KR20200008078A - 표시 장치 및 이의 검사 방법 - Google Patents

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Abstract

표시 장치는 복수의 데이터 라인들과 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 복수의 스캔 라인들에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널의 복수의 패드들과 도전성 접착 부재를 통해 접착된 복수의 단자들을 포함하고, 상기 복수의 단자들의 저항값을 측정하는 데이터 구동부 및 상기 측정된 저항값을 외부 장치에 전송하는 타이밍 제어부를 포함한다.

Description

표시 장치 및 이의 검사 방법{DISPLAY DEVICE AND METHOD OF INSPECTING THE SAME}
본 발명은 표시 장치 및 이의 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 데이터 구동부를 이용하여 결함 검사를 수행하기 위한 표시 장치 및 이의 검사 방법에 관한 것이다.
표시 장치는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display: LCD) 및 유기 발광 표시 장치(Organic Light Emitting Display: OLED) 등이 있다.
상기 액정 표시 장치(LCD)는 액정의 광투과율을 이용하여 영상을 표시하는 액정표시패널 및 상기 액정 표시패널의 하부에 배치되어 상기 액정표시패널로 광을 제공하는 백라이트 어셈블리를 포함한다.
상기 유기 발광 표시 장치(OLED)는 전자와 정공의 재결합에 의하여 발광하는 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Display: OLED)를 이용하여 영상을 표시한다. 이러한 유기 발광 표시 장치는 빠른 응답 속도를 가짐과 동시에 낮은 소비 전력으로 구동되기 때문에 가장 많이 이용된다.
상기 표시 장치는 제조 공정에서 다양한 결함 검사를 수행한다.
상기 결함 검사는 모듈 공정 전의 전기적 결함을 검사하는 어레이 검사 및 점등 결함을 검사하는 점등 검사를 포함한다.
상기 어레이 검사 및 점등 검사 이후, 모듈 공정이 수행된다. 상기 모듈 공정은 표시 패널에 편광판, 보호 필름, 구동 칩 및 연성회로기판 등을 부착한다.
상기 모듈 공정 이후, 결함 검사는 구동 칩 및 연성회로기판 등의 본딩 결함을 검사하는 본딩 결함 검사 및 고온 평가, 수명 평가 및 잔상 평가 등과 같은 구동 신뢰성 검사를 포함한다.
본 발명의 일 목적은 데이터 구동부를 이용하여 결함 검사를 수행하기 위한 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 장치의 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기 일 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 데이터 라인들과 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 복수의 스캔 라인들에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널의 복수의 패드들과 도전성 접착 부재를 통해 접착된 복수의 단자들을 포함하고, 상기 복수의 단자들의 저항값을 측정하는 데이터 구동부 및 상기 측정된 저항값을 외부 장치에 전송하는 타이밍 제어부를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부의 복수의 단자들은 상기 표시 패널에 형성된 얼라인 전극 패드와 위치 맞춤 하는 얼라인 전극 단자를 포함하고, 상기 데이터 구동부는 상기 얼라인 전극 패드와 접착된 상기 얼라인 전극 단자의 저항값을 측정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널은 상기 데이터 구동부와 인접한 영역에 형성된 스위칭부를 더 포함하고, 상기 스위칭부는 스위칭 제어 라인 및 상기 스위칭 제어 라인에 연결되고, 홀수 번째 팬아웃 라인 및 상기 홀수 번째 팬아웃 라인과 인접한 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 스위치를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 상기 스위칭 제어 라인에 상기 스위치를 턴-온 하기 위한 스위칭 제어 신호를 제공하고, 상기 스위칭부가 턴-온 된 상태에서 상기 복수의 단자들의 저항값을 측정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 스위칭부는 스위칭 제어 라인, 상기 스위칭 제어 라인에 연결되고, 상기 데이터 구동부의 복수의 단자들 중 제1 영역에 위치한 단자들에 대응하는 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인들에 연결된 제1 스위치 및 상기 스위칭 제어 라인에 연결되고, 상기 데이터 구동부의 복수의 단자들 중 제2 영역에 위치한 단자들에 대응하는 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인들에 연결된 제2 스위치를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 상기 스위칭 제어 라인에 상기 스위치를 턴-온 하기 위한 스위칭 제어 신호를 제공하고, 상기 스위칭부가 턴-온 된 상태에서 상기 제1 영역에 위치한 단자들 및 상기 제2 영역에 위치한 단자들의 저항값을 측정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 영상 데이터에 대응하는 데이터 전압을 증폭하여 복수의 데이터 라인들에 출력하는 출력 버퍼 및 상기 저항값을 측정하는 검사부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검사부는 상기 저항값을 측정하는 모드에서 상기 출력 버퍼의 구동 전압을 차단할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검사부는 상기 복수의 데이터 라인들의 전기적 결함을 검사하는 모드에서, 상기 복수의 데이터 라인들에 검사 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 검사부는 상기 전기적 결함을 검사하는 모드에서 상기 출력 버퍼의 구동 전압을 차단할 수 있다.
