JP2021114469A - 発光装置 - Google Patents
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Abstract
Description
プロセス、マシン、マニュファクチャ、または、組成物(コンポジション・オブ・マター
)に関する。特に、本発明の一態様は、発光装置、表示装置、電子機器、照明装置、また
はそれらの作製方法、使用方法、操作方法などに関する。特に、エレクトロルミネッセン
ス(Electroluminescence、以下ELとも記す)現象を利用した発光
装置、表示装置、電子機器、照明装置、またはそれらの作製方法、使用方法、操作方法な
どに関する。
いる。
湾曲面への適用が可能であること、または破損しにくいこと等が求められている。また、
可搬性の向上などを目的として、任意の部位で屈曲可能な発光装置や表示装置が求められ
ている。
号に対し高速に応答可能、直流低電圧電源を用いて駆動可能などの特徴を有し、発光装置
や表示装置への応用が検討されている。
層を、プラスチック基板の積層体に転載する技術思想が開示されている。
るものの、その中にはフッ素ゴム系の材料やシリコーン樹脂などの柔軟すぎて薄膜デバイ
ス層の転載には不向きな材料も含まれている。また、特許文献1には、繰り返し屈曲可能
な表示装置に用いるための好ましい基板の材料の記載はない。
とを目的の一とする。
を提供することを目的の一とする。
することを目的の一とする。
することを目的の一とする。
供することを目的の一とする。
とを目的の一とする。
態様は、これらの課題の全てを解決する必要はないものとする。なお、これら以外の課題
は、明細書、図面、請求項などの記載から、自ずと明らかとなるものであり、明細書、図
面、請求項などの記載から、これら以外の課題を抽出することが可能である。
、第1の基板と第2の基板は、表示素子を介して重畳し、第3の基板と第4の基板は、第
1の基板と第2の基板を介して重畳し、第3の基板および第4の基板は、第1の基板およ
び第2の基板よりも柔らかいことを特徴とする表示装置である。
、第1の基板および第2の基板は、表示素子を介して重畳し、第3の基板および第4の基
板は、第1の基板および第2の基板を介して重畳し、第3の基板および第4の基板のヤン
グ率は、第1の基板および第2の基板のヤング率よりも小さいことを特徴とする表示装置
である。
上100GPa(100×109Pa)以下、好ましくは2GPa以上50GPa以下、
より好ましくは2GPa以上20GPa以下である。
用いる材料のヤング率の50分の1以下が好ましく、100分の1以下がより好ましく、
500分の1以下がさらに好ましい。
とができる。
を提供することができる。
することができる。
することができる。
供することができる。
とができる。
に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細を様々
に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明の一態様は以下に
示す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。なお、以下に説明する発
明の構成において、同一部分又は同様な機能を有する部分には同一の符号を異なる図面間
で共通して用い、その繰り返しの説明は省略する。
明を明瞭化するために誇張または省略されている場合がある。よって、必ずしもそのスケ
ールに限定されない。特に上面図(平面図)や斜視図において、図面をわかりやすくする
ため一部の構成要素の記載を省略する場合がある。
るため、実際の位置、大きさ、範囲などを表していない場合がある。このため、開示する
発明は、必ずしも、図面等に開示された位置、大きさ、範囲などに限定されない。例えば
、実際の製造工程において、エッチングなどの処理によりレジストマスクなどが意図せず
に目減りすることがあるが、理解を容易とするために省略して示すことがある。
めに付すものであり、工程順または積層順など、なんらかの順番や順位を示すものではな
い。また、本明細書等において序数詞が付されていない用語であっても、構成要素の混同
を避けるため、特許請求の範囲において序数詞を付す場合がある。
定するものではない。例えば、「電極」は「配線」の一部として用いられることがあり、
その逆もまた同様である。さらに、「電極」や「配線」の用語は、複数の「電極」や「配
線」が一体となって形成されている場合なども含む。
下で、かつ、直接接していることを限定するものではない。例えば、「絶縁層A上の電極
B」の表現であれば、絶縁層Aの上に電極Bが直接接して形成されている必要はなく、絶
縁層Aと電極Bとの間に他の構成要素を含むものを除外しない。
路動作において電流の方向が変化する場合など、動作条件などによって互いに入れ替わる
ため、いずれがソースまたはドレインであるかを限定することが困難である。このため、
本明細書においては、ソースおよびドレインの用語は、入れ替えて用いることができるも
のとする。
」を介して接続されている場合が含まれる。ここで、「何らかの電気的作用を有するもの
」は、接続対象間での電気信号の授受を可能とするものであれば、特に制限を受けない。
よって、「電気的に接続する」と表現される場合であっても、現実の回路においては、物
理的な接続部分がなく、配線が延在しているだけの場合もある。
で配置されている状態をいう。従って、−5°以上5°以下の場合も含まれる。また、「
垂直」および「直交」とは、二つの直線が80°以上100°以下の角度で配置されてい
る状態をいう。従って、85°以上95°以下の場合も含まれる。また、「等しい」とは
、最大で±5%の誤差が含まれる。
合は、特段の説明がない限り、フォトリソグラフィ工程で形成したレジストマスクは、エ
ッチング工程終了後に除去するものとする。
本発明の一態様の表示装置100の構成例について、図を用いて説明する。図1(A)は
、表示装置100の上面図であり、図1(B)は、図1(A)中でA1−A2の一点鎖線
で示す部位の断面図である。また、図1(C)は、図1(A)中でB1−B2の一点鎖線
で示す部位の断面図である。
い。例えば、図24(A)乃至(F)のような断面構造でもよい。また、図24(B)(
C)(F)に示すように、外部電極124を基板147で覆うことにより、接続部を保護
することが出来る。なお、図24(D)乃至(F)では、半導体チップ910が、COG
などにより、基板上に設けられている場合を示している。図24(E)(F)に示すよう
に、半導体チップ910を基板147で覆うことにより、半導体チップ910やその接続
部を保護することが出来る。
る。なお、図2(A)乃至図2(C)は、図1(A)中でB1−B2の一点鎖線で示す部
位の断面図に相当する。図2(A)は、表示装置100を二つ折りにした状態を例示して
いる。また、図2(B)は、表示装置100を三つ折りにした状態を例示している。また
、図2(C)は、表示装置100をロール状に巻いた状態を例示している。図2(A)乃
至図2(C)では、図1(A)中でB1−B2の一点鎖線で示す方向に屈曲する例を示し
ているが、これに限定されない。本発明の一態様の表示装置100は、任意の方向に屈曲
することができる。
1−X2の一点鎖線で示す部位を、より詳細に説明するための断面図である。なお、断面
図は、図3(B)のような構造だけでなく、図25に示すような構造でもよい。
本実施の形態に示す表示装置100は、表示領域131、駆動回路132、および駆動回
路133を有する。また、表示装置100は、電極115、EL層117、電極118を
含む発光素子125と、端子電極216を有する。発光素子125は、表示領域131中
に複数形成されている。また、各発光素子125には、発光素子125の発光量を制御す
るトランジスタ232が接続されている。
ている。また、端子電極216は、駆動回路132および駆動回路133に電気的に接続
されている。
る。駆動回路132および駆動回路133は、外部電極124から供給された信号を、表
示領域131中のどの発光素子125に供給するかを決定する機能を有する。
7、半導体層208、ソース電極209a、ドレイン電極209bを有する。また、ソー
ス電極209a、およびドレイン電極209bと同じ層に、配線219が形成されている
。また、トランジスタ232およびトランジスタ252上に絶縁層210が形成され、絶
縁層210上に絶縁層211が形成されている。また、電極115が絶縁層211上に形
成されている。電極115は、絶縁層210および絶縁層211に形成された開口を介し
てドレイン電極209bに電気的に接続されている。また、電極115上に隔壁114が
形成され、電極115および隔壁114上に、EL層117および電極118が形成され
ている。
た構造を有する。また、基板111の一方の面に、接着層138を介して基板137が形
成されている。また、基板121の一方の面に、接着層148を介して基板147が形成
されている。
。絶縁層205は、酸化シリコン、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン
、酸化アルミニウム、酸化窒化アルミニウム、または窒化酸化アルミニウム等を、単層ま
