JP2020008601A - 眼鏡測定システム及び眼鏡測定プログラム - Google Patents

Abstract

【課題】 眼鏡フレームに眼鏡レンズを枠入れした状態におけるレイアウトを測定する眼鏡測定システム及び眼鏡測定プログラムを提供する。【解決手段】 眼鏡を測定する眼鏡測定システムであって、眼鏡のフレームにおけるリムの深さ方向の厚みである第１情報を取得する第１取得手段と、眼鏡のレンズをフレームに枠入れした枠入れ状態において、リムの外縁の位置からレンズの光学中心位置までの高さである第２情報を取得する第２取得手段と、第１取得手段により取得された第１情報と、第２取得手段により取得された第２情報と、に基づいて、枠入れ状態におけるリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さである第３情報を取得する第３取得手段と、を備える。【選択図】 図１

Description

本開示は、眼鏡を測定する眼鏡測定システム、及び、眼鏡測定プログラムに関する。

眼鏡は、複数の眼鏡機器により測定した測定結果に基づいて作製される。例えば、複数の眼鏡機器とは、眼鏡レンズの光学特性を測定するレンズメータ、眼鏡フレームの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置、眼鏡レンズの周縁を加工するレンズ周縁加工装置、等である（例えば、特許文献１参照）。

特開２０１３−２１２５７３号公報

ところで、眼鏡は、眼鏡レンズの周縁にヤゲンを形成して、これを眼鏡フレームのリムの溝に嵌め込むことで、眼鏡レンズと眼鏡フレームとが組み付けられている。眼鏡レンズのヤゲンは、リムの溝に必ずしも隙間なく嵌め込まれるとは限らず、ヤゲンの頂点がリムの溝底に接しない場合もある。このような状態では、眼鏡のレイアウト（例えば、眼鏡フレームに対する眼鏡レンズの光学中心位置、左右の眼鏡レンズにおける光学中心間の距離、リムの下縁から光学中心位置までの高さ、等）が、予定とは異なる仕上がりになっていることがあった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、眼鏡フレームに眼鏡レンズを枠入れした状態におけるレイアウトを測定する眼鏡測定システム及び眼鏡測定プログラムを提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下の構成を備えることを特徴とする。
（１） 本開示の第１態様に係る眼鏡測定システムは、眼鏡を測定する眼鏡測定システムであって、前記眼鏡のフレームにおけるリムの深さ方向の厚みである第１情報を取得する第１取得手段と、前記眼鏡のレンズを前記フレームに枠入れした枠入れ状態において、前記リムの外縁の位置から前記レンズの光学中心位置までの高さである第２情報を取得する第２取得手段と、前記第１取得手段により取得された前記第１情報と、前記第２取得手段により取得された前記第２情報と、に基づいて、前記枠入れ状態における前記リムの溝底の位置から前記光学中心位置までの高さである第３情報を取得する第３取得手段と、を備えることを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係る眼鏡測定プログラムは、眼鏡を測定する眼鏡測定システムにおいて用いられる眼鏡測定プログラムであって、前記眼鏡測定システムのプロセッサに実行されることで、前記眼鏡のフレームにおけるリムの深さ方向の厚みである第１情報を取得する第１取得ステップと、前記眼鏡のレンズを前記フレームに枠入れした枠入れ状態において、前記リムの外縁の位置から前記レンズの光学中心位置までの高さである第２情報を取得する第２取得ステップと、前記第１取得ステップにより取得された前記第１情報と、前記第２取得ステップにより取得された前記第２情報と、に基づいて、前記枠入れ状態における前記リムの溝底の位置から前記光学中心位置までの高さである第３情報を取得する第３取得ステップと、を前記眼鏡測定システムに実行させることを特徴とする。

眼鏡測定システムを示す図である。 眼鏡枠形状測定装置の外観略図である。 眼鏡枠形状測定装置が備えるフレーム保持ユニットの上面図である。 眼鏡枠形状測定装置が備えるフレーム保持ユニットの斜視図である。 眼鏡枠形状測定装置が備えるクランプ機構の概略構成図である。 眼鏡枠形状測定装置が備えるフレーム測定ユニットを示す図である。 眼鏡枠形状測定装置の制御系を示す図である。 眼鏡測定装置の外観略図である。 眼鏡測定装置が備える収納部内の概略構成図である。 眼鏡測定装置の光学系を示す図である。 眼鏡測定装置の制御系を示す図である。 フレームにレンズが枠入れされた状態の眼鏡を示す図である。 第２スライダーにおける第２面と測定子の接触を説明する図である 眼鏡測定装置により取得される撮像画像の一例である。 フレームの溝とレンズのヤゲンとに隙間がある状態の眼鏡を示す図である。 高さＢＴとＰＤ高さの変換を説明する図である。

＜概要＞
本開示の実施形態に係る眼鏡測定システムの概要について説明する。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。

例えば、眼鏡測定システム（例えば、眼鏡測定システム１）は、眼鏡を測定する。眼鏡とは、眼鏡フレーム（以下、フレーム）に眼鏡レンズ（以下、レンズ）が枠入れされた状態の眼鏡であってもよい。フレームは、リムを少なくとも下縁に有するフレームであってもよい。すなわち、フレームのリムの少なくとも下縁に、レンズＬＥが枠入れされるフレームであってもよい。例えば、このようなフレームとしては、フルリムフレーム、アンダーリムフレーム、等が挙げられる。

眼鏡測定システムは、眼鏡枠形状測定装置（例えば、眼鏡枠形状測定装置１００）を備えていてもよい。例えば、眼鏡枠形状測定装置は、フレームの形状を測定する。フレームの形状としては、フレームのリムの内形形状であってもよいし、フレームのリムの外形形状であってもよい。また、眼鏡測定システムは、眼鏡測定装置（例えば、眼鏡測定装置２００）を備えていてもよい。例えば、眼鏡測定装置は、眼鏡のレイアウト、眼鏡に枠入れされたレンズの光学特性、等の少なくともいずれかを測定する。なお、眼鏡測定システムは、眼鏡枠形状測定装置と眼鏡測定装置が別々の装置として構成されたシステムであってもよい。眼鏡枠形状測定装置と眼鏡測定装置が一体型の装置として構成されたシステムであってもよい。

例えば、本実施例において、眼鏡測定システムは、少なくとも眼鏡枠形状測定装置と眼鏡測定装置を備える構成であってもよい。この場合、眼鏡測定システムは、眼鏡枠形状測定装置と眼鏡測定装置の他に、レンズメータ、カップ取付装置、軸出し装置、レンズ周縁加工装置、等の少なくともいずれかを備える構成としてもよい。例えば、レンズメータは、眼鏡に枠入れされたレンズや未加工のレンズにおける光学特性を測定する。例えば、カップ取付装置は、レンズに加工治具を取り付ける。例えば、軸出し装置は、レンズ周縁加工装置が備えるレンズ保持手段のレンズに対する取付け位置（すなわち、軸出し位置）を設定する。例えば、レンズ周縁加工装置は、レンズの周縁を加工する。

＜第１取得手段＞
例えば、眼鏡測定システムは、第１取得手段（例えば、制御部９０）を備える。第１取得手段は、眼鏡のフレームにおけるリムの深さ方向の厚みである第１情報を取得する。例えば、第１情報は、フレームのリムの溝底の位置と、フレームのリムの外縁の位置と、に基づくリムの溝底からリムの外縁までの高さであってもよい。例えば、第１取得手段は、リムの動径角のいずれかの位置におけるリムの溝底から、リムの動径角のいずれかの位置におけるリムの外縁までの高さを、第１情報として取得してもよい。一例として、第１取得手段は、リムの上縁部分における溝底から外縁までの高さ、リムの下縁部分における溝底から外縁までの高さ、等の少なくともいずれかを取得してもよい。例えば、本実施例では、第１取得手段が、リムの溝底の最底辺の位置からリムの外縁における最外縁の位置までの高さを、第１情報（リムの深さ方向の厚み）として取得する。

なお、このような第１情報は、フレームを作成するためのフレーム設計データに基づいて取得されてもよい。この場合、眼鏡測定システムは予めメモリに蓄積されたフレーム設計データを有し、第１取得手段がフレーム設計データを読み込むことで第１情報を取得する構成としてもよい。また、この場合、眼鏡測定システムはフレーム設計データが保存されたクラウドやサーバを有し、第１取得手段がクラウドやサーバにアクセスしてフレーム設計データを呼び出すことで第１情報を取得する構成としてもよい。また、このような第１情報は、後述する溝底検出手段により検出されたリムの溝底の位置と、後述する外縁検出手段により検出されたリムの外縁の位置と、に基づいて取得されてもよい。例えば、フレームは設計データに基づいて製造されているが、同一のフレームであっても個体差が生じてしまうことがある。本実施例のように、リムの溝底の位置とリムの外縁の位置を検出する構成であれば、フレーム毎に正確な第１情報を取得することができる。

＜溝底検出手段＞
例えば、眼鏡測定システムは、溝底検出手段（例えば、フレーム測定ユニット６０）を備える。溝底検出手段は、フレームにおけるリムの溝底の位置を検出する。例えば、本実施例では、溝底検出手段が、フレームにおけるリムの溝底の最底辺の位置を、リムの溝底の位置として検出する。すなわち、溝底検出手段は、眼鏡装用状態においてリムの溝底が垂直方向に最も低くなる位置を、リムの溝底の位置として検出する。なお、溝底検出手段は、リムの溝底の位置を、リムの動径角の少なくともいずれかの位置で検出する構成であってもよい。

＜外縁検出手段＞
例えば、眼鏡測定システムは、外縁検出手段（例えば、フレーム測定ユニット６０）を備える。外縁検出手段は、フレームにおけるリムの外縁の位置を検出する。例えば、リムの外縁の位置とは、眼鏡装用状態におけるリムの前側の外縁の位置であってもよいし、眼鏡装用状態におけるリムの後側の外縁の位置であってもよい。眼鏡装用状態におけるリムの前側と後側の中央の位置をリムの外縁の位置としてもよい。例えば、本実施例では、外縁検出手段が、フレームのリムの外縁における最下縁の位置を、リムの外縁の位置として検出する。すなわち、外縁検出手段は、眼鏡装用状態においてリムの外縁が垂直方向に最も低くなる位置を、リムの外縁の位置として検出する。なお、外縁検出手段は、リムの外縁の位置を、リムの動径角の少なくともいずれかの位置で検出する構成であってもよい。

例えば、眼鏡測定システムは、溝底検出手段と外縁検出手段を兼用する構成を有していてもよい。一例として、眼鏡測定システムは、溝底検出手段及び外縁検出手段として、測定子（例えば、測定子６２）を接触させる接触式の構成を有していてもよい。この場合、測定子は、フレームのリムの外縁に当接してフレームを保持するフレーム保持手段（例えば、フレーム保持ユニット２０）と、フレームのリムの溝底、及びフレーム保持手段とフレームのリムの外縁の当接面（例えば、第２面２３ａ）に接触してもよい。眼鏡測定システムは、このような構成によって、リムの溝底の位置と、リムの外縁の位置と、を測定子の接触位置に基づいて取得してもよい。例えば、眼鏡を作製する際には、リムの溝に測定子を挿入して１周させることで、フレームの形状（例えば、フレームのリムの溝の３次元形状）を玉型形状データとして取得し、この玉型形状データを用いてレンズを加工するための加工制御データが作成される。測定子の形状によっては、測定子が必ずしもリムの溝底に一致しないため、玉型形状データに基づいてレンズに形成されるヤゲン頂点の位置は、測定子の接触位置により変化する。上記のように、測定子がリムの溝底及びリムの外縁が当接する当接面（すなわち、リムの最下縁）の双方に接触することによって、リムの溝底の位置から測定子の接触位置までの誤差を考慮するための構成を設けることなく、第１情報を精度良く取得できるようになる。

また、一例として、眼鏡測定システムは、溝底検出手段及び外縁検出手段として、投光光学系及び受光光学系を備える非接触式の構成を有していてもよい。投光光学系は、フレームのリムの溝底、及びフレームのリムの外縁に向けて、光源から測定光束を照射してもよい。受光光学系は、測定光束がフレームのリムの溝底、及びフレームのリムの外縁に反射された反射光束を受光素子で受光してもよい。眼鏡測定システムは、このような構成によって、リムの溝底の位置と、リムの外縁の位置と、を反射光束に基づいて検出してもよい。例えば、上記のように、リムの溝底とリムの外縁の双方に測定光束を照射することによって、リムの溝底の位置（すなわち、レンズに形成されるヤゲン頂点の位置）とリムの外縁の位置を正確に取得し、第１情報を精度良く取得できるようになる。

