JP2507153B2 - 有機デバイスとその製造方法 - Google Patents

有機デバイスとその製造方法

Info

Publication number
JP2507153B2
JP2507153B2 JP2203281A JP20328190A JP2507153B2 JP 2507153 B2 JP2507153 B2 JP 2507153B2 JP 2203281 A JP2203281 A JP 2203281A JP 20328190 A JP20328190 A JP 20328190A JP 2507153 B2 JP2507153 B2 JP 2507153B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
film
monomolecular
group
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2203281A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0488678A (ja
Inventor
小川  一文
規央 美濃
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2203281A priority Critical patent/JP2507153B2/ja
Priority to US07/678,436 priority patent/US5223331A/en
Priority to DE69132792T priority patent/DE69132792T2/de
Priority to EP91106785A priority patent/EP0469243B1/en
Publication of JPH0488678A publication Critical patent/JPH0488678A/ja
Priority to US08/565,636 priority patent/US5681442A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP2507153B2 publication Critical patent/JP2507153B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/701Langmuir Blodgett films
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having a potential-jump barrier or a surface barrier
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
    • H10K10/462Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
    • H10K10/466Lateral bottom-gate IGFETs comprising only a single gate
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/40Organosilicon compounds, e.g. TIPS pentacene
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/10Organic polymers or oligomers
    • H10K85/111Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
    • H10K85/113Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K85/00Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
    • H10K85/60Organic compounds having low molecular weight
    • H10K85/649Aromatic compounds comprising a hetero atom
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10STECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10S428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10S428/901Printed circuit
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T428/00Stock material or miscellaneous articles
    • Y10T428/24Structurally defined web or sheet [e.g., overall dimension, etc.]
    • Y10T428/24802Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.]
    • Y10T428/24917Discontinuous or differential coating, impregnation or bond [e.g., artwork, printing, retouched photograph, etc.] including metal layer

