JP3078562B2 - 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 - Google Patents
回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法Info
- Publication number
- JP3078562B2 JP3078562B2 JP02134292A JP13429290A JP3078562B2 JP 3078562 B2 JP3078562 B2 JP 3078562B2 JP 02134292 A JP02134292 A JP 02134292A JP 13429290 A JP13429290 A JP 13429290A JP 3078562 B2 JP3078562 B2 JP 3078562B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- probe pin
- circuit board
- inspection
- probe
- measurement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、Ｘ−Ｙユニットを備えた回路基板検査装
置におけるプローブピン検査方法に関するものである。
置におけるプローブピン検査方法に関するものである。
Ｘ−Ｙユニットを備えた回路基板検査装置は、ピンボ
ードを有するフィクスチュアを使用するものに比べて被
測定回路基板ごとにピンボードを作成しなくともよいと
いう利点がある。その従来例が示されている第３図を参
照すると、同回路基板検査装置１は、一組のＸ−Ｙユニ
ット2,3を備えている。各Ｘ−Ｙユニット2,3は、例えば
Ｘ方向に沿って配置された案内レール2a,3aと、例えば
Ｙ方向に配向されていて同案内レール2a,3aに沿って摺
動するアーム2b,3bとを有し、各アーム2b,3bには、図示
しないサーボモータなどによってＹ方向に移動する可動
部4,5が設けられている。第４図に示されているよう
に、各可動部4,5には、例えばエアシリンダもしくはス
テッピングモータなどの上下動機構６によって上下動さ
れるプローブホルダー７が設けられており、同プローブ
ホルダー７にプローブピン８が取付けられている。なお
図示されていないが、このプローブピン８はスキャナ
（スイッチ）を介して選択的に測定信号発生部と信号測
定部とに接続される。
ードを有するフィクスチュアを使用するものに比べて被
測定回路基板ごとにピンボードを作成しなくともよいと
いう利点がある。その従来例が示されている第３図を参
照すると、同回路基板検査装置１は、一組のＸ−Ｙユニ
ット2,3を備えている。各Ｘ−Ｙユニット2,3は、例えば
Ｘ方向に沿って配置された案内レール2a,3aと、例えば
Ｙ方向に配向されていて同案内レール2a,3aに沿って摺
動するアーム2b,3bとを有し、各アーム2b,3bには、図示
しないサーボモータなどによってＹ方向に移動する可動
部4,5が設けられている。第４図に示されているよう
に、各可動部4,5には、例えばエアシリンダもしくはス
テッピングモータなどの上下動機構６によって上下動さ
れるプローブホルダー７が設けられており、同プローブ
ホルダー７にプローブピン８が取付けられている。なお
図示されていないが、このプローブピン８はスキャナ
（スイッチ）を介して選択的に測定信号発生部と信号測
定部とに接続される。
測定に際しては、被測定回路基板PBを可動部4,5の可
動領域内に配置し、その一方の可動部４側のプローブピ
ン８を例えば被測定部品Ｘの一方のリード端子に接触さ
せるとともに、他方の可動部５側のプローブピン８を被
測定部品Ｘの他方のリード端子に接触させる。そして、
一方のプローブピン８側から測定信号を供給し、他方の
プローブピン８にてその信号を検出する。
動領域内に配置し、その一方の可動部４側のプローブピ
ン８を例えば被測定部品Ｘの一方のリード端子に接触さ
せるとともに、他方の可動部５側のプローブピン８を被
測定部品Ｘの他方のリード端子に接触させる。そして、
一方のプローブピン８側から測定信号を供給し、他方の
プローブピン８にてその信号を検出する。
上記のように、Ｘ−Ｙユニット2,3によれば、その可
動部4,5を被測定ポイントに移動させればよいため、被
測定回路基板PBごとにピンボードを用意する必要がない
のであるが、その代わりに、例えば２本のプローブピン
８にて各被測定ポイントを受け持つことになるため、一
枚の基板あたりのプローブピン８の使用頻度が大幅に増
大する。このことは、プローブピンが早期に摩耗したり
損傷し易くなることを意味し、例えばNG（不良）信号が