たは多層で形成するのが好ましい。絶縁層205は、スパッタリング法やCVD法、熱酸
化法、塗布法、印刷法等を用いて形成することが可能である。
層145を介して遮光層264が形成されている。また、基板121の他方の面には、絶
縁層145を介して着色層266、オーバーコート層268が形成されている。
ジスタや発光素子への水分や不純物元素の拡散を防止、または低減することができる。ま
た、絶縁層145は下地層として機能し、基板121や接着層142などから、トランジ
スタや発光素子への水分や不純物元素の拡散を防止、または低減することができる。絶縁
層145は、絶縁層205と同様の材料および方法により形成することができる。
いることができる。表示装置100を所謂ボトムエミッション構造(下面射出構造)の表
示装置、または両面射出型の表示装置とする場合には、基板111にEL層117からの
発光に対して透光性を有する材料を用いる。また、表示装置100を上面射出型の表示装
置、または両面射出型の表示装置とする場合には、基板121にEL層117からの発光
に対して透光性を有する材料を用いる。
たは両面射出型の表示装置とする場合には、基板137にEL層117からの発光に対し
て透光性を有する材料を用いる。また、表示装置100を上面射出型の表示装置、または
両面射出型の表示装置とする場合には、基板147にEL層117からの発光に対して透
光性を有する材料を用いる。
装置100の作製時に基板が変形しやすくなるため、歩留まりの低下など、生産性低下の
一因となる。一方で、基板111および基板121として用いる材料の機械的強度が高す
ぎる場合は、表示装置が屈曲しにくくなってしまう。材料の機械的強度を表す指標の一つ
にヤング率がある。基板111および基板121に好適な材料のヤング率は、1GPa(
1×109Pa)以上100GPa(100×109Pa)以下、好ましくは2GPa以
上50GPa以下、より好ましくは2GPa以上20GPa以下である。なお、ヤング率
の測定は、ISO527、JISK7161、JISK7162、JISK7127、A
STMD638、ASTMD882などを参考にして行うことができる。
以上50μm以下がより好ましい。また、基板111または基板121の一方、もしくは
両方を、複数の層を有する積層基板としてもよい。
し、目的に応じて、互いに異なる材料や、異なる厚さとしてもよい。
有する材料の一例としては、ポリエチレンテレフタレート樹脂、ポリエチレンナフタレー
ト樹脂、ポリアクリロニトリル樹脂、ポリイミド樹脂、ポリメチルメタクリレート樹脂、
ポリカーボネート樹脂、ポリエーテルスルフォン樹脂、ポリアミド樹脂、シクロオレフィ
ン樹脂、ポリスチレン樹脂、ポリアミドイミド樹脂、ポリ塩化ビニル樹脂、などがある。
また、光を透過させる必要がない場合には、非透光性の基板を用いてもよい。例えば、基
板121または基板111として、アルミニウムなどを用いてもよい。
らに好ましくは10ppm/K以下とする。また、基板121および基板111の表面に
、予め窒化シリコンや窒化酸化シリコン等の窒素と珪素を含む膜や窒化アルミニウム等の
窒素とアルミニウムを含む膜のような透水性の低い保護膜を成膜しておいても良い。なお
、基板121および基板111として、繊維体に有機樹脂が含浸された構造物(所謂、プ
リプレグとも言う)を用いてもよい。
は、軽量な表示装置を提供することができる。または、屈曲しやすい表示装置を提供する
ことができる。
、基板111よりもヤング率が小さい材料を用いる。また、基板147として、基板12
1よりも柔らかい材料を用いる。例えば、基板147として、基板121よりもヤング率
が小さい材料を用いる。
以下が好ましく、100分の1以下がより好ましく、500分の1以下がさらに好ましい
。また、基板147に用いる材料のヤング率は、基板121に用いる材料のヤング率の5
0分の1以下が好ましく、100分の1以下がより好ましく、500分の1以下がさらに
好ましい。
、フッ素ゴムなどの粘弾性を有する高分子材料がある。また、基板137および基板14
7に用いる材料は、透光性を有する材料であることが好ましい。また、基板137および
基板147は、同種の材料で形成してもよいし、異なる材料で形成してもよい。
せる場合、基板137および基板147の厚さは等しいことが好ましい。基板137およ
び基板147の厚さを等しくすることで、基板111および基板121を、屈曲部分の中
立面付近に配置することができる。よって、屈曲時に基板111および基板121に加わ
る応力を小さくすることができる。
生じる内部応力が分散しやすい。よって、基板137および基板147として、基板11
1および基板121よりもヤング率の小さい材料を用いることで、屈曲時に基板111お
よび基板121に生じる局在的な応力を緩和し、基板111および基板121の破損を防
ぐことができる。また、基板137および基板147は、外部からの物理的な圧迫や衝撃
を分散する緩衝材としても機能する。
半径が基板137または基板147の厚さよりも小さくなることを防ぐことができる。よ
って、基板111または基板121の、過剰に小さい曲率半径で屈曲することに起因する
破損を防ぐことができる。
mm以下であっても、表示装置100の破損を防ぐことができる。
0倍以下がより好ましい。また、基板147の厚さは、基板121の2倍以上100倍以
下が好ましく、5倍以上50倍以下がより好ましい。基板137を基板111よりも厚く
、また、基板147を基板121よりも厚くすることで、応力緩和や緩衝材としての効果
を良好なものとすることができる。
し、目的に応じて、互いに異なる材料や、異なる厚さとしてもよい。
みを設ける構成としてもよい。また、基板137または基板147の一方、もしくは両方
を、複数の層を有する積層基板としてもよい。
ができる。
表示装置を実現することができる。
次に、図4を用いて、表示装置100のより具体的な構成例について説明する。図4(A
)は、表示装置100の構成を説明するためのブロック図である。表示装置100は、表
示領域131、駆動回路132、および駆動回路133を有する。駆動回路132は、例
えば走査線駆動回路として機能する。また、駆動回路133は、例えば信号線駆動回路と
して機能する。
が制御されるm本の走査線135と、各々が略平行に配設され、且つ、駆動回路133に
よって電位が制御されるn本の信号線136と、を有する。さらに、表示領域131はマ
トリクス状に配設された複数の画素134を有する。また、駆動回路132および駆動回
路133をまとめて駆動回路部という場合がある。
ずれかの行に配設されたn個の画素134と電気的に接続される。また、各信号線136
は、m行n列に配設された画素134のうち、いずれかの列に配設されたm個の画素13
4に電気的に接続される。m、nは、ともに1以上の整数である。
できる回路構成を示している。
また、図4(B)に示す画素134は、トランジスタ431と、容量素子233と、トラ
ンジスタ232と、発光素子125と、を有する。
線(以下、信号線DL_nという)に電気的に接続される。さらに、トランジスタ431
のゲート電極は、ゲート信号が与えられる配線(以下、走査線GL_mという)に電気的
に接続される。
435への書き込みを制御する機能を有する。
ド437に電気的に接続される。また、トランジスタ431のソース電極およびドレイン
電極の他方は、ノード435に電気的に接続される。
を有する。
的に接続され、他方はノード437に電気的に接続される。さらに、トランジスタ232
のゲート電極は、ノード435に電気的に接続される。
れ、他方は、ノード437に電気的に接続される。
う)などを用いることができる。ただし、発光素子125としては、これに限定されず、
無機材料からなる無機EL素子を用いても良い。
られ、他方には、低電源電位VSSが与えられる。
134を順次選択し、トランジスタ431をオン状態にしてデータ信号をノード435に
書き込む。
ることで保持状態になる。さらに、ノード435に書き込まれたデータの電位に応じてト
ランジスタ232のソース電極とドレイン電極の間に流れる電流量が制御され、発光素子
125は、流れる電流量に応じた輝度で発光する。これを行毎に順次行うことにより、画
像を表示できる。
図4(C)に示す画素134は、液晶素子432と、トランジスタ431と、容量素子2
33と、を有する。
。液晶素子432は、ノード436に書き込まれるデータにより配向状態が設定される。
なお、複数の画素134のそれぞれが有する液晶素子432の一対の電極の一方に、共通
の電位(コモン電位)を与えてもよい。また、各行の画素134毎の液晶素子432の一
対の電極の一方に異なる電位を与えてもよい。
ド、VAモード、ASM(Axially Symmetric Aligned Mi
cro−cell)モード、OCB(Optically Compensated B
irefringence)モード、FLC(Ferroelectric Liqui
d Crystal)モード、AFLC(AntiFerroelectric Liq
uid Crystal)モード、MVAモード、PVA(Patterned Ver
tical Alignment)モード、IPSモード、FFSモード、またはTBA
(Transverse Bend Alignment)モードなどを用いてもよい。