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、有機材料を用いた電子デバイス(有機デバ
イス)およびその製造方法に関するものである。
さらに詳しくは、導電性単分子膜あるいは導電性単分
子累積膜を流れる電子を利用した、電子デバイスおよび
その製造方法に関するものである。
従来の技術 従来電子デバイスは、シリコン結晶に代表されるよう
に、無機系半導体結晶が用いられている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、無機結晶では、微細化が進展するにと
もなって結晶欠陥が問題となり、デバイスの性能が結晶
性に大きく左右される欠点があった。
本発明の目的は、デバイスの高密度化が進展し微細加
工がなされても結晶性に左右されない有機を用いてデバ
イスを作成し、高集積な電子デバイスを提供することに
ある。
課題を解決するための手段 本発明は上記課題を解決するために、任意の基板上に
形成された第1の電極と第2の電極と、前記第1と第2
の電極間で電流を流すことにより単分子膜または単分子
累積膜内の電解重合性基を選択的に重合して形成された
導電性共役結合基で前記第1と第2の電極間を接続する
ように形成された導電性共役結合基を有する単分子膜ま
たは単分子累積膜と、前記導電性共役結合基を有する単
分子膜または単分子累積膜に直接または間接に接触した
第3の電極を備え、前記第1と第2の電極間および前記
第2と第3の電極間に電圧を印加し、前記第1の電極と
第2の電極間を接続した導電性共役結合基に流れる電流
を制御することを特徴とする有機デバイス。
作用 本発明の有機デバイスでは、単分子膜もしくは単分子
累積膜中の導電性共役結合基を用いるため、デバイスの
高密度化が進展し微細加工がなされても結晶性に左右さ
れない有機物を用いたデバイスを作成できる。
実施例 本発明は、任意の基板上に電解重合された単分子膜ま
たは単分子累積膜を挟んで第1の電極と第2の電極を形
成し、前記第1の電極と第2の電極および前記単分子膜
または単分子累積膜に直接または間接に接続された第3
の電極と前記第2の電極間に電圧を印加し、前記第2の
電極と前記第3の電極間の電圧を変化させることによ
り、前記第1と第2の電極間の電流の流れを制御するこ
とを特徴とするデバイスを提供するものである。
また、そのときの電流が流れる領域を有機物質、特に
有機単分子膜または単分子累積膜内に電解重合により形
成された共役結合で作成することによりデバイスの高機
能化と微細化を達成しようとするものである。
更にまた、前記有機単分子膜または単分子累積膜作成
の手段として、一端に 基を持つ直鎖上の炭化水素誘導体を用いれば、有機溶媒
中で化学吸着により親水性基板表面に単分子膜を吸着形
成でき(化学吸着法)、さらに前記形成した単分子膜表
面にビニル基等の反応性官能基を含ませておき、酸素ま
たは窒素を含むガス中の高エネルギー線を照射して表面
を親水性化し、化学吸着工程を繰り返すことにより単分
子膜を累積形成することも出来る。
従って、直鎖状炭化水素の一部に電解重合性不飽和基
(例えば、チェニレン基)を含むような物質を用い化学
吸着法を行えば、数十オングストロームオーダの電解重
合性基が配向した単分子膜を形成でき、さらに多層の累
積膜も容易に得ることが出来る。
この方法により累積された単分子膜中の例えばチオフ
ェン基等の電解重合性不飽和基を、第1の電極及び第2
の電極間に電界を印加して電界重合すれば、第1の電極
と第2の電極間でポリチェニレン基が電界方向に沿って
自己組織的に成長していくので、超高分子量で共役系が
非常に長く、酸素を含む雰囲気中でも安定で、しかも第
1の電極と第2の電極間を導電性共役結合基で接続した
単分子または単分子累積膜が形成できる。
一方、有機溶媒に溶解させた電界重合性不飽和基を有
する物質を水面上に展開し前記有機溶媒を蒸発させた
後、水面上に残った前記物質の分子を水面上で水面方向
にバリヤでかき集め、所定の表面圧を加えながら基板を
上下させて単分子膜を基板上に累積(この累積法をラン
グミュアー・ブロジェット(LB)法と言い、この方法に
より累積された単分子膜をLB膜という)した後、同様に
電界重合すれば、第1の電極と第2の電極間を導電性の
共役結合基で接続した超高分子量で共役系が非常に長
く、しかも酸素を含む雰囲気中でも安定な共役結合型の
ポリマー状単分子または単分子累積膜が形成できる。
以下、実施例を第1〜4図を用いてまず本発明のデバ
イスの詳細および製造方法を説明する。
例えば、第1図(a)および(b)に示すように、絶
縁膜の形成された任意の基板1(例えばSi)上に電解重
合した導電性単分子膜または導電性単分子累積膜2を挟
んで第1、第2の金属電極3、4および第3の金属電極
