JP2022545046A - 検査プローブ及びその製造方法、並びにそれを支持する検査ソケット - Google Patents

Abstract

被検査体を検査するための検査プローブが開示される。検査プローブは、相互に離隔して線形に延在している２個の接触ラインをそれぞれ有する第１接触ラインセット及び第２接触ラインセットを含み、前記第１接触ラインセットと前記第２接触ラインセットとがＶ状に配置されるライン接触部を含む。【選択図】 図２

Description

本発明は、カメラモジュールのような被検査体の電気的特性を検査する検査プローブ及びその製造方法、並びにそれを支持する検査ソケットに関する。

小型モバイル機器に適用される超小型カメラモジュールは、図１に示すような部分曲面筒状の接触端子１２を有するコネクター１０を備えている。接触端子１２は、金属ストリップを部分円筒状に折り曲げて形成する。このようなコネクター１０は、検査時に、ポゴピンのプランジャーを接触端子１２に接触させる。

一般に、ポゴピンのプランジャーは、鉛からなるバンプ端子を検査時に接触し可能なように、一つ又は複数のチップを有する。このようなプランジャーのチップは、凸状の曲面形状の接触端子１２に接触する際に滑りによる接触エラーを引き起こすことがある。このような問題を解決するために、本願発明者は、韓国特許番号第１０－１９２０８２４号に示しているように、フォーク形状のプランジャーを有する検査プローブを提案したことがある。このようなフォーク形状のプランジャーは、Ｖ状の接触平面を有し、被検端子を収容及び面接触して検査を行うことができる。

しかしながら、このような従来技術の検査プローブは、多数回の検査を反復しながら接触面に異物が転移し蓄積され、接触抵抗が高くなる問題があった。しかも、被検端子との面接触は、検査時に２地点の面接触により検査が行われる。しかし、異物蓄積による面接触点の異常な接触抵抗の上昇によって検査の信頼性が低下し、その結果、正常のカメラモジュールを不良として判断することもある。このような検査プローブと接触端子との間の異物蓄積又は不安定な接触は、装備の整備、クリーニング、判読誤りなどを引き起こし、量産収率によくない影響を与えてしまう。

本発明は、上述した従来技術の問題を解決するためのものであり、異物の転移及び蓄積を減らし、検査の信頼性を高めることができる検査プローブ及びその製造方法、並びにそれを支持する検査ソケットを提供することにある。

上述した課題を達成するための検査プローブが提供される。検査プローブは、相互に離隔して線形に延在している２個の接触ラインをそれぞれ有する第１接触ラインセット及び第２接触ラインセットを含み、前記第１接触ラインセットと前記第２接触ラインセットとがＶ状又はＵ状に配置されるライン接触部を含む。

前記２個の接触ライン間の間隔には陥没部が設けられてよい。

前記陥没部の曲率は、前記接触ラインの下方延在方向に沿って減少してよい。

前記ライン接触部は、相互に離隔して線形に延在している２個の接触ラインを有する１以上の他の接触ラインセットを含んでよい。

本発明の一実施例に係る検査プローブの製造方法が提供される。検査プローブの製造方法は、円柱基材を準備する段階と、前記基材の一端部に長さ方向に凹溝を形成する段階と、前記一端部において前記基材の中心軸を含む所定の幅を残して平面カッティングする段階と、を含む。

前記凹溝は、円錘形又は半球形を有してよい。

前記製造方法は、前記凹溝の頂点から長さ方向に孔を形成する段階をさらに含んでよい。

本発明の一実施例に係る被検査体を検査する検査ソケットが提供される。検査ソケットは、相互に離隔して線形に延在している２個の接触ラインをそれぞれ有する第１接触ラインセットと第２接触ラインセットとを含むライン接触部を含む検査プローブと、前記検査プローブを支持するプローブ支持体と、を含む。前記第１接触ラインセットと前記第２接触ラインセットとがＶ状又はＵ状に配置される。