また、表示装置の駆動方法としては、上述した駆動方法の他、ECB(Electric
ally Controlled Birefringence)モード、PDLC(P
olymer Dispersed Liquid Crystal)モード、PNLC
(Polymer Network Liquid Crystal)モード、ゲストホ
ストモードなどがある。ただし、これに限定されず、液晶素子及びその駆動方式として様
々なものを用いることができる。
より液晶素子432を構成してもよい。ブルー相を示す液晶は、配向処理を不要とするこ
とができる。また、ブルー相を示す液晶は、応答速度が1msec以下と短く、光学的に
等方性であるため、視野角依存性が小さい。
ことも可能である。例えば、表示素子として、電気泳動素子、電子インク、エレクトロウ
ェッティング素子、MEMS(マイクロ・エレクトロ・メカニカル・システム)、デジタ
ルマイクロミラーデバイス(DMD)、DMS(デジタル・マイクロ・シャッター)、M
IRASOL(登録商標)、IMOD(インターフェアレンス・モジュレーション)素子
などを用いることも可能である。
一方は、信号線DL_nに電気的に接続され、他方はノード436に電気的に接続される
。トランジスタ431のゲート電極は、走査線GL_mに電気的に接続される。トランジ
スタ431は、オン状態またはオフ状態になることにより、ノード436へのデータ信号
の書き込みを制御する機能を有する。
)に電気的に接続され、他方は、ノード436に電気的に接続される。また、液晶素子4
32の一対の電極の他方はノード436に電気的に接続される。なお、容量線CLの電位
の値は、画素134の仕様に応じて適宜設定される。容量素子233は、ノード436に
書き込まれたデータを保持する保持容量としての機能を有する。
行の画素134を順次選択し、トランジスタ431をオン状態にしてノード436にデー
タ信号を書き込む。
になることで保持状態になる。これを行毎に順次行うことにより、画像を表示できる。
図5に、表示装置100と異なる構成を有する表示装置200を示す。図5(A)は、表
示装置200の上面図であり、図5(B)は、図5(A)中でA3−A4の一点鎖線で示
す部位の断面図である。また、図5(C)は、図5(A)中でB3−B4の一点鎖線で示
す部位の断面図である。
い。例えば、図26(A)乃至(H)のような断面構造でもよい。また、図26(B)(
C)(D)(G)(H)に示すように、外部電極124を基板147で覆うことにより、
接続部を保護することが出来る。また、図26(D)(H)に示すように、外部電極12
4を基板147と基板137とで覆うことにより、接続部を保護することが出来る。また
は、図26(F)(G)(H)に示すように、半導体チップ910を基板147で覆うこ
とにより、半導体チップ910やその接続部を保護することが出来る。
基板111および基板121の端部を超えて延伸し、該延伸部において、基板137およ
び基板147が接続している点が異なる。他の構成は表示装置100と同様に形成するこ
とができる。なお、該延伸部における基板137および基板147は、接着層などを介し
て間接的に接続してもよいし、直接接続してもよい。
物が侵入しにくくなるため、表示装置の信頼性をさらに高めることができる。
である。
本実施の形態では、表示装置100の作製方法の一例について、図6乃至図12を用いて
説明する。なお、図6乃至図12は、図3(A)中のX1−X2の一点鎖線で示す部位の
断面に相当する。
〔剥離層を形成する〕
まず、素子形成基板101上に剥離層113を形成する(図6(A)参照。)。なお、素
子形成基板101としては、ガラス基板、石英基板、サファイア基板、セラミック基板、
金属基板などを用いることができる。また、本実施の形態の処理温度に耐えうる耐熱性を
有するプラスチック基板を用いてもよい。
、バリウムホウケイ酸ガラスなどのガラス材料が用いられている。なお、酸化バリウム(
BaO)を多く含ませることで、より実用的な耐熱ガラスが得られる。他にも、結晶化ガ
ラスなどを用いることができる。
バルト、ジルコニウム、ルテニウム、ロジウム、パラジウム、オスミウム、イリジウム、
シリコンから選択された元素、または前記元素を含む合金材料、または前記元素を含む化
合物材料を用いて形成することができる。また、これらの材料を単層又は積層して形成す
ることができる。なお、剥離層113の結晶構造は、非晶質、微結晶、多結晶のいずれの
場合でもよい。また、剥離層113を、酸化アルミニウム、酸化ガリウム、酸化亜鉛、二
酸化チタン、酸化インジウム、インジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、またはIn
GaZnO(IGZO)等の金属酸化物を用いて形成することもできる。
お、塗布法はスピンコーティング法、液滴吐出法、ディスペンス法を含む。
モリブデンを含む合金材料を用いることが好ましい。または、剥離層113を単層で形成
する場合、タングステンの酸化物若しくは酸化窒化物、モリブデンの酸化物若しくは酸化
窒化物、またはタングステンとモリブデンを含む合金の酸化物若しくは酸化窒化物を用い
ることが好ましい。
む層の積層構造を形成する場合、タングステンを含む層に接して酸化物絶縁層を形成する
ことで、タングステンを含む層と酸化物絶縁層との界面に、酸化タングステンが形成され
ることを活用してもよい。また、タングステンを含む層の表面を、熱酸化処理、酸素プラ
ズマ処理、オゾン水等の酸化力の強い溶液での処理等を行ってタングステンの酸化物を含
む層を形成してもよい。
として素子形成基板101上にスパッタリング法によりタングステンを形成する。
次に、剥離層113上に下地層として絶縁層205を形成する(図6(A)参照。)。絶
縁層205は、酸化シリコン、窒化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、酸
化アルミニウム、酸化窒化アルミニウム、または窒化酸化アルミニウム等を、単層または
多層で形成するのが好ましい。例えば、絶縁層205を、酸化シリコンと窒化シリコンを
積層した2層構造としてもよいし、上記材料を組み合わせた5層構造としてもよい。絶縁
層205は、スパッタリング法やCVD法、熱酸化法、塗布法、印刷法等を用いて形成す
ることが可能である。
m以下とすればよい。
、または低減することができる。また、素子形成基板101を基板111に換えた後も、
基板111や接着層112などから発光素子125への不純物元素の拡散を防止、または
低減することができる。本実施の形態では、絶縁層205としてプラズマCVD法により
厚さ200nmの酸化窒化シリコンと厚さ50nmの窒化酸化シリコンの積層膜を用いる
。
次に、絶縁層205上にゲート電極206を形成する(図6(A)参照。)。ゲート電極
206は、アルミニウム、クロム、銅、タンタル、チタン、モリブデン、タングステンか
ら選ばれた金属元素、または上述した金属元素を成分とする合金か、上述した金属元素を
組み合わせた合金等を用いて形成することができる。また、マンガン、ジルコニウムのい
ずれか一または複数から選択された金属元素を用いてもよい。また、ゲート電極206は
、単層構造でも、二層以上の積層構造としてもよい。例えば、シリコンを含むアルミニウ
ム膜の単層構造、チタン膜上にアルミニウム膜を積層する二層構造、窒化チタン膜上にチ
タン膜を積層する二層構造、窒化チタン膜上にタングステン膜を積層する二層構造、窒化
タンタル膜または窒化タングステン膜上にタングステン膜を積層する二層構造、チタン膜
上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜と、そのチタン膜上にアルミニウム膜を積層し、
さらにその上にチタン膜を形成する三層構造等がある。また、アルミニウムに、チタン、
タンタル、タングステン、モリブデン、クロム、ネオジム、スカンジウムから選ばれた元
素の膜、または複数組み合わせた合金膜、もしくは窒化膜を用いてもよい。
化物、酸化タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化チタンを含むインジウム酸化
物、酸化チタンを含むインジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化シリコンを添加
したインジウム錫酸化物等の透光性を有する導電性材料を適用することもできる。また、
上記透光性を有する導電性材料と、上記金属元素の積層構造とすることもできる。
6となる導電膜を積層し、該導電膜上にフォトリソグラフィ工程によりレジストマスクを
形成する。次に、レジストマスクを用いてゲート電極206となる導電膜の一部をエッチ
ングして、ゲート電極206を形成する。この時、他の配線および電極も同時に形成する
ことができる。
用いてもよい。なお、ドライエッチング法によりエッチングを行った場合、レジストマス
クを除去する前にアッシング処理を行うと、剥離液を用いたレジストマスクの除去を容易
とすることができる。
ェット法等で形成してもよい。
00nm以下、より好ましくは10nm以上200nm以下である。
らの光が、ゲート電極206側から半導体層208に到達しにくくすることができる。そ
の結果、光照射によるトランジスタの電気特性の変動を抑制することができる。
