KR101819191B1

KR101819191B1 - 컨택트 프로브

Info

Publication number: KR101819191B1
Application number: KR1020160091996A
Authority: KR
Inventors: 키요카즈 이케야; 양승은; 박은정
Original assignee: 주식회사 마이크로컨텍솔루션
Priority date: 2016-07-20
Filing date: 2016-07-20
Publication date: 2018-01-16

Abstract

본 발명은 컨택트 프로브에 관한 것으로서, 단자 사이의 접촉을 향상시키는 컨택트 프로브에 관한 것이다.

Description

컨택트 프로브{CONTACT PROBE}

테스트 소켓에 구비되는 커넥터는 각종 IC 칩 등과 전기적으로 연결되도록 컨택트를 구비한다. 이러한 컨택트는 스프링 컨택트와 플런저를 구비하여 전기 단자 사이에서 탄성 접촉되어 통전 및 신호를 전달하게 된다.

도 1 은 종래 기술에 따른 컨택트 프로브(A)의 일 예를 도시한 도면이다. 도 1 에는 상, 하 플런저(B, D), 배럴(C), 및 상부, 하부 플런저(B, D) 사이를 연결하며 배럴(C) 내에 구비되는 소정의 스프링 컨택트(E)를 갖는 컨택트 프로브(A)가 도시되어 있다.

이러한 컨택트 프로브의 경우, 접촉 대상물이 예컨대 BGA IC 의 솔더 볼인 경우, 보다 효과적인 접촉을 달성하기 위해 상기 상부 플런저의 상부 단부 형상이 소정의 크라운 형상을 가질 경우가 많다. 아울러, 하부 플런저는 기판의 패드 등에 접촉하므로 원추형인 경우가 많다.

그러나, 이러한 크라운 형상의 접촉 단부를 갖는 플런저를 갖는 컨택트 프로브의 경우, 크라운 형상이 마모됨에 따라서 접촉이 용이하게 달성되지 않는 경우가 많으며, 솔더 볼에 산화막 등이 형성되는 경우 산화막에 의한 통전 저하로 인해 신호 전달이 방해되는 경우가 많다. 또한, 부품 수가 많고 상하 길이가 연장되어 고주파 계측에 불리하며, 스프링 컨택트의 상하 이동 거리가 길어서 사용 수명이 짧은 단점 등을 갖는다.

공개특허 10-2011-0062289

본 발명의 목적은, 4 접점을 갖고 전기 단자에 대해 wiping 하면서 접촉하여, 전기 접촉에 유리하며, 고주파 계측에 사용 가능하고, 부품 수가 적어지며 수명이 연장되는 프로프 컨택트를 제공하는 데 그 목적이 있다.

본 발명의 또 다른 목적은, 스프링 컨택트로 구성된 프로브 컨택트로서, 스프링 컨택트의 하단이 센터에 위치하여 접촉이 신뢰성있게 달성되는 프로브 컨택트를 제공하는 데 그 목적이 있다.

상술한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 의한 컨택트 프로브는, 제1 컨택트; 제2 컨택트를 포함하며, 상기 제1 컨택트는, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔 사이에 내삽 공간이 형성되며, 상기 제2 컨택트는, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔 사이에 이격 공간이 형성되며, 상기 제2 컨택트가 상기 내삽 공간 내에 삽입되어 상기 제1 컨택트와 상기 제2 컨택트가 결합되되 상기 내삽 공간과 상기 이격 공간이 서로 연직 방향에 위치하게 결합되어, 상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔, 제2-1 컨택트 빔, 상기 제2-2 컨택트 빔은 상방향에서 볼 때 상기 이격 공간을 중심으로 하여 상, 하, 좌, 우의 4 방향에 위치하여 4 접점을 갖게 구성된다.

바람직하게는, 상기 제1 컨택트는, 하부에 상기 제1-1 컨택트 빔의 하단과 상기 제1-2 컨택트 빔의 하단을 연결하는 제1 연결단을 가지며, 상기 제2 컨택트는, 하부에 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔을 연결하는 제2 연결단을 갖되, 상기 제2 연결단의 하부에는 상방향으로 소정 깊이만큼 함몰된 내삽홈이 형성되어, 상기 제1 연결단이 상기 내삽홈 내에 삽입된다.

바람직하게는, 상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔, 제2-1 컨택트 빔, 및 상기 제2-2 컨택트 빔의 상단은, 소정의 중심각을 가지며 내측 방향으로 경사지는 슬로프를 갖는다.

바람직하게는, 상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔의 상부에는, 서로 마주보는 위치에 서로 마주보는 방향으로 돌출되는 돌출 앵커부가 구비되며, 상기 제2-1 컨택트 빔, 제2-2 컨택트 빔의 상부에는, 서로 마주보는 위치에 서로 마주보는 방향으로 함몰된 함몰 앵커부가 구비되고, 상기 돌출 앵커부와 상기 함몰 앵커부는 동일 수평선상에 위치하여 상기 돌출 앵커부의 적어도 일 부분이 상기 함몰 앵커부 내에 내삽된다.

바람직하게는, 상기 돌출 앵커부는 상하 방향으로 소정의 너비를 갖고, 상기 함몰 앵커부는 상하 방향으로 소정의 폭을 갖되, 상기 돌출 앵커부의 너비와 상기 함몰 앵커부의 폭은 서로 대응되어 상기 돌출 앵커부가 상기 함몰 앵커부 내에 적어도 일부분 끼이게 구성된다.

바람직하게는, 상기 내삽 공간과 상기 이격 공간은, 적어도 일 부분, 하부보다 상부의 폭이 좁게 구성된다.

바람직하게는, 전기 전도성 및 탄성을 갖는 스프링 컨택트; 을 더 포함하며, 상기 제1 컨택트의 하단에는 하방향으로 돌출되는 삽입 빔이 마련되고, 상기 삽입 빔이 상기 스프링 컨택트 내에 삽입되게 구성된다.

