JPH0612543Y2 - 回路パターンの接触センサ - Google Patents
回路パターンの接触センサInfo
- Publication number
- JPH0612543Y2 JPH0612543Y2 JP1989095735U JP9573589U JPH0612543Y2 JP H0612543 Y2 JPH0612543 Y2 JP H0612543Y2 JP 1989095735 U JP1989095735 U JP 1989095735U JP 9573589 U JP9573589 U JP 9573589U JP H0612543 Y2 JPH0612543 Y2 JP H0612543Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- circuit pattern
- contact
- circuit
- electrode
- needle
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 ＜産業上の利用分野＞ この考案は集合電極及び回路パターンの接触センサに関
する。
する。
＜従来の技術＞ 近年液晶表示装置はＴＶ等の両面表示に使用されてきて
おり、液晶のガラス板上に形成される回路パターンも広
面積化し、また複雑化して来ている。
おり、液晶のガラス板上に形成される回路パターンも広
面積化し、また複雑化して来ている。
従来この液晶表示等の広面積で複雑な回路パターンの切
断やショート等の検査は目視検査か或は多数のニードル
を回路パターンに接触させ、その間の導通状態をチェッ
クすることにより行う方法が採られていた。
断やショート等の検査は目視検査か或は多数のニードル
を回路パターンに接触させ、その間の導通状態をチェッ
クすることにより行う方法が採られていた。
しかし、上記した目視検査は正確さにかける上、回路パ
ターンが複雑化するにつれ作業に多大の負担が掛かる欠
点がある。また、多数のニードルを用いる方法では装置
が複雑化して、値段も高くなる上、検査時間の長くなる
欠点がある。
ターンが複雑化するにつれ作業に多大の負担が掛かる欠
点がある。また、多数のニードルを用いる方法では装置
が複雑化して、値段も高くなる上、検査時間の長くなる
欠点がある。
上記したような従来の欠点を改善するために、接触子を
回路パターンに接触させつつ回路パターンを横断する方
向に走査させて検査する方法が本願出願人により開発さ
れている。これを、第６図により説明する。ａ、ｂ、ｃ
或はａ′、ｂ′、ｃ′に示すラインに沿ってそれぞれ針
状の接触子を回路５０、回路５１に接触させながら走査
し、ａ−ｂ、ａ−ｃ間或はａ′−ｂ′、ａ′−ｃ′間の
導通状態を見ることにより回路パターンの検査が可能に
なる。
回路パターンに接触させつつ回路パターンを横断する方
向に走査させて検査する方法が本願出願人により開発さ
れている。これを、第６図により説明する。ａ、ｂ、ｃ
或はａ′、ｂ′、ｃ′に示すラインに沿ってそれぞれ針
状の接触子を回路５０、回路５１に接触させながら走査
し、ａ−ｂ、ａ−ｃ間或はａ′−ｂ′、ａ′−ｃ′間の
導通状態を見ることにより回路パターンの検査が可能に
なる。
しかし、回路パターンの配列は必ずしも一定ではなく、
例えば回路５１と回路５２の端部の間隔は通常の回路５
０と回路５１、或は回路５２と回路５３の間隔よりも大
きくなる。そのため、従来の針状（ニードル）による接
触では両側の針が同時に回路パターンに接触できない場
合も生じる可能性があった。
例えば回路５１と回路５２の端部の間隔は通常の回路５
０と回路５１、或は回路５２と回路５３の間隔よりも大
きくなる。そのため、従来の針状（ニードル）による接
触では両側の針が同時に回路パターンに接触できない場
合も生じる可能性があった。
＜考案の概要＞ 本考案は上記した検査方法における問題点を解決した新
たな電極と接触センサを提供することを目的とするもの
である。
たな電極と接触センサを提供することを目的とするもの
である。
即ち本考案の回路パターンの接触センサは、回路パター
ンの一端側に接触するように配設され、導通性の細線を
所定幅の幅広のブラシ形状に形成して成る集合電極と、
回路パターンの他端側に接触するように配設された針状
の電極と、前記所定幅の集合電極を一端側において鉛直
線から所定角度に傾けて支持すると共に針状の電極を他
端側において支持し、回路パターンに接触させつつ回路
パターンを横断する方向で且つ該所定幅の集合電極の幅
方向に移動させる支持装置とを備えたことを基本的な特
徴とするものである。
ンの一端側に接触するように配設され、導通性の細線を
所定幅の幅広のブラシ形状に形成して成る集合電極と、