次に、ゲート絶縁層207を形成する(図6(A)参照。)。ゲート絶縁層207は、例
えば酸化シリコン、酸化窒化シリコン、窒化酸化シリコン、窒化シリコン、酸化アルミニ
ウム、酸化アルミニウムと酸化シリコンの混合物、酸化ハフニウム、酸化ガリウムまたは
Ga−Zn系金属酸化物などを用いればよく、積層または単層で設ける。
されたハフニウムシリケート(HfSixOyNz)、窒素が添加されたハフニウムアル
ミネート(HfAlxOyNz)、酸化ハフニウム、酸化イットリウムなどのhigh−
k材料を用いることでトランジスタのゲートリークを低減できる。例えば、酸化窒化シリ
コンと酸化ハフニウムの積層としてもよい。
300nm以下、より好ましくは50nm以上250nm以下とするとよい。
。
ン膜を形成する場合、原料ガスとしては、シリコンを含む堆積性気体及び酸化性気体を用
いることが好ましい。シリコンを含む堆積性気体の代表例としては、シラン、ジシラン、
トリシラン、フッ化シラン等がある。酸化性気体としては、酸素、オゾン、一酸化二窒素
、二酸化窒素等がある。
に積層する積層構造としてもよい。ゲート電極206側に窒化物絶縁層を設けることで、
ゲート電極206側から水素、窒素、アルカリ金属、またはアルカリ土類金属等が半導体
層208に移動することを防ぐことができる。なお、一般に、窒素、アルカリ金属、また
はアルカリ土類金属等は、半導体の不純物元素として機能する。また、水素は、酸化物半
導体の不純物元素として機能する。よって、本明細書等における「不純物」には、水素、
窒素、アルカリ金属、またはアルカリ土類金属等が含まれるものとする。
縁層を設けることで、ゲート絶縁層207と半導体層208の界面における欠陥準位密度
を低減することが可能である。この結果、電気特性の劣化の少ないトランジスタを得るこ
とができる。なお、半導体層208として酸化物半導体を用いる場合は、酸化物絶縁層と
して、化学量論的組成を満たす酸素よりも多くの酸素を含む酸化物絶縁層を用いて形成す
ると、ゲート絶縁層207と半導体層208の界面における欠陥準位密度をさらに低減す
ることが可能であるため好ましい。
合、酸化物絶縁層よりも窒化物絶縁層を厚くすることが好ましい。
厚くしても、ゲート電極206に生じる電界を効率よく半導体層208に伝えることがで
きる。また、ゲート絶縁層207全体を厚くすることで、ゲート絶縁層207の絶縁耐圧
を高めることができる。よって、半導体装置の信頼性を高めることができる。
の高い第2の窒化物絶縁層と、酸化物絶縁層とが、ゲート電極206側から順に積層され
る積層構造とすることができる。ゲート絶縁層207に、欠陥の少ない第1の窒化物絶縁
層を用いることで、ゲート絶縁層207の絶縁耐圧を向上させることができる。特に、半
導体層208として酸化物半導体を用いる場合は、ゲート絶縁層207に、水素ブロッキ
ング性の高い第2の窒化物絶縁層を設けることで、ゲート電極206及び第1の窒化物絶
縁層に含まれる水素が半導体層208に移動することを防ぐことができる。
ラン、窒素、及びアンモニアの混合ガスを原料ガスとして用いたプラズマCVD法により
、欠陥の少ない窒化シリコン膜を第1の窒化物絶縁層として形成する。次に、原料ガスを
、シラン及び窒素の混合ガスに切り替えて、水素濃度が少なく、且つ水素をブロッキング
することが可能な窒化シリコン膜を第2の窒化物絶縁層として成膜する。このような形成
方法により、欠陥が少なく、且つ水素のブロッキング性を有する窒化物絶縁層が積層され
たゲート絶縁層207を形成することができる。
陥の少ない第1の窒化物絶縁層と、水素ブロッキング性の高い第2の窒化物絶縁層と、酸
化物絶縁層とが、ゲート電極206側から順に積層される積層構造とすることができる。
ゲート絶縁層207に、不純物のブロッキング性が高い第3の窒化物絶縁層を設けること
で、ゲート電極206から水素、窒素、アルカリ金属、またはアルカリ土類金属等が半導
体層208に移動することを防ぐことができる。
シラン、窒素、及びアンモニアの混合ガスを原料ガスとして用いたプラズマCVD法によ
り、不純物のブロッキング性が高い窒化シリコン膜を第3の窒化物絶縁層として形成する
。次に、アンモニアの流量を増加させることで、欠陥の少ない窒化シリコン膜を第1の窒
化物絶縁層として形成する。次に、原料ガスを、シラン及び窒素の混合ガスに切り替えて
、水素濃度が少なく、且つ水素をブロッキングすることが可能な窒化シリコン膜を第2の
窒化物絶縁層として成膜する。このような形成方法により、欠陥が少なく、且つ不純物の
ブロッキング性を有する窒化物絶縁層が積層されたゲート絶縁層207を形成することが
できる。
l Organic Chemical Vapor Deposition)法を用い
て形成することができる。
縁層を、酸化物絶縁層を介して積層し、酸化ハフニウムを含む絶縁層に電子を注入するこ
とで、トランジスタのしきい値電圧を変化させることができる。
半導体層208は、非晶質半導体、微結晶半導体、多結晶半導体等を用いて形成すること
ができる。例えば、非晶質シリコンや、微結晶ゲルマニウム等を用いることができる。ま
た、炭化シリコン、ガリウム砒素、酸化物半導体、窒化物半導体などの化合物半導体や、
有機半導体等を用いることができる。
やπ電子共役系導電性高分子などを用いることができる。例えば、ルブレン、テトラセン
、ペンタセン、ペリレンジイミド、テトラシアノキノジメタン、ポリチオフェン、ポリア
セチレン、ポリパラフェニレンビニレンなどを用いることができる。
s Aligned Crystalline Oxide Semiconducto
r)、多結晶酸化物半導体、微結晶酸化物半導体、nc−OS(nano Crysta
lline Oxide Semiconductor)非晶質酸化物半導体などを用い
ることができる。
透過率が大きい。また、酸化物半導体を適切な条件で加工して得られたトランジスタにお
いては、オフ電流を使用時の温度条件下(例えば、25℃)において、100zA(1×
10−19A)以下、もしくは10zA(1×10−20A)以下、さらには1zA(1
×10−21A)以下とすることができる。このため、消費電力の少ない表示装置を提供
することができる。
酸素を含む絶縁層を用いることが好ましい。
以下、さらに好ましくは3nm以上50nm以下とする。本実施の形態では、半導体層2
08として、スパッタリング法により厚さ30nmの酸化物半導体膜を形成する。
半導体膜の一部を選択的にエッチングすることで、半導体層208を形成する。レジスト
マスクの形成は、フォトリソグラフィ法、印刷法、インクジェット法等を適宜用いて行う
ことができる。レジストマスクをインクジェット法で形成すると、フォトマスクを使用し
ないため、製造コストを低減できる。
、両方を用いてもよい。酸化物半導体膜のエッチング終了後、レジストマスクを除去する
(図6(B)参照。)。
次に、ソース電極209a、ドレイン電極209b、配線219、および端子電極216
を形成する(図6(C)参照。)。まず、ゲート絶縁層207、半導体層208上に導電
膜を形成する。
ニウム、モリブデン、銀、タンタル、またはタングステンからなる単体金属、またはこれ
を主成分とする合金を単層構造または積層構造を用いることができる。例えば、シリコン
を含むアルミニウム膜の単層構造、チタン膜上にアルミニウム膜を積層する二層構造、タ
ングステン膜上にアルミニウム膜を積層する二層構造、銅−マグネシウム−アルミニウム
合金膜上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜上に銅膜を積層する二層構造、タングステ
ン膜上に銅膜を積層する二層構造、チタン膜または窒化チタン膜と、そのチタン膜または
窒化チタン膜上に重ねてアルミニウム膜または銅膜を積層し、さらにその上にチタン膜ま
たは窒化チタン膜を形成する三層構造、モリブデン膜または窒化モリブデン膜と、そのモ
リブデン膜または窒化モリブデン膜上に重ねてアルミニウム膜または銅膜を積層し、さら
にその上にモリブデン膜または窒化モリブデン膜を形成する三層構造、タングステン膜上
に銅膜を積層し、さらにその上にタングステン膜を形成する三層構造等がある。
化タングステンを含むインジウム亜鉛酸化物、酸化チタンを含むインジウム酸化物、酸化
チタンを含むインジウム錫酸化物、インジウム亜鉛酸化物、酸化ケイ素を添加したインジ
ウム錫酸化物などの酸素を含む導電性材料、窒化チタン、窒化タンタルなどの窒素を含む
導電性材料を用いてもよい。また、前述した金属元素を含む材料と、酸素を含む導電性材
料を組み合わせた積層構造とすることもできる。また、前述した金属元素を含む材料と、
窒素を含む導電性材料を組み合わせた積層構造とすることもできる。また、前述した金属
元素を含む材料、酸素を含む導電性材料、および窒素を含む導電性材料を組み合わせた積
層構造とすることもできる。
nm以下、より好ましくは10nm以上200nm以下である。本実施の形態では、導電
膜として厚さ300nmのタングステン膜を形成する。
9a、ドレイン電極209b、配線219、および端子電極216(これと同じ膜で形成
される他の電極または配線を含む)を形成する。レジストマスクの形成は、フォトリソグ
ラフィ法、印刷法、インクジェット法等を適宜用いて行うことができる。レジストマスク