바람직하게는, 상기 스프링 컨택트의 하단은, 스프링 컨택트의 내경 방향으로 만곡되는 제1 벤딩부, 상기 스프링 컨택트의 직경 중심에서 직하 방향으로 만곡되는 제2 벤딩부, 및 상방향으로 만곡되어 하단부에 만곡면이 형성되도록 하는 제3 벤딩부가 형성된다.

바람직하게는, 바텀 컨택부;를 더 포함하며, 상기 바텀 컨택부는 상방향으로 돌출된 상단 빔, 하방향으로 돌출된 하단 빔, 및 상기 상단 빔과 상기 하단 빔 사이에 마련되며 측방향으로 소정 폭 만큼 확장된 지지부;를 갖고, 상기 상단 빔이 상기 스프링 컨택트의 하부에 삽입되게 구성된다.

본 발명에 따른 컨택트 프로브를 포함하는 소켓은, 상기 컨택트 프로브가 수납되는 실장 홀이 형성된 패드를 포함하며, 상기 패드는 적어도 일부가 탄성을 갖는 재질을 포함하여, 상기 패드는 상기 컨택트 프로브의 상기 제1 컨택트의 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔 사이, 및 상기 제2 컨택트의 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔 사이가 벌어질 때 내측방향으로 탄성을 가하게 구성된다.

본 발명에 따른 컨택트 프로브에 의하면, 4 접점을 갖고 전기 단자에 대해 wiping 하면서 접촉하여, 전기 접촉에 유리하며, 고주파 계측에 사용 가능하고, 부품 수가 적어지며 소켓의 수명이 연장될 수 있다.

아울러, 본 발명에 따른 컨택트 프로브에 의하면, 스프링 컨택트로 구성되되 하단이 센터에 위치하여 하부 단자가 다소 시프팅되어도 충분한 접촉을 유지할 수 있다.

또한, 컨택트 프로브가 수용되는 소켓의 패드는 탄성 재질로 구성되어 컨택트 프로브에 대해 내측으로 탄성을 가하여 전기 단자에 대한 밀착이 더욱 효과적으로 달성될 수 있다.

도 1 은 종래 기술에 따른 컨택트 프로브를 나타낸 도면이다.
도 2 는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브를 나타낸 도면이다.
도 3 은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브의 제1 컨택트, 및 제2 컨택트를 각각 나타낸 도면이다.
도 4 는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브의 제1 컨택트와 제2 컨택트의 결합 구조, 및 컨택트 프로브를 위에서 바라본 것을 나타낸 도면이다.
도 5 는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브가 실장된 소켓의 형상을 나타낸 도면이다.
도 6 은 IC 칩의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 7 은 도 5 의 T-T 단면을 나타낸 도면이다.
도 8 은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브가 실장된 소켓에 IC 칩 및 PCB 가 접촉한 형상을 나타낸 도면이다.
도 9 는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브가 IC 칩의 구형의 전기 단자와 접촉하는 형태를 나타낸 도면이다.
도 10 은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브가 다른 실시 형태의 소켓에 실장된 형상을 나타낸 도면이다.
도 11 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브의 구조를 나타낸 도면으로, 제1 컨택트와 제2 컨택트, 및 스프링 컨택트가 서로 결합된 구조를 나타낸 도면이다.
도 12 는 도 7 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브가 실장되는 소켓의 형상을 나타낸 도면이다.
도 13 은 도 12 의 (a)의 A-A 단면을 나타낸 도면이다.
도 14 은 도 12 의 일 부분을 확대한 도면이다.
도 15 는 도 12 의 A 부분의 확대 도면이다.
도 16 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브를 위에서 바라본 도면이다.
도 17 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브에 포함된 스프링 컨택트를 도시한 도면이다.
도 18 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브의 변형 형태를 나타낸 도면이다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 설명한다.

도 2 는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브(1)를 나타낸 도면이고, 도 3 은 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브(1)의 제1 컨택트(100), 및 제2 컨택트(200)를 각각 나타낸 도면이며, 도 4 는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브(1)의 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)의 결합 구조를 나타낸 도면이다.

본 발명에 따른 컨택트 프로브(1)는 소켓 구조물에 사용되는 컨택트 프로브(1)로서, 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)를 포함하여 구성된다.

제1 컨택트(100)는 전기 전도성 및 탄성을 갖는 재질로 구성되되, 제1-1 컨택트 빔(110), 제1-2 컨택트 빔(120), 상기 제1-1 컨택트 빔(110)과 상기 제1-2 컨택트 빔(120) 사이의 내삽 공간(130), 및 상기 제1-1 컨택트 빔(110)과 상기 제1-2 컨택트 빔(120)의 하단을 연결하는 제1 연결단(140)을 포함하여 구성된다.

제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)은 각각 상하 방향으로 소정 길이 연장되는 빔 형태로 구성된다. 상기 제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)은 서로 수평 방향으로 이격되어 사이에 내삽 공간(130)을 갖게 구성된다. 즉, 제1 컨택트(100)는 하방향으로 함몰된 내삽 공간(130)에 의해서 전체적으로 U 자 형상을 갖게 구성된다.

바람직하게는, 상기 제1-1 컨택트 빔(110)과 상기 제1-2 컨택트 빔(120)의 상단에는 상방향으로 갈수록 폭이 좁아지되 서로에 대한 간격이 넓어지도록 소정의 슬로프(102)가 형성된다. 즉, 도 3 에 도시된 바와 같이, 상단부의 서로 마주보는 면에 슬로프(102)가 형성된다. 이때, 슬로프(102)는 직선 경사이거나, 또는 곡률이 형성되거나, 또는 도 3 에 도시된 바와 같이 상단 끝부분에는 작은 폭으로 완만한 제1 경사(104)가 형성되고 이어서 급경사를 갖는 제2 경사(106)가 형성될 수도 있다.

