JP7243237B2 - 眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置及び眼鏡レンズ周縁加工情報取得プログラム - Google Patents

Description

本開示は、眼鏡レンズを加工するための玉型形状または周長を取得する眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置及び眼鏡レンズ周縁加工情報取得プログラムに関する。

眼鏡フレームのリムに測定子を接触させることで、リムの形状を測定することが可能な眼鏡枠形状測定装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。また、眼鏡フレームに枠入れされていたデモレンズ（または型板）に、測定子が取り付けられた測定子軸を接触させることで、デモレンズ（または型板）の形状を測定することが可能な眼鏡枠形状測定装置が知られている（例えば、特許文献２参照）。

特開２０１４－０２１０６９号公報 特開２０１１－１２２８９８号公報

ところで、近年では、デザイン性をもたせた様々な形状の眼鏡フレームが提供されている。一例として、眼鏡フレームのリムが眼鏡レンズを覆うフルリムフレームでは、リムに隙間をもたせたフレーム（つまり、リムが部分的に欠損したフレーム）、リムに眼鏡レンズの一部が嵌まらないフレーム（つまり、リムに眼鏡レンズの一部が接触しないフレーム）、等が挙げられる。

このような眼鏡フレームに対しては、リムから測定子が脱落すること、リムの形状がデモレンズ（または型板）の形状と異なること、等から、デモレンズ（または型板）を測定し、測定結果に基づいた眼鏡レンズの加工が行われている。しかしながら、この場合には、眼鏡フレームに合った眼鏡レンズが得られず、眼鏡フレームに眼鏡レンズを上手く枠入れできないことがあった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、眼鏡フレームに対する眼鏡レンズの枠入れ状態を改善できる眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下の構成を備えることを特徴とする。
（１） 本開示の第１態様に係る眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置は、眼鏡フレームに枠入れする眼鏡レンズを加工するための玉型形状または周長を取得する眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置であって、前記眼鏡フレームのリムの第１玉型形状、または、前記リムの第１リム形状を取得する第１情報取得手段と、前記眼鏡フレームのデモレンズあるいは型板の形状である外形形状を取得する第２情報取得手段と、前記第１玉型形状の少なくとも一部に前記外形形状の少なくとも一部を適用することで、前記第１玉型形状とは異なる第２玉型形状を取得する、または、前記第１リム形状の少なくとも一部に前記外形形状の少なくとも一部を適用することで、前記第１リム形状とは異なる第２リム形状を取得するとともに、前記第２リム形状に基づいて、前記第１リム形状が補正された前記リムの全体の周長を取得する処理手段と、を備えることを特徴とする。
（２） 本開示の第２態様に係る眼鏡レンズ周縁加工情報取得プログラムは、眼鏡フレームに枠入れする眼鏡レンズを加工するための玉型形状または周長を取得する眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置にて用いる眼鏡レンズ周縁加工情報取得プログラムであって、前記眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置のプロセッサに実行されることで、前記眼鏡フレームのリムの第１玉型形状、または、前記リムの第１リム形状を取得する第１情報取得ステップと、前記眼鏡フレームのデモレンズあるいは型板の形状である外形形状を取得する第２情報取得ステップと、前記第１玉型形状の少なくとも一部に前記外形形状の少なくとも一部を適用することで、前記第１玉型形状とは異なる第２玉型形状を取得する、または、前記第１リム形状の少なくとも一部に前記外形形状の少なくとも一部を適用することで、前記第１リム形状とは異なる第２リム形状を取得するとともに、前記第２リム形状に基づいて、前記第１リム形状が補正された前記リムの全体の周長を取得する処理ステップと、を前記眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置に実行させることを特徴とする。

眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置の外観略図である。 フレーム保持ユニットの上面図である。 フレーム保持ユニットの斜視図である。 クランプ機構の概略構成図である。 第１スライダーの左側に配置されたクランプ機構を示す図である。 眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置の制御系を示す図である。 制御動作を示すフローチャートである。 フレームの一例である。 フレームにおけるリムの第１玉型形状情報の一例である。 デモレンズの外形形状の一例である。 リムの第１玉型形状とデモレンズの外形形状の関係を示す図である。

＜概要＞
本開示の実施形態に係る眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置（以下、取得装置と省略する）の概要について説明する。以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。

＜眼鏡フレームのリムの形状＞
本実施形態において例示する眼鏡フレーム（以下、フレーム）は、そのリムで眼鏡レンズ（以下、レンズ）を保持するフレームであってもよい。例えば、フレームにレンズを枠入れした際、フレームのリムの半分以上がレンズに接触するフレームであってもよい。一例としては、フレームのリムがレンズを覆うフルリムフレームであってもよい。この場合、フレームのリムに隙間があるフレーム（つまり、リムが部分的に欠損したフレーム）、フレームのリムにレンズの一部が嵌まらないフレーム（つまり、リムにレンズの一部が接触しないフレーム）、等が挙げられる。

従来、フレームのリムでレンズを保持するこのようなフレームに対しては、リムの情報を得ることが難しかった。例えば、リムに隙間があるフレームでは、リムの隙間から測定子が脱落するために、隙間の情報を得ることができない。また、例えば、リムにレンズの一部が嵌まらないフレームでは、リムの形状とレンズの形状が不一致となるため、異なる情報が得られてしまう。このため、フレームに枠入れされていたデモレンズあるいは型板の情報を得て、レンズの加工が行われていた。しかし、リムにレンズが押圧されることで、レンズが歪んだり不安定に保持されたりすることがあり、フレームに合った加工済みのレンズを得られない場合があった。

本実施形態では、これらの眼鏡フレームに対して、以下で開示する技術を適用することで、眼鏡フレームへの眼鏡レンズの枠入れ状態を改善することができる。なお、本実施形態で開示する技術の少なくとも一部は、これらの眼鏡フレームに対して適用することに限定されない。例えば、眼鏡フレームのリムの一部から情報を上手く得られない場合に適用されてもよい。一例として、眼鏡フレームのリムに隙間がなくても、測定子が脱落してしまうような場合等に適用されてもよい。

＜第１情報取得手段及び第２情報取得手段＞
本実施形態において、取得装置は、第１情報取得手段（例えば、制御部５０）を備える。第１情報取得手段は、フレームのリムの玉型形状（第１玉型形状）、または、リムの形状（第１リム形状）を取得する。

リムの第１玉型形状は、リムの３次元玉型形状データであってもよいし、リムの２次元玉型形状データであってもよい。リムの第１リム形状は、リムの３次元形状データであってもよいし、リムの２次元形状データであってもよい。例えば、第１玉型形状及び第１リム形状は、リムの内形形状に基づく形状であってもよい。一例として、リムに形成された凹部（例えば、溝）であって、レンズに形成された凸部（例えば、ヤゲン）を嵌め込む凹部の周方向の形状であってもよい。また、一例として、リムに形成された凸部であって、レンズに形成された凹部に嵌め込まれる凸部の周方向の形状であってもよい。

第１情報取得手段は、フレームの複数の動径角において、第１玉型形状または第１リム形状を取得してもよい。もちろん、第１情報取得手段は、フレームの１つの動径角において、第１玉型形状または第１リム形状を取得してもよい。なお、本実施形態において、第１情報取得手段が取得する第１玉型形状または第１リム形状は、その一部が欠損していてもよい。すなわち、第１情報取得手段が取得する第１玉型形状または第１リム形状は、その一部の形状が不明な状態であってもよい。

本実施形態において、取得装置は、第２情報取得手段（例えば、制御部５０）を備える。第２情報取得手段は、フレームのデモレンズあるいは型板の形状である外形形状を取得する。例えば、デモレンズあるいは型板の外形形状は、デモレンズあるいは型板の３次元形状データであってもよいし、デモレンズあるいは型板の２次元形状データであってもよい。例えば、デモレンズあるいは型板の外形形状は、デモレンズあるいは型板の外形形状に基づく形状であってもよい。一例として、デモレンズあるいは型板に形成された凸部（例えば、ヤゲン）であって、レンズに形成された凹部（例えば、溝）に嵌め込まれる凸部の周方向の形状であってもよい。また、一例として、デモレンズあるいは型板に形成された凹部であって、レンズに形成された凸部に嵌め込む凹部の周方向の形状であってもよい。

第２情報取得手段は、眼鏡フレームの複数の動径角におけるデモレンズあるいは型板の外形形状を取得してもよい。もちろん、第２情報取得手段は、眼鏡フレームの１つの動径角におけるデモレンズあるいは型板の外形形状を取得してもよい。

なお、本実施形態において、第１情報取得手段は、蓄積されたデータから第１玉型形状及び第１リム形状を取得するようにしてもよい。また、本実施形態において、第２情報取得手段は、蓄積されたデータから外形形状を取得するようにしてもよい。すなわち、本実施形態では、第１玉型形状及び第１リム形状と、外形形状と、の少なくともいずれかが、蓄積されたデータから取得されてもよい。例えば、このような場合には、第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状を予め測定してサーバやメモリに蓄積しておき、第１情報取得手段あるいは第２情報取得手段が、該当するデータを呼び出して設定することで、第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状を取得することができる。