また、例えば、眼鏡測定システムは、溝底検出手段と外縁検出手段を別々の構成として有していてもよい。この場合には、溝底検出手段と外縁検出手段の一方が測定子（例えば、測定子６２）を接触させる接触式の構成を有し、他方が投光光学系及び受光光学系を備える非接触式の構成を有していてもよい。一例として、眼鏡測定システムは、リムの溝底に測定子を接触させてリムの溝底の位置を検出し、リムの外縁に測定光束を照射することで得られる反射光束に基づいてリムの外縁の位置を検出してもよい。もちろん、眼鏡測定システムは、リムの溝底に測定光束を照射することで得られる反射光束に基づいてリムの溝底の位置を検出し、リムの外縁に測定子を接触させてリムの外縁の位置を検出してもよい。

例えば、眼鏡測定システムが、溝底検出手段及び外縁検出手段として測定子を接触させる接触式の構成を有する場合、第１取得手段は、測定子の移動位置に基づいて、第１情報を取得することができる。すなわち、第１取得手段は、測定子の移動位置に基づいて、リムの深さ方向の厚みを取得することができる。また、例えば、眼鏡測定システムが、溝底検出手段及び外縁検出手段として、投光光学系及び受光光学系を備える非接触式の構成を有する場合、第１取得手段は、リムの溝底からの反射光束と、リムの外縁からの反射光束と、に基づいて、第１情報を取得することができる。すなわち、第１取得手段は、リムの溝底からの反射光束と、リムの外縁からの反射光束と、に基づいて、リムの深さ方向の厚みを取得することができる。

＜第２取得手段＞
例えば、眼鏡測定システムは、第２取得手段（例えば、制御部２６０）を備える。第２取得手段は、眼鏡のレンズをフレームに枠入れした枠入れ状態において、リムの外縁の位置からレンズの光学中心位置までの高さである第２情報を取得する。一例として、本実施例では、第２取得手段が、リムの外縁における最下縁の位置からレンズの光学中心位置までの高さを第２情報として取得する。すなわち、第２取得手段は、リムの外縁における最下縁の位置と光学中心位置とを垂直方向に結ぶ距離を第２情報として取得する。なお、第２取得手段は、レンズの光学中心位置直下のリムの外縁からレンズの光学中心位置までの高さを第２情報として取得してもよい。すなわち、第２取得手段は、レンズの光学中心位置直下のリムの外縁の位置と、光学中心位置と、を垂直方向に結ぶ距離を第２情報として取得してもよい。

＜第３取得手段＞
例えば、眼鏡測定システムは、第３取得手段（例えば、制御部２６０）を備える。第３取得手段は、第１取得手段により取得された第１情報と、第２取得手段により取得された第２情報と、に基づいて、枠入れ状態におけるフレームのリムの溝底の位置からレンズの光学中心位置までの高さである第３情報を取得する。例えば、第３取得手段は、第１取得手段により取得された第１情報（すなわち、リムの深さ方向の厚み）と、第２取得手段により取得された第２情報（すなわち、リムの外縁の位置からレンズの光学中心位置までの高さ）と、の差分を求めることによって、第３情報を取得してもよい。

一例として、本実施例では、第３取得手段が、リムの溝底の最底辺の位置からレンズの光学中心位置までの高さを第３情報として取得する。すなわち、本実施例では、第３取得手段が、アイポイント高さを示す指標のひとつであるＢＴを、第３情報として取得する。

なお、第３取得手段は、レンズの光学中心位置直下におけるリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さを第３情報として取得する構成であってもよい。すなわち、第３取得手段が、アイポイント高さを示す指標のひとつであるＰＤ高さを、第３情報として取得する構成であってもよい。この場合には、第３取得手段が、取得したＢＴをＰＤ高さに変換することで、ＰＤ高さを第３情報として取得してもよい。また、この場合には、第１取得手段が、レンズの光学中心位置直下におけるリムの溝底の位置からリムの外縁における最下縁までの高さを第１情報として取得し、第２取得手段が、レンズの光学中心位置直下におけるリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さを第２情報として取得する構成としてもよい。第３取得手段は、このような第１情報と第２情報とに基づくＰＤ高さを取得してもよい。

例えば、眼鏡は、枠入れ状態において、レンズのヤゲン頂点の位置と、フレームのリムの溝底の位置と、が一致（略一致）すると考えることができる。しかし、レンズのヤゲン頂点はフレームのリムの溝に隠れてしまうため、レンズのヤゲン頂点の位置から光学中心位置までの高さを測定することが難しい。すなわち、フレームのリムの溝底からレンズの光学中心位置までの高さを測定することが難しい。しかし、例えば、本実施例における眼鏡測定システムは、眼鏡のフレームにおけるリムの深さ方向の厚みである第１情報を取得し、眼鏡のレンズをフレームに枠入れした枠入れ状態において、リムの外縁の位置からレンズの光学中心位置までの高さである第２情報を取得し、第１情報と第２情報とに基づいて、枠入れ状態におけるリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さである第３情報を取得する。このような構成であることによって、リムの溝底の位置からレンズの光学中心位置（すなわち、ヤゲン頂点からレンズの光学中心位置までの高さ）を容易に取得することができる。

また、例えば、本実施例における眼鏡測定システムは、フレームにおけるリムの溝底の最底辺の位置及びリムの外縁における最下縁の位置を検出して、リムの溝底の最底辺の位置からリムの最下縁の位置までの高さを第１情報として取得し、リムの最下縁からレンズの光学中心位置までの高さを第２情報として取得し、第１情報と第２情報とに基づいて、リムの溝底の最底辺から光学中心位置までの高さを第３情報として取得する。これによって、例えば、ヤゲン頂点が最下縁となる位置からレンズの光学中心位置までの高さ（すなわち、アイポイント指標のひとつであるＢＴ）を容易に取得することができる。

＜比較情報取得手段＞
例えば、眼鏡測定システムは、比較情報取得手段（例えば、制御部２６０）を備える。比較情報取得手段は、眼鏡の枠入れ状態における第３情報と、レンズの加工時に設定したリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さと、を比較した比較情報を取得する。すなわち、比較情報取得手段は、第３取得手段により取得された眼鏡の枠入れ状態の第３情報と、眼鏡に枠入れするレンズを加工する際に設定した玉型形状データの周縁（例えば、ヤゲン頂点）から光学中心位置までの高さと、を比較した比較情報を取得する。例えば、比較情報は、眼鏡の第３情報と、レンズの加工時に設定したリムの溝底から光学中心位置までの高さと、のそれぞれの値を並べた情報であってもよい。

例えば、本実施例では、比較情報取得手段が、眼鏡におけるリムの溝底の最底辺の位置からレンズの光学中心位置までの高さ（第３情報）と、レンズの加工時に設定したリムの溝底の最底辺の位置（すなわち、玉型形状データの最下縁の位置）から光学中心位置までの高さと、を比較した比較情報を取得してもよい。レンズの光学中心位置直下におけるリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さ（第３情報）と、レンズの加工時に設定したレンズの光学中心位置直下におけるリムの溝底の位置（すなわち、光学中心位置直下における玉型形状データの周縁の位置）から光学中心位置までの高さと、を比較した比較情報を取得してもよい。

＜判定手段＞
例えば、眼鏡測定システムは、判定手段（例えば、制御部２６０）を備える。判定手段は、眼鏡の枠入れ状態における第３情報の良否を、レンズの加工時に設定したリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さに基づいて判定する。例えば、判定手段は、取得した第３情報と、レンズの加工時に設定したリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さと、のずれ量に基づいて、眼鏡の第３情報の良否を判定してもよい。これによって、操作者は、眼鏡のレイアウトが予定通りに仕上がっているか、眼鏡のレイアウトが適切であるか、等を容易に比較して判断することができる。

より詳細には、判定手段は、アイポイント高さを示す指標のひとつであるＢＴについて、取得した測定結果と、レンズを加工する際に設定したＢＴと、のずれ量を検出して良否を判定してもよい。この場合、判定手段は、ずれ量が所定の誤差範囲内であったときに、眼鏡のＢＴが良好であると判定してもよい。また、この場合、判定手段は、ずれ量が所定の誤差範囲を超えていたときに、眼鏡のＢＴが良好でないと判定してもよい。また、より詳細には、判定手段は、アイポイント高さを示す指標のひとつであるＰＤ高さについて、取得した測定結果と、レンズを加工する際に設定したＰＤ高さと、のずれ量を検出して良否を判定してもよい。この場合、判定手段は、ずれ量が所定の誤差範囲内であったときに、眼鏡のＰＤ高さが良好であると判定してもよい。また、この場合、判定手段は、ずれ量が所定の誤差範囲を超えていたときに、眼鏡のＰＤ高さが良好でないと判定してもよい。所定の誤差範囲は、予め実験やシミュレーション等から設定されていてもよいし、任意に設定できてもよい。

なお、例えば、判定手段は、眼鏡の第３情報の良否に限らず、眼鏡に枠入れされたレンズのボクシング中心位置から光学中心位置までの高さ、左右レンズにおけるボクシング中心間距離ＦＰＤ、左右レンズにおける光学中心間距離ＰＤ、等の情報の少なくともいずれかの良否を判定するようにしてもよい。すなわち、判定手段は、眼鏡のレイアウトに関する情報の良否を判定してもよい。例えば、判定手段は、眼鏡を測定することで取得された眼鏡のレイアウト情報と、眼鏡に枠入れするレンズの加工時に設定したレイアウト情報と、のずれ量を検出し、ずれ量に基づいて眼鏡のレイアウト情報の良否を判定してもよい。

また、判定手段は、眼鏡に枠入れするレンズの加工時に設定したレイアウト情報を用いて、レンズをフレームに枠入れした枠入れ状態の眼鏡に対する装用者のアイポイント位置（装用者の瞳孔位置）の光学特性の良否を判定してもよい。例えば、光学特性は、球面度数、柱面度数、乱視軸角度、プリズム量、等の少なくともいずれかであってもよい。

例えば、第３取得手段により取得された第３情報、比較情報取得手段により取得された比較情報、第３情報の良否の判定結果、レイアウト情報の良否の判定結果、アイポイント位置における光学特性の良否の判定結果、等の少なくともいずれかは、モニタ（例えば、モニタ２０２）やタブレット端末等への表示、プリンタ等を用いた印刷、外部メモリ（例えば、ＵＳＢメモリ、ハードディスク、サーバ、等）への保存、等により出力されてもよい。

なお、本開示は、本実施形態に記載するシステムに限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。

＜実施例＞
以下、眼鏡測定システムについて、図面を参照して説明する。

図１は本実施例に係る眼鏡測定システムを示す図である。本実施例における眼鏡測定システム１は、少なくとも、眼鏡枠形状測定装置１００と、眼鏡測定装置２００と、を備える。もちろん、眼鏡測定システム１は、これらの装置に加えて、眼鏡レンズの光学特性を測定するレンズメータ、眼鏡レンズに加工治具（例えば、カップ）を取り付けるカップ取付装置、眼鏡レンズの周縁を加工するレンズ周縁加工装置、等を備えていてもよい。

本実施例における眼鏡測定システム１は、眼鏡枠形状測定装置１００と眼鏡測定装置２００が、一体型の装置として構成されたシステムであってもよい。また、本実施例における眼鏡測定システム１は、眼鏡枠形状測定装置１００と眼鏡測定装置２００が、別々の装置として構成されたシステムであってもよい。この場合、眼鏡枠形状測定装置１００と眼鏡測定装置２００は、通信ネットワークを介して互いに接続されていてもよい。例えば、通信ネットワークは、光ファイバ等を用いた有線通信であってもよいし、赤外線、Wi-Fi（登録商標）、Bluetooth（登録商標）、等を用いた無線通信であってもよい。また、この場合、眼鏡測定システム１は、共有サーバを有していてもよい。例えば、共有サーバは制御部とメモリを備え、各データの演算、各データの記憶、等を行うようにしてもよい。なお、本実施例では、眼鏡枠形状測定装置１００と眼鏡測定装置２００が別々の装置として構成された眼鏡測定システムである場合を例に挙げる。

