JP2021044536A - ミスト回収装置および基板処理装置 - Google Patents
ミスト回収装置および基板処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2021044536A JP2021044536A JP2020106267A JP2020106267A JP2021044536A JP 2021044536 A JP2021044536 A JP 2021044536A JP 2020106267 A JP2020106267 A JP 2020106267A JP 2020106267 A JP2020106267 A JP 2020106267A JP 2021044536 A JP2021044536 A JP 2021044536A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- exhaust
- mist
- wall portion
- liquid
- processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000003595 mist Substances 0.000 title claims abstract description 87
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 47
- 238000011084 recovery Methods 0.000 title claims description 21
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 62
- 239000002826 coolant Substances 0.000 claims abstract description 16
- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 12
- 239000000110 cooling liquid Substances 0.000 claims description 7
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 7
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 7
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 abstract 1
- 230000002401 inhibitory effect Effects 0.000 abstract 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 15
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 10
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 10
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 10
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 5
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 4
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 206010040844 Skin exfoliation Diseases 0.000 description 2
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000498 cooling water Substances 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 210000003746 feather Anatomy 0.000 description 1
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000013585 weight reducing agent Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67011—Apparatus for manufacture or treatment
- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
- H01L21/6704—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B01—PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
- B01D—SEPARATION
- B01D53/00—Separation of gases or vapours; Recovering vapours of volatile solvents from gases; Chemical or biological purification of waste gases, e.g. engine exhaust gases, smoke, fumes, flue gases, aerosols
- B01D53/26—Drying gases or vapours
- B01D53/265—Drying gases or vapours by refrigeration (condensation)
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P70/00—Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
- Y02P70/10—Greenhouse gas [GHG] capture, material saving, heat recovery or other energy efficient measures, e.g. motor control, characterised by manufacturing processes, e.g. for rolling metal or metal working
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Thermal Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- General Chemical & Material Sciences (AREA)
- Oil, Petroleum & Natural Gas (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
- Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
- Weting (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
- Separating Particles In Gases By Inertia (AREA)
Abstract
Description