回路パターンの他端側に接触するように配設された針状
の電極と、前記所定幅の集合電極を一端側において鉛直
線から所定角度に傾けて支持すると共に針状の電極を他
端側において支持し、回路パターンに接触させつつ回路
パターンを横断する方向で且つ該所定幅の集合電極の幅
方向に移動させる支持装置とを備えたことを基本的な特
徴とするものである。
＜作用＞ 多数の細線からなるブラシ形状の集合電極は所定の幅を
有するからこの幅方向に集合電極を移動させることによ
り、不規則に並ぶ回路パターンにも確実に接触すること
ができる。またブラシ形状で傾斜して取付けられている
ため接触性が良い。
有するからこの幅方向に集合電極を移動させることによ
り、不規則に並ぶ回路パターンにも確実に接触すること
ができる。またブラシ形状で傾斜して取付けられている
ため接触性が良い。
＜実施例＞ 以下本考案の一実施例を図面に基づいて説明する。
第１図は集合電極１の正面図、第２図は側面図である。
この集合電極１は複数の細線を束ねたブラシ状の細導線
１０を有している。この細導線１０は所定の幅Ｗを有し
ており、この幅Ｗ方向に集合電極１を走査することによ
り広範囲に回路パターンに接触可能になる。
この集合電極１は複数の細線を束ねたブラシ状の細導線
１０を有している。この細導線１０は所定の幅Ｗを有し
ており、この幅Ｗ方向に集合電極１を走査することによ
り広範囲に回路パターンに接触可能になる。
細導線１０はその基部側を基板１１に固定されている。
基板１１には凹部１３が設けられており、ここに細導線
１０の基部を装着し、上から押え板１２を当ててねじ１
４により締め付けてある。この基板１１、押え板１２共
に当然に導通性を有するものとする。細導線１０の押え
板１２との接続部には樹脂固定部１５が形成され、また
押え板１２の上端部の隙間から露出している細導線１０
の基端部にも樹脂固定部１６が形成されている。集合電
極１にはリード線接続部１７が設けられており、リード
線に接続されるようになっている。また、基板１１には
ネジ孔１８が形成されており、適当な支持装置に取り付
けられるようになっている。
基板１１には凹部１３が設けられており、ここに細導線
１０の基部を装着し、上から押え板１２を当ててねじ１
４により締め付けてある。この基板１１、押え板１２共
に当然に導通性を有するものとする。細導線１０の押え
板１２との接続部には樹脂固定部１５が形成され、また
押え板１２の上端部の隙間から露出している細導線１０
の基端部にも樹脂固定部１６が形成されている。集合電
極１にはリード線接続部１７が設けられており、リード
線に接続されるようになっている。また、基板１１には
ネジ孔１８が形成されており、適当な支持装置に取り付
けられるようになっている。
第３図に使用方法を示す。集合電極１を適当な支持装置
３に装着し、これを移動腕５に取り付け、レール６上を
走行させて、回路パターンを横断する方向に走査させる
ようにする。集合電極１の幅方向（長手方向）は図示す
るように移動方向と合致するように装着する。移動腕５
の他方側には同様な支持装置３に装着された針状電極２
を設け同様に回路パターンに接触させながら、これを横
断する方向に走査させる。いま、集合電極１をａ線に沿
って走らせ、針状電極２をｂ線に沿って走らせる。回路
５０においては集合電極１の後端１ｂ側が接触している
時に、針状電極２が回路５０に接触しこの回路５０の導
通、非道通を検査できる。
３に装着し、これを移動腕５に取り付け、レール６上を
走行させて、回路パターンを横断する方向に走査させる
ようにする。集合電極１の幅方向（長手方向）は図示す
るように移動方向と合致するように装着する。移動腕５
の他方側には同様な支持装置３に装着された針状電極２
を設け同様に回路パターンに接触させながら、これを横
断する方向に走査させる。いま、集合電極１をａ線に沿
って走らせ、針状電極２をｂ線に沿って走らせる。回路
５０においては集合電極１の後端１ｂ側が接触している
時に、針状電極２が回路５０に接触しこの回路５０の導
通、非道通を検査できる。
回路５２のように間隔が大きくあく場合にも集合電極１
の先端１ａ側が回路５２に接触しているときに、針状電
極２も回路５２に接触するから回路５２の導通状態を検
査することが出来る。
の先端１ａ側が回路５２に接触しているときに、針状電
極２も回路５２に接触するから回路５２の導通状態を検
査することが出来る。
また、集合電極１は細線からなるブラシ状の細導線１０
により接触するため、幅広でありながら回路への接触性
がきわめて高くしかも回路を傷つけることがない。
により接触するため、幅広でありながら回路への接触性
がきわめて高くしかも回路を傷つけることがない。
第４図と第５図に集合電極１を装着した接触センサの一