＜眼鏡枠形状測定装置＞
図２は眼鏡枠形状測定装置の外観略図である。本実施例では、眼鏡装用状態のフレームＦを基準に、その左右方向をＸ方向、その上下方向をＹ方向、その前後方向をＺ方向として表す。すなわち、眼鏡枠形状測定装置の左右方向（水平方向）がＸ方向、上下方向（鉛直方向）がＺ方向、前後方向（奥行方向）がＹ方向となる。例えば、眼鏡枠形状測定装置１００は、開口窓１０、モニタ（ディスプレイ）１１、スイッチ部１２、フレーム保持ユニット２０、フレーム測定ユニット６０（図２参照）、等を備える。

例えば、モニタ１１はタッチパネルである。すなわち、モニタ１１が操作部（コントローラ）として機能する。モニタ１１から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部９０に出力される。なお、モニタ１１はタッチパネル式でなくてもよく、モニタ１１と操作部とを別に設ける構成であってもよい。この場合には、マウス、ジョイスティック、キーボード、携帯端末、等の少なくともいずれかを操作部として用いることができる。

スイッチ部１２は、眼鏡枠形状測定装置１００に各種の処理を実行させるための信号を入力する際に使用する。例えば、各種の処理とは、測定の開始等である。なお、本実施例では、スイッチ部１２が眼鏡枠形状測定装置１００の本体カバーに設けられている。もちろん、スイッチ部１２は、モニタ１１の画面上において電子的に表示されてもよい。

＜フレーム保持ユニット＞
フレーム保持ユニット２０は、開口窓１０の内部に配置されている。また、フレーム保持ユニット２０は、フレームＦにおけるリムの外縁に当接することで、フレームＦを所期する状態に保持する。なお、フレーム保持ユニット２０は、フレームＦのリムの全周にレンズＬＥのヤゲンが嵌め込まれるフルリムフレーム、フレームＦのリムの少なくとも下端部にレンズＬＥのヤゲンが嵌め込まれるアンダーリムフレーム、等の少なくともいずれかを保持できる構成であってもよい。すなわち、フレームＦのリムを少なくとも下縁に有するフレームを保持できる構成であってもよい。例えば、本実施例では、フレーム保持ユニット２０が、フルリムフレームを保持する構成を例示する。

図３及び図４はフレーム保持ユニット２０を説明する図である。図３はフレーム保持ユニット２０の上面図である。図４はフレーム保持ユニット２０の斜視図である。なお、図４では、フレーム保持ユニット２０に保持されるフレームＦの図示を省略している。例えば、フレーム保持ユニット２０は、保持部ベース２１、第１スライダー２２、第２スライダー２３、開閉移動機構３０、クランプ機構４０、等を備える。

第１スライダー２２及び第２スライダー２３は、保持部ベース２１上に載置される。第１スライダー２２は、フレームＦの左リムＦＲＬ及び右リムＦＲＲの上縁に当接する第１面２２ａをもつ。第２スライダー２３は、フレームＦの右リムＦＲＲ及び左リムＦＲＬの下縁に当接する第２面２３ａをもつ。第１面２２ａと、第２面２３ａと、は互いに対向する。第１面２２ａと第２面２３ａは、開閉移動機構３０によって、第１面２２ａと第２面２３ａとの間隔が開閉される方向（間隔が広がる方向と狭まる方向）に移動する。また、第１面２２ａと第２面２３ａには、クランプ機構４０が備えるクランプピンが突き出すように配置される。

クランプピンは、リムの前後方向（眼鏡装用状態の前側及び後側）から、左右のリムをクランプ（保持）する。第１スライダー２２には、クランプピンとして、一対のクランプピン２４ａとクランプピン２４ｂとが設けられる。クランプピン２４ａ及びクランプピン２４ｂは２箇所に配置され、左リムＦＲＬ及び右リムＦＲＲの上縁をクランプする。第２スライダー２３には、クランプピンとして、一対のクランプピン２４ｃとクランプピン２４ｄとが設けられる。クランプピン２４ｃ及びクランプピン２４ｄは２箇所に配置され、左リムＦＲＬ及び右リムＦＲＲの下縁をクランプする。

例えば、クランプピン２４ｃとクランプピン２４ｄの間には、第２面２３ａの一部である当接部２５（図５参照）が設けられてもよい。例えば、フレームＦの形状によっては、フレームＦのリムの最下縁がクランプピン２４ｃとクランプピン２４ｄにクランプされることがある。クランプピン２４ｃとクランプピン２４ｄは、第２面２３ａに設けられた穴２６（図５参照）から突き出しているため、このような場合には、フレームＦを第１スライダー２２及び第２スライダー２３で保持したときに、フレームＦのリムの最下縁が第２面２３ａよりも奥側に入り込んでしまう。フレームＦのリムの最下縁が第２面２３ａよりも奥側に入り込んでいると、後述のフレーム測定ユニット６０を用いて、リムの最下縁の位置を精度よく検出することができない。例えば、本実施例では、当接部２５を設けることで、フレームＦのリムの最下縁が第２面２３ａよりも奥側に入り込むことを抑制している。

開閉移動機構３０は、２つのガイドレール３１、プーリー３２、プーリー３３、ワイヤー３４、バネ３５、等を備える。ガイドレール３１は、保持部ベース２１の左右それぞれに配置され、Ｙ方向に延びている。ワイヤー３４は、プーリー３２とプーリー３３とに掛け渡されている。ワイヤー３４の左側には、第１スライダー２２の右端部２２Ｒが取り付けられる。ワイヤー３４の右側には、第２スライダー２３の右端部２３Ｒが取り付けられる。バネ３５は、第１スライダー２２及び第２スライダー２３の間隔を閉じる方向に常時付勢する。開閉移動機構３０は、このような構成をもつことによって、Ｘ方向の中心線Ｎ１（図３参照）を中心に、第１スライダー２２と第２スライダー２３とを、その間隔が広がる方向と狭まる方向とに移動させる。すなわち、第１スライダー２２と第２スライダー２３とを、水平方向に移動させる。第１スライダー２２が移動すると、第２スライダー２３も連動して移動する。

図５はクランプ機構４０の概略構成図である。なお、図４は第２スライダー２３の左側に配置されたクランプ機構４０を示している。クランプ機構は、ベース板４１、クランプピン２４ａ、クランプピン２４ｂ、第１アーム４２、第２アーム４３、圧縮バネ４４、バネ４５、ギヤ４６、ギヤ４７、ワイヤー４８、プーリー４９、駆動ユニット２４０、等を備える。

ベース板４１は、第１スライダー２２の内部に配置される。第１アーム４２は、回転軸５３によって、ベース板４１に対して回転可能に保持される。第１アーム４２には、回転軸５３を中心としたギヤ４６が形成される。第２アーム４３は、回転軸５４によって、ベース板４１に対して回転可能に保持される。第２アーム４３には、回転軸５４を中心としたギヤ４７が形成されている。ギヤ４６とギヤ４７とは互いに噛合する。第１アーム４２の先端には、クランプピン２４ｃが取り付けられている。第２アーム４３の先端には、クランプピン２４ｄが取り付けられている。圧縮バネ４４は、第１アーム４２及び第２アーム４３の間に設けられている。圧縮バネ４４によって、クランプピン２４ｃとクランプピン２４ｄとの間隔が、常に開く方向に付勢される。第１アーム４２の後端には、バネ４５の一端が取り付けられている。バネ４５の他端には、ワイヤー４８が固定されている。ワイヤー４８は、ベース板４１に回転可能に取り付けられたプーリー４９を介して、駆動ユニット２４０に接続される。

例えば、駆動ユニット２４０は、シャフト５１、モータ５２、等を有する。シャフト５１は、ワイヤー４８を巻き取る。モータ５２は、シャフト５１を回転させる。例えば、モータ５２を駆動させ、ワイヤー４８を巻き取ると、第１アーム４２は回転軸５３を中心として反時計回りに回転する。このとき、ギヤ４６とギヤ４７とは噛合しているため、第２アーム４３が回転軸５４を中心として時計回りに回転する。これにより、クランプピン２４ｃ及びクランプピン２４ｄが連動して閉じられ、左リムＦＲＬの下縁がクランプされる。

なお、右リムＦＲＲの下縁をクランプするためのクランプ機構（すなわち、第２スライダー２３の右側に配置されたクランプ機構）は、図４に示すクランプ機構４０を左右に反転させた構成であってもよい。また、右リムＦＲＲ及び左リムＦＲＬの上縁をクランプするためのクランプ機構（すなわち、第１スライダー２２の左側及び右側のそれぞれに配置されたクランプ機構）は、第２スライダー２３に配置されたクランプ機構４０を上下に反転させた構成であってもよい。

また、モータ５２及びシャフト５１は、４箇所に設けられたクランプ機構４０にそれぞれ配置される構成であってもよいが、４箇所のクランプ機構４０において共通で使用される構成であってもよい。本実施例では、いずれの場合も、４箇所のクランプピンが同時に開閉するように構成される。

＜フレーム測定ユニット＞
フレーム測定ユニット６０は、フレーム保持ユニット２０の下部に配置される。フレーム測定ユニット６０は、フレームＦにおけるリムの溝底の位置を検出する。この場合、フレーム測定ユニット６０は、フレームＦのリムの溝に後述する測定子６２を挿入し、リムの溝底に接触した測定子６２を移動させることで、リムの溝底の位置を検出する。なお、フレーム測定ユニット６０は、リムの溝底の最底辺の位置（すなわち、測定子６２が検出したリムの溝底におけるＹ方向の座標が最も小さい位置）を検出するようにしてもよい。例えば、検出されたリムの溝底の位置に基づいて、リムの溝の形状が測定されてもよい。

また、フレーム測定ユニット６０は、フレームＦにおけるリムの外縁の位置を検出する。なお、フレーム測定ユニット６０は、リムの外縁における最下縁の位置（例えば、リムの外縁におけるＹ方向の座標が最も小さい位置）を検出するようにしてもよい。この場合、フレーム測定ユニット６０は、フレーム保持ユニット２０とリムの外縁との当接面（すなわち、第２面２３ａ）に、後述する測定子６２を接触させることで、リムの外縁における最下縁の位置を検出してもよい。

図６はフレーム測定ユニット６０を説明する図である。図６（ａ）は移動ユニット７０の概略構成図である。図６（ｂ）は測定子保持ユニット８０の概略構成図である。例えば、フレーム測定ユニット６０は、ベース部６１、測定子６２、測定子軸６３、移動ユニット７０、測定子保持ユニット８０、等を備える。ベース部６１は、Ｘ方向及びＹ方向に伸展した方形状の枠であり、フレーム保持ユニット２０の下部に配置される。測定子６２は、フレームＦのリムの溝に挿入される。また、測定子６２は、フレームＦの溝底、及び、フレーム保持ユニット２０とリムの外縁との当接面（すなわち、第２面２３ａ）に接触される。測定子６２は、測定子軸６３の先端に取り付けられている。移動ユニット７０は、測定子保持ユニット８０を、フレームＦに対して相対的に移動させる。測定子保持ユニット８０は、測定子６２及び測定子軸６３を保持する。

移動ユニット７０は、測定子保持ユニット８０をＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動させる。例えば、移動ユニット７０は、Ｙ移動ユニット７１、Ｘ移動ユニット７２、Ｚ移動ユニット７３、モータ７４、モータ７５、モータ７６、等を有する。Ｙ移動ユニット７１は、測定子保持ユニット８０をＹ方向に移動させる。Ｙ移動ユニット７１は、モータ７４の駆動により、Ｙ方向に延びる図示なきガイドレールに沿って、測定子保持ユニット８０をＹ方向に移動させる。Ｘ移動ユニット７２は、Ｙ移動ユニット７１をＸ方向に移動させる。Ｘ移動ユニット７２は、モータ７６の駆動により、Ｘ方向に延びるガイドレール７７に沿って、Ｙ移動ユニット７１をＸ方向に移動させる。Ｚ移動ユニット７３は、測定子保持ユニット８０をＺ方向に移動させる。Ｚ移動ユニット７３はＹ移動ユニット７１に取り付けられ、モータ７５の駆動により、Ｚ方向に延びるガイドレール７８に沿って、測定子保持ユニット８０をＺ方向に移動させる。