また、本実施形態において、第１情報取得手段は、第１測定手段（例えば、測定ユニット２００）を用いて第１玉型形状及び第１リム形状を測定してもよい。また、本実施形態において、第２情報取得手段は、第２測定手段（例えば、測定ユニット２００）を用いて外形形状を測定してもよい。なお、第１測定手段と第２測定手段とは兼用されてもよいし、それぞれが別に設けられてもよい。

例えば、取得装置が第１測定手段または第２測定手段の少なくともいずれかを備える場合、これらの測定手段は、第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状を接触式で測定する構成を備えていてもよい。また、これらの測定手段は、第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状を非接触式で測定する構成を備えていてもよい。もちろん、これらの測定手段は、第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状のいずれかを接触式で、いずれかを非接触式で測定する構成を備えていてもよい。

第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状を接触式で測定する構成の一例としては、リムに測定子（例えば、測定子２８１）を接触させる構成、デモレンズまたは型板の周縁に測定子軸（例えば、測定子軸２８２）を接触させる構成、等が挙げられる。この場合、測定子及び測定子軸の移動を検出することで、第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状を測定することができる。

第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状を非接触式で測定する構成の一例としては、測定光束を照射する投光光学系と、測定光束が反射された反射光束を受光する受光光学系と、を備える構成が挙げられる。投光光学系は、リム、デモレンズの周縁、型板の周縁、等の少なくともいずれかに測定光束を照射してもよい。また、受光光学系は、測定光束がリム、デモレンズの周縁、型板の周縁、等の少なくともいずれかに反射された反射光束を受光してもよい。この場合、反射光束を解析処理することで、第１玉型形状、第１リム形状、及び外形形状を測定することができる。

＜処理手段＞
本実施形態において、取得装置は、処理手段（例えば、制御部５０）を備える。処理手段は、リムの第１玉型形状の少なくとも一部に、デモレンズあるいは型板の外形形状の少なくとも一部を適用することで、第１玉型形状とは異なる第２玉型形状を取得する。例えば、本実施形態において、第２玉型形状は、フレームに枠入れするレンズを加工するための玉型形状であってもよい。処理手段は、第１玉型形状のすべてに対して外形形状を適用してもよいし、第１玉型形状のすべてに対して部分的に外形形状を適用してもよい。また、処理手段は、第１玉型形状の一部に対して外形形状のすべてに基づいた形状を適用してもよいし、第１玉型形状の一部に対して外形形状の一部を適用してもよい。

また、処理手段は、リムの第１リム形状の少なくとも一部に、デモレンズあるいは型板の外形形状の少なくとも一部を適用することで、第１リム形状とは異なる第２リム形状を取得するとともに、第２リム形状に基づいて、第１リム形状が補正されたリムの全体の周長を取得する。例えば、本実施形態において、リムの全体の周長は、フレームに枠入れするレンズを加工するための周長であってもよい。処理手段は、第１リム形状のすべてに対して外形形状を適用してもよいし、第１リム形状のすべてに対して部分的に外形形状を適用してもよい。また、処理手段は、第１リム形状の一部に対して外形形状のすべてに基づいた形状を適用してもよいし、第１リム形状の一部に対して外形形状の一部を適用してもよい。

例えば、従来、フレームのリムから情報を得られないとき等は、デモレンズ（または型板）から情報を得て、レンズを加工するための玉型形状と周長をしていたが、フレームへの加工済みレンズの枠入れ状態が好ましくないことがあった。しかし、本実施形態の制御を行うことによって、操作者は、リムから情報が得られなかった場合であっても、リムの情報を考慮したレンズの玉型形状と周長を取得することができる。これらの玉型形状及び周長を用いて加工制御データを作成し、レンズの周縁を加工することによって、従来よりもフレームへのレンズの枠入れを適した状態に改善することができる。

処理手段は、第１情報取得手段が取得した第１玉型形状から所定の領域を特定し、第２情報取得手段が取得した外形形状から所定の領域に対応する対応領域を特定し、所定の領域の少なくとも一部に対応領域の少なくとも一部を適用する。また、処理手段は、第１情報取得手段が取得した第１リム形状から所定の領域を特定し、第２情報取得手段が取得した外形形状から所定の領域に対応する対応領域を特定し、所定の領域の少なくとも一部に対応領域の少なくとも一部を適用する。

例えば、所定の領域は、サーバやメモリに蓄積されたリムの第１玉型形状または第１リム形状を読みとることで特定されてもよい。また、例えば、操作者による操作手段（例えば、モニタ３、スイッチ部４）からの操作信号の入力により特定されてもよい。また、例えば、前述の第１測定手段により測定された測定結果に基づいて特定されてもよい。この場合、測定子が脱落した動径角の範囲が所定の領域として特定されてもよい。また、例えば、フレームを撮影した撮影画像を画像処理（一例として、エッジ検出等）により解析することで特定されてもよい。この場合、取得装置がフレームを撮影するための撮影手段を備え、処理手段が撮影手段により撮影された撮影画像を解析する構成としてもよい。また、この場合、処理手段が別の装置により撮影された撮影画像を受信して、これを解析する構成としてもよい。

例えば、対応領域は、サーバやメモリに蓄積されたデモレンズまたは型板の外形形状を読みとることで特定されてもよい。また、例えば、操作者による操作手段からの操作信号の入力により特定されてもよい。また、例えば、フレームをデモレンズが枠入れされた状態で撮影した撮影画像を画像処理により解析することで特定されてもよい。また、例えば、リムの第１玉型形状または第１リム形状における所定の領域と同一（略同一）の動径角の範囲として特定されてもよい。

このように、リムの所定の領域及びデモレンズあるいは型板の対応領域をそれぞれ特定しておくことで、リムの所定の領域に対するデモレンズあるいは型板の対応領域の適用がスムーズに行われる。また、リムの所定の領域とデモレンズあるいは型板の対応領域をそれぞれ特定しておくことで、リムの所定の領域に対してデモレンズあるいは型板の対応領域が正確に適用され、より精度の良いレンズの玉型形状と周長を取得することができる。

処理手段は、第１情報取得手段が取得した第１玉型形状または第１リム形状における所定の領域の有無を判定し、判定結果に基づいて、所定の領域の少なくとも一部に対応領域の少なくとも一部を適用する適用処理を実行してもよい。例えば、この場合、第１玉型形状または第１リム形状に所定の領域があるか否かは、サーバやメモリに蓄積されたリムの情報の読み取り、操作者による操作信号の入力、第１測定手段による測定結果、フレーム撮影画像の解析、等から判定されてもよい。

例えば、フレームのリムに所定の領域がない場合（例えば、リムに後述の欠損領域がない場合等）には、リムの情報からレンズの玉型形状と周長が取得されてもよく、必ずしもリムの情報にデモレンズあるいは型板の情報を適用する適用処理が実行されなくてもよい。本実施例のようにリムの所定の領域の有無を判定することで、必要に応じた適切な処理が実行され、フレームに合わせたレンズの最適な玉型形状及び周長を得ることができる。

なお、本実施形態では、必ずしも上記のように第１玉型形状または第１リム形状の所定の領域の有無を判定しなくてもよく、所定の領域が特定されることで、所定の領域の少なくとも一部に対応領域の少なくとも一部を適用する適用処理が実行されてもよい。つまり、所定の領域が設定されることで、適用処理が実行されてもよい。

例えば、第１玉型形状または第１リム形状における所定の領域は、第１玉型形状または第１リム形状の一部が欠損した欠損領域であってもよい。例えば、欠損領域は、リムに隙間があることでリムの一部が欠損した領域であってもよい。また、例えば、リムから測定子が外れるなどして、リムの情報を得られなかった領域としてもよい。これによって、リムに隙間があるフレーム（リムが部分的に欠損したフレーム）、リムの溝深さや反り等が影響して測定子が外れてしまうフレーム、等から得られた不完全なリムの情報であっても、デモレンズあるいは型板の情報を利用して、リムの情報を考慮したレンズの玉型形状と周長を取得することができる。なお、本実施形態では、リムにレンズの一部が嵌まらないことでリムにレンズの一部が接触しない領域を、第１玉型形状または第１リム形状の一部が欠損した欠損領域としてもよい。

処理手段は、リムの第１玉型形状または第１リム形状に外形形状を適用する際、第１玉型形状または第１リム形状を外形形状で置き換える置換処理を行ってもよい。例えば、第１玉型形状または第１リム形状における動径角の範囲を、外形形状における同一の動径角の範囲で置き換えてもよい。一例として、所定の領域を対応領域で置き換えてもよい。また、一例として、所定の領域を含む領域（所定の領域の前後を含む動径角の範囲、等）を、対応領域を含む領域（対応の領域の前後を含む動径角の範囲、等）で置き換えてもよい。なお、例えば、第１玉型形状または第１リム形状における動径角の範囲を、外形形状における異なる動径角の範囲で置き換えてもよい。つまり、所定の領域の動径角の範囲と、対応領域の動径角の範囲と、は必ずしも一致していなくてもよい。