をインクジェット法で形成するとフォトマスクを使用しないため、製造コストを低減でき
る。
用いてもよい。なお、エッチング工程により、露出した半導体層208の一部が除去され
る場合がある。導電膜のエッチング終了後、レジストマスクを除去する。
次に、ソース電極209a、ドレイン電極209b、配線219、および端子電極216
上に、絶縁層210を形成する(図6(D)参照。)。絶縁層210は、絶縁層205と
同様の材料および方法で形成することができる。
層208と接する領域に、酸素を含む絶縁層を用いることが好ましい。例えば、絶縁層2
10を複数層の積層とする場合、少なくとも半導体層208と接する層を酸化シリコンで
形成すればよい。
次に、レジストマスクを用いて、絶縁層210の一部を選択的にエッチングし、開口12
8を形成する(図6(D)参照。)。この時、図示しない他の開口も同時に形成する。レ
ジストマスクの形成は、フォトリソグラフィ法、印刷法、インクジェット法等を適宜用い
て行うことができる。レジストマスクをインクジェット法で形成するとフォトマスクを使
用しないため、製造コストを低減できる。
両方を用いてもよい。
口128の形成後、レジストマスクを除去する。
次に、絶縁層210上に絶縁層211を形成する(図7(A)参照。)。絶縁層211は
、絶縁層205と同様の材料および方法で形成することができる。
理を行ってもよい。平坦化処理として特に限定はないが、研磨処理(例えば、化学的機械
研磨法(Chemical Mechanical Polishing:CMP))、
やドライエッチング処理により行うことができる。
省略することもできる。平坦化機能を有する絶縁材料として、例えば、ポリイミド樹脂、
アクリル樹脂等の有機材料を用いることができる。また上記有機材料の他に、低誘電率材
料(low−k材料)等を用いることができる。なお、これらの材料で形成される絶縁層
を複数積層させることで、絶縁層211を形成してもよい。
る。この時、図示しない他の開口部も同時に形成する。また、後に外部電極124が接続
する領域の絶縁層211は除去する。なお、開口129等は、絶縁層211上にフォトリ
ソグラフィ工程によるレジストマスクの形成を行い、絶縁層211のレジストマスクに覆
われていない領域をエッチングすることで形成できる。開口129を形成することにより
、ドレイン電極209bの表面を露出させる。
なく開口129を形成することができる。本実施の形態では、感光性のポリイミド樹脂を
用いて絶縁層211および開口129を形成する。
次に、絶縁層211上に電極115を形成する(図7(B)参照。)。電極115は、後
に形成されるEL層117が発する光を効率よく反射する導電性材料を用いて形成するこ
とが好ましい。なお、電極115は単層に限らず、複数層の積層構造としてもよい。例え
ば、電極115を陽極として用いる場合、EL層117と接する層を、インジウム錫酸化
物などのEL層117よりも仕事関数が大きく透光性を有する層とし、その層に接して反
射率の高い層(アルミニウム、アルミニウムを含む合金、または銀など)を設けてもよい
。
ムエミッション構造(下面射出構造)、またはデュアルエミッション構造(両面射出構造
)の表示装置とすることもできる。
ョン構造(両面射出構造)の表示装置とする場合は、電極115に透光性を有する導電性
材料を用いればよい。
トマスクを形成し、該導電膜のレジストマスクに覆われていない領域をエッチングするこ
とで形成できる。該導電膜のエッチングは、ドライエッチング法、ウエットエッチング法
、または双方を組み合わせたエッチング法を用いることができる。レジストマスクの形成
は、フォトリソグラフィ法、印刷法、インクジェット法等を適宜用いて行うことができる
。レジストマスクをインクジェット法で形成すると、フォトマスクを使用しないため、製
造コストを低減できる。電極115の形成後、レジストマスクを除去する。
次に、隔壁114を形成する(図7(C)参照。)。隔壁114は、隣接する画素の発光
素子125が意図せず電気的に短絡し、誤発光することを防ぐために設ける。また、後述
するEL層117の形成にメタルマスクを用いる場合、メタルマスクが電極115に接触
しないようにする機能も有する。隔壁114は、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、イミド樹
脂などの有機樹脂材料や、酸化シリコンなどの無機材料で形成することができる。隔壁1
14は、その側壁がテーパーまたは連続した曲率を持って形成される傾斜面となるように
形成することが好ましい。隔壁114の側壁をこのような形状とすることで、後に形成さ
れるEL層117や電極118の被覆性を良好なものとすることができる。
EL層117の構成については、実施の形態6で説明する。
本実施の形態では電極118を陰極として用いるため、電極118を後述するEL層11
7に電子を注入できる仕事関数の小さい材料を用いて形成することが好ましい。また、仕
事関数の小さい金属単体ではなく、仕事関数の小さいアルカリ金属、またはアルカリ土類
金属を数nm形成した層を緩衝層として形成し、その上にアルミニウムなどの金属材料、
インジウム錫酸化物等の導電性を有する酸化物材料、または半導体材料を用いて形成して
もよい。また、緩衝層として、アルカリ土類金属の酸化物、ハロゲン化物、または、マグ
ネシウム−銀等の合金を用いることもできる。
、可視光に対し透光性を有することが好ましい。電極115、EL層117、電極118
により、発光素子125が形成される(図7(D)参照。)。
遮光層264、着色層266、オーバーコート層268、絶縁層145、および剥離層1
43が形成された素子形成基板141を、接着層120を介して素子形成基板101上に
形成する(図8(A)参照。)。なお、素子形成基板141は素子形成基板101と向か
い合うように形成されるため、素子形成基板141を「対向素子形成基板」と呼ぶ場合が
ある。素子形成基板141(対向素子形成基板)の構成については、追って説明する。
層120としては、光硬化型の接着剤、反応硬化型接着剤、熱硬化型接着剤、または嫌気
型接着剤を用いることができる。例えば、エポキシ樹脂、アクリル樹脂、イミド樹脂等を
用いることができる。トップエミッション構造の場合は接着層120に光の波長以下の大
きさの乾燥剤(ゼオライト等)や、屈折率の大きいフィラー(酸化チタンや、ジルコニウ
ム等)を混合すると、EL層117が発する光の取り出し効率が向上するため好適である
。
次に、剥離層113を介して絶縁層205と接する素子形成基板101を、絶縁層205
から剥離する(図8(B)参照。)。剥離方法としては、機械的な力を加えること(人間
の手や治具で引き剥がす処理や、ローラーを回転させながら分離する処理、超音波等)を
用いて行えばよい。たとえば、剥離層113に鋭利な刃物またはレーザ光照射等で切り込
みをいれ、その切り込みに水を注入する。または、その切り込みに霧状の水を吹き付ける
。毛細管現象により水が剥離層113と絶縁層205の間にしみこむことにより、素子形
成基板101を絶縁層205から容易に剥離することができる。
次に、接着層112を介して基板111を絶縁層205に貼り合わせる(図9(A)、図
9(B)参照。)。接着層112は、接着層120と同様の材料を用いることができる。
本実施の形態では、基板111として、厚さ20μm、ヤング率10GPaのアラミド(
ポリアミド樹脂)を用いる。
次に、剥離層143を介して絶縁層145と接する素子形成基板141を、絶縁層145
から剥離する(図10(A)参照。)。素子形成基板141の剥離は、前述した素子形成
基板101の剥離と同様の方法で行うことができる。
次に、接着層142を介して基板121を絶縁層145に貼り合わせる(図10(B)参
照。)。接着層142は、接着層120と同様の材料を用いることができる。また、基板
121は基板111と同様の材料を用いることができる。
次に、端子電極216および開口128と重畳する領域の、基板121、接着層142、
絶縁層145、着色層266、オーバーコート層268、および接着層120を除去して
、開口122を形成する(図11(A)参照。)。開口122を形成することにより、端
子電極216の表面の一部が露出する。
次に、開口122に異方性導電接続層123を形成し、異方性導電接続層123上に、表
示装置100に電力や信号を入力するための外部電極124を形成する(図11(B)参
照)。端子電極216は、異方性導電接続層123を介して外部電極124と電気的に接
続される。なお、外部電極124としては、例えばFPC(Flexible prin
ted circuit)を用いることができる。
c Conductive Film)や、異方性導電ペースト(ACP:Anisot
ropic Conductive Paste)などを用いて形成することができる。
混ぜ合わせたペースト状又はシート状の材料を硬化させたものである。異方性導電接続層
123は、光照射や熱圧着によって異方性の導電性を示す材料となる。異方性導電接続層
123に用いられる導電性粒子としては、例えば球状の有機樹脂をAuやNi、Co等の
薄膜状の金属で被覆した粒子を用いることができる。
次に、基板137を、接着層138を介して基板111に貼り合わせる。また、基板14
