JP6515542B2 - 眼鏡装用画像解析装置、眼鏡装用画像解析方法、及び眼鏡装用画像解析プログラム - Google Patents
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Description
(2) 本開示の第2態様に係る眼鏡装用画像解析方法は、眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析方法であって、
眼鏡フレームの形状、眼鏡フレームの材料、眼鏡フレームの色、及び眼鏡フレームのデザイン、の少なくともいずれかの情報である眼鏡フレームタイプ情報を取得する取得ステップと、前記フレームタイプ情報に基づいた制御動作を行う制御ステップであって、前記眼鏡フレームタイプ情報に基づいて、眼鏡を装用した被検者の画像から眼鏡フレームを検出するための解析処理方法を切り換えて設定し、設定した解析処理方法に基づいて、画像から眼鏡フレームを検出する制御を行い、眼鏡装用パラメータを取得する制御を行う制御ステップと、を備えることを特徴とする。
(3) 本開示の第3態様に係る眼鏡装用画像解析プログラムは、眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置において実行される眼鏡装用画像解析プログラムであって、前記眼鏡装用画像解析装置のプロセッサによって実行されることで、眼鏡フレームの形状、眼鏡フレームの材料、眼鏡フレームの色、及び眼鏡フレームのデザイン、の少なくともいずれかの情報である眼鏡フレームタイプ情報を取得する取得ステップと、前記フレームタイプ情報に基づいた制御動作を行う制御ステップであって、前記眼鏡フレームタイプ情報に基づいて、眼鏡を装用した被検者の画像から眼鏡フレームを検出するための解析処理方法を切り換えて設定し、設定した解析処理方法に基づいて、画像から眼鏡フレームを検出する制御を行い、眼鏡装用パラメータを取得する制御を行う制御ステップと、を前記眼鏡装用画像解析装置に実行させることを特徴とする。
本発明の実施形態に係る眼鏡装用画像解析装置1の概要について説明する。本実施形態に関わる眼鏡装用画像解析装置1は、照明光学系110、測定光学系(例えば、遠用測定光学系200、近用測定光学系300等)、光路切換ユニット400と、制御部70と、を主に備える。
図1は、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1の外観の概略構成図である。図2は、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1に収納される光学系の概略構成図である。以下、図1及び図2を参照して、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1の構成について説明する。図1に示されるように、眼鏡装用画像解析装置の装置本体3の内部には、後述する種々の測定光学系、駆動系、制御系等が備わる。装置本体3の被検者側には呈示窓6が備わる。呈示窓6は、被検者に固視標を呈示する際に、固視光束を通過させる窓である。同じく装置本体3の被検者側には顔支持ユニット5が備わる。顔支持ユニット5は、被検者の顔を支持するためのユニットである。装置本体3の検者側には操作ユニット(操作部)10が備わる。
操作ユニット10は、入力された操作指示に応じた信号を後述する制御部70に出力する。本実施例における操作ユニット10は、タッチパネル式の表示部15が用いられる。すなわち、本実施例においては、操作ユニットと表示部が兼用される。もちろん、操作ユニットと表示部が別に設けられた構成であってもよい。例えば、操作ユニット10には、マウス、ジョイスティック、キーボード等の操作手段の少なくともいずれかを用いる構成が挙げられる。例えば、表示部15は、眼鏡装用パラメータ測定装置1の本体に搭載されたディスプレイであってもよいし、本体に接続されたディスプレイであってもよい。もちろん、タッチパネル式でなくともよい。例えば、パーソナルコンピュータ(以下、「PC」という。)のディスプレイを用いてもよい。また、例えば、複数のディスプレイが併用されてもよい。表示部15には、撮影された遠方視及び近方視状態の正面画像又は側方画像を含む各種画像が表示されてもよい。