本発明の検査プローブは、検査時に発生する異物の転移及び蓄積を防止でき、その結果、検査の信頼性を向上させることができる。

また、本発明の製造方法によれば、高い信頼性のプローブを簡単で便利に製造することができる。

カメラモジュールのコネクターを示す斜視図である。 本発明の第１実施例に係るライン接触部を詳細に示す斜視図である。 本発明の第１実施例に係るライン接触部の製造方法を示す図である。 本発明の第１実施例に係る検査プローブの斜視図である。 本発明の第１実施例に係る検査ソケットの斜視図である。 図５の検査ソケットを分解して示す斜視図である。 図５の検査ソケットの断面を示す断面図である。 本発明の第２実施例に係る検査プローブの斜視図である。 図８の検査プローブを適用している検査ソケットの断面を示す断面図である。

以下、添付の図面を参照して、本発明の第１実施例に係る検査プローブ４０及びその製造方法、並びに検査ソケットについて詳しく説明する。

図１は、例えば、カメラモジュールのような被検査体のコネクター１０を示す。コネクター１０は、金属板材を「Ｕ」字状に折り曲げた部分曲面筒状の被検査接点１２を含むことができる。

図２は、本発明の第１実施例に係るプローブ４０のライン接触部２０を詳細に示す斜視図である。

図２を参照すると、ライン接触部２０は、Ｖ形端部２２、Ｖ形端部２２から一体に延在しているフランジ２４、及びフランジ２４から一体に延在している延長部２６を含むことができる。

Ｖ形端部２２は、検査時に被検査接点が線接触するＶ形接触部２２１を含むことができる。

Ｖ形接触部２２１は、互いに離隔して線形に延在している２個の接触ラインをそれぞれ有する第１接触ラインセット２２２及び第２接触ラインセット２２３を含むことができる。第１接触ラインセット２２２及び第２接触ラインセット２２３はそれぞれ、２個の接触ラインが間隔を開けて並んで下方傾斜して延在していてよい。第１接触ラインセット２２２と第２接触ラインセット２２３は相互に中心の一点に向けて収斂してよい。Ｖ形接触部２２１は、４個の縁に設けられた４個の接触ラインを含むことができる。結果的に、検査時に、被検査接点はＶ形接触部２２１の４個の接触ラインに線接触することができる。

Ｖ形端部２２は、第１接触ラインセット２２２の２個の接触ラインの間に第１陥没部２２４、及び第２接触ラインセット２２３の２個の接触ラインの間に第２陥没部２２５を含むことができる。
第１陥没部２２４の曲率は第１接触ラインセット２２２の下方延在方向に沿って減少する。
第２陥没部２２５の曲率は第２接触ラインセット２２３の下方延在方向に沿って減少する。

Ｖ形端部２２は、第１接触ラインセット２２２と第２接触ラインセット２２３とが収斂する地点に長さ方向に延在している凹み部２２６を含むことができる。

Ｖ形端部２２は、被検査体に設けられた被検査接点のピッチに適合する厚さを有する板状であってよい。

フランジ２４は、Ｖ形端部２２から後方に一体に延在していてよい。フランジ２４は、強度向上のためにＶ形端部２２よりも大きい幅の板状で形成されてよい。また、フランジ２４は板状になっており、検査時に回転を防止することができる。

延長部２６は、フランジ２４から後方に一体に延在していてよい。延長部２６は円柱状であり、第１プランジャー３４の端部に接触してよい。ここで、延長部２６を省き、フランジ２４が第１プランジャー３４に直接接触してもよい。延長部２６は、円柱状に限定されず、様々な形状にしてもよい。

部分曲面筒状の被検査接点は、Ｖ形接触部２２１の第１接触ラインセット２２２と第２接触ラインセット２２３との間に収容され、４個の接触地点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４で線接触する。結果的に、Ｖ形接触部２２１は、整列誤差及び公差による４接触点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４の位置誤差が発生しても、被検査接点との接触エラーが発生する可能性が低減し得る。また、反復したテストにより、鋭いライン状の４個の接触地点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４に異物が転移しても、転移した異物が第１及び第２陥没部２２４，２２５又は外側にはみ出されることにより、４個の接触地点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４に異物が累積しない。特に、検査時に、被検査接点は複数、例えば、４個の接触地点Ｐ１，Ｐ２，Ｐ３，Ｐ４に接触するので、接触抵抗も下げることができる。