또한, 도시되지는 아니하였으나, 일 예에 따르면, 상기 내삽 공간(130)은 적어도 일부가 상방향으로 폭이 좁아지도록 구성될 수 있다. 즉, 하부 공간보다 상부 공간의 수평 방향 폭이 좁아서, 상기 제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)의 상부가 하부보다 더 인접하게 구성될 수 있다. 물론, 서로 평행하게 나란한 실시 형태도 가능하다.

제1 연결단(140)은 제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)의 하단을 서로 연결한다. 상기 제1 연결단(140)은 전체적으로 사각형 구조물로 구성될 수 있다.

바람직하게는, 상기 제1 연결단(140)의 하부에는 하방향으로 돌출된 접촉 돌출부(142)가 마련될 수 있다. 접촉 돌출부(142)는 하방향으로 돌출되어 외부에 마련된 소정의 단자부에 접촉하여 전기적 연결을 달성할 수 있다.

이때, 바람직하게는, 상기 제1 컨택트(100) 빔의 하부에는 외측 방향으로 폭이 확장된 제1 보강부(150)가 마련될 수 있다. 예컨대, 제1 보강부(150)는 도 3 에 도시된 바와 같이, 제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)의 하단 외측 및 상기 제1 보강부(150)의 외측에 걸쳐서 마련되며 외측 방향으로 돌출되어 폭이 확장된 부분으로 구성될 수 있다. 따라서, 제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)이 서로 외측 방향으로 벌어질 때 강한 형태 복원력이 작용하며 반복적인 변형에도 불구하고 손상이 방지되도록 할 수 있다.

상기 제1-1 컨택트 빔(110), 제1-2 컨택트 빔(120), 상기 내삽 공간(130), 및 제1 연결단(140)은 전체적으로 일 평면상에 마련될 수 있다. 즉, 소정의 두께를 갖는 플레이트를 상기 제1 컨택트(100)의 형상으로 절단, 또는 프레싱 등의 가공 방법으로 가공하여 상기 제1-1 컨택트 빔(110), 제1-2 컨택트 빔(120), 상기 내삽 공간(130), 및 제1 연결단(140)이 형성되도록 할 수 있다. 이에 따라서 상기 제1-1 컨택트 빔(110), 제1-2 컨택트 빔(120), 및 제1 연결단(140)은 일체로 구성될 수 있다.

제2 컨택트(200)는 전기 전도성 및 탄성을 갖는 재질로 구성되되, 제2-1 컨택트 빔(210), 제2-2 컨택트 빔(220), 상기 제2-1 컨택트 빔(210)과 상기 제2-2 컨택트 빔(220) 사이의 내삽 공간(130), 및 상기 제2-1 컨택트 빔(210)과 상기 제2-2 컨택트 빔(220)의 하단을 연결하는 제2 연결단(240)을 포함하여 구성된다.

제2-1 컨택트 빔(210)과 제2-2 컨택트 빔(220)은 각각 상하 방향으로 소정 길이 연장되는 빔 형태로 구성된다. 상기 제2-1 컨택트 빔(210)과 제2-2 컨택트 빔(220)은 서로 수평 방향으로 이격되어 사이에 이격 공간(230)을 갖게 구성된다.

바람직하게는, 상기 제2-1 컨택트 빔(210)과 상기 제2-2 컨택트 빔(220)의 상단에는 상방향으로 갈수록 폭이 좁아지도록 소정의 슬로프(202)가 형성된다. 즉, 상기 제1 컨택트(100)에서 설명한 것과 유사하게, 상기 제2-1 컨택트 빔(210)과 상기 제2-2 컨택트 빔(220)의 상단에는 서로 마주보는 면에 상방향으로 갈수록 폭이 좁아지되 서로에 대한 간격이 넓어지도록 소정의 슬로프(202)가 형성된다. 위에서 설명한 바와 같이, 제2 컨택트(200)에 형성된 슬로프(202)도 직선 경사이거나, 또는 곡률이 형성되거나, 또는 도 3 에 도시된 바와 같이 상단 끝부분에는 작은 폭으로 완만한 제1 경사(204)가 형성되고 이어서 급경사를 갖는 제2 경사(206)가 형성된 형태를 가질 수 있다.

또한, 도시되지는 아니하였으나, 일 예에 따르면, 상기 내삽 공간(130)은 적어도 일부가 상방향으로 폭이 좁아지도록 구성될 수 있다. 즉, 하부 공간보다 상부 공간의 수평 방향 폭이 좁아서, 상기 제2-1 컨택트 빔(210)과 제2-2 컨택트 빔(220)의 상부가 하부보다 더 인접하게 구성될 수 있다.

제2 연결단(240)은 제2-1 컨택트 빔(210)과 제2-2 컨택트 빔(220)의 하단을 서로 연결한다.

바람직하게는, 상기 제2 연결단(240)의 하단에는 상방향으로 소정 깊이만큼 함몰된 내삽 홈(242)이 형성된다. 따라서, 제2 연결단(240)의 하단은 내삽 홈(242)을 중심으로 양측으로 서로 이격된 제1 빔(244)과 제2 빔(246)을 포함할 수 있다. 이때, 바람직하게는 상기 내삽 홈(242)의 측방향 폭은 상기 제1 컨택트(100) 빔의 두께와 대응될 수 있다.

상기와 같은 구성을 가짐에 따라서, 제2 컨택트(200)는 상부에 형성된 이격 공간(230)과, 하부에 형성된 내삽 홈(242)으로 인해서 전체적으로 H 자 형상을 갖게 구성된다.

이때, 바람직하게는, 상기 제2 컨택트(200) 빔의 하부에는 외측 방향으로 폭이 확장된 제2 보강부(250)가 마련될 수 있다. 예컨대, 제2 보강부(250)는 도 3 에 도시된 바와 같이, 상기 제2 연결단(240)의 외측에 마련되며 외측 방향으로 돌출되어 폭이 확장된 부분으로 구성될 수 있다. 따라서, 제2-1 컨택트 빔(210)과 제2-2 컨택트 빔(220)이 서로 외측 방향으로 벌어질 때 강한 형태 복원력이 작용하며 반복적인 변형에도 불구하고 손상이 방지되도록 할 수 있다.