連続して出た時などは、それが被測定回路基板PB本来の
NGなのか、プローブピン自体によるNGなのか判断でき
ず、その都度プローブピンを検査しなければならないと
いう欠点があった。
動部4,5を被測定ポイントに移動させればよいため、被
測定回路基板PBごとにピンボードを用意する必要がない
のであるが、その代わりに、例えば２本のプローブピン
８にて各被測定ポイントを受け持つことになるため、一
枚の基板あたりのプローブピン８の使用頻度が大幅に増
大する。このことは、プローブピンが早期に摩耗したり
損傷し易くなることを意味し、例えばNG（不良）信号が
連続して出た時などは、それが被測定回路基板PB本来の
NGなのか、プローブピン自体によるNGなのか判断でき
ず、その都度プローブピンを検査しなければならないと
いう欠点があった。
この発明は、上記従来の欠点を解消するためになされ
たもので、その構成上の特徴は、被測定回路基板が載置
される基台の基台面と平行な平面に沿って移動し得る少
なくとも一対の可動部を有し、同可動部の各々にステッ
ピングモータにより駆動されるプローブピンを上記基台
面に対して直交する方向に移動可能に設けるとともに、
その各プローブピンを第１および第２スイッチを介して
測定信号発生部と信号測定部とにそれぞれ接続可能と
し、上記プローブピンを上記被測定回路基板の測定部位
に接触させて同被測定回路基板の電気的検査を行なう回
路基板検査装置におけるプローブピン検査方法におい
て、上記基台上の上記被測定回路基板の載置部位以外で
あって上記プローブピンが接触可能な所定個所に、第３
および第４スイッチを介して上記測定信号発生部と上記
信号測定部とにそれぞれ接続されるプローブピン検査用
導電体を設置し、上記可動部により上記プローブピンを
上記検査用導電体上に位置させた後、上記ステッピング
モータに所定数の駆動パルスを与えて上記プローブピン
を所定量下降させて上記検査用導電体に接触させるとと
もに、上記第１ないし第４スイッチを同時にオンとし
て、上記プローブピンおよび上記検査用導電体に上記測
定信号発生部から測定電流を供給し、かつ、その時に上
記プローブピンに発生する電圧値を上記信号測定部にて
測定することにより、同プローブピン自体の良否を四端
子法にて検査することにある。
たもので、その構成上の特徴は、被測定回路基板が載置
される基台の基台面と平行な平面に沿って移動し得る少
なくとも一対の可動部を有し、同可動部の各々にステッ
ピングモータにより駆動されるプローブピンを上記基台
面に対して直交する方向に移動可能に設けるとともに、
その各プローブピンを第１および第２スイッチを介して
測定信号発生部と信号測定部とにそれぞれ接続可能と
し、上記プローブピンを上記被測定回路基板の測定部位
に接触させて同被測定回路基板の電気的検査を行なう回
路基板検査装置におけるプローブピン検査方法におい
て、上記基台上の上記被測定回路基板の載置部位以外で
あって上記プローブピンが接触可能な所定個所に、第３
および第４スイッチを介して上記測定信号発生部と上記
信号測定部とにそれぞれ接続されるプローブピン検査用
導電体を設置し、上記可動部により上記プローブピンを
上記検査用導電体上に位置させた後、上記ステッピング
モータに所定数の駆動パルスを与えて上記プローブピン
を所定量下降させて上記検査用導電体に接触させるとと
もに、上記第１ないし第４スイッチを同時にオンとし
て、上記プローブピンおよび上記検査用導電体に上記測
定信号発生部から測定電流を供給し、かつ、その時に上
記プローブピンに発生する電圧値を上記信号測定部にて
測定することにより、同プローブピン自体の良否を四端
子法にて検査することにある。
例えば測定開始に先立って、プローブピン自体を検査
するには、そのプローブピンをプローブピン検査用導電
体に接触させるとともに、同プローブピンを第１および
第２スイッチを介して測定信号発生部と信号測定部とに
接続す。また、プローブピン検査用導電体も同様に第３
および第４スイッチを介して測定信号発生部と信号測定
部とに接続する。そして、測定信号発生部からプローブ
ピンに測定電流を供給し、その時に同プローブピンに発
生する電圧を信号測定部の電圧計にて読み取る。すなわ
ち、四端子法にてプローブピンの抵抗値を測定し、その
値によって良否を判定する。
するには、そのプローブピンをプローブピン検査用導電
体に接触させるとともに、同プローブピンを第１および
第２スイッチを介して測定信号発生部と信号測定部とに
接続す。また、プローブピン検査用導電体も同様に第３
および第４スイッチを介して測定信号発生部と信号測定
部とに接続する。そして、測定信号発生部からプローブ
ピンに測定電流を供給し、その時に同プローブピンに発