処理液のミストが生じる処理室から、気体を排出するための排気路を形成する排気配管に設けられるミスト回収装置であって、
前記排気路の一部を形成する配管と、
延伸方向が前記排気路の延伸方向に沿うように設けられた支持軸と、
前記支持軸に設けられ、前記排気路を流れる前記気体により前記支持軸を回転中心として自転するフィンと、
を備え、
前記配管は、環状の壁部を有しており、
前記壁部を冷却する冷却部を有することを特徴とする。
処理液が基板に供給され、前記処理液のミストが生じる処理室と、
前記処理室から気体を排出するための排気路を形成する排気配管と、
前記排気配管の途中に設けられた上記したミスト回収装置と、
を備えたことを特徴とする。
実施の一形態について図面を参照して説明する。
図1に示すように、実施の一形態に係る基板処理装置10は、処理室20及び排気部30を備えている。排気部30は、排気配管21の経路途中に設けられている。
次に、前述の基板処理装置10の排気工程について説明する。
前述の説明においては、基板処理装置10として、基板を洗浄処理する洗浄処理装置を例示したが、これに限るものではなく、液晶基板や半導体基板、フォトマスクなどの製造のため、例えば、レジスト処理装置、露光処理装置、現像処理装置、エッチング処理装置、剥離処理装置を用いるようにしてもよい。処理液としては、各種の薬液を用いることが可能である。
20 処理室
21 排気配管
31 配管(排気配管)
31a 壁部
32 支持軸
33 支持柱
34 回転フィン
34a 羽根
51 搬送部
53 供給配管
54 タンク
A1 排気路
A2 内部空間
W 基板
Claims (9)
- 処理液のミストが生じる処理室から、気体を排出するための排気路を形成する排気配管に設けられるミスト回収装置であって、
前記排気路の一部を形成する配管と、
延伸方向が前記排気路の延伸方向に沿うように設けられた支持軸と、
前記支持軸に設けられ、前記排気路を流れる前記気体により前記支持軸を回転中心として自転するフィンと、
を備え、
前記配管は、環状の壁部を有しており、
前記壁部を冷却する冷却部を有することを特徴とするミスト回収装置。 - 前記壁部は、内部空間を有し、
前記内部空間に冷却液を供給する冷却液供給部を有し、
前記回転フィンは、前記冷却液が流れる前記内部空間により囲まれている請求項1に記載のミスト回収装置。 - 前記回転フィンは、前記排気路に沿って複数設けられており、
前記複数の回転フィンは、前記排気路を前記気体と共に流れる前記ミストを前記気体の一部と共に前記壁部の内壁面に導くように形成されている請求項1または請求項2に記載のミスト回収装置。 - 前記回転フィンは、複数の羽根を有しており、
前記複数の羽根は、前記支持軸から離されて前記壁部側に設けられている請求項1から請求項3のいずれかに記載のミスト回収装置。 - 処理液が基板に供給され、前記処理液のミストが生じる処理室と、
前記処理室から気体を排出するための排気路を形成する排気配管と、
前記排気配管の途中に設けられた請求項1から請求項4のいずれかに記載のミスト回収装置と、
を備えた基板処理装置。 - 前記処理室に、前記環状の壁部により回収された前記処理液を供給する供給配管を有することを特徴とする請求項5に記載の基板処理装置。
- 前記処理室内に設けられ、前記基板を搬送する搬送部を有し、
前記供給配管は、前記処理室において前記搬送部よりも下側に接続されていることを特徴とする請求項6に記載の基板処理装置。 - 前記基板に供給するための処理液を溜め置くタンクに、前記環状の壁部により回収された前記処理液を供給する供給配管を有することを特徴とする請求項5に記載の基板処理装置。
- 前記排気配管は、S字状部分を有しており、
前記S字状部分は、前記環状の壁部により回収された前記処理液を溜める液溜め部を構成し、
前記液溜め部の底部には、前記液溜め部に溜まった前記処理液を排出する排液ポートを有することを特徴とする請求項5から請求項8のいずれか一項に記載の基板処理装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020200108640A KR102414889B1 (ko) | 2019-09-03 | 2020-08-27 | 미스트 회수 장치 및 기판 처리 장치 |
CN202010877547.5A CN112447556A (zh) | 2019-09-03 | 2020-08-27 | 液雾回收装置及基板处理装置 |
TW109129502A TWI766353B (zh) | 2019-09-03 | 2020-08-28 | 液霧回收裝置及基板處理裝置 |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2019160752 | 2019-09-03 | ||
JP2019160752 | 2019-09-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2021044536A true JP2021044536A (ja) | 2021-03-18 |
JP2021044536A5 JP2021044536A5 (ja) | 2022-06-03 |
Family
ID=74863172
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2020106267A Pending JP2021044536A (ja) | 2019-09-03 | 2020-06-19 | ミスト回収装置および基板処理装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2021044536A (ja) |
KR (1) | KR102414889B1 (ja) |
TW (1) | TWI766353B (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117080131B (zh) * | 2023-10-17 | 2024-01-30 | 常州市朗捷电子有限公司 | 基于光伏直流驱动的二极管用石墨舟降温装置 |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0295516U (ja) * | 1989-01-18 | 1990-07-30 | ||
JPH06190227A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ミストあるいは蒸気凝縮回収装置 |
JPH06208988A (ja) * | 1992-02-21 | 1994-07-26 | Chuo Riken:Kk | ウェット処理装置 |
JPH11111705A (ja) * | 1997-10-06 | 1999-04-23 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体製造装置 |
JPH11233498A (ja) * | 1998-02-17 | 1999-08-27 | Nippon Edowards Kk | 排気装置 |
JP2002035668A (ja) * | 2000-05-16 | 2002-02-05 | Tokyo Electron Ltd | 塗布処理装置および塗布処理方法 |
JP2005087852A (ja) * | 2003-09-17 | 2005-04-07 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | ミスト回収装置 |