実施例を示す。
実施例を示す。
集合電極１は支持装置３の断面半円形状の水平腕３０に
ネジ１９を基板１１のネジ孔１８にねじ込むことにより
固定されている。集合電極１は鉛直線に対して所定の角
度（第４図では３０°）設けて装着されており、この角
度により細導線１０の弾力性を高めて回路への接触性を
向上させ、また回路への当りを柔らかくして傷をつけな
いように構成している。水平腕３０は垂直腕３１にほぼ
直角に固定されている。垂直腕３１はスライド支持腕３
２に上下方向可動に装着され、バネ３５により下方の押
圧力を受けている。そして、調整ネジ３６を回動するこ
とにより円滑にかつ確実に垂直腕３１を上下方向に動か
すことができるように構成されている。垂直腕３１には
長孔３３が設けられており、ここにスライド支持腕３２
に装着されたクランプネジ３４が係合し、このクランプ
ネジ３４により垂直腕３１の上下方向の動きを固定し、
細導線１０の接触力を一定に保っている。
ネジ１９を基板１１のネジ孔１８にねじ込むことにより
固定されている。集合電極１は鉛直線に対して所定の角
度（第４図では３０°）設けて装着されており、この角
度により細導線１０の弾力性を高めて回路への接触性を
向上させ、また回路への当りを柔らかくして傷をつけな
いように構成している。水平腕３０は垂直腕３１にほぼ
直角に固定されている。垂直腕３１はスライド支持腕３
２に上下方向可動に装着され、バネ３５により下方の押
圧力を受けている。そして、調整ネジ３６を回動するこ
とにより円滑にかつ確実に垂直腕３１を上下方向に動か
すことができるように構成されている。垂直腕３１には
長孔３３が設けられており、ここにスライド支持腕３２
に装着されたクランプネジ３４が係合し、このクランプ
ネジ３４により垂直腕３１の上下方向の動きを固定し、
細導線１０の接触力を一定に保っている。
針状電極２も同じ構成の支持装置３により支持されてお
り、これら支持装置３、３は所定の間隔をあけて移動腕
５に支持されている。この移動腕５は昇降可能になって
おり、検査時に集合電極１、針状電極２を回路パターン
に接触させ、検査が終了すると支持装置３を上昇させて
回路パターンと非接触とするように構成されている。移
動腕５は適当な構成のレール６に装着され、集合電極１
と針状電極２を細導線１０の幅方向に走行させて、回路
パターンを横断させるるように構成されている。
り、これら支持装置３、３は所定の間隔をあけて移動腕
５に支持されている。この移動腕５は昇降可能になって
おり、検査時に集合電極１、針状電極２を回路パターン
に接触させ、検査が終了すると支持装置３を上昇させて
回路パターンと非接触とするように構成されている。移
動腕５は適当な構成のレール６に装着され、集合電極１
と針状電極２を細導線１０の幅方向に走行させて、回路
パターンを横断させるるように構成されている。
以上説明したように集合電極１は所定の幅を有している
ため広い範囲で回路に接触することができ、回路の不規
則な間隔にも対処可能である。更に広い範囲で接触でき
ることから、細導線１０の接触位置精度はラフで良く、
調整が簡単である等の利点がある。更に、この集合電極
１は細線を幅広のブラシ状に形成してあり、しかも第４
図に示すように所定の角度を設けて装着されているた
め、幅広でありながら接触性が良く、また回路への当り
も柔らかくなり、傷をつける危険を排除できる。
ため広い範囲で回路に接触することができ、回路の不規
則な間隔にも対処可能である。更に広い範囲で接触でき
ることから、細導線１０の接触位置精度はラフで良く、
調整が簡単である等の利点がある。更に、この集合電極
１は細線を幅広のブラシ状に形成してあり、しかも第４
図に示すように所定の角度を設けて装着されているた
め、幅広でありながら接触性が良く、また回路への当り
も柔らかくなり、傷をつける危険を排除できる。
＜考案の効果＞ 以上説明したように本考案の回路パターンの接触センサ
は、回路パターンの一端側に接触するように配設され、
導通性の細線を所定幅の幅広のブラシ形状に形成して成
る集合電極と、回路パターンの他端側に接触するように
配設された針状の電極と、前記所定幅の集合電極を一端
側において鉛直線から所定角度に傾けて支持すると共に
針状の電極を他端側において支持し、回路パターンに接
触させつつ回路パターンを横断する方向で且つ該所定幅
の集合電極の幅方向に移動させる支持装置とを備えてい
るため、回路パターンへの接触の不良が防止でき、高精
度の検査が可能になる等の効果がある。
は、回路パターンの一端側に接触するように配設され、
導通性の細線を所定幅の幅広のブラシ形状に形成して成
る集合電極と、回路パターンの他端側に接触するように
