JP7243706B2 - 玉型形状取得装置 - Google Patents

Description

本開示は、眼鏡の玉型形状を取得する玉型形状取得装置に関する。

眼鏡フレームを保持するフレーム保持ユニットと、眼鏡フレームのリムの溝に押し当てた測定子の移動を検出して、リムの溝の形状（例えば、周長、外形形状、等）を測定する測定ユニットと、を備える眼鏡枠形状測定装置が知られている（例えば、特許文献１参照）。また、測定子が取り付けられた測定子軸をデモレンズまたは型板に接触させることで、デモレンズまたは型板の形状を測定することが可能な眼鏡枠形状測定装置が知られている（例えば、特許文献２参照）。

特開２０１４－０２１０６９号公報 特開２０１１－１２２８９８号公報

眼鏡フレームにはデモレンズが枠入れされており、リムの溝の外形形状は、眼鏡フレームからデモレンズを外した状態で測定される。眼鏡フレームにデモレンズが付いた状態と、眼鏡フレームからデモレンズを外した状態と、では、眼鏡フレームのリムの溝の外形形状が変形することがある。また、眼鏡フレームをフレーム保持ユニットに保持させると、眼鏡フレームが押圧されて、眼鏡フレームのリムの溝の外形形状が変形することがある。このような状態の眼鏡フレームに測定子を押し当てることで取得したリムの溝の外形形状と、リムの溝の周長と、に基づいて玉型形状を取得し、レンズを加工すると、眼鏡フレームにレンズを上手く枠入れできないことがあった。

また、眼鏡フレームから外したデモレンズ（もしくは型板）の形状を測定する際には、デモレンズの外形形状と、デモレンズの外形形状に基づいて演算された周長と、を用いて玉型形状が取得されていた。しかし、演算された周長は、眼鏡フレームのリムの溝の周長とは長さが異なっている場合がある。このような状態において玉型形状を取得し、レンズを加工すると、眼鏡フレームにレンズを上手く枠入れできないことがあった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、眼鏡フレームへのレンズの枠入れ状態をよくすることが可能な玉型形状取得装置を提供することを技術課題とする。

本開示に係る玉型形状取得装置は、眼鏡の玉型形状を取得する玉型形状取得装置であって、前記眼鏡のフレームにおけるリムの溝の形状情報である第１形状情報を取得する第１形状情報取得手段と、前記眼鏡のデモレンズまたは型板の周縁の形状情報である第２形状情報を取得する第２形状情報取得手段と、前記第１形状情報及び前記第２形状情報に基づいて、前記眼鏡に枠入れするレンズを加工するための加工制御データを取得する加工制御データ取得手段と、を備える。

玉型形状取得装置の外観略図である。 フレーム保持ユニットの上面図である。 フレーム保持ユニットの斜視図である。 クランプ機構の概略構成図である。 移動ユニットの概略構成図である。 測定子保持ユニットの概略構成図である。 玉型形状取得装置の制御系を示す図である。 制御動作を示すフローチャートである。

＜概要＞
典型的な実施形態の１つについて、図面を参照して説明する。図１～図７は、本実施形態に係る玉型形状取得装置を説明する図である。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用され得る。

＜形状情報取得手段＞
例えば、玉型形状取得装置は、第１形状情報取得手段（例えば、制御部５０）を備える。第１形状情報取得手段は、眼鏡のフレームにおけるリムの溝の形状情報である第１形状情報を取得する。例えば、第１形状情報は、リムの溝の３次元形状データであってもよい。また、例えば、第１形状情報は、リムの溝の２次元形状データであってもよい。例えば、リムの溝の形状情報は、リムの溝の周長、リムの溝の外形形状、等のデータであってもよい。なお、本実施例では、第１形状情報として、少なくともリムの溝の周長を含む３次元形状データが取得される。

例えば、玉型形状取得装置は、第２形状情報取得手段（例えば、制御部５０）を備える。第１形状情報取得手段は、眼鏡のデモレンズまたは型板の周縁の形状情報である第２形状情報を取得する。例えば、第２形状情報は、デモレンズまたは型板の２次元形状データであってもよい。また、例えば、第２形状情報は、デモレンズまたは型板の３次元形状データであってもよい。例えば、デモレンズまたは型板の形状情報は、デモレンズまたは型板の周長、デモレンズまたは型板の外形形状、等のデータであってもよい。なお、本実施例では、第２形状情報として、少なくともデモレンズまたは型板の外形形状を含む２次元形状データが取得される。

なお、本実施例において、第１形状情報取得手段は、蓄積されたデータから第１形状情報を取得するようにしてもよい。また、本実施例において、第２形状情報取得手段は、蓄積されたデータから第２形状情報を取得するようにしてもよい。すなわち、本実施例では、第１形状情報と、第２形状情報と、の少なくともいずれかが、蓄積されたデータから取得されてもよい。例えば、このような場合には、予め測定された第１形状情報や第２形状情報を蓄積しておき、第１形状情報取得手段あるいは第２形状情報取得手段が、該当するデータを呼び出して設定することで、第１形状情報や第２形状情報を取得することができる。

例えば、玉型形状取得装置は、第１形状情報の取得と、第２形状情報の取得と、を同時に行ってもよい。この場合には、玉型形状取得装置が、他の装置により取得された第１形状情報と第２形状情報とを同時に受信する構成としてもよい。また、この場合には、玉型形状取得装置が、リムの溝の形状情報を測定する第１測定手段と、デモレンズまたは型板の形状情報を測定する第２測定手段と、をそれぞれ備え、各形状情報を同時に測定する構成としてもよい。また、この場合には、玉型形状取得装置が、リムの溝の形状情報を測定する第１測定手段と、デモレンズまたは型板の形状情報を測定する第２測定手段と、を兼用して、各形状情報を同時に測定する構成であってもよい。すなわち、１つの測定手段を用いることで、第１形状情報と第２形状情報とを同時に測定する構成であってもよい。

なお、１つの測定手段を用いて各形状情報を同時に測定する構成の一例としては、測定子（例えば、測定子２８１）及び測定子軸（例えば、測定子軸２８２）を有する測定手段（例えば、測定ユニット２００）を用いて、測定子がリムの溝に接触するように、かつ、測定子軸がデモレンズ（または型板）の周縁に接触するように、測定手段を移動させてもよい。また、一例としては、測定子及び測定子軸を有する測定手段を用いて、測定子がリムの溝に接触するように、かつ、測定子軸がデモレンズ（または型板）の周縁に接触するように、フレーム及びデモレンズ（または型板）を移動させてもよい。