測定子保持ユニット８０は、Ｚ方向に延びる回転軸Ｎ２の軸回りに測定子軸６３を回転させる回転ユニット８１を有する。回転ユニット８１は、測定子軸６３が取り付けられた回転ベース８２と、回転軸Ｎ２を中心として回転ベース８２を回転させるモータ８３と、を有する。回転ベース８２は、測定子軸６３を、測定子６２の先端方向に移動可能（傾斜可能）に保持する。また、回転ベース８２は、測定子軸６３を、Ｚ方向に移動可能に保持する。測定子６２の先端方向の位置、及び測定子軸６３の中心位置は、検知器であるエンコーダ８４により検知される。測定子６２のＺ方向の位置、及び測定子軸６３のＺ方向の位置は、検知器であるエンコーダ８５により検知される。なお、測定子保持ユニット８０は、測定子６２の先端をリム（右リムＦＲＲと左リムＦＲＬ）の溝、及び、当接面（第２面２３ａ）に押し当てる測定圧を付与するための図示なき測定圧付与機構を備える。

なお、本実施例において、フレーム測定ユニット６０は、リムの溝底の位置を検出し、リムの溝の形状を測定するための測定ユニットと、デモレンズまたは型板の周縁の形状を測定するための測定ユニットと、を兼ねてもよい。この場合、フレーム測定ユニット６０は、デモレンズまたは型板の周縁に測定子軸６３を接触させ、測定子軸６３の移動を検出することにより、デモレンズまたは型板の周縁の形状を測定することができる。このようなフレーム測定ユニット６０の構成については、例えば、特開２００１−１２２８９９号公報、特開２０１３−０６８４３９号公報、等を参照されたい。

＜制御部＞
図７は、眼鏡枠形状測定装置１００の制御系を示す図である。例えば、制御部９０には、モニタ１１、スイッチ部１２、不揮発性メモリ９１（以下、メモリ９１）、エンコーダ（エンコーダ８４及び８５）と、各モータ（モータ５２、７４、７５、７６、及び８３）、等が電気的に接続されている。メモリ９１は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体であってもよい。例えば、メモリ９１としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、着脱可能なＵＳＢメモリ、等を使用することができる。メモリ９１は、フレーム測定ユニット６０により測定されたフレームＦにおけるリムの溝底の位置、溝の形状、リムの外縁の位置、等を記憶してもよい。

例えば、制御部９０は、一般的なＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、等で実現される。例えば、ＣＰＵは、眼鏡枠形状測定装置１００における各部の駆動を制御する。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、ＣＰＵが実行する各種プログラムが記憶されている。なお、制御部９０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

＜眼鏡測定装置＞
図８は眼鏡測定装置２００の外観略図である。本実施例では、眼鏡装用状態のフレームＦを基準に、その左右方向をＸ方向、その上下方向をＹ方向、その前後方向をＺ方向として表す。すなわち、眼鏡測定装置２００の左右方向（水平方向）がＸ方向、上下方向（鉛直方向）がＹ方向、前後方向（奥行方向）がＺ方向となる。例えば、眼鏡測定装置２００は、筐体２０１、モニタ（ディスプレイ）２０２、操作ボタン２０３、等を備える。筐体２０１は、その内部に収納部２０４を備える。

例えば、モニタ２０２はタッチパネルである。すなわち、モニタ２０２が操作部として機能する。モニタ２０２から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部２６０に出力される。操作ボタン２０３は、モニタ２０２に表示される。操作ボタン２０３は、眼鏡測定装置２００に各種の処理を実行させるための信号を入力する際に使用する。例えば、各種の処理とは、レンズＬＥの光学特性の測定等である。

図９は収納部２０４内の概略構成図である。例えば、収納部２０４は、フレーム支持ユニット２１０、レンズ測定ユニット２２０、駆動ユニット２４０、等を備える。

＜フレーム支持ユニット＞
例えば、フレーム支持ユニット２１０は、フレームＦにおけるリム（左リムＦＲＬ及び右リムＦＲＲ）の下縁側を上に向けた状態で、フレームＦを支持する。もちろん、フレーム支持ユニット２１０は、フレームＦにおけるリムの上縁側を上に向けた状態で、フレームＦを支持する構成としてもよい。

例えば、フレーム支持ユニット２１０は、基台２１１と、基台２１１に設けられた前方支持部２１２及び後方支持部２１３と、を備える。前方支持部２１２は、上方を開口したコの字形状である。前方支持部２１２は、フレームＦにおけるブリッジＦＢを支持する。本実施例では、フレームＦがリムの上縁側を下に向けた状態で前方支持部２１２に載置されることで、そのブリッジＦＢが支持される。もちろん、フレームＦがリムの下縁側を下に向けた状態で前方支持部２１２に載置されることで、そのブリッジＦＢが支持される構成としてもよい。後方支持部２１３は、上方を開口したコの字形状である。後方支持部２１３は、フレームＦにおけるモダン（左モダンＦＭＬ及び右モダンＦＭＲ）を支持する。本実施例では、フレームＦがリムの上縁側を下に向けた状態で後方支持部２１３に載置されることで、そのモダンが支持される。もちろん、フレームＦがリムの下縁側を下に向けた状態で後方支持部２１３に載置されることで、そのモダンが支持される構成としてもよい。

＜レンズ測定ユニット＞
レンズ測定ユニット２２０は、フレームＦにレンズＬＥが枠入れされた状態の眼鏡（以下、眼鏡と称す）において、レンズＬＥの光学特性を測定する。レンズＬＥの光学特性は、球面度数Ｓ、柱面度数Ｃ、乱視軸角度Ａ、プリズム量Δ、等の少なくともいずれかであってもよい。また、レンズ測定ユニット２２０は、眼鏡のレンズＬＥにおける光学中心位置ＯＣからの所定の位置までの長さを測定する。例えば、所定の位置は、眼鏡のフレームＦにおけるリムの下縁までの長さ、等であってもよい。例えば、レンズ測定ユニット２２０は、当接ピン２２１、測定光学系２３０、等を備える。

当接ピン２２１は、後述する指標板２３３の上面に固定される。また、当接ピン２２１は、レンズＬＥの後面に当接する。例えば、当接ピン２２１は３本で構成され、測定光学系２３０の光軸Ｌ１に対して各々が等距離かつ等角度となるように配置される。すなわち、当接ピン２２１は、光軸Ｌ１が指標板２３３を通過する点を基点として、基点から各当接ピン２２１までの距離が等しくなるように配置される。また、当接ピン２２１は、基点と各当接ピン２２１を結ぶ二直線のなす角度が等しくなるように（すなわち、１２０度となるように）配置される。

＜測定光学系＞
図１０は眼鏡測定装置２００における光学系を示す図である。例えば、測定光学系２３０は、光源２３１、コリメータレンズ２３２、指標板２３３、スクリーン２３４、撮像レンズ２３５、撮像素子２３６、ハーフミラー２３７、等を備える。

光源２３１は第１光源２３１ａと第２光源２３１ｂで構成される。例えば、第１光源２３１ａは、第２光源２３１ｂとは異なる波長の測定光束を出射できる光源であればよい。この場合、第１光源２３１ａは、波長のピークと、波長帯域と、の少なくともいずれかが第２光源２３１ｂとは異なる測定光束を出射できる光源であればよい。例えば、本実施例においては、第１光源２３１ａとして赤外光線を出射する光源が用いられ、第２光源２３１ｂとして可視光線を出射する光源が用いられる。

指標板２３３には、レンズＬＥの光学特性を測定するための測定指標が形成されている。例えば、指標板２３３に形成された測定指標の部分は、第１光源２３１ａから出射した測定光束と、第２光源２３１ｂから出射した測定光束と、をどちらも通過させる。例えば、指標板２３３における測定指標以外の部分は、第１光源２３１ａから出射した測定光束を遮光するが、第２光源２３１ｂから出射した測定光束は通過させる。

なお、このような光源及び指標板の構成、指標板に形成する測定指標の構成、等の詳細については、例えば、特開２０１８−３６２５５号公報を参照されたい。また、測定指標を用いたレンズＬＥの光学特性測定の詳細については、例えば、特開２００８−２４１６９４号公報を参照されたい。

コリメータレンズ２３２は、光源２３１から照射された測定光束を光軸Ｌ１と平行（略平行も含む）にする。スクリーン２３４は、指標板２３３から所定の距離だけ離れた位置に設けられる。また、スクリーン２３４は、指標板２３３に形成された測定指標の像を投影する。撮像素子２３６は、ＣＣＤ（Charge Coupled Device）あるいはＣＭＯＳ（Complementary Metal Oxide Semiconductor）で構成されてもよい。ハーフミラー２３７は、光源２３１から出射した測定光束を通過あるいは反射させる。

＜駆動ユニット＞
駆動ユニット２４０は、レンズ測定ユニット２２０に対して、フレーム支持ユニット２１０をＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動させる。レンズ測定ユニット２２０の下部にはナット部２４１が固定され、Ｘ方向に伸びる送りネジ２４２がナット部２４１に螺合する。送りネジ２４２の両端は、ベアリングを介して基台２４３に連結される。また、レンズ測定ユニット２２０の下部には図示なきボールブッシュが固定され、Ｘ方向に伸びるシャフト２４４がボールブッシュを貫通する。シャフト２４４の両端は基台２４３に連結される。基台２４３の下面には、モータ２４５が取り付けられている。モータ２４５の駆動軸は、送りネジ２４２と螺合する。

例えば、モータ２４５を駆動させると、送りネジ２４２が回転する。例えば、レンズ測定ユニット２２０は固定配置されているので、ナット部２４１によって送りネジ２４２が送られると、送りネジ２４２とともに基台２４３が左右方向（Ｘ方向）に移動する。例えば、このとき、シャフト２４４は図示なきボールブッシュ内を摺動する。例えば、フレーム支持ユニット２１０は、このように基台２４３を移動させることで、レンズ測定ユニット２２０に対して左右方向に移動する。

基台２４３の上面には、軸受支持部材２４６が固定されている。軸受支持部材２４６は、基台２４３の上面前方に位置する前方支持部材と、基台２４３の上面後方に位置する後方支持部材と、で構成される。前方支持部材にはベアリングが設けられ、ベアリングにはＺ方向に伸びる送りネジ２４７の一端が連結する。後方支持部材にもベアリングが設けられ、ベアリングには送りネジ２４７の他端が貫通する。送りネジ２４７の他端は、後方支持部材に固定された図示なきモータの駆動軸と連結する。また、基台２４３の上面には、ボールブッシュ支持部材２４８が固定されている。例えば、ボールブッシュ支持部材２４８にはボールブッシュが設けられ、Ｚ方向に伸びるシャフト２４９がボールブッシュに貫通する。基台２５０の下面には、図示なきナット支持部材と、シャフト支持部材２５１と、が固定されている。例えば、ナット支持部材にはナット部が設けられており、このナット部は送りネジ２４７と螺合する。例えば、シャフト支持部材２５１にはボールブッシュが設けられており、このボールブッシュにはシャフト２４９が貫通する。

例えば、送りネジ２４７の他端に設けられたモータを駆動させると、送りネジ２４７が回転する。これによって、ナット支持部材のナット部が送りネジ２４７に送られ、ナット支持部材、及びナット支持部材が固定された基台２５０が前後方向（Ｚ方向）に移動する。このとき、基台２５０の移動にともなって、基台２５０に固定されたシャフト支持部材２５１は、シャフト２４９上を摺動する。例えば、ベアリングによって、送りネジ２４７が回転しても、基台２４３にはモータの駆動が伝達されず、基台２４３は前後方向（Ｚ方向）に移動しない。例えば、フレーム支持ユニット２１０は、このように基台２５０を移動させることで、レンズ測定ユニット２２０に対して前後方向に移動する。

基台２５２はナット部を有し、ナット部にはＹ方向に伸びる図示なき送りネジが螺合する。図示なき送りネジの一端は、基台２５０に設けられたベアリングを介して、基台２５０に連結される。図示なき送りネジの他端は、取付板２５３に設けられたベアリングを介して、取付板２５３に連結される。また、基台２５はボールブッシュを有し、Ｙ方向に伸びるシャフト２５４とシャフト２５５とのそれぞれが、このボールブッシュを貫通する。シャフト２５４の一端は、基台２５０に設けられたボールブッシュを介して、基台２５０に連結される。シャフト２５４の他端は、取付板２５６に設けられたボールブッシュを介して、取付板２５６に連結される。同様に、シャフト２５５の一端は、基台２５０に設けられたボールブッシュを介して、基台２５０に連結される。シャフト２５５の他端は、取付板２５７に設けられたボールブッシュを介して、取付板２５７に連結される。例えば、取付板２５３には、モータ２５８が固定されている。例えば、モータ２５８の駆動軸は、ナット部に螺合する図示なき送りネジと連結する。