상기 제2-1 컨택트 빔(210), 제2-2 컨택트 빔(220), 상기 내삽 공간(130), 및 제2 연결단(240)은 전체적으로 일 평면상에 마련될 수 있다. 즉, 소정의 두께를 갖는 플레이트를 상기 제2 컨택트(200)의 형상으로 절단, 또는 프레싱 등의 가공 방법으로 가공하여 상기 제2-1 컨택트 빔(210), 제2-2 컨택트 빔(220), 상기 내삽 공간(130), 및 제2 연결단(240)이 형성되도록 할 수 있다. 이에 따라서 상기 제2-1 컨택트 빔(210), 제2-2 컨택트 빔(220), 및 제2 연결단(240)은 일체로 구성될 수 있다.

도 4 의 (a) 는 상기 제1-1 컨택트와 제1-2 컨택트가 서로 결합되는 형태를 나타낸 도면이다.

도 4 의 (a) 를 참조하면, 상기 제2 컨택트(200)가 상기 내삽 공간(130) 내에 삽입되어 상기 제1 컨택트(100)와 상기 제2 컨택트(200)가 결합되되, 상기 제2 연결단(240)의 하부에 형성된 내삽 홈(242) 내에 제1 연결단(140)이 삽입되어 서로 맞물리는 구성을 가짐을 알 수 있다.

이와 같은 연결 구조를 가짐에 따라서, 상기 제1 컨택트(100)와 상기 제2 컨택트(200)가 서로 결합되면, 상기 내삽 공간(130)과 상기 이격 공간(230)이 서로 연직 방향에 위치하게 결합된다. 따라서, 도 4 의 (b) 와 같이 상기 제1-1 컨택트 빔(110), 제1-2 컨택트 빔(120), 제2-1 컨택트 빔(210), 상기 제2-2 컨택트 빔(220)은 상방향에서 볼 때 상기 이격 공간(230)을 중심으로 하여 상, 하, 좌, 우의 4 방향에 위치하여 4 접점을 갖게 구성된다.

도 5 는 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브(1)가 실장된 소켓(10)의 형상을 나타낸 도면이고, 도 6 은 IC 칩(A)의 일 예를 나타낸 도면이며, 도 7 은 도 5 의 T-T 단면을 나타낸 도면이고, 도 8 은 본 발명의 제1 실시 형태에 따라서 컨택트 프로브(1)가 실장된 소켓(10)에 IC 칩(A) 및 PCB(C) 가 접촉한 형상을 나타낸 도면이며, 도 9 는 본 발명의 제1 실시예에 따른 컨택트 프로브(1)가 IC 칩(A)의 구형의 전기 단자(B)와 접촉하는 형태를 순차적으로 나타낸 도면이고, 도 10 은 본 발명에 따른 컨택트 프로브(1)가 다른 실시 형태의 소켓에 실장된 형상을 나타낸 도면이다.

도 5 와 같이, 본 발명의 제1 실시 형태에 따른 컨택트 프로브(1)는 소켓(10) 내에 실장되어 소정의 배치를 가질 수 있다. 또한, 도 6 과 같이, IC 칩(A)은 소정의 바디와, 상기 바디에 배치된 구형의 전기 단자(B)를 포함하여 구성될 수 있다. 도 5 와 도 6 을 참조하면, IC 칩(A)의 구형의 전기 단자(B)의 배치는, 소켓(10)에 실장된 컨택트 프로브(1)의 배치와 대응될 수 있다.

도 7 및 도 8 을 참조하면, 소켓(10)은 소정의 두께를 가지며 상부에 배치되는 상부 패드(12)와 하부에 배치되는 하부 패드(14)를 포함하여 구성되며, 소켓(10)에는 컨택트 프로브(1)가 실장될 수 있는 실장 홀(20)이 형성될 수 있다. 이때, 실장 홀(20)은 상부 패드(12)에 형성된 상부 홀(22)과 하부 패드(14)에 형성된 하부 홀(24)을 포함하여 구성될 수 있다. 아울러, 바람직하게는, 상부 패드(12)는 소정의 탄성을 갖는 실리콘 재질로 구성될 수 있다. 한편, 도 10 과 같이 소켓(10)이 하나의 패드로 구성되며 상기 패드를 관통하는 실장 홀(20)이 형성되되, 소켓(10)을 구성하는 패드는 전체적으로 탄성을 갖는 실리콘 재질로 구성되는 실시 형태도 가능하다.

도 8 과 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 컨택트 프로브(1)가 상부에 위치한 IC 칩(A) 및 하부에 위치한 PCB(C) 와 전기적으로 연결되어, 컨택트 프로브(1)의 상단이 IC 칩(A)의 구형의 전기 단자(B)와 연결되고, 하단이 PCB(C) 의 전기 단자(D)와 연결되면, 상부의 IC 칩(A)과 하부의 PCB(C) 사이의 통전을 수행할 수 있다.

이때, 바람직하게는, 구형의 전기 단자(B)가 컨택트 프로브(1)의 상부에 내삽되었을 때, 구형의 전기 단자(B)가 내삽됨으로써 확장된 컨택트 프로브(1)의 제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)의 측방향 폭(F) 및 제2-1 컨택트 빔(210)과 제2-2 컨택트 빔(220)의 측방향 폭(F)은 상부 패드(12)에 형성된 상부 홀(22)의 폭과 같거나 또는 그보다 작을 수 있다. 따라서, 구형의 전기 단자(B)가 내삽될 때, 컨택트 프로브(1)의 제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)의 측방향 내측 및 제2-1 컨택트 빔(210)과 제2-2 컨택트 빔(220)의 측방향 내측으로 탄성력을 가할 수 있다.