5(ゲート電極)が形成されたものを作成する。
導電性単分子膜または累積膜は数十オングストローム
程度と非常に薄いため、第1の電極と第2および第1ま
たは第2の電極と第3の電極間に電圧を印加し、第3の
電極と第1あるいは第2の電極間の電圧を変化させるこ
とにより、導電性単分子膜または累積膜内の導電性共役
基部分へのホールあるいは電子などの電荷の注入量を制
御でき、結果として第1と第2の電極間の導電性単分子
累積膜の電流の流れを制御できるFET型有機デバイスを
作成できる。
なお、ここで、第1図(b)は第1図(a)のA部を
拡大して示している。また図中6、7は絶縁膜(基板に
Siを用いた場合には通常SiO2を用いる)である。
なお、電界重合性不飽和基を含む単分子膜または単分
子累積膜の作成方法としては、後述するが、化学吸着法
あるいはLB法を用いることができる。
また、ここで単分子膜または単分子累積膜は、導電性
共役基8としてポリチェニレン基(第1図(b))のよ
うな導電性共役基を含んでおり、かつ第1の電極と第2
の電極間はポリチェニレン基で接続されていることが必
要である。
なお、ここでデバイスの増幅特性を大きくしたい場合
には絶縁膜6はは薄いほどよく、無くすことも可能であ
る。
また、電気特性を安定化させるためには、第1および
第2の電極の間隙が、均一な間隔で設置されている必要
がある。
更にまた、第3の電極(すなわち基板)をAuやPt以外
の酸化され易い金属や半導体材料で作成しておけば、当
然電極表面に酸化膜を形成できるため第1及び第2の金
属電極と第3の金属電極との間の耐圧を向上できる効果
がある。また酸化膜が形成され第3の電極となる基板表
面に化学吸着膜を作成する際都合がよい。
さらに、導入する導電性共役基としては、ポリチェニ
レン以外にポリピロール、ポリシロール、ポリピリジノ
ピリジン、ポリアニリン等電解重合可能な不飽和基より
生成されるポリエンを用いることが可能である。
なお、第1図で示したデバイスにおいて、基板上に第
1および第2の金属電極を作成した後、導電性単分子膜
または導電性単分子累積膜を介して第3の金属電極を基
板とは反対側に作成しても、同様の機能のデバイスを提
供できることは言うまでもない。
次に、上述のデバイスの作成方法について述べる。
まず第2図(a)に示したように任意の方法を用いて
基板1(例えばSi基板)上に絶縁膜7(SiO2膜)を介し
て、第1の金属電極3及び第2の金属電極4をパターン
状に形成する。
金属電極の作成方法は、全面に金属を蒸着しホトレジ
ストを用いてエッチングしたり、リフトオフで金属電極
をパターン状に残す方法等通常の方法が利用できる。
さらに、第1、第2の金属電極3、4をマスクとし、
絶縁膜7をエッチング除去する。通常基板にSiを用いれ
ばエッチング後洗浄すればSi表面は、自然酸化膜(Si
O2)よりなる極めて薄い絶縁膜6が形成されるので改め
て酸化する必要はない。
次に、電解重合性基含む単分子膜あるいは単分子累積
膜を絶縁膜6の上に形成する。
なお、単分子膜の製造方法にはLB法や化学吸着法が利
用できる。
さらに第1及び第2の電極間に5V/cm程度の電界を印
加し数十分重合を行なう。このとき、重合された不飽和
基は、電界方向に沿ってつながっていくので、完全に重
合が終われば第1の電極と第2の電極は、共役結合9で
自己組織的に接続される。(第2図(b)) 最後に、第3の電極(ゲート電極)を基板側より取り
出せば、デバイスが完成される。
○単分子膜の製造方法その1(化学吸着法の利用) 使用したサンプルは、数々あるが、チオフェン誘導体
の一種であるCH3−(CH2−R−(CH2−SiCl
3(ここでRはチオフェン誘導体基、m+nは17である
が、14から24の範囲で良好な結果が得られた)(以下TC
Sと略す))の場合を用いて説明する。
例えば、第2図に示すように、絶縁膜7(SiO2)の形
成されたSi基板1上に、第1の電極3と第2の電極4と
してAu電極を形成し、さらに露出したSiO2をエッチンギ
除去する。
次に、その表面にTCSを用いて基板表面に単分子膜を
化学吸着して形成する。
この時、 と、Si基板表面の自然酸化膜(SiO2)11とともに形成さ
れている−OH基とが反応して脱塩酸して、基板表面に
は、 の単分子膜12が形成できる。(第3図(a)) 例えば、2.0×10-3〜5.0×10-3mol/lの濃度で、TCS
(シラン系界面活性剤)を溶かした80%n−ヘキサン、
12%四塩化炭素、8%クロロホルム溶液中に、室温で数
十分間Au電極が形成された基板を浸漬すると、SiO2表面
の結合を形成できる。
ここで、基板表面に の単分子膜12が形成できていることは、FTIRにて確認さ
れた。
なお、このとき化学吸着膜の形成は、湿気を含まない