例えば、モータ２５８を駆動させると、基台２５２のナット部が送りネジに送られ、基台２５２は上下方向（Ｙ方向）に移動する。このとき、基台２５２の移動にともなって、基台２５２のボールブッシュはそれぞれシャフト２５４及びシャフト２５５上を摺動する。例えば、送りネジがモータ２５８により回転しても、基台２５０にはベアリングによってモータ２５８の駆動が伝達されず、基台２５０及び基台２４３は上下方向（Ｙ方向）に移動しない。例えば、フレーム支持ユニット２１０は、このように基台２５２を移動させることで、レンズ測定ユニット２２０に対して上下方向に移動する。

＜制御部＞
図１１は眼鏡測定装置２００における制御系を示す図である。例えば、制御部２６０には、モニタ２０２、操作ボタン２０３、光源２３１、撮像素子２３６、駆動ユニット２４０が備える各モータ（例えば、モータ２４５及びモータ２５８）、等が電気的に接続されている。メモリ２６１は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体であってもよい。例えば、メモリ２６１としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、着脱可能なＵＳＢメモリ、等を使用することができる。メモリ２６１は、レンズ測定ユニット２２０により測定されたレンズＬＥの光学特性等を記憶してもよい。

例えば、制御部２６０は、一般的なＣＰＵ、ＲＡＭ、ＲＯＭ、等を備える。例えば、ＣＰＵは、眼鏡測定装置２００における各部の駆動を制御する。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、ＣＰＵが実行する各種プログラムが記憶されている。なお、制御部２６０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

＜制御動作＞
以下、眼鏡枠形状測定装置１００及び眼鏡測定装置２００を備える眼鏡測定システム１を用いた眼鏡の測定について説明する。

まず、眼鏡の組み付けについて簡単に説明する。図１２はフレームＦにレンズＬＥが枠入れされた状態の眼鏡を示す図である。図１２の左図は眼鏡の正面図２８０である。図１２の右図は正面図２８０におけるＡ−Ａ´線断面図２９０である。眼鏡は、周縁にヤゲンＬＥｂを形成したレンズＬＥを、フレームＦのリムに形成された溝Ｆｇに嵌め込むことによって組み付けられている。

例えば、操作者は、眼鏡枠形状測定装置１００を用いてリムの溝底の位置を動径角毎に測定し、リムの溝底の形状データを取得する。また、操作者は、リムの溝底の形状データを玉型形状データとして、玉型形状データと光学中心位置ＯＣとの位置関係を示すレイアウトを設定し、レイアウトデータを取得する。例えば、このようなレイアウトは、玉型形状データのボクシング中心位置ＢＣから光学中心位置ＯＣまでの高さＨ１、玉型形状データの最底辺の位置Ｐから光学中心位置ＯＣまでの高さＢＴ、玉型形状データにおける光学中心位置直下の底辺の位置から光学中心位置ＯＣまでの高さ（言い換えると、ＰＤ高さ）Ｈ４、左右レンズにおけるボクシング中心間距離ＦＰＤ、左右レンズにおける光学中心間距離ＰＤ（眼鏡装用者の瞳孔間距離ＰＤ）、等の少なくともいずれかであってもよい。

続いて、操作者は、レンズ周縁加工装置を用いて、レンズＬＥの周縁を加工する。例えば、操作者は、玉型形状データやレイアウトデータに基づいて、レンズＬＥの周縁にヤゲンを形成するための加工制御データを取得する。これらのデータに加えて、レンズＬＥのレンズ面形状データ（例えば、玉型形状データに対応するレンズＬＥの前面及び後面の位置、レンズＬＥの前面のカーブ値、等）、レンズＬＥの加工条件、等に基づく加工制御データを取得してもよい。操作者は、このような加工制御データに基づく加工をレンズＬＥに施すことで、周縁にヤゲンＬＥｂを形成したレンズＬＥを取得する。また、操作者は、周縁にヤゲンＬＥｂを形成したレンズＬＥを、フレームＦのリムに形成された溝Ｆｇに枠入れし、眼鏡を組み付ける。

ここで、上記のようにして組み付けた眼鏡は、設定したレイアウトとは異なる仕上がりになっていることがある。例えば、レンズＬＥのヤゲンＬＥｂは、フレームＦのリムの溝Ｆｇに必ずしも隙間なく嵌め込まれるとは限らない。ヤゲンＬＥｂと溝Ｆｇの間に隙間ができていると、前述の高さＢＴ、高さＨ２、ボクシング中心間距離ＦＰＤ、光学中心間距離ＰＤ、等がレイアウト通りにならず、各々の値がずれてしまうことがある。装用者がこのような状態の眼鏡を装用すると、良好な見え具合にならない等の問題が生じる。

このため、本実施例では、眼鏡測定システム１を用いて、眼鏡を作製し（つまり、フレームＦにレンズＬＥを枠入れし）、眼鏡のレイアウトデータを測定する。以下、眼鏡の作製及び眼鏡のレイアウトデータ測定について、左リムＦＲＬ側のみを例に挙げて説明する。右リムＦＲＲについては、左リムＦＲＬと同様に考えることができるため、その説明を省略する。

＜玉型形状と第１情報の取得＞
操作者は、眼鏡枠形状測定装置１００を用いて、図１２に示すリムの深さ方向の厚みＴ（第１情報）を取得する。例えば、本実施例においては、フレーム測定ユニット６０が、フレームＦのリムの溝底の位置と、リムの外縁の位置と、をそれぞれ検出し、これらに基づいて、リムの深さ方向の厚みＴを取得する。例えば、リムの深さ方向の厚みＴは、リムの上縁部分における深さ方向の厚みであってもよいし、リムの下縁部分における深さ方向の厚みであってもよい。すなわち、リムの全周における任意の位置について、リムの溝底からリムの外縁までの高さが、リムの深さ方向の厚みＴとして取得されてもよい。なお、本実施例では、フレーム測定ユニット６０が、フレームＦの左リムＦＲＬの溝底の最底辺の位置Ｐと、左リムＦＲＬの外縁における最下縁の位置Ｑと、をそれぞれ検出し、位置Ｐから位置Ｑまでの高さを、左リムＦＲＬの深さ方向の厚みＴとして取得する場合を例に挙げる。

操作者は、第１スライダー２２と第２スライダー２３との間隔を広げ、リムの上縁と下縁をクランプピンでクランプし、フレーム保持ユニット２０にフレームＦを保持させる。続いて、操作者は、スイッチ部１２を操作して、リムの溝底の位置の測定を開始する。

制御部９０は、測定開始の信号が入力されると、フレーム測定ユニット６０の駆動を制御する。制御部９０は、測定子６２を初期位置から測定開始位置に移動させる。例えば、本実施例では、測定子６２のＸＹ方向における初期位置が、左リムＦＲＬ側の位置ＳＬ（図２参照）に設定されている。位置ＳＬは、そのＸ方向の位置がクランプピン２４ａ及び２４ｂの中央の位置であり、Ｙ方向の位置が中心線Ｎ１の位置であってもよい。もちろん、初期位置は任意の位置に設定可能であってもよい。制御部９０は、初期位置ＳＬにて、測定子６２の先端が左リムＦＲＬの下側のクランプピン２４ｃ及び２４ｄを向くように、回転ユニット８１を回転させる。また、制御部９０は、測定子６２の先端が左リムＦＲＬの溝底に接触するように、測定子保持ユニット８０をリム側に移動させる。例えば、このようにして、制御部９０は測定子６２を初期位置ＳＬから測定開始位置へ移動させ、測定子６２の先端を左リムＦＲＬの溝に挿入し、測定子６２の先端と左リムＦＲＬの溝底を接触させる。

制御部９０は、測定子６２の先端を左リムＦＲＬの溝底に沿って移動させる。このとき、制御部９０は、モータ８３を駆動して回転ベース８２を回転させるとともに、測定子軸６３及び測定子６２を回転軸Ｐ１（図６（ｂ）参照）の軸回りに回転させる。測定子６２は、リムの溝底の変化に追従して、Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動する。本実施例では、測定子６２のＸ方向及びＹ方向の移動位置がエンコーダ８４により検知され、測定子６２のＺ方向の移動位置がエンコーダ８５により検知される。これによって、測定子６２は左リムＦＲＬの溝底の周方向に移動し、回転ベース８２の動径角（回転角）毎に左リムＦＲＬの溝底の位置が測定され、左リムＦＲＬの溝底の全周の３次元データ（ｘｎ，ｙｎ，ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ）が取得される。例えば、リムの溝底の３次元データは、３次元の直交座標で表される。

制御部９０は、取得した左リムＦＲＬの溝底の３次元データを繋ぎ合わせて、左リムＦＲＬの溝底の形状データを取得する。溝底の形状データは、レンズＬＥを加工するための玉型形状データとして用いられる。また、制御部９０は、左リムＦＲＬの溝底の３次元データに基づいて、左リムＦＲＬの溝底の最底辺の位置を検出する。例えば、溝底の最底辺の位置とは、測定子６２が検出したリムの溝底におけるＹ方向の座標が最も小さい位置であってもよい。これによって、左リムＦＲＬの溝底の最底辺の位置Ｐ（すなわち、最下点の位置Ｐ）が検出され、位置Ｐの３次元データ（ｘＰ，ｙＰ，ｚＰ）が取得される。

なお、本実施例では、左リムＦＲＬの溝底の３次元データを、Ｘ方向及びＹ方向の位置を動径角θｎと動径長ｒｎを用いて２次元の極座標で表すとともに、Ｚ方向の位置をＺ座標で表した３次元データ（ｒｎ，ｚｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３、・・・、Ｎ）に適宜変換してもよい。例えば、動径長ｒｎは、各動径角における左リムＦＲＬの溝底から基準位置までの長さである。例えば、基準位置は回転軸Ｐ１の位置であってもよい。

図１３は第２スライダー２３における第２面２３ａと測定子６２の接触を説明する図である。制御部９０は、動径角毎に左リムＦＲＬの溝底の位置を測定すると、左リムＦＲＬの下縁が当接する第２スライダー２３の第２面２３ａに、測定子６２の先端を接触させる。例えば、本実施例では、測定子６２の先端を接触させる第２面２３ａ上の接触位置が、第２面２３ａの中央の位置Ｍに設定されている。接触位置Ｍは、そのＸ方向の位置が、左リムＦＲＬの下縁をクランプするクランプピンと、右リムＦＲＲの下縁をクランプするクランプピンと、の中央の位置であってもよい。また、接触位置Ｍは、そのＺ方向の位置が、クランプピン２４ｃ及び２４ｄの中央の位置であってもよい。もちろん、接触位置は任意の位置に設定可能であってもよい。なお、例えば、本実施例において、第２スライダー２３の傾き（例えば、中心線Ｎ１に対する第２面２３ａの傾き）は予め較正しておいてもよい。

制御部９０は、測定子保持ユニット８０の駆動を制御して、測定子６２を前述の位置ＳＬ（図２参照）に移動させることで、測定子６２の先端を左リムＦＲＬの溝から外す。次に、制御部９０は、測定子６２をＺ方向（本実施例では、下方向）に移動させることで、測定子６２を第１スライダー２２及び第２スライダー２３の下部に配置する。さらに、制御部９０は、測定子６２を所定の距離だけＸ方向に移動させることで、測定子６２を左リムＦＲＬに接触させることなく接触位置ＭのＸ方向に一致させる。なお、所定の距離（つまり、クランプピン２３ｃ及び２３ｄのＸ方向の位置から接触位置ＭのＸ方向の位置までの距離）は設計上既知である。また、制御部９０は、測定子６２の所定の距離だけＺ方向に移動させることで、測定子６２を接触位置ＭのＺ方向に一致させることができる。なお、所定の距離（つまり、スライダーの下部から接触位置ＭのＺ方向の位置までの距離）も設計上既知である。この状態において、制御部９０は、接触位置Ｍに測定子６２が接触するように、測定子保持ユニット８０をリム側に移動させる。例えば、このようにして、制御部９０は測定子６２を第２面２３ａの接触位置Ｍに接触させる。