도 9 를 참조하여, 본 발명의 제1 실시예에 따른 컨택트 프로브(1)가 소켓 내에 수납되어 외부 전기 단자와 접촉하는 형태를 순차적으로 설명하면 아래와 같다. 먼저, (a) 와 같이 아래에서 컨택트 프로브(1)가 구형의 외부 전기 단자(B)에 접근하며, (b) 와 같이 컨택트 프로브(1)의 단부가 접하게 된다. 이어서, (c) 와 같이 컨택트 프로브(1)의 단부가 접한 상태에서 더욱 위로 상승하여 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)의 슬로프(102, 202)가 구형의 외부 전기 단자(B)의 외면을 긁으며(WIPING) 접하게 된다.

본 발명의 제1 실시예에 따른 컨택트 프로브(1)의 효과는 아래와 같다.

위에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 제1 실시예에 따른 컨택트 프로브(1)는, 4 접점을 가짐에 따라서, 구형의 외부 전기 단자(B)와 접촉할 때, 4 방향에서 접하게 된다. 따라서, 전기 접촉이 더욱 안정적으로 이루어지며, 신호 전달 효과가 향상될 수 있다.

아울러, 구형의 외부 전기 단자를 긁으며 미끄러지면서(WIPING) 접하게 되므로, 구형의 외부 전기 단자에 산화막, 또는 오염 등이 있는 경우에도 이를 긁어 제거하며 접촉하여 이러한 산화막, 오염 등으로 인한 전기 접촉 저하가 발생하지 않게 된다. 또한, 이와 같은 제거 효과에 의해서 구형의 외부 전기 단자에 대한 별도의 클리닝이 필요하지 않게 된다.

또한, 이러한 효과는 상기 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)의 하단 외측에 각각 마련된 제1 보강부(150) 및 제2 보강부(250)에 의한 형태 복원력의 보강, 상단에 슬로프가 형성된 구성, 상기 내삽 공간(130)과 상기 이격 공간(230)은 상방향으로 폭이 좁아지는 구성 등에 의해서 더욱 효과적으로 달성될 수 있다.

즉, 먼저 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)의 상단에 형성된 슬로프는 상기와 같은 WIPING 효과를 더욱 확대시킬 수 있다. 특히, 도 3 및 도 9 에 도시된 바와 같이, 2 개의 경사가 마련된 슬로프가 구비될 경우, 2 개의 경사 사이의 각진 부분이 구형의 외부 전기 단자를 더욱 효과적으로 WIPING 하게 됨에 따라서 상기와 같은 효과가 더욱 확대된다. 또한, 상기 제1 보강부(150)와 제2 보강부(250)는 형태 복원력을 증강시켜서 더욱 강한 힘으로 WIPING 할 수 있게 기여하며, 내삽 공간(130)과 이격 공간(230) 형상에 따라서 이러한 WIPING 효과가 더욱 증대될 수 있다.

뿐만 아니라, 컨택트 프로브(1)가 구형의 전기 단자(B)에 접촉하여 외측 방향으로 밀려 확장되게 될 때, 외측 둘레에 마련된 탄성을 갖는 실리콘 재질의 소켓 부분이 내측으로 컨택트 프로브(1)에 탄성을 가하여 내측으로 오므려지는 힘을 가하므로, 컨택트 프로브(1)와 구형의 외부 전기 단자 사이의 밀착 및 WIPING 효과가 보다 증대될 수 있다.

아울러, 본 발명에 따른 컨택트 프로브(1)는, 별도의 배럴(BARREL), 스프링 컨택트(300) 등의 부품이 필요하지 아니하므로, 전체 길이를 짧게 하고, 부품수가 절감되어 제조 공정상 더욱 유리하며 제조 단가가 절감될 수 있다.

또한, 전체적인 통전 거리가 단축되므로 고주파 계측에 더욱 유리하게 사용될 수 있다. 아울러, 구조적으로 짧은 길이로 인해 본 발명에 따른 컨택트 프로브(1)가 실장되는 소켓에서, 소켓에 사용되는 소켓 스프링 등의 상하 변위 거리가 단축되어 소켓의 사용 수명 연장에도 기여할 수 있다.

도 11 은 본 발명의 제2 실시예에 따른 컨택트 프로브의 결합 구조를 도시한 도면이고, 도 12 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브가 실장되는 소켓의 일 형상을 나타낸 도면이며, 도 13 은 도 12 의 A-A 단면을 나타낸 도면이고, 도 14 은 도 12 의 일 부분을 확대한 도면이며, 도 15 는 도 12 의 A 부분의 확대 도면이고, 도 16 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브를 위에서 바라본 도면이며, 도 17 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브에 포함된 스프링 컨택트를 도시한 도면이고, 도 18 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브의 변형 형태를 나타낸 도면이다.

먼저, 도 11, 및 도 14 내지 도 17 을 참조하여, 본 발명의 제2 실시예에 따른 컨택트 프로브(2)의 구성을 설명하면, 본 발명의 제2 실시예에 따른 컨택트 프로브(2)는, 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)에 각각 돌출 앵커부(160)와 함몰 앵커부(260)가 형성될 수 있다. 아울러, 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200) 외에, 스프링 컨택트(300)를 더 포함하여 구성될 수 있다.

제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)에 대해서는 제1 실시예에 대한 설명과 대체로 동일하다. 즉, 제1-1 컨택트 빔(110), 제1-2 컨택트 빔(120), 제2-1 컨택트 빔(210), 제2-2 컨택트 빔(220)이 마련되고 서로 내삽되어 4 접점이 형성되는 구성을 가지며, 위에서 설명한 바와 상통한다. 따라서, 여기서는 상이한 구성에 대해서만 설명한다.

먼저, 상기 제1-1 컨택트 빔(110), 제1-2 컨택트 빔(120)의 상부에는, 서로 마주보는 위치에 서로 마주보는 방향으로 돌출되는 돌출 앵커부(160)가 구비된다.