상기 다른 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시예들에 따른 복수의 데이터 라인들과 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 복수의 스캔 라인들에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널 및 상기 표시 패널의 복수의 패드들과 도전성 접착 부재를 통해 접착된 복수의 단자들을 포함하는 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치의 검사 방법은 상기 데이터 구동부를 통해 상기 복수의 단자들의 저항값을 측정하는 단계 및 상기 측정된 저항값을 외부 장치에 표시하기 위해 전송하는 단계를 포함한다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부의 복수의 단자들은 상기 표시 패널에 형성된 얼라인 전극 패드와 위치 맞춤 하는 얼라인 전극 단자를 포함하고, 상기 데이터 구동부를 통해 상기 얼라인 전극 패드와 접착된 상기 얼라인 전극 단자의 저항값을 측정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 홀수 번째 팬아웃 라인 및 상기 홀수 번째 팬아웃 라인과 인접한 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 스위치를 턴-온 하는 단계 및 상기 데이터 구동부는 상기 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 상기 데이터 구동부의 단자들의 저항값을 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 복수의 단자들 중 제1 영역에 위치한 단자들에 대응하는 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인들에 연결된 제1 스위치를 턴-온 하는 단계, 상기 데이터 구동부는 복수의 단자들 중 제2 영역에 위치한 단자들에 대응하는 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인들에 연결된 제2 스위치를 턴-온 하는 단계 및 상기 데이터 구동부는 상기 제1 및 제2 영역들에 위치한 단자들의 저항값을 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 영상 데이터에 대응하는 데이터 전압을 증폭하여 복수의 데이터 라인들에 출력하는 출력 버퍼를 포함하고, 상기 데이터 구동부는 상기 저항값을 측정하는 모드에서 상기 출력 버퍼의 구동 전압을 차단할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 복수의 데이터 라인들의 전기적 결함을 검사하는 모드에서, 상기 데이터 구동부는 상기 복수의 데이터 라인들에 검사 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 데이터 구동부는 상기 전기적 결함을 검사하는 모드에서 상기 출력 버퍼의 구동 전압을 차단할 수 있다.
상기와 같은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 이의 본딩 검사 방법에 따르면, 표시 패널에 본딩된 데이터 구동부를 이용하여 데이터 구동부의 단자들로부터 저항값을 측정하고 측정된 저항값을 모니터링 함으로써 본딩 검사를 자동화할 수 있다. 또한, 데이터 구동부를 이용하여 본딩 검사 및 어레이 검사를 순차적으로 진행함으로써 정확한 검사 공정을 수행할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 데이터 구동부를 설명하기 위한 개념도이다.
도 3은 도 2의 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치의 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널을 설명하기 위한 개념도이다.
도 6은 도 5의 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치의 블록도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널을 설명하기 위한 개념도이다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 1을 참조하면, 검사 시스템은 표시 장치(500) 및 검사 장치(700)를 포함한다.
상기 표시 장치(500)는 표시 패널(100), 데이터 구동부(200) 및 연성 회로 기판(300)을 포함한다.
상기 표시 패널(100)은 표시부(110), 주변부(130) 및 스캔 구동부(150)를 포함한다.
상기 표시부(110)는 복수의 데이터 라인들(DL), 복수의 스캔 라인들(SL), 복수의 발광 라인들(EL) 및 복수의 화소들(P)을 포함한다.
상기 복수의 데이터 라인들(DL)은 열 방향(CD)으로 연장되고 행 방향(RD)으로 배열될 수 있다.
상기 복수의 스캔 라인들(SL)은 상기 행 방향(RD)으로 연장되고 상기 열 방향(CD)으로 배열될 수 있다.
상기 복수의 발광 라인들(EL)은 상기 행 방향(RD)으로 연장되고 상기 열 방향(CD)으로 배열될 수 있다.
상기 복수의 화소들(P)은 복수의 화소 행들과 복수의 화소 열들을 포함하는 매트릭스 형태로 배열될 수 있다. 각 화소(P)는 상기 데이터 라인(DL) 및 스캔 라인(SL)과 연결된 적어도 하나의 트랜지스터, 저장 커패시터 및 표시 소자를 포함할 수 있다. 상기 표시 소자는 액정 커패시터 또는 유기 발광 다이오드일 수 있다.
상기 표시 패널(100)의 상기 주변부(130)는 상기 표시부(110)를 둘러싼다.
상기 스캔 구동부(150)는 상기 주변부(130)에 배치된다. 상기 스캔 라인(SL)의 적어도 일단부와 인접한 상기 주변부(130)에 배치될 수 있다. 상기 스캔 구동부(150)는 복수의 스캔 신호들을 생성하고, 상기 복수의 스캔 라인들(SL)에 순차적으로 제공될 수 있다. 상기 스캔 구동부(150)는 상기 화소(P)에 포함된 트랜지스터와 동일한 제조 공정을 통해 상기 주변부(130)에 집적될 수 있다.
일 실시예로서, 상기 화소(P)의 표시 소자가 유기 발광 다이오드(OLED)인 경우 상기 스캔 구동부(150)는 상기 유기 발광 다이오드(OLED)의 발광을 제어하는 발광 스캔 신호를 생성하는 발광 스캔 구동부를 포함할 수 있다.
상기 데이터 구동부(200)는 상기 데이터 라인(DL)의 일단부와 인접한 상기 주변부(130)에 배치될 수 있다.
상기 데이터 구동부(200)는 복수의 단자들을 포함하는 칩 형태를 갖는다. 상기 데이터 구동부(200)의 상기 복수의 단자들은 입력 신호를 수신하는 복수의 입력 단자들 및 출력 신호를 출력하는 복수의 출력 단자들을 포함한다. 또한, 상기 데이터 구동부(200)의 상기 복수의 단자들은 상기 주변부(130)에 형성된 얼라인 전극 패드와 위치 맞춤 하는 얼라인 전극 단자를 포함한다.
상기 데이터 구동부(200)의 복수의 단자들은 이방성 도전 필름(ACF)과 같은 도전성 접착 부재를 통해 상기 주변부(130)의 상기 데이터 구동부(200)가 실장되는 영역에 형성된 복수의 패드들과 전기적 및 물리적으로 접착된다.
상기 주변부(130)의 복수의 패드들은 상기 데이터 구동부(200)의 입력 단자와 연결된 입력 패드 및 상기 데이터 구동부(200)의 출력 단자와 연결된 출력 패드를 포함한다. 또한, 상기 주변부(130)의 복수의 패드들은 상기 데이터 구동부(200)의 얼라인 전극 단자와 중첩되는 얼라인 전극 패드를 포함한다.
상기 데이터 구동부(200)는 데이터 신호 처리부(210) 및 검사부(230)를 포함한다.