例えば、玉型形状取得装置がこのような構成であることによって、操作者は、リムの溝の形状情報、及び、デモレンズまたは型板の形状情報、を異なるタイミングで測定するよりも、測定時間を短縮することができる。また、測定が終了するまでの煩わしさを軽減させることができる。

例えば、玉型形状取得装置は、第１形状情報の取得と、第２形状情報の取得と、を異なるタイミングで行ってもよい。この場合には、玉型形状取得装置が、他の装置により取得された第１形状情報と第２形状情報とを異なるタイミングで受信する構成としてもよい。また、この場合には、玉型形状取得装置が、リムの溝の形状情報を測定する第１測定手段と、デモレンズまたは型板の形状情報を測定する第２測定手段と、をそれぞれ備え、各形状情報を異なるタイミングで測定する構成としてもよい。また、この場合には、玉型形状取得装置が、リムの溝の形状情報を測定する第１測定手段と、デモレンズまたは型板の形状情報を測定する第２測定手段と、を兼用して、各形状情報を異なるタイミングで測定する構成としてもよい。これによって、１つの測定手段を設けるのみで第１形状情報及び第２形状情報の取得が可能になり、玉型形状取得装置を簡易な構成にすることができる。

なお、玉型形状取得装置が第１測定手段または第２測定手段の少なくともいずれかを備える場合、測定手段は、第１形状情報及び第２形状情報を接触式の構成で測定する測定手段であってもよい。また、測定手段は、第１形状情報及び第２形状情報を非接触式の構成で測定する測定手段であってもよい。また、測定手段は、第１形状情報及び第２形状情報の一方を接触式の構成で、他方を非接触式の構成で測定する測定手段であってもよい。

例えば、接触式の構成で測定する測定手段は、リムの溝に測定子を接触させる構成、デモレンズまたは型板の周縁に測定子軸を接触させる構成、等であってもよい。例えば、測定子及び測定子軸の移動を検出することで、第１形状情報及び第２形状情報を測定することができる。

例えば、非接触式の構成で測定する測定手段は、測定光束を照射する投光光学系と、測定光束が反射された反射光束を受光する受光光学系と、を備えていてもよい。投光光学系は、リムの溝、デモレンズの周縁、型板の周縁、等の少なくともいずれかに測定光束を照射してもよい。また、受光光学系は、測定光束がリムの溝、デモレンズの周縁、型板の周縁、等の少なくともいずれかに反射された反射光束を受光してもよい。例えば、このような反射光束を解析処理することで、第１形状情報及び第２形状情報を測定することができる。

＜加工制御データ取得手段＞
例えば、玉型形状取得装置は、加工制御データ取得手段（例えば、制御部５０）を備える。加工制御データ取得手段は、第１形状情報及び第２形状情報に基づいて、眼鏡に枠入れするレンズを加工するための加工制御データを取得する。なお、加工制御データ取得手段は、玉型形状取得装置の制御部により演算されることで取得されてもよい。また、加工制御データ取得手段は、他の装置の制御部により演算された加工制御データを受信することで取得してもよい。

例えば、本実施例においては、加工制御データ取得手段が、第１形状情報からリムの溝の周長を取得し、第２形状情報からデモレンズまたは型板の外形形状を取得し、リムの溝の周長と、デモレンズまたは型板の外形形状と、に基づいて、加工制御データを取得してもよい。従来は、眼鏡のフレームにおけるリムの溝の形状情報である第１形状情報、あるいは、デモレンズまたは型板の周縁の形状情報である第２形状情報、のいずれか一方に基づく加工制御データが取得されていた。例えば、第１形状情報に基づく加工制御データは、リムの溝の周長と、リムの溝の外形形状と、に基づいて取得されていた。第１形状情報が接触式の構成により取得されていると、フレームを押圧するように保持した状態で測定がなされるため、リムの溝の外形形状は、実際のリムの溝の外形形状とは異なる場合がある。このような現象は、特にフルリムフレームの場合によく起こり得る。例えば、実際のリムの溝の外形形状とは異なる外形形状と、リムの溝の周長と、から加工制御データを取得し、これに基づく加工をレンズに施すと、レンズをフレームに上手く枠入れできないことがある。

また、例えば、第２形状情報に基づく加工制御データは、デモレンズ（もしくは型板）の外形形状と、この外形形状に基づいて演算された周長と、によって取得されていた。しかし、デモレンズの外形形状に基づいて演算された周長は、眼鏡フレームのリムの溝の周長とは長さが異なっている場合がある。このような周長と、デモレンズの外形形状と、から加工制御データを取得し、これに基づく加工をレンズに施すと、レンズをフレームに上手く枠入れできないことがある。

例えば、本実施例では、玉型形状取得装置が第１形状情報及び第２形状情報を取得する構成であることによって、これらに基づいた精度のよい加工制御データを取得できるようになる。また、この加工制御データを眼鏡レンズ加工装置等で用いることで、従来に比べて、フレームへのレンズの枠入れ状態をよくすることができる。

なお、例えば、加工制御データ取得手段は、第１形状情報及び第２形状情報に基づく加工制御データを直接取得してもよい。また、例えば、加工制御データ取得手段は、第１形状情報及び第２形状情報に基づく玉型形状データを取得し、この玉型形状データに対する加工制御データを取得してもよい。

また、例えば、加工制御データ取得手段は、第１形状情報と第２形状情報に加え、レンズのレイアウトデータに基づいて、加工制御データを取得してもよい。すなわち、加工制御データ取得手段は、第１形状情報、第２形状情報、及びレイアウトデータに基づいて、加工制御データを取得するようにしてもよい。もちろん、これらに加えて、レンズの加工条件、レンズのレンズ形状データ、等の少なくともいずれかが用いられてもよい。

＜実施例＞
以下、玉型形状取得装置について、図面を参照して説明する。本実施例では、玉型形状取得装置の左右方向（水平方向）をＸ方向、上下方向（鉛直方向）をＹ方向、前後方向をＺ方向として表す。

図１は玉型形状取得装置の外観略図である。例えば、玉型形状取得装置１は、開口窓２、モニタ（ディスプレイ）３、スイッチ部４、フレーム保持ユニット１００、測定ユニット２００、取付部３００、等を備える。