상기 돌출 앵커부(160)는 상하 방향으로 소정의 너비를 갖고 수평 방향으로 소정의 높이를 갖는 장방형의 육면체 형상을 가질 수 있다. 상기 돌출 앵커부(160)가 형성되는 위치는 상기 제1-1 컨택트 빔(110) 및 상기 제1-2 컨택트 빔(120)의 상부이되, 상기 슬로프(102)가 형성된 위치 아래쪽일 수 있다.

아울러, 상기 제2-1 컨택트 빔(210), 제2-2 컨택트 빔(220)의 상부에는, 서로 마주보는 위치에 서로 마주보는 방향으로 함몰된 함몰 앵커부(260)가 구비된다.

함몰 앵커부(260)는 상하 방향으로 소정의 폭을 갖고 수평 방향으로 소정의 깊이를 가질 수 있다. 이때, 함몰 앵커부(260)의 구성은, 위, 아래에 각각 소정의 돌출부로 구성된 상부 돌기(272), 및 하부 돌기(274)가 마련되며 상기 상부 돌기(272)와 하부 돌기(274) 사이의 공간이 상기 함몰 앵커부(260)를 구성하는 형태로 이루어질 수 있다.

이에 따라서, 도 15 에 도시된 바와 같이, 상기 돌출 앵커부(160)와 상기 함몰 앵커부(260)는 동일 수평선상에 위치하여 상기 돌출 앵커부(160)의 적어도 일 부분이 상기 함몰 앵커부(260) 내에 내삽된다. 상기 돌출 앵커부(160)의 너비와 상기 함몰 앵커부(260)의 폭은 서로 대응되어 상기 돌출 앵커부(160)가 상기 함몰 앵커부(260) 내에 적어도 일부분 삽입되어 끼이는 구성을 가질 수 있다.

이와 같이 돌출 앵커부(160)와 함몰 앵커부(260)가 마련됨에 따라서, 상기 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)가 서로 삽입되어 결합된 상태를 유지할 수 있다. 즉, 돌출 앵커부(160)가 함몰 앵커부(260) 내에 일부 내삽되어 걸려짐에 따라서 제1 컨택트(100)와 제2 컨택트(200)가 서로 불필요하게 이탈되는 것이 방지되고 결합된 상태를 유지할 수 있다.

한편, 제1 컨택트(100)의 하단에는 하방향으로 소정 길이만큼 연장되어 돌출되는 삽입 빔(170)이 마련될 수 있다. 상기 삽입 빔(170)은 소정의 굵기와 길이를 갖는 빔으로 구성되며, 후술하는 스프링 컨택트(300)에 삽입될 수 있다.

도 17 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브에 포함된 스프링 컨택트(300)를 도시한 도면이다. 구체적으로, (a), (b) 는 각각 다른 방향에서 측면을 나타내며, (c) 는 아래에서 바라본 형태를 나타낸다.

스프링 컨택트(300)는 스프링 형태로 구성되며, 상기 삽입 빔(170)이 상부에 삽입되게 구성되어 상기 제1 컨택트(100), 제2 컨택트(200)와 결합될 수 있다.

스프링 컨택트(300)는 전기 전도성 및 탄성을 갖는 재질로 구성된다.

상기 스프링 컨택트(300)의 하단에는 상기 스프링 컨택트(300)의 내경 방향으로 만곡되는 제1 벤딩부(310), 상기 스프링 컨택트(300)의 직경 중심에서 직하 방향으로 만곡되는 제2 벤딩부(320), 및 상방향으로 만곡되어 하단부에 만곡면이 형성되도록 하는 제3 벤딩부(330)가 형성된다.

제1 벤딩부(310)와 제2 벤딩부(320) 사이에는 큰 곡률을 가지며 내경 방향으로 벤딩되도록 연장되는 수평 라인(342)이 구비되며, 상기 제2 벤딩부(320)와 제3 벤딩부(330) 사이에는 스프링 컨택트(300)의 직경 중심 위치에서 직하 방향으로 연장되는 하방 라인(344)이 구비된다. 아울러, 제3 벤딩부(330)에 의해서 상기 스프링 컨택트(300)의 하부 단부는 연직 상방향으로 재차 연장되어 상방 라인(346)이 형성되며, 제3 벤딩부(330)의 하단에는 둥근 만곡면이 형성되게 된다.

이러한 스프링 컨택트(300)가 마련됨에 따라서, 상하 방향으로 탄성력이 작용하여 전기 접촉이 더욱 용이하게 이루어질 수 있다. 또한, 상기 스프링 컨택트(300)는 스프링 컨택트(300)의 직경 중심 위치에 형성된 만곡면을 통해 외부의 전기 단자와 접촉하므로, 외부의 전기 단자가 시프팅 되거나 또는 위치 이탈하는 경우에도 중심에 위치한 만곡면에 의해서 충분한 여유를 가지고 접촉을 유지할 수 있다.

도 12 와 같이, 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브(2)는 소켓(30) 내에 실장되어 소정의 배치를 가질 수 있다. 여기서, 도 12 의 (a)는 소켓(30)을 상방향에서 본 도면이고, (b)는 측방향에서 본 도면이다. 상기 소켓(30)에 실장된 컨택트 프로브(2)의 배치 또한 IC 칩(A)의 구형의 전기 단자(B)의 배치와 대응될 수 있다.

소켓(30)은 하부의 바디(40)와, 바디(40) 상의 플로팅 패드(50)를 포함하여 구성될 수 있다. 바디(40)와 플로팅 패드(50)에는 각각 컨택트 프로브(2)가 수용될 수 있도록 상하 방향으로 관통되는 수용 홀(42, 52)이 형성될 수 있다.

플로팅 패드(50)는 바디(40) 상에 소정의 간격을 갖고 이격되어 배치되며, 탄성 스프링(60)이 상기 플로팅 패드(50)와 바디(40) 사이에 배치되어 서로를 탄성 지지할 수 있다.