상기 데이터 신호 처리부(210)는 상기 표시 장치가 영상을 표시하는구동 모드에서 타이밍 제어부(310)로부터 수평 주기로 영상 데이터를 수신하고, 상기 영상 데이터를 감마 전압을 이용하여 데이터 전압으로 변환하고, 상기 복수의 데이터 라인들(DL)에 제공한다.
상기 검사부(230)는 본딩 공정후, 상기 표시 패널(100)에 대해 상기 데이터 구동부(200)의 본딩 결함을 검사하기 위한 본딩 검사 모드에서 검사 장치(700)의 제어에 따라 구동한다.
상기 검사부(230)는 상기 주변부(130)의 복수의 패드들에 접착된 상기 데이터 구동부(200)의 복수의 단자들로부터 저항값을 측정한다.
예를 들면, 상기 검사부(230)는 복수의 패드들과 접착된 상기 복수의 단자들의 저항값을 측정하고 측정된 저항값을 출력한다. 상기 검사부(230)는 측정된 저항값을 타이밍 제어부(310)를 통해 상기 검사 장치(700)에 전송한다.
상기 연성 회로 기판(300)은 상기 데이터 구동부(200)와 인접한 상기표시 패널(100)의 가장 자리에 대응하는 상기 주변부(130)에 배치된다.
상기 연성 회로 기판(300)은 타이밍 제어부(310)가 실장될 수 있다. 또는, 도시되지 않았으나, 상기 타이밍 제어부(310)는 연성 회로 기판과 연결된 인쇄 회로 기판에 실장될 수 있다.
상기 타이밍 제어부(310)는 상기 표시 장치(500)의 전반적인 동작을 제어한다. 상기 타이밍 제어부(310)는 검사 모드에서 상기 검사 장치(700)와 연결되어 측정 신호 및 검사 제어 신호를 송수신할 수 있다.
상기 검사 장치(700)는 상기 표시 장치(500)의 결함 검사를 위한 검사 제어 신호를 상기 표시 장치(500)에 제공할 수 있다. 또한, 상기 검사 장치(700)는 상기 표시 장치(500)로부터 결함 검사를 위해 측정된 측정 신호를 수신하고, 상기 측정 신호에 따른 결함 검사 결과를 표시할 수 있다.
예를 들면, 상기 검사 장치(700)는 상기 표시 장치(500)에 본딩 검사를 위한 검사 제어 신호를 제공하고, 상기 검사부(230)는 검사 제어 신호에 기초하여 복수의 패드들과 접착된 상기 데이터 구동부(200)의 상기 복수의 단자들의 저항값을 측정하고 상기 타이밍 제어부(310)는 측정된 저항값을 상기 검사 장치(700)에 전송한다. 이에 따라서, 상기 검사 장치(700)는 상기 측정된 저항값을 모니터를 통해 표시하고, 검사자는 표시된 저항값에 기초하여 상기 표시 장치(500)의 본딩 결함 여부를 판단할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 데이터 구동부를 설명하기 위한 개념도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 본딩 공정을 통해서, 상기 데이터 구동부(200)의 복수의 단자들은 상기 주변부(130)에 형성된 복수의 패드들과 도전성 접착 부재에 의해 접착된다.
상기 데이터 구동부(200)는 상기 표시 패널(100)의 접착되는 접착 면에 배열된 복수의 단자들, 예를 들면, 복수의 입력 단자들(201), 복수의 출력 단자들(203) 및 적어도 2개의 얼라인 전극 단자들(205, 206)을 포함한다.
상기 본딩 공정이 완료된 상태에서 상기 데이터 구동부(200)의 상기 복수의 단자들(201, 203, 205, 206)은 상기 주변부(130)에 형성된 복수의 패드들과 도전성 접착 부재를 통해 전기적 및 물리적으로 접착된다.
본 실시예에 따르면, 상기 데이터 구동부(200)의 얼라인 전극 단자들(205, 206)과 위치 맞춤하기 위한 상기 주변부(130)에 형성된 얼라인 전극 패드들(105, 106)은 도전성 접착 부재를 통해 상기 얼라인 전극 단자들(205, 206)과 접착된다.
제1 얼라인 전극 단자(205)는 제1 얼라인 전극 패드(105)와 접착되고, 제2 얼라인 전극 단자(206)는 제2 얼라인 전극 패드(106)와 접착된다.
예를 들면, 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제1 얼라인 전극 패드(105)가 십자가 형상을 가지는 경우, 상기 제1 얼라인 전극 단자(205)는 상기 십자가 형상에 대응하여 제1 얼라인 전극(205A), 제2 얼라인 전극(205B), 제3 얼라인 전극(205C) 및 제4 얼라인 전극(205D)을 포함할 수 있다.
상기 데이터 구동부(200)는 상기 제1 얼라인 전극(205A), 제2 얼라인 전극(205B), 제3 얼라인 전극(205C) 및 제4 얼라인 전극(205D)으로부터 저항값을 측정하고, 측정 신호를 출력한다.
예를 들면, 상기 데이터 구동부(200)는 제1 방향으로 마주하는 제1 및 제3 얼라인 전극들(205A, 205C) 사이의 저항값 및 제1 방향과 교차하는 제2 방향으로 마주하는 제2 및 제4 얼라인 전극들(205B, 205D) 사이의 저항값을 측정할 수 있다. 또는 상기 데이터 구동부(200)는 제1 및 제2 얼라인 전극들(205A, 205B) 사이의 저항값 및 제3 및 제4 얼라인 전극들(205C, 205D) 사이의 저항값을 측정할 수 있다.
상기 얼라인 전극 패드(105, 106)의 모양은 다양하게 설계될 수 있고, 상기 얼라인 전극 패드(105, 106)와 중첩하는 상기 얼라인 전극 단자는 상기 얼라인 전극 패드(105, 106)의 형상에 대응하여 복수의 얼라인 전극들을 포함할 수 있다.