7を、接着層148を介して基板121に貼り合わせる(図12参照。)。接着層138
および接着層148は、接着層120と同様の材料を用いることができる。また、本実施
の形態では、基板137および基板147として、可視光に対して透光性を有する厚さ2
00μm、ヤング率0.03GPaのシリコーンゴムを用いる。
次に、素子形成基板141に形成される遮光層264などの構造物について、図13を用
いて説明する。
1と同様の材料を用いることができる。次に、素子形成基板141上に剥離層143と絶
縁層145を形成する(図13(A)参照)。剥離層143は、剥離層113と同様の材
料および方法で形成することができる。また、絶縁層145は、絶縁層205と同様の材
料および方法で形成することができる。
層266を形成する(図13(C)参照)。
フォトリソグラフィ法を用いて、それぞれ所望の位置に形成する。
(D)参照)。
有機絶縁層を用いることができる。オーバーコート層268を形成することによって、例
えば、着色層266中に含まれる不純物等を発光素子125側に拡散することを抑制する
ことができる。ただし、オーバーコート層268は、必ずしも設ける必要はなく、オーバ
ーコート層268を形成しない構造としてもよい。
コート層268として透光性を有する導電膜を設けることで、発光素子125から発せら
れた光235を透過し、かつ、イオン化した不純物の透過を防ぐことができる。
dium Tin Oxide)、インジウム亜鉛酸化物、酸化亜鉛、ガリウムを添加し
た酸化亜鉛などを用いて形成することができる。また、グラフェン等の他、透光性を有す
る程度に薄く形成された金属膜を用いてもよい。
である。
トップエミッション構造の表示装置100の構成を変形して、ボトムエミッション構造の
表示装置150を作製することができる。
図14に、ボトムエミッション構造の表示装置150の断面構成例を示す。なお、図14
は、表示装置100の斜視図である図3(A)中でX1−X2の一点鎖線で示す部位と、
同等の部位の断面図である。ボトムエミッション構造の表示装置150は、遮光層264
、着色層266、およびオーバーコート層268の形成位置が、表示装置100と異なる
。具体的には、表示装置150では、遮光層264、着色層266、およびオーバーコー
ト層268が、基板111上に形成される。
介して基板111と貼り合せることができる。すなわち、絶縁層145を素子形成基板1
41から転置する必要がないため、素子形成基板141、剥離層143、接着層142を
不要とすることができる。よって、表示装置の生産性や歩留まりなどを向上することがで
きる。なお、表示装置150の他の構成は、表示装置100と同様に形成することができ
る。
性材料を用いて形成され、電極118を、EL層117が発する光を効率よく反射する導
電性材料を用いて形成される。
111側から射出することができる。
なお、表示装置150では、駆動回路133を構成するトランジスタとして、トランジス
タ272を用いる例を示している。トランジスタ272は、トランジスタ252と同様に
形成することができるが、絶縁層210上の半導体層208と重畳する領域に電極263
を有する点が異なる。電極263は、ゲート電極206と同様の材料および方法により形
成することができる。
び電極263のどちらか一方を、単に「ゲート電極」という場合、他方を「バックゲート
電極」という場合がある。また、ゲート電極206および電極263のどちらか一方を、
「第1のゲート電極」といい、他方を「第2のゲート電極」という場合がある。
層のチャネル形成領域を挟むように配置される。よって、バックゲート電極は、ゲート電
極と同様に機能させることができる。バックゲート電極の電位は、ゲート電極と同電位と
してもよく、GND電位や、任意の電位としてもよい。バックゲート電極の電位を変化さ
せることで、トランジスタのしきい値電圧を変化させることができる。
生じる電界が、チャネルが形成される半導体層に作用しないようにする機能(特に静電気
に対する静電遮蔽機能)も有する。
る導電膜で形成することで、バックゲート電極側から半導体層に光が入射することを防ぐ
ことができる。よって、半導体層の光劣化を防ぎ、トランジスタのしきい値電圧がシフト
するなどの電気特性の劣化を防ぐことができる。
ト電極206および電極263を同電位とすることで、半導体層208においてキャリア
の流れる領域が膜厚方向においてより大きくなるため、キャリアの移動量が増加する。こ
の結果、トランジスタのオン電流が大きくなると共に、電界効果移動度が高くなる。
を有するため、ゲート電極206よりも下層、電極263よりも上層に存在する電荷が、
半導体層208に影響しない。この結果、ストレス試験(例えば、ゲートに負の電圧を印
加する−GBT(Gate Bias−Temperature)ストレス試験)や、ゲ
ートに正の電圧を印加する+GBTストレス試験の前後におけるしきい値電圧の変動が小
さい。また、異なるドレイン電圧におけるオン電流の立ち上がり電圧の変動を抑制するこ
とができる。
スタの特性変化(即ち、経年変化)を、短時間で評価することができる。特に、BTスト
レス試験前後におけるトランジスタのしきい値電圧の変動量は、信頼性を調べるための重
要な指標となる。BTストレス試験前後において、しきい値電圧の変動量が少ないほど、
信頼性が高いトランジスタであるといえる。
3を同電位とすることで、しきい値電圧の変動量が低減される。このため、複数のトラン
ジスタにおける電気特性のばらつきも同時に低減される。
もよい。
である。
トップエミッション構造の表示装置100の構成を変形して、着色層266、遮光層26
4、オーバーコート層268などを設けない表示装置160を作製することができる。
の斜視図である図3(A)中でX1−X2の一点鎖線で示す部位と、同等の部位の断面図
である。表示装置160は、遮光層264、着色層266、およびオーバーコート層26
8を設けないかわりにEL層117A、EL層117B、EL層117C(図示せず)な
どを用いることによって、カラー表示を行うことが出来る。EL層117A、EL層11
7Bなどは、それぞれ、赤、青、緑、などの異なる色で発光させることが出来る。例えば
、EL層117Aからは赤色の波長を有する光235Aが発せられ、EL層117Bから
は青色の波長を有する光235Bが発せられ、EL層117Cからは緑色の波長を有する
光235C(図示せず)が発せられる。
Cが着色層266を透過する際に生じる輝度の低下を無くすことが出来る。また、光23
5A、光235B、および光235Cの波長に応じて、EL層117A、EL層117B
、およびEL層117Cの厚さを調整することで、色純度を向上させることができる。
して、着色層266、遮光層264、オーバーコート層268などを設けない表示装置1
70も作製可能である。図15(B)に、表示装置170の断面構成例を示す。
加で配置してもよい。光学フィルム911は、接着層148Aや接着層138Aを用いて
、接着されている。このような配置とすることにより、画面表面での反射を低減すること
が出来る。また、光学フィルム911を保護することもできる。
である。
図16(A)に示すように、表示装置100において、基板147の上に、タッチセンサ
を有する基板を設けてもよい。タッチセンサは、導電層991と導電層993などを用い
て構成されている。また、それらの間には、絶縁層992が設けられている。
鉛酸化物などの透明導電膜を用いることが望ましい。ただし、抵抗を下げるため、導電層
991、及び/又は、導電層993の一部、または、全部に、低抵抗な材料を持つ層を用
いてもよい。例えば、アルミニウム、チタン、クロム、ニッケル、銅、イットリウム、ジ
ルコニウム、モリブデン、銀、タンタル、またはタングステンからなる単体金属、または
これを主成分とする合金を単層構造または積層構造を用いることができる。または、導電
層991、及び/又は、導電層993として、金属ナノワイヤを用いてもよい。その場合
の金属としては、銀などが好適である。これにより、抵抗値を下げることが出来るため、
センサの感度を向上させることが出来る。
酸化アルミニウム、酸化窒化アルミニウム、または窒化酸化アルミニウム等を、単層また
は多層で形成するのが好ましい。絶縁層992は、スパッタリング法やCVD法、熱酸化
法、塗布法、印刷法等を用いて形成することが可能である。
は、これに限定されない。基板994の下(基板121と基板994との間)に設けられ
ていてもよい。
てもよい。その場合の例を図16(B)に示す。
て配置してもよいし、基板111の下に、接着層138Aを介して配置してもよい。
、偏光板や位相差板などの機能を有していてもよい。
A)は、基板121にタッチセンサを形成し、タッチセンサおよび接着層142を介して
基板147を形成する例を示している。
B)は、基板111にタッチセンサを形成し、タッチセンサおよび接着層138を介して
基板137を形成する例を示している。
A)は、基板121にタッチセンサを形成し、タッチセンサおよび接着層142を介して
基板147を形成する例を示している。
B)は、基板111にタッチセンサを形成し、タッチセンサおよび接着層138を介して
基板137を形成する例を示している。
示す。光学フィルム911は、接着層142Aや接着層138Aを介して、接着されてい