処理手段は、リムの第１玉型形状または第１リム形状に外形形状を適用する際、第１玉型形状または第１リム形状を外形形状に基づいて補完する補完処理を行ってもよい。例えば、第１玉型形状または第１リム形状における動径角の範囲を、外形形状における同一の動径角の範囲に基づいて補完してもよい。一例として、所定の領域を対応領域で補完してもよい。また、一例として、所定の領域を含む領域（所定の領域の前後を含む動径角の範囲、等）を、対応領域を含む領域（対応の領域の前後を含む動径角の範囲、等）で補完してもよい。例えば、所定の領域の形状を対応領域の形状に基づいて演算することで、所定の領域が補完されてもよい。なお、例えば、第１玉型形状または第１リム形状における動径角の範囲を、外形形状における異なる動径角の範囲に基づいて補完してもよい。

処理手段は、リムの所定の領域の少なくとも一部にデモレンズまたは型板の対応領域の少なくとも一部を適用する適用処理として、上記の置換処理と補完処理を組み合わせて行ってもよい。一例として、所定の領域における一部の領域を外形形状で置き換え、所定の領域における残りの領域を外形形状に基づいて補完することで、所定の領域の少なくとも一部に対応領域の少なくとも一部を適用してもよい。

＜加工制御データ取得手段＞
本実施形態において、取得装置は、加工制御データ取得手段（例えば、制御部５０）を備える。加工制御データ取得手段は、処理手段により取得された第２玉型形状及びリムの全体の周長に基づいて、レンズを加工するための加工制御データを取得する。なお、加工制御データ取得手段は、第２玉型形状及びリムの全体の周長に加えて、レンズのレイアウトデータ、レンズの加工条件、レンズのレンズ形状データ、フレームのフレーム形状データ、等の少なくともいずれかを用いることで、加工制御データを取得してもよい。これによって、操作者は、従来よりも精度のよい加工制御データを取得することができ、さらに、この加工制御データをレンズの加工に用いることで、眼鏡フレームに対する眼鏡レンズの枠入れ状態が改善される。

なお、加工制御データ取得手段は、取得装置の制御部により加工制御データを演算することで取得してもよい。また、加工制御データ取得手段は、他の装置の制御部により演算された加工制御データを受信することで、加工制御データを取得してもよい。

また、加工制御データ取得手段は、第２玉型形状及びリムの全体の周長に基づくレンズの加工制御データを直接取得してもよい。また、例えば、加工制御データ取得手段は、第２玉型形状及びリムの全体の周長に基づくレンズの玉型形状及び周長を取得し、この玉型形状及び周長に基づく加工制御データを取得してもよい。

なお、本開示は、本実施形態に記載する装置に限定されない。例えば、下記実施形態の機能を行う端末制御ソフトウェア（プログラム）を、ネットワークまたは各種記憶媒体等を介してシステムあるいは装置に供給し、システムあるいは装置の制御装置（例えば、ＣＰＵ等）がプログラムを読み出して実行することも可能である。

＜実施例＞
以下、典型的な実施形態の１つである実施例について説明する。

図１は、取得装置１の外観略図である。本実施例では、取得装置１の左右方向（水平方向）をＸ方向、上下方向（鉛直方向）をＹ方向、前後方向をＺ方向として表す。例えば、取得装置１は、開口窓２、モニタ３、スイッチ部４、取付部１０、フレーム保持ユニット１００、測定ユニット２００、等を備える。

例えば、モニタ３はタッチパネルである。すなわち、モニタ３が操作部（コントローラ）として機能する。本実施例では、モニタ３により、フレームＦの欠損領域、フレームＦに枠入れするレンズのレイアウトデータや加工条件、等を入力することができる。モニタ３から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部５０に出力される。なお、モニタ３はタッチパネル式でなくてもよく、モニタ３と操作部とを別に設ける構成であってもよい。この場合には、マウス、ジョイスティック、キーボード、携帯端末、等の少なくともいずれかを操作部として用いることができる。

例えば、モニタ３は、取得装置１に搭載されたモニタであってもよい。また、例えば、モニタ３は、取得装置１に接続されたモニタであってもよい。この場合には、パーソナルコンピュータのモニタを用いる構成としてもよい。なお、モニタ３は、複数のモニタを併用する構成であってもよい。

スイッチ部４は、取得装置１に各種の処理を実行させるための信号を入力する際に使用する。例えば、各種の処理とは、測定モードの切り換え、測定の開始、等である。なお、本実施例では、スイッチ部４が取得装置１の本体カバーに設けられている。もちろん、スイッチ部４は、モニタ３の画面上おいて電子的に表示されてもよい。この場合には、モニタ３の画面をタッチしてスイッチ部４を操作することができる。

取付部１０には、フレームＦから取り外したデモレンズＤＬ、または、型板ＭＰを測定する際に使用するホルダ１５が取り付けられる。なお、ホルダ１５についての詳細は、例えば、特開２０１３－０６８４３９号公報を参照されたい。

＜フレーム保持ユニット＞
図２及び図３は、フレーム保持ユニット１００を説明する図である。図２は、フレーム保持ユニット１００の上面図である。なお、図２のフレーム保持ユニット１００は、フレームを保持した状態である。図３は、フレーム保持ユニット１００の斜視図である。なお、図３のフレーム保持ユニット１００は、取付部１０にホルダ１５を装着した状態である。

フレーム保持ユニット１００は、開口窓２の内部に配置されている。フレーム保持ユニット１００は、フレームＦを所期する状態に保持する。例えば、フレーム保持ユニット１００は、保持部ベース１０１、第１スライダー１０２、第２スライダー１０３、開閉移動機構１１０、クランプ機構１５０、等を備える。

第１スライダー１０２及び第２スライダー１０３は、保持部ベース１０１上に載置されている。第１スライダー１０２は、フレームＦの右リムＦＲＲ及び左リムＦＲＬの上側に当接する第１面１０５をもつ。第２スライダー１０３は、フレームＦの右リムＦＲＲ及び左リムＦＲＬの下側に当接する第２面１０６をもつ。第１面１０５と、第２面１０６と、は互いに対向する。第１面１０５と第２面１０６は、開閉移動機構１１０によって、第１面１０５と第２面１０６との間隔が開閉される方向（間隔が広がる方向と狭まる方向）に移動する。また、第１面１０５と第２面１０６には、クランプ機構１５０が備えるクランプピンが突き出すように配置されている。

クランプピンは、リムの厚み方向（眼鏡装用時の前側及び後側）から、左右のリムをクランプ（保持）する。第１スライダー１０２には、クランプピンとして、一対のクランプピン２３０ａとクランプピン２３０ｂとが設けられている。クランプピン２３０ａ及びクランプピン２３０ｂは２箇所に配置され、右リムＦＲＲ及び左リムＦＲＬの上側をクランプする。第２スライダー１０３には、クランプピンとして、一対のクランプピン２３０ｃとクランプピン２３０ｄとが設けられている。クランプピン２３０ｃ及びクランプピン２３０ｄは２箇所に配置され、右リムＦＲＲ及び左リムＦＲＬの下側をクランプする。

開閉移動機構１１０は、２つのガイドレール１１１、プーリー１１２、プーリー１１３、ワイヤー１１４、バネ１１５、等を備える。ガイドレール１１１は、保持部ベース１０１の左右それぞれに配置され、Ｙ方向に延びている。ワイヤー１１４は、プーリー１１２とプーリー１１３とに掛け渡されている。ワイヤー１１４の左側には、第１スライダー１０２の右端部１０２Ｒが取り付けられる。ワイヤー１１４の右側には、第２スライダー１０３の右端部１０３Ｒが取り付けられる。バネ１１５は、第１スライダー１０２及び第２スライダー１０３の間隔を閉じる方向に常時付勢する。開閉移動機構１１０は、このような構成をもつことによって、Ｘ方向の中心線Ｎ１を中心に、第１スライダー１０２と第２スライダー１０３とを、その間隔が広がる方向と狭まる方向とに移動させる。第１スライダー１０２が移動すると、第２スライダー１０３も連動して移動する。

図４はクランプ機構１５０の概略構成図である。なお、図５は第１スライダー１０２の左側に配置されたクランプ機構１５０を示している。クランプ機構は、ベース板１５１、クランプピン２３０ａ、クランプピン２３０ｂ、第１アーム１５２、第２アーム１５３、圧縮バネ１５７、バネ１５６、ギヤ１５８、ギヤ１５９、ワイヤー１６０、プーリー１６１、駆動ユニット１７０、等を備える。

ベース板１５１は、第１スライダー１０２の内部に配置されている。第１アーム１５２は、回転軸１７５によって、ベース板１５１に対して回転可能に保持されている。第１アーム１５２には、回転軸１７５を中心としたギヤ１５８が形成されている。第２アーム１５３は、回転軸１７６によって、ベース板１５１に対して回転可能に保持されている。第２アーム１５３には、回転軸１７６を中心としたギヤ１５９が形成されている。ギヤ１５８とギヤ１５９とは互いに噛合する。第１アーム１５２の先端には、クランプピン２３０ａが取り付けられている。第２アーム１５３の先端には、クランプピン２３０ｂが取り付けられている。圧縮バネ１５７は、第１アーム１５２及び第２アーム１５３の間に設けられている。圧縮バネ１５７によって、クランプピン２３０ａとクランプピン２３０ｂとの間隔が、常に開く方向に付勢される。第１アーム１５２の後端には、バネ１５６の一端が取り付けられている。バネ１５６の他端には、ワイヤー１６０が固定されている。ワイヤー１６０は、ベース板１５１に回転可能に取り付けられたプーリー１６１を介して、駆動ユニット１７０に接続される。