例えば、制御部９０は、接触位置Ｍの位置を、左リムＦＲＬの下縁における最下縁の位置Ｑとして測定する。これにより、測定子６２の移動位置に基づいて、接触位置Ｍの位置の３次元データ（すなわち、左リムＦＲＬの下縁における最下縁の位置Ｑの３次元データ（ｘＱ，ｙＱ，ｚＱ））が取得される。なお、本実施例において、左リムＦＲＬの最下縁の位置Ｑの３次元データは、３次元の直交座標で表される。

制御部９０は、左リムＦＲＬの溝底の最底辺の位置Ｐの３次元データ、及び、左リムＦＲＬの最下縁の位置Ｑの３次元データ、を取得すると、これらに基づいてリムの深さ方向の厚みＴを取得する。例えば、制御部９０は、左リムＦＲＬの溝底の位置Ｐの３次元データ（ｘＰ，ｙＰ，ｚＰ）と、左リムＦＲＬの最下縁の位置Ｑの３次元データ（ｘＱ，ｙＱ，ｚＱ）と、の差分を求める。例えば、本実施例においては、制御部９０が、左リムＦＲＬの溝底の位置ＰにおけるＹ方向の位置座標（すなわち、３次元データｙＰ）と、左リムＦＲＬの最下縁の位置ＱにおけるＹ方向の位置座標（すなわち、３次元データｙＱ）と、の差分を求める。これによって、リムの深さ方向の厚みＴを取得することができる。例えば、左リムＦＲＬの溝底の３次元データに基づく溝底の形状データ（すなわち、左リムＦＲＬの玉型形状データ）と、リムの深さ方向の厚みＴと、は共有サーバに送信され、共有サーバのメモリに記憶される。

＜レンズの加工とフレームへの枠入れ＞
操作者は、周知のレンズメータを用いて、未加工のレンズＬＥにおける光学中心位置ＯＣを測定し、未加工のレンズＬＥの前面に印点を付与する。なお、レンズメータの構成、及び印点の付与についての詳細は、例えば、特開２０１３−１３４２４０号公報等を参照されたい。また、操作者は、周知のカップ取付装置を用いて、未加工のレンズＬＥにカップを取り付ける。なお、カップ取付装置の構成、及びカップの取り付けについての詳細は、例えば、特開２００７−２１６３５５号公報等を参照されたい。

次に、操作者は、周知のレンズ周縁加工装置を用いて、未加工のレンズＬＥを加工し、レンズＬＥの周縁にヤゲンＬＥｂを形成する。例えば、レンズ周縁加工装置の制御部は、サーバから左リムＦＲＬの溝底の形状データ（すなわち、左リムＦＲＬの玉型形状データ）を受信し、レンズ周縁加工装置が備えるモニタに玉型形状データを表示する。操作者は、モニタを操作して、レンズＬＥのレイアウトデータや加工条件等を入力する。これらのデータはサーバに送信され、サーバが備えるメモリに記憶されてもよい。また、操作者は、レンズ周縁加工装置が備えるレンズチャック軸にカップを取り付けたレンズＬＥを挟持させ、レンズＬＥのレンズ面形状の測定を開始する。例えば、レンズ周縁加工装置の制御部は、レンズ周縁加工装置が備えるレンズ形状測定部を制御して、レンズＬＥのレンズ面形状を測定する。これにより、玉型形状データに対応するレンズＬＥの前面及び後面の位置、レンズＬＥの前面のカーブ値、等のレンズ面形状データが取得される。

レンズ周縁加工装置の制御部は、玉型形状データ、レイアウトデータ、加工条件、及びレンズ面形状データ、等に基づいて、レンズＬＥにヤゲンＬＥｂを形成するためのヤゲン形成データを取得し、ヤゲン形成データに基づいて、レンズＬＥの周縁を加工するための加工制御データを取得する。また、例えば、レンズ周縁加工装置の制御部は、加工制御データに基づいてレンズチャック軸を移動させ、砥石に対するレンズＬＥの相対的な位置関係を調整する。これによって、操作者は、レンズＬＥの周縁を加工し、レンズＬＥの周縁にヤゲンＬＥｂを形成することができる。なお、レンズ周縁加工装置の構成、及びレンズ周縁加工装置を用いたレンズＬＥの加工についての詳細は、例えば、特開２００９−２４１２４０号公報等を参照されたい。操作者は、周縁にヤゲンＬＥｂを形成したレンズＬＥを、フレームＦのリムに形成された溝Ｆｇに枠入れして、眼鏡を組み付ける。

＜第２情報の取得＞
操作者は眼鏡を組み付けると、眼鏡測定装置２００を用いて、リムの外縁からレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さを取得する。すなわち、フレームＦにレンズＬＥを枠入れした状態の眼鏡に対して、リムの外縁からレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さを取得する。例えば、リムの外縁からレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さは、リムの外縁における最下縁（すなわち、位置Ｑ）から光学中心位置ＯＣまでの高さＨ３であってもよい。また、例えば、リムの外縁からレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さは、光学中心位置直下のリムの外縁から光学中心位置ＯＣまでの高さＨ４であってもよい。なお、本実施例では、レンズ測定ユニット２２０が、フレームＦの左リムＦＲＬの最下縁の位置ＱからレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さＨ３を、リムの外縁からレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さとして取得する場合を例に挙げる。

操作者は、眼鏡を前方支持部２１２及び後方支持部２１３に載置し、フレーム支持ユニット２１０に眼鏡を支持させる。続いて、操作者は、モニタ２０２に表示される操作ボタン２０３を操作して、フレームＦの左リムＦＲＬの最下縁の位置ＱからレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さＨ３の測定を開始する。

制御部２６０は、測定開始の信号が入力されると、駆動ユニット２４０の駆動を制御して、レンズ測定ユニット２２０に対するフレーム支持ユニット２１０の位置を初期位置から測定位置に移動させる。例えば、本実施例では、フレーム支持ユニット２１０のＸＹ方向における初期位置が、前方支持部２１２の上下中央と、当接ピン２２１の上下中央（すなわち、測定光学系２３０の光軸Ｌ１）と、が一致する位置に設定されている。また、例えば、本実施例では、フレーム支持ユニット２１０のＺ方向における初期位置が、当接ピン２２１から所定の距離だけ離れた位置に設定されている。なお、所定の距離は、フレーム支持ユニット２１０に載置された眼鏡のレンズＬＥと、当接ピン２２１と、が接触しない程度に離れた距離であればよい。もちろん、初期位置は任意の位置に設定可能であってもよい。制御部２６０は、駆動ユニット２４０の各モータを駆動して、フレーム支持ユニット２１０を初期位置からＸ方向、Ｙ方向、Ｚ方向にそれぞれ移動させ、左リムＦＲＬに枠入れされたレンズＬＥに当接ピン２２１を接触させる。なお、このとき、制御部２６０は、サーバからレイアウトデータを受信して、レンズ測定ユニット２２０に対するフレーム支持ユニット２１０のおおよその移動量を決めてもよい。これにより、測定光学系２３０の光軸Ｌ１が、左リムＦＲＬに枠入れされたレンズＬＥの光学中心位置付近に位置合わせされる。

図１４は撮像素子２３６が撮像する撮像画像２７０の一例である。図１４（ａ）は第１光源２３１ａを点灯させた状態における撮像画像２７０ａである。図１４（ｂ）は第２光源２３１ｂを点灯させた状態における撮像画像２７０ｂである。制御部２６０は、第１光源２３１ａを点灯させ、指標板２３３における測定指標の部分のみを通過した測定光束をレンズＬＥに照射する。また、制御部２６０は、スクリーン２３４に投影されたフレームＦの像（フレーム像Ｆｐ）と、レンズＬＥの像（レンズ像ＬＥｐ）と、レンズＬＥを通過した視標光束の像（視標光束像２３１ｐ）と、を撮像素子２３６で撮像する。これにより、撮像画像２７０ａが取得される。制御部２６０は、フレーム支持ユニット２１０に眼鏡を載置していない状態の撮像画像（すなわち、基準画像）と、フレーム支持ユニット２１０に眼鏡を載置した状態の撮像画像２７０と、を画像処理することで、基準画像におけるそれぞれの視標光束像２３１ｐが撮像画像２７０ａのどこに移動したかを解析する。また、制御部２６０は、それぞれの視標光束像２３１ｐの移動位置に基づいて、レンズ像ＬＥｐの光学中心位置ＯＣｐを求める。撮像画像２７０上におけるレンズ像ＬＥｐの光学中心位置ＯＣｐの画素位置（すなわち、位置座標）は、メモリ２６１に記憶される。

次に、制御部２６０は、第２光源２３１ｂを点灯させ、指標板２３３における測定指標の部分と、測定指標以外の部分と、の双方を通過した測定光束をレンズＬＥに照射する。これにより、フレーム像Ｆｐとレンズ像ＬＥｐを撮像した撮像画像２７０ｂが取得される。制御部２６０は、撮像画像２７０ｂを画像処理することで、左リムＦＲＬの像（左リム像ＦＲＬｐ）の最下縁の位置Ｑｐからレンズ像ＬＥｐの光学中心位置ＯＣｐまでの高さＨ３ｐを取得する。例えば、制御部２６０は、撮像画像２７０ｂに対してエッジ検出を行い、撮像画像２７０ｂにおける輝度の立ち上がりや立ち下がりを検出することで、左リム像ＦＲＬｐの最下縁の位置Ｑｐを検出する。また、例えば、制御部２６０は、撮像画像２７０上における位置Ｑｐの画素位置（位置座標）を、メモリ２６１に記憶する。

例えば、制御部２６０は、メモリ２６１に記憶したレンズ像ＬＥｐの光学中心位置ＯＣｐの画素位置と、左リム像ＦＲＬｐの最下縁の位置Ｑｐの画素位置と、に基づいて、左リム像ＦＲＬｐの最下縁の位置Ｑｐからレンズ像ＬＥｐの光学中心位置ＯＣｐまでの高さＨ３ｐを求める。なお、このような高さＨ３ｐは撮像画像２７０ｂにおける画素数で表されているため、実際の高さＨ３に変換されてもよい。例えば、撮像画像２７０の１画素対応する実際の距離は、予め実験やシミュレーション等により設定されていてもよい。これによって、制御部２６０は、フレーム支持ユニット２１０に載置した眼鏡における左リムＦＲＬの最下縁の位置ＱからレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さＨ３を取得することができる。

＜第３情報の取得＞
操作者は、第１情報及び第２情報を取得すると、これらに基づいて、リムの溝底からレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さを取得する。例えば、本実施例では、左リムＦＲＬの深さ方向の厚みＴ（第１情報）、及び、左リムＦＲＬの最下縁の位置ＱからレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さＨ３（第２情報）、に基づいて、左リムＦＲＬの溝底の最底辺の位置ＰからレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さＢＴ（すなわち、リムの溝底の最底辺の位置Ｐと、光学中心位置ＯＣと、を垂直方向に結ぶ距離ＢＴ）が取得される。

眼鏡測定装置２００の制御部２６０は、左リムＦＲＬの最下縁の位置ＱからレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さＨ３と、左リムＦＲＬの深さ方向の厚みＴと、の差分を算出することで、左リムＦＲＬの溝底の最底辺の位置ＰからレンズＬＥの光学中心位置ＯＣまでの高さＢＴ（第３情報）を求めることができる。例えば、本実施例において、このような高さＢＴは、モニタ２０２に表示される。もちろん、高さＢＴの他に、リムの深さ方向の厚みＴ、リムの最下縁の位置Ｑから光学中心位置ＯＣまでの高さＨ３、等がモニタ２０２に表示されてもよい。もちろん、これらの情報は、タブレット端末等への表示、プリンタ等を用いた印刷、外部メモリ（例えば、ＵＳＢメモリ等）への保存、等により出力されてもよい。

＜比較情報の取得＞
例えば、眼鏡測定装置２００の制御部２６０は、取得した眼鏡の高さＢＴ（以下、高さＢＴ´と称する）と、レンズの加工時に設定した玉型形状データの最底辺の位置Ｐから光学中心位置ＯＣまでの高さＢＴと、を比較した比較情報を取得する。例えば、比較情報は、眼鏡の高さＢＴ´と、レンズの加工時に設定した高さＢＴと、のそれぞれの値を並べた情報であってもよい。例えば、比較情報は、表示、印刷、保存、等により出力されてもよい。また、例えば、比較情報は、第３情報の良否の判定に用いられてもよい。

