JP2022070884A - フラッシュメモリのためのリフレッシュの管理 - Google Patents
フラッシュメモリのためのリフレッシュの管理 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2022070884A JP2022070884A JP2022014848A JP2022014848A JP2022070884A JP 2022070884 A JP2022070884 A JP 2022070884A JP 2022014848 A JP2022014848 A JP 2022014848A JP 2022014848 A JP2022014848 A JP 2022014848A JP 2022070884 A JP2022070884 A JP 2022070884A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- refresh
- flash memory
- setting
- register
- registers
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 40
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 5
- 230000011218 segmentation Effects 0.000 claims 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 10
- 230000009471 action Effects 0.000 description 8
- 230000008859 change Effects 0.000 description 6
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 6
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 5
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 208000000044 Amnesia Diseases 0.000 description 1
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000000977 initiatory effect Effects 0.000 description 1
- 231100000863 loss of memory Toxicity 0.000 description 1
- 239000006249 magnetic particle Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000005201 scrubbing Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3418—Disturbance prevention or evaluation; Refreshing of disturbed memory data
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
- G06F12/02—Addressing or allocation; Relocation
- G06F12/0223—User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
- G06F12/023—Free address space management
- G06F12/0238—Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
- G06F12/0246—Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3418—Disturbance prevention or evaluation; Refreshing of disturbed memory data
- G11C16/3431—Circuits or methods to detect disturbed nonvolatile memory cells, e.g. which still read as programmed but with threshold less than the program verify threshold or read as erased but with threshold greater than the erase verify threshold, and to reverse the disturbance via a refreshing programming or erasing step
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Memory System (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Description
本特許出願は、係属中であり、本出願の譲受人に譲渡され、その全体が参照により本明細書に明確に組み込まれる、2016年6月20日に出願された「MANAGING REFRESH FOR FLASH MEMORY」と題する米国仮特許出願第62/352,393号の利益を主張する。
102 ホスト
104 フラッシュメモリ
106a レジスタ、第1のレジスタ、REG_REF_EN
106b レジスタ、第2のレジスタ、REG_REF_PARTITION
106c レジスタ、第3のレジスタ、EG_REF_ADDR_RANGE
106d レジスタ、第4のレジスタ、REG_REF_ALGO
106e レジスタ、第5のレジスタ、REG_REF_RATE_xxx
108 インターフェース
110 プロセッサ
112 メモリコントローラ
200 方法
214 経路
250 方法
300 ワイヤレス通信システム
320 リモートユニット
330 リモートユニット
340 基地局
350 リモートユニット
Claims (30)
- フラッシュメモリに対してリフレッシュ動作を実行する方法であって、
ホストから受信された値で前記フラッシュメモリの1つまたは複数のリフレッシュレジスタを設定するステップと、
前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタにおいて設定された前記値に基づいて、前記フラッシュメモリに対して前記リフレッシュ動作を実行するステップと
を備える方法。 - 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタを設定するステップが、
前記リフレッシュ動作のための開始/停止設定を示すように第1のレジスタを設定するステップを備える、請求項1に記載の方法。 - 進行中のリフレッシュ動作を停止するように前記第1のレジスタをクリアするステップをさらに備える、請求項2に記載の方法。
- 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタを設定するステップが、
前記リフレッシュ動作のための前記フラッシュメモリの1つまたは複数のターゲットメモリ区分のうちの少なくとも1つの区分を示すように第2のレジスタを設定するステップを備える、請求項1に記載の方法。 - 前記1つまたは複数のターゲットメモリ区分のすべてをリフレッシュするように前記第2のレジスタを特殊フィールドで設定するステップをさらに備える、請求項4に記載の方法。
