JP2019526882A - 書き込み動作時、状態切替認識が可能な磁気抵抗メモリ装置及びそのための読み出し及び書き込み動作方法 - Google Patents

書き込み動作時、状態切替認識が可能な磁気抵抗メモリ装置及びそのための読み出し及び書き込み動作方法 Download PDF

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Abstract

低費用及び小面積であり、かつ、スイッチング雑音を除去できる送信機及びそのためのデータ送信方法が開示される。前記送信機は、2レベル(1及び0)の入力データを3レベル(+1、0、−1)のデータに変換するエンコーダ及び前記エンコーダにより変換されたデータを出力する出力部を備える。ここで、前記エンコーダは、前記入力データに1ビットを追加してロジック1に該当するビット数を偶数に合わせる。また、前記ロジック1に該当する「+1」及び「−1」が交互に配列され、前記入力データと関係なく、パワーラインまたはグラウンドラインを介して流れる電流が一定になるようにレベル「+1」、「0」、及び「−1」のうち、少なくとも2個のレベルに該当する電流または電圧間に特定相関関係が設定される。【選択図】図2

Description

本発明は、書き込み動作時、状態切替認識が可能な磁気抵抗メモリ装置及びそのための読み出し及び書き込み動作方法に関する。
磁気抵抗メモリ装置、例えば、スピン伝達トルク磁気抵抗ランダムアクセスメモリ(Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory、STT−MRAM)において読み出し動作のための読み出し回路及び書き込み動作のための書き込み回路が別に存在することができ、前記読み出し回路と前記書き込み回路とが1つの回路で実現されることもできる。
ただし、読み出し回路と書き込み回路とが1つの回路で実現される場合、書き込み動作時、状態切替認識が不可能であった。結果として、書き込み動作時、不要な電力が浪費された。
本発明は、読み出し回路と書き込み回路とを1つの回路で実現しつつ、書き込み動作時、状態切替認識が可能な磁気抵抗メモリ装置及びそのための読み出し及び書き込み動作方法を提供するものである。
上記したような目的を達成するために、本発明の一実施形態に係る磁気抵抗メモリ装置は、少なくとも1つのデータセルと、1つ以上の基準セルと、前記データセルの読み出し動作及び書き込み動作を駆動させる読み出し/書き込み駆動回路と、前記書き込み動作時に選択されたデータセルの状態切替を認識する状態切替認識部とを備える。ここで、前記選択されたデータセルの状態切替がなされると、前記書き込み動作が自動に終了し、前記読み出し/書き込み駆動回路は、前記読み出し動作及び前記書き込み動作の両方を制御する。
本発明の一実施形態に係る読み出し動作及び書き込み動作を駆動させる読み出し/書き込み駆動回路を備える磁気抵抗メモリ装置の状態切替認識部は、前記読み出し/書き込み駆動回路に連結された比較器と、前記比較器の出力を利用して状態切替認識信号を出力する状態切替認識回路とを備える。ここで、前記比較器は、選択されたデータセルに書き込まれるデータと前記読み出し/書き込み駆動回路の駆動による前記選択されたデータセルの現在状態とを比較して比較信号を出力し、前記状態切替認識回路は、前記出力された比較信号に応じて前記選択されたデータセルに書き込まれるデータと前記選択されたデータセルの現在状態とが同一であると判断されれば、前記読み出し/書き込み駆動回路を非活性化させる状態切替認識信号を前記読み出し/書き込み駆動回路に提供する。
本発明の一実施形態に係る磁気抵抗メモリ装置において読み出し/書き込み動作方法は、データセルを選択するステップと、前記選択されたデータセルにデータを書き込むように書き込み動作を始めるステップと、前記選択されたデータセルの状態切替がなされると、前記書き込み動作を自動に終了させるステップとを含む。ここで、前記書き込み動作は、読み出し動作及び書き込み動作を駆動させる読み出し/書き込み駆動回路によって制御され、前記選択されたデータセルの状態切替がなされると、前記読み出し/書き込み駆動回路が非活性化される。
本発明に係る磁気抵抗メモリ装置、特に、STT−MRAMは、読み出し回路及び書き込み回路を1つの回路で実現しながらも、書き込み動作時、MTJの状態切替認識が可能である。したがって、書き込み動作時、電力消費を減らすことができ、不要な電力によるMTJの耐久性減少を除去することができる。