配設された針状の電極と、前記所定幅の集合電極を一端
側において鉛直線から所定角度に傾けて支持すると共に
針状の電極を他端側において支持し、回路パターンに接
触させつつ回路パターンを横断する方向で且つ該所定幅
の集合電極の幅方向に移動させる支持装置とを備えてい
るため、回路パターンへの接触の不良が防止でき、高精
度の検査が可能になる等の効果がある。
第１図は本考案における集合電極の一実施例を示す正面
図、第２図はその側面図、第３図は使用方法の説明図、
第４図は本考案の接触センサの一実施例の全体を示す正
面図、第５図はその側面図、第６図は回路パターンの検
査方法の説明図である。 １：集合電極、２：針状電極、３：支持装置、５：移動
腕、６：レール、１０：細導線、１１：基板、１２：押
え板、１３：凹部、１４：ねじ、１５：樹脂固定部、１
６：樹脂固定部、１７：リード線接続部、１８：ネジ
孔、１９：ネジ、２０：リード線、３０：水平腕、３
１：垂直腕、３２：スライド支持腕、３３：長孔、３
４：クランプネジ、３５：バネ、３６：調整ネジ、５
０：回路、５１：回路、５２：回路、５３：回路。
図、第２図はその側面図、第３図は使用方法の説明図、
第４図は本考案の接触センサの一実施例の全体を示す正
面図、第５図はその側面図、第６図は回路パターンの検
査方法の説明図である。 １：集合電極、２：針状電極、３：支持装置、５：移動
腕、６：レール、１０：細導線、１１：基板、１２：押
え板、１３：凹部、１４：ねじ、１５：樹脂固定部、１
６：樹脂固定部、１７：リード線接続部、１８：ネジ
孔、１９：ネジ、２０：リード線、３０：水平腕、３
１：垂直腕、３２：スライド支持腕、３３：長孔、３
４：クランプネジ、３５：バネ、３６：調整ネジ、５
０：回路、５１：回路、５２：回路、５３：回路。
Claims (1)
- 【請求項１】回路パターンの一端側に接触するように配
設され、導通性の細線を所定幅の幅広のブラシ形状に形
成して成る集合電極と； 回路パターンの他端側に接触するように配設された針状
の電極と； 前記所定幅の集合電極を一端側において鉛直線から所定
角度に傾けて支持すると共に針状の電極を他端側におい
て支持し、回路パターンに接触させつつ回路パターンを
横断する方向で且つ該所定幅の集合電極の幅方向に移動
させる、支持装置と； を備えたことを特徴とする回路パターンの接触センサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989095735U JPH0612543Y2 (ja) | 1989-08-15 | 1989-08-15 | 回路パターンの接触センサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1989095735U JPH0612543Y2 (ja) | 1989-08-15 | 1989-08-15 | 回路パターンの接触センサ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0335472U JPH0335472U (ja) | 1991-04-08 |
| JPH0612543Y2 true JPH0612543Y2 (ja) | 1994-03-30 |
Family
ID=31644988
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1989095735U Expired - Lifetime JPH0612543Y2 (ja) | 1989-08-15 | 1989-08-15 | 回路パターンの接触センサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0612543Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4490247B2 (ja) * | 2004-12-06 | 2010-06-23 | 富士通株式会社 | 回路基板試験装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6361965A (ja) * | 1986-09-03 | 1988-03-18 | Ricoh Co Ltd | パタ−ン基板の検査方法および装置 |
-
1989
- 1989-08-15 JP JP1989095735U patent/JPH0612543Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0335472U (ja) | 1991-04-08 |
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