- 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタを設定するステップが、
リフレッシュされるべきアドレス範囲を示すように第3のレジスタを設定するステップを備える、請求項1に記載の方法。 - 前記アドレス範囲の開始アドレスおよび終了アドレスを設定するステップを備える、請求項6に記載の方法。
- 前記開始アドレスおよび前記終了アドレスを同じ値に設定することによって、リフレッシュされるべき全体のまたは全アドレス区分範囲を設定するステップをさらに備える、請求項7に記載の方法。
- 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタを設定するステップが、
前記リフレッシュ動作を実行するためのリフレッシュアルゴリズムを示すように第4のレジスタを設定するステップを備える、請求項1に記載の方法。 - 前記リフレッシュ動作のためのターゲットアドレス範囲内のすべてのデータセルをリフレッシュするように前記リフレッシュアルゴリズムを非選択的状態に設定するステップをさらに備える、請求項9に記載の方法。
- 前記リフレッシュ動作のためのターゲットアドレス範囲の所望の部分を選択的にリフレッシュするように前記リフレッシュアルゴリズムを設定するステップをさらに備える、請求項9に記載の方法。
- 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタを設定するステップが、
前記リフレッシュ動作を実行するためのリフレッシュレートを示すように第5のレジスタを設定するステップを備える、請求項1に記載の方法。 - 前記フラッシュメモリ内の異なるメモリタイプに対する異なるリフレッシュレートを示すように、前記第5のレジスタにおいて異なる値を設定するステップを備える、請求項12に記載の方法。
- 異なるリフレッシュアルゴリズムに対する異なるリフレッシュレートを示すように、前記第5のレジスタにおいて異なる値を設定するステップを備える、請求項12に記載の方法。
- 前記フラッシュメモリの異なる温度条件に対する異なるリフレッシュレートを示すように、前記第5のレジスタにおいて異なる値を設定するステップを備える、請求項12に記載の方法。
- 装置であって、
フラッシュメモリを備え、前記フラッシュメモリが、ホストから受信された値でプログラムされるように構成された1つまたは複数のリフレッシュレジスタを備え、
前記フラッシュメモリが、前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタにおいてプログラムされた前記値に基づいてリフレッシュ動作を実行するように構成される、装置。 - 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタが、
前記リフレッシュ動作のための開始/停止設定を示すようにプログラムされるように構成された第1のレジスタを備える、請求項16に記載の装置。 - 前記第1のレジスタがクリアされたとき、前記フラッシュメモリが進行中のリフレッシュ動作を停止するように構成される、請求項17に記載の装置。
- 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタが、
前記リフレッシュ動作のための前記フラッシュメモリの1つまたは複数のターゲットメモリ区分のうちの少なくとも1つの区分を示すようにプログラムされるように構成された第2のレジスタを備える、請求項16に記載の装置。 - 前記第2のレジスタが特殊フィールドで設定されたとき、前記フラッシュメモリが前記1つまたは複数のターゲットメモリ区分のすべてをリフレッシュするように構成される、請求項19に記載の装置。
- 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタが、
リフレッシュされるべきアドレス範囲を示すようにプログラムされるように構成された第3のレジスタを備える、請求項16に記載の装置。 - 前記第3のレジスタが、前記アドレス範囲の開始アドレスおよび終了アドレスを示すための設定を備える、請求項21に記載の装置。
- 前記開始アドレスおよび前記終了アドレスが同じ値に設定されたとき、前記フラッシュメモリが全体のまたは全アドレス区分範囲をリフレッシュするように構成される、請求項22に記載の装置。
- 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタが、
前記フラッシュメモリに対して実行されるべき前記リフレッシュ動作のためのリフレッシュアルゴリズムを示すようにプログラムされるように構成された第4のレジスタを備える、請求項16に記載の装置。 - 前記リフレッシュアルゴリズムが非選択的状態に設定されたとき、前記フラッシュメモリがターゲットアドレス範囲内のすべてのデータセルをリフレッシュするように構成される、請求項24に記載の装置。
- 前記リフレッシュアルゴリズムがターゲットアドレス範囲の所望の部分を選択的にリフレッシュするように設定されたとき、前記フラッシュメモリが前記ターゲットアドレス範囲の前記所望の部分を選択的にリフレッシュするように構成される、請求項24に記載の装置。
- 前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタが、
前記リフレッシュ動作を実行するためのリフレッシュレートを示すようにプログラムされるように構成された第5のレジスタを備える、請求項16に記載の装置。 - モバイルフォン、ハンドヘルドパーソナル通信システム(PCS)ユニット、ポータブルデータユニット、全地球測位システム(GPS)対応デバイス、ナビゲーションデバイス、セットトップボックス、音楽プレーヤ、ビデオプレーヤ、エンターテインメントユニット、および固定ロケーションデータユニットからなるグループから選択されたデバイスに組み込まれる、請求項27に記載の装置。
- プロセッサによって実行されると、前記プロセッサに、フラッシュメモリに対してリフレッシュ動作を実行させるコードを備える非一時的コンピュータ可読記憶媒体であって、
ホストから受信された値で前記フラッシュメモリの1つまたは複数のリフレッシュレジスタを設定するためのコードと、
前記1つまたは複数のリフレッシュレジスタにおいて設定された前記値に基づいて、前記フラッシュメモリに対して前記リフレッシュ動作を実行するためのコードと
を備える非一時的コンピュータ可読記憶媒体。 - 装置であって、
フラッシュメモリを備え、前記フラッシュメモリが、
ホストから受信された設定を記憶するための手段であって、前記設定が、前記フラッシュメモリに対して実行されるべきリフレッシュ動作に関連付けられる、手段と、
前記設定に基づいて、前記フラッシュメモリに対して前記リフレッシュ動作を実行するための手段と
を備える、装置。
Applications Claiming Priority (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US201662352393P | 2016-06-20 | 2016-06-20 | |
US62/352,393 | 2016-06-20 | ||
US15/615,827 US10199115B2 (en) | 2016-06-20 | 2017-06-06 | Managing refresh for flash memory |
US15/615,827 | 2017-06-06 | ||
PCT/US2017/036397 WO2017222818A1 (en) | 2016-06-20 | 2017-06-07 | Managing refresh for flash memory |