本発明の一実施形態に係る磁気抵抗メモリ装置の回路構造を概略的に示した図である。 本発明の一実施形態に係る磁気抵抗メモリ装置を概略的に示した図である。 本発明の一実施形態に係る磁気抵抗メモリ装置を概略的に示した図である。 本発明の一実施形態に係る磁気抵抗メモリ装置を概略的に示した図である。 本発明の一実施形態に係るクロック生成回路を示した図である。 データ「0」を書き込むときの信号を示したタイミングダイアグラムである。 書き込み動作時のシミュレーション結果である。 読み出し動作時のシミュレーション結果である。
本明細書において使用される単数の表現は、文脈上、明白に異なるように意味しない限り、複数の表現を含む。本明細書において、「構成される」または「含む」などの用語は、明細書上に記載された種々の構成要素等、または、種々のステップを必ずしも全て含むことと解釈されてはならず、そのうちの一部構成要素等または一部ステップ等は、含まれないことがあり、または、追加的な構成要素またはステップ等をさらに含むことができることと解釈されなければならない。また、明細書に記載された「...部」、「モジュール」などの用語は、少なくとも1つの機能や動作を処理する単位を意味し、これは、ハードウェアまたはソフトウェアで実現されるか、ハードウェアとソフトウェアとの組み合わせで実現されることができる。
本発明は、磁気抵抗メモリ装置、例えば、スピン伝達トルク磁気抵抗ランダムアクセスメモリ(Spin Transfer Torque Magnetic Random Access Memory、STT−MRAM)に関するものであって、前記磁気抵抗メモリ装置は、データセル、すなわち、磁気接合トンネル(Magnetic Tunnel Junction、MTJ)の状態切替認識が可能である。
特に、本発明は、読み出し回路及び書き込み回路が別に実現されておらず、読み出し回路及び書き込み回路を1つの回路として実現しつつ、MTJの状態切替認識が可能な回路を提案する。
読み出し回路と書き込み回路とが別に実現された従来技術では、書き込み動作中、状態切替認識が可能であったが、読み出し回路と書き込み回路とを1つの回路で実現した従来のSTT−MRAMは、書き込み動作時、データセルの状態切替を認識できなかった。結果として、書き込み動作時、不要に電力消費が発生した。
したがって、本発明は、読み出し回路と書き込み回路とを1つの回路で実現しながらも、書き込み動作時、データセルの状態切替を正確に認識できる磁気抵抗メモリ装置を提案する。
以下、本発明の様々な実施形態を添付された図面を参照して詳述する。
図1は、本発明の一実施形態に係る磁気抵抗メモリ装置の回路構造を概略的に示した図である。
図1に示すように、本実施形態の磁気抵抗メモリ装置、例えば、STT−MRAMは、メモリセル部100、読み出し/書き込み駆動回路102、及び状態切替認識部104を備えることができる。
メモリセル部100は、データセル部110及び基準セル部112を備える。
データセル部110は、データセルを有し、基準セル部112は、基準セルを有する。
読み出し/書き込み駆動回路102は、読み出し動作及び書き込み動作の両方が可能な回路構造を有し、メモリセル部100のデータセル等の読み出し動作及び書き込み動作を駆動させる。
一実施形態によれば、読み出し/書き込み駆動回路102は、状態切替認識部104から書き込み動作でデータセル、すなわち、MTJの状態切替がなされたという状態切替認識信号を受信すれば、書き込み動作を自動に終了させることができる。これについての詳細な説明は、後述する。
状態切替認識部104は、前記書き込み動作時、MTJの状態切替、すなわち、データセルに所望のデータを書き込む動作が完了したか否かを検出し、検出結果を含む状態切替認識信号を読み出し/書き込み駆動回路102に送信する。
一実施形態によれば、書き込み動作完了時に提供される前記状態切替認識信号は、読み出し/書き込み駆動回路102の特定素子を非活性化させて書き込み動作を終了させることができる。
まとめると、本実施形態の磁気抵抗メモリ装置は、読み出し動作及び書き込み動作を1つの回路で実現しながらも、書き込み動作時、MTJの状態切替を検出して、状態切替がなされた場合、書き込み動作を終了させることができる。結果として、書き込み動作時、電力消費を最小にすることができる。