生する電圧を信号測定部の電圧計にて読み取る。すなわ
ち、四端子法にてプローブピンの抵抗値を測定し、その
値によって良否を判定する。
この場合、プローブピンはステッピングモータにより
駆動され、同モータに与えられる駆動パルス数によりそ
の移動量が決まっているいるため、その時の抵抗値を測
定することにより、プローブピンが適正長さで上記検査
用導電体に接触しているかなども判断することができ
る。
駆動され、同モータに与えられる駆動パルス数によりそ
の移動量が決まっているいるため、その時の抵抗値を測
定することにより、プローブピンが適正長さで上記検査
用導電体に接触しているかなども判断することができ
る。
以下、この発明の実施例を第１図および第２図を参照
しながら詳細に説明する。
しながら詳細に説明する。
この回路基板検査装置は、先に説明の従来例と同様の
Ｘ−Ｙユニット2,3を備えている。なお、この実施例に
おいては、各案内レール2a,3aにはアーム2b,3b駆動用の
サーボモータ11a,11bが取付けられ、また、各アーム2b,
3bには可動部4,5を動かすためのサーボモータ12a,12bが
取付けられた状態が図解されている。
Ｘ−Ｙユニット2,3を備えている。なお、この実施例に
おいては、各案内レール2a,3aにはアーム2b,3b駆動用の
サーボモータ11a,11bが取付けられ、また、各アーム2b,
3bには可動部4,5を動かすためのサーボモータ12a,12bが
取付けられた状態が図解されている。
被測定回路基板PBは、この装置の基台13上に載置され
るのであるが、同基台13上の所定部位、すなわち可動部
4,5の移動領域内であって、被測定回路基板PBの載置部
以外の場所にはプローブピン検査用導電体14が配置され
ている。この例では、２個所にプローブピン検査用導電
体14が設けられている。以下、この導電体14の位置を説
明の便宜上、チェックポイントという。なお、導電体14
は種々の金属から作ることができるが、最も簡単にはハ
ンダ材であってよい。
るのであるが、同基台13上の所定部位、すなわち可動部
4,5の移動領域内であって、被測定回路基板PBの載置部
以外の場所にはプローブピン検査用導電体14が配置され
ている。この例では、２個所にプローブピン検査用導電
体14が設けられている。以下、この導電体14の位置を説
明の便宜上、チェックポイントという。なお、導電体14
は種々の金属から作ることができるが、最も簡単にはハ
ンダ材であってよい。
第２図を合せて参照すると、プローブピン８はスキャ
ナ（スイッチ）SW1を介して測定信号発生部15に接続可
能、また、スキャナSW2を介して信号測定部16にも接続
可能とされている。これに対して、プローブピン検査用
導電体14もスキャナSW3を介して測定信号発生部15に接
続可能であるとともに、スキャナSW4を介して信号測定
部16にも接続可能となっている。
ナ（スイッチ）SW1を介して測定信号発生部15に接続可
能、また、スキャナSW2を介して信号測定部16にも接続
可能とされている。これに対して、プローブピン検査用
導電体14もスキャナSW3を介して測定信号発生部15に接
続可能であるとともに、スキャナSW4を介して信号測定
部16にも接続可能となっている。
プローブピン８を検査するには、各可動部4,5をチェ
ックポイントにまで移動させ、プローブピン８を導電体
14に接触させるとともに、各スキャナSW1〜SW4を閉じ
る。これにより、測定信号発生部15からプローブピン８
に測定電流が供給され、その時に同プローブピン８に生
ずる電圧が信号測定部16にて測定される。すなわち、四
端子計測法にてプローブピン８の抵抗値が測定され、そ
の値が許容範囲内であれば、そのプローブピン８は正
常、許容範囲外であればNG（不良）と判断される。
ックポイントにまで移動させ、プローブピン８を導電体
14に接触させるとともに、各スキャナSW1〜SW4を閉じ
る。これにより、測定信号発生部15からプローブピン８
に測定電流が供給され、その時に同プローブピン８に生
ずる電圧が信号測定部16にて測定される。すなわち、四
端子計測法にてプローブピン８の抵抗値が測定され、そ
の値が許容範囲内であれば、そのプローブピン８は正
常、許容範囲外であればNG（不良）と判断される。
このプローブピン検査の実行時期は、電源投入時、被
測定回路基板の機種切換え時、もしくは前もって設定さ
れた回数のNGが連続して発生した場合などプログラムに
応じて任意に設定することができる。また、この発明に
おいては、プローブピン８の上下動機構６（第４図参
照）としてステッピングモータが用いられており、した
がって、そのモータに与えられる駆動パルス数によりプ
ローブピン８の移動量が決まっているため、その時の抵