＜第３情報の良否判定＞
例えば、眼鏡測定装置２００の制御部２６０は、取得した眼鏡の高さＢＴ´の良否を、レンズの加工時に設定した玉型形状データの最底辺の位置Ｐから光学中心位置ＯＣまでの高さＢＴに基づいて判定する。

図１５はフレームＦの溝ＦｇとレンズＬＥのヤゲンＬＥｂとに隙間がある状態の眼鏡を示す図である。制御部２６０は、レンズＬＥを加工する際に設定したレイアウトデータを受信し、レンズの加工時に設定した高さＢＴと、測定した高さＢＴ´と、のずれ量を検出する。この場合には、左リムＦＲＬに対して設定した高さＢＴと、左リムＦＲＬにて測定された高さＢＴ´と、のずれ量が誤差範囲内であるかが判定される。誤差範囲は、高さＢＴ±０．１ｍｍ、等に予め設定されていてもよい。制御部２６０は、高さＢＴと高さＢＴ´とのずれ量が誤差範囲におさまっていた場合に、高さＢＴ´（すなわち、第３情報）が良好であると判定する。また、制御部２６０は、高さＢＴと高さＢＴ´とのずれ量が誤差範囲を超えていた場合に、高さＢＴ´が良好でないと判定する。なお、左リムＦＲＬと同様に、右リムＦＲＲについても、右リムＦＲＲに対して設定した高さＢＴと、右リムＦＲＲにて測定された高さＢＴ´と、のずれ量に基づいて高さＢＴ´の良否が判定される。

また、制御部２６０は、左リムＦＲＬにて測定された高さＢＴ´と、右リムＦＲＲにて測定された高さＢＴ´と、のずれ量を検出する。この場合には、左リムＦＲＬにて測定された高さＢＴ´と、右リムＦＲＲにて測定された高さＢＴ´と、のずれ量が誤差範囲内であるかが判定される。誤差範囲は、０．１ｍｍ以内、等に予め設定されていてもよい。制御部２６０は、左リムＦＲＬの高さＢＴ´と右リムＦＲＲの高さＢＴ´とのずれ量が誤差範囲におさまっていた場合に、眼鏡の高さＢＴ´が良好であると判定する。また、制御部２６０は、左リムＦＲＬの高さＢＴ´と右リムＦＲＲの高さＢＴ´とのずれ量が誤差範囲を超えていた場合に、眼鏡の高さＢＴ´が良好でないと判定する。

例えば、本実施例において、このような眼鏡の高さＢＴ´の良否の判定結果は、モニタ２０２に表示される。一例としては、算出されたずれ量がモニタ２０２に表示されてもよいし、判定指標（例えば、誤差範囲内であればＡ判定、誤差範囲外であればＢ判定、等）がモニタ２０２に表示されてもよい。もちろん、これらの情報は、タブレット端末等への表示、プリンタ等を用いた印刷、外部メモリ（例えば、ＵＳＢメモリ等）への保存、等により出力されてもよい。操作者は、出力された情報を確認することで、眼鏡がレイアウト通りに作製できているかを容易に判断することができる。

以上説明したように、例えば、本実施例における眼鏡測定システムは、眼鏡のフレームにおけるリムの深さ方向の厚みである第１情報を取得し、眼鏡のレンズをフレームに枠入れした枠入れ状態において、リムの外縁の位置からレンズの光学中心位置までの高さである第２情報を取得し、第１情報と第２情報とに基づいて、枠入れ状態におけるリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さである第３情報を取得する。例えば、眼鏡は、枠入れ状態ではフレームのリムの溝にレンズのヤゲンが隠れてしまうため、ヤゲン頂点からレンズの光学中心位置までの高さを測定することが難しかった。しかし、このような構成であることによって、ヤゲン頂点からレンズの光学中心位置までの高さを容易に取得することができる。

また、例えば、本実施例における眼鏡測定システムは、リムの溝底の位置とリムの外縁の位置を検出し、リムの溝底の位置とリムの外縁の位置とに基づく第１情報を取得する。例えば、フレームは設計データに基づいて製造されているが、同一のフレームであっても個体差が生じてしまうことがある。本実施例のように、リムの溝底の位置とリムの外縁の位置を検出する構成であれば、フレーム毎に正確な第１情報を取得することができる。

また、例えば、本実施例における眼鏡測定システムは、フレームにおけるリムの溝底の最底辺の位置及びリムの外縁における最下縁の位置を検出して、リムの溝底の最底辺の位置からリムの最下縁の位置までの高さを第１情報として取得し、リムの最下縁からレンズの光学中心位置までの高さを第２情報として取得し、第１情報と第２情報とに基づいて、リムの溝底の最底辺から光学中心位置までの高さを第３情報として取得する。これによって、例えば、ヤゲン頂点が最下縁となる位置からレンズの光学中心位置までの高さ（すなわち、アイポイント指標のひとつであるＢＴ）を容易に取得することができる。

また、例えば、本実施例における眼鏡測定システムは、フレームの外縁が当接するようにしてフレームを保持し、リムの溝底及びリムの外縁が当接する当接面に測定子を接触させ、測定子の移動位置に基づいて第１情報を取得する。例えば、眼鏡を作製する際には、リムの溝に測定子を挿入して１周させることで、フレームの形状（例えば、フレームのリムの溝の３次元形状）を取得し、この形状データを用いてレンズを加工するための加工制御データが作成される。測定子の形状によっては、測定子が必ずしもリムの溝底に一致しないため、形状データに基づいてレンズに形成されるヤゲン頂点の位置は、測定子の接触位置により変化する。本実施例のように、測定子がリムの溝底及びリムの外縁が当接する当接面（すなわち、リムの最下縁）の双方に接触することによって、リムの溝底の位置から測定子の接触位置までの誤差を考慮するための構成を設けることなく、第１情報を精度良く取得できるようになる。

また、例えば、本実施例における眼鏡測定システムは、眼鏡の枠入れ状態における第３情報と、レンズの加工時に設定したリムの溝底の位置から光学中心位置までの高さと、を比較した比較情報を取得する。また、眼鏡の第３情報の良否を、レンズの加工時に設定したリムの溝底から光学中心位置までの高さに基づいて判定する。これによって、操作者は、眼鏡のレイアウトが予定通りに仕上がっているか、眼鏡のレイアウトが適切であるか、等を容易に比較して判断することができる。

＜変容例＞
なお、本実施例では、眼鏡枠形状測定装置１００を用いてリムの最下縁の位置Ｑにおける３次元データを取得する際に、第２スライダー２３の第２面２３ａに測定子６２を直接接触させる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第２スライダー２３の第２面２３ａに当て板を設けておき、測定子６２を当て板に接触させる構成としてもよい。一例として、当て板は金属製の板であってもよい。例えば、本実施例において、第２スライダー２３は樹脂製であり、測定子６２は金属製である。リムを測定する毎に、測定子６２を第２面２３ａの接触位置Ｍに接触させると、樹脂が金属よりも柔らかいために、第２面２３ａの接触位置Ｍが徐々に凹む可能性がある。第２面２３ａが凹んでしまうと、リムの最下縁の位置Ｑにおける正確な３次元データを取得することができなくなる。このため、第２面２３ａに当て板を設け、測定子６２を当て板に接触させることで、３次元データを取得するようにしてもよい。例えば、当て板は、第２面２３ａの全面に設けられてもよいし、第２面２３ａにおいて少なくともフレームＦの左右方向と同程度の長さをもつように設けられてもよい。また、例えば、当て板は、第２面２３ａと同様に当接部を有していてもよい。

なお、本実施例では、眼鏡枠形状測定装置１００が、フレームＦのリムの外縁に当接してフレームＦを保持するフレーム保持ユニット２０と、フレームＦのリムの溝底及びフレーム保持ユニット２０とリムの外縁との当接面（本実施例では、第２面２３ａ）とに接触する測定子６２と、を備え、測定子６２の移動位置に基づいてリムの深さ方向の厚みＴ（すなわち、第１情報）を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、眼鏡枠形状測定装置１００は、フレームＦのリムの溝底及びリムの外縁に向けて光源から測定光束を照射する投光光学系と、測定光束がリムの溝底及びリムの外縁に反射された反射光束を受光素子で受光する受光光学系と、を備え、リムの溝底からの反射光束と、リムの外縁からの反射光束と、に基づいてリムの深さ方向の厚みＴを取得する構成としてもよい。例えば、この場合には、リムの溝の断面形状を撮像した断面画像から、リムの溝底の位置と、リムの外縁の位置と、が画像処理で検出されることで、リムの深さ方向の厚みＴを取得してもよい。例えば、本実施例における眼鏡測定システムは、このような構成であることによって、リムの溝底の位置（すなわち、レンズに形成されるヤゲン頂点の位置）とリムの外縁の位置を正確に取得し、第１情報を精度良く取得できるようになる。

なお、本実施例では、眼鏡枠形状測定装置１００のフレーム測定ユニット６０が、リムの溝底の最底辺の位置Ｐの３次元データを測定した後に、リムの最下縁の位置Ｑの３次元データを測定する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、フレーム測定ユニット６０は、リムの最下縁の位置Ｑの３次元データを測定した後に、リムの溝底の最底辺の位置Ｐの３次元データを測定する構成であってもよい。すなわち、リムの溝底の最底辺の位置、及びリムの最下縁の位置Ｑの測定は、どちらを先に実施してもよい。

なお、本実施例では、眼鏡枠形状測定装置１００の制御部９０が、リムの溝底の最底辺の位置Ｐの３次元データと、リムの最下縁の位置Ｑの３次元データと、に基づいて取得したリムの深さ方向の厚みＴをサーバに送信する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、眼鏡枠形状測定装置１００の制御部９０は、リムの溝底の最底辺の位置Ｐの３次元データと、リムの最下縁の位置Ｑの３次元データと、をサーバに送信するようにしてもよい。サーバの制御部は、リムの溝底の最底辺の位置Ｐの３次元データと、リムの最下縁の位置Ｑの３次元データと、に基づいて、リムの深さ方向の厚みＴを取得してもよい。すなわち、サーバの制御部がリムの深さ方向の厚みＴを演算して取得してもよい。

なお、本実施例では、眼鏡測定装置２００のフレーム支持ユニット２１０が、前方支持部２１２及び後方支持部２１３でフレームＦを支持する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、フレーム支持ユニット２１０は、フレームＦのリムの下縁が基台２１１に当接するように、フレームＦを支持する構成としてもよい。また、例えば、フレーム支持ユニット２１０は、眼鏡枠形状測定装置１００のフレーム保持ユニット２０と同様に、フレームＦのリムの上縁及び下縁を挟み込むことでフレームＦを支持する構成としてもよい。すなわち、例えば、フレーム支持ユニット２１０は、フレームＦのリムの下縁を、水平方向の基準となる基準面に当接させる構成としてもよい。

また、本実施例では、眼鏡測定装置２００のレンズ測定ユニット２２０が、撮像画像２７０ｂから左リム像ＦＲＬｐの最下縁の位置Ｑｐを検出し、最下縁の位置Ｑｐからレンズ像ＬＥｐの光学中心位置ＯＣｐまでの高さＨ３ｐを求める構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例では、撮像画像２７０ｂにおけるフレーム像Ｆｐに傾きが検出された場合（すなわち、撮像素子２３６の撮像面に対してフレームＦが傾いていた場合）に、フレーム像Ｆｐの傾きを補正して、最下縁の位置Ｑｐからレンズ像ＬＥｐの光学中心位置ＯＣｐまでの高さＨ３ｐを求める構成としてもよい。一例として、眼鏡測定装置２００の制御部２６０は、眼鏡枠形状測定装置１００から玉型形状データを取得し、この玉型形状データとフレーム像Ｆｐとを比較することで、フレーム像Ｆｐの傾きを検出してもよい。また、玉型形状データに基づいて、フレーム像Ｆｐの傾きを補正してもよい。