N2雰囲気中で行った。
つぎに、第2図(b)に示すように電極3、4の間に
5V/cmの電界を印加して重合を行なうと、第3図(b)
に示すような反応、即ちポリチェニレン結合13が製造さ
れたことがFTIRにより明かとなった。
なお、前述の実施例では1層化学吸着膜を形成し重合
を行う方法について述べたが、吸着膜を多層積層した後
で重合反応を行っても良いし、あるいは吸着膜の形成と
重合反応とを交互に行っても、ポリチェニレンの多層分
子膜の作製が可能なことは明らかであろう。
○単分子膜の製造方法その2(LB膜形成法を用いる場
合) 使用したサンプルは、数々あるが、チェニレン誘導体
の一種であるCH3−(CH2−R−(CH2−COOH
(ここでRはチオフェン誘導体、m+nは17であるが、
14から23の範囲で良好な結果が得られた)(以下TADと
略す))の場合を用いて説明する。
LB膜の累積には、ジョイスレーベル社のトラフIV(Jo
ice−Loebl Trough IV)を用い、500nm以下の光をカッ
トしたイエロー光照明のクラス100のクリーンルーム内
で行った。このときクリーンルーム内は、室温23±1
℃、湿度40±5%に調節されている。LB膜の累積に使用
した基板は、酸化膜を介してAg電極の形成された直径3
インチのSi基板である。
まず、第2図に示すように、絶縁膜7としてSiO2の形
成されたSi基板1上に、第1の電極3及び第2の電極4
としてAg電極を形成し、さらに露出したSiO2をエッチン
ギ除去する。
次に、その表面にTDAを用いて基板表面に単分子膜22
をLB法で形成する。このとき、TDAの−COOH基は、Si基
板表面の自然酸化膜(SiO2)11に向かって累積形成され
る。(第4図(a)) ここで、基板表面にCH3−(CH2−R−(CH2
−COOHの単分子膜22が形成できていることは、FTIRにて
確認された。
つぎに、第2図(b)に示すように電極3、4の間に
5V/cmの電界を印加して重合を行なうと、第4図(b)
に示すような反応、即ちポリチェニレン結合13が製造さ
れたことがFTIRにより明かとなった。
この実施例では1層LB膜を累積した後に重合する方法
を示したが、絶縁性のLB膜を何層か累積した後電解重合
反応をを行っても良いし、あるいは累積と重合反応の工
程とを交互に行っても、多分子層のポリチェニレン型共
役ポリマー膜を作ることも可能なことが確認された。
なお、LB法を用いる場合は、累積がきわめて簡単なた
め、複数層累積した後電解重合を行なえば工程が少なく
てすむ。
また、これ以外の導電性不飽和共役基としてチェニレ
ン基、ピロール基、ピリジノピリジン基、アニリン基等
が利用できる。
発明の効果 本発明は、任意の基板上に形成された第1の電極と第
2の電極と、前記第1と第2の電極間で電流を流すこと
により単分子膜または単分子累積膜内の電解重合性基を
選択的に重合して形成された導電性共役結合基で前記第
1と第2の電極間を接続するように形成された導電性共
役結合基を有する単分子膜または単分子累積膜と、前記
導電性共役結合基を有する単分子膜または単分子累積膜
に直接または間接に接触した第3の電極を備え、前記第
1と第2の電極間および前記第2と第3の電極間に電圧
を印加し、前記第1の電極と第2の電極間を接続した導
電性共役結合基に流れる電流を制御することを特徴とす
る有機デバイスであるため、化学吸着法またはLB法と電
解重合法を用いることにより、導電性共役結合を有する
ポリマーを高能率にしかも2つの電極間を接続するよう
に自己組織的に製造でき、高性能有機デバイスを実現で
きる。
なお、この方法によると、理論的には共役系が連続し
て数mm或は数cm以上の長さを持つ直鎖状の超高分子量の
導電性共役高分子の製造も可能であるため、本願デバイ
スの製作には極めて有効である。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)は本発明の有機デバイスの断面概念図、第
1図(b)は第1図(a)のA部の分子レベルの拡大
図、第2図(a)(b)は本発明の有機デバイスの製造
工程を説明する概念図、第3図(a)はTCS吸着膜を1
層形成した基板の分子オーダーの拡大断面概念図、第3
図(b)は重合後のポリチェニレン結合の形成された基
板の分子オーダーの拡大断面概念図、第4図(a)はTD
ALB膜を1層形成した基板の分子オーダーの拡大断面概
念図、第4図(b)は重合後のポリチェニレン結合の形
成された基板の分子オーダーの拡大断面概念図である。 1……基板、2……単分子膜または単分子累積膜、3…
…第1の電極、4……第2の電極、5……第3の電極、
6、7……絶縁膜、8……導電性共役基、11……SiO2
12……単分子吸着膜、13……ポリチェニレン結合、22…
…単分子膜。