一方、上記では、読み出し動作について説明してはいないが、読み出し/書き込み駆動回路102は、読み出し動作を駆動でき、データセルのデータが感知回路(Sensing circuit、図示せず)により感知され得る。ここで、感知回路は、MTJの抵抗を検出してデータを感知できる限り、従来技術の感知回路が全て本発明の感知回路として適用されることができる。すなわち、感知回路は、読み出し動作時、データを読み出すことができる限り、特別に制限されない。
図2〜図4は、本発明の一実施形態に係る磁気抵抗メモリ装置を概略的に示した図であり、図5は、本発明の一実施形態に係るクロック生成回路を示した図である。図6は、データ「0」を書き込むときの信号を示したタイミングダイアグラムであり、図7は、書き込み動作時のシミュレーション結果であり、図8は、読み出し動作時のシミュレーション結果である。
図2に示すように、データセル部110は、少なくとも1つのデータセルを含む。ただし、図2では、説明の都合上、1つのデータセルのみを図示したが、一般的には、複数のデータセルが存在する。
一実施形態によれば、データセルは、トランジスタT8及びT9によって選択され、トランジスタT10またはトランジスタT11によってソースライン(Source Line、SL)に連結される。
トランジスタT8及びT9間のノードn4は、第2のスイッチS2、例えば、トランスミッションゲートスイッチ(transmission gate switch)を介してメモリセル部100と読み出し/書き込み駆動回路102との連結ノードであるノードn1と連結される。
トランジスタT10及びT11間のノードn5は、第1のスイッチS1、例えば、トランスミッションゲートスイッチを介してノードn1と連結される。
このようなトランジスタT8、T9、T10、及びT11及びスイッチS1及びS2によって読み出し動作及び書き込み動作時、図3及び図4に示されたような電流経路が形成され得る。これについての詳細な説明は、後述する。
基準セル部112は、少なくとも1つの基準セルを含む。ただし、図2では、説明の都合上、1つのデータセルのみを図示した。
このような基準セルは、読み出し動作時、基準電圧(抵抗)を提示する役割を果たす。
読み出し/書き込み駆動回路102は、読み出し動作及び書き込み動作を駆動させる機能を果たす。
一実施形態によれば、読み出し/書き込み駆動回路102は、6個のトランジスタT1、T2、T3、T4、T5、及びT6を備えることができる。
トランジスタT1は、データセル部110と連結され、トランジスタT2は、基準セル部112と連結される。このようなトランジスタT1及びT2のゲートには、書き込み電圧Vwriteまたは読み出し電圧Vreadが印加される。具体的には、書き込み動作時には、書き込み電圧VwriteがトランジスタT1及びT2のゲートに印加され、読み出し動作時には、読み出し電圧VreadがトランジスタT1及びT2のゲートに印加され得る。すなわち、トランジスタT1及びT2は、読み出し動作及び書き込み動作の駆動電流を決定するトランジスタとして使用される。
トランジスタT1と電源電圧VDDとの間には、トランジスタT3及びT5が順次連結され、トランジスタT2と電源電圧VDDとの間には、トランジスタT4及びT6が順次連結され得る。
トランジスタT3及びT4は、ミラー構造を有する。
トランジスタT1及びT3間のノードn2は、状態切替認識部104と連結され、トランジスタT2及びT4間のノードn3は、状態切替認識部104に連結される。結果として、書き込み動作時、ノードn2及びn3の電圧が状態切替認識部104に提供され、状態切替認識部104は、ノードn2及びn3の電圧を介してデータセルの状態切替を検出できる。
一実施形態によれば、トランジスタT5及びT6のゲートには、書き込み動作時、状態切替認識部104から出力された状態切替認識信号バーENが提供され得る。したがって、状態切替認識部104がデータセルの状態切替がなされたという状態切替認識信号バーEN、例えば、ハイロジックを有する状態切替認識信号バーENを出力すれば、トランジスタT5及びT6は、ターンオフされて書き込み動作が終了し得る。もちろん、データセルの状態切替がなされなかった場合には、例えば、ローロジックを有する状態切替認識信号バーENを出力すれば、トランジスタT5及びT6は、オンを維持し続け、その結果、書き込み動作が進行され続ける。