상기 얼라인 전극 패드와 전기적 및 물리적으로 접착된 상기 얼라인 전극들 사이의 저항값을 측정하기 위한 전원 소스는 상기 검사 장치(700)로부터 제공되는 외부 전원 소스이거나, 또는 상기 표시 장치로부터 제공되는 내부 전원 소스일 수 있다.
도 3은 도 2의 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치의 블록도이다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 상기 데이터 구동부(200)는 데이터 신호 처리부(210) 및 검사부(230)를 포함한다.
상기 데이터 신호 처리부(210)는 쉬프트 레지스터(211), 샘플링 래치(212), 홀딩 래치(213), 감마전압 발생기(214), 디지털 아날로그 변환기(215) 및 출력 버퍼(216)를 포함할 수 있다.
상기 쉬프트 레지스터(211)는 타이밍 제어부(310)로부터 쉬프트 클럭 신호 및 스타트 펄스 신호를 수신하고, 쉬프트 클럭 신호의 1 주기 마다 스타트 펄스 신호를 쉬프트 시키면서 순차적으로 k개 샘플링 신호들을 생성한다.
상기 샘플링 래치(212)는 상기 k개 샘플링 신호들에 응답하여 수평 라인에 대응하는 k개 영상 데이터를 순차적으로 저장한다.
상기 홀딩 래치(213)는 상기 k개 영상 데이터를 동시에 저장하고 타이밍 제어부(310)로부터 제공된 로드 신호에 응답하여 상기 k개 영상 데이터를 상기 디지털 아날로그 변환기(215)에 제공한다.
상기 감마전압 발생기(214)는 복수의 감마 데이터 및 극성 제어 신호를 이용하여 양극성 감마 전압들 또는 음극성 감마 전압들을 생성한다. 상기 양극성 및 음극성 감마 전압들은 상기 디지털 아날로그 변환기(215)에 제공된다.
상기 디지털 아날로그 변환기(215)는 타이밍 제어부(310)로부터 제공되는 극성 제어 신호 및 상기 양극성 또는 음극성 감마 전압들을 이용하여 k개 영상 데이터를 k개 양극성 또는 음극성 데이터 전압으로 변환하여 출력한다.
상기 출력 버퍼(216)는 상기 디지털 아날로그 변환기(215)에서 제공된 k개 양극성 또는 음극성 데이터 전압들을 증폭하여 k개 데이터 라인들에 출력한다.
상기 데이터 신호 처리부(210)는 상기 표시 장치(100)가 영상을 표시할 때 구동될 수 있다.
상기 검사부(230)는 상기 타이밍 제어부(310)를 통해 상기 검사 장치(700)로부터 제공된 검사 제어 신호에 따라서 본딩 검사 공정을 수행할 수 있다.
본딩 검사 모드시 상기 검사 장치(700)는 검사 제어 신호를 상기 타이밍 제어부(310)에 제공하고, 상기 타이밍 제어부(310)는 상기 검사 제어 신호에 기초하여 상기 검사부(230)를 제어할 수 있다.
상기 검사부(230)는 상기 얼라인 전극 패드(105, 106)와 접착된 얼라인 전극 단자들(205, 206)의 상기 얼라인 전극들(205, 206) 사이의 저항값을 측정한다. 상기 검사부(230)는 측정된 저항값을 상기 타이밍 제어부(310)에 제공한다.
상기 타이밍 제어부(310)는 상기 측정된 저항값을 상기 검사 장치(700)에 전송한다. 상기 검사 장치(700)는 상기 측정된 저항값을 모니터에 표시한다.
이에 따라서, 검사자는 상기 검사 장치(700)에 표시된 저항값에 기초하여 상기 표시 장치(100)의 본딩 결함 여부를 판단할 수 있다. 예를 들면, 검사자는 저항값이 기준치 보다 크면 본딩 결함이라고 판단할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 1, 도 2, 도 3 및 도 4를 참조하면, 표시 패널(100)이 완성되면, 데이터 구동부(200) 및 연성 회로 기판(300)을 도전성 접착 부재를 이용하여 상기 표시 패널(100)에 접착한다. 또한, 상기 표시 패널(100)에 적어도 하나의 편광판 및 보호 필름 등을 부착할 수 있다. 이와 같은 모듈 공정에 의해 표시 장치(100)를 완성할 수 있다(단계 S110).
본 실시예에 따르면, 상기 데이터 구동부(200)의 얼라인 전극 단자들(205, 206)과 위치 맞춤하기 위한 상기 주변부(130)에 형성된 얼라인 전극 패드들(105, 106)은 도전성 접착 부재를 통해 상기 얼라인 전극 단자들(205, 206)과 접착된다.
도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제1 얼라인 전극 단자(205)는 상기 제1 얼라인 전극 패드(105)에 대응하여 제1 얼라인 전극(205A), 제2 얼라인 전극(205B), 제3 얼라인 전극(205C) 및 제4 얼라인 전극(205D)을 포함할 수 있다.
이후, 상기 검사 장치(700)와 상기 타이밍 제어부(310)가 서로 통신이 가능하도록 검사 장치(700)와 상기 표시 장치(100)를 연결한다.
상기 검사 장치(700)는 본딩 검사 공정을 진행한다.
상기 검사 장치(700)는 상기 타이밍 제어부(310)에 본딩 검사를 위한 검사 제어 신호를 전송하고, 상기 타이밍 제어부(310)는 상기 검사부(230)를 제어한다.
상기 검사부(230)는 상기 얼라인 전극 패드(105, 106)와 접착된 얼라인 전극 단자들(205, 206)의 상기 얼라인 전극들(205, 206) 사이의 저항값을 측정한다(단계 S130).
상기 검사부(230)는 측정된 저항값을 상기 타이밍 제어부(310)를 통해 상기 검사 장치(700)에 전송한다. 상기 검사 장치(700)는 상기 측정된 저항값을 모니터에 표시한다(단계 S150).