상기와 같이 플로팅 패드(50)가 구비되는 소켓(30)에 컨택트 프로브(2)가 실장되고, IC 칩(A) 및 PCB(C)에 연결됨에 따라서, 컨택트 프로브(2)의 상하 방향 탄성이 보강될 수 있다. 즉. 플로팅 패드(50)와 바디(40) 사이의 탄성 스프링(60)이 상하 방향으로 탄성력을 가함에 따라서, 컨택트 프로브(2)에 포함된 스프링 컨택트(300)가 상하 방향으로 가압될 때 지나친 가압력을 받아 변형되거나 손상되는 것을 방지할 수 있다.

한편, 제1 실시 형태의 상부 패드(12) 및 상부 홀(22)에 관한 설명과 유사하게, 플로팅 패드(50)가 탄성을 갖는 재질로 구성되어, 구형의 전기 단자(B)가 컨택트 프로브(2)의 상부에 내삽되었을 때, 플로팅 패드(50)가 컨택트 프로브(2)의 제1-1 컨택트 빔(110)과 제1-2 컨택트 빔(120)의 측방향 내측 및 제2-1 컨택트 빔(210)과 제2-2 컨택트 빔(220)의 측방향 내측으로 탄성력을 가하는 것도 가능하다.

도 18 은 본 발명의 제2 실시 형태에 따른 컨택트 프로브(2) 하부의 변형례를 나타낸 도면이다. 이와 같은 변형례에서는, 스프링 컨택트(300)의 하단에 위와 같은 벤딩부가 마련되지 아니한 대신에, 바텀 컨택부(400)가 더 마련된다.

바텀 컨택부(400)는 상방향으로 돌출된 상단 빔(410), 하방향으로 돌출된 하단 빔(420), 및 상기 상단 빔(410)과 하단 빔(420) 사이에 마련되며 측방향으로 소정의 폭 만큼 확장된 지지부(430)를 구비하여 구성된다.

상단 빔(410)은 소정의 길이를 갖고 상방향으로 연장되며, 상기 스프링 컨택트(300)의 하부에 내삽된다. 지지부(420)는 상기 상단 빔(410)으로부터 외측으로 돌출되며 확장된 폭을 가져서 상기 스프링 컨택트(300)의 하단을 지지한다. 하단 빔(430)은 하방향으로 돌출되어 아래에 위치한 외부 전기 단자와 접촉될 수 있다.

이와 같은 바텀 컨택부(400)가 스프링 컨택트(300)의 하부에 배치됨에 따라서, 스프링 컨택트(300)에 대한 별도의 가공이 없이 하부에 위치한 외부 전기 단자와 컨택트 프로브가 용이하게 접촉할 수 있다.

이상에서는 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어서는 안될 것이다.

10: 소켓
12: 상부 패드
14: 하부 패드
20: 실장 홀
22: 상부 홀
24: 하부 홀
30: 소켓
40: 바디
42: 수용 홀
50: 플로팅 패드
52: 수용 홀
100: 제1 컨택트
102: 슬로프
104: 제1 경사
106: 제2 경사
110: 제1-1 컨택트 빔
120: 제1-2 컨택트 빔
130: 내삽 공간
140: 제1 연결단
142: 접촉 돌출부
150: 제1 보강부
160: 돌출 앵커부
170: 삽입 빔
200: 제2 컨택트
202: 슬로프
204: 제1 경사
206: 제2 경사
210: 제2-1 컨택트 빔
220: 제2-2 컨택트 빔
230: 이격 공간
240: 제2 연결단
242: 내삽 홈
244 : 제1 빔
246: 제2 빔
250: 제2 보강부
260: 함몰 앵커부
272: 상부 돌기
274: 하부 돌기
300: 스프링 컨택트
310: 제1 벤딩부
320: 제2 벤딩부
330: 제3 벤딩부
342: 수평 라인
344: 하방 라인
346: 상방 라인
400: 바텀 컨택부
410: 상단 빔
420: 지지부
430: 하단 빔