抗値を測定することにより、プローブピン８が正常な長
さになっているかなども判断することができる。
測定回路基板の機種切換え時、もしくは前もって設定さ
れた回数のNGが連続して発生した場合などプログラムに
応じて任意に設定することができる。また、この発明に
おいては、プローブピン８の上下動機構６（第４図参
照）としてステッピングモータが用いられており、した
がって、そのモータに与えられる駆動パルス数によりプ
ローブピン８の移動量が決まっているため、その時の抵
抗値を測定することにより、プローブピン８が正常な長
さになっているかなども判断することができる。
なお、この実施例においては、プローブピン８の測定
信号発生部15および信号測定部16に対するオンオフをス
キャナSW1〜SW4によって行なっているが、プローブピン
検査時には、測定信号発生部15および信号測定部16内の
それに使用する電源や測定回路を切換えるようにしても
よい。また、通常の測定時には、一方のプローブピン８
が測定信号発生部15に接続され、他方のプローブピン８
が信号測定部16に接続される。
信号発生部15および信号測定部16に対するオンオフをス
キャナSW1〜SW4によって行なっているが、プローブピン
検査時には、測定信号発生部15および信号測定部16内の
それに使用する電源や測定回路を切換えるようにしても
よい。また、通常の測定時には、一方のプローブピン８
が測定信号発生部15に接続され、他方のプローブピン８
が信号測定部16に接続される。
以上説明したように、この発明によれば、Ｘ−Ｙユニ
ットに用いられている使用頻度の高いプローブピンの
良、不良を、検査用導電体に対する接触時のプローブピ
ン長さなどをも含めて適格に判断することができる。
ットに用いられている使用頻度の高いプローブピンの
良、不良を、検査用導電体に対する接触時のプローブピ
ン長さなどをも含めて適格に判断することができる。
第１図はこの発明に係る一実施例を示した概略的な斜視
図、第２図はプローブピン検査時の回路接続状態を説明
するための回路図、第３図は従来例を示した概略的な平
面図、第４図は同従来例の可動部を示した側面図であ
る。 図中、2,3はＸ−Ｙユニット、2a,3aは案内レール、2b,3
bはアーム、4,5は可動部、８はプローブピン、11a,11b,
12a,12bはサーポモータ、13は基台、14はプローブピン
検査用導電体、15は測定信号発生部、16は信号測定部で
ある。
図、第２図はプローブピン検査時の回路接続状態を説明
するための回路図、第３図は従来例を示した概略的な平
面図、第４図は同従来例の可動部を示した側面図であ
る。 図中、2,3はＸ−Ｙユニット、2a,3aは案内レール、2b,3
bはアーム、4,5は可動部、８はプローブピン、11a,11b,
12a,12bはサーポモータ、13は基台、14はプローブピン
検査用導電体、15は測定信号発生部、16は信号測定部で
ある。
Claims (1)
- 【請求項１】被測定回路基板が載置される基台の基台面
と平行な平面に沿って移動し得る少なくとも一対の可動
部を有し、同可動部の各々にステッピングモータにより
駆動されるプローブピンを上記基台面に対して直交する
方向に移動可能に設けるとともに、その各プローブピン
を第１および第２スイッチを介して測定信号発生部と信
号測定部とにそれぞれ接続可能とし、上記プローブピン
を上記被測定回路基板の測定部位に接触させて同被測定
回路基板の電気的検査を行なう回路基板検査装置におけ
るプローブピン検査方法において、 上記基台上の上記被測定回路基板の載置部位以外であっ
て上記プローブピンが接触可能な所定個所に、第３およ
び第４スイッチを介して上記測定信号発生部と上記信号
測定部とにそれぞれ接続されるプローブピン検査用導電
体を設置し、上記可動部により上記プローブピンを上記
検査用導電体上に位置させた後、上記ステッピングモー
タに所定数の駆動パルスを与えて上記プローブピンを所
定量下降させて上記検査用導電体に接触させるととも
に、上記第１ないし第４スイッチを同時にオンとして、
上記プローブピンおよび上記検査用導電体に上記測定信
号発生部から測定電流を供給し、かつ、その時に上記プ
ローブピンに発生する電圧値を上記信号測定部にて測定
することにより、同プローブピン自体の良否を四端子法
にて検査することを特徴とする回路基板検査装置におけ
るプローブピン検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02134292A JP3078562B2 (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP02134292A JP3078562B2 (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0427882A JPH0427882A (ja) | 1992-01-30 |