Claims (9)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】任意の基板上に形成された第1の電極と第
    2の電極と、前記第1と第2の電極間で電流を流すこと
    により単分子膜または単分子累積膜内の電解重合性基を
    選択的に重合して形成された導電性共役結合基で前記第
    1と第2の電極間を接続するように形成された導電性共
    役結合基を有する単分子膜または単分子累積膜と、前記
    導電性共役結合基を有する単分子膜または単分子累積膜
    に直接または間接に接触した第3の電極を備え、前記第
    1と第2の電極間および前記第2と第3の電極間に電圧
    を印加し、前記第1の電極と第2の電極間を接続した導
    電性共役結合基に流れる電流を制御することを特徴とす
    る有機デバイス。
  2. 【請求項2】導電性共役結合基が第3の電極に直接接触
    しないことを特徴とする請求項1記載の有機デバイス。
  3. 【請求項3】第1と第2の電極が金属で、第3の電極が
    シリコンであることを特徴とする請求項1または2記載
    の有機デバイス。
  4. 【請求項4】絶縁膜の形成された導電性の基板上に第1
    の電極及び第2の電極を形成する工程と、 前記第1の電極及び第2の電極をマスクとして前記基板
    表面の絶縁膜をエッチング除去する工程と、 前記絶縁膜がエッチング除去された部分の基板表面に直
    接または間接に電解重合性基を含む単分子膜または単分
    子累積膜を形成する工程と、 前記第1と第2の電極間に電圧を印加して前記第1と第
    2の電極間に形成された単分子膜または単分子累積膜内
    の電解重合性基を選択的に重合する工程と、 前記基板に接続した第3の電極を取り出す工程を含むこ
    とを特徴とする有機デバイスの製造方法。
  5. 【請求項5】電解重合性基を含む単分子膜または単分子
    累積膜を形成する工程と、化学吸着法もしくはラングミ
    ュアーブロジェト法で行うことを特徴とする請求項4記
    載の有機デバイスの製造方法。
  6. 【請求項6】電解重合性基を含む単分子膜または単分子
    累積膜を形成する工程において、基板表面に電解重合性
    不飽和基を含むシラン系界面活性剤を、非水系の有機溶
    媒中で化学吸着させ、単分子膜を少なくとも1層形成す
    る工程を含むことを特徴とする請求項5記載の有機デバ
    イスの製造方法。
  7. 【請求項7】電解重合性基を含む単分子膜または単分子
    累積膜を形成する工程において、水槽上に電解重合性不
    飽和基を含んでいる界面活性剤を展開し予め水面上に単
    分子膜を形成した後基板表面に移し取る方法を用いて基
    板表面に電解重合性不飽和基を含む単分子膜を少なくと
    も1層形成する工程を含むことを特徴とする請求項5記
    載の有機デバイスの製造方法。
  8. 【請求項8】電解重合性不飽和基を含んでいるシラン系
    界面活性剤よりなる単分子膜を少なくとも1層形成した
    後、第1の電極と第2の電極との間に電圧を印加し不飽
    和基を電解重合させて前記第1の電極と第2の電極との
    間を接続する導電性共役結合基を作成することを特徴と
    する請求項6記載の有機デバイスの製造方法。
  9. 【請求項9】シラン系界面活性剤が、末端にクロロシル
    ル基を含む化学物質であることを特徴とする請求項6記
    載の有機デバイスの製造方法。
JP2203281A 1990-07-31 1990-07-31 有機デバイスとその製造方法 Expired - Lifetime JP2507153B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2203281A JP2507153B2 (ja) 1990-07-31 1990-07-31 有機デバイスとその製造方法
US07/678,436 US5223331A (en) 1990-07-31 1991-04-01 Organic device and method for producing the same
DE69132792T DE69132792T2 (de) 1990-07-31 1991-04-26 Organisches Bauelement und dessen Herstellungsverfahren
EP91106785A EP0469243B1 (en) 1990-07-31 1991-04-26 Organic device and method for producing the same
US08/565,636 US5681442A (en) 1990-07-31 1995-11-29 Method of producing an organic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2203281A JP2507153B2 (ja) 1990-07-31 1990-07-31 有機デバイスとその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH0488678A JPH0488678A (ja) 1992-03-23
JP2507153B2 true JP2507153B2 (ja) 1996-06-12