例えば、駆動ユニット１７０は、シャフト１７１、モータ１７２、等を有する。シャフト１７１は、ワイヤー１６０を巻き取る。モータ１７２は、シャフト１７１を回転させる。例えば、モータ１７２を駆動させ、ワイヤー１６０を巻き取ると、第１アーム１５２は回転軸１７５を中心として反時計回りに回転する。このとき、ギヤ１５８とギヤ１５９とは噛合しているため、第２アーム１５３が回転軸１７６を中心として時計回りに回転する。これにより、クランプピン２３０ａ及びクランプピン２３０ｂが連動して閉じられ、左リムＦＲＬの上側がクランプされる。

なお、右リムＦＲＲの上側をクランプするためのクランプ機構（すなわち、第１スライダー１０２の右側に配置されたクランプ機構）は、図４に示すクランプ機構１５０を左右に反転させた構成であってもよい。また、右リムＦＲＲ及び左リムＦＲＬの下側をクランプするためのクランプ機構（すなわち、第２スライダー１０３の左側及び右側のそれぞれに配置されたクランプ機構）は、第１スライダー１０２に配置されたクランプ機構１５０を上下に反転させた構成であってもよい。

また、モータ１７２及びシャフト１７１は、４箇所に設けられたクランプ機構１５０にそれぞれ配置される構成であってもよいが、４箇所のクランプ機構１５０において共通で使用される構成であってもよい。本実施例では、いずれの場合も、４箇所のクランプピンが同時に開閉するように構成される。

＜測定ユニット＞
測定ユニット２００は、フレーム保持ユニット１００の下部に配置される。測定ユニット２００は、フレームＦにおけるリムの玉型形状（第１玉型形状）またはリムの形状（第１リム形状）を測定する。本実施例において、測定ユニット２００は、フレームＦのリムの溝に後述する測定子２８１を挿入し、測定子２８１の移動を検出することにより、リムの溝の第１玉型形状と第１リム形状を測定する。また、測定ユニット２００は、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの周縁の形状（外形形状）を測定する。本実施例において、測定ユニット２００は、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの周縁に後述する測定子軸２８２を接触させ、測定子軸２８２の移動を検出することにより、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの周縁の外形形状を測定する。つまり、測定ユニット２００は、リムの第１玉型形状及び第１リム形状を測定するための測定ユニットと、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの外形形状を測定するための測定ユニットと、を兼ねる。

図５は測定ユニット２００を説明する図である。図５（ａ）は移動ユニット２１０の概略構成図である。図５（ｂ）は測定子保持ユニット２５０の概略構成図である。例えば、測定ユニット２００は、ベース部２１１、移動ユニット２１０、測定子保持ユニット２５０、等を備える。ベース部２１１は、Ｘ方向及びＹ方向に伸展した方形状の枠であり、フレーム保持ユニット１００の下部に配置される。移動ユニット２１０は、測定子保持ユニット２５０を、フレームＦ、デモレンズＤＬ、または型板ＭＰ、に対して相対的に移動させる。測定子保持ユニット２５０は、測定子軸２８２、及び、測定子軸２８２に取り付けられた測定子２８１、を保持する。

移動ユニット２１０は、測定子保持ユニット２５０をＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動させる。例えば、移動ユニット２１０は、Ｙ移動ユニット２３０、Ｘ移動ユニット２４０、Ｚ移動ユニット２２０、モータ２３５、モータ２２５、モータ２４５、等を有する。Ｙ移動ユニット２３０は、測定子保持ユニット２５０をＹ方向に移動させる。Ｙ移動ユニット２３０は、モータ２３５の駆動により、Ｙ方向に延びる図示なきガイドレールに沿って、測定子保持ユニット２５０をＹ方向に移動させる。Ｘ移動ユニット２４０は、Ｙ移動ユニット２３０をＸ方向に移動させる。Ｘ移動ユニット２４０は、モータ２４５の駆動により、Ｘ方向に延びるガイドレール２４１に沿って、Ｙ移動ユニット２３０をＸ方向に移動させる。Ｚ移動ユニット２２０は、測定子保持ユニット２５０をＺ方向に移動させる。Ｚ移動ユニット２２０はＹ移動ユニット２３０に取り付けられ、モータ２２５の駆動により、Ｚ方向に延びるガイドレール２２１に沿って、測定子保持ユニット２５０をＺ方向に移動させる。

測定子保持ユニット２５０は、Ｚ方向に延びる回転軸Ｐ１の軸回りに測定子軸２８２を回転する回転ユニット２６０を有する。回転ユニット２６０は、測定子軸２８２が取り付けられた回転ベース２５１と、回転軸Ｐ１を中心として回転ベース２５１を回転させるモータ２６５と、を有する。回転ベース２５１は、測定子軸２８２を、測定子２８１の先端方向に移動可能（傾斜可能）に保持する。また、回転ベース２５１は、測定子軸２８２を、Ｚ方向に移動可能に保持する。測定子２８１の先端方向の位置、及び測定子軸２８２の中心位置は、検知器であるエンコーダ２８６により検知される。測定子２８１のＺ方向の位置、及び測定子軸２８２のＺ方向の位置は、検知器であるエンコーダ２８８により検知される。なお、測定子保持ユニット２５０は、測定子２８１の先端をリム（右リムＦＲＲと左リムＦＲＬ）の溝に押し当てる測定圧を付与するための図示なき測定圧付与機構を備える。

＜制御部＞
図６は、本実施例に係る取得装置１の制御系を示す図である。例えば、制御部５０には、モニタ３、スイッチ部４、不揮発性メモリ５５（以下、メモリ５５）、エンコーダ（エンコーダ２８６、及び２８８）と、各モータ（モータ１７２、２２５、２３５、２４５、及び２６５）、等が電気的に接続されている。メモリ５５は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体であってもよい。例えば、メモリ５５としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、着脱可能なＵＳＢメモリ、等を使用することができる。メモリ５５は、測定ユニット２００が測定したフレームＦにおけるリムの第１情報、測定ユニット２００が測定したデモレンズＤＬ（または型板ＭＰ）の第２情報、制御部５０が取得した加工制御データ、等を記憶してもよい。

例えば、制御部５０は、一般的なＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、等で実現される。例えば、ＣＰＵは、取得装置１における各部の駆動を制御する。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、ＣＰＵが実行する各種プログラムが記憶されている。なお、制御部５０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

＜制御動作＞
図７は、取得装置１の制御動作を示すフローチャートである。以下、取得装置１がフレームＦに枠入れするレンズを加工するための玉型形状及び周長を取得し、これらを利用して加工制御データを作成する制御動作を、フローチャートに沿って説明する。

図８は、フレームＦの一例である。図８（ａ）は、フレームＦの外観図である。図８（ｂ）は、フレームＦを測定している状態の模式図である。本実施例では、取得装置１が、図８に示すフレームＦに枠入れするレンズを加工するための玉型形状及び周長を取得する場合を例に挙げる。例えば、フレームＦのリムには溝が形成され、デモレンズＤＬにはヤゲンが形成され、リムの溝にデモレンズのヤゲンが嵌め込まれることで、フレームＦにレンズが枠入れされている。しかし、フレームＦはリムに隙間Ｇをもち、リムの隙間ＧにはデモレンズＤＬが接触しない。なお、このようなフレームＦを測定する際には、測定子２８１がリムの隙間Ｇで脱落する。

＜フレームデータとレンズデータの取得（Ｓ１）＞
まず、操作者は、モニタ３を操作して、予め、フレームＦのフレーム形状データ、フレームＦに枠入れするレンズのレンズ形状データ、レンズの加工条件、レンズのレイアウトデータ、等を入力する。例えば、フレーム形状データとしては、フレーム中心間距離、フレームのカーブ値、フレームの反り角、等が入力されてもよい。また、例えば、レンズ形状データとしては、デモレンズＤＬに対応したレンズの前屈折面及び後屈折面における位置の位置情報、デモレンズＤＬに対応した位置のコバ面の厚み、レンズの前屈折面におけるカーブ情報、等が入力されてもよい。また、例えば、レンズの加工条件としては、レンズの種類、レンズの材質、各種の加工の有無、等が入力されてもよい。また、例えば、本実施例では、レイアウトデータとして、デモレンズＤＬの後述する外形形状Ｓ２とレンズの光学中心との位置関係等が入力されてもよい。制御部５０は、これらのデータをメモリ５５に記憶させる。

＜第１玉型形状の取得（Ｓ２）＞
操作者は、フレームＦからリムの第１玉型形状を取得する。本実施例では、取得装置１が備える測定ユニット２００を用いて、フレームＦのリムを測定することで、リムの第１玉型形状が取得される。なお、取得装置１の測定ユニット２００を用いず、取得装置１とは別の装置にて測定したデータを受信することで、リムの第１玉型形状を取得することも可能である。

操作者は、スイッチ部４を操作して、測定モードを、リムの第１玉型形状を取得するためのフレームトレースモードに設定する。また、操作者は、第１スライダー１０２と第２スライダー１０３との間隔を広げ、リムの上側と下側をクランプピンでクランプすることで、フレーム保持ユニット１００にフレームＦを保持させる。なお、第１スライダー１０２の移動が制限された後述の状態（取付部１０にホルダ１５を取り付けた状態）よりも、第１スライダー１０２と第２スライダー１０３との間隔が狭い状態を検知することで、測定モードが自動的にフレームトレースモードに設定されてもよい。