通常、被検査体の被検査接点は、ピッチが非常に狭く配置されている。したがって、Ｖ形端部２２は、狭いピッチの多数の被検査接点を考慮して狭い幅の板状に形成されてよい。また、フランジ２４は、強度向上のために、Ｖ形端部２２よりも広い幅の板状に形成されてよい。

ライン接触部２０は、全体的に同一厚さの板材で作製してもよいが、強度及び耐久度が低くなることがあるので、隣接した被検査接点の干渉を避け得るように、Ｖ形端部２２だけを薄い厚さにし、残りは相対的に広い幅のフランジ２４又は延長部２６として加工することが好ましい。

以下、図３を参照して、図２のライン接触部２０を製造する方法を説明する。

図３は、本発明の実施例に係るライン接触部２０の製造方法を図式的に示す図である。

段階Ｓ１１で、ライン接触部２０に対応する長さの円柱形基材２１を準備する。

段階Ｓ１２で、Ｖ形ドリルを用いて円柱基材２１の一端部に長さ方向に凹溝２１２、例えば円錘形又は半球形の溝を形成する。

段階Ｓ１３で、凹溝２１２の頂点に、一字状ドリルを用いて長さ方向に孔２１４を形成する。

段階Ｓ１４で、一端部において基材の中心軸を挟んで所定幅で切削工具を用いて１次及び２次平面加工を行う。１次平面加工によりＶ形端部２２を形成でき、２次平面加工によりフランジ２４を形成することができる。

以上のように、円柱基材２１の端部に凹溝２１２を形成した後、中心軸を挟んで所定幅で平面カッティングを行うことだけにより、第１接触ラインセット２２２及び第２接触ラインセット２２３を有するＶ形接触部２２１を容易に形成することができる。

図４は、本発明の第１実施例に係る検査プローブ４０の斜視図である。

図４を参照すると、検査プローブ４０は、ライン接触部２０とポゴピン３０を含むことができる。

ライン接触部２０は、図２に示した構造と同一であり、その説明を省略する。

ポゴピン３０は、円筒形のバレル３２、バレル３２の一側に部分収容される第１プランジャー３４、及びバレル３２の他側に部分収容され、例えば検査基板のパッドに接触する第２プランジャー３６を含むことができる。

バレル３２は、内部で第１プランジャー３４と第２プランジャー３６との間に介設されているスプリングを含むことができる。第１プランジャー３４及び第２プランジャー３６のうち少なくとも一つは、バレル３２内でスプリングの圧縮又は復元によって弾性的に摺動可能に支持されてよい。

第１プランジャー３４の端部は、検査時に、ライン接触部２０の延長部２６の端部に接触してよい。

第２プランジャー３６は、例えば、検査回路基板のパッドに接触してよい。

図５及び図６はそれぞれ、本発明の第１実施例に係る検査ソケット５０の斜視図及び分解斜視図である。

図示のように、検査ソケット５０は、複数のライン接触部２０を収容して支持する接触部支持体５１、接触部支持体５１をフローティング状態で収容して支持するハウジング５２、及びハウジング５２の下部に収容されて支持され、複数のライン接触部２０に対応する位置に配置された複数のポゴピン３０を支持するプローブ支持体５３を含むことができる。

接触部支持体５１は、ライン接触部２０が部分突出するように挿入された第１接触部支持体５１２、及び第１接触部支持体５１２の下部に配置される第２接触部支持体５１４を含むことができる。第１接触部支持体５１２は、ライン接触部２０のＶ形端部２２が挿入される第１開孔５１２２を含む。第２接触部支持体５１４は、ライン接触部２０の延長部２６が挿入される第２開孔５１４２を含むことができる。接触部支持体５１は、４個のスプリング５２６によってハウジング５２の第１収容部５２２内でフローティングして支持されてよい。