Family

ID=16471454

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2203281A Expired - Lifetime JP2507153B2 (ja) 1990-07-31 1990-07-31 有機デバイスとその製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (2) US5223331A (ja)
EP (1) EP0469243B1 (ja)
JP (1) JP2507153B2 (ja)
DE (1) DE69132792T2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6995506B2 (en) 2000-08-10 2006-02-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Display device with organic conductive thin film having conductive network
US7078103B2 (en) 2000-12-26 2006-07-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive organic thin film, process for producing the same, and organic photoelectronic device, electric wire, and electrode each employing the same
US7662009B2 (en) 2001-08-10 2010-02-16 Panasonic Corporation Organic electronic device, method of producing the same, and method of operating the same

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2889768B2 (ja) * 1992-09-10 1999-05-10 松下電器産業株式会社 3−チエニル基含有ケイ素化合物及びその製造方法
KR100272702B1 (ko) * 1996-03-26 2000-11-15 윤종용 터널 효과 장치 및 그 제조 방법
US6524874B1 (en) 1998-08-05 2003-02-25 Micron Technology, Inc. Methods of forming field emission tips using deposited particles as an etch mask
US6339227B1 (en) 1999-02-01 2002-01-15 The Mitre Corporation Monomolecular electronic device
US6207578B1 (en) 1999-02-19 2001-03-27 Micron Technology, Inc. Methods of forming patterned constructions, methods of patterning semiconductive substrates, and methods of forming field emission displays
GB9930217D0 (en) 1999-12-21 2000-02-09 Univ Cambridge Tech Solutiion processed transistors
AU781789B2 (en) * 1999-12-21 2005-06-16 Flexenable Limited Solution processing
IL134295A0 (en) * 2000-01-31 2001-04-30 Yeda Res & Dev A hybrid organic-inorganic semiconductor device and a method of its fabrication
CN100585751C (zh) * 2001-04-17 2010-01-27 松下电器产业株式会社 导电性有机薄膜及其制造方法和使用其的电极与电缆
US20020167003A1 (en) * 2001-04-18 2002-11-14 Campbell Ian H. Chemical and biological sensor using organic self-assembled transitors
AU2003207156A1 (en) * 2002-02-08 2003-09-02 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Organic electronic device and its manufacturing method
JP4598673B2 (ja) * 2003-06-13 2010-12-15 パナソニック株式会社 発光素子及び表示装置
US7050146B2 (en) * 2004-02-09 2006-05-23 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
WO2005090365A1 (ja) * 2004-03-18 2005-09-29 Sharp Kabushiki Kaisha 有機シラン化合物、その製造方法及びその用途
JP2006062965A (ja) * 2004-08-24 2006-03-09 Sharp Corp 有機シラン化合物、該化合物の製造方法および該化合物を用いた有機薄膜
JP2010080759A (ja) * 2008-09-26 2010-04-08 Sharp Corp 有機デバイスとその製造方法
EP4186947A1 (en) * 2021-11-26 2023-05-31 Henkel AG & Co. KGaA Polyorganosiloxane having heteroatom-containing silyl group

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6314471A (ja) * 1986-07-04 1988-01-21 Mitsubishi Electric Corp 電界効果型トランジスタ
JPH0227766A (ja) * 1988-07-15 1990-01-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 有機デバイスおよびその製造方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61163658A (ja) * 1985-01-12 1986-07-24 Mitsubishi Electric Corp Misダイオ−ドの製造方法
JPS6221151A (ja) * 1985-07-19 1987-01-29 Matsushita Electric Ind Co Ltd パタ−ン形成方法
US4835083A (en) * 1986-04-16 1989-05-30 Canon Kabushiki Kaisha Method for patterning electroconductive film and patterned electroconductive film
GB8715959D0 (en) * 1987-07-07 1987-08-12 British Petroleum Co Plc Field effect transistors
EP0584891B1 (en) * 1988-06-28 1997-03-12 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method for the formation of built-up films of monomolecular layers using silane compounds having an acetylene bond
JPH06144921A (ja) * 1992-11-10 1994-05-24 Seiko Instr Inc ジルコニアセラミックスコンパウンド廃材の再生方法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6314471A (ja) * 1986-07-04 1988-01-21 Mitsubishi Electric Corp 電界効果型トランジスタ
JPH0227766A (ja) * 1988-07-15 1990-01-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd 有機デバイスおよびその製造方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6995506B2 (en) 2000-08-10 2006-02-07 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Display device with organic conductive thin film having conductive network
US7078103B2 (en) 2000-12-26 2006-07-18 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive organic thin film, process for producing the same, and organic photoelectronic device, electric wire, and electrode each employing the same
US7198829B2 (en) 2000-12-26 2007-04-03 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive organic thin film, process for producing the same, electronic device employing the same, electrical cable, electrode, pyrrolyl compound, and theienyl compound
US7220468B2 (en) 2000-12-26 2007-05-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive organic thin film, method for manufacturing the same, and electronic device, electric cable, electrode, pyrrolyl compound, and thienyl compound using the same
US7662009B2 (en) 2001-08-10 2010-02-16 Panasonic Corporation Organic electronic device, method of producing the same, and method of operating the same