JP2005191441A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Hitachi High-Tech Electronics Engineering Co Ltd | 基板処理装置、基板処理方法、及び基板の製造方法 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3118365B2 (ja) * | 1994-03-08 | 2000-12-18 | 東海ゴム工業株式会社 | オイルミストの分離回収装置及びその製造方法 |
FR2881820B1 (fr) * | 2005-02-10 | 2008-05-30 | Saint Gobain Vetrotex | Dispositif pour l'extraction de chaleur a partir de gaz et pour la recuperation des condensats |
KR20080056856A (ko) * | 2006-12-19 | 2008-06-24 | 세메스 주식회사 | 배기부재 및 상기 배기부재의 약액 배기 방법, 그리고 상기배기부재를 구비하는 기판 처리 장치 |
KR101019112B1 (ko) * | 2008-10-13 | 2011-03-16 | (주)한국시바우라 메카트로닉스 | 처리액 회수장치 |
JP2017154111A (ja) | 2016-03-04 | 2017-09-07 | 芝浦メカトロニクス株式会社 | 基板処理装置及び基板処理方法 |
TWI597771B (zh) * | 2016-03-18 | 2017-09-01 | 盟立自動化股份有限公司 | 用於濕製程設備之氣液分離裝置 |
-
2020
- 2020-06-19 JP JP2020106267A patent/JP2021044536A/ja active Pending
- 2020-08-27 KR KR1020200108640A patent/KR102414889B1/ko active IP Right Grant
- 2020-08-28 TW TW109129502A patent/TWI766353B/zh active
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0295516U (ja) * | 1989-01-18 | 1990-07-30 | ||
JPH06208988A (ja) * | 1992-02-21 | 1994-07-26 | Chuo Riken:Kk | ウェット処理装置 |
JPH06190227A (ja) * | 1992-12-25 | 1994-07-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ミストあるいは蒸気凝縮回収装置 |
JPH11111705A (ja) * | 1997-10-06 | 1999-04-23 | Kokusai Electric Co Ltd | 半導体製造装置 |
JPH11233498A (ja) * | 1998-02-17 | 1999-08-27 | Nippon Edowards Kk | 排気装置 |
JP2002035668A (ja) * | 2000-05-16 | 2002-02-05 | Tokyo Electron Ltd | 塗布処理装置および塗布処理方法 |
JP2005087852A (ja) * | 2003-09-17 | 2005-04-07 | Hitachi Plant Eng & Constr Co Ltd | ミスト回収装置 |
JP2005191441A (ja) * | 2003-12-26 | 2005-07-14 | Hitachi High-Tech Electronics Engineering Co Ltd | 基板処理装置、基板処理方法、及び基板の製造方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR102414889B1 (ko) | 2022-07-01 |
TW202110547A (zh) | 2021-03-16 |
KR20210028113A (ko) | 2021-03-11 |
TWI766353B (zh) | 2022-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4816747B2 (ja) | 液処理装置及び液処理方法 | |
JP6289341B2 (ja) | 基板液処理装置、排気切替ユニットおよび基板液処理方法 | |
JP2006278859A (ja) | 基板処理装置 | |
KR101314181B1 (ko) | 더스트 포집장치 | |
JP2016092143A (ja) | 基板液処理装置 | |
EP3101377B1 (en) | Cooling tower drift eliminator | |
JP6461733B2 (ja) | ファンスクラバー、及び、真空ポンプ装置 | |
JP2003251130A5 (ja) | ||
JP2021044536A (ja) | ミスト回収装置および基板処理装置 | |
JP4932333B2 (ja) | 消泡装置 | |
KR20100004883A (ko) | 트랩 장치 및 감압 건조 장치 | |
JP6611893B2 (ja) | 基板液処理装置 | |
TWI704953B (zh) | 排氣淨化裝置以及使用此裝置之排氣除害裝置 | |
CN112736019B (zh) | 一种用于提升单晶圆背面清洁度的装置 | |
TW202115811A (zh) | 真空前級中用於粒子收集的高效率捕捉器 | |
JP4804407B2 (ja) | 液処理装置 | |
JP2005252100A (ja) | ミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置 | |
CN112447556A (zh) | 液雾回收装置及基板处理装置 | |
KR100998849B1 (ko) | 매엽식 세정장치 | |
JP4020741B2 (ja) | 液処理装置における気液分離回収装置 | |
KR101570167B1 (ko) | 기판 처리 장치 | |
JP2005205397A (ja) | 流体供給ノズル、基板処理装置及び基板処理方法 | |
WO2018150979A1 (ja) | 気体処理装置および基板処理装置 | |
JP3676957B2 (ja) | レジスト剥離装置 | |
KR100757497B1 (ko) | 베스 배기장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20220526 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20220526 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20230602 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20230627 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20231219 |