る。
である。
本実施の形態では、発光素子125に用いることができる発光素子の構成例について説明
する。なお、本実施の形態に示すEL層320が、他の実施の形態に示したEL層117
に相当する。
図19(A)に示す発光素子330は、一対の電極(電極318、電極322)間にEL
層320が挟まれた構造を有する。なお、以下の本実施の形態の説明においては、例とし
て、電極318を陽極として用い、電極322を陰極として用いるものとする。
機能層を含む積層構造であっても良い。発光層以外の機能層としては、正孔注入性の高い
物質、正孔輸送性の高い物質、電子輸送性の高い物質、電子注入性の高い物質、バイポー
ラ性(電子及び正孔の輸送性の高い物質)の物質等を含む層を用いることができる。具体
的には、正孔注入層、正孔輸送層、電子輸送層、電子注入層等の機能層を適宜組み合わせ
て用いることができる。
より電流が流れ、EL層320において正孔と電子とが再結合し、発光するものである。
つまりEL層320に発光領域が形成されるような構成となっている。
部に取り出される。従って、電極318、または電極322のいずれか一方は透光性を有
する物質で成る。
22との間に複数積層されていても良い。n層(nは2以上の自然数)の積層構造を有す
る場合には、m番目(mは、1≦m<nを満たす自然数)のEL層320と、(m+1)
番目のEL層320との間には、それぞれ電荷発生層320aを設けることが好ましい。
アルカリ金属、アルカリ土類金属、またはこれらの化合物との複合材料の他、これらを適
宜組み合わせて形成することができる。有機化合物と金属酸化物の複合材料としては、例
えば、有機化合物と酸化バナジウムや酸化モリブデンや酸化タングステン等の金属酸化物
を含む。有機化合物としては、芳香族アミン化合物、カルバゾール誘導体、芳香族炭化水
素等の低分子化合物、または、それらの低分子化合物のオリゴマー、デンドリマー、ポリ
マー等など、種々の化合物を用いることができる。なお、有機化合物としては、正孔輸送
性有機化合物として正孔移動度が10−6cm2/Vs以上であるものを適用することが
好ましい。但し、電子よりも正孔の輸送性の高い物質であれば、これら以外のものを用い
てもよい。なお、電荷発生層320aに用いるこれらの材料は、キャリア注入性、キャリ
ア輸送性に優れているため、発光素子330の低電流駆動、および低電圧駆動を実現する
ことができる。
わせて形成してもよい。例えば、有機化合物と金属酸化物の複合材料を含む層と、電子供
与性物質の中から選ばれた一の化合物と電子輸送性の高い化合物とを含む層とを組み合わ
せて形成してもよい。また、有機化合物と金属酸化物の複合材料を含む層と、透明導電膜
とを組み合わせて形成してもよい。
難く、材料の選択の幅が広がることで高い発光効率と長い寿命とを併せ持つ発光素子とす
ることが容易である。また、一方の発光層で燐光発光、他方で蛍光発光を得ることも容易
である。
発生層320aに接して形成される一方のEL層320に対して正孔を注入する機能を有
し、他方のEL層320に電子を注入する機能を有する。
とにより様々な発光色を得ることができる。また、発光物質として発光色の異なる複数の
発光物質を用いることにより、ブロードなスペクトルの発光や白色発光を得ることもでき
る。
合わせとしては、赤、青及び緑色の光を含んで白色に発光する構成であればよく、例えば
、青色の蛍光材料を発光物質として含む発光層と、緑色と赤色の燐光材料を発光物質とし
て含む発光層を有する構成が挙げられる。また、赤色の発光を示す発光層と、緑色の発光
を示す発光層と、青色の発光を示す発光層とを有する構成とすることもできる。または、
補色の関係にある光を発する発光層を有する構成であっても白色発光が得られる。発光層
が2層積層された積層型素子において、発光層から得られる発光の発光色と別の発光層か
ら得られる発光の発光色を補色の関係にする場合、補色の関係としては、青色と黄色、あ
るいは青緑色と赤色などが挙げられる。
ることにより、電流密度を低く保ったまま、高輝度領域での長寿命素子を実現することが
できる。また、電極材料の抵抗による電圧降下を小さくできるので、大面積での均一な発
光が可能となる。
である。
本実施の形態では、本発明の一態様の表示装置が適用された電子機器や照明装置の例につ
いて、図面を参照して説明する。
装置(テレビ、又はテレビジョン受信機ともいう)、コンピュータ用などのモニタ、デジ
タルカメラ、デジタルビデオカメラ、デジタルフォトフレーム、携帯電話機(携帯電話、
携帯電話装置ともいう)、携帯型ゲーム機、携帯情報端末、音響再生装置、パチンコ機な
どの大型ゲーム機などが挙げられる。
の曲面に沿って組み込むことも可能である。
に組み込まれた表示部7402の他、操作ボタン7403、外部接続ポート7404、ス
ピーカ7405、マイク7406などを備えている。なお、携帯電話機7400は、表示
装置を表示部7402に用いることにより作製される。
報を入力することができる。また、電話を掛ける、或いは文字を入力するなどのあらゆる
操作は、表示部7402を指などで触れることにより行うことができる。
れる画像の種類を切り替えることができる。例えば、メール作成画面から、メインメニュ
ー画面に切り替えることができる。
て、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯電話機とすることができる。
は、筐体7101、表示部7102、操作ボタン7103、及び送受信装置7104を備
える。
映像を表示部7102に表示することができる。また、音声信号を他の受信機器に送信す
ることもできる。
、または音声のボリュームの調整などを行うことができる。
て、湾曲した表示部を備え、且つ信頼性の高い携帯表示装置とすることができる。
明装置7210、照明装置7220はそれぞれ、操作スイッチ7203を備える台部72
01と、台部7201に支持される発光部を有する。
。したがってデザイン性の高い照明装置となっている。
発光部が対称的に配置された構成となっている。したがって照明装置7210を中心に全
方位を照らすことができる。
がって、発光部7222からの発光を、照明装置7220の前面に集光するため、特定の
範囲を明るく照らす場合に適している。
はフレキシブル性を有しているため、当該発光部を可塑性の部材や可動なフレームなどの
部材で固定し、用途に合わせて発光部の発光面を自在に湾曲可能な構成としてもよい。
部には、本発明の一態様の表示装置が組み込まれている。したがって、表示部を任意の形
状に湾曲可能であり、且つ信頼性の高い照明装置とすることができる。
表示部7302、操作ボタン7303、引き出し部材7304、制御部7305を備える
。
7302を備える。
を表示部7302に表示することができる。また、制御部7305にはバッテリーを備え
る。また、制御部7305にコネクタを備え、映像信号や電力を直接供給する構成として
もよい。
等を行うことができる。
この状態で表示部7302に映像を表示することができる。また、筐体7301の表面に
配置された操作ボタン7303によって、片手で容易に操作することができる。
2の端部に補強のためのフレームを設けていてもよい。
て音声を出力する構成としてもよい。
部7302はフレキシブルで且つ信頼性の高い表示装置であるため、表示装置7300は
軽量で且つ信頼性の高い表示装置とすることができる。
ている。図22(A)は、タブレット型端末9600を開いた状態であり、タブレット型
端末9600は、筐体9630、表示部9631、表示モード切り替えスイッチ9626
、電源スイッチ9627、省電力モード切り替えスイッチ9625、留め具9629、操
作スイッチ9628、を有する。
0bは、ヒンジ部9639により結合されている。また、筐体9630は、ヒンジ部96
39により2つ折り可能となっている。
に形成されている。表示部9631に本明細書等に開示した表示装置を用いることにより
、表示部9631の屈曲が可能で、信頼性の高いタブレット型端末とすることが可能とな
る。
作キー9638にふれることでデータ入力をすることができる。なお、表示部9631は
、例えば、半分の領域が表示のみの機能を有する構成とし、もう半分の領域をタッチパネ
ルの機能を有する構成とすることができる。また、表示部9631全ての領域がタッチパ
ネルの機能を有する構成としても良い。例えば、表示部9631の全面にキーボードボタ
ン表示させて、データ入力端末とすることもできる。
り替え、白黒表示やカラー表示の切り替えなどを選択できる。省電力モード切り替えスイ
ッチ9625は、タブレット型端末に内蔵している光センサで検出される使用時の外光の
光量に応じて表示の輝度を最適なものとすることができる。タブレット型端末は光センサ
だけでなく、ジャイロ、加速度センサ等の傾きを検出するセンサなどの他の検出装置を内
蔵させてもよい。
00は、筐体9630、太陽電池9633、充放電制御回路9634を有する。なお、図
22(B)では充放電制御回路9634の一例としてバッテリー9635、DCDCコン
バータ9636を有する構成について示している。
折りたたむことができる。例えば、タブレット型端末9600は2つ折り可能なため、未
使用時に筐体9630を閉じた状態にすることができる。従って、可搬性に優れ、また、