JP2018566222A JP7213690B2 (ja) | 2016-06-20 | 2017-06-07 | フラッシュメモリのためのリフレッシュの管理 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018566222A Division JP7213690B2 (ja) | 2016-06-20 | 2017-06-07 | フラッシュメモリのためのリフレッシュの管理 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2022070884A true JP2022070884A (ja) | 2022-05-13 |
JP7348325B2 JP7348325B2 (ja) | 2023-09-20 |
Family
ID=60659776
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018566222A Active JP7213690B2 (ja) | 2016-06-20 | 2017-06-07 | フラッシュメモリのためのリフレッシュの管理 |
JP2022014848A Active JP7348325B2 (ja) | 2016-06-20 | 2022-02-02 | フラッシュメモリのためのリフレッシュの管理 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018566222A Active JP7213690B2 (ja) | 2016-06-20 | 2017-06-07 | フラッシュメモリのためのリフレッシュの管理 |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US10199115B2 (ja) |
EP (2) | EP3594952A1 (ja) |
JP (2) | JP7213690B2 (ja) |
KR (1) | KR102508868B1 (ja) |
CN (2) | CN109328386B (ja) |
BR (1) | BR112018075661A2 (ja) |
CA (1) | CA3026804C (ja) |
ES (1) | ES2874279T3 (ja) |
WO (1) | WO2017222818A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10199115B2 (en) | 2016-06-20 | 2019-02-05 | Qualcomm Incorporated | Managing refresh for flash memory |
US10885991B2 (en) * | 2017-04-04 | 2021-01-05 | Sandisk Technologies Llc | Data rewrite during refresh window |
KR102658230B1 (ko) | 2018-06-01 | 2024-04-17 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리 장치, 이를 포함하는 메모리 시스템 및 반도체 메모리 장치의 동작 방법 |
US10761727B2 (en) * | 2018-11-19 | 2020-09-01 | Micron Technology, Inc. | Scan frequency modulation based on memory density or block usage |
US10725706B1 (en) * | 2019-01-23 | 2020-07-28 | Qualcomm Incorporated | Apparatus and method of scheduling universal flash storage refresh operations according to a refresh handover mechanism |
US10811076B1 (en) * | 2019-06-29 | 2020-10-20 | Intel Corporation | Battery life based on inhibited memory refreshes |
US11404131B2 (en) * | 2019-07-12 | 2022-08-02 | Micron Technology, Inc. | Decision for executing full-memory refresh during memory sub-system power-on stage |
US11037641B1 (en) * | 2019-12-05 | 2021-06-15 | Sandisk Technologies Llc | Temperature and cycling dependent refresh operation for memory cells |
US11500567B2 (en) * | 2019-12-06 | 2022-11-15 | Micron Technology, Inc. | Configuring partitions of a memory sub-system for different data |
DE102020133713A1 (de) | 2020-02-27 | 2021-09-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Speicheraktualisierung |
US11475929B2 (en) | 2020-02-27 | 2022-10-18 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Memory refresh |
CN111798906A (zh) * | 2020-06-29 | 2020-10-20 | 深圳市芯天下技术有限公司 | 提高非型闪存数据保持能力方法、系统、存储介质和终端 |
US20230401007A1 (en) * | 2022-06-09 | 2023-12-14 | Micron Technology, Inc. | Prioritization of background media management operations in memory systems |
CN116312673B (zh) * | 2023-03-16 | 2024-08-06 | 海光集成电路设计(北京)有限公司 | 一种数据自刷新电路、芯片及电子设备 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000011670A (ja) * | 1998-06-25 | 2000-01-14 | Canon Inc | 不揮発性メモリを有する機器 |
JP2008299621A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Toshiba Corp | データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 |
JP2010039983A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Renesas Technology Corp | 不揮発性メモリ制御方法及び半導体装置 |
JP2010135036A (ja) * | 2008-12-08 | 2010-06-17 | Fujitsu Ltd | 不揮発性メモリ、メモリ制御装置、メモリ制御システムおよび不揮発性メモリの制御方法 |
