JP2019525008A - 金属ストリップの被覆のための方法および被覆装置 - Google Patents
金属ストリップの被覆のための方法および被覆装置 Download PDFInfo
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Abstract
Description
110 被覆槽
112 被覆剤
120 ワイピングノズル装置
122 ワイピングノズル装置のスリット
130 ストリップ安定化装置
132 磁石
136 アクチュエータ
140 修正ローラ
150 シンクロール
160 制御装置
170 形状センサ
180 位置センサ
200 金属ストリップ
dl1 距離
dl2 距離
dr1 距離
dr2 距離
F 力
I1 傾斜
I2 平行推移
I3 ずれ
M 曲げモーメント
R 幅方向
SL 目標位置
α 角度
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Claims (24)
- ストリップ(200)が、液状被覆剤(112)を有する被覆槽(110)を通過し、その後にワイピングノズル装置(120)のスリットを通過し、さらにその後に前記ストリップの両方の幅広面側に多数の磁石(132)を備えるストリップ安定化装置(130)のスリットを通過する、被覆装置(100)を用いて金属ストリップ(200)を被覆する方法であって、以下の工程:
前記ワイピングノズル装置(120)内での前記ストリップの幅にわたる前記ストリップ(200)の実際形状を求める工程と、
前記ワイピングノズル装置(120)の領域における前記ストリップ(200)の前記実際形状と予め決められた前記ストリップの目標形状との間の偏差としての形状の制御偏差を求める工程と、
作動部材としての前記ストリップ安定化装置の前記磁石(132)を、前記ストリップ(200)の前記実際形状が前記ストリップの前記目標形状へと移行されるように操作する工程と、
を有する、方法において、
前記ストリップ安定化装置の前記磁石の操作は、磁石(132−A)の少なくとも1つを、形状の制御偏差に応じて、前記ストリップ(200)の幅方向(R)において、前記ストリップの反対の幅広面側の磁石(132−B)の少なくとも1つに対して変位位置へと移動させることによって行われることを特徴とする方法。 - 前記実際形状に加えて、さらに前記ワイピングノズル装置(120)内での前記ストリップ(200)の実際位置を求めること、
前記形状の制御偏差に加えて、さらに前記ワイピングノズル装置(120)の領域における前記ストリップの前記実際位置と予め決められた前記ストリップ(200)の目標位置との間の偏差としての位置の制御偏差を求めること、および
前記ストリップ(200)の幅方向(R)における前記少なくとも1つの磁石(132−A)の、前記ストリップ(200)の反対の幅広面側の前記磁石(132−B)に対する移動を、さらに前記位置の制御偏差に応じて、前記ストリップがその実際位置から予め決められた目標位置へと移行されるように行うこと、
を特徴とする、
請求項1記載の方法。 - 前記磁石の少なくとも幾つかは、前記ストリップ(200)の幅方向(R)において、前記磁石がその変位位置で、少なくとも近似的に前記ストリップの前記実際形状における波の谷に向き合うように変位されることを特徴とする、
請求項1または2記載の方法。 - 幅方向で見て前記ストリップ安定化装置(130)の前記スリットまたは前記ストリップ(200)の中央と対称的に、1つの磁石対または複数の磁石対(132−3−A;132−3−B)が定置で配置されており、前記ストリップの両方の幅広面(A、B)側のそれぞれ1つの磁石対の両方の磁石は、向き合って配置されていること、および
少なくとも1つの定置の磁石対に隣接する磁石(132−1、−2、−4、−5)の少なくとも幾つかは、前記定置の磁石対に対して前記ストリップ(200)の幅方向(R)において移動されること、
を特徴とする、
請求項1から3までのいずれか1項記載の方法。 - 前記少なくとも1つの磁石の幅方向(R)における移動は、ストリップの中央と対称的に行われることを特徴とする、