なお、本実施例では、眼鏡測定装置２００の制御部２６０が、高さＢＴ（第３情報）に基づく良否判定を行う構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、制御部２６０は、高さＢＴに加えて、他の情報に基づく良否判定を行うようにしてもよい。一例として、制御部２６０は、眼鏡の左リムＦＲＬに枠入れされたレンズＬＥと、眼鏡の右リムＦＲＲに枠入れされたレンズＬＥと、の光学中心間距離ＰＤについて、良否判定を行ってもよい。この場合、設定されたレイアウトデータにおける光学中心間距離ＰＤと、測定した光学中心間距離ＰＤと、のずれ量が誤差範囲内であるかを判定してもよい。また、一例として、制御部２６０は、眼鏡の左リムＦＲＬに枠入れされたレンズＬＥと、眼鏡の右リムＦＲＲに枠入れされたレンズＬＥと、のそれぞれについて、ＰＤ高さＨ２の良否判定を行ってもよい。この場合、設定されたレイアウトデータにおけるＰＤ高さＨ２と、測定したＰＤ高さＨ２と、のずれ量が誤差範囲内であるかを判定してもよい。

なお、本実施例では、眼鏡測定装置２００の制御部２６０が、測定した高さＢＴ´と、レンズの加工時に設定した高さＢＴと、を比較し、その良否を判定する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、測定したＰＤ高さＨ２、ボクシング中心間距離ＦＰＤ、光学中心間距離ＰＤ、等の少なくともいずれかの情報を、レンズ加工時に設定した情報と比較して、その良否を判定するようにしてもよい。すなわち、制御部２６０は、眼鏡のレイアウトの良否を判定するようにしてもよい。

また、本実施例では、測定した高さＢＴ´と、レンズの加工時に設定したＰＤ高さＨ２と、を比較し、その良否を判定する構成としてもよい。この場合、眼鏡測定装置２００の制御部２６０は、測定した高さＢＴ´を、ＰＤ高さＨ２に変換してもよい。

図１６は高さＢＴとＰＤ高さの変換を説明する図である。例えば、眼鏡測定装置２００の制御部２６０は、眼鏡枠形状測定装置１００にて取得された玉型形状データ１１０（すなわち、リムの溝底の３次元データを繋ぎ合わせた溝底の形状データ１１０）に基づいて、玉型形状データ１１０のボクシング中心位置ＢＣの位置座標を求める。例えば、ボクシング中心位置ＢＣは、玉型形状データ１１０を囲む四角形において、対向する各辺の中点を結んだ直線の交点である。眼鏡測定装置２００を用いた眼鏡の測定によって、レンズＬＥの光学中心位置ＯＣやリムの溝底の最底辺の位置Ｐ等の位置座標は求められている。このため、制御部２６０は、ボクシング中心位置ＢＣの位置座標と、光学中心位置ＯＣの位置座標と、によりボクシング中心位置ＢＣから光学中心位置ＯＣまでの高さｇ１を算出することができる。また、制御部２６０は、ボクシング中心位置ＢＣの位置座標と、リムの溝底の最底辺の位置Ｐの位置座標と、によりボクシング中心位置ＢＣから位置Ｐまでの高さｇ２を算出することができる。続いて、制御部２６０は、光学中心位置ＯＣを通って垂直方向に伸びる直線ｋ１と、玉型形状データ１１０と、の交点ｄ１の位置座標を求める。例えば、交点ｄ１の位置座標は、玉型形状データ１１０における動径角ｒ毎の座標位置に基づいて算出することができる。また、制御部２６０は、光学中心位置ＯＣを通って垂直方向に伸びる直線ｋ１と、リムの溝底の最底辺の位置Ｐを通って水平方向に伸びる直線ｋ２と、の交点ｄ２の位置座標を求める。これによって、制御部２６０は、交点ｄ１から交点ｄ２までの高さｇ３を算出することができる。

制御部２６０は、前述のように算出した高さｇ１、高さｇ２、及び高さｇ３に基づいて、測定した高さＢＴ´を、ＰＤ高さＨ２に変換する。例えば、制御部２６０は、測定したＢＴ´から高さｇ３を減算することで（つまり、Ｈ２＝ＢＴ´−ｇ３）、ＰＤ高さＨ２を求めてもよい。また、例えば、制御部２６０は、高さｇ１と高さｇ２を加算し、そこから高さｇ３を減算することで（つまり、Ｈ２＝ｇ１＋ｇ２−ｇ３）、ＰＤ高さＨ２を求めてもよい。例えば、測定した情報と、レンズの加工時に設定した情報と、が異なっていても、このように情報を変換することで、それぞれを比較して良否を判定することができる。

なお、本実施例では、眼鏡測定装置２００の制御部２６０が、フレームＦに枠入れされたレンズの光学中心位置を測定し、高さＢＴ（第３情報）に基づく良否判定を行う構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、制御部２６０は、フレームＦに枠入れされたレンズにおける装用者のアイポイント位置の光学特性を測定し、光学特性に対する良否を判定してもよい。例えば、光学特性は、球面度数、柱面度数、乱視軸角度、プリズム量、等の少なくともいずれかであってもよい。以下では、光学特性としてプリズム量を測定し、その良否を判定する場合を例に挙げる。

例えば、装用者のアイポイント位置は装用者の瞳孔位置であり、レンズの加工時においては、アイポイント位置が光学中心位置に一致するように、レンズのレイアウト情報が設定される。このため、例えば、単焦点レンズを加工する場合には、アイポイント位置（すなわち、レンズの光学中心位置）のプリズム量がゼロとなるように、レイアウト情報が設定される。しかし、フレームＦに加工後のレンズを組み付けたときに、アイポイント位置がレンズの光学中心位置に一致していないと、プリズムが発生することがある。

そこで、制御部２６０は、レンズの加工時に設定されたレイアウトデータ（例えば、前述の高さＢＴや光学中心間距離ＰＤ等）に基づくアイポイント位置の光学特性を測定し、そのプリズム量を取得する。また、制御部２６０は、取得したプリズム量がゼロであるか否かを判定する。もちろん、プリズム量には誤差の許容範囲が設けられていてもよい。許容範囲は、±０．６７プリズムディオプトリ以内、等に予め設定されていてもよい。例えば、制御部２６０は、取得したプリズム量が許容範囲におさまっていた場合に、プリズム量が良好であると判定する。すなわち、アイポイント位置と光学中心位置とが一致（略一致）していると判定する。また、例えば、制御部２６０は、取得したプリズム量が許容範囲を超えていた場合に、プリズム量が良好でないと判定する。すなわち、アイポイント位置と光学中心位置とが一致していないと判定する。

なお、上記では単焦点レンズを加工する場合を例示したが、プリズム処方のレンズを加工する場合には、アイポイント位置に所定のプリズム量が与えられるように、レイアウト情報が設定される。このため、例えば、制御部２６０は、レンズの加工時に設定されたレイアウトデータに基づくアイポイント位置のプリズム量が、所定のプリズム量に一致するか否かを判定してもよい。

なお、本実施例では、眼鏡がレイアウト通りに作製できていなかった場合、眼鏡測定装置２００の制御部２６０が、測定した高さＢＴ´とレンズの加工時に設定した高さＢＴとのずれ量、左リムＦＲＬにて測定された高さＢＴ´と右リムＦＲＲにて測定された高さＢＴ´とのずれ量、等の少なくともいずれかを、レンズ周縁加工装置の制御部に送信する構成としてもよい。例えば、レンズ周縁加工装置の制御部は、これらのずれ量を考慮した加工制御データを再度取得して、この加工制御データに基づいたレンズの加工を行ってもよい。

１ 眼鏡測定システム
２０ フレーム保持ユニット
６０ フレーム測定ユニット
９０ 制御部
１００ 眼鏡枠形状測定装置
２００ 眼鏡測定装置
２１０ フレーム支持ユニット
２２０ レンズ測定ユニット
２４０ 駆動ユニット
２６０ 制御部

Claims (10)

1. 眼鏡を測定する眼鏡測定システムであって、
   前記眼鏡のフレームにおけるリムの深さ方向の厚みである第１情報を取得する第１取得手段と、
   前記眼鏡のレンズを前記フレームに枠入れした枠入れ状態において、前記リムの外縁の位置から前記レンズの光学中心位置までの高さである第２情報を取得する第２取得手段と、
   前記第１取得手段により取得された前記第１情報と、前記第２取得手段により取得された前記第２情報と、に基づいて、前記枠入れ状態における前記リムの溝底の位置から前記光学中心位置までの高さである第３情報を取得する第３取得手段と、
   を備えることを特徴とする眼鏡測定システム。
2. 請求項１の眼鏡測定システムにおいて、
   前記リムの前記溝底の位置を検出する溝底検出手段と、
   前記リムの前記外縁の位置を検出する外縁検出手段と、
   を備え、
   前記第１取得手段は、前記溝底検出手段により検出された前記溝底の位置と、前記外縁検出手段により検出された前記外縁の位置と、に基づいて、前記第１情報を取得することを特徴とする眼鏡測定システム。
3. 請求項２の眼鏡測定システムにおいて、
   前記フレームは、前記リムを少なくとも下縁に有するフレームであって、
   前記溝底検出手段は、前記溝底の最底辺の位置を、前記溝底の位置として検出し、
   前記外縁検出手段は、前記外縁における最下縁の位置を、前記外縁の位置として検出し、
   前記第１取得手段は、前記溝底の前記最底辺の位置から前記外縁の前記最下縁の位置までの高さを、前記第１情報として取得し、
   前記第２取得手段は、前記最下縁の位置から前記光学中心位置までの高さを、前記第２情報として取得し、
   前記第３取得手段は、前記第１情報と前記第２情報とに基づいて、前記最底辺の位置から前記光学中心位置までの高さを、前記第３情報として取得することを特徴とする眼鏡測定システム。
4. 請求項１または３の眼鏡測定システムにおいて、
   前記第３情報は、前記眼鏡のＢＴあるいはＰＤ高さの少なくともいずれかであることを特徴とする眼鏡測定システム。
5. 請求項２または３の眼鏡測定システムにおいて、
   前記フレームの前記外縁に当接し、前記フレームを保持するフレーム保持手段と、
   前記フレームの前記溝底、及び、前記フレーム保持手段と前記外縁の当接面に接触する測定子と、
   を備え、
   前記第１取得手段は、前記測定子の移動位置に基づいて、前記第１情報を取得することを特徴とする眼鏡測定システム。
6. 請求項２または３の眼鏡測定システムにおいて、
   前記フレームの前記溝底及び前記外縁に向けて、光源から測定光束を照射する投光光学系と、
   前記測定光束が前記溝底及び前記外縁に反射された反射光束を受光素子で受光する受光光学系と、
   を備え、
   前記第１取得手段は、前記溝底からの前記反射光束と、前記外縁からの前記反射光束と、に基づいて、前記第１情報を取得することを特徴とする眼鏡測定システム。
7. 請求項１〜６のいずれかの眼鏡測定システムにおいて、
   前記眼鏡の前記枠入れ状態における前記第３情報と、前記レンズの加工時に設定した前記リムの溝底から前記光学中心位置までの高さと、を比較した比較情報を取得する比較情報取得手段と、
   を備えることを特徴とする眼鏡測定システム。
8. 請求項７の眼鏡測定システムにおいて、
   前記眼鏡の前記枠入れ状態における前記第３情報の良否を、前記レンズの加工時に設定した前記リムの溝底の位置から前記光学中心位置までの高さに基づいて判定する判定手段と、
   を備えることを特徴とする眼鏡測定システム。
9. 眼鏡のフレームの形状を測定する眼鏡枠形状測定装置であって、
   前記フレームにおけるリムの溝底の位置を検出する溝底検出手段と、
   前記フレームにおけるリムの外縁の位置を検出する外縁検出手段と、
   前記溝底の位置と、前記外縁の位置と、に基づいて、前記リムの深さ方向の厚みである第１情報を取得する第１取得手段と、を備えることを特徴とする眼鏡枠形状測定装置。
10. 眼鏡を測定する眼鏡測定システムにおいて用いられる眼鏡測定プログラムであって、
    前記眼鏡測定システムのプロセッサに実行されることで、
    前記眼鏡のフレームにおけるリムの深さ方向の厚みである第１情報を取得する第１取得ステップと、
    前記眼鏡のレンズを前記フレームに枠入れした枠入れ状態において、前記リムの外縁の位置から前記レンズの光学中心位置までの高さである第２情報を取得する第２取得ステップと、
    前記第１取得ステップにより取得された前記第１情報と、前記第２取得ステップにより取得された前記第２情報と、に基づいて、前記枠入れ状態における前記リムの溝底の位置から前記光学中心位置までの高さである第３情報を取得する第３取得ステップと、
    を前記眼鏡測定システムに実行させることを特徴とする眼鏡測定プログラム。

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