이에 따라서, 검사자는 상기 검사 장치(700)에 표시된 저항값에 기초하여 상기 표시 장치(100)의 본딩 결함 여부를 판단할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널을 설명하기 위한 개념도이다.
도 1 및 도 5를 참조하면, 본 실시예에 따른 표시 패널(100)은 이전실시예와 비교하여 스위칭부(170)를 더 포함할 수 있다.
상기 스위칭부(170)는 상기 표시 패널(100)에 실장된 데이터 구동부(200)와 표시부(110) 사이에 위치한다.
상기 스위칭부(170)는 스위칭 제어 라인(SCL) 및 복수의 스위치들(SW1, SW2)을 포함한다.
상기 스위칭 제어 라인(SCL)은 상기 데이터 구동부(200)로부터 스위칭 제어 신호를 수신한다.
상기 복수의 스위치들(SW1, SW2) 각각은 홀수 번째 데이터 라인과 연결된 홀수 번째 팬아웃 라인과 짝수 번째 데이터 라인과 연결된 짝수 번째 팬아웃 라인 사이에 연결된다.
예를 들면, 제1 스위치(SW1)는 스위칭 제어 라인(SCL)에 연결된 제어 전극, 홀수 번째인 제1 팬아웃 라인(FL1)에 연결된 제1 전극 및 짝수 번째인 제2 팬아웃 라인(FL2)에 연결된 제2 전극을 포함한다.
상기 제1 팬아웃 라인(FL1)은 상기 데이터 구동부(200)의 제1 출력 단자(203a)와 연결되고, 상기 제2 팬아웃 라인(FL2)은 상기 데이터 구동부(200)의 제2 출력 단자(203b)와 연결된다.
일 실시예에 따라서, 상기 데이터 구동부(200)를 이용하여 본딩 결함 여부를 검사할 수 있다.
예를 들면, 상기 복수의 스위치들(SW1, SW2)을 턴-온 하는 스위칭 제어 신호가 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 인가되면, 상기 제1 팬아웃 라인(FL1)과 상기 제2 팬아웃 라인(FL2)은 제1 스위치(SW1)를 통해 폐 루프(closed loop)를 형성한다.
상기 폐 루프 상태에서 상기 데이터 구동부(200)는 상기 제1 및 제2 출력 단자들(203a, 203b)의 저항값을 측정할 수 있다.
상기 데이터 구동부(200)는 상기 스위칭부(170)가 턴-온 된 상태에서 상기 표시 패널(100)의 복수의 패드들에 접착된 상기 데이터 구동부(200)의 홀수 번째 및 짝수 번째 출력 단자들 사이의 저항값들을 측정할 수 있다.
한편, 상기 복수의 스위치들(SW1, SW2)을 턴-오프 하는 스위칭 제어 신호가 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 인가되면, 제1 스위치(SW1)가 턴-오프 되어 상기 제1 팬아웃 라인(FL1)과 상기 제2 팬아웃 라인(FL2)은 전기적으로 개방된다. 결과적으로 홀수 번째 데이터 라인과 짝수 번째 데이터 라인은 전기적으로 개방될 수 있다.
도 6은 도 5의 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치의 블록도이다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 상기 데이터 구동부(200)는 데이터 신호 처리부(210) 및 검사부(230A)를 포함한다.
상기 데이터 신호 처리부(210)는 쉬프트 레지스터(211), 샘플링 래치(212), 홀딩 래치(213), 감마전압 발생기(214), 디지털 아날로그 변환기(215) 및 출력 버퍼(216)를 포함할 수 있다.
상기 데이터 신호 처리부(210)는 도 2를 참조하여 설명한 이전 실시예와 실질적으로 동일한 구성 요소를 포함한다. 이에 반복되는 설명은 생략한다.
상기 검사부(230A)는 타이밍 제어부(310)의 제어에 따라서 본딩 결함검사 및 전기적 결함 검사를 수행할 수 있다.
상기 검사부(230A)는 본딩 결함을 검사하는 본딩 검사 모드에서, 상기 데이터 신호 처리부(210)의 마지막 구동 블록인 출력 버퍼(216)의 구동 전압을 차단하기 위한 출력 제어 신호(OCS)를 생성한다.
상기 검사부(230A)는 출력 제어 신호(OCS)를 상기 출력 버퍼(216)에 제공하고, 상기 출력 버퍼(216)는 상기 출력 제어 신호(OCS)에 응답하여 구동 전압이 차단된다. 이에 따라서, 상기 본딩 검사 모드에서 상기 데이터 신호 처리부(210)의 출력 신호는 상기 검사부(230A)에 인가되지 않는다.
상기 검사부(230A)는 본딩 검사 모드에서, 상기 스위칭부(170)를 턴-온 하는 스위치 제어 신호(SCS)를 생성한다. 또한, 상기 검사부(230A)는 상기 데이터 구동부(200)의 홀수 번째 및 짝수 번째 출력 단자들 사이의 저항값을 측정하기 위한 기준 신호를 생성할 수 있다. 상기 기준 신호는 전압 및 전류 신호일 수 있다.
상기 스위칭 제어 신호(SCS)는 상기 표시 패널(100)의 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 출력된다. 상기 기준 신호는 상기 데이터 구동부(200)의 출력 단자들에 출력된다.
상기 스위칭부(170)는 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 인가된 상기 스위칭 제어 신호(SCS)에 응답하여 턴-온 된다.
상기 스위칭부(170)가 턴-온 되면, 상기 홀수 번째 팬아웃 라인(e.g., FL1)과 상기 짝수 번째 팬아웃 라인(e.g., FL2)은 상기 스위칭부(170)를 통해 각각 폐 루프(closed loop)를 형성한다.
상기 검사부(230A)는 상기 스위칭부(170)가 턴-온 된 상태에서 상기 표시 패널(100)의 복수의 패드들에 접착된 상기 데이터 구동부(200)의 홀수 번째 및 짝수 번째 출력 단자들 사이에서 복수의 저항값들을 측정할 수 있다.