顔支持ユニット5は、被検者の額を支持する。そして、顔支持ユニット5は、後述する測定光学系(例えば、遠用測定光学系200,近用測定光学系300,反射ミラー410等)と被検者との距離を一定にする。また、顔支持ユニット5は、被検者の左右方向に回転可能であり、被検者の顔の向きを調整することができる。これによって、被検者の顔の向きが左右方向のいずれかにずれている場合、被検者の顔が正面を向くように、顔支持ユニット5を回転させることができる。
次に、図2を参照して、本実施例に係る眼鏡装用画像解析装置1に収納される光学系について説明する。本実施例の眼鏡装用画像解析装置1は、照明光学系110、遠用測定光学系200、近用測定光学系300、光路切換ユニット400と、側方撮影光学系500、を主に備える。
照明光学系110は、4つの光源110R,110L,111R,111L(図2では、110L、111Lを省略)を主に備える。照明光学系110は、光源110R,110L,111R,111Lによって、四方向から被検者の顔を照明する。もちろん、照明光学系100は上記の構成に限らない。光源の数はいくつでもよく、配置も任意でよい。照明光学系110は、光源によって被検者の顔を照明することができればよい。例えば、照明光学系110は、顔支持ユニット5の下部、呈示窓6の上部に設けられてもよい。
図2に基づいて、遠用測定光学系(以下、第1測定光学系とも言う)200について説明する。遠用測定光学系200は、眼鏡フレームに対する遠方視状態における被検眼Eの眼位置を測定するための光学系である。遠用測定光学系200は、第1の固視標投影光学系200aと第1の撮像光学系200bに分けられる。なお、遠用測定光学系200の測定光軸を光軸L1とする。
近用測定光学系(以下、第2測定光学系とも言う)300は、近方視状態における被検眼Eの眼位置を測定するための光学系である。近用測定光学系300は、第2の固視標投影光学系300aと第2の撮像光学系300bに分けられる。
近用測定光学系300は、光学系移動ユニット350を備える。光学系移動ユニット350は、近用測定光学系300を移動可能に保持する。光学系移動ユニット350は、近用測定のときに、後述する反射ミラー410の角度の変更にともなって、近用測定光学系300の全体を移動させることができる。
図2に戻って、光路切換ユニット400について説明する。光路切換ユニットは、遠用測定用光学系200と、近用測定用光学系300の光路を切り換える。また、光路切り換えユニット400は、近用測定時における被検者の視線方向を変化させる。
図3は、側方撮影光学系500の概略構成図を示している。側方撮影光学系500は、被検者を側方から撮影することによって被検者の側方画像を取得する。図3に示されるように、側方撮影光学系500は、被検者の顔が支持される位置の左右方向に固定されている。
図4は本実施例の制御系を示すブロック図である。制御部70は、CPU(プロセッサ)、RAM、ROM等を備える。制御部70のCPUは、眼鏡装用画像解析装置1の制御を司る。RAMは、各種情報を一時的に記憶する。制御部70のROMには、眼鏡装用画像解析装置1の動作を制御するための各種プログラム、初期値等が記憶されている。
以下、本実施例における制御動作について、図5を参照して、説明する。図5は、本実施例における制御動作の流れについて説明するフローチャートである。なお、本実施例においては、遠方視状態の被検者の画像を例に挙げて制御動作について説明する。もちろん、本発明は、近方視状態の被検者についても同様の制御が行われてもよい。
検者は操作ユニット10を操作し、遠用撮影モードに設定する。遠用撮影モードでは、遠方視状態の被検者の画像を撮影するために、各種光学系の制御が制御部70によって行われる。
検者は、被検者を顔支持ユニット5に位置させる。検者は、眼鏡装用画像解析装置1に対して被検者の顔が所定位置に配置されるように顔支持ユニット5の調整を行う。すなわち、検者は、アライメント調整を行う(S2)。
ここで、検者は、眼鏡フレームタイプの設定を行う(S3)。例えば、制御部70は、設定された眼鏡フレームタイプに基づいて、眼鏡装用パラメータを取得する制御を行う(詳細は後述する)。
被検者の顔の位置調整及び眼鏡フレームタイプ設定が完了すると、検者は、表示部15に表示された図示無き撮影ボタンをタッチする。撮影ボタンがタッチされると、制御部70は、遠方視状態の被検者の画像(正面画像及び側方画像)を撮影する(S4)。以上のようにして、遠方視状態の画像が取得される。
画像が取得されると、制御部70は、取得した画像の解析処理を行う(S5)。本実施例において、制御部70は、設定された眼鏡フレームタイプに基づいて、眼鏡装用パラメータを取得する制御を行う。例えば、本実施例において、制御部70は、設定された眼鏡フレームタイプに基づいて、眼鏡を装用した被検者の画像を解析処理するための解析処理方法を選択し、選択した解析処理方法に基づいて、画像を解析する。
なお、本実施例においては、眼鏡装用パラメータを取得する際に、眼鏡フレームタイプ情報を用いることができる構成を例に挙げて説明をしたがこれに限定されない。眼鏡フレームタイプに基づいて、制御動作を行う構成であればよい。例えば、眼鏡フレームタイプ情報が装置の各部材を制御する際に用いられる構成や、眼鏡装用パラメータを取得する際に眼鏡フレームタイプ情報が用いられる構成等が挙げられる。このような構成とすることによって、眼鏡フレームタイプに対応した制御動作を行うことができ、眼鏡フレームを装用した状態の被検者を好適に撮影及び測定することができる(詳細は後述する)。
5 顔支持ユニット
10 操作ユニット
15 表示部
70 制御部
72 メモリ
200 遠用測定光学系
300 近用測定光学系
400 光路切換ユニット
500 側方撮影光学系
Claims (4)
- 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置であって、
眼鏡フレームの形状、眼鏡フレームの材料、眼鏡フレームの色、及び眼鏡フレームのデザイン、の少なくともいずれかの情報である眼鏡フレームタイプ情報を取得する取得手段と、
前記眼鏡フレームタイプ情報に基づいた制御動作を行う制御手段と、
を備え、
前記制御手段は、前記眼鏡フレームタイプ情報に基づいて、眼鏡を装用した被検者の画像から眼鏡フレームを検出するための解析処理方法を切り換えて設定し、設定した解析処理方法に基づいて、画像から眼鏡フレームを検出する制御を行い、眼鏡装用パラメータを取得することを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。 - 請求項1の眼鏡装用画像解析装置において、
前記取得手段は、前記眼鏡フレームタイプ情報として、前記眼鏡フレームの形状の情報を取得し、
前記制御手段は、前記眼鏡フレームの形状の情報に基づいて、前記眼鏡フレームタイプがフルリムである場合に第1解析処理方法を設定し、前記眼鏡フレームタイプがフルリムでない場合に、前記第1解析処理方法とは眼鏡フレームを検出するための解析方法が異なる第2解析処理方法を設定し、設定した解析処理方法に基づいて、画像から眼鏡フレームを検出する解析処理を行い、眼鏡装用パラメータを取得することを特徴とする眼鏡装用画像解析装置。 - 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析方法であって、
眼鏡フレームの形状、眼鏡フレームの材料、眼鏡フレームの色、及び眼鏡フレームのデザイン、の少なくともいずれかの情報である眼鏡フレームタイプ情報を取得する取得ステップと、
前記フレームタイプ情報に基づいた制御動作を行う制御ステップであって、前記眼鏡フレームタイプ情報に基づいて、眼鏡を装用した被検者の画像から眼鏡フレームを検出するための解析処理方法を切り換えて設定し、設定した解析処理方法に基づいて、画像から眼鏡フレームを検出する制御を行い、眼鏡装用パラメータを取得する制御を行う制御ステップと、
を備えることを特徴とする眼鏡装用画像解析方法。 - 眼鏡を装用した被検者の画像を解析し、被検者の眼鏡装用パラメータを測定するための眼鏡装用画像解析装置において実行される眼鏡装用画像解析プログラムであって、
前記眼鏡装用画像解析装置のプロセッサによって実行されることで、
眼鏡フレームの形状、眼鏡フレームの材料、眼鏡フレームの色、及び眼鏡フレームのデザイン、の少なくともいずれかの情報である眼鏡フレームタイプ情報を取得する取得ステップと、
前記フレームタイプ情報に基づいた制御動作を行う制御ステップであって、前記眼鏡フレームタイプ情報に基づいて、眼鏡を装用した被検者の画像から眼鏡フレームを検出するための解析処理方法を切り換えて設定し、設定した解析処理方法に基づいて、画像から眼鏡フレームを検出する制御を行い、眼鏡装用パラメータを取得する制御を行う制御ステップと、
を前記眼鏡装用画像解析装置に実行させることを特徴とする眼鏡装用画像解析プログラム。
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