状態切替認識部104は、比較器200、スイッチS3及びS4、Dフリップフロップ202、ANDゲート204、ORゲート206、及びインバータ208を備えることができる。ここで、スイッチS3及びS4、Dフリップフロップ202、ANDゲート204、ORゲート206、及びインバータ208は、状態切替認識回路に含まれることができる。すなわち、状態切替認識部104は、比較器200及び状態切替認識回路を備えることができる。
比較器200の入力端のうち、(+)端子は、ノードn2に連結され、(−)端子は、ノードn3に連結される。
第3のスイッチS3は、比較器200の出力端のうちの1つに連結され、第4のスイッチS4は、比較器200の他の出力端に連結される。
スイッチS3及びS4間のノードn6は、Dフリップフロップ202の入力端に連結される。
ANDゲート204の入力端のうちの1つは、Dフリップフロップ202の出力端に連結され、他の1つの入力端には、書き込み動作信号WENが入力される。
ORゲート206の入力端のうちの1つは、ANDゲート204の出力端に連結され、他の1つの入力端には、センス(Sense)信号が入力される。
インバータ208は、ORゲート206の出力を反転させて状態切替認識信号バーENを出力させる。このとき、状態切替認識信号バーENは、読み出し/書き込み駆動回路102のトランジスタT5及びT6のゲートに提供される。
このような磁気抵抗メモリ装置において書き込み動作及び読み出し動作を説明する。
まず、データ「0」をデータセルに書き込むときの動作を説明する。
先に、ビットライン信号BL及びワードライン信号WLをトランジスタT8及びT10のゲートにそれぞれ入力して特定データセルを選択する。図2〜図4は、ビットライン信号BL及びワードライン信号WLに応じて第1のデータセルが選択されるときの回路を図示した。
次いで、図6に示されたように、接地電圧を有するインプット(input)信号をトランジスタT9及びT11のゲートに提供する。結果として、トランジスタT9は非活性化され、トランジスタT11は活性化される。したがって、第2のスイッチS2、トランジスタT8、データセル、トランジスタT10、及びトランジスタT11を介してセンシングラインに電流経路が形成される。すなわち、ビットラインからセンシングラインへと電流が流れ、このような電流の流れは、図3において示される。
続いて、書き込み動作を実行させるために、書き込み電圧VwriteがトランジスタT1及びT2のゲートに入力される。結果として、データセルにデータ「0」が書き込まれ始める。
その後、書き込み動作信号WEN及びセンス信号がハイロジックを有し、ANDゲート204及びORゲート206にそれぞれ入力される。
この場合、電流が流れることにより、ノードn2及びn3の電圧が比較器200の入力端に印加される。ここで、データセルの現在状態は、比較器200の(+)入力端子に反映される。
比較器200は、書き込もうとするデータ「0」とデータセルの現在状態とが異なると、ハイロジックを有する比較信号を出力し、書き込もうとするデータ「0」とデータセルの現在状態とが同一であれば、すなわち、書き込み動作が完了すれば、ローロジックを有する比較信号を出力する。
書き込もうとするデータ「0」とデータセルの現在状態とが異なり、比較器200がハイロジックを有する比較信号を出力すれば、ANDゲート204及びORゲート206は、ハイロジックを出力するようになり、その結果、状態切替認識信号バーENは、ローロジックを有するようになる。したがって、読み出し/書き込み駆動回路102のトランジスタT5及びT6が活性化を維持するようになり、書き込み動作が続く。
それに対し、書き込もうとするデータ「0」とデータセルの現在状態とが同一であって、比較器200がローロジックを有する比較信号を出力すれば、ANDゲート204は、ローロジックを出力し、センス信号がローロジックに変わるようになると、ORバーENは、ハイロジックを有し、したがって、読み出し/書き込み駆動回路102のトランジスタT5及びT6が非活性化されて書き込み動作が終了する。すなわち、書き込み動作が完了すれば、書き込み動作が自動に終了し、電力消費が相当減少するようになる。
一方、センス信号は、書き込み動作時に選択されたデータセルの状態を感知するまで、一定時間回路を動作させる信号として使用され、データセルの状態を感知すれば、図6に示されたように、ハイロジックからローロジックへと変化される。