상기 검사부(230A)는 전기적 결함을 검사하는 어레이 검사 모드에서, 출력 제어 신호(OCS)를 상기 출력 버퍼(216)에 제공하고, 상기 출력 버퍼(216)는 상기 출력 제어 신호(OCS)에 응답하여 구동 전압이 차단된다. 이에 따라서, 상기 어레이 검사 모드에서 상기 데이터 신호 처리부(210)의 출력 신호는 상기 검사부(230A)에 인가되지 않는다.
상기 검사부(230A)는 어레이 검사 모드에서, 상기 스위칭부(170)를 턴-오프 하는 스위치 제어 신호(SCS)를 생성한다. 상기 스위칭 제어 신호(SCS)는 상기 표시 패널(100)의 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 출력된다.
상기 스위칭부(170)가 턴-오프 되면, 상기 홀수 번째 팬아웃 라인(e.g., FL1)과 상기 짝수 번째 팬아웃 라인(e.g., FL2)은 전기적으로 분리된다.
상기 검사부(230A)는 어레이 검사 모드에서, 상기 복수의 데이터 라인들(DL)에 검사 신호를 출력한다.
상기 검사 신호는 상기 데이터 구동부(200)의 출력 단자들을 통해 상기 복수의 데이터 라인들(DL)에 출력된다. 상기 검사 신호는 특정 계조 전압으로, 화이트 계조 또는 블랙 계조 데이터 일 수 있다. 상기 검사 신호는 상기 표시부(110)의 복수의 데이터 라인들(DL)에 인가된다.
한편, 어레이 검사 모드에서, 상기 타이밍 제어부(310)는 상기 스캔 구동부(150)에 스캔 구동 신호를 제공한다. 상기 스캔 구동 신호는 시작 펄스 신호 및 복수의 클럭 신호들을 포함할 수 있다. 상기 스캔 구동부(150)는 상기 스캔 구동 신호에 기초하여 복수의 스캔 신호들을 상기 표시부(110)의 복수의 스캔 라인들에 출력한다.
상기 어레이 검사 모드에서 상기 표시 패널(100)의 복수의 화소들(P)은 검사 신호에 대응하는 특정 계조를 표시할 수 있다. 예를 들면, 상기 특정 계조가 표시되지 않는 화소를 통해 데이터 라인의 결함을 검사할 수 있고, 또한 상기 특정 계조가 표시되지 않는 화소 행을 통해서 스캔 라인의 결함을 검사할 수 있다.
이와 같이, 어레이 검사 모드에서 상기 검사부를 통해서 복수의 데이터 라인들 및 복수의 스캔 라인들에 대해서 전기적인 결함, 예컨대, 쇼트 및 오픈 등을 검사할 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널을 설명하기 위한 개념도이다.
도 1 및 도 7을 참조하면, 일 실시예에 따른 표시 패널(100)은 도 5에서 설명된 스위칭부(170)와 다른 스위칭부(170A)를 포함할 수 있다.
상기 스위칭부(170A)는 상기 표시 패널(100)에 실장된 데이터 구동부(200)와 표시부(110) 사이에 위치한다.
상기 스위칭부(170A)는 데이터 구동부(200)의 복수의 출력 단자들 중 샘플링된 영역들(A, B, C)에 위치한 출력 단자들과 연결된 복수의 스위치들(SWa, SWb, SWc)을 포함한다.
구체적으로, 제1 그룹의 스위치들(SWa)은 제1 영역(A)에 위치한 제1그룹의 출력 단자들에 연결된 복수의 팬아웃 라인들과 연결된다. 각 스위치(SWa)는 스위칭 제어 라인(SCL)에 연결된 제어 전극, 홀수 번째 팬아웃 라인에 연결된 제1 전극 및 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제2 그룹의 스위치들(SWb)은 제2 영역(B)에 위치한 제2 그룹의 출력 단자들에 연결된 복수의 팬아웃 라인들과 연결된다. 각 스위치(SWb)는 스위칭 제어 라인(SCL)에 연결된 제어 전극, 홀수 번째 팬아웃 라인에 연결된 제1 전극 및 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 제2 전극을 포함한다.
제3 그룹의 스위치들(SWc)은 제3 영역(C)에 위치한 제3 그룹의 출력 단자들에 연결된 복수의 팬아웃 라인들과 연결된다. 각 스위치(SWc)는 스위칭 제어 라인(SCL)에 연결된 제어 전극, 홀수 번째 팬아웃 라인에 연결된 제1 전극 및 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 제2 전극을 포함한다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 상기 검사부(230A)는 본딩 검사 모드에서, 상기 스위칭부(170A)를 턴-온 하는 스위치 제어 신호(SCS)를 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 출력한다. 또한, 상기 검사부(230A)는 저항값을 측정하기 위한 기준 신호를 상기 데이터 구동부(200)의 출력 단자들에 출력할 수 있다.
상기 스위칭부(170A)은 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 인가된 상기 스위칭 제어 신호(SCS)에 응답하여 턴-온 된다.
상기 스위칭부(170A)가 턴-온 되면, 상기 제1, 제2 및 제3 영역들(A, B, C)에 위치한 출력 단자들과 연결된 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인은 상기 스위칭부(170A)를 통해 각각 폐 루프(closed loop)를 형성한다.
상기 검사부(230A)는 상기 데이터 구동부(200)의 복수의 출력 단자들 중 상기 제1, 제2 및 제3 영역들(A, B, C)에 위치한 제1, 제2 및 제3 그룹의 출력 단자들의 저항값을 측정할 수 있다.
한편, 어레이 검사 모드에서 상기 검사부(230A)의 구동 방법은 앞서 도 6을 참조하여 설명된 이전 실시예와 실질적으로 동일하다. 이에 반복되는 설명은 생략한다.
도 8은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 검사 방법을 설명하기 위한 흐름도이다.