Claims

컨택트 프로브에 있어서,
제1 컨택트,
제2 컨택트를 포함하며,
상기 제1 컨택트는
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔 사이에 내삽 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트는,
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔 사이에 이격 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트가 상기 내삽 공간 내에 삽입되어 상기 제1 컨택트와 상기 제2 컨택트가 결합되되 상기 내삽 공간과 상기 이격 공간이 서로 연직 방향에 위치하게 결합되어,
상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔, 제2-1 컨택트 빔, 상기 제2-2 컨택트 빔은 상방향에서 볼 때 상기 이격 공간을 중심으로 하여 상, 하, 좌, 우의 4 방향에 위치하여 4 접점을 갖고,
상기 제1 컨택트는,
하부에 상기 제1-1 컨택트 빔의 하단과 상기 제1-2 컨택트 빔의 하단을 연결하는 제1 연결단을 가지며,
상기 제2 컨택트는,
하부에 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔을 연결하는 제2 연결단을 갖되,
상기 제2 연결단의 하부에는 상방향으로 소정 깊이만큼 함몰된 내삽홈이 형성되어,
상기 제1 연결단이 상기 내삽홈 내에 삽입되는 컨택트 프로브.
삭제
제1항에 있어서,
상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔, 제2-1 컨택트 빔, 및 상기 제2-2 컨택트 빔의 상단은,
소정의 중심각을 가지며 내측 방향으로 경사지는 슬로프를 갖는 컨택트 프로브.
컨택트 프로브에 있어서,
제1 컨택트,
제2 컨택트를 포함하며,
상기 제1 컨택트는
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔 사이에 내삽 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트는,
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔 사이에 이격 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트가 상기 내삽 공간 내에 삽입되어 상기 제1 컨택트와 상기 제2 컨택트가 결합되되 상기 내삽 공간과 상기 이격 공간이 서로 연직 방향에 위치하게 결합되어,
상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔, 제2-1 컨택트 빔, 상기 제2-2 컨택트 빔은 상방향에서 볼 때 상기 이격 공간을 중심으로 하여 상, 하, 좌, 우의 4 방향에 위치하여 4 접점을 갖고,
상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔의 상부에는,
서로 마주보는 위치에 서로 마주보는 방향으로 돌출되는 돌출 앵커부가 구비되며,
상기 제2-1 컨택트 빔, 제2-2 컨택트 빔의 상부에는,
서로 마주보는 위치에 서로 마주보는 방향으로 함몰된 함몰 앵커부가 구비되고,
상기 돌출 앵커부와 상기 함몰 앵커부는 동일 수평선상에 위치하여 상기 돌출 앵커부의 적어도 일 부분이 상기 함몰 앵커부 내에 내삽되는 컨택트 프로브.
제4 항에 있어서,
상기 돌출 앵커부는 상하 방향으로 소정의 너비를 갖고, 상기 함몰 앵커부는 상하 방향으로 소정의 폭을 갖되, 상기 돌출 앵커부의 너비와 상기 함몰 앵커부의 폭은 서로 대응되어 상기 돌출 앵커부가 상기 함몰 앵커부 내에 적어도 일부분 끼이는 컨택트 프로브.
제1 항에 있어서,
상기 내삽 공간과 상기 이격 공간은,
적어도 일 부분, 하부보다 상부의 폭이 좁게 구성되는 컨택트 프로브.
제1 항에 있어서,
전기 전도성 및 탄성을 갖는 스프링 컨택트; 를 더 포함하며,
상기 제1 컨택트의 하단에는 하방향으로 돌출되는 삽입 빔이 마련되고,
상기 삽입 빔이 상기 스프링 컨택트 내에 삽입되는 컨택트 프로브.
컨택트 프로브에 있어서,
제1 컨택트;
제2 컨택트;
전기 전도성 및 탄성을 갖는 스프링 컨택트; 를 포함하며,
상기 제1 컨택트는
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔 사이에 내삽 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트는,
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔 사이에 이격 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트가 상기 내삽 공간 내에 삽입되어 상기 제1 컨택트와 상기 제2 컨택트가 결합되되 상기 내삽 공간과 상기 이격 공간이 서로 연직 방향에 위치하게 결합되어,
상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔, 제2-1 컨택트 빔, 상기 제2-2 컨택트 빔은 상방향에서 볼 때 상기 이격 공간을 중심으로 하여 상, 하, 좌, 우의 4 방향에 위치하여 4 접점을 갖고,
상기 제1 컨택트의 하단에는 하방향으로 돌출되는 삽입 빔이 마련되고,
상기 삽입 빔이 상기 스프링 컨택트 내에 삽입되며,
상기 스프링 컨택트의 하단은,
상기 스프링 컨택트의 내경 방향으로 만곡되는 제1 벤딩부, 상기 스프링 컨택트의 직경 중심에서 직하 방향으로 만곡되는 제2 벤딩부, 및 상방향으로 만곡되어 하단부에 만곡면이 형성되도록 하는 제3 벤딩부가 형성된 컨택트 프로브.
컨택트 프로브에 있어서,
제1 컨택트;
제2 컨택트;
전기 전도성 및 탄성을 갖는 스프링 컨택트; 및
바텀 컨택부;를 포함하며,
상기 제1 컨택트는
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔 사이에 내삽 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트는,
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔 사이에 이격 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트가 상기 내삽 공간 내에 삽입되어 상기 제1 컨택트와 상기 제2 컨택트가 결합되되 상기 내삽 공간과 상기 이격 공간이 서로 연직 방향에 위치하게 결합되어,
상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔, 제2-1 컨택트 빔, 상기 제2-2 컨택트 빔은 상방향에서 볼 때 상기 이격 공간을 중심으로 하여 상, 하, 좌, 우의 4 방향에 위치하여 4 접점을 갖고,
상기 제1 컨택트의 하단에는 하방향으로 돌출되는 삽입 빔이 마련되고,
상기 삽입 빔이 상기 스프링 컨택트 내에 삽입되며,
상기 바텀 컨택부는 상방향으로 돌출된 상단 빔,
하방향으로 돌출된 하단 빔, 및
상기 상단 빔과 상기 하단 빔 사이에 마련되며 측방향으로 소정 폭 만큼 확장된 지지부;를 갖고,
상기 상단 빔이 상기 스프링 컨택트의 하부에 삽입되는 컨택트 프로브.
제1 컨택트,
제2 컨택트를 포함하며,
상기 제1 컨택트는
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제1-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔 사이에 내삽 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트는,
상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-1 컨택트 빔, 상하방향으로 소정 길이 연장되는 제2-2 컨택트 빔을 포함하고, 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔은 서로 수평 방향으로 이격되어 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔 사이에 이격 공간이 형성되며,
상기 제2 컨택트가 상기 내삽 공간 내에 삽입되어 상기 제1 컨택트와 상기 제2 컨택트가 결합되되 상기 내삽 공간과 상기 이격 공간이 서로 연직 방향에 위치하게 결합되어,
상기 제1-1 컨택트 빔, 제1-2 컨택트 빔, 제2-1 컨택트 빔, 상기 제2-2 컨택트 빔은 상방향에서 볼 때 상기 이격 공간을 중심으로 하여 상, 하, 좌, 우의 4 방향에 위치하여 4 접점을 갖는 컨택트 프로브를 포함하는 소켓에 있어서,
상기 컨택트 프로브가 실장되는 실장 홀이 형성된 패드를 포함하며,
상기 패드는 적어도 일부가 탄성을 갖는 재질을 포함하여,
상기 컨택트 프로브의 상기 제1 컨택트의 제1-1 컨택트 빔과 상기 제1-2 컨택트 빔 사이, 및 상기 제2 컨택트의 상기 제2-1 컨택트 빔과 상기 제2-2 컨택트 빔 사이가 벌어질 때 내측방향으로 탄성을 가하는 소켓.