例えば、モニタ３はタッチパネルである。すなわち、モニタ３が操作部（コントローラ）として機能する。本実施例では、モニタ３により、レンズのレイアウトデータ、レンズの加工条件、等を入力することができる。モニタ３から入力された操作指示に応じた信号は、後述する制御部５０に出力される。なお、モニタ３はタッチパネル式でなくてもよく、モニタ３と操作部とを別に設ける構成であってもよい。この場合には、マウス、ジョイスティック、キーボード、携帯端末、等の少なくともいずれかを操作部として用いることができる。

例えば、モニタ３は、玉型形状取得装置１に搭載されたモニタであってもよい。また、例えば、モニタ３は、玉型形状取得装置１に接続されたモニタであってもよい。この場合には、パーソナルコンピュータのモニタを用いる構成としてもよい。なお、モニタ３は、複数のモニタを併用する構成であってもよい。

スイッチ部４は、玉型形状取得装置１に各種の処理を実行させるための信号を入力する際に使用する。例えば、各種の処理とは、測定モードの切り換え、測定の開始、等である。なお、本実施例では、スイッチ部４が玉型形状取得装置１の本体カバーに設けられている。もちろん、スイッチ部４は、モニタ３の画面上おいて電子的に表示されてもよい。この場合には、モニタ３の画面をタッチしてスイッチ部４を操作することができる。

フレーム保持ユニット１００は、フレームＦを所期する状態に保持する。フレーム保持ユニット１００は、開口窓２の内部に配置されている。取付部３００には、フレームＦから取り外したデモレンズＤＬ、または、型板ＭＰを測定する際に使用するホルダ３１０が取り付けられる。なお、ホルダ３１０についての詳細は、例えば、特開２０１３－０６８４３９号公報を参照されたい。

測定ユニット２００は、フレーム保持ユニット１００の下部に配置される。測定ユニット２００は、フレームＦにおけるリムの溝の形状情報（第１形状情報）を測定する。本実施例において、測定ユニット２００は、フレームＦのリム溝に後述する測定子２８１を挿入し、測定子２８１の移動を検出することにより、リムの溝の形状情報を測定する。また、測定ユニット２００は、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの周縁の形状情報（第２形状情報）を測定する。本実施例において、測定ユニット２００は、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの周縁に後述する測定子軸２８２を接触させ、測定子軸２８２の移動を検出することにより、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの周縁の形状情報を測定する。つまり、測定ユニット２００は、リムの溝の形状情報を測定するための測定ユニットと、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの周縁の形状情報を測定するための測定ユニットと、を兼ねる。

図２及び図３はフレーム保持ユニット１００を説明する図である。図２はフレーム保持ユニット１００の上面図である。なお、図２のフレーム保持ユニット１００は、フレームを保持した状態である。図３はフレーム保持ユニット１００の斜視図である。なお、図３のフレーム保持ユニット１００は、取付部３００にホルダ３１０を装着した状態である。

例えば、フレーム保持ユニット１００は、保持部ベース１０１、第１スライダー１０２、第２スライダー１０３、開閉移動機構１１０、クランプ機構１５０、等を備える。

第１スライダー１０２及び第２スライダー１０３は、保持部ベース１０１上に載置されている。第１スライダー１０２は、フレームＦの右リムＲＩＲ及び左リムＲＩＬの上側に当接する第１面１０５をもつ。第２スライダー１０３は、フレームＦの右リムＲＩＲ及び左リムＲＩＬの下側に当接する第２面１０６をもつ。第１面１０５と、第２面１０６と、は互いに対向する。第１面１０５と第２面１０６は、開閉移動機構１１０によって、第１面１０５と第２面１０６との間隔が開閉される方向（間隔が広がる方向と狭まる方向）に移動する。また、第１面１０５と第２面１０６には、クランプ機構１５０が備えるクランプピンが突き出すように配置されている。

クランプピンは、リムの厚み方向（眼鏡装用時の前側及び後側）から、左右のリムをクランプ（保持）する。第１スライダー１０２には、クランプピンとして、一対のクランプピン２３０ａとクランプピン２３０ｂとが設けられている。クランプピン２３０ａ及びクランプピン２３０ｂは２箇所に配置され、右リムＲＩＲ及び左リムＲＩＬの上側をクランプする。第２スライダー１０３には、クランプピンとして、一対のクランプピン２３０ｃとクランプピン２３０ｄとが設けられている。クランプピン２３０ｃ及びクランプピン２３０ｄは２箇所に配置され、右リムＲＩＲ及び左リムＲＩＬの下側をクランプする。

開閉移動機構１１０は、２つのガイドレール１１１、プーリー１１２、プーリー１１３、ワイヤー１１４、バネ１１５、等を備える。ガイドレール１１１は、保持部ベース１０１の左右それぞれに配置され、Ｙ方向に延びている。ワイヤー１１４は、プーリー１１２とプーリー１１３とに掛け渡されている。ワイヤー１１４の左側には、第１スライダー１０２の右端部１０２Ｒが取り付けられる。ワイヤー１１４の右側には、第２スライダー１０３の右端部１０３Ｒが取り付けられる。バネ１１５は、第１スライダー１０２及び第２スライダー１０３の間隔を閉じる方向に常時付勢する。開閉移動機構１１０は、このような構成をもつことによって、Ｘ方向の中心線Ｎ１を中心に、第１スライダー１０２と第２スライダー１０３とを、その間隔が広がる方向と狭まる方向とに移動させる。第１スライダー１０２が移動すると、第２スライダー１０３も連動して移動する。

図４はクランプ機構１５０の概略構成図である。なお、図４は第１スライダー１０２の左側に配置されたクランプ機構１５０を示している。クランプ機構は、ベース板１５１、クランプピン２３０ａ、クランプピン２３０ｂ、第１アーム１５２、第２アーム１５３、圧縮バネ１５７、バネ１５６、ギヤ１５８、ギヤ１５９、ワイヤー１６０、プーリー１６１、駆動ユニット１７０、等を備える。

ベース板１５１は、第１スライダー１０２の内部に配置されている。第１アーム１５２は、回転軸１７５によって、ベース板１５１に対して回転可能に保持されている。第１アーム１５２には、回転軸１７５を中心としたギヤ１５８が形成されている。第２アーム１５３は、回転軸１７６によって、ベース板１５１に対して回転可能に保持されている。第２アーム１５３には、回転軸１７６を中心としたギヤ１５９が形成されている。ギヤ１５８とギヤ１５９とは互いに噛合する。第１アーム１５２の先端には、クランプピン２３０ａが取り付けられている。第２アーム１５３の先端には、クランプピン２３０ｂが取り付けられている。圧縮バネ１５７は、第１アーム１５２及び第２アーム１５３の間に設けられている。圧縮バネ１５７によって、クランプピン２３０ａとクランプピン２３０ｂとの間隔が、常に開く方向に付勢される。第１アーム１５２の後端には、バネ１５６の一端が取り付けられている。バネ１５６の他端には、ワイヤー１６０が固定されている。ワイヤー１６０は、ベース板１５１に回転可能に取り付けられたプーリー１６１を介して、駆動ユニット１７０に接続される。

例えば、駆動ユニット１７０は、シャフト１７１、モータ１７２、等を有する。シャフト１７１は、ワイヤー１６０を巻き取る。モータ１７２は、シャフト１７１を回転させる。例えば、モータ１７２を駆動させ、ワイヤー１６０を巻き取ると、第１アーム１５２は回転軸１７５を中心として反時計回りに回転する。このとき、ギヤ１５８とギヤ１５９とは噛合しているため、第２アーム１５３が回転軸１７６を中心として時計回りに回転する。これにより、クランプピン２３０ａ及びクランプピン２３０ｂが連動して閉じられ、左リムＲＩＬの上側がクランプされる。

なお、右リムＲＩＲの上側をクランプするためのクランプ機構（すなわち、第１スライダー１０２の右側に配置されたクランプ機構）は、図４に示すクランプ機構１５０を左右に反転させた構成であってもよい。また、右リムＲＩＲ及び左リムＲＩＬの下側をクランプするためのクランプ機構（すなわち、第２スライダー１０３の左側及び右側のそれぞれに配置されたクランプ機構）は、第１スライダー１０２に配置されたクランプ機構１５０を上下に反転させた構成であってもよい。

また、モータ１７２及びシャフト１７１は、４箇所に設けられたクランプ機構１５０にそれぞれ配置される構成であってもよいが、４箇所のクランプ機構１５０において共通で使用される構成であってもよい。本実施例では、いずれの場合も、４箇所のクランプピンが同時に開閉するように構成される。

測定ユニット２００について説明する。図５Ａは移動ユニット２１０の概略構成図である。図５Ｂは測定子保持ユニット２５０の概略構成図である。例えば、測定ユニット２００は、ベース部２１１、移動ユニット２１０、測定子保持ユニット２５０、等を備える。ベース部２１１は、Ｘ方向及びＹ方向に伸展した方形状の枠であり、フレーム保持ユニット１００の下部に配置される。移動ユニット２１０は、測定子保持ユニット２５０を、フレームＦ、デモレンズＤＬ、または型板ＭＰ、に対して相対的に移動させる。測定子保持ユニット２５０は、測定子軸２８２、及び、測定子軸２８２に取り付けられた測定子２８１、を保持する。

移動ユニット２１０は、測定子保持ユニット２５０をＸ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動させる。例えば、移動ユニット２１０は、Ｙ移動ユニット２３０、Ｘ移動ユニット２４０、Ｚ移動ユニット２２０、モータ２３５、モータ２２５、モータ２４５、等を有する。Ｙ移動ユニット２３０は、測定子保持ユニット２５０をＹ方向に移動させる。Ｙ移動ユニット２３０は、モータ２３５の駆動により、Ｙ方向に延びる図示なきガイドレールに沿って、測定子保持ユニット２５０をＹ方向に移動させる。Ｘ移動ユニット２４０は、Ｙ移動ユニット２３０をＸ方向に移動させる。Ｘ移動ユニット２４０は、モータ２４５の駆動により、Ｘ方向に延びるガイドレール２４１に沿って、Ｙ移動ユニット２３０をＸ方向に移動させる。Ｚ移動ユニット２２０は、測定子保持ユニット２５０をＺ方向に移動させる。Ｚ移動ユニット２２０はＹ移動ユニット２３０に取り付けられ、モータ２２５の駆動により、Ｚ方向に延びるガイドレール２２１に沿って、測定子保持ユニット２５０をＺ方向に移動させる。

測定子保持ユニット２５０は、Ｚ方向に延びる回転軸Ｐ１の軸回りに測定子軸２８２を回転する回転ユニット２６０を有する。回転ユニット２６０は、測定子軸２８２が取り付けられた回転ベース２５１と、回転軸Ｐ１を中心として回転ベース２５１を回転させるモータ２６５と、を有する。回転ベース２５１は、測定子軸２８２を、測定子２８１の先端方向に移動可能（傾斜可能）に保持する。また、回転ベース２５１は、測定子軸２８２を、Ｚ方向に移動可能に保持する。測定子２８１の先端方向の位置、及び測定子軸２８２の中心位置は、検知器であるエンコーダ２８６により検知される。測定子２８１のＺ方向の位置、及び測定子軸２８２のＺ方向の位置は、検知器であるエンコーダ２８８により検知される。なお、測定子保持ユニット２５０は、測定子２８１の先端をリム（右リムＲＩＲと左リムＲＩＬ）の溝に押し当てる測定圧を付与するための図示なき測定圧付与機構を備える。

＜制御部＞
図６は、本実施例に係る玉型形状取得装置１の制御系を示す図である。例えば、制御部５０には、モニタ３、スイッチ部４、不揮発性メモリ５５（以下、メモリ５５）、エンコーダ（エンコーダ２８６、及び２８８）と、各モータ（モータ１７２、２２５、２３５、２４５、及び２６５）、等が電気的に接続されている。メモリ５５は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体であってもよい。例えば、メモリ５５としては、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、着脱可能なＵＳＢメモリ、等を使用することができる。メモリ５５は、測定ユニット２００が測定したフレームＦにおけるリムの溝の形状情報（第１形状情報）、測定ユニット２００が測定したデモレンズＤＬ（または型板ＭＰ）における周縁の形状情報（第２形状情報）、制御部５０が取得した加工制御データ、等を記憶してもよい。

例えば、制御部５０は、一般的なＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、等で実現される。例えば、ＣＰＵは、玉型形状取得装置１における各部の駆動を制御する。例えば、ＲＡＭは、各種の情報を一時的に記憶する。例えば、ＲＯＭには、ＣＰＵが実行する各種プログラムが記憶されている。なお、制御部５０は、複数の制御部（つまり、複数のプロセッサ）によって構成されてもよい。

＜制御動作＞
以下、玉型形状取得装置１を用いて加工制御データを取得する手順を、図７に示すフローチャートを用いて、玉型形状取得装置１の制御動作とともに説明する。

本実施例において、操作者は、スイッチ部４を操作することで、測定モードを設定する。例えば、リムの溝の形状情報である第１形状情報を取得するためのフレームトレースモードと、デモレンズＤＬ（または型板ＭＰ）の周縁の形状情報である第２形状情報を取得するためのパターントレースモードと、のいずれかが、操作者によって設定される。なお、フレームトレースモードによる第１形状情報の取得と、パターントレースモードによる第２形状情報の取得と、はどちらを先に実施してもよい。また、フレームトレースモードによる第１形状情報の取得と、パターントレースモードによる第２形状情報の取得と、は制御部５０によって自動的に連続で実施されてもよい。

＜第１形状情報の取得（Ｓ１）＞
まず、操作者は、眼鏡のフレームＦにおけるリムの溝の形状情報である第１形状情報を取得する。本実施例では、玉型形状取得装置１が備える測定ユニット２００を用いてフレームを測定することにより、第１形状情報が取得される。もちろん、玉型形状取得装置１は、別装置にて測定された第１形状情報を受信することによって、第１形状情報を取得する構成としてもよい。

操作者は、スイッチ部４を操作して、フレームトレースモードを設定する。また、操作者は、第１スライダー１０２と第２スライダー１０３との間隔を広げ、リムの上側と下側をクランプピンでクランプすることで、フレーム保持ユニット１００にフレームを保持させる。なお、第１スライダー１０２の移動が制限される後述の状態（取付部３００にホルダ３１０を取り付けた状態）よりも、第１スライダー１０２と第２スライダー１０３との間隔が狭い状態を検知することで、制御部５０が自動的に測定モードをフレームトレースモードに設定してもよい。

続いて、操作者は、スイッチ部４を操作して、第１形状情報の測定を開始する。制御部５０は、測定開始の信号が入力されると、測定ユニット２００の駆動を制御して、右リムＲＩＲの第１形状情報を測定する。制御部５０は、測定子２８１を初期位置から測定開始位置に移動させ、測定子２８１の先端を右リムＲＩＲの溝に挿入する。例えば、本実施例では、測定子２８１のＸＹ方向における初期位置が、右リムＲＩＲ側の位置ＳＲ（図２参照）に設定されている。位置ＳＲは、そのＸ方向の位置が、クランプピン２３０ａ及び２３０ｂの中央の位置であり、Ｙ方向の位置が、中心線Ｎ１の位置であってもよい。もちろん、初期位置は、任意の位置に設定可能であってもよい。

制御部５０は、初期位置ＳＲにて、測定子２８１の先端が右リムＲＩＲの下側のクランプピン２３０ａ及び２３０ｂを向くように、回転ユニット２６０を回転させる。また、制御部５０は、測定子２８１が右リムＲＩＲの溝に接触するように、測定子保持ユニット２５０をリム側に移動させる。例えば、このようにして、測定子２８１は初期位置ＳＲから測定開始位置へ移動され、測定子２８１の先端が右リムＲＩＲの溝に挿入される。

制御部５０は、測定子２８１の先端を右リムＲＩＲの溝に沿って移動させる。このとき、制御部５０は、モータ２６５を駆動することで、回転ベース２５１を回転させるとともに、回転軸Ｐ１（図５Ｂ参照）の軸回りに測定子軸２８２及び測定子２８１を回転させる。測定子２８１は、リムの溝の変化に追従して、Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向に移動する。本実施例では、トレース時における測定子２８１のＸ方向及びＹ方向の位置が、エンコーダ２８６により検知され、トレース時における測定子２８１のＺ方向の位置が、エンコーダ２８８により検知される。これによって、測定子２８１が右リムＲＩＲの溝の周方向に移動し、右リムＲＩＲの溝がトレースされる。

制御部５０は、回転ベース２５１の回転角（動径角）毎に、基準位置からの右リムＲＩＲの溝までの動径長を得る。例えば、本実施例では、回転ベース２５１の回転角が０．３６度毎に設定されている。また、例えば、本実施例では、基準位置が回転軸Ｚ１の位置に設定されている。例えば、回転ベース２５１のある回転角（θｎ）における動径長（ｒｎ）は、測定子軸２８２の回旋角と、回旋中心から測定子２８１の先端までの距離（これは既知である）と、に基づいて演算される。また、制御部５０は、エンコーダ２８６及びエンコーダ２８８の検知信号に基づいて、回転ベース２５１の回転角毎に、Ｘ方向、Ｙ方向、及びＺ方向におけるリムの溝の位置を得る。回転ベース２５１を１回転させることで、右リムＲＩＲの溝の全周の３次元形状データ（ｘｎ，ｙｎ，ｚｎ）（ｎ＝１、２、３、・・・、Ｎ）が取得される。なお、本実施例において、このような３次元形状データは、３次元の直交座標で表されている。３次元形状データは、Ｘ方向及びＹ方向の位置を回転角θｎ及び動径長ｒｎによって２次元の極座標で表すとともに、Ｚ方向の位置をＺ座標で表した（ｒｎ，ｚｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３、・・・、Ｎ）に適宜変換されてもよい。

例えば、操作者は、右リムＲＩＲの測定を終えると、上記と同様にして、左リムＲＩＬの溝の全周の３次元形状データを取得する。なお、左リムＲＩＬの溝における３次元形状データは、右リムＲＩＲの溝における３次元形状データを左右反転させることで取得するようにしてもよい。例えば、制御部５０は、取得したこれらの３次元形状データを、第１形状情報としてメモリ５５に記憶する。

＜第２形状情報の取得（Ｓ２）＞
次に、操作者は、デモレンズＤＬまたは型板ＭＰの周縁の形状情報である第２形状情報を取得する。本実施例では、玉型形状取得装置１が備える測定ユニット２００を用いてデモレンズＤＬを測定することにより、第２形状情報が取得される。もちろん、玉型形状取得装置１は、別装置にて測定された第２形状情報を受信することによって、第２形状情報を取得する構成としてもよい。

操作者は、スイッチ部４を操作して、パターントレースモードを設定する。また、操作者は、右リムＲＩＲから外したデモレンズ（右デモレンズ）ＤＬをホルダ３１０に取り付け、第１スライダー１０２と第２スライダー１０３との間隔を広げて、取付部３００にホルダ３１０を取り付ける。このとき、第１スライダー１０２がホルダ３１０に接触し、第１スライダー１０２の手前側（操作者側）への移動が制限される。なお、第１スライダー１０２の移動が制限された状態を検知することで、制御部５０が自動的に測定モードをパターントレースモードに設定してもよい。

続いて、操作者は、スイッチ部４を操作して、第２形状情報の測定を開始する。制御部５０は、測定開始の信号が入力されると、測定ユニット２００の駆動を制御して、右デモレンズの第２形状情報を測定する。制御部５０は、測定子軸２８２を初期位置から測定開始位置に移動させ、測定子軸２８２のＺ方向における中央部２８５（図５（Ｂ）に示す斜線部）を右デモレンズの周縁に接触させる。例えば、本実施例では、測定子軸２８２のＸ方向の位置が、クランプピン２３０ａ及び２３０ｂの中央の位置に設定されている。また、例えば、本実施例では、測定子軸２８２のＹ方向における初期位置が、デモレンズＤＬの取付中心軸Ｐ２（図３参照）の位置に設定されている。もちろん、初期位置は、任意の位置に設定可能であってもよい。

制御部５０は、このような初期位置にて、測定子軸２８２の中央部２８５が、ホルダ３１０に取り付けられたデモレンズＤＬの高さに位置するように、測定子保持ユニット２５０を駆動する。また、制御部５０は、測定子軸２８２の中央部２８５が、デモレンズＤＬの周縁に接触するように、測定子保持ユニット２５０をデモレンズＤＬ側に移動させる。例えば、このようにして、測定子軸２８２は初期位置から測定開始位置へ移動され、測定子軸２８１の中央部２８５が右デモレンズの周縁（言い換えると、右デモレンズに形成されたヤゲンの頂点）に接触する。

制御部５０は、測定子軸２８２を右デモレンズの周縁に沿って移動させる。このとき、制御部５０は、モータ２６５を駆動することで、回転ベース２５１を回転させるとともに、回転軸Ｐ１（図５Ｂ参照）の軸回りに測定子軸２８２を回転させる。測定子軸２８２は、デモレンズＤＬの周縁の変化に応じて、Ｘ方向及びＹ方向に移動する。本実施例では、トレース時における測定子軸２８２のＸ方向及びＹ方向の位置が、エンコーダ２８６により検知される。これによって、測定子軸２８２は、右デモレンズの周縁に沿って移動し、右デモレンズの周縁がトレースされる。

制御部５０は、回転ベース２５１の回転角毎に、基準位置から右デモレンズの周縁までの動径長を得る。例えば、本実施例では、基準位置が取付中心軸Ｐ２の位置に設定されている。また、制御部５０は、エンコーダ２８６の検知信号に基づいて、回転ベース２５１の回転角毎に、Ｘ方向及びＹ方向におけるデモレンズＤＬの周縁の位置を得る。回転ベース２５１を１回転させることで、右デモレンズの全周の２次元形状データ（ｘｎ，ｙｎ）（ｎ＝１，２，３、・・・、Ｎ）が取得される。すなわち、回転ベース２５１を１回転させることで、右デモレンズに形成されたヤゲンの頂点における２次元形状データを取得する。

例えば、操作者は、右デモレンズの測定を終えると、上記と同様にして、左デモレンズの周縁の全周の２次元形状データを取得する。なお、左デモレンズの周縁における２次元形状データは、右デモレンズの周縁における２次元形状データを左右反転させることで取得するようにしてもよい。例えば、制御部５０は、取得したこれらの２次元形状データを、第２形状情報としてメモリ５５に記憶する。

＜リムの溝の周長の取得（Ｓ３）＞
例えば、制御部５０は、第１形状情報からリムの溝の周長を取得する。例えば、制御部５０は、メモリ５５に記憶したリムの溝の３次元形状データを用いて、リムの溝の周長を求める。例えば、リムの溝の３次元形状データは、前述したように、回転ベース２５１の回転角毎にリムの溝の位置を３次元の直交座標（すなわち、ＸＹＺ座標）で表したデータである。例えば、制御部５０は、位置座標間の距離をそれぞれ算出し、これらの距離を足し合わせることによって、リムの溝の周長Ｗ１を求めることができる。

＜デモレンズの外形形状の取得（Ｓ４）＞
また、例えば、制御部５０は、第２形状情報からデモレンズＤＬの外形形状を取得する。例えば、制御部５０は、メモリ５５に記憶したデモレンズＤＬの周縁の２次元形状データを用いて、デモレンズＤＬの外形形状を取得する。例えば、デモレンズＤＬの周縁の２次元形状データは、前述したように、回転ベース２５１の回転角毎にデモレンズＤＬの周縁の位置を２次元の直交座標（すなわち、ＸＹ座標）で表したデータである。例えば、制御部５０は、各位置座標を繋ぎ合わせることによって、デモレンズＤＬの外形形状を取得することができる。

例えば、制御部５０は、第１形状情報から取得したリムの溝の周長と、第２形状情報から取得したデモレンズＤＬの外形形状と、に基づいて、眼鏡に枠入れするレンズを加工するための加工制御データを取得する。従来は、リムの溝の３次元形状データから、リムの溝の周長と、リムの溝の外形形状と、がそれぞれ取得され、これらに基づいた玉型形状データが取得されていた。しかし、前述のように、リムの溝の３次元形状データは、フレームＦが第１スライダー１０２及び第２スライダー１０３の間に保持された状態にて測定されており、フレームＦはスライダーに押圧されて変形している場合がある。このため、リムの溝の３次元形状データから取得したリムの溝の外形形状は、実際のリムの溝の外形形状とは異なる場合がある。このようなリムの溝の外形形状を用いた玉型形状データから加工制御データを取得し、レンズを加工すると、フレームＦにレンズを上手く枠入れできないことがある。

また、従来は、デモレンズＤＬの２次元形状データからデモレンズＤＬの外形形状が取得され、デモレンズＤＬの外形形状に基づく周長が演算されることで、玉型形状データが取得されていた。しかし、前述のように、演算された周長は、リムの溝の周長とは長さが異なっている場合がある。このような周長を用いた玉型形状データから加工制御データを取得し、レンズを加工すると、フレームＦにレンズを上手く枠入れできないことがある。

そこで、本実施例では、３次元形状データの測定時にほとんど変化しないリムの溝の周長と、２次元形状データの測定時にほとんど変形しないデモレンズＤＬの外形形状と、に基づいた玉型形状データを取得し、このような玉型形状データから加工制御データを取得する。以下、本実施例における玉型形状データ及び加工制御データの取得について詳細に説明する。

＜玉型形状データの取得（Ｓ５）＞
例えば、制御部５０は、玉型形状データの外形形状をモニタ３に表示する。このような外形形状として、本実施例では、デモレンズＤＬの外形形状がモニタ３に表示される。例えば、操作者は、モニタ３及びスイッチ部４を操作して、レンズの加工条件を入力する。また、例えば、操作者は、モニタ３及びスイッチ部４を操作して、レンズのレイアウトデータ、レンズのレンズ形状データ、等を入力する。

なお、本実施例では、レイアウトデータとして、デモレンズＤＬの外形形状に対するレイアウトデータ（例えば、デモレンズＤＬの外形形状と、レンズの光学中心と、の位置関係、等）が入力される。また、本実施例では、レンズ形状データとして、デモレンズＤＬの外形形状に基づいて測定されたレンズ形状データが入力される。例えば、このようなレンズ形状データの一例としては、デモレンズＤＬの外形形状に対応したレンズの前屈折面及び後屈折面における位置の位置情報、デモレンズＤＬの外形形状に対応した位置のコバ面の厚み、レンズの前屈折面におけるカーブ情報（傾斜情報）、等が挙げられる。例えば、操作者は、レンズ形状データを予め眼鏡レンズ加工装置等を用いて測定しておき、これを入力（あるいは受信）するようにしてもよい。もちろん、玉型形状取得装置１が、レンズ形状データを測定するための構成を備えていてもよい。

例えば、制御部５０は、レイアウトデータやレンズ形状データを取得すると、レンズに形成するヤゲンの頂点位置、ヤゲンのカーブ値、ヤゲンの傾斜角度、等を自動的に設定する。例えば、ヤゲンの頂点の位置は、レンズのコバ厚に基づいて、コバ厚が最も薄い部分の半分の位置を通るように設定されてもよい。例えば、ヤゲンのカーブは、レンズの前面カーブに沿ったカーブであってもよい。なお、設定されたヤゲンの頂点位置、ヤゲンのカーブ値、ヤゲンの傾斜角度、等は、操作者が手動で調整することもできる。

続いて、制御部５０は、玉型形状データに対する３次元形状データを取得し、これに基づいて、玉型形状データの周長を取得する。本実施例では、上述のように、デモレンズＤＬの外形形状に対して設定されたヤゲンの頂点のＺ方向の位置（Ｚｎ）と、メモリ５５に記憶されたデモレンズＤＬの外形形状における動径角毎の動径長（ｒｎ）と、に基づいて、制御部５０が玉型形状データに対する３次元形状データ（ｒｎ，Ｚｎ，θｎ）（ｎ＝１，２，３、・・・、Ｎ）を取得する。また、制御部５０は、動径角毎の位置座標間の距離を算出し、これらの距離を足し合わせて、玉型形状データの周長Ｗ２を取得する。

ここで、例えば、制御部５０は、メモリ５５に記憶されたリムの溝の周長Ｗ１と、玉型形状データの周長Ｗ２と、が異なる長さであった場合には、リムの溝の周長Ｗ１と玉型形状データの周長Ｗ２とが同一（略同一）の長さとなるように、玉型形状データの大きさを調整してもよい。例えば、周長Ｗ１＜周長Ｗ２であった場合には、周長Ｗ１＝周長Ｗ２となるように、玉型形状データの大きさを全体的に縮小する。また、周長Ｗ１＞周長Ｗ２であった場合には、周長Ｗ１＝周長Ｗ２となるように、玉型形状データの大きさを全体的に拡大する。

例えば、玉型形状データの大きさを補正するための補正量Δは、以下の数式にて求められてもよい。なお、本実施例における補正量Δは、眼鏡レンズ加工装置においてレンズを保持するチャック軸と、加工ユニット（例えば、砥石）の回転軸と、の軸間距離を補正するための補正量として算出される。

例えば、制御部５０は、このようにして、リムの溝の周長Ｗ１と、デモレンズＤＬの外形形状と、に基づいた玉型形状データ（すなわち、レンズを加工する際の形状データ）を取得することができる。

＜加工制御データの取得（Ｓ６）＞
例えば、制御部５０は、取得した補正量Δ、玉型形状データ、レンズのレイアウトデータ、レンズの加工条件、等を用いて、眼鏡に枠入れするレンズを加工するための加工制御データを取得する。本実施例では、制御部５０によって、眼鏡レンズ加工装置等におけるチャック軸の回転、チャック軸の移動、等を制御する加工制御データが演算される。例えば、制御部５０は、このようにして加工制御データを取得し、レンズ周縁加工装置に送信してもよい。もちろん、取得した補正量Δ、玉型形状データ、レンズのレイアウトデータ、レンズの加工条件、等が眼鏡レンズ加工装置に送信され、眼鏡レンズ加工装置の制御部にて加工制御データが演算されてもよい。例えば、レンズ周縁加工装置の制御部は、加工制御データに基づいたレンズの加工を実施する。これによって、操作者は、フレームＦへの枠入れ状態がよいレンズを取得することができる。

以上説明したように、例えば、本実施例における玉型形状取得装置は、眼鏡のフレームにおけるリムの溝の形状情報である第１形状情報を取得し、眼鏡のデモレンズまたは型板の周縁の形状情報である第２形状情報を取得する。また、第１形状情報及び第２形状情報に基づいて、眼鏡に枠入れするレンズを加工するための加工制御データを取得する。操作者は、第１形状情報と、第２形状情報と、の双方に基づく加工制御データを利用して、レンズの周縁を加工することができるようになる。このため、第１形状情報あるいは第２形状情報のいずれかに基づく加工制御データを利用してレンズの周縁を加工していた従来に比べて、フレームへの加工済みレンズの枠入れ状態をよくすることができる。

また、例えば、本実施例における玉型形状取得装置は、第１形状情報からリムの溝の周長を取得し、第２形状情報からデモレンズまたは型板の外形形状を取得する。また、リムの溝の周長と、デモレンズまたは型板の外形形状と、に基づいて、加工制御データを取得する。これによって、操作者は、従来よりも精度のよい加工制御データを取得できるようになる。

また、例えば、本実施例における玉型形状取得装置は、第１形状情報の取得と、第２形状情報の取得と、を異なるタイミングで行い、リムの溝の形状情報を測定する第１測定手段と、デモレンズまたは型板の形状情報を測定する第２測定手段と、を兼用する。このため、１つの測定手段を設けるのみでよく、玉型形状取得装置を簡易的な構成にすることができる。

＜変容例＞
なお、本実施例では、測定ユニット２００を用いてリムの溝とデモレンズの周縁を測定することによって、リムの溝の形状情報である第１形状情報と、デモレンズの周縁の形状情報である第２形状情報と、をそれぞれ取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例における玉型形状取得装置は、リムの溝の形状情報を測定する第１測定ユニットと、デモレンズまたは型板の形状情報を取得する第２測定ユニットと、をそれぞれ備える構成であってもよい。この場合、第１形状情報の取得と、第２形状情報の取得と、を同時に行うことができる。操作者は、測定時間を短縮することができ、また、測定の終了を待つ煩わしさを軽減させることができる。

また、本実施例では、第１形状情報と第２形状情報とをそれぞれ測定することで取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第１形状情報と第２形状情報とは、その少なくともいずれかが蓄積されたデータから取得されてもよい。この場合、玉型形状取得装置は、予め測定された第１形状情報または第２形状情報がメモリ５５に蓄積された構成であってもよいし、予め測定された第１形状情報または第２形状情報が保存されたクラウドやサーバーにアクセスする構成であってもよい。一例として、リムの溝の形状情報である第１形状情報は、測定ユニット２００を用いてリムの溝を測定することにより取得され、デモレンズ（または型板）の周縁の形状情報である第２形状情報は、上記のように蓄積されたデータから該当するデータを呼び出して設定することで取得されてもよい。

なお、本実施例では、測定ユニット２００を用いて第１形状情報及び第２形状情報を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、本実施例における玉型形状取得装置は、別装置にて測定された第１形状情報を受信することによって、第１形状情報を取得する構成であってもよい。また、別装置にて測定された第２形状情報を受信することによって、第２形状情報を取得する構成であってもよい。このような場合、玉型形状取得装置は、第１形状情報と第２形状情報とを同時に受信することで取得してもよいし、第１形状情報と第２形状情報とを異なるタイミングで受信することで取得してもよい。

なお、本実施例では、測定ユニット２００が、測定子２８１をリムの溝に接触させることで第１形状情報を取得し、測定子軸２８２をデモレンズの周縁に接触させることで第２形状情報を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、測定ユニット２００は、第１形状情報及び第２形状情報を非接触式で取得する構成であってもよい。この場合、玉型形状取得装置は、リムの溝及びデモレンズの周縁に測定光束を投光する投光光学系と、測定光束が反射された反射光束を受光する受光光学系と、を備えるようにしてもよい。なお、上述のように、第１測定ユニットと、第２測定ユニットと、をそれぞれ備える構成の場合には、このような非接触式の測定ユニットと、測定子２８１及び測定子軸２８２を用いた接触式の測定ユニットと、の少なくともいずれかが用いられてもよい。

なお、本実施例では、第１形状情報及び第２形状情報から玉型形状データを取得し、玉型形状データを用いて加工制御データを取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第１形状情報及び第２形状情報を用いて、加工制御データを直接取得するようにしてもよい。

なお、本実施例では、第１形状情報からリムの溝の周長を取得し、第２形状情報からデモレンズの周縁の外形形状を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、第１形状情報からリムの溝の外形形状を取得し、第２形状情報からデモレンズの周長を取得するようにしてもよい。また、リムの溝の外形形状と、デモレンズの周長と、に基づいた加工制御データを取得するようにしてもよい。しかし、フレームへの枠入れ感がより良いレンズを加工するためには、第１形状情報からリムの溝の周長を取得し、第２形状情報からデモレンズの周縁の外形形状を取得し、これらに基づく加工制御データを取得する構成であることが好ましい。

なお、本実施例では、玉型形状取得装置１にて玉型形状データ及び加工制御データが取得される場合を例に挙げて説明したがこれに限定されにない。もちろん、別装置（例えば、特開２０１６－１９０２８７号公報に記載の眼鏡レンズ加工装置、等）にて、玉型形状データ及び加工制御データが取得されてもよい。この場合には、第１形状情報及び第２形状情報が別装置に転送される構成としてもよいし、第１形状情報から取得したリムの溝の周長、及び、第２形状情報から取得したデモレンズの外形形状、が別装置に転送される構成としてもよい。

１ 玉型形状取得装置
１００ フレーム保持ユニット
１５０ クランプ機構
２００ 測定ユニット
２１０ 移動ユニット
２５０ 測定子保持ユニット
２８１ 測定子
２８２ 測定子軸

Claims (6)

1. 眼鏡の玉型形状を取得する玉型形状取得装置であって、
   前記眼鏡のフレームにおけるリムの溝の形状情報である第１形状情報を取得する第１形状情報取得手段と、
   前記眼鏡のデモレンズまたは型板の周縁の形状情報である第２形状情報を取得する第２形状情報取得手段と、
   前記第１形状情報及び前記第２形状情報に基づいて、前記眼鏡に枠入れするレンズを加工するための加工制御データを取得する加工制御データ取得手段と、
   を備えることを特徴とする玉型形状取得装置。
2. 請求項１の玉型形状取得装置において、
   前記加工制御データ取得手段は、前記第１形状情報から前記リムの溝の周長を取得し、前記第２形状情報から前記デモレンズまたは前記型板の外形形状を取得し、前記周長と前記外形形状とに基づいて、前記加工制御データを取得することを特徴とする玉型形状取得装置。
3. 請求項１または２の玉型形状取得装置において、
   前記第１形状情報の取得と、前記第２形状情報の取得と、を同時に行うことを特徴とする玉型形状取得装置。
4. 請求項３の玉型形状取得装置において、
   前記リムの溝の形状情報を測定する第１測定手段と、
   前記デモレンズまたは前記型板の形状情報を測定する第２測定手段と、
   をそれぞれ備えることを特徴とする玉型形状取得装置。
5. 請求項１または２の玉型形状取得装置において、
   前記第１形状情報の取得と、前記第２形状情報の取得と、を異なるタイミングで行うことを特徴とする玉型形状取得装置。
6. 請求項５の玉型形状取得装置において、
   前記リムの溝の形状情報を測定する第１測定手段と、
   前記デモレンズまたは前記型板の形状情報を測定する第２測定手段と、
   を備え、
   前記第１測定手段と前記第２測定手段とが兼用されることを特徴とする玉型形状取得装置。

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