ハウジング５２は、上部に接触部支持体５１を収容する第１収容部５２２と、下部にプローブ支持体５３を収容する第２収容部（図示せず）とが隔壁を挟んで形成されてよい。隔壁には、後述するポゴピン３０の第１プランジャー３４が収容される第３開孔５２４を含むことができる。

ポゴピン３０は、円筒形のバレル３２、一端がバレル３２の一側に部分収容される第１プランジャー３４、一端がバレル３２の他側に部分挿入される第２プランジャー３６、及びバレル３２内で第１プランジャー３４と第２プランジャー３６との間に介設され、第１プランジャー３４と第２プランジャー３６とを互いに遠ざかる方向にバイアスさせるスプリング３８を含むことができる。

プローブ支持体５３は、ハウジング５２の底面にある第２収容部内に挿入固定され、第２プランジャー３６が外部に部分突出するようにポゴピン３０を収容する第４開孔５３２を含むことができる。プローブ支持体５３は、固定ピン５３６にてハウジング５２の下部に固定されてよい。

ライン接触部２０を支持する接触部支持体５１は、ハウジング５２の第１収容部５２２内に着脱可能に挿入支持されてよい。結果的に、ライン接触部２０は、不良又は寿命切れになった場合、交換し易くなる。

図７は、図４の検査プローブ４０を適用している検査ソケット６０の断面を示す断面図である。

図７を参照すると、検査ソケット６０は、ライン接触部２０を収容支持する接触部支持体６１、及びポゴピン３０を収容して支持するプローブ支持体６３を含むことができる。

接触部支持体６１は、ライン接触部２０のＶ形端部２２とフランジ２４を収容する第１接触部支持体６１２、及びライン接触部２０の延長部２６を収容する第２接触部支持体６１４を含むことができる。

第１接触部支持体６１２は、ライン接触部２０のＶ形端部２２を収容する接触端収容孔６１２２、及びライン接触部２０のフランジ２４を収容するフランジ収容孔６１２４を含むことができる。

第２接触部支持体６１４は、ライン接触部２０の延長部２６を収容する延長部収容孔６１４２を含むことができる。

プローブ支持体６３は、バレル３２及び第１プランジャー３４を収容する第１プローブ支持体６３２、及び第２プランジャー３６を収容する第２プローブ支持体６３４を含むことができる。

第１プローブ支持体６３２は、ポゴピン３０の第１プランジャー３２を収容する第１プランジャー収容孔６３２２、及びバレル３２を収容するバレル収容孔６３２４を含むことができる。

第２プローブ支持体６３４は、ポゴピン３０の第２プランジャー３６を収容する第２プランジャー収容孔６３４２を含むことができる。

検査前には、第１プランジャー３４が第２接触部支持体６１４の延長部収容孔６１４２から突出していてよい。

図７は、テストのために被検端子１２を加圧した状態であって、スプリング３８が圧縮されている。テストが完了して被検端子１２の押下を中断すると、スプリング３８によって第１プランジャー３４が上方に突出しながらライン接触部２０を押し上げる。結果的に、テストが完了すると、ライン接触部２０のＶ形端部２２が外部に突出してよい。

図８は、本発明の他の実施例に係る検査プローブ７０を示す斜視図である。

図８を参照すると、検査プローブ７０は、円筒形のバレル７２、バレル７２の一側に部分収容される第１プランジャー７４、及びバレル７２の他側に部分収容され、例えば検査基板のパッドに接触する第２プランジャー７６を含むことができる。

バレル７２は、内部で第１プランジャー７４と第２プランジャー７６との間に介設されているスプリングを含むことができる。第１プランジャー７４と第２プランジャー７６のうち少なくとも一つは、バレル７２内でスプリングの圧縮又は復元によって弾性的に摺動可能に支持されてよい。