したがって、センス信号がローロジックであるとき、データセルの状態切替がなされるようになり、上述したように、書き込もうとするデータ「0」とデータセルの現在状態とが同一であれば、ハイロジックを有する状態切替認識信号バーENを出力するようになり、書き込み動作が自動に終了する。
また、センス信号が入力されるゲート206がORゲートであるから、センス信号のロジックと関係なく、書き込もうとするデータ「0」とデータセルの現在状態とが異なると、ORゲート206は、ハイロジックを出力するようになる。
Dフリップフロップ202は、電力浪費を防止するために使用される。Dフリップフロップ202がなければ、データセルの状態切替認識前に状態切替認識部104が動作し続けるようになる。それに対し、Dフリップフロップ202を使用すれば、Dフリップフロップ202に印加されるクロックに応答してDフリップフロップ202がスイッチング動作を繰り返すようになる。これは、状態切替認識部104が動作し続けなくても、データセルの状態切替がなされるときにのみ状態切替を認識する動作を行っても十分であるからである。
一実施形態によれば、Dフリップフロップ202に印加されるクロックは、状態切替がなされると、ローロジックを維持するようになり、その結果、Dフリップフロップ202は動作しなくなる。これは、データセルの状態切替がなされると、Dフリップフロップ202をそれ以上駆動させる必要がないためである。
例えば、図5に示されたように、Dフリップフロップ202に入力されるクロックCLKは、状態切替認識信号ENとハイロジックとローロジックを繰り返す基準クロックClockをANDゲーティングすることにより形成されることができる。
データセルの状態切替前には、状態切替認識信号ENがハイロジックを有するので、クロックCLKは、基準クロックClockと同様となる。結果として、Dフリップフロップ202は動作するようになる。
それに対し、データセルの状態切替がなされた場合には、状態切替認識信号ENがローロジックを有するので、クロックCLKは、常にローロジックを有するようになる。結果として、Dフリップフロップ202はそれ以上動作しなくなる。したがって、電力の消費の浪費が防止され得る。
次に、データ「1」をデータセルに書き込むときの動作を説明する。
まず、ビットライン信号BL及びワードライン信号WLをトランジスタT8及びT10のゲートにそれぞれ入力して特定データセルを選択する。図2〜図4は、ビットライン信号BL及びワードライン信号WLに応じて第1のデータセルが選択された。
次いで、図6に示されたように、電源電圧VDDを有するインプット信号をトランジスタT9及びT11のゲートに提供する。結果として、トランジスタT11は非活性化され、トランジスタT9が活性化される。したがって、第1のスイッチS1、トランジスタT10、データセル、トランジスタT8、及びトランジスタT9を介してビットラインに電流経路が形成される。すなわち、センシングラインからビットラインへと電流が流れ、このような電流の流れは、図4において示される。
続いて、書き込み動作を実行させるために、書き込み電圧VwriteがトランジスタT1及びT2のゲートに入力される。結果として、データセルにデータ「1」が書き込まれ始める。
その後、書き込み動作信号WEN及びセンス信号がハイロジックを有し、ANDゲート204及びORゲート206にそれぞれ入力される。
この場合、電流が流れることにより、ノードn2及びn3の電圧が比較器200の入力端に印加される。ここで、データセルの現在状態は、比較器200の(+)入力端子に反映される。
比較器200は、書き込もうとするデータ「1」とデータセルの現在状態とが異なると、ハイロジックを有する比較信号を出力し、書き込もうとするデータ「1」とデータセルの現在状態とが同一であれば、すなわち、書き込み動作が完了すれば、ローロジックを有する比較信号を出力する。
書き込もうとするデータ「1」とデータセルの現在状態とが異なり、比較器200がハイロジックを有する比較信号を出力すれば、ANDゲート204及びORゲート206は、ハイロジックを出力するようになり、その結果、状態切替認識信号バーENは、ローロジックを有するようになる。したがって、読み出し/書き込み駆動回路102のトランジスタT5及びT6が活性化を維持するようになり、書き込み動作が続く。
それに対し、書き込もうとするデータ「1」とデータセルの現在状態とが同一であって、比較器200がローロジックを有する比較信号を出力すれば、ANDゲート204は、ローロジックを出力し、センス信号がローロジックに変わるようになると、ORゲート206は、ローロジックを出力する。結果として、状態切替認識信号バーENは、ハイロジックを有し、したがって、読み出し/書き込み駆動回路102のトランジスタT5及びT6が非活性化されて書き込み動作が終了する。すなわち、書き込み動作が完了すれば、書き込み動作が自動に終了し、電力消費が相当減少するようになる。
一方、センス信号は、書き込み動作時に選択されたデータセルの状態を感知するまで、一定時間回路を動作させる信号として使用され、データセルの状態を感知すれば、図7に示されたように、ハイロジックからローロジックへと変化される。
したがって、センス信号がローロジックであるとき、データセルの状態切替がなされるようになり、上述したように、書き込もうとするデータ「1」とデータセルの現在状態とが同一であれば、ハイロジックを有する状態切替認識信号バーENを出力するようになり、書き込み動作が自動に終了する。
次に、データセルのデータを読み出すときの動作を説明する。読み出し動作時には、基準セルに連結されたトランジスタT7は活性化される。
まず、ビットライン信号BL及びワードライン信号WLをトランジスタT8及びT10のゲートにそれぞれ入力して特定データセルを選択する。図2〜図4は、ビットライン信号BL及びワードライン信号WLに応じて第1のデータセルが選択された。
読み出し動作では、電流の方向は関係ないので、一般的な読み出し電流方向を選択するために、接地電圧を有するインプット信号を提供する。
結果として、トランジスタT9は非活性化され、トランジスタT11は活性化される。したがって、第2のスイッチS2、トランジスタT8、データセル、トランジスタT10、及びトランジスタT11を介してセンシングラインに電流経路が形成される。このような電流の流れは、図3において示される。
次いで、読み出し動作を実行させるために、読み出し電圧VreadがトランジスタT1及びT2のゲートに入力される。
その後、センス信号がORゲート206に入力され、ローロジックを有するWENがANDゲート204に入力される。結果として、センス信号がハイロジックを有する区間のみで読み出し動作が行われる。
読み出し動作実行結果、比較器200は、データセルの電圧と基準セルの電圧とを比較し、比較結果に応じる比較信号を出力する。比較信号は、スイッチS3及びS4を介して出力され、Dフリップフロップ202は、入力される比較信号に応じて所定信号を出力させる。
このとき、感知回路(図示せず)は、比較器200の出力、スイッチS3の出力、またはDフリップフロップ202の出力を感知してデータを読み出すことができる。ただし、Dフリップフロップ202の出力を利用してデータを感知する場合には、クロックCLKの影響のため、読み出しエラーが生じる可能性がある。したがって、前記感知回路は、読み出し動作時、比較器200の出力またはスイッチS3の出力を介してデータを読み出すことが好ましい。
このような読み出し動作時の信号の流れは、図8において示される。
一方、前述した実施形態の構成要素は、プロセス的な観点で容易に把握されることができる。すなわち、それぞれの構成要素は、それぞれのプロセスにより把握されることができる。また、前述した実施形態のプロセスは、装置の構成要素の観点で容易に把握されることができる。
また、前述した技術的内容は、様々なコンピュータ手段を介して行われることができるプログラム命令形態で実現されて、コンピュータ読み取り可能媒体に記録されることができる。前記コンピュータ読み取り可能媒体は、プログラム命令、データファイル、データ構造などを単独でまたは組み合わせて含むことができる。前記媒体に記録されるプログラム命令は、実施形態のために特別に設計され、構成されたものであるか、コンピュータソフトウェアの分野で当業者に公知されて使用可能なものでありうる。コンピュータ読み取り可能記録媒体の例では、ハードディスク、フロッピー(登録商標)ディスク、及び磁気テープのような磁気媒体(magnetic media)、CD−ROM、DVDのような光気録媒体(optical media)、フロプティカルディスク(floptical disk)のような磁気−光媒体(magneto−optical media)、及びロム(ROM)、ラム(RAM)、フラッシュメモリなどのようなプログラム命令を格納し、実行するように特別に構成されたハードウェア装置が含まれる。プログラム命令の例では、コンパイラにより作られるもののような機械語コードだけでなく、インタプリタなどを使用してコンピュータにより実行され得る高級言語コードを含む。ハードウェア装置は、実施形態等の動作を行うために、1つ以上のソフトウェアモジュールとして作動するように構成されることができ、その逆も同様である。
本発明の範囲は、後述する特許請求の範囲によって表され、特許請求の範囲の意味及び範囲、そして、その均等概念から導き出されるあらゆる変更または変形された形態が本発明の範囲に含まれることと解釈されなければならない。
それに対し、書き込もうとするデータ「0」とデータセルの現在状態とが同一であって、比較器200がローロジックを有する比較信号を出力すれば、ANDゲート204は、ローロジックを出力し、センス信号がローロジックに変わるようになると、ORゲート206は、ローロジックを出力する。結果として、状態切替認識信号バーENは、ハイロジックを有し、したがって、読み出し/書き込み駆動回路102のトランジスタT5及びT6が非活性化されて書き込み動作が終了する。すなわち、書き込み動作が完了すれば、書き込み動作が自動に終了し、電力消費が相当減少するようになる。

Claims (16)

  1. 少なくとも1つのデータセルと、
    1つ以上の基準セルと、
    前記データセルの読み出し動作及び書き込み動作を駆動させる読み出し/書き込み駆動回路と、
    前記書き込み動作時に選択されたデータセルの状態切替を認識する状態切替認識部と、
    を備え、
    前記選択されたデータセルの状態切替がなされると、前記書き込み動作が自動に終了し、前記読み出し/書き込み駆動回路は、前記読み出し動作及び前記書き込み動作の両方を制御可能なことを特徴とする磁気抵抗メモリ装置。
  2. 前記読み出し/書き込み駆動回路は、
    前記データセルと電源電圧との間に形成された第1のトランジスタと、
    前記基準セルと前記電源電圧との間に形成された第2のトランジスタと、
    を備え、
    読み出し電圧または書き込み電圧が前記第1のトランジスタ及び前記第2のトランジスタに入力されて、前記読み出し動作または前記書き込み動作が実行されることを特徴とする請求項1に記載の磁気抵抗メモリ装置。
  3. 前記第1のトランジスタのソースに該当する第1のノードと前記データセルの一端との間には、第2のスイッチ及び第8のトランジスタが順次連結され、前記第2のスイッチと前記第8のトランジスタとの間の第4のノードとビットラインとの間には第9のトランジスタが形成され、
    前記第1のノードと前記データセルの他端との間には、第1のスイッチ及び第10のトランジスタが順次連結され、前記第1のスイッチングと前記第10のトランジスタとの間の第5のノードとセンシングラインとの間には第11のトランジスタが連結されることを特徴とする請求項2に記載の磁気抵抗メモリ装置。
  4. 前記状態切替認識部は、
    前記第1のトランジスタと前記電源電圧との間の第2のノードと一端が連結され、前記第2のトランジスタと前記電源電圧との間の第3のノードと他端が連結される比較器と、
    前記比較器の出力端と連結されるDフリップフロップと、
    前記Dフリップフロップの出力端に一入力端が連結されるANDゲートと、
    前記ANDゲートの出力端に一入力端が連結されるORゲートと、
    前記ORゲートの出力端に連結されるインバータと、
    を備え、
    前記インバータの出力が状態切替認識信号であり、前記切替認識信号に応じて前記読み出し/書き込み駆動回路が制御され、
    前記ANDゲートの他入力端には書き込み信号が入力され、前記ORゲートの他入力端にはセンス信号が入力され、
    前記書き込み信号は、前記書き込み動作時にはハイロジックを有するが、前記読み出し動作時にはローロジックを有し、前記センス信号は、一定区間のみハイロジックを有し、残りの区間ではローロジックを有することを特徴とする請求項3に記載の磁気抵抗メモリ装置。
  5. 前記Dフリップフロップにはクロックが入力され、
    前記クロックは、前記状態切替認識信号と基準クロックをANDゲーティングすることにより求められることを特徴とする請求項4に記載の磁気抵抗メモリ装置。
  6. 前記書き込み動作時、前記比較器は、書き込もうとするデータと前記データセルの現在状態とが同一であれば、ローロジックを出力し、前記書き込もうとするデータと前記データセルの現在状態とが異なると、ハイロジックを出力することを特徴とする請求項4に記載の磁気抵抗メモリ装置。
  7. 前記データセルの状態切替がなされると、前記読み出し/書き込み駆動回路が非活性化されて、前記書き込み動作が自動に終了することを特徴とする請求項1に記載の磁気抵抗メモリ装置。
  8. 前記書き込み動作時に使用されるセンス信号は、前記選択されたデータセルの状態を感知するまで、当該回路を動作するように一定時間の間ハイロジックを有し、前記読み出し動作は、前記センス信号のハイロジック区間のみで行われることを特徴とする請求項1に記載の磁気抵抗メモリ装置。
  9. 読み出し動作及び書き込み動作を駆動させる読み出し/書き込み駆動回路を備える磁気抵抗メモリ装置の状態切替認識部において、
    前記読み出し/書き込み駆動回路に連結された比較器と、
    前記比較器の出力を利用して状態切替認識信号を出力する状態切替認識回路と、
    を備え、
    前記比較器は、選択されたデータセルに書き込まれるデータと前記読み出し/書き込み駆動回路の駆動による前記選択されたデータセルの現在状態とを比較して比較信号を出力し、前記状態切替認識回路は、前記出力された比較信号に応じて前記選択されたデータセルに書き込まれるデータと前記選択されたデータセルの現在状態とが同一であると判断されれば、前記読み出し/書き込み駆動回路を非活性化させる状態切替認識信号を前記読み出し/書き込み駆動回路に提供することを特徴とする状態切替認識部。
  10. 前記状態切替認識回路は、
    前記比較器の出力端と一入力端とが連結されるANDゲートと、
    前記ANDゲートの出力端に一入力端が連結されるORゲートと、
    前記ORゲートの出力端に連結されるインバータと、
    を備え、
    前記インバータの出力が前記状態切替認識信号であり、
    前記ANDゲートの他入力端には書き込み信号が入力され、前記ORゲートの他入力端にはセンス信号が入力され、
    前記書き込み信号は、前記書き込み動作時にはハイロジックを有するが、前記読み出し動作時にはローロジックを有し、前記センス信号は、一定区間のみハイロジックを有し、残りの区間ではローロジックを有することを特徴とする請求項9に記載の状態切替認識部。
  11. 前記比較器と前記ANDゲートとの間に連結されるDフリップフロップと、
    前記比較器と前記Dフリップフロップとの間に連結されるスイッチと、
    をさらに備えることを特徴とする請求項10に記載の状態切替認識部。
  12. 前記Dフリップフロップにはクロックが入力され、
    前記クロックは、前記状態切替認識信号と基準クロックとをANDゲーティングすることにより求められることを特徴とする請求項11に記載の状態切替認識部。
  13. 前記読み出し動作時、前記比較器の出力、前記スイッチの出力、または前記Dフリップフロップの出力を感知して、前記選択されたデータセルのデータを読み出すことを特徴とする請求項11に記載の状態切替認識部。
  14. データセルを選択するステップと、
    前記選択されたデータセルにデータを書き込むように書き込み動作を始めるステップと、
    前記選択されたデータセルの状態切替がなされると、前記書き込み動作を自動に終了させるステップと、
    を含み、
    前記書き込み動作は、読み出し動作及び書き込み動作を駆動させる読み出し/書き込み駆動回路によって制御され、前記選択されたデータセルの状態切替がなされると、前記読み出し/書き込み駆動回路が非活性化されることを特徴とする磁気抵抗メモリ装置における読み出し/書き込み動作方法。
  15. 前記読み出し/書き込み駆動回路は、前記書き込み動作のための書き込み電圧が印加されるトランジスタを備え、
    前記読み出し動作時、読み出し電圧が前記トランジスタに印加されることを特徴とする請求項14に記載の磁気抵抗メモリ装置における読み出し/書き込み動作方法。
  16. 前記書き込み動作時に使用されるセンス信号は、前記選択されたデータセルの状態を感知するまで、当該回路を動作するように一定時間の間ハイロジックを有し、前記読み出し動作は、前記センス信号のハイロジック区間のみで行われることを特徴とする請求項14に記載の磁気抵抗メモリ装置における読み出し/書き込み動作方法。
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