液晶表示器基板の検査装置では、液晶表示 器駆動ＩＣの足浮きや、半田ブリッジ等があれば静電結合により液晶表示 器基板コントローラからの信号が途切れたり、上向きパルスが出たり、下 向きパルスが出たり、レベルが低くなったりするので、簡単に検査できる 。又従来行っていたように液晶表示器基板を検査するために非常に多くの 接触ピンを液晶表示器基板の電極に立てると言うような方法をとる必要が なくなり、低コストで簡単に信頼性の高い検査を行えるようにした。
【図面の簡単な説明】
【図１】本考案の側面図及び、平面図
【図２】本考案の実施例のブロック図
【符号の説明】
１：信号検出板（金属板電極），２：絶縁シート，３：
波形処理回路 ４：ドライバーＩＣ，５：ＩＣの足，６：配線パターン ７：液晶表示器基板，８：プリント基板の電極 ９：液晶表示器基板コントローラ，１０：パソコン，１
１：リード線

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】（イ） 液晶表示器基板コントローラで液
    晶表示器基板を制御し、当該基板に搭載された、液晶ド
    ライバＩＣを駆動する。 （ロ） プリント基板の配線パターンを通して、該当電
    極に信号が送られる。 （ハ） 当該電極の上に絶縁シートを敷き、その上に金
    属板電極を置く。 （ニ） 金属板電極に接続されたリード線を通して波形
    処理回路に信号を送られる。 （ホ） 波形処理回路から出力される信号により、液晶
    ドライバＩＣの足浮き、半田ブリッジ等の検査を行う。 以上の如く構成された、液晶表示器基板の検査装置
JP1994009784U 1994-07-04 1994-07-04 非接続信号検出板による液晶表示器基板の検査装置 Expired - Lifetime JP3006431U (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0381217A (ja) * 1989-08-24 1991-04-05 Nitto Denko Corp 経皮吸収製剤

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02120793A (ja) * 1988-10-31 1990-05-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶パネル駆動用集積回路
JPH04309875A (ja) * 1990-12-20 1992-11-02 Hewlett Packard Co <Hp> インサーキット試験装置

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