請求項1から4までのいずれか1項記載の方法。 - 2つのさらなる磁石(132−1−A;132−1−B)は、左側の磁石対を形成し、前記左側の磁石対は、前記ストリップの左側縁部の領域において、前記左側の磁石対の磁石のうち前記ストリップの縁部とより大きな距離(dl1)を有する磁石(132−1−B)が、その中心で前記左側縁部の高所まで移動され、かつ前記左側の磁石対の磁石のうち前記ストリップ(200)の前記左側縁部とより小さな距離(dl2)を有する前記磁石(132−1−A)が、前記ストリップの縁部に対してより大きな距離(dl1)を有する前記磁石(132−1−B)に対して、幅方向で見て前記金属ストリップの中央に向かって少しの距離だけ、例えば磁石直径だけずれて配置されるように移動されること、および/または、
2つのなおもさらなる磁石(132−5−A;132−5−B)は、右側の磁石対を形成し、前記右側の磁石対は、前記ストリップ(200)の右側縁部の領域において、前記右側の磁石対の磁石のうち前記ストリップ(200)の縁部とより大きな距離(dr1)を有する前記磁石(132−5−B)が、その中心で前記右側縁部の高所まで移動され、かつ前記右側の磁石対の磁石のうち前記ストリップの前記右側縁部とより小さな距離(dr2)を有する前記磁石(132−5−A)が、前記ストリップの縁部とより大きな距離を有する磁石に対して、幅方向で見て前記金属ストリップの中央に向かって少しの距離だけ、例えば磁石直径だけずれて配置されるように移動されること、
を特徴とする、
請求項1から5までのいずれか1項記載の方法。 - 前記右側の磁石対、前記左側の磁石対、または中央の磁石対に属しないその他の磁石(132−2−A、132−2−B、132−4−A、132−4−B)は、前記ストリップ(200)の幅方向(R)において、前記磁石が少なくとも近似的に、それぞれ前記ストリップの前記実際形状における波の谷に向き合うように変位されることを特徴とする、
請求項6記載の方法。 - 前記ワイピングノズル装置(120)内での前記ストリップ(200)の前記実際位置および/または前記実際形状を求めることは、
前記ワイピングノズル装置(120)と前記ストリップ安定化装置(130)との間、または前記ストリップ安定化装置内、または前記ストリップ安定化装置の下流のいずれかで前記ストリップの位置および/または形状を測定すること、ならびに
前記ストリップの測定された位置および/または形状から前記ワイピングノズル装置(120)内での前記ストリップ(200)の前記実際位置および/または前記実際形状を推測すること、
によって行われることを特徴とする、
請求項1から7までのいずれか1項記載の方法。 - 前記ストリップ安定化装置(130)内での前記ストリップの前記実際位置および/または前記実際形状を求めることは、前記ストリップの幅にわたる前記ストリップと前記ストリップ安定化装置の前記磁石との距離の測定により行われることを特徴とする、
請求項8記載の方法。 - 前記磁石の幅方向(R)における移動は、さらに前記ストリップのそれぞれの幅広面側の前記磁石(132)の使用可能な数に応じて行われることを特徴とする、
請求項1から9までのいずれか1項記載の方法。 - 前記磁石(132)の幅方向(R)における移動は、前記個々の磁石により生成され得る前記ストリップ(200)への力(F)に応じて行われることを特徴とする、
請求項1から10までのいずれか1項記載の方法。 - 前記磁石(132)は、電磁コイルの形で形成されていることを特徴とする、
請求項1から11までのいずれか1項記載の方法。 - 電流が流れているコイルにより前記ストリップに作用する力(F)に基づき前記ストリップがワイピングノズル装置(120)の中央におけるその目標位置に移行されてそこで安定化されるような電流、および/または前記ストリップの実際形状ができる限り良好に目標形状に適合されるような電流が、前記コイルの少なくとも1つに供給されることを特徴とする、
請求項12記載の方法。 - 前記ワイピングノズル装置の上流の修正ローラ(140)は、前記ストリップ安定化装置および、特にその磁石がその駆動限界内で駆動され得るように位置調整および調節されることを特徴とする、