도 1, 도 5, 도 6 및 도 8을 참조하면, 표시 패널(100)이 완성되면, 데이터 구동부(200) 및 연성 회로 기판(300)을 도전성 접착 부재를 이용하여 상기 표시 패널(100)에 접착한다. 또한, 상기 표시 패널(100)에 적어도 하나의 편광판 및 보호 필름 등을 부착할 수 있다. 이와 같은 모듈 공정에 의해 표시 장치(100)를 완성할 수 있다(단계 S210).
예를 들면, 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 데이터 구동부(200)는 상기 표시 패널에 형성된 복수의 패드들 위에 도전성 접착 부재를 통해 접착된다.
이후, 상기 검사 장치(700)와 상기 타이밍 제어부(310)가 서로 통신이 가능하도록 검사 장치(700)와 상기 표시 장치(100)를 연결한다.
상기 검사 장치(700)는 본딩 검사 공정을 진행한다.
상기 검사 장치(700)는 상기 타이밍 제어부(310)에 본딩 검사를 위한 검사 제어 신호를 전송한다.
상기 데이터 구동부(200)의 상기 검사부(230A)는 타이밍 제어부(310)의 제어에 따라서 본딩 결함 검사를 수행하기 위해 출력 제어 신호(OCS) 및 온 전압에 대응하는 스위칭 제어 신호(SCS)를 생성한다.
상기 검사부(230A)는 출력 제어 신호(OCS)를 상기 출력 버퍼(216)에 제공하고, 상기 출력 버퍼(216)는 상기 출력 제어 신호(OCS)에 응답하여 구동 전압이 차단된다.
상기 검사부(230A)는 상기 스위칭 제어 신호(SCS)를 상기 표시 패널(100)의 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 출력된다.
일 실시예에 따른 도 5의 스위칭부(170)는 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 인가된 상기 스위칭 제어 신호(SCS)에 응답하여 턴-온 된다.
상기 스위칭부(170)가 턴-온 되면, 상기 홀수 번째 팬아웃 라인과 상기 짝수 번째 팬아웃 라인은 상기 스위칭부(170)를 통해 각각 폐 루프(closed loop)를 형성한다.
상기 검사부(230A)는 상기 스위칭부(170)가 턴-온 된 상태에서 상기 표시 패널(100)의 복수의 패드들에 접착된 상기 데이터 구동부(200)의 홀수 번째 및 짝수 번째 출력 단자들 사이에서 복수의 저항값들을 측정할 수 있다.
한편, 일 실시예에 따른 도 7의 스위칭부(170A)는 상기 스위칭 제어 라인(SCL)에 인가된 상기 스위칭 제어 신호(SCS)에 응답하여 턴-온 된다.
상기 스위칭부(170A)가 턴-온 되면, 상기 제1, 제2 및 제3 영역들(A, B, C)에 위치한 제1, 제2 및 제3 그룹의 출력 단자들과 연결된 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인은 상기 스위칭부(170A)를 통해 각각 폐 루프(closed loop)를 형성한다.
상기 검사부(230A)는 상기 데이터 구동부(200)의 복수의 출력 단자들 중 제1, 제2 및 제3 영역들(A, B, C)에 위치한 제1, 제2 및 제3 그룹의 출력 단자들을 통해 저항값을 측정할 수 있다.
이와 같이, 상기 검사부(230A)는 상기 측정된 저항값을 상기 타이밍 제어부(310)를 통해서 상기 검사 장치(700)에 전송한다. 상기 검사 장치(700)는 상기 측정된 저항값을 모니터에 표시한다(단계 S230).
이어, 상기 검사 장치(700)는 어레이 검사 공정을 수행할 수 있다.
상기 데이터 구동부(200)의 상기 검사부(230A)는 타이밍 제어부(310)의 제어에 따라서 어레이 검사를 수행하기 위해 출력 제어 신호(OCS) 및 오프 전압의 스위칭 제어 신호(SCS)를 생성한다.
상기 출력 버퍼(216)는 상기 출력 제어 신호(OCS)에 응답하여 구동 전압이 차단된다.
상기 스위칭부(170)는 상기 오프 전압의 상기 스위칭 제어 신호(SCS)에 응답하여 턴-오프 된다. 상기 표시 패널의 홀수 번째 팬아웃 라인과 짝수 번째 팬아웃 라인은 전기적으로 분리된다.
상기 검사부(230A)는 검사 신호를 생성하고, 상기 검사 신호를 상기 데이터 구동부(200)의 출력 단자들을 통해 상기 표시부(110)의 복수의 데이터 라인들에 출력한다.
상기 검사 신호의 출력 타이밍에 동기되어, 상기 스캔 구동부(150)는 상기 표시부(110)의 복수의 스캔 라인들에 복수의 스캔 신호들을 출력한다.
이에 따라서, 상기 표시 패널(100)의 상기 복수의 데이터 라인들 및 복수의 스캔 라인들에 대해서 전기적인 결함, 예컨대, 쇼트 및 오픈 등을 검사할 수 있다(단계 S250).
본 실시예에 따르면, 데이터 구동부를 이용하여 표시 장치의 본딩 결함 검사 및 어레이 검사를 순차적으로 수행함으로써 본딩 결함에 의한 불량인지 전기적 결함에 의한 불량인지를 정확하게 확인할 수 있다.
이상의 실시예들에 따르면, 표시 패널에 본딩된 데이터 구동부를 이용하여 데이터 구동부의 단자들로부터 저항값을 측정하고 측정된 저항값을 모니터링 함으로써 본딩 검사를 자동화할 수 있다. 또한, 데이터 구동부를 이용하여 본딩 검사 및 어레이 검사를 순차적으로 진행함으로써 정확한 검사 공정을 수행할 수 있다.
