JP2025504525A5 - - Google Patents

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US7160753B2 (en) * 2004-03-16 2007-01-09 Voxtel, Inc. Silicon-on-insulator active pixel sensors
JP5673572B2 (ja) * 2012-01-24 2015-02-18 信越半導体株式会社 貼り合わせsoiウェーハの製造方法
FR2987935B1 (fr) * 2012-03-12 2016-07-22 Soitec Silicon On Insulator Procede d'amincissement de la couche active de silicium d'un substrat du type "silicium sur isolant" (soi).

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