JP2012514265A (ja) * | 2008-12-30 | 2012-06-21 | ヌモニクス ベー. フェー. | 不揮発性メモリのための温度警報および低レートリフレッシュ |
US20140013036A1 (en) * | 2012-07-09 | 2014-01-09 | Oh-seong Kwon | User device having nonvolatile random access memory and method of booting the same |
JP2015087849A (ja) * | 2013-10-29 | 2015-05-07 | 株式会社デンソー | データリフレッシュ装置 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3641066B2 (ja) * | 1995-05-30 | 2005-04-20 | 株式会社東芝 | フラッシュメモリを混載するマイクロコンピュータのデータ書換え方法 |
US7089344B1 (en) * | 2000-06-09 | 2006-08-08 | Motorola, Inc. | Integrated processor platform supporting wireless handheld multi-media devices |
JP2005025363A (ja) * | 2003-06-30 | 2005-01-27 | Sony Corp | バースト転送モード付データ転送装置、データ転送方法及びデータ転送プログラム |
US7342841B2 (en) * | 2004-12-21 | 2008-03-11 | Intel Corporation | Method, apparatus, and system for active refresh management |
US7685371B1 (en) * | 2006-04-19 | 2010-03-23 | Nvidia Corporation | Hierarchical flush barrier mechanism with deadlock avoidance |
US7861113B2 (en) * | 2007-03-16 | 2010-12-28 | Dot Hill Systems Corporation | Method and apparatus for operating storage controller system in elevated temperature environment |
JP5834303B2 (ja) * | 2008-12-30 | 2015-12-16 | ラウンド ロック リサーチ リミテッド ライアビリティー カンパニー | 作動温度範囲を拡張した不揮発性メモリ |
US9070473B2 (en) * | 2009-12-02 | 2015-06-30 | Micron Technology, Inc. | Refresh architecture and algorithm for non-volatile memories |
KR101798920B1 (ko) * | 2010-11-30 | 2017-11-17 | 삼성전자주식회사 | 다중 주기 셀프 리프레쉬를 수행하는 반도체 메모리 장치 및이의 검증 방법 |
KR101962874B1 (ko) * | 2012-04-24 | 2019-03-27 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치, 메모리 컨트롤러, 메모리 시스템 및 이의 동작 방법 |
US9236110B2 (en) * | 2012-06-30 | 2016-01-12 | Intel Corporation | Row hammer refresh command |
KR20140076735A (ko) * | 2012-12-13 | 2014-06-23 | 삼성전자주식회사 | 휘발성 메모리 장치 및 메모리 시스템 |
US9076499B2 (en) * | 2012-12-28 | 2015-07-07 | Intel Corporation | Refresh rate performance based on in-system weak bit detection |
JP2014178974A (ja) * | 2013-03-15 | 2014-09-25 | Nec Casio Mobile Communications Ltd | 電子機器、その制御方法及びプログラムに関する。 |
US9336855B2 (en) * | 2013-05-14 | 2016-05-10 | Qualcomm Incorporated | Methods and systems for smart refresh of dynamic random access memory |
KR101601643B1 (ko) * | 2013-11-08 | 2016-03-09 | 주식회사 피델릭스 | 효율적으로 리프레쉬 동작을 수행하는 플래시 메모리 장치 |
US9817749B2 (en) | 2013-12-04 | 2017-11-14 | Sandisk Technologies Llc | Apparatus and method of offloading processing from a data storage device to a host device |
KR102289001B1 (ko) * | 2014-06-09 | 2021-08-13 | 삼성전자주식회사 | 솔리드 스테이드 드라이브 및 그것의 동작 방법 |
US10199115B2 (en) * | 2016-06-20 | 2019-02-05 | Qualcomm Incorporated | Managing refresh for flash memory |
-
2017
- 2017-06-06 US US15/615,827 patent/US10199115B2/en active Active
- 2017-06-07 CN CN201780037555.5A patent/CN109328386B/zh active Active
- 2017-06-07 CA CA3026804A patent/CA3026804C/en active Active
- 2017-06-07 EP EP19188896.5A patent/EP3594952A1/en active Pending
- 2017-06-07 WO PCT/US2017/036397 patent/WO2017222818A1/en unknown
- 2017-06-07 BR BR112018075661-0A patent/BR112018075661A2/pt not_active Application Discontinuation
- 2017-06-07 EP EP17739376.6A patent/EP3472840B1/en active Active
- 2017-06-07 JP JP2018566222A patent/JP7213690B2/ja active Active
- 2017-06-07 ES ES17739376T patent/ES2874279T3/es active Active
- 2017-06-07 KR KR1020187036425A patent/KR102508868B1/ko active IP Right Grant
- 2017-06-07 CN CN202210480333.3A patent/CN114758711A/zh active Pending
-
2018
- 2018-10-30 US US16/175,745 patent/US10360987B2/en active Active
-
2022
- 2022-02-02 JP JP2022014848A patent/JP7348325B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000011670A (ja) * | 1998-06-25 | 2000-01-14 | Canon Inc | 不揮発性メモリを有する機器 |
JP2008299621A (ja) * | 2007-05-31 | 2008-12-11 | Toshiba Corp | データリフレッシュ装置、及びデータリフレッシュ方法 |
JP2010039983A (ja) * | 2008-08-08 | 2010-02-18 | Renesas Technology Corp | 不揮発性メモリ制御方法及び半導体装置 |
JP2010135036A (ja) * | 2008-12-08 | 2010-06-17 | Fujitsu Ltd | 不揮発性メモリ、メモリ制御装置、メモリ制御システムおよび不揮発性メモリの制御方法 |
JP2012514265A (ja) * | 2008-12-30 | 2012-06-21 | ヌモニクス ベー. フェー. | 不揮発性メモリのための温度警報および低レートリフレッシュ |
US20140013036A1 (en) * | 2012-07-09 | 2014-01-09 | Oh-seong Kwon | User device having nonvolatile random access memory and method of booting the same |
JP2015087849A (ja) * | 2013-10-29 | 2015-05-07 | 株式会社デンソー | データリフレッシュ装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10199115B2 (en) | 2019-02-05 |
CN109328386B (zh) | 2022-04-29 |
US20170365352A1 (en) | 2017-12-21 |
CN114758711A (zh) | 2022-07-15 |
CA3026804A1 (en) | 2017-12-28 |
JP7348325B2 (ja) | 2023-09-20 |
CN109328386A (zh) | 2019-02-12 |
US10360987B2 (en) | 2019-07-23 |
US20190066811A1 (en) | 2019-02-28 |
ES2874279T3 (es) | 2021-11-04 |
EP3594952A1 (en) | 2020-01-15 |
EP3472840B1 (en) | 2021-02-24 |
CA3026804C (en) | 2023-09-05 |
EP3472840A1 (en) | 2019-04-24 |
KR20190016968A (ko) | 2019-02-19 |
JP2019522284A (ja) | 2019-08-08 |
KR102508868B1 (ko) | 2023-03-09 |
WO2017222818A1 (en) | 2017-12-28 |
BR112018075661A2 (pt) | 2019-04-09 |
JP7213690B2 (ja) | 2023-01-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP7348325B2 (ja) | フラッシュメモリのためのリフレッシュの管理 | |
CN105895161B (zh) | 存储装置、存储器系统及它们的操作方法 | |
US12029031B2 (en) | Memory system | |
US9903901B2 (en) | Leakage current detection device and nonvolatile memory device having the same | |
US20160018454A1 (en) | Leakage current detection device, integrated circuit device having the same, and method of detecting leakage current in nonvolatile memory device | |
US20130145079A1 (en) | Memory system and related wear-leveling method | |
US9355738B2 (en) | Nonvolatile memory system and operating method of memory controller | |
TWI506424B (zh) | 可使用一主機以組態記憶體裝置執行一自動背景操作之方法及記憶體裝置 | |
KR102359979B1 (ko) | 솔리드 스테이트 드라이브 장치 및 이를 포함하는 저장 시스템 | |
US9030878B2 (en) | Semiconductor memory device including a plurality of cell strings, memory system including the same, and control method thereof | |
CN111258793A (zh) | 存储器控制器及其操作方法 | |
KR20190106282A (ko) | 저전압 감지 회로 및 이를 포함하는 메모리 장치 | |
KR20120056113A (ko) | 불휘발성 메모리 장치 및 그것의 프로그램 방법, 그리고 불휘발성 메모리 장치를 포함하는 메모리 시스템 | |
US9117538B2 (en) | Semiconductor device, method for operating the same, and semiconductor system including the same | |
US9406383B2 (en) | Non-volatile memory device and method of programming the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220302 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220302 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230201 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230320 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20230502 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20230814 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20230907 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 7348325 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |