CN107527577A - 显示面板的信号测试辅助装置及信号测试方法 - Google Patents
显示面板的信号测试辅助装置及信号测试方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN107527577A CN107527577A CN201710496728.1A CN201710496728A CN107527577A CN 107527577 A CN107527577 A CN 107527577A CN 201710496728 A CN201710496728 A CN 201710496728A CN 107527577 A CN107527577 A CN 107527577A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- processing module
- display panel
- signal processing
- assist probes
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Abstract
本发明提供一种显示面板的信号测试辅助装置及信号测试方法。该装置包括：印刷电路板、辅助探针、位置传感器、信号处理模块、显示屏、以及电源，其通过辅助探针从显示面板的信号测试点上采集待测信号，通过信号处理模块对待测信号进行分析确定待测信号的信号类型，并显示在显示屏中，同时还通过位置传感器在所述辅助探针采集待测信号的过程中侦测所述信号测试辅助装置的位置信息，并在所述位置信息发生变化时，由信号处理模块产生报警信息并显示在显示屏中，能够帮助用户及时准确的判定测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板的信号测试辅助装置及信号测试方法。
背景技术
随着显示技术的发展，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)及有机发光二极管显示器(Organic Light Emitting Display，OLED)等平面显示装置因具有高画质、省电、机身薄及应用范围广等优点，而被广泛的应用于手机、电视、个人数字助理、数字相机、笔记本电脑、台式计算机等各种消费性电子产品，成为显示装置中的主流。
以液晶显示面板为例，其通常由彩膜基板(Color Filter，CF)、薄膜晶体管基板(Thin Film Transistor，TFT)、夹于彩膜基板与薄膜晶体管基板之间的液晶(LiquidCrystal，LC)及密封胶框(Sealant)组成，其成型工艺一般包括：前段阵列(Array)制程(薄膜、黄光、蚀刻及剥膜)、中段成盒(Cell)制程(TFT基板与CF基板贴合)及后段模组组装制程(驱动IC与印刷电路板压合)等多个制程步骤。
其中，液晶显示面板制作过程还包括一信号测试的步骤，所述信号测试具体包括如下步骤：步骤1、提供一液晶显示面板，所述液晶显示面板包括：显示区、以及位于所述显示区外围的台阶区，所述台阶区内设有多个间隔排列的信号测试点(Cell test pad)；步骤2、提供一示波器，所述示波器具有一探针，将所述示波器的探针扎到所述信号测试点上采集所述信号测试点的信号，并在所述示波器中进行显示。上述信号测试过程中，需要将所述探针扎到所述信号测试点上，由于所述信号测试点(Cell test pad)的本身尺寸以及相邻信号测试点之间的距离都非常小(通常只有几百微米)，并且信号测试点上还覆盖了塔菲(TUFFY)胶，因此在扎针时不仅难以准确扎到需要测试的信号测试点，且在测试过程中探针很容易滑动导致测试错误。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板的信号测试辅助装置，能够实时显示测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性。
本发明的目的还在于提供一种显示面板的信号测试方法，能够实时显示测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性。
为实现上述目的，本发明提供了一种显示面板的信号测试辅助装置，包括：印刷电路板、辅助探针、位置传感器、信号处理模块、显示屏、以及电源；
所述辅助探针、位置传感器、信号处理模块、显示屏、以及电源均设于所述印刷电路板上，所述辅助探针、位置传感器和显示屏均与所述信号处理模块电性连接，所述位置传感器、信号处理模块和显示屏均与所述电源电性连接；
所述辅助探针用于从显示面板的信号测试点上采集待测信号，并将所述待测信号传输给示波器和信号处理模块；
所述位置传感器用于在所述辅助探针采集待测信号的过程中侦测所述信号测试辅助装置的位置信息；
所述信号处理模块用于从所述辅助探针接收待测信号，并判断待测信号的信号类型，以及从位置传感器接收位置信息，并在所述位置信息发生变化时，产生报警信息；
所述显示屏用于从所述信号处理模块接收待测信号的信号类型和报警信息并进行显示。
所述待测信号的类型包括：时钟信号、GOA电路启动信号、GOA电路正向扫描控制信号、GOA电路反相扫描控制信号、GOA电路高电压信号和GOA电路低电压信号。
还包括：扬声器，所述扬声器与所述信号处理模块及电源电性连接，用于从信号处理模块接收报警信息并进行播放。