第１プランジャー７４の端部は、検査時に、被検査体の被検査接点に接触し得る。第１プランジャー７４は、Ｖ形端部７４２、フランジ７４４及び延長部７４６を含むことができる。第１プランジャー７４は、延長部７４６以外の残り部分が図２のライン接触部２０と類似の形状を有するので、別の説明は省略する。延長部７４６は、端部がバレル７２内に収容されて引き出されないように拡張された拡張端部７４８を含むことができる。

第２プランジャー７６は、例えば検査回路基板のパッドに接触し得る。

図９は、図８の検査プローブ７０を適用している検査ソケット８０を示す部分断面図である。
図９を参照すると、検査ソケット８０は、第１プランジャー７４を収容して支持する第１プランジャー支持体８１、バレル７２を収容して支持するバレル支持体８２、及びバレル支持体８２の下部に設けられ、第２プランジャー７６を収容して支持する第２プランジャー支持体８３を含むことができる。
本発明の検査プローブは、相互に離隔される複数の接触ラインがＶ状又はＵ状に２セットで延在して配置され、Ｖ形の凹溝に収容される被検査体と４個の地点で接触する。それによって、本発明の検査プローブは、反復的検査時に発生する異物の転移及び蓄積を防止でき、接触抵抗を減少され、その結果、検査の信頼性を向上させることができる。

以上のように、本発明は、限定された例示的実施例及び図面を用いて説明されたが、本発明は、前記の例示的実施例に限定されるものではなく、本発明の属する分野における通常の知識を有する者であれば、上記の記載から様々な修正及び変形が可能である。

したがって、本発明の範囲は、説明された例示的実施例に限定して定められてはならず、後述する特許請求の範囲及びその均等物によって定められるべきである。

１０ カメラモジュールのコネクター
１２ 被検査接点
２０ ライン接触部
２２ Ｖ形端部
２２１ Ｖ形接触部
２２２ 第１接触ラインセット
２２３ 第２接触ラインセット
２２４，２２５ 第１及び第２陥没部
２２６ 凹み部
３０ プローブ
３２ バレル
３４ 第１プランジャー
３６ 第２プランジャー
３８ スプリング
４０，７０ 検査プローブ
５０，５０，８０ 検査ソケット

Claims (8)

1. 被検査体を検査するための検査プローブであって、
   相互に離隔して線形に延在している２個の接触ラインをそれぞれ有する第１接触ラインセット及び第２接触ラインセットを含み、前記第１接触ラインセットと前記第２接触ラインセットとがＶ状又はＵ状に配置されるライン接触部を含む検査プローブ。
2. 前記２個の接触ライン間の間隔には陥没部が設けられている、請求項１に記載の検査プローブ。
3. 前記陥没部の曲率は、前記接触ラインの下方延在方向に沿って減少する、請求項２に記載の検査プローブ。
4. 前記ライン接触部は、相互に離隔して線形に延在している２個の接触ラインを有する１以上の他の接触ラインセットを含む、請求項１に記載の検査プローブ。
5. 検査プローブの製造方法であって、
   円柱基材を準備する段階と、
   前記基材の一端部に長さ方向に凹溝を形成する段階と、
   前記一端部において前記基材の中心軸を含む所定の幅を残して平面カッティングする段階と、を含む、検査プローブの製造方法。
6. 前記凹溝は、円錐又は半球形である、請求項５に記載の検査プローブの製造方法。
7. 前記凹溝の頂点から長さ方向に孔を形成する段階をさらに含む、請求項５に記載の検査プローブの製造方法。
8. 被検査体を検査する検査ソケットであって、
   相互に離隔して線形に延在している２個の接触ラインをそれぞれ有する第１接触ラインセットと第２接触ラインセットとを含むライン接触部を含む検査プローブと、
   前記検査プローブを支持するプローブ支持体と、を含み、
   前記第１接触ラインセットと前記第２接触ラインセットとがＶ状又はＵ状に配置される検査ソケット。

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