| JP3078562B2 true JP3078562B2 (ja) | 2000-08-21 |
Family
ID=15124876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP02134292A Expired - Fee Related JP3078562B2 (ja) | 1990-05-24 | 1990-05-24 | 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3078562B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4179823B2 (ja) * | 2002-08-06 | 2008-11-12 | イビデンエンジニアリング株式会社 | プリント配線板通電検査治具の検査装置 |
| CN112097701B (zh) * | 2020-08-05 | 2022-04-05 | 海克斯康制造智能技术(青岛)有限公司 | 一种三坐标测量机安全位信号采集装置及方法 |
-
1990
- 1990-05-24 JP JP02134292A patent/JP3078562B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0427882A (ja) | 1992-01-30 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR0169739B1 (ko) | 인쇄회로기판 검사장치 | |
| US6268719B1 (en) | Printed circuit board test apparatus | |
| JP2007256277A (ja) | 印刷回路板を走査検査する装置 | |
| JP3905850B2 (ja) | 基板検査用プローブ及びそれを用いた基板検査装置 | |
| JP3078562B2 (ja) | 回路基板検査装置におけるプローブピン検査方法 | |
| EP1022573A2 (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
| JPH11174107A (ja) | 自動化取り付け具検査機 | |
| JP2002048833A (ja) | 回路基板検査装置 | |
| JP3417806B2 (ja) | クリーニング機能付きプローブカード検査装置 | |
| EP0989409A1 (en) | Scan test machine for densely spaced test sites | |
| JPH09230005A (ja) | 回路基板検査装置 | |
| CA1308816C (en) | Testing process for electronic devices | |
| JP3012939B2 (ja) | 半田ブリッジ検査方法およびこの方法を実施する装置 | |
| US5023557A (en) | Testing process for electronic devices | |
| JPH01242972A (ja) | パターンの短絡、断線検査装置 | |
| JPS6020917B2 (ja) | 電極検査装置 | |
| JPH0712889A (ja) | 半導体検査装置 | |
| JP2548703Y2 (ja) | 回路基板検査装置 | |
| JP2557446Y2 (ja) | 複数のｘ−ｙユニットを備えたインサーキットテスタのプローブピン支持機構 | |
| JPS59147277A (ja) | 半導体集積回路の測定装置 | |
| JP3008096U (ja) | 電気コネクタ用治具およびそれを用いた検査装置 | |
| JPS6329261Y2 (ja) | ||
| JPH102931A (ja) | バーンインボード検査装置 | |
| JPH0429070A (ja) | プリント基板もしくは実装基板用データ処理方法及び装置 | |
| JPH04120477A (ja) | 両面一括導通基板検査装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090616 Year of fee payment: 9 |
|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |