JP2005252100A - ミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置 - Google Patents

ミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2005252100A
JP2005252100A JP2004062727A JP2004062727A JP2005252100A JP 2005252100 A JP2005252100 A JP 2005252100A JP 2004062727 A JP2004062727 A JP 2004062727A JP 2004062727 A JP2004062727 A JP 2004062727A JP 2005252100 A JP2005252100 A JP 2005252100A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mist separator
mist
corrugated
circulating air
particles
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2004062727A
Other languages
English (en)
Inventor
Toyotaro Kawabe
豊太郎 河邊
Kenichiro Tsutsumi
謙一郎 堤
Suehiro Nakamura
末弘 中村
Kazunori Ogawa
一法 小川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinwa Controls Co Ltd
Original Assignee
Shinwa Controls Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinwa Controls Co Ltd filed Critical Shinwa Controls Co Ltd
Priority to JP2004062727A priority Critical patent/JP2005252100A/ja
Publication of JP2005252100A publication Critical patent/JP2005252100A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

【課題】 処理液のミスト状粒子等を循環空気中から効率よく、安定して分離回収することができるミスト分離器を提供する。
【解決手段】 このミスト分離器1は、筐体2内に複数の波板3を並列配置することによって、筐体2内にガス流路10が形成されるように構成され、波板3には、複数の邪魔板8が形成されていることを特徴としている。波板3は、複数の円弧状部7と複数の直状部6を有しており、邪魔板8は、上流側に向かって突出するように構成されている。更に、複数の棒状部材9が取り付けられることによって、波板3の表面に凹凸が形成されている
【選択図】 図3

Description

本発明は、半導体等(半導体、液晶、或いは、エレクトロルミネセンスなど)の製造工程において、処理液を用いて基板の処理工程を実施する際に生じる処理液のミスト状粒子(或いはフューム状粒子)を、効率よく分離回収することができるミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置に関する。
半導体等の製造工程において、フォトプロセス(光、電子線、X線等を含む)という手法によって基板(ウエハ、ガラス基板、プラズマディスプレイパネル基板、磁気ディスク用ガラス基板、セラミックス基板等)上にパターンを形成しようとする場合には、フォトプロセスに適応したフォトレジストを塗布する工程、現像液によって現像する工程、洗浄液によって洗浄する工程、湿式エッチングを行う工程等が順次実施される。そして、これらの工程には、様々な種類の処理液(酸、アルカリ、有機物などの液体)が、その都度使用される。
具体的には、フォトレジストを塗布する工程においては、レジスト液として、例えば、ポリスチレン系共重合物のジエチレングリコールジメチルエーテル溶液や、乳酸エチルと酢酸−n−ブチルの混合液にノボラック樹脂を溶解させたものなどが使用され、レジスト液の薄め液として、例えば、ジエチレングリコールジメチルエーテル、乳酸エチル、酢酸−n−ブチルなどが使用され、現像工程においては、現像液として、例えば、水酸化テトラメチルアンモニウム水溶液などが使用される。また、洗浄工程においては、洗浄液として、例えば、HCl/HO、HCl/H/HO、HF/HO、HF/H/HO、HF/NHF/HO、NHF/H0、NHOH/HO、NHOH/H/HO、HSO/H/HO、HNO/HO、有機アルカリ(水酸化テトラメチルアンモニウム、コリン等)などが使用され、湿式エッチングを行う工程においては、上記洗浄工程における洗浄液などが使用される。
これらの工程は、塵埃等が除去されて清浄化された環境下で実施する必要があるため、通常は、クリーンルーム等の閉鎖空間で行われている。そして、上記のような処理液を用いた基板の処理工程を実施する閉鎖系システムにおいては、ミスト分離器という装置が使用されている。
ミスト分離器は、通過させる気体中に含まれているミスト状粒子やフューム状粒子を分離して、気体から除去するための装置であり、この装置を循環空気の経路上に配置した場合、処理液を用いた基板の処理工程を実施することによって、基板の処理雰囲気中に処理液のミストやフュームが生じた場合であっても、それらを構成するミスト状粒子等を循環空気中から除去することができ、処理基板への悪影響や、異種処理液の混合といった問題に対処することができる。
このような用途に用いられるミスト分離器としては、邪魔板式のものや、サイクロン式のものなどが、従来より知られている。邪魔板式のミスト分離器は、内部に一枚の邪魔板を配置して、導入した空気の気流を反転させるとともに、慣性力を利用してミスト状粒子等を邪魔板に衝突させて捕捉するように構成されている。一方、サイクロン式のミスト分離器は、導入した空気を円筒形状の筐体内で旋回させ、空気中に含まれているミスト状粒子等を遠心力によって筐体内壁に接触させて捕捉するように構成されている。
上記のようなミスト分離器には、それぞれ次のような問題がある。従来の邪魔板式のミスト分離器は、非常にシンプルな構造であるため、ミスト状粒子等の捕捉性能に限界があり(捕捉可能な粒子の限界液滴径は50μm程度)、微小な粒子については、取り除くことができないという問題がある。
また、サイクロン式のミスト分離器は、高い捕集性能を有しているものの、圧力損失が大き過ぎて、実用的でないという問題がある。
本発明は、このような問題を解決すべくなされたものであって、処理液のミスト状粒子等を循環空気中から効率よく、安定して分離回収することができるミスト分離器、及び、このミスト分離器を備えた基板処理装置を提供することを目的とする。
本発明のミスト分離器は、筐体内に複数の波板を並列配置することによって、筐体内にガス流路が形成されるように構成され、波板には、複数の邪魔板が形成されていることを特徴としている。尚、波板は、複数の円弧状部と複数の直状部、又は、複数の直状部と複数の屈曲部を有していることが好ましい。
また、波板に形成されている邪魔板は、上流側に向かって突出するように構成されていることが好ましく、更に、複数の棒状部材が取り付けられることによって、波板表面に凹凸が形成されていることが好ましい。また、波板間に形成されているガス流路の幅が、局所的に減少するように構成されていることが好ましい。
本発明の基板処理装置は、上記のようなミスト分離器を循環空気経路(循環空気ダクト等)上に配置してなるものであり、ミスト分離器の上流側において、捕集された処理液に適応する溶剤を噴霧できるように構成したことを特徴としている。
また、本発明の基板処理装置においては、循環空気の一部が系外へ排出され、その排出分に見合った量の補給空気が循環空気に混入されるように構成することが好ましい。
本発明に係るミスト分離器は、シンプルな構成であるにも拘わらず、ミスト状粒子或いはフューム状粒子の粒子を極めて効率よく、また、定常的、安定的に、分離、除去することができ、また、粗大な粒子のみならず、微小な粒子をも好適に捕集することができる。
また、外観構成を小さく寸法設定した場合でも、ミスト状粒子等の捕集性能を十分に発揮させることができるので、占有スペースを小さくすることができ、省スペース化を図ることができる。また、スピナーなどのバッチ式の基板処理装置や、処理槽を有するバッチ式の基板処理装置など、どのようなタイプの基板処理装置であっても適用することができる。更に、圧力損失が小さいため、消費エネルギーを低減化することができる。
また、波板間に形成されているガス流路の幅が、局所的に減少するように構成した場合には、流路内にガスを導入した場合、狭小部分においてガスの流速が増加することになり、その結果、ミスト状粒子或いはフューム状粒子の捕集効率を格段に向上させることができる。
更に、このミスト分離器を使用した場合、ミスト状粒子等の分離によって浄化した気体を、適用される基板処理装置における雰囲気用気体として循環再使用することが可能となるので、環境負荷の低減、省エネルギーに寄与する。
また、本発明の基板処理装置において、ミスト分離器の上流側に、処理液に適応する溶剤を噴霧できるように構成した場合には、ミスト分離器における捕集効率の低下を好適に回避することができる。
更に、循環空気の一部が系外へ排出され、その排出分に見合った量の補給空気が循環空気に混入されるように構成した場合には、爆発の危険性があるような物質を含む処理液を使用する際、系内(循環空気中)における危険物質の濃度が爆発範囲から外れるよう調整することができ、これによって安全性を確保するとともに、系外への排気量を削減することができる。
以下、添付図面に沿って、本発明を実施するための最良の形態について説明する。図1は、本発明「ミスト分離器」の下方側からの斜視図である。図示されているように、このミスト分離器1は、筐体2と、五枚の波板3とによって構成されている。
筐体2は直方体状で、天面2aは閉じられており、一つの側面2bには、ガス入口4が形成され、これと対向する側面2c(反対側の面)には、ガス出口5が形成されている。そして、他の二つの側面2d,2eは閉じられており、底部はほぼ全面にわたって開放されている。
五枚の波板3は、いずれも同一形状をしており、筐体2内において、一方の端部3aがガス入口4側に、他方の端部3bがガス出口5側に臨むような位置関係をもって、平行に、かつ、同間隔(25mmピッチ)に並べられて固定されている。また、底端部3cは、筐体2の底面において露出した状態となっている。
本実施形態においては、波板3として、厚さ2mmの樹脂製の板材を、図2(一枚の波板3の平面図)に示すように波状に湾曲するように加工成形してなるものが使用されている。そして、図示されているように、この波板3は、五つの直状部6(6a〜6e)、及び、それらと交互に配置された四つの円弧状部7(7a〜7d)によって構成されている。
ここで、これらの直状部6と円弧状部7の詳細な仕様について説明する。まず、ガス入口4(図1参照)側に配置される第1直状部6aは、長さ15mmに設定され、ガス出口5(図1参照)側に配置される第5直状部6eは、長さ25mmに設定されている。尚、これらの直状部6a,6eは、同一直線上(図2に示す仮想直線Y上)にある。そして、波板3の全長(端部3aから端部3bまでの寸法)は、200mmに設定されている。
第1円弧状部7aは、曲率半径62mm、角度37°、第2円弧状部7bは、曲率半径18.5mm、角度121°、第3円弧状部7cは、曲率半径8.5mm、角度99°、第4円弧状部7dは、曲率半径18mm、角度38°に設定されている。
また、第1円弧状部7aの中心C1は、入口側端部3aから出口側端部3bの方向へ15mm、仮想直線Yから垂直方向へ62mmの位置にあり、第2円弧状部7bの中心C2は、入口側端部3aから出口側端部3bの方向へ85mm、仮想直線Yから垂直方向へ32.5mmの位置にある。そして、第3円弧状部7cの中心C3は、入口側端部3aから出口側端部3bの方向へ140mm、仮想直線Yから垂直方向へ11.5mmの位置にあり、第4円弧状部7dの中心C4は、入口側端部3aから出口側端部3bの方向へ175mm、仮想直線Yから垂直方向へ18mmの位置にある。尚、仮想直線Yを基準とすると、中心C1,C2は、入口側端部3aから出口側端部3bに向かって左側(図2において下側)に位置し、中心C3,C4は、入口側端部3aから出口側端部3bに向かって右側(図2において上側)に位置している。
尚、図1及び図2においては表示が省略されているが、五枚の波板3には、図3(ミスト分離器1の水平断面図)に示すような半月状邪魔板8(8a〜8d)が取り付けられいる。これらの半月状邪魔板8は、内径10mm、肉厚2mmの樹脂製の管を、一つが120°の円弧状となるように、中心軸線周りに三分割してなるものである。
半月状邪魔板8は、図示されているように、一つの波板3について四つずつ取り付けられている。そして、これら四つの半月状邪魔板8a〜8dのうち、二つ(8a,8c)は、ガス入口4側から見て、波板3の左側(図3において下側)の面に配置され、他の二つ(8b,8d)は、波板3の右側(図3において上側)の面に配置されている。また、半月状邪魔板8はいずれも、凹部側が、取り付けられる波板3の方を向くように取り付けられ、更に、それぞれ二つずつある端縁のうち、ガス出口5側の端縁のみが波板3に接続(溶着)され、ガス入口4側の端縁は波板3から離れた位置となるような状態で固定されている。従って、いずれの半月状邪魔板8も、ガス入口4側(上流側)に向かって突出し、開口した状態となっている。尚、半月状邪魔板8は、ガス入口4から50mm、90mm、160mm、及び、170mmの位置にそれぞれ配置されており、基本的には(半月状邪魔板8c以外は)、円弧状部7の凹面側に配置されている。
また、波板3には、直径2mmの樹脂製の棒状部材9が多数(本実施形態においては、一枚の波板3につき二十本)溶着されている。より詳細には、これらの棒状部材9は、波板3の第3直状部6cの左右両側面に、それぞれ十本ずつ等間隔(4mmピッチ)に配置されている。これらの棒状部材9により、波板3の第3直状部6cの両側面に凹凸部が形成される。
以上のような構成に係る五枚の波板3が、筐体2内において平行に、かつ、等間隔に並べられて固定されることによって、筐体2内には、四つのガス流路10(10a〜10d)(図3参照)が形成され、ガス入口4から筐体2内にガスを流入させると、流入したガスは、これら四つの流路10を通って、反対側のガス出口5から流出するようになっている。
尚、これらの流路10を構成する五枚の波板3は、図2に示したように、いずれも同一形状であるため、平行に、かつ、等間隔に並べた場合、各波板3間に形成される流路10の幅が局所的に変化することになる。具体的には、円弧状部7(7a〜7d)の間に配置された直状部(第2直状部6b〜第4直状部6d)付近においては、ガス入口4付近及びガス出口5付近よりも、流路10幅が狭くなっている。
このように、波板3間に形成されている流路10は、局所的に幅が減少するように構成されているため、これらの流路10内にガスを導入した場合、狭小部分においてガスの流速が増加することになり、その結果、ミスト状粒子或いはフューム状粒子の捕集効率が格段に増大する。
より詳細に、このミスト分離器1におけるガス流路10の構造と機能(ミスト状粒子等の分離除去機能)について説明すると、まず、ガス入口4から流路10内に進入したガスは、第1直状部6aに沿って真っ直ぐに流れていき、続く第1円弧状部7aによって、進行方向に向かって左側へ偏向されることになる。
上述したように、第1円弧状部7aには、ガス入口4側に向かって開口する半月状邪魔板8aが取り付けられている。ガスの方向転換(図3では下側にまがる)に伴い、ガス流線に乗らず、慣性によって偏移した粗大ミストが、この半月状邪魔板8aと波板3との間に形成されているスペース(分離室11a)に進入し、分離除去される。
第1円弧状部7a付近の領域を通過したガスは、これに続く第2直状部6bに沿って流れていくことになるが、この領域の流路10の最狭小幅は約10mmとなっているので、ガスの流速は増加することになる。
続く第2円弧状部7bは、流路10内におけるガスの進行方向を約120°偏向させるように構成されており、前述したように、その最奥部には、半月状邪魔板8bが配置されている。そして、ガスの流速が増加すると、ガス中に含まれている微小なミスト状粒子等(10μm以上)等に作用する遠心力(偏向時に作用する遠心力)も大きくなるため、第2直状部6bの領域を通過する際に流速を増したガスが、第2円弧状部7b付近の領域に流れ込んできた場合、微小なミスト状粒子等は、波板3の最奥部に向かって移動していき、最奥部に配置されている半月状邪魔板8bと波板3との間のスペース(分離室11b)に進入して、その内壁面に衝突し、捕捉されることになる。
また、第2円弧状部7bに続く第3直状部6cには、多数の棒状部材9が配置されることによって凹凸が形成されている。従って、ガスがこの領域を通過する際には、ガス中に残存しているミスト状粒子等が、それらの凹凸に連続して衝突することになり、捕捉されることになる。
そして、第3直状部6cの領域を通過したガスは、第3円弧状部7c、第4直状部6d、第4円弧状部7d、及び、第5直状部6eを通って、ガス出口5から排出されることになるが、第4直状部6dの終端部付近、及び、第4円弧状部7dにも、半月状邪魔板8が配置され、分離室11c,11dが形成されているため、それよりも上流側の半月状邪魔板8や棒状部材9等から再飛散したミスト状粒子等、流路10内を流下中に凝集して大きくなったミスト状粒子等、或いは、波板3の表面に付着してガスから分離された後、そのまま壁面に沿って移動してきたミスト状粒子等が、慣性力によって分離室11c,11dの内壁面に激突することになり、捕捉されることになる。
このように、本実施形態のミスト分離器1は、ミスト状粒子等を含んだガスをガス入口4から流入させると、流路10内を通過してガス出口5から排出されるまでの間に、ミスト状粒子等が分離室11の内壁や、棒状部材9による凹凸によって効率よく捕集されることになり、ガス中からミスト状粒子等を好適に分離することができる。尚、分離捕捉されたミスト状粒子等は、分離室11の内壁面上或いは棒状部材9による凹凸面上において次第に凝集されて滴となり、重力に従い、面上を伝って流れ落ちることになる。そして、開放されている筐体2の底部から落下、排出され、その下方に配置された処理液回収手段によって回収されることになる。
尚、本実施形態においては、波板3に溶着される半月状邪魔板8は、水平断面が円弧状となるものが使用されているが、必ずしもこの形に限定する必要はなく、平板状の邪魔板(水平断面が長方形となるもの)を取り付けることもできる。また、本実施形態においては、半月状邪魔板8のガス出口5側の端縁のみを波板3に溶着し、ガス入口4側の端縁は、波板3から離れた位置となるような状態で開口されているが、両端縁ともに波板3に溶着し、分離室が形成されないような状態とすることもできる。
更に、このミスト分離器1内に取り付けられる波板3としては、図4に示すように、直状部16(16a〜16f)と屈曲部によって構成したものを使用することもできる。尚、図4に示す波板3は、厚さ3mmの樹脂製の板材を、屈曲部において突出部17(17a〜17c)が形成されるように溶着してなるものであり、第1直状部16aは、長さ15mmに設定され、第6直状部16fは、長さ25mmに設定されている。そして、これらの直状部16a,16fは、同一直線上にある。また、この波板3の全長(端部3aから端部3bまでの寸法)は、200mmに設定されている。
尚、第2直状部16bと第3直状部16cとの屈曲角度、第3直状部16cと第4直状部16dとの屈曲角度、及び、第4直状部16dと第5直状部16eとの屈曲角度は、いずれも120°に設定されている。また、突出部17は、図示されているように、いずれもガス入口4側(上流側)に向かって突出しており、その突出寸法は5mmに設定されている。
図1〜図3に示したミスト分離器1、及び、図4に示したミスト分離器1において、処理液のミスト状粒子等を含むガスに接する部分には、その接する処理液に対して耐食性を有する材料を使用することが好ましい。例えば、フッ素樹脂を使用することが望ましいが、これには限定されず、ポリオレフィン樹脂、ステンレス鋼や、ステンレス綱にフッ素樹脂をコーティングしたものなどを使用することもできる。
ここで、本発明に係るミスト分離器1の適用例について説明する。図5は、本発明に係るミスト分離器1を適用した基板処理装置21の構成図である。この基板処理装置21は、基本的には、処理室22、スピナー23、循環空気ダクト25等によって構成されている。
スピナー23は、基板保持部23a、回転軸23b、及び、駆動モータ23cからなり、図示されているように処理室22内に設置されている。基板保持部23aは、上面に処理基板Wを載置させた状態で、水平姿勢を保持しつつ回転するようになっており、この基板保持部23aには、駆動モータ23cの回転駆動力が、回転軸23bを介して供給されるようになっている。また、処理室22内には、基板保持部23aの上方において、水平方向へ移動可能なように構成された処理液供給ノズル27が配置されている。
基板保持部23aの周囲には、上面に載置される処理基板Wを取り囲むように、カップ壁24が配設されている。このカップ壁24は、処理液(薬液)の飛散を防止し、また、飛散した処理液の液滴を回収するためのものである。カップ壁24の下部には、処理室22内の空気(及び、回収した処理液の液滴)を排出するための排出口24aが形成されており、この排出口24aには、循環空気ダクト25が接続されている。
循環空気ダクト25上には、送風機29が配置されており、本発明に係るミスト分離器1は、その上流側に配置されている。循環空気ダクト25の他端は、処理室22の上部に配置されているHEPAフィルター28に接続されている。また、HEPAフィルター28との接続部の上流側には、補給空気取入口30が接続されており、送風機29の下流側には、循環空気の一部を排出するための一部排出口32が接続されている。
ここで、この基板処理装置21の動作態様について説明する。まず、送風機29を稼働させると、処理室22内の空気が吸引されて循環空気ダクト25内に流入する。尚、処理室22の室外への処理液の汚染を防止する観点から、処理室22内、或いは、カップ壁24内における処理液の高濃度雰囲気部は、陰圧に保持することが好ましく、このため送風機29は、循環空気の供給部(HEPAフィルター28)の近くではなく、循環空気の排出部(排出口24a)に近い位置に配置され、処理室22の室内空気を吸引する方式となっている。
循環空気ダクト25内に流入した空気は、ミスト分離器1、送風機29を通過して、HEPAフィルター28に送られる。そして、循環空気は、HEPAフィルター28を通過する際に清浄化(パーティクルの除去)され、処理室22の上部から、その下方に設置されているスピナー23に向けて、ダウンフローで供給される。
スピナー23に供給される空気の下降流により、処理基板Wの周辺(カップ壁24の内側)は、処理液による基板処理に適した雰囲気に保持される。この状態で、基板保持部23a、及び、その上に載置した処理基板Wを回転させ、処理液タンク26に貯留されている処理液を、処理液供給ノズル27から処理基板W上へ供給することにより、基板処理が行われる。
回転する処理基板W上に処理液を供給すると、余剰の処理液が飛散することになり、処理液のミストや蒸気が発生する。この処理液のミストを構成するミスト状粒子、或いは、蒸気を構成するフューム状粒子は、カップ壁24の内壁に接触してその表面に付着したり、或いは、処理基板Wの雰囲気中を浮遊することになる。カップ壁24の内壁に付着したミスト状粒子等は、その表面を伝って下方へ流れ落ち、カップ壁24の下部に形成されている排出口24aから、重力に従って、また、気流の影響を受けて排出される。一方、処理雰囲気中に浮遊するミスト状粒子等は、処理基板Wの回転に伴って発生した気流とともにに排出口24aから排出され、循環空気ダクト25内に流入する。
循環空気ダクト25内に流入した処理液のミスト状粒子等は、循環空気とともにミスト分離器1内に流入する。そして、循環空気が図1、図3、又は、図4に示したような流路10を通過する間に処理液のミスト状粒子等が分離され、循環空気中から除去される。尚、分離された処理液のミスト状粒子等は、ミスト分離器1の底部から、その下方に配置されている処理液回収手段33に落下し、回収される。一方、ミスト状粒子等が除去された循環空気は、循環空気ダクト25内を流下し、HEPAフィルター28を通過して再び処理室22に供給され、処理室22内の処理雰囲気用気体として再利用される。
但し、製品(基板)の品質低下や、爆発などの原因となる物質が処理液に含まれている場合には、循環空気を100%再利用すると、それらの物質が系内に蓄積されてしまうことになる。そこで、このような場合には、一部排出口32から循環空気の一部を排出し、その損失分は、補給空気取入口30から導入した補給空気を循環空気に混入することによって賄う。
尚、ミスト分離器1の入口における循環空気の平均流速、及び、循環空気ダクト25内における循環空気の線速度は、経済性等の観点から、いずれも毎秒6〜10m程度となるように送風機29の吐出風量を調整する。
また、この基板処理装置21が長時間にわたって連続的に使用されると、ミスト分離器1内において捕集されたミスト状粒子が、その捕集された部位に留まっている時間も長くなるが、レジスト液のように、粘性が高く(約20×10−3Pa・s)、かつ、揮発性に富んだ処理液が使用されるような場合、ミスト分離器1内において捕集された処理液中の溶剤が揮発し、それに伴いレジスト液は益々高粘度化し、最終的には固結状態となり、波板3の表面に固着し、捕集効率を悪化させてしまう可能性がある。そこでこのような場合には、波板3の上流において、使用される処理液に適応する溶剤を噴霧して、波板3を洗浄するように構成することが好ましい。このように構成した場合、捕集効率の低下を好適に回避することができる。
また、レジスト液の中には、引火しやすく、空気と混合することによって爆発する危険性が大きくなる物質が、溶剤として使用されているものもあるため、そのようなレジスト液を処理液として使用する場合には、循環空気の組成が、爆発範囲から外れるような対策(例えば、循環空気中に、窒素などの不活性ガスを導入して酸素濃度を低下させる等の対策)を取ることが好ましい。
次に、本発明「ミスト分離器」について、本発明の発明者らが行った各種の実験の内容とその結果について説明する。
まず、本発明のミスト分離器として、3タイプのモデル(タイプI、タイプII、タイプIII)を用意し、また、比較例として、従来より知られているサイクロン式のミスト分離器を用意し、これらを図5に示した基板処理装置21にそれぞれ適用して、6種類の処理液のミスト状粒子の捕集性能についての実験を行った。
尚、タイプI及びタイプIIは、外形寸法が、全長200mm、幅250mm、高さ200mmで、図1に示す筐体内にガス入口4側とガス出口5側において6枚の波板を同間隔(25mmピッチ)、かつ、並行に配置したものである。そして、タイプIは、図2、図3に示した波板3を使用し、タイプIIは、図2、図3に示した波板3に改変を加えたものが使用されている。具体的には、図2、図3の波板3においては、半月状邪魔板8のガス出口5側の端縁のみが波板3に溶着され、ガス入口4側の端縁は、波板3から離れた位置となるような状態で固定されているが、タイプIIにおいて使用される波板においては、半月状邪魔板の両端縁がともに波板に溶着され、分離室が形成されないような状態となっている。
タイプIIIは、外形寸法が、全長200mm、幅150mm、高さ200mmで、図4に示した波板3を、筐体内に6枚、ガス入口4側とガス出口5側において同間隔(15mmピッチ)、かつ、並行に配置したものである。また、サイクロン式のミスト分離器(比較例)は、図6に示すように、直径150mm、高さ150mmの円筒部42と、その内側の中心に配置された直径60mmの小円筒部43と、円筒部の下側に接続された高さ300mmの逆円錐状部44(上端の直径150、下端の直径50mm)と、外部から円筒部42の内側空間へ、円筒部42内壁の接線方向に連通する空気流入口45とによって構成されている。
この実験で使用した処理液は6種類(イ〜ヘ)で、その構成、種類、用途(処理工程)は次表の通りである。
これらの処理液(イ〜ヘ)を、図5に示した基板処理装置21において、処理風量2m/min、入口ミスト量3000〜4000mg/mとなるような条件下で使用し、タイプI〜IIIのミスト分離器(本発明)、及び、サイクロン式のミスト分離器(比較例)によるミスト状粒子の捕集効率((1−出口ミスト量/入口ミスト量)×100)と、それらのミスト分離器の圧力損失を測定した。その結果は次表に示す。
上記結果からも明らかなように、本発明に係るミスト分離器(タイプI〜III)はいずれも、比較例として用意したサイクロン式のミスト分離器よりも、ミスト状粒子の捕集性能が良好であること、また、圧力損失は、サイクロン式のミスト分離器の1/5以下であることが確認された。
次に、上記のミスト分離器(タイプI〜III)とサイクロン式のミスト分離器のそれぞれについて、捕捉可能なミスト状粒子の限界粒子径の測定を行った。より具体的には、表面にモービル油を薄く塗ったデッキガラスを、各ミスト分離器のガス出口側に配置し、各ミスト分離器の上流側で水1.0L/minを噴霧して、空気2m/minをガス入口からミスト分離器の内部へ流入させた。そして、ガス出口から排出された(ミスト分離器によって分離させることができなかった)水のミスト状粒子をデッキガラスの表面に付着させて捕捉し、その粒子径を測定した。
デッキガラスに付着したミスト状粒子のうち最大のものは、タイプIでは10μm、タイプII及びタイプIIIでは12μm、サイクロン式のミスト分離器では16μmであった。
このように、サイクロン式のミスト分離器では、直径が16μmを超える大きさのミスト状粒子であれば、空気から分離して捕捉することができるが、16μm以下のミスト状粒子については、完全に分離させることはできなかった。これに対し、本発明に係るミスト分離器においては、直径16μm以上の粗大な粒子はもちろんのこと、それ以下の微小な粒子(タイプIの場合、11〜16μmの粒子、タイプII、IIIの場合13〜16μmの粒子)でも、空気から分離して捕捉できることが確認された。
次に、タイプI〜IIIのミスト分離器において、波板を洗浄できるように構成した場合に期待される効果の検証を行った。具体的に説明すると、各ミスト分離器の上流側でレジスト液(表1に示した処理液ロ)1.0L/minを噴霧して、空気2m/minをガス入口からミスト分離器の内部へ流入させ、これを所定時間(30分、1時間、3時間、又は、24時間)継続して行った後に、レジスト液の噴霧を止め、代わりにそのレジスト液の溶剤(乳酸エチルと酢酸−n−ブチルの混合液)を3分間噴霧して、波板の洗浄を行った。そして、その洗浄の直前と直後において、それぞれ捕集効率を測定した。その測定結果を表3に示す。
この実験結果より、洗浄を行うことによって、ある程度捕集効率を回復させることが確認された。但し、レジスト液の噴霧継続時間が長くなるほど、洗浄による回復率が小さくなることも分かった。これは、邪魔板等に付着したレジスト液が、時間の経過とともに硬化と蓄積を繰り返していき、溶剤を噴霧しても簡単には洗い流すことができなくなってしまうためであると考えられる。
尚、上記実験結果によれば、洗浄しても捕集効率が戻らない捕集効率の低下が最も顕著であるのはタイプIで、タイプIIは、捕集効率の低下が最も小さかった。このタイプIIは、タイプIやタイプIIIと比べて、流路内における空気の淀みが少ない構造となっていることから、空気の淀みの少ない構造のものの方が、時間耐性が大きい、ということが分かった。
次に、タイプIIIのミスト分離器について、実施例3と同様の条件で、1時間毎に3分間の洗浄を行いながら、5日間にわたって捕集効率の測定を行った。その結果を次表に示す
この実験結果からも分かるように、タイプIIIのミスト分離器は、1時間毎に洗浄を行えば、捕集効率を低下させることなく、定常的に、安定的にミスト状粒子を分離させ捕集することができることが確認された。
次に、タイプIのミスト分離器を適用した図5の基板処理装置21において、レジスト液(表1に示した処理液イ)を使用した場合の安全性について実験を行った。
尚、ここで使用されるレジスト液(表1に示した処理液イ)は、溶剤としてジエチレングリコールジメチルエーテルが使用されており、その割合は、全体の93重量%以上である。ジエチレングリコールジメチルエーテルは、常温(25℃)、常圧においては、蒸気圧は3.5mmHgで、0.46容積%である。この物質は、可燃物であり、爆発範囲は空気中で1.5〜17.4容積%である。そして、この物質を扱う場合、爆発範囲下限側において安全性を確実にするには、爆発下限界(1.5容積%)の少なくとも4分の1以下(0.38容積%以下)に希釈することが必要である。
図5の基板処理装置21の処理液供給ノズル27から、このレジスト液0.5L/minを噴霧させるとともに、送風機29を稼働させて、処理室22から空気2m/minを吸引した。この吸引した空気を、循環空気ダクト25の一部排出口32からすべて系外に排出した場合、系内におけるジエチレングリコールジメチルエーテルガスの濃度は、0.03容積%となった。
一方、送風機29によって吸引した空気(2m/min)のうち、0.2m/minを一部排出口32から系外に排出するとともに、補給空気取入口30から同量(0.2m/min)の補給空気を循環空気に混入させて、空気を循環させた場合、系内におけるジエチレングリコールジメチルエーテルガスの濃度は、0.34容積%となった。この場合、安全性が確保されるとともに、系外への排気量を10分の1に削減できることになる。
本発明のミスト分離器1の下方側からの斜視図。 図1に示したミスト分離器1に取り付けられている一枚の波板3の平面図。 図1に示したミスト分離器1の水平断面図。 本発明のミスト分離器1の他の構成例を示す断面図。 本発明に係るミスト分離器1を適用した基板処理装置21の構成図 実施例において、比較例として使用したサイクロン式のミスト分離器(従来)の断面図。
符号の説明
1:ミスト分離器、
2:筐体、
2a:天面、
2b〜2e:側面、
3:波板、
3a:入口側端部、
3b:出口側端部、
3c:底端部、
4:ガス入口、
5:ガス出口、
6,6a〜6e:直状部、
7,7a〜7d:円弧状部、
8,8a〜8d:半月状邪魔板、
9:棒状部材、
10,10a〜10d:ガス流路、
11,11a〜11d:分離室、
16,16a〜16f:直状部、
17,17a〜17c:突出部、
21:基板処理装置、
22:処理室、
23:スピナー、
23a:基板保持部、
23b:回転軸、
23c:駆動モータ、
24:カップ壁、
24a:排出口、
25:循環空気ダクト、
26:処理液タンク、
27:処理液供給ノズル、
28:HEPAフィルター、
29:送風機、
30:補給空気取入口、
32:一部排出口、
33:処理液回収手段、
42:円筒部、
43:小円筒部、
44:逆円錐状部、
45:空気流入口、
C1〜C4:円弧状部の中心、
W:処理基板、
Y:仮想直線、

Claims (6)

  1. 筐体内に複数の波板を並列配置することによって、筐体内にガス流路が形成されるように構成されたミスト分離器であって、
    前記波板は、複数の円弧状部と複数の直状部を有し、
    前記波板には、上流側に向かって突出するように構成された複数の邪魔板が形成されていることを特徴とするミスト分離器。
  2. 前記波板間に形成されているガス流路の幅が、局所的に減少するように構成されていることを特徴とする、請求項1に記載のミスト分離器。
  3. 筐体内に複数の波板を並列配置することによって、筐体内にガス流路が形成されるように構成されたミスト分離器であって、
    前記波板は、複数の直状部と複数の屈曲部を有し、
    前記波板には、上流側に向かって突出するように構成された複数の邪魔板が形成されていることを特徴とするミスト分離器。
  4. 複数の棒状部材が取り付けられることによって、前記波板表面に凹凸が形成されていることを特徴とする、請求項1〜3のいずれかに記載のミスト分離器。
  5. 請求項1〜4のいずれかに記載のミスト分離器を、循環空気経路上に配置してなる基板処理装置であって、
    前記ミスト分離器の上流側において、捕集された処理液に適応する溶剤を噴霧できるように構成したことを特徴とする基板処理装置。
  6. 請求項1〜4のいずれかに記載のミスト分離器を、循環空気経路上に配置してなる基板処理装置であって、
    循環空気の一部が系外へ排出され、その排出分に見合った量の補給空気が循環空気に混入されるように構成されていることを特徴とする基板処理装置。
JP2004062727A 2004-03-05 2004-03-05 ミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置 Pending JP2005252100A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004062727A JP2005252100A (ja) 2004-03-05 2004-03-05 ミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004062727A JP2005252100A (ja) 2004-03-05 2004-03-05 ミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005252100A true JP2005252100A (ja) 2005-09-15

Family

ID=35032278

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004062727A Pending JP2005252100A (ja) 2004-03-05 2004-03-05 ミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005252100A (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008036627A (ja) * 2006-07-11 2008-02-21 Keio Gijuku 塗装工場や印刷工場において発生するガス状の揮発性有機化合物を含む空気を浄化し、揮発性有機化合物を回収するための方法およびシステム
JP2011061142A (ja) * 2009-09-14 2011-03-24 Tokyo Electron Ltd レジスト塗布現像装置およびレジスト塗布現像方法
CN101439235B (zh) * 2007-11-22 2011-08-17 东京毅力科创株式会社 气液分离装置
JP2013000648A (ja) * 2011-06-15 2013-01-07 Kaneda Kosakusho:Kk 排煙処理装置
CN103055611A (zh) * 2012-12-26 2013-04-24 常熟市华能环保工程有限公司 一种脱水去除细粉尘的装置
KR20160112468A (ko) * 2015-03-19 2016-09-28 주식회사 이오테크닉스 수지 도포 장치에서 발생되는 퓸을 제거하는 장치 및 이를 포함하는 보호막형성 시스템
JP2018086654A (ja) * 2012-04-27 2018-06-07 ジーアールジー, エルエルシーGrg, Llc 水分及び粉塵を除去するためのルーバー装置
US10767260B2 (en) 2017-03-27 2020-09-08 Kokusai Electric Corporation Substrate processing apparatus, vaporization system and mist filter
JP2020159594A (ja) * 2019-03-25 2020-10-01 パナソニックIpマネジメント株式会社 熱交換ユニット及び吸収式冷凍機
US11446596B2 (en) 2019-10-15 2022-09-20 Honeywell International Inc. Self refreshing particle separator

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008036627A (ja) * 2006-07-11 2008-02-21 Keio Gijuku 塗装工場や印刷工場において発生するガス状の揮発性有機化合物を含む空気を浄化し、揮発性有機化合物を回収するための方法およびシステム
CN101439235B (zh) * 2007-11-22 2011-08-17 东京毅力科创株式会社 气液分离装置
US8411246B2 (en) 2009-09-14 2013-04-02 Tokyo Electron Limited Resist coating and developing apparatus and method
CN102023498A (zh) * 2009-09-14 2011-04-20 东京毅力科创株式会社 抗蚀剂涂布显影装置和抗蚀剂涂布显影方法
KR101195673B1 (ko) 2009-09-14 2012-10-30 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 레지스트 도포 현상 장치 및 레지스트 도포 현상 방법
JP2011061142A (ja) * 2009-09-14 2011-03-24 Tokyo Electron Ltd レジスト塗布現像装置およびレジスト塗布現像方法
JP2013000648A (ja) * 2011-06-15 2013-01-07 Kaneda Kosakusho:Kk 排煙処理装置
JP2018086654A (ja) * 2012-04-27 2018-06-07 ジーアールジー, エルエルシーGrg, Llc 水分及び粉塵を除去するためのルーバー装置
CN103055611A (zh) * 2012-12-26 2013-04-24 常熟市华能环保工程有限公司 一种脱水去除细粉尘的装置
KR20160112468A (ko) * 2015-03-19 2016-09-28 주식회사 이오테크닉스 수지 도포 장치에서 발생되는 퓸을 제거하는 장치 및 이를 포함하는 보호막형성 시스템
KR101724451B1 (ko) 2015-03-19 2017-04-07 주식회사 이오테크닉스 수지 도포 장치에서 발생되는 퓸을 제거하는 장치 및 이를 포함하는 보호막형성 시스템
US10767260B2 (en) 2017-03-27 2020-09-08 Kokusai Electric Corporation Substrate processing apparatus, vaporization system and mist filter
JP2020159594A (ja) * 2019-03-25 2020-10-01 パナソニックIpマネジメント株式会社 熱交換ユニット及び吸収式冷凍機
JP7300639B2 (ja) 2019-03-25 2023-06-30 パナソニックIpマネジメント株式会社 熱交換ユニット及び吸収式冷凍機
US11446596B2 (en) 2019-10-15 2022-09-20 Honeywell International Inc. Self refreshing particle separator

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7837432B2 (en) Exhaust system and exhausting pump connected to a processing chamber of a substrate processing apparatus
JP6769166B2 (ja) 液処理装置及び液処理方法
JP2005252100A (ja) ミスト分離器、及び、ミスト分離器を備えた基板処理装置
TWI600476B (zh) 洗淨用治具、洗淨用治具組、洗淨用基板、洗淨方法及基板處理裝置
JP2003144826A (ja) ファンスクラバー
US6125863A (en) Offset rotor flat media processor
CN114269453A (zh) 湿式集尘单元及使用其的湿式集尘装置
JP6027465B2 (ja) 基板処理装置及び基板処理方法
TWM621422U (zh) 可提升濾淨效能的廢氣處理設備
TWI704953B (zh) 排氣淨化裝置以及使用此裝置之排氣除害裝置
KR20200027436A (ko) 기판 건조장치
JP2004089852A (ja) ミスト除去装置、及び空気浄化装置
JP4759183B2 (ja) スピン処理装置
TW201138991A (en) Substrate processing apparatus
JP4567178B2 (ja) スピン処理装置
TWI766353B (zh) 液霧回收裝置及基板處理裝置
JP2003218004A (ja) スピン処理装置
JP2002261065A (ja) スピン処理装置
JP2011110500A (ja) 塗装システム
JP2004207407A (ja) スピン洗浄装置
TWI765637B (zh) 可提升濾淨效能的廢氣處理設備
JP2001029852A (ja) 塗装装置
JP2002009036A (ja) スピン処理装置
KR200382729Y1 (ko) 수포식 분진 세척 시스템
KR20160051015A (ko) 집진 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070208

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090811

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20091222