続いて、操作者は、スイッチ部４を操作して、リムの第１玉型形状の測定を開始する。制御部５０は、測定開始の信号が入力されると、測定ユニット２００の駆動を制御して、右リムＦＲＲの第１玉型形状を測定する。制御部５０は、測定子２８１を初期位置から測定開始位置に移動させ、測定子２８１の先端を右リムＦＲＲの溝に挿入する。例えば、本実施例では、測定子２８１のＸＹ方向における初期位置が、右リムＦＲＲ側の位置ＳＲ（図２参照）に設定されている。位置ＳＲは、そのＸ方向の位置が、クランプピン２３０ａ及び２３０ｂの中央の位置であり、Ｙ方向の位置が、中心線Ｎ１の位置であってもよい。もちろん、初期位置は、任意の位置に設定可能であってもよい。

制御部５０は、初期位置ＳＲにて、測定子２８１の先端が右リムＦＲＲの下側のクランプピン２３０ａ及び２３０ｂを向くように、回転ユニット２６０を回転させる。また、制御部５０は、測定子２８１が右リムＦＲＲの溝に接触するように、測定子保持ユニット２５０をリム側に移動させる。例えば、このようにして、測定子２８１は初期位置ＳＲから測定開始位置へ移動され、測定子２８１の先端が右リムＦＲＲの溝に挿入される。

制御部５０は、測定子２８１の先端を右リムＦＲＲの溝に沿って移動させる。このとき、制御部５０は、モータ２６５を駆動することで、回転ベース２５１を回転角（動径角）毎に回転させるとともに、回転軸Ｐ１（図５（ｂ）参照）の軸回りに測定子軸２８２及び測定子２８１を回転させる。測定子２８１は、リムの溝の変化に追従して、Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動する。本実施例では、トレース時における測定子２８１のＸ方向及びＹ方向の位置が、エンコーダ２８６により検知され、トレース時における測定子２８１のＺ方向の位置が、エンコーダ２８８により検知される。

ここで、本実施例におけるフレームＦのリムには隙間Ｇが存在するため、測定子２８１が右リムＦＲＲの隙間Ｇに差し掛かると、測定子２８１が右リムＦＲＲから外れてしまう。例えば、制御部５０は、測定開始位置から所定の方向へと測定子２８１を回転させるが、測定子２８１が右リムＦＲＲから外れたことを検出した場合には、測定子２８１を測定開始位置へと戻し、測定開始位置から所定の方向とは逆の方向へと測定子２８１を回転させる。これによって、測定子２８１は、右リムＦＲＲの周方向に移動し、右リムＦＲＲの隙間Ｇを除く溝がトレースされる。

制御部５０は、回転ベース２５１の回転角（動径角）毎に、基準位置から右リムＦＲＲの溝までの動径長を得る。例えば、本実施例では、回転ベース２５１の回転角が０．３６度毎に設定されている。また、例えば、本実施例では、基準位置が回転軸Ｐ１の位置に設定されている。例えば、回転ベース２５１のある回転角（θｎ）における動径長（ｒｎ）は、測定子軸２８２の回旋角と、回旋中心から測定子２８１の先端までの距離（これは既知である）と、に基づいて演算される。また、制御部５０は、エンコーダ２８６及びエンコーダ２８８の検知信号に基づいて、回転ベース２５１の回転角毎に、Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向におけるリムの溝の位置を得る。回転ベース２５１を１回転させることで、右リムＦＲＲの溝の３次元データ（ｘｎ，ｙｎ，ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ）が取得される。なお、本実施例において、このような３次元データは、３次元の直交座標で表されている。３次元データは、Ｘ方向及びＹ方向の位置を回転角θｎ及び動径長ｒｎによって２次元の極座標で表すとともに、Ｚ方向の位置をＺ座標で表した（ｒｎ，ｚｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３、・・・、Ｎ）に適宜変換されてもよい。例えば、制御部５０は、上記のように取得したリムの隙間Ｇを除く３次元データを、第１玉型形状としてメモリ５５に記憶させる。なお、本実施例においては、このような３次元データが、第１リム形状としてメモリ５５に記憶されてもよい。

図９は、フレームＦにおけるリムの第１玉型形状の一例である。本実施例において、取得した第１玉型形状Ｆ１は３次元データであるが、後述する外形形状Ｆ２は２次元データである。このため、制御部５０は、第１玉型形状Ｆ１のＺ座標を省略することで、第１玉型形状Ｆ１と外形形状Ｆ２を同一次元にしてもよい。制御部５０は、第１玉型形状Ｆ１における回転角θｎ毎のＸＹ座標を繋ぎ合わせて２次元データとした第１玉型形状Ｆ２を取得し、メモリ５５に記憶させる。

例えば、操作者は、右リムＦＲＲの測定を終えると、同様に左リムＦＲＬの溝の３次元データを取得する。なお、左リムＦＲＬの溝における３次元データは、右リムＦＲＲの溝における３次元データを左右反転させることで取得するようにしてもよい。

＜第１玉型形状における欠損領域の特定（Ｓ３）＞
ここで、第１玉型形状Ｆ１及びＦ２にはリムの隙間Ｇに該当する部分のデータがなく、一部が欠損した状態でメモリ５５に記憶されている。制御部５０は、リムの第１玉型形状Ｆ１及びＦ２において、玉型形状が欠損した領域（欠損領域Ｒ１）を特定する。本実施例において、リムの第１玉型形状Ｆ１は、回転ベース２５１の回転角毎に、測定開始位置Ｐ０（例えば、回転ベース２５１の回転角０度の位置）から所定の方向へ、順にデータが取得されている。しかし、例えば、測定子２８１が測定開始位置Ｐ０からリムの溝に沿って時計回りに進み、測定子２８１がリムの溝から外れたある回転角θｎ１以降では、第１玉型形状Ｆ１が得られていない。また、例えば、測定子２８１が測定開始点Ｐ０からリムの溝に沿って反時計回りの方向へ進み、測定子２８１がリムの溝から外れたある回転角θｎ２以降では、第１玉型形状Ｆ１が得られていない。このため、例えば、制御部５０は、第１玉型形状Ｆ１における欠損領域Ｒ１を回転ベース２５１の回転角で表し、欠損領域Ｒ１を回転角θｎ１～θｎ２までの領域としてメモリ５５に記憶する。

＜外形形状の取得（Ｓ４）＞
次に、操作者は、デモレンズＤＬから外形形状を取得する。本実施例では、取得装置１が備える測定ユニット２００を用いて、フレームＦから外したデモレンズＤＬを測定することで、デモレンズＤＬの外形形状が取得される。なお、取得装置１の測定ユニット２００を用いず、取得装置１とは別の装置にて測定したデータを受信することで、デモレンズＤＬの外形形状を取得することも可能である。

操作者は、スイッチ部４を操作して、測定モードを、デモレンズＤＬの外形形状を取得するためのパターントレースモードに設定する。また、操作者は、右リムＦＲＲから外した右デモレンズをホルダ１５に取り付け、第１スライダー１０２と第２スライダー１０３との間隔を広げて、取付部１０にホルダ１５を取り付ける。このとき、第１スライダー１０２がホルダ１５に接触し、第１スライダー１０２の手前側（操作者側）への移動が制限される。なお、第１スライダー１０２の移動が制限された状態を検知することで、測定モードが自動的にパターントレースモードに設定されてもよい。

続いて、操作者は、スイッチ部４を操作して、デモレンズＤＬの外形形状の測定を開始する。制御部５０は、測定開始の信号が入力されると、測定ユニット２００の駆動を制御して、右デモレンズの外形形状を測定する。制御部５０は、測定子軸２８２を初期位置から測定開始位置に移動させ、測定子軸２８２のＺ方向における中央部２８５（図５（ｂ）に示す斜線部）を右デモレンズの周縁に接触させる。例えば、本実施例では、測定子軸２８２のＸ方向の位置が、クランプピン２３０ａ及び２３０ｂの中央の位置に設定されている。また、例えば、本実施例では、測定子軸２８２のＹ方向における初期位置が、デモレンズＤＬの取付中心軸Ｐ２（図３参照）の位置に設定されている。もちろん、初期位置は、任意の位置に設定可能であってもよい。

制御部５０は、このような初期位置にて、測定子軸２８２の中央部２８５が、ホルダ１５に取り付けられたデモレンズＤＬの高さに位置するように、測定子保持ユニット２５０を駆動する。また、制御部５０は、測定子軸２８２の中央部２８５が、デモレンズＤＬの周縁に接触するように、測定子保持ユニット２５０をデモレンズＤＬ側に移動させる。例えば、このようにして、測定子軸２８２は初期位置から測定開始位置へ移動され、測定子軸２８１の中央部２８５が右デモレンズの周縁に接触する。

制御部５０は、測定子軸２８２を右デモレンズの周縁に沿って移動させる。このとき、制御部５０は、モータ２６５を駆動することで、回転ベース２５１を回転角（動径角）毎に回転させるとともに、回転軸Ｐ１（図５（ｂ）参照）の軸回りに測定子軸２８２を回転させる。測定子軸２８２は、右デモレンズの周縁の変化に応じて、Ｘ方向及びＹ方向に移動する。本実施例では、トレース時における測定子軸２８２のＸ方向及びＹ方向の位置が、エンコーダ２８６により検知される。これによって、測定子軸２８２は、右デモレンズの周縁に沿って移動し、右デモレンズの周縁がトレースされる。

制御部５０は、回転ベース２５１の回転角（動径角）θｎ毎に、基準位置から右デモレンズの周縁までの動径長ｒｎを得る。例えば、本実施例では、基準位置が取付中心軸Ｐ２の位置に設定されている。また、制御部５０は、エンコーダ２８６の検知信号に基づいて、回転ベース２５１の回転角毎に、Ｘ方向及びＹ方向における右デモレンズの周縁の位置を得る。回転ベース２５１を１回転させることで、右デモレンズ（本実施例では、右デモレンズに形成されたヤゲンの頂点）の全周の２次元データ（ｘｎ，ｙｎ）（ｎ＝１，２，３、・・・、Ｎ）が取得される。本実施例では、このような２次元データが、２次元の直交座標（すなわち、ＸＹ座標）で表されている。

図１０は、デモレンズＤＬの周縁の外形形状Ｓ２の一例である。制御部５０は、回転角θｎ毎のＹＸ座標を繋ぎ合わせることで、外形形状Ｓ２を取得し、メモリ５５に記憶させる。例えば、操作者は、右デモレンズの測定を終えると、同様に左デモレンズの周縁の２次元データを取得する。なお、左デモレンズの周縁における２次元データは、右デモレンズの周縁における２次元データを左右反転させることで取得してもよい。

＜鋳型領域における対応領域の特定（Ｓ５）＞
デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２は、回転ベース２５１の回転角毎に、測定開始位置Ｐ０（回転角０度の位置）から所定の方向へ、順にデータが取得されている。本実施例では、フレームＦのリムに隙間Ｇがあるため、デモレンズＤＬをリムに枠入れした際、デモレンズＤＬの一部はリムに接触しない。外形形状Ｓ２には、このような、デモレンズＤＬがリムに接触しない領域（非接触領域Ｒ２ａ）の情報が含まれる。制御部５０は、外形形状Ｓ２において、非接触領域Ｒ２ａを特定する。

なお、本実施例において、リムの第１玉型形状Ｆ１から特定される欠損領域Ｒ１はリムの隙間Ｇに該当する領域であるため、リムの第１玉型形状Ｆ１における欠損領域Ｒ１と、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２における非接触領域Ｒ２ａとでは、回転ベース２５１の回転角が略同一になると考えることができる。このため、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２における非接触領域Ｒ２ａは、リムの第１玉型形状Ｆ１における欠損領域Ｒ１と同様の回転角θｎ１～θｎ２までの領域としてもよい。つまり、デモレンズＤＬの外形形状における非接触領域Ｒ２ａを、リムの第１玉型形状Ｆ１における欠損領域Ｒ１に対応する対応領域（以下、対応領域Ｒ２ａ）としてもよい。制御部５０は、このような対応領域Ｒ２ａをメモリ５５に記憶する。

＜欠損領域に対する対応領域の適用（Ｓ６）＞
制御部５０は、リムの第１玉型形状Ｆ２とデモレンズの外形形状Ｓ２をそれぞれ取得すると、第１玉型形状Ｆ２の少なくとも一部に、外形形状Ｓ２の少なくとも一部を適用する。本実施例では、第１玉型形状Ｆ２において玉型形状が欠損した欠損領域Ｒ１に、デモレンズにおいて欠損領域Ｒ１に対応する対応領域Ｒ２ａが適用される。

図１１は、リムの第１玉型形状Ｆ２とデモレンズＤＬの外形形状Ｓ２の関係を示す図である。図１１（ａ）は、第１玉型形状Ｆ２に外形形状Ｓ２を適用する適用処理を説明する図である。図１１（ｂ）は、第１玉型形状Ｆ２に外形形状Ｓ２を適用することで取得される第２玉型形状Ｋ１を示す図である。例えば、リムの第１玉型形状Ｆ２とデモレンズＤＬの外形形状Ｓ２は、必ずしも完全には一致しない。一例として、リムの溝底に対してデモレンズＤＬのヤゲン頂点が浅い場合、リムの第１玉型形状Ｆ２は、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２よりも一回り大きな形状となる。また、一例として、リムの溝の深さとデモレンズＤＬのヤゲンの長さとの関係が回転角θｎ毎に異なる場合、リムの溝の第１形状Ｓ１とデモレンズＤＬの外形形状Ｓ２は、互いに異なる形状となる。

このため、制御部５０は、リムの第１玉型形状Ｆ２とデモレンズＤＬの外形形状Ｓ２において、その一方の形状が他方の形状に略一致するように、少なくともいずれかの形状を補正してもよい。本実施例では、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２を補正し、外形形状Ｓ２をリムの第１玉型形状Ｆ２に略一致させる。より詳細には、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２を補正することで、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２における対応領域Ｒ２ａとは異なる領域（非対応領域Ｒ２ｂ）を、リムの第１玉型形状Ｆ２に略一致させる。

一例として、このような外形形状Ｓ２の補正は、外形形状Ｓ２と第１玉型形状Ｆ２とが略同一の形状であることを利用し、外形形状Ｓ２を拡大あるいは縮小する補正であってもよい。この場合、すべての回転角θｎにおいて一様の比率が適用されてもよいし、回転角θｎ毎に異なる比率を適用してもよい。また、一例として、このような外形形状Ｓ２の補正は、外形形状Ｓ２を第１玉型形状Ｆ２に重ね合わせるためのパラメータを作成し、パラメータに基づいて外形形状Ｓ２を変形させる補正であってもよい。これによって、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２は、その回転角θｎ毎のＸＹ座標が変化し、リムの第１玉型形状Ｆ２における回転角θｎ毎のＸＹ座標に略一致するようになる。

制御部５０は、補正されたデモレンズＤＬの外形形状Ｓ２から、対応領域Ｒ２ａの回転角θｎ１～θｎ２に対応するＸＹ座標を抽出し、リムの第１玉型形状Ｆ２における欠損領域Ｒ１の回転角θｎ１～θｎ２に適用させる。これによって、リムの第１玉型形状Ｆ２と、デモレンズＤＬにおける対応領域Ｒ２ａに該当する外形形状Ｓ２’と、を回転角θｎ１とθｎ２でそれぞれ繋ぎ合わせた、リムの第１玉型形状Ｆ２とは異なる形状である第２玉型形状Ｋ１が取得される。

続いて、制御部５０は、リムの第１リム形状（本実施例では、３次元データである第１玉型形状Ｆ１）の少なくとも一部に、デモレンズの外形形状Ｓ２の少なくとも一部を適用する。本実施例では、第１リム形状における欠損領域Ｒ１に、デモレンズにおける欠損領域Ｒ１に対応する対応領域Ｒ２ａが適用される。例えば、制御部５０は、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２を補正し、外形形状Ｓ２をリムの第１リム形状に略一致させる。より詳細には、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２を補正することで、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２における対応領域Ｒ２ａとは異なる領域（非対応領域Ｒ２ｂ）を、リムの第１リム形状に略一致させる。これによって、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２は、その回転角θｎ毎のＸＹ座標が変化し、リムの第１リム形状における回転角θｎ毎のＸＹ座標に略一致するようになる。

制御部５０は、補正されたデモレンズＤＬの外形形状Ｓ２’から、対応領域Ｒ２ａの回転角θｎ１～θｎ２に対応するＸＹ座標を抽出し、リムの第１リム形状における欠損領域Ｒ１の回転角θｎ１～θｎ２に適用させる。これによって、リムの第１リム形状と、デモレンズＤＬにおける対応領域Ｒ２ａに該当する外形形状Ｓ２’と、を回転角θｎ１とθｎ２でそれぞれ繋ぎ合わせた、リムの第１リム形状とは異なる形状である第２リム形状が取得される。

さらに、制御部５０は、第２リム形状に基づいて、リムの全体の周長Ｗａを取得する。本実施例において、制御部５０は、リムの第１リム形状（第１玉型形状Ｆ１）の３次元データから、各々の位置座標間の距離を算出して足し合わせることで、欠損領域Ｒ１（回転角θｎ１～θｎ２）を除く第１周長Ｗ１を取得する。また、制御部５０は、回転角θｎ１及びθｎ２のＺ座標と、外形形状Ｓ２’と、を利用して、回転角θｎ１～θｎ２までのＺ座標を予測することで、欠損領域Ｒ１の第２周長Ｗ２を取得する。なお、制御部５０は、回転角θｎ１及びθｎ２のＺ座標と外形形状Ｓ２’に加えて、予め取得したレンズのカーブ情報、フレームのカーブ情報、デモレンズのカーブ情報、等の少なくともいずれかを用いることで、回転角θｎ１～θｎ２までのＺ座標を予測し、欠損領域Ｒ１の第２周長Ｗ２を取得してもよい。制御部５０は、第１周長Ｗ１と第２周長Ｗ２を足し合わせることで、第２リム形状に基づくリムの全体の周長Ｗａを取得する。

＜レンズの玉型形状と周長の取得（Ｓ７）＞
本実施例においては、リムの第２玉型形状Ｋ１と、周長Ｗａと、をより最適な状態に補正することで、フレームＦのリムに枠入れするレンズを加工するための玉型形状と周長がそれぞれ取得される。例えば、制御部５０は、フレーム形状データ、レンズ形状データ、レイアウトデータ、等から、レンズに形成するヤゲンの頂点位置、ヤゲンのカーブ値、ヤゲンの傾斜角度、等を自動的に設定する。例えば、ヤゲンの頂点の位置は、レンズのコバ厚に基づいて、コバ厚が最も薄い部分の半分の位置を通るように設定されてもよい。また、例えば、ヤゲンのカーブは、レンズの前面カーブに沿ったカーブであってもよい。なお、設定されたヤゲンの頂点位置、ヤゲンのカーブ値、ヤゲンの傾斜角度、等は、操作者が手動で調整することもできる。これによって、リムの第２玉型形状Ｋ１における３次元データが取得される。さらに、この３次元データに基づき、回転角θｎ毎の位置座標間の距離からレンズの周長Ｗｂが取得される。

制御部５０は、第２リム形状に基づいて取得されたリムの全体の周長Ｗａと、リムの第２玉型形状Ｋ１を３次元データとすることで取得されたレンズの周長Ｗｂと、が異なる長さであった場合には、周長Ｗａと周長Ｗｂとが同一（略同一）の長さとなるように、第２玉型形状Ｋ１の大きさを調整してもよい。例えば、周長Ｗａ＜周長Ｗｂであった場合には、周長Ｗａ＝周長Ｗｂとなるように、第２玉型形状Ｋ１の大きさを全体的に縮小する。また、周長Ｗａ＞周長Ｗｂであった場合には、周長Ｗａ＝周長Ｗｂとなるように、第２玉型形状Ｋ１の大きさを全体的に拡大する。これによって、レンズを加工するための玉型形状と周長が取得される。

＜加工制御データの取得（Ｓ８）＞
制御部５０は、取得した玉型形状、レイアウトデータ、加工条件、等を用いて、フレームＦに枠入れするレンズを加工するための加工制御データを取得する。本実施例では、制御部５０によって、眼鏡レンズ周縁加工装置におけるチャック軸の回転、チャック軸の移動、等を制御する加工制御データが演算される。例えば、制御部５０は、このようにして加工制御データを取得し、レンズ周縁加工装置に送信してもよい。もちろん、取得した玉型形状、レンズのレイアウトデータ、レンズの加工条件、等がレンズ周縁加工装置に送信され、レンズ周縁加工装置の制御部にて加工制御データが演算されてもよい。例えば、レンズ周縁加工装置の制御部は、加工制御データに基づいたレンズの加工を実施する。これによって、操作者は、フレームＦへの枠入れ状態がよいレンズを取得することができる。

以上説明したように、例えば、本実施例における眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置は、眼鏡フレームのリムの第１玉型形状またはリムの第１リム形状を取得し、眼鏡フレームのデモレンズあるいは型板の形状である外形形状を取得し、第１玉型形状の少なくとも一部に外形形状の少なくとも一部を適用することで、第１玉型形状とは異なる第２玉型形状を取得する、または、第１リム形状の少なくとも一部に外形形状の少なくとも一部を適用することで、第１リム形状とは異なる第２リム形状を取得するとともに、第２リム形状に基づいて、第１リム形状が補正されたリムの全体の周長を取得する。例えば、従来、フレームのリムから情報を得られないとき等は、デモレンズ（または型板）から情報を得て、レンズを加工するための玉型形状と周長をしていたが、フレームへの加工済みレンズの枠入れ状態が好ましくないことがあった。しかし、本実施例の制御を行うことによって、操作者は、リムから情報が得られなかった場合であっても、リムの情報を考慮したレンズの玉型形状と周長を取得することができる。これらの玉型形状及び周長を用いて加工制御データを作成し、レンズの周縁を加工することによって、従来よりもフレームへのレンズの枠入れを適した状態に改善することができる。

また、例えば、本実施例における眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置は、フレームのリムの第１玉型形状または第１リム形状から所定の領域を特定し、デモレンズあるいは型板の外形形状から所定の領域に対応する対応領域を特定し、所定の領域の少なくとも一部に対応領域の少なくとも一部を適用する。リムの所定の領域及びデモレンズあるいは型板の対応領域をそれぞれ特定しておくことで、リムの所定の領域に対するデモレンズあるいは型板の対応領域の適用がスムーズに行われる。また、リムの所定の領域とデモレンズあるいは型板の対応領域をそれぞれ特定しておくことで、リムの所定の領域に対してデモレンズあるいは型板の対応領域が正確に適用され、より精度の良いレンズの玉型形状と周長を取得することができる。

また、例えば、本実施例における眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置において、リムの所定の領域は、リムの第１玉型形状または第１リム形状の一部が欠損した欠損領域であって、リムの欠損領域の少なくとも一部に、デモレンズあるいは型板の対応領域の少なくとも一部が適用される。これによって、リムの溝深さや反り等が影響して測定子が外れてしまうフレーム、リムに隙間があるフレーム（リムが部分的に欠損したフレーム）、等から得られた不完全なリムの情報であっても、デモレンズあるいは型板の情報を利用して、リムの情報を考慮したレンズの玉型形状と周長を取得することができる。

また、例えば、本実施例における眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置において、眼鏡フレームは、眼鏡レンズを枠入れした際に、リムの半分以上が眼鏡レンズに接触する眼鏡フレームである。例えば、リムに隙間があるフレーム（リムが部分的に欠損したフレーム）、リムにレンズの一部が嵌まらないフレーム（リムにレンズの一部が接触しないフレーム）、等に対しては、隙間から測定子が脱落する、リムの形状とレンズの形状が不一致となる、こと等から、フレームのリムの情報を得ることが難しく、デモレンズあるいは型板の情報がレンズの加工に利用されていた。しかし、このような場合には、フレームに対してレンズを上手く枠入れできないことがあった。一例としては、適切な玉型形状を得られないために、フレームに対してレンズを上手く枠入れできないことがあった。本実施例によっては、リムの欠損部分やレンズが接触しない部分の情報を取得し、リムの全体の情報（一例として、リムの反り、リムのカーブ、左右のレンズ間の距離、等）を考慮してレンズを加工できるため、これらのフレームに対する枠入れ状態が改善される。

また、例えば、本実施例における眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置は、リムの第２玉型形状とリムの全体の周長に基づく加工制御データを取得する。操作者は、これによって、従来よりも精度のよい加工制御データを取得することができ、さらに、この加工制御データをレンズの加工に用いることで、眼鏡フレームに対する眼鏡レンズの枠入れ状態が改善される。

＜変容例＞
なお、本実施例では、リムの第１玉型形状を取得するためのフレームトレースモードによる測定を実施した後に、デモレンズＤＬ（または型板ＭＰ）の周縁の外形形状を取得するためのパターントレースモードによる測定を実施する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。フレームトレースモードによる第１玉型形状の取得と、パターントレースモードによる外形形状の取得と、はどちらを先に実施してもよい。また、フレームトレースモードによる第１玉型形状の取得と、パターントレースモードによる外形形状の取得は、自動的に連続で実施されてもよい。

なお、本実施例では、測定ユニット２００を用いてリムとデモレンズを測定することで、リムの第１玉型形状とデモレンズの外形形状とをそれぞれ取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例における取得装置１は、リムの第１玉型形状を測定する第１測定ユニットと、デモレンズ（または型板）の外形形状を測定する第２測定ユニットを、それぞれ備える構成であってもよい。この場合、第１玉型形状の取得と外形形状の取得とを同時に行い、測定時間を短縮することができる。

なお、本実施例では、リムから測定子２８１が外れた回転角θｎを検出することによって、リムに欠損領域Ｒ１があるか否かの判定と、リムの欠損領域Ｒ１の特定と、が同時に行われる構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。もちろん、リムに欠損領域Ｒ１が存在するか否かの判定は、リムの欠損領域Ｒ１の特定とは別に行われてもよい。

例えば、リムの欠損領域Ｒ１の有無は、操作者がモニタ３あるいはスイッチ部４を操作することにより入力された入力信号に基づいて判定されてもよい。また、例えば、リムの欠損領域Ｒ１の有無は、リムから測定子２８１が外れたか否かを検出することで判定されてもよい。また、例えば、リムの欠損領域Ｒ１の有無は、フレームＦを撮影し、その撮影画像を画像処理で解析（例えば、エッジ検出等）することで判定されてもよい。なお、この場合は、デモレンズＤＬが枠入れされた状態のフレームＦを撮影しても、デモレンズＤＬが枠入れさていない状態のフレームＦを撮影してもよい。

例えば、制御部５０がフレームＦに欠損領域Ｒ１が存在しないと判定した場合、フレームＦのリムから加工するレンズの玉型形状及び周長が取得されてもよい。しかし、例えば、制御部５０がフレームＦに欠損領域Ｒ１が存在すると判定した場合、その判定結果に基づいて、本実施例のような、欠損領域Ｒ１に対応領域Ｒ２ａを適用する適用処理が実行されてもよい。これによって、必要に応じた適切な処理が実行されるので、フレームに合わせたレンズの最適な玉型形状及び周長を得ることができる。

なお、制御部５０がフレームＦに欠損領域Ｒ１が存在すると判定した場合、制御部５０は、判定結果に基づいて、操作者にデモレンズＤＬの測定を促すための誘導情報（例えば、モニタ３へのメッセージ表示、音声ガイドの発生、スイッチ部の点滅、等の少なくともいずれか）が出力される構成としてもよい。

また、制御部５０がフレームＦに欠損領域Ｒ１が存在すると判定した場合であっても、リムの欠損領域Ｒ１の大きさによっては、必ずしも第１玉型形状Ｆ２の欠損領域Ｒ１に外形形状Ｓ２の対応領域Ｒ２ａを適用しなくてもよい。例えば、第１玉型形状Ｆ２の欠損領域Ｒ１が所定の回転角θｎの範囲よりも狭い場合等には、第１玉型形状Ｆ２における所定の回転角θｎの範囲の前後の回転角の位置座標を利用した補間処理（例えば、直線補間、曲線補間、等）を行うようにしてもよい。一例として、制御部５０は、欠損領域Ｒ１よりも前の任意の回転角θｎに相当する点（例えば、１０個の点、等）の位置座標から二次関数を求めるとともに、欠損領域Ｒ１よりも後の任意の回転角θｎに相当する点（例えば、１０個の点、等）の位置座標から二次関数を求める。制御部５０は、それぞれの二次関数を近似した近似関数を求めることで、欠損領域Ｒ１を補間してもよい。

なお、本実施例では、リムから測定子２８１が外れた回転角θｎを検出することによって、リムの第１玉型形状Ｆ２から欠損領域Ｒ１を特定する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。操作者が予め欠損領域Ｒ１を指定することによって、リムの第１玉型形状Ｆ２から欠損領域Ｒ１を特定する構成としてもよい。例えば、この場合には、パターントレースモードによりデモレンズＤＬの外形形状Ｓ２が取得され、モニタ３に外形形状Ｓ２が表示されてもよい。操作者は、モニタ３またはスイッチ部４を操作して、外形形状Ｓ２上の任意の位置を指定する。例えば、デモレンズがリムと接触する始点と終点の２点を指定する。これによって、制御部５０が、リムの欠損領域Ｒ１の回転角θｎ１とθｎ２を取得してもよい。もちろん、リムの第１玉型形状Ｆ２における欠損領域Ｒ１は、フレームＦを撮影した撮影画像を画像処理で解析することで、その回転角θｎ１とθｎ２が特定されてもよい。

なお、本実施例では、リムの第１玉型形状Ｆ２にデモレンズの外形形状Ｓ２を略一致させることで、リムの欠損領域Ｒ１に対応領域Ｓ１を適用する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、デモレンズの外形形状Ｓ２をリムの第１形状Ｓ１に略一致させることで、リムの欠損領域Ｒ１に対応領域Ｓ１を適用する構成としてもよい。より詳細には、リムの第１玉型形状Ｆ２を補正することで、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２における対応領域Ｒ２ａとは異なる領域（非対応領域Ｒ２ｂ）に、リムの第１玉型形状Ｆ２を略一致させてもよい。制御部５０は、デモレンズＤＬの外形形状Ｓ２から対応領域Ｒ２ａの回転角θｎ１～θｎ２に対応するＸＹ座標を抽出し、これを補正されたリムの第１玉型形状における欠損領域Ｒ１の回転角θｎ１～θｎ２に適用させることで、リムの第２玉型形状Ｋ１を取得してもよい。

なお、本実施例では、必ずしもリムの第１玉型形状Ｆ２とデモレンズの外形形状Ｓ２を用いて、欠損領域Ｒ１に対応領域Ｒ２ａを適用しなくてもよい。例えば、デモレンズの外形形状Ｓ２における対応領域Ｒ２ａのみを用いて、欠損領域Ｒ１に対応領域Ｒ２ａを適用してもよい。この場合、デモレンズの外形形状Ｓ２において、対応領域Ｒ２ａに相当する回転角θｎにおける各点の位置座標を抽出し、抽出した位置座標の両端の点（すなわち、回転角θｎ１及びθｎ２の点）が、欠損領域Ｒ１の回転角θｎ１及びθｎ２に一致するように、対応領域Ｒ２ａの形状を拡大または縮小することで、リムの第２玉型形状Ｋ１を取得してもよい。

なお、本実施例では、リムに隙間Ｇをもつフレーム（リムが部分的に欠損したフレーム）に対して、上記の適用処理を行うことで、レンズの玉型形状及び周長を取得する場合を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、リムにレンズの一部が嵌まらないフレーム（リムにレンズの一部が接触しないフレーム）等に対して、上記の適用処理を行い、レンズの玉型形状及び周長を取得してもよい。すなわち、本実施例では、フレームにレンズを枠入れした際、少なくともフレームのリムの半分以上がレンズに接触するフレームに対して、上記の適用処理を行い、レンズの玉型形状及び周長を取得してもよい。また、本実施例では、フレームのリムの一部から第１玉型形状を上手く得られない場合等に、上記の適用処理を行い、レンズの玉型形状及び周長を取得してもよい。このようなデータを用いて加工制御データを作成し、レンズを加工することで、フレームにレンズを枠入れした際に生じるガタつき、歪、不安定さ、等を改善することができる。

なお、本実施例では、第１玉型形状及び外形形状に基づいてレンズの玉型形状を取得し、玉型形状に基づいて加工制御データを取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第１玉型形状及び外形形状に基づいて、加工制御データを直接取得するようにしてもよい。

なお、本実施例では、取得装置１にてレンズの玉型形状及び加工制御データが取得される場合を例に挙げて説明したがこれに限定されにない。もちろん、別装置（例えば、特開２０１６－１９０２８７号公報に記載の眼鏡レンズ加工装置、等）にて、玉型形状及び加工制御データが取得されてもよい。この場合には、第１玉型形状及び外形形状が別装置に転送される構成としてもよいし、第１玉型形状と外形形状に基づいて取得された第２玉型形状Ｋ１が別装置に転送される構成としてもよい。

１ 眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置
１００ フレーム保持ユニット
１５０ クランプ機構
２００ 測定ユニット
２１０ 移動ユニット
２５０ 測定子保持ユニット
２８１ 測定子
２８２ 測定子軸

Claims (5)

1. 眼鏡フレームに枠入れする眼鏡レンズを加工するための玉型形状または周長を取得する眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置であって、
   前記眼鏡フレームのリムの第１玉型形状、または、前記リムの第１リム形状を取得する第１情報取得手段と、
   前記眼鏡フレームのデモレンズあるいは型板の形状である外形形状を取得する第２情報取得手段と、
   前記第１玉型形状の少なくとも一部に前記外形形状の少なくとも一部を適用することで、前記第１玉型形状とは異なる第２玉型形状を取得する、または、前記第１リム形状の少なくとも一部に前記外形形状の少なくとも一部を適用することで、前記第１リム形状とは異なる第２リム形状を取得するとともに、前記第２リム形状に基づいて、前記第１リム形状が補正された前記リムの全体の周長を取得する処理手段と、
   を備えることを特徴とする眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置。
2. 請求項１の眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置において、
   前記処理手段は、前記第１情報取得手段が取得した前記第１玉型形状または前記第１リム形状から所定の領域を特定し、前記第２情報取得手段が取得した前記外形形状から、前記所定の領域に対応する対応領域を特定し、前記所定の領域の少なくとも一部に前記対応領域の少なくとも一部を適用することを特徴とする眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置。
3. 請求項２の眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置において、
   前記処理手段は、前記第１情報取得手段が取得した前記第１玉型形状または前記第１リム形状における前記所定の領域の有無を判定し、判定結果に基づいて、前記所定の領域の少なくとも一部に前記対応領域の少なくとも一部を適用する適用処理を実行することを特徴とする眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置。
4. 請求項２又は３の眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置において、
   前記所定の領域は、前記第１玉型形状または前記第１リム形状の一部が欠損した欠損領域であって、
   前記処理手段は、前記欠損領域の少なくとも一部に前記対応領域の少なくとも一部を適用することを特徴とする眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置。
5. 眼鏡フレームに枠入れする眼鏡レンズを加工するための玉型形状または周長を取得する眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置にて用いる眼鏡レンズ周縁加工情報取得プログラムであって、
   前記眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置のプロセッサに実行されることで、
   前記眼鏡フレームのリムの第１玉型形状、または、前記リムの第１リム形状を取得する第１情報取得ステップと、
   前記眼鏡フレームのデモレンズあるいは型板の形状である外形形状を取得する第２情報取得ステップと、
   前記第１玉型形状の少なくとも一部に前記外形形状の少なくとも一部を適用することで、前記第１玉型形状とは異なる第２玉型形状を取得する、または、前記第１リム形状の少なくとも一部に前記外形形状の少なくとも一部を適用することで、前記第１リム形状とは異なる第２リム形状を取得するとともに、前記第２リム形状に基づいて、前記第１リム形状が補正された前記リムの全体の周長を取得する処理ステップと、
   を前記眼鏡レンズ周縁加工情報取得装置に実行させることを特徴とする眼鏡レンズ周縁加工情報取得プログラム。

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