본 발명은 표시 장치 및 이를 포함하는 다양한 장치 및 시스템에 적용될 수 있다. 따라서 본 발명은 휴대폰, 스마트 폰, PDA, PMP, 디지털 카메라, 캠코더, PC, 서버 컴퓨터, 워크스테이션, 노트북, 디지털 TV, 셋-탑 박스, 음악 재생기, 휴대용 게임 콘솔, 네비게이션 시스템, 스마트 카드, 프린터 등과 같은 다양한 전자 기기에 유용하게 이용될 수 있다.
상기에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 것이다.

Claims (17)

  1. 복수의 데이터 라인들과 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 복수의 스캔 라인들에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널의 복수의 패드들과 도전성 접착 부재를 통해 접착된 복수의 단자들을 포함하고, 상기 복수의 단자들의 저항값을 측정하는 데이터 구동부; 및
    상기 측정된 저항값을 외부 장치에 전송하는 타이밍 제어부를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 데이터 구동부의 복수의 단자들은 상기 표시 패널에 형성된 얼라인 전극 패드와 위치 맞춤 하는 얼라인 전극 단자를 포함하고,
    상기 데이터 구동부는 상기 얼라인 전극 패드와 접착된 상기 얼라인 전극 단자의 저항값을 측정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 표시 패널은 상기 데이터 구동부와 인접한 영역에 형성된 스위칭부를 더 포함하고,
    상기 스위칭부는
    스위칭 제어 라인; 및
    상기 스위칭 제어 라인에 연결되고, 홀수 번째 팬아웃 라인 및 상기 홀수 번째 팬아웃 라인과 인접한 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 데이터 구동부는 상기 스위칭 제어 라인에 상기 스위치를 턴-온 하기 위한 스위칭 제어 신호를 제공하고,
    상기 스위칭부가 턴-온 된 상태에서 상기 복수의 단자들의 저항값을측정하는 것을 특징으로 표시 장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 스위칭부는
    스위칭 제어 라인;
    상기 스위칭 제어 라인에 연결되고, 상기 데이터 구동부의 복수의 단자들 중 제1 영역에 위치한 단자들에 대응하는 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인들에 연결된 제1 스위치; 및
    상기 스위칭 제어 라인에 연결되고, 상기 데이터 구동부의 복수의 단자들 중 제2 영역에 위치한 단자들에 대응하는 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인들에 연결된 제2 스위치를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 데이터 구동부는 상기 스위칭 제어 라인에 상기 스위치를 턴-온 하기 위한 스위칭 제어 신호를 제공하고,
    상기 스위칭부가 턴-온 된 상태에서 상기 제1 영역에 위치한 단자들 및 상기 제2 영역에 위치한 단자들의 저항값을 측정하는 것을 특징으로 표시 장치.
  7. 제3항에 있어서, 상기 데이터 구동부는
    영상 데이터에 대응하는 데이터 전압을 증폭하여 복수의 데이터 라인들에 출력하는 출력 버퍼; 및
    상기 저항값을 측정하는 검사부를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  8. 제7항에 있어서, 상기 검사부는 상기 저항값을 측정하는 모드에서 상기 출력 버퍼의 구동 전압을 차단하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  9. 제7항에 있어서, 상기 검사부는 상기 복수의 데이터 라인들의 전기적 결함을 검사하는 모드에서, 상기 복수의 데이터 라인들에 검사 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  10. 제9항에 있어서, 상기 검사부는 상기 전기적 결함을 검사하는 모드에서 상기 출력 버퍼의 구동 전압을 차단하는 것을 특징으로 하는 표시 장치.
  11. 복수의 데이터 라인들과 상기 복수의 데이터 라인들과 교차하는 복수의 스캔 라인들에 연결된 복수의 화소들을 포함하는 표시 패널 및 상기 표시 패널의 복수의 패드들과 도전성 접착 부재를 통해 접착된 복수의 단자들을 포함하는 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치의 검사 방법에서,
    상기 데이터 구동부를 통해 상기 복수의 단자들의 저항값을 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 저항값을 외부 장치에 표시하기 위해 전송하는 단계를 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 데이터 구동부의 복수의 단자들은 상기 표시 패널에 형성된 얼라인 전극 패드와 위치 맞춤 하는 얼라인 전극 단자를 포함하고,
    상기 데이터 구동부를 통해 상기 얼라인 전극 패드와 접착된 상기 얼라인 전극 단자의 저항값을 측정하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 방법.
  13. 제11항에 있어서, 상기 데이터 구동부는 홀수 번째 팬아웃 라인 및 상기 홀수 번째 팬아웃 라인과 인접한 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 스위치를 턴-온 하는 단계 및
    상기 데이터 구동부는 상기 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인에 연결된 상기 데이터 구동부의 단자들의 저항값을 측정하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
  14. 제11항에 있어서, 상기 데이터 구동부는 복수의 단자들 중 제1 영역에 위치한 단자들에 대응하는 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인들에 연결된 제1 스위치를 턴-온 하는 단계;
    상기 데이터 구동부는 복수의 단자들 중 제2 영역에 위치한 단자들에 대응하는 홀수 번째 및 짝수 번째 팬아웃 라인들에 연결된 제2 스위치를 턴-온 하는 단계; 및
    상기 데이터 구동부는 상기 제1 및 제2 영역들에 위치한 단자들의 저항값을 측정하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
  15. 제11항에 있어서, 상기 데이터 구동부는 영상 데이터에 대응하는 데이터 전압을 증폭하여 복수의 데이터 라인들에 출력하는 출력 버퍼를 포함하고,
    상기 데이터 구동부는 상기 저항값을 측정하는 모드에서 상기 출력 버퍼의 구동 전압을 차단하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 방법.
  16. 제11항에 있어서, 상기 복수의 데이터 라인들의 전기적 결함을 검사하는 모드에서, 상기 데이터 구동부는 상기 복수의 데이터 라인들에 검사 신호를 출력하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 검사 방법.
  17. 제16항에 있어서, 상기 데이터 구동부는 상기 전기적 결함을 검사하는 모드에서 상기 출력 버퍼의 구동 전압을 차단하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 검사 방법.


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