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0488678A (ja) 1992-03-23
EP0469243B1 (en) 2001-10-31
DE69132792D1 (de) 2001-12-06
EP0469243A1 (en) 1992-02-05
DE69132792T2 (de) 2002-08-14
US5681442A (en) 1997-10-28
US5223331A (en) 1993-06-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2507153B2 (ja) 有機デバイスとその製造方法
JPH0766990B2 (ja) 有機デバイスおよびその製造方法
KR101319499B1 (ko) 화학적 자기조립 방법을 이용한 나노선 혹은탄소나노튜브의 적층 및 패턴형성 방법과, 이를 적용한액정표시장치의 제조방법
KR101920721B1 (ko) 그라펜 나노리본의 제조방법 및 상기 제조방법에 의해 얻어진 그라펜 나노리본
KR101384665B1 (ko) 그라펜 시트를 함유하는 투명 전극, 이를 채용한 표시소자및 태양전지
KR101564390B1 (ko) 태양광 발전 장치용 고신뢰성 나노 구조체와 어레이 및 이의 제조 방법
KR101435999B1 (ko) 도펀트로 도핑된 산화그라펜의 환원물, 이를 포함하는 박막및 투명전극
US7368009B2 (en) Carbon fine particle structure and process for producing the same, carbon fine particle transcriptional body for producing the same, solution for producing carbon fine particle structure, carbon fine particle structure, electronic device using carbon fine particle structure and process for producing the same, and integrated circuit
US20060118777A1 (en) Electroric device, integrated circuit, and method of manufacturing the same
US6995506B2 (en) Display device with organic conductive thin film having conductive network
JP2741804B2 (ja) コンデンサ及びその製造方法
EP2091077A1 (en) Electrode coating material, electrode structure and semiconductor device
TW200836352A (en) Metal-insulator-metal (MIM) devices and their methods of fabrication
JP2007129227A (ja) 電子装置の製造方法、巻き取り製造工程、薄膜トランジスタ及び塗布装置
WO2004106223A1 (ja) カーボンナノチューブデバイスおよびその製造方法、並びに、カーボンナノチューブ転写体
KR20060113756A (ko) 정류 소자 및 그것을 사용한 전자 회로, 및 정류 소자의제조 방법
KR100642113B1 (ko) 유기 전자 디바이스 및 그 제조 방법
US8245393B2 (en) Method for fabricating a circuit board including aligned nanostructures
KR100951946B1 (ko) 투명하고 플렉서블한 탄소나노튜브 박막 트랜지스터 및이의 제조방법
KR20050110640A (ko) 공역 분자 어셈블리, 그 어셈블리의 제조 방법 및 그어셈블리를 포함하는 디바이스
JP2010219114A (ja) 炭素電極及び炭素電極の製造方法、有機トランジスタ及び有機トランジスタの製造方法
US8394506B2 (en) Helical substituted polyacetylene structure, method for producing the same, device structure, ion transport film and gas separation film
JP2010056484A (ja) 有機トランジスタ及び有機トランジスタの製造方法
WO2008032637A1 (fr) Transistor organique, et procédé de fabrication d'un transistor organique
EP0344799B1 (en) Selectively permeable film and process for producing the same

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080402

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090402

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100402

Year of fee payment: 14

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402

Year of fee payment: 15

EXPY Cancellation because of completion of term
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110402

Year of fee payment: 15