所述信号处理模块包括：存储器、以及与存储器电性连接的处理器；
所述存储器中预存有多种不同类型的信号的参数，所述处理器通过将接收到的待测信号的参数与预存在存储器中信号的参数进行比较来判断接收到的待测信号的信号类型。
所述示波器具有探头，所述辅助探针通过与示波器的探头电性连接来向所述示波器传输待测信号。
本发明还提供一种显示面板的信号测试方法，包括如下步骤：
步骤S1、提供显示面板的信号测试辅助装置、显示面板、以及示波器，所述显示面板的信号测试辅助装置包括：印刷电路板、辅助探针、位置传感器、信号处理模块、显示屏、以及电源；所述辅助探针、位置传感器、信号处理模块、显示屏、以及电源均设于所述印刷电路板上，所述辅助探针、位置传感器和显示屏均与所述信号处理模块电性连接，所述位置传感器、信号处理模块和显示屏均与所述电源电性连接；
所述显示面板具有多个间隔排列的信号测试点；
步骤S2、将所述辅助探针与所述示波器电性连接，同时将所述辅助探针扎针至一信号测试点上；
步骤S3、所述辅助探针从显示面板的信号测试点上采集待测信号，并将所述待测信号传输给示波器和信号处理模块，同时所述位置传感器在所述辅助探针采集待测信号的过程中侦测所述信号测试辅助装置的位置信息；
步骤S4、所述信号处理模块从所述辅助探针接收待测信号，并判断待测信号的信号类型，同时从位置传感器接收位置信息，并在所述位置信息发生变化时，产生报警信息；
步骤S5、所述显示屏从所述信号处理模块接收待测信号的信号类型和报警信息并进行显示。
所述待测信号的类型包括：时钟信号、GOA电路启动信号、GOA电路正向扫描控制信号、GOA电路反相扫描控制信号、GOA电路高电压信号和GOA电路低电压信号。
所述显示面板的信号测试辅助装置还包括：扬声器，所述扬声器与所述信号处理模块及电源电性连接，所述步骤S5还包括：所述扬声器从信号处理模块接收报警信息并进行播放。
所述信号处理模块包括：存储器、以及与存储器电性连接的处理器；
所述存储器中预存有多种不同类型的信号的参数，所述处理器通过将接收到的待测信号的参数与预存在存储器中信号的参数进行比较来判断接收到的待测信号的信号类型。
所述示波器具有探头，所述辅助探针通过与示波器的探头电性连接来向所述示波器传输待测信号。
本发明的有益效果：本发明提供一种显示面板的信号测试辅助装置，包括：印刷电路板、辅助探针、位置传感器、信号处理模块、显示屏、以及电源，其通过辅助探针从显示面板的信号测试点上采集待测信号，通过信号处理模块对待测信号进行分析确定待测信号的信号类型，并显示在显示屏中，同时还通过位置传感器在所述辅助探针采集待测信号的过程中侦测所述信号测试辅助装置的位置信息，并在所述位置信息发生变化时，由信号处理模块产生报警信息并显示在显示屏中，能够帮助用户及时准确的判定测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性。本发明还提供一种显示面板的信号测试方法，能够实时显示测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图中，
图1为本发明的显示面板的信号测试辅助装置的结构示意图；
图2为本发明的显示面板的信号测试方法的步骤S2的示意图；
图3为本发明的显示面板的信号测试方法的流程图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1，本发明提供一种显示面板的信号测试辅助装置，包括：印刷电路板1、辅助探针2、位置传感器3、信号处理模块4、显示屏5、以及电源6。
具体地，所述辅助探针2、位置传感器3、信号处理模块4、显示屏5、以及电源6均设于所述印刷电路板1上，所述辅助探针2、位置传感器3和显示屏5均与所述信号处理模块4电性连接，所述位置传感器3、信号处理模块4和显示屏5均与所述电源6电性连接。
详细地，请参阅图2，所述显示面板的信号测试辅助装置的工作过程包括：首先将所述辅助探针2与一示波器12电性连接，同时将辅助探针2扎针到一显示面板10上的一个待测量的信号测试点11上，接着所述辅助探针2从显示面板10的信号测试点11上采集待测信号，同时所述位置传感器3在所述辅助探针2采集待测信号的过程中不断侦测所述信号测试辅助装置的位置信息，所述信号处理模块4接收待测信号和位置信息，并通过分析确定待测信号的信号类型，并将所述信号类型显示在显示屏5上，同时还不断分析所述位置信息是否发生变化，并在所述位置信息发生变化时产生报警信息，并将所述报警信息显示在显示屏5上，用户通过观察显示屏5即可知晓当前测试的信号的信号类型以及当前辅助探针2与信号测试点11的接触是否良好，从而实现帮助用户及时准确的判定测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性的目的。
需要说明的是，由于信号测试点11的尺寸极小，测试过程中，当所述信号测试辅助装置的整体的位置稍有移动时，辅助探针2就可能移出当前测试的信号测试点11所在的位置，故而通过侦测所述信号测试辅助装置的整体的位置即可判断当前辅助探针2与信号测试点11的接触是否良好。
优选地，所述待测信号的类型包括：时钟信号(CK)、GOA电路启动信号(STV)、GOA电路正向扫描控制信号(U2D)、GOA电路反相扫描控制信号(D2U)、GOA电路高电压信号(VGH)和GOA电路低电压信号(VGL)等各种类型的信号，所述信号处理模块4分析确定待测信号的信号类型后，会将所述信号类型显示在显示屏5上，例如若所述信号处理模块4分析确定待测信号的信号类型的为时钟信号，则在显示屏5上显示“CK”字样，若所述信号处理模块4分析确定待测信号的信号类型为GOA电路启动信号，则在显示屏5上显示“STV”字样。
详细地，所述信号处理模块4包括：存储器41、以及与存储器41电性连接的处理器42；所述存储器41中预存有多种不同类型的信号的参数，所述处理器42通过将接收到的待测信号的参数与预存在存储器41中信号的参数进行比较来判断接收到的待测信号的信号类型，具体地，所述信号的参数可以包括信号的周期、脉冲长度和电压大小等。当所述接收到的待测信号的参数与预存在存储器41中某一类型的信号的参数一致时，则可判定待测信号即为该类型的信号。
进一步地，为提高报警效果，所述显示面板的信号测试辅助装置还可以包括：扬声器7，所述扬声器7与所述信号处理模块4及电源6电性连接，用于从信号处理模块4接收报警信息并进行播放，通过加入声音提示，使得用户能够更加及时知晓当前辅助探针2与信号测试点11的接触情况。
具体地，所述示波器12具有探头13，所述辅助探针2通过与示波器12的探头13电性连接来向所述示波器12传输待测信号，详细地，所述示波器12的探头13的末端设有弯钩，通过将所述示波器12的探头13的末端的弯钩钩到所述辅助探针2上即可完成所述辅助探针2与示波器12的探头13的电性连接。
请参阅图3，本发明还提供一种显示面板的信号测试方法，包括如下步骤：
步骤S1、提供显示面板的信号测试辅助装置、显示面板10、以及示波器12，所述显示面板的信号测试辅助装置包括：印刷电路板1、辅助探针2、位置传感器3、信号处理模块4、显示屏5、以及电源6；所述辅助探针2、位置传感器3、信号处理模块4、显示屏5、以及电源6均设于所述印刷电路板1上，所述辅助探针2、位置传感器3和显示屏5均与所述信号处理模块4电性连接，所述位置传感器3、信号处理模块4和显示屏5均与所述电源6电性连接；
所述显示面板10具有多个间隔排列的信号测试点11。
步骤S2、将所述辅助探针2与所述示波器12电性连接，同时将所述辅助探针2扎针至一信号测试点11上。
具体地，所述示波器12具有探头13，所述辅助探针2通过与示波器12的探头13电性连接来完成与所述示波器12的电性连接，详细地，所述示波器12的探头13的末端设有弯钩，通过将所述示波器12的探头13的末端的弯钩钩到所述辅助探针2上即可完成所述辅助探针2与示波器12的探头13的电性连接。
步骤S3、所述辅助探针2从显示面板10的信号测试点11上采集待测信号，并将所述待测信号传输给示波器12和信号处理模块4，同时所述位置传感器3在所述辅助探针2采集待测信号的过程中侦测所述信号测试辅助装置的位置信息。
步骤S4、所述信号处理模块4从所述辅助探针2接收待测信号，并判断待测信号的信号类型，同时从位置传感器3接收位置信息，并在所述位置信息发生变化时，产生报警信息。
详细地，所述信号处理模块4包括：存储器41、以及与存储器41电性连接的处理器42；所述存储器41中预存有多种不同类型的信号的参数，所述处理器42通过将接收到的待测信号的参数与预存在存储器41中信号的参数进行比较来判断接收到的待测信号的信号类型，具体地，所述信号的参数可以包括信号的周期、脉冲长度和电压大小等。当所述接收到的待测信号的参数与预存在存储器41中某一类型的信号的参数一致时，则可判定待测信号即为该类型的信号。
需要说明的是，由于信号测试点11的尺寸极小，测试过程中，当所述信号测试辅助装置的整体的位置稍有移动时，辅助探针2就可能移出当前测试的信号测试点11所在的位置，故而通过侦测所述信号测试辅助装置的整体的位置即可判断当前辅助探针2与信号测试点11的接触是否良好。
步骤S5、所述显示屏5从所述信号处理模块4接收待测信号的信号类型和报警信息并进行显示。
优选地，所述待测信号的类型包括：时钟信号(CK)、GOA电路启动信号(STV)、GOA电路正向扫描控制信号(U2D)、GOA电路反相扫描控制信号(D2U)、GOA电路高电压信号(VGH)和GOA电路低电压信号(VGL)等各种类型的信号，所述信号处理模块4分析确定待测信号的信号类型后，会将所述信号类型显示在显示屏5上，例如若所述信号处理模块4分析确定待测信号的信号类型的为时钟信号，则在显示屏5上显示“CK”字样，若所述信号处理模块4分析确定待测信号的信号类型为GOA电路启动信号，则在显示屏5上显示“STV”字样。
进一步地，为提高报警效果，所述显示面板的信号测试辅助装置还可以包括：扬声器7，所述扬声器7与所述信号处理模块4及电源6电性连接，用于从信号处理模块4接收报警信息并进行播放，通过加入声音提示，使得用户能够更加及时知晓当前辅助探针2与信号测试点11的接触情况。
在上述信号测试过程中，用户通过观察显示屏5即可知晓当前测试的信号的信号类型以及当前辅助探针2与信号测试点11的接触是否良好，可帮助用户及时准确的判定测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性。
综上所述，本发明提供一种显示面板的信号测试辅助装置，包括：印刷电路板、辅助探针、位置传感器、信号处理模块、显示屏、以及电源，其通过辅助探针从显示面板的信号测试点上采集待测信号，通过信号处理模块对待测信号进行分析确定待测信号的信号类型，并显示在显示屏中，同时还通过位置传感器在所述辅助探针采集待测信号的过程中侦测所述信号测试辅助装置的位置信息，并在所述位置信息发生变化时，由信号处理模块产生报警信息并显示在显示屏中，能够帮助用户及时准确的判定测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性。本发明还提供一种显示面板的信号测试方法，能够实时显示测试的信号的类型以及测试过程中探针与测试信号点的接触情况，提升测试效率和测试准确性。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明权利要求的保护范围。
Claims (10)
1.一种显示面板的信号测试辅助装置，其特征在于，包括：印刷电路板(1)、辅助探针(2)、位置传感器(3)、信号处理模块(4)、显示屏(5)、以及电源(6)；
所述辅助探针(2)、位置传感器(3)、信号处理模块(4)、显示屏(5)、以及电源(6)均设于所述印刷电路板(1)上，所述辅助探针(2)、位置传感器(3)和显示屏(5)均与所述信号处理模块(4)电性连接，所述位置传感器(3)、信号处理模块(4)和显示屏(5)均与所述电源(6)电性连接；
所述辅助探针(2)用于从显示面板(10)的信号测试点(11)上采集待测信号，并将所述待测信号传输给示波器(12)和信号处理模块(4)；
所述位置传感器(3)用于在所述辅助探针(2)采集待测信号的过程中侦测所述信号测试辅助装置的位置信息；
所述信号处理模块(4)用于从所述辅助探针(2)接收待测信号，并判断待测信号的信号类型，以及从位置传感器(3)接收位置信息，并在所述位置信息发生变化时，产生报警信息；
所述显示屏(5)用于从所述信号处理模块(4)接收待测信号的信号类型和报警信息并进行显示。
2.如权利要求1所述的显示面板的信号测试辅助装置，其特征在于，所述待测信号的类型包括：时钟信号、GOA电路启动信号、GOA电路正向扫描控制信号、GOA电路反相扫描控制信号、GOA电路高电压信号和GOA电路低电压信号。
3.如权利要求1所述的显示面板的信号测试辅助装置，其特征在于，还包括：扬声器(7)，所述扬声器(7)与所述信号处理模块(4)及电源(6)电性连接，用于从信号处理模块(4)接收报警信息并进行播放。
4.如权利要求1所述的显示面板的信号测试辅助装置，其特征在于，所述信号处理模块(4)包括：存储器(41)、以及与存储器(41)电性连接的处理器(42)；
所述存储器(41)中预存有多种不同类型的信号的参数，所述处理器(42)通过将接收到的待测信号的参数与预存在存储器(41)中信号的参数进行比较来判断接收到的待测信号的信号类型。
5.如权利要求1所述的显示面板的信号测试辅助装置，其特征在于，所述示波器(12)具有探头(13)，所述辅助探针(2)通过与示波器(12)的探头(13)电性连接来向所述示波器(12)传输待测信号。
6.一种显示面板的信号测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤S1、提供显示面板的信号测试辅助装置、显示面板(10)、以及示波器(12)，所述显示面板的信号测试辅助装置包括：印刷电路板(1)、辅助探针(2)、位置传感器(3)、信号处理模块(4)、显示屏(5)、以及电源(6)；所述辅助探针(2)、位置传感器(3)、信号处理模块(4)、显示屏(5)、以及电源(6)均设于所述印刷电路板(1)上，所述辅助探针(2)、位置传感器(3)和显示屏(5)均与所述信号处理模块(4)电性连接，所述位置传感器(3)、信号处理模块(4)和显示屏(5)均与所述电源(6)电性连接；
所述显示面板(10)具有多个间隔排列的信号测试点(11)；
步骤S2、将所述辅助探针(2)与所述示波器(12)电性连接，同时将所述辅助探针(2)扎针至一信号测试点(11)上；
步骤S3、所述辅助探针(2)从显示面板(10)的信号测试点(11)上采集待测信号，并将所述待测信号传输给示波器(12)和信号处理模块(4)，同时所述位置传感器(3)在所述辅助探针(2)采集待测信号的过程中侦测所述信号测试辅助装置的位置信息；
步骤S4、所述信号处理模块(4)从所述辅助探针(2)接收待测信号，并判断待测信号的信号类型，同时从位置传感器(3)接收位置信息，并在所述位置信息发生变化时，产生报警信息；
步骤S5、所述显示屏(5)从所述信号处理模块(4)接收待测信号的信号类型和报警信息并进行显示。
7.如权利要求6所述的显示面板的信号测试方法，其特征在于，所述待测信号的类型包括：时钟信号、GOA电路启动信号、GOA电路正向扫描控制信号、GOA电路反相扫描控制信号、GOA电路高电压信号和GOA电路低电压信号。
8.如权利要求6所述的显示面板的信号测试方法，其特征在于，所述显示面板的信号测试辅助装置还包括：扬声器(7)，所述扬声器(7)与所述信号处理模块(4)及电源(6)电性连接，所述步骤S5还包括：所述扬声器(7)从信号处理模块(4)接收报警信息并进行播放。
9.如权利要求6所述的显示面板的信号测试方法，其特征在于，所述信号处理模块(4)包括：存储器(41)、以及与存储器(41)电性连接的处理器(42)；
所述存储器(41)中预存有多种不同类型的信号的参数，所述处理器(42)通过将接收到的待测信号的参数与预存在存储器(41)中信号的参数进行比较来判断接收到的待测信号的信号类型。
10.如权利要求6所述的显示面板的信号测试方法，其特征在于，所述示波器(12)具有探头(13)，所述步骤S2中所述辅助探针(2)电性连接至所述示波器(12)的探头(13)上。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710496728.1A CN107527577B (zh) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | 显示面板的信号测试辅助装置及信号测试方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201710496728.1A CN107527577B (zh) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | 显示面板的信号测试辅助装置及信号测试方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN107527577A true CN107527577A (zh) | 2017-12-29 |
| CN107527577B CN107527577B (zh) | 2020-12-22 |
Family
ID=60748771
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201710496728.1A Active CN107527577B (zh) | 2017-06-26 | 2017-06-26 | 显示面板的信号测试辅助装置及信号测试方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN107527577B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112133236A (zh) * | 2020-09-28 | 2020-12-25 | 深圳创维－Rgb电子有限公司 | 一种显示屏测试方法、示波器及存储介质 |
Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101312577A (zh) * | 2007-05-22 | 2008-11-26 | 北京信威通信技术股份有限公司 | 一种识别干扰源类型的方法 |
| CN101900787A (zh) * | 2009-05-25 | 2010-12-01 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 电路板测试系统及方法 |
| CN102213737A (zh) * | 2011-05-30 | 2011-10-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种面板可靠度测试方法及装置 |
| CN102298090A (zh) * | 2010-06-28 | 2011-12-28 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 信号完整性测试系统及方法 |
| CN203365611U (zh) * | 2013-08-16 | 2013-12-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种测试夹具及显示面板 |
| CN103698686A (zh) * | 2013-12-11 | 2014-04-02 | 华为技术有限公司 | 一种信号测试方法及设备 |
| CN204360055U (zh) * | 2014-12-09 | 2015-05-27 | 昆山国显光电有限公司 | 一种基板测试装置 |
| CN105204198A (zh) * | 2015-10-15 | 2015-12-30 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种显示面板及显示面板测试系统 |
| CN106647082A (zh) * | 2017-02-24 | 2017-05-10 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法 |
-
2017
- 2017-06-26 CN CN201710496728.1A patent/CN107527577B/zh active Active
Patent Citations (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN101312577A (zh) * | 2007-05-22 | 2008-11-26 | 北京信威通信技术股份有限公司 | 一种识别干扰源类型的方法 |
| CN101900787A (zh) * | 2009-05-25 | 2010-12-01 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 电路板测试系统及方法 |
| CN102298090A (zh) * | 2010-06-28 | 2011-12-28 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 信号完整性测试系统及方法 |