筐体9630を閉じることで表示部9631を保護できるため、耐久性に優れ、長期使用
の観点からも信頼性の優れたタブレット型端末とすることができる。
報(静止画、動画、テキスト画像など)を表示する機能、カレンダー、日付又は時刻など
を表示部に表示する機能、表示部に表示した情報をタッチ入力操作又は編集するタッチ入
力機能、様々なソフトウェア(プログラム)によって処理を制御する機能、等を有するこ
とができる。
表示部、又は映像信号処理部等に供給することができる。なお、太陽電池9633を、筐
体9630の一面だけでなく二面に設けると、バッテリー9635の充電を効率よく行う
ことができるため好適である。なおバッテリー9635としては、リチウムイオン電池を
用いると、小型化を図れる等の利点がある。
)にブロック図を示し説明する。図22(C)には、太陽電池9633、バッテリー96
35、DCDCコンバータ9636、コンバータ9637、スイッチSW1乃至SW3、
表示部9631について示しており、バッテリー9635、DCDCコンバータ9636
、コンバータ9637、スイッチSW1乃至SW3が、図22(B)に示す充放電制御回
路9634に対応する箇所となる。
太陽電池で発電した電力は、バッテリー9635を充電するための電圧となるようDCD
Cコンバータ9636で昇圧又は降圧がなされる。そして、表示部9631の動作に太陽
電池9633からの電力が用いられる際にはスイッチSW1をオンにし、コンバータ96
37で表示部9631に必要な電圧に昇圧又は降圧をすることとなる。また、表示部96
31での表示を行わない際には、SW1をオフにし、SW2をオンにしてバッテリー96
35の充電を行う構成とすればよい。
電素子(ピエゾ素子)や熱電変換素子(ペルティエ素子)などの他の発電手段によるバッ
テリー9635の充電を行う構成であってもよい。例えば、無線(非接触)で電力を送受
信して充電する無接点電力伝送モジュールや、また他の充電手段を組み合わせて行う構成
としてもよい。
特に限定されないことは言うまでもない。
である。
L材料を有する発光素子を用いた。なお、基板111および基板121には、厚さ20μ
m、ヤング率がおおよそ10GPaのアラミドを用いた。基板137および基板147に
は、厚さ200μm、ヤング率がおおよそ0.03GPaのシリコーンゴムを用いた。
、表示装置500を二つ折りにした。図23(A)に、発光中の表示装置500を二つ折
りにした状態の写真を示す。
た。図23(B)に、再び展開した表示装置500の写真を示す。表示装置500は、二
つ折り終了後、再び展開した後でも表示領域全体が発光しており、良好な表示状態を保っ
ていた。
に例示した作製方法により作製し、二つ折りにしたところ、基板111および基板121
に亀裂が生じ、表示領域全体の発光を保つことができなかった。
101 素子形成基板
111 基板
112 接着層
113 剥離層
114 隔壁
115 電極
117 EL層
118 電極
120 接着層
121 基板
122 開口
123 異方性導電接続層
124 外部電極
125 発光素子
128 開口
129 開口
131 表示領域
132 駆動回路
133 駆動回路
134 画素
135 走査線
136 信号線
137 基板
138 接着層
141 素子形成基板
142 接着層
143 剥離層
145 絶縁層
147 基板
148 接着層
150 表示装置
160 表示装置
170 表示装置
200 表示装置
205 絶縁層
206 ゲート電極
207 ゲート絶縁層
208 半導体層
210 絶縁層
211 絶縁層
216 端子電極
219 配線
232 トランジスタ
233 容量素子
235 光
252 トランジスタ
263 電極
264 遮光層
266 着色層
268 オーバーコート層
272 トランジスタ
318 電極
320 EL層
322 電極
330 発光素子
331 発光素子
431 トランジスタ
432 液晶素子
435 ノード
436 ノード
437 ノード
500 表示装置
991 導電層
992 絶縁層
993 導電層
994 基板
7100 携帯表示装置
7101 筐体
7102 表示部
7103 操作ボタン
7104 送受信装置
7200 照明装置
7201 台部
7202 発光部
7203 操作スイッチ
7210 照明装置
7212 発光部
7220 照明装置
7222 発光部
7300 表示装置
7301 筐体
7302 表示部
7303 操作ボタン
7304 部材
7305 制御部
7400 携帯電話機
7401 筐体
7402 表示部
7403 操作ボタン
7404 外部接続ポート
7405 スピーカ
7406 マイク
9600 タブレット型端末
9625 スイッチ
9626 スイッチ
9627 電源スイッチ
9628 操作スイッチ
9629 留め具
9630 筐体
9631 表示部
9632 領域
9633 太陽電池
9634 充放電制御回路
9635 バッテリー
9636 DCDCコンバータ
9637 コンバータ
9638 操作キー
9639 ヒンジ部
117A EL層
117B EL層
117C EL層
209a ソース電極
209b ドレイン電極
235A 光
235B 光
235C 光
320a 電荷発生層
9630a 筐体
9630b 筐体
Claims (5)
- 第1の基板と、
前記第1の基板上の第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板との間の表示素子と、
前記第2の基板上の第3の基板と、を有し、
前記第3の基板は、前記第1の基板及び前記第2の基板の各々と重なる領域を有し、
前記第1の基板及び前記第2の基板の各々は、有機樹脂材料を有し、
前記第3の基板のヤング率は、前記第1の基板のヤング率又は前記第2の基板のヤング率以下であり、
前記第3の基板の厚さは、前記第2の基板の厚さの2倍以上100倍以下であり、
二つ折りの状態、三つ折りの状態、又はロール状に巻いた状態にすることが可能な発光装置。 - 第1の基板と、
前記第1の基板上の第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板との間の表示素子と、
前記第2の基板上の第3の基板と、
前記表示素子と前記第3の基板との間のタッチセンサと、を有し、
前記第3の基板は、前記第1の基板及び前記第2の基板の各々と重なる領域を有し、
前記第1の基板及び前記第2の基板の各々は、有機樹脂材料を有し、
前記第3の基板のヤング率は、前記第1の基板のヤング率又は前記第2の基板のヤング率以下であり、
前記第3の基板の厚さは、前記第2の基板の厚さの2倍以上100倍以下であり、
二つ折りの状態、三つ折りの状態、又はロール状に巻いた状態にすることが可能な発光装置。 - 第1の基板と、
前記第1の基板上の第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板との間の表示素子と、
前記第2の基板上の第3の基板と、
前記第2の基板と前記第3の基板との間の接着層と、を有し、
前記第3の基板は、前記第1の基板及び前記第2の基板の各々と重なる領域を有し、
前記第1の基板及び前記第2の基板の各々は、有機樹脂材料を有し、
前記第3の基板のヤング率は、前記第1の基板のヤング率又は前記第2の基板のヤング率以下であり、
前記第3の基板の厚さは、前記第2の基板の厚さの2倍以上100倍以下であり、
二つ折りの状態、三つ折りの状態、又はロール状に巻いた状態にすることが可能な発光装置。 - 第1の基板と、
前記第1の基板上の第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板との間の表示素子と、
前記第2の基板上の第3の基板と、
前記表示素子と前記第2の基板との間の着色層と、を有し、
前記第3の基板は、前記第1の基板及び前記第2の基板の各々と重なる領域を有し、
前記第1の基板及び前記第2の基板の各々は、有機樹脂材料を有し、
前記第3の基板のヤング率は、前記第1の基板のヤング率又は前記第2の基板のヤング率以下であり、
前記第3の基板の厚さは、前記第2の基板の厚さの2倍以上100倍以下であり、
二つ折りの状態、三つ折りの状態、又はロール状に巻いた状態にすることが可能な発光装置。 - 第1の基板と、
前記第1の基板上の第2の基板と、
前記第1の基板と前記第2の基板との間の表示素子と、
前記第2の基板上の第3の基板と、
前記第1の基板下の第4の基板と、を有し、
前記第3の基板は、前記第1の基板及び前記第2の基板の各々と重なる領域を有し、
前記第4の基板は、前記第1の基板及び前記第2の基板の各々と重なる領域を有し、
前記第1の基板及び前記第2の基板の各々は、有機樹脂材料を有し、
前記第3の基板のヤング率は、前記第1の基板のヤング率又は前記第2の基板のヤング率以下であり、
前記第3の基板の厚さは、前記第2の基板の厚さの2倍以上100倍以下であり、
前記第4の基板のヤング率は、前記第1の基板のヤング率又は前記第2の基板のヤング率以下であり、
前記第4の基板の厚さは、前記第1の基板の厚さの2倍以上100倍以下であり、
二つ折りの状態、三つ折りの状態、又はロール状に巻いた状態にすることが可能な発光装置。
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