請求項1から13までのいずれか1項記載の方法。 - 前記ストリップ(200)の前記実際形状は、例えばS字形またはU字形またはW字形のストリップの断面を意味することを特徴とする、
請求項1から14までのいずれか1項記載の方法。 - 前記ストリップ(200)の前記目標形状は、前記ストリップの矩形断面または平坦性を意味することを特徴とする、
請求項1から15までのいずれか1項記載の方法。 - 前記ストリップ(200)の前記実際位置は、例えば、前記ワイピングノズル装置(120)のスリット(122)における、前記ストリップ(200)の目標位置(SL)に対する傾斜(I1)または平行推移(I2)またはずれ(I3)を意味することを特徴とする、
請求項1から16までのいずれか1項記載の方法。 - 前記ストリップの前記目標位置(SL)は、前記ワイピングノズル装置(120)の前記スリット(122)中の中心位置を意味することを特徴とする、
請求項1から17までのいずれか1項記載の方法。 - 幅方向(R)における前記磁石の変位位置、コイルに印加される電流、ならびに/または修正ローラ(140)の位置および調節がデータベースに、好ましくは、前記ストリップ(200)の鋼種、前記ストリップの降伏限界、前記ストリップの厚さ、前記ストリップの幅、前記ストリップの温度、および/または前記ストリップ(200)の通過に際しての前記被覆槽(110)中の前記被覆剤(112)の温度により分類されて記録されることを特徴とする、
請求項1から18までのいずれか1項記載の方法。 - 被覆剤(112)、例えば亜鉛により金属ストリップを被覆するための被覆装置(100)であって、
液状被覆剤で満たされている被覆槽(110)と、
ワイピングノズル装置(120)と、
ストリップ安定化装置(130)であって、前記ストリップ安定化装置のスリットの両方の幅広面側に多数の磁石(132)を備えるストリップ安定化装置と、
前記ワイピングノズル装置(120)の前記スリットにおける前記金属ストリップの実際形状および/または実際位置を把握するための少なくとも1つのセンサ(170、180)と、
前記ワイピングノズル装置(120)の領域における、ストリップ(200)の実際形状と予め決められた前記ストリップの目標形状との間の偏差としての形状の制御偏差を求め、前記磁石(132)を、磁石アクチュエータ(136)を介して操作するための制御装置(160)と、
を備える、被覆装置(100)において、
前記制御装置および前記磁石アクチュエータ(136)は、さらに、前記磁石の少なくとも1つを、前記形状の制御偏差に応じて、前記ストリップの幅方向において、前記ストリップの反対の幅広面側の磁石の少なくとも1つに対して変位位置へと移動させるために形成されていることを特徴とする、被覆装置(100)。 - 前記制御装置(160)および前記磁石アクチュエータ(136)は、さらに、前記少なくとも1つの磁石(132)を、さらに前記ストリップ(200)の位置の制御偏差に応じて幅方向において移動させるために形成されていることを特徴とする、
請求項20記載の被覆装置(100)。 - 前記制御装置(160)は、さらに、修正ローラ(140)のアクチュエータ(146)を、さらに前記ストリップ安定化装置がその駆動限界内で駆動可能となるように制御するために形成されていることを特徴とする、
請求項20または21記載の被覆装置(100)。 - 前記制御装置(160)は、さらに、前記少なくとも1つの磁石(132)を流れる電流(I)を、さらに前記ストリップ(200)の前記実際形状および/または前記実際位置に応じて、できる限り目標形状および/または目標位置が達成されるように調整するために形成されていることを特徴とする、
請求項20から22までのいずれか1項記載の被覆装置(100)。 - 幅広面1つあたりの前記磁石(132)の数は、奇数個、例えば5個または7個であることを特徴とする、
請求項20から23までのいずれか1項記載の被覆装置(100)。
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