| CN102213737A (zh) * | 2011-05-30 | 2011-10-12 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种面板可靠度测试方法及装置 |
| CN203365611U (zh) * | 2013-08-16 | 2013-12-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种测试夹具及显示面板 |
| CN103698686A (zh) * | 2013-12-11 | 2014-04-02 | 华为技术有限公司 | 一种信号测试方法及设备 |
| CN204360055U (zh) * | 2014-12-09 | 2015-05-27 | 昆山国显光电有限公司 | 一种基板测试装置 |
| CN105204198A (zh) * | 2015-10-15 | 2015-12-30 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种显示面板及显示面板测试系统 |
| CN106647082A (zh) * | 2017-02-24 | 2017-05-10 | 武汉华星光电技术有限公司 | 一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112133236A (zh) * | 2020-09-28 | 2020-12-25 | 深圳创维－Rgb电子有限公司 | 一种显示屏测试方法、示波器及存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN107527577B (zh) | 2020-12-22 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| TW567326B (en) | Testing device sensor and testing device | |
| US9377635B2 (en) | Display device capable of detecting bonding defect | |
| EP2759914B1 (en) | Electrical testing method of in-cell touch screen | |
| US8508111B1 (en) | Display panel and method for inspecting thereof | |
| TWI578059B (zh) | 一種用於檢測陣列繞線之母基板及其檢測方法 | |
| CN107680523B (zh) | 阵列基板十字线缺陷的检测方法 | |
| CN209624721U (zh) | 基板检测装置 | |
| US20190087624A1 (en) | Fingerprint identification sensor, fingerprint identification method and electronic device | |
| CN107610625A (zh) | 绑定阻抗测试装置及绑定阻抗测试方法 | |
| CN104732901B (zh) | 测试扁平面板显示器的方法及经配置以测试扁平面板显示器的系统 | |
| KR20180015024A (ko) | 온-셀 터치 유기발광다이오드 표시 장치의 터치 감지용 전극 검사 방법 및 장치 | |
| TW201441642A (zh) | 檢測方法及檢測裝置 | |
| CN107527577A (zh) | 显示面板的信号测试辅助装置及信号测试方法 | |
| KR20200008078A (ko) | 표시 장치 및 이의 검사 방법 | |
| JP2008244069A (ja) | 表示装置、ｃｏｆの製造方法 | |
| US20120119776A1 (en) | Test circuit and test method for detecting electrical defect in tft-lcd | |
| CN206224086U (zh) | 一种液晶面板测试装置 | |
| CN104282248B (zh) | 阵列基板及其测试方法、显示面板、显示装置 | |
| KR20130121400A (ko) | 비접촉 저항 검사기 | |
| US20210373733A1 (en) | Display device with a built-in touch panel | |
| CN104101743B (zh) | 探头、线路检测装置及检测线路的方法 | |
| US20070090856A1 (en) | Non-contact detecting device for a panel | |
| WO2004070403A1 (ja) | 薄膜トランジスタアクティブマトリクス基板の検査装置及び方法 | |
| JP3448290B2 (ja) | 液晶パネル検査装置 | |
| KR100401930B1 (ko) | 비접촉식으로 측정된 자계를 이용한 평판 디스플레이용 tft 셀 어레이의 양부 테스트방법 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |