JP2019212586A - Ｉｃソケット - Google Patents

Abstract

【課題】プランジャの側面の加工工数を減らしても、プローブがソケット本体に誤って組み付けられるのを防止することができるＩＣソケットを提供する。【解決手段】プローブ４のプランジャ８は、丸棒材２０を径方向に２箇所切除することにより、ソケット本体５に形成されたプランジャガイド孔１５に回り止めされた状態で係合されるスライダ部１６と、プローブ４の中心軸４ａに沿った方向の高さ位置が異なる第１位置決め面１７と第２位置決め面１８とが形成されている。プローブ収容孔６は、プローブが正しい姿勢で挿入された場合に第１位置決め面が当接可能な第１突き当て突起２６と第２位置決め面が当接可能な第２突き当て突起２７とが形成されている。プランジャが誤った姿勢で挿入された場合に、第１位置決め面が第２突き当て突起に当接し、プランジャをプランジャガイド孔から突出させないか又は設計寸法よりも小さく突出させる。【選択図】図１

Description

この発明は、電子部品の電気的テストに使用されるＩＣソケットに関するものである。

例えば、電子部品の半導体パッケージの一種であるＱＦＰ（Ｑｕａｄ Ｆｌａｔ Ｐａｃｋａｇｅ）は、外形が四角形状のものが多く、四辺から複数の接続端子が突き出ており、各接続端子間の配置間隔が狭ピッチ化されている。

図１９は、このような電子部品１００の電気的テストに使用される従来のケルビン検査用ＩＣソケット１０１を示す図である。なお、図１９（ａ）は、電子部品１００の電気テスト前の状態を示す従来のケルビン検査用ＩＣソケット１０１を示す図である。また、図１９（ｂ）は、電子部品１００の電気的テスト時における従来のケルビン検査用ＩＣソケット１０１を示す図である。

この図１９に示すように、ケルビン検査用ＩＣソケット１０１は、電子部品１００の端子１０２に接触する一対のプローブ１０３，１０３が端子１０２の数に対応して配置され、各プローブ１０３，１０３が絶縁性樹脂材料製のソケット本体１０４に形成したプローブ収容孔１０５，１０５内にそれぞれ収容されるようになっている。なお、一対のプローブ１０３，１０３は、一方が電流を供給するためのフォースコンタクトプローブであり、他方が電圧を監視するためのセンスコンタクトプローブである。

また、図１９に示すように、従来のケルビン検査用ＩＣソケット１０１は、電子部品１００の小さな端子１０２（半田ボール等からなる電極を含む）に一対のプローブ１０３，１０３を確実に接触させるために、一対のプローブ１０３，１０３がソケット本体５に対して回り止めされた状態で、且つ、一対のプローブ１０３，１０３のプランジャ１０６，１０６の頂部１０７，１０７（端子１０２に接触する部分）同士が最接近するように、一対のプローブ１０３，１０３が背中合わせで絶縁性材料製のソケット本体１０４のプローブ収容孔１０５内に組み付けられている。

また、図１９乃至図２１に示すように、従来のケルビン検査用ＩＣソケット１０１は、一対のプローブ１０３，１０３が誤って同一の姿勢（背中合わせの一対のプローブ１０３，１０３のうちの一方が他方に対して１８０°回転した姿勢）でソケット本体１０４に組み付けられるのを防止するため、プランジャ１０６の先端側本体部１０８がプローブ収容孔１０５の中心軸１０５ａに対して偏って位置するように形成されている。

すなわち、図２０（ｂ）及び図２１に示すように、プランジャ１０６の先端側本体部１０８は、平面視した形状が略矩形形状であり、ソケット本体１０４のプローブ収容孔１０５に正しい姿勢で組み付けられた場合、ソケット本体１０４に形成された略矩形形状のプランジャガイド孔１１０に係合するが、図２２に示すように、誤った姿勢（正しい姿勢から１８０°回転した姿勢）で組み付けられようとした場合、プランジャ１０６の頂部１０７がプローブ収容孔１０５とプランジャガイド孔１１０との段部１１１に引っ掛かり、プランジャガイド孔１１０に係合できず、ソケット本体１０４に誤って組み付けられるのが未然に防止される（特許文献１参照）。

特許第５１３１７６６号公報

しかしながら、従来のケルビン検査用ＩＣソケット１０１は、図２０に示すように、プランジャ１０６の先端側本体部１０８を形成する場合、プランジャ１０６のフランジ部１１２と同径の丸棒材１１３の第１乃至第３領域の３箇所を切削加工で削り落とし、一対の平行な側面１１５，１１５を形成すると共に、この一対の平行な側面１１５，１１５に直交する側面（平面）１１６を形成するようになっているため、プランジャ１０６の加工箇所が多く、プランジャ１０６の加工費用が嵩むという問題を有している。

そこで、本発明は、プランジャの側面の加工工数を減らしても、プローブがソケット本体に誤って組み付けられるのを防止することができるＩＣソケットの提供を目的とする。

本発明は、電子部品２の電気的テストに使用されるＩＣソケット１に関するものである。本発明のＩＣソケット１は、前記電子部品２の端子３に接触するプローブ４と、前記プローブ４を収容するプローブ収容孔６が形成されたソケット本体５と、を有している。前記プローブ４は、前記ソケット本体５の前記プローブ収容孔６内に収容されるチューブ７と、前記チューブ７の一端側に組み付けられ、前記チューブ７内に収容されたばね部材１１で付勢されて前記電子部品２の前記端子３に先端が接触するプランジャ８と、を有している。前記プランジャ８は、前記ソケット本体５に形成されたプランジャガイド孔１５に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部１６が形成されている。前記プランジャガイド穴１５は、前記プローブ収容孔６の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部２５に形成され、前記プローブ収容孔６の一部を成している。前記スライダ部１６は、丸棒材２０を径方向一端側から中心側に向けて切除することにより形成された一側面２１で且つ前記プランジャ８の先端２３側から前記プローブ４の中心軸４ａに沿って延びる一側面２１を有するか、又は丸棒材２０を径方向一端側及び径方向他端側から中心側に向けて切除することにより形成された一対の側面２１，２１で且つ前記プランジャ８の先端２３側から前記プローブ４の中心軸４ａに沿って延びる一対の側面２１，２１を有している。前記スライダ部１６の一側面２１又は前記スライダ部１６の一対の側面２１，２１は、前記プランジャガイド孔１５に係合されている。そして、前記ソケット本体５は、前記プローブ４が前記プローブ収容孔６に正しい姿勢で挿入された場合に、前記プランジャ８に当接して、前記プランジャ８を前記プランジャガイド孔１５から設計寸法だけ突出させ、前記プローブ４が前記プローブ収容孔６に誤った姿勢で挿入された場合に、前記プランジャ８に当接して、前記プランジャ８を前記プランジャガイド孔１５から突出させないか又は前記設計寸法よりも小さく突出させるプランジャ突出量制限部２５，２６，２７，３０を有している。

本発明に係るＩＣソケットは、プランジャの側面が３箇所加工された従来例と比較し、プランジャの側面の加工箇所が１箇所又は２箇所であり、プランジャの側面の加工工数を減らしても、プローブがソケット本体のプローブ収容孔内に誤って組み付けられるのを防止することができる。このような本発明に係るＩＣソケットは、プランジャの側面の加工工数を減らした結果として、製造コストを低減することが可能になった。

本発明の第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットを示す図であり、図１（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部断面図（図１（ｂ）のＡ１−Ａ１線に沿って切断して示す断面図）、図１（ｂ）は一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケットの一部正面図、図１（ｃ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部平面図である。 本発明の第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットと電子部品との関係を簡略化して示す図であり、図２（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケット及び電子部品の一部断面図（図２（ｂ）のＡ２−Ａ２線に沿って切断して示す断面図）、図２（ｂ）は一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケット及び電子部品の一部正面図である。 本発明の第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブを示す図であり、図３（ａ）はプローブの正面図、図３（ｂ）はプローブの一部を破断して示す右側面図、図３（ｃ）はプローブの左側面図、図３（ｄ）はプローブの平面図である。 本発明の第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す図であり、図４（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す一部断面図（図４（ｂ）のＡ３−Ａ３線に沿って切断して示す断面図）、図４（ｂ）は一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す一部正面図、図４（ｃ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す一部平面図である。 ケルビン検査用ＩＣソケット１の組立状態を示す図であり、図５（ａ）は一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケットの一部正面図、図５（ｂ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部平面図である。 本発明の第２実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットを示す図であり、図６（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部断面図（図６（ｂ）のＡ４−Ａ４線に沿って切断して示す断面図）、図６（ｂ）は一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケットの一部正面図、図６（ｃ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部平面図である。 本発明の第２実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブを示す図であり、図７（ａ）はプローブの正面図、図７（ｂ）はプローブの一部を破断して示す右側面図、図７（ｃ）はプローブの左側面図、図７（ｄ）はプローブの平面図である。 本発明の第２実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ収容孔の一端側を示す図であり、図８（ａ）はプローブ収容孔の一端側の平面図、図８（ｂ）は図８（ａ）のＡ５−Ａ５線に沿って切断して示すプローブ収容孔の断面図である。 本発明の第２実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す図であり、図９（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す一部平面図、図９（ｂ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す断面図（図９（ａ）のＡ６−Ａ６線に沿って切断して示す断面図）。 本発明の第３実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットを示す図であり、図１０（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部断面図（図１０（ｂ）のＡ７−Ａ７線に沿って切断して示す断面図）、図１０（ｂ）は一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケットの一部正面図、図１０（ｃ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部平面図である。 本発明の第３実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブを示す図であり、図１１（ａ）はプローブの正面図、図１１（ｂ）はプローブの一部を破断して示す右側面図、図１１（ｃ）はプローブの左側面図、図１１（ｄ）はプローブの平面図である。 本発明の第３実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す図であり、図１２（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す一部平面図、図１２（ｂ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す断面図（図１２（ａ）のＡ８−Ａ８線に沿って切断して示す断面図）である。 本発明の第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットを示す図であり、図１３（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部断面図（図１３（ｂ）のＡ９−Ａ９線に沿って切断して示す断面図）、図１３（ｂ）は一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケットの一部正面図、図１３（ｃ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部平面図である。 本発明の第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブを示す図であり、図１４（ａ）はプローブの正面図、図１４（ｂ）はプローブの一部を破断して示す右側面図、図１４（ｃ）はプローブの左側面図、図１４（ｄ）はプローブの平面図である。 本発明の第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す図であり、図１５（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す一部平面図、図１５（ｂ）は図１５（ａ）のＡ１０−Ａ１０線に沿って切断して示すケルビン検査用ＩＣソケットの断面図、図１５（ｃ）は図１５（ｂ）のＡ１１−Ａ１１線に沿って切断して示すケルビン検査用ＩＣソケットの断面図である。 本発明の第５実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットを示す図であり、図１６（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部断面図（図１６（ｂ）のＡ１２−Ａ１２線に沿って切断して示す断面図）、図１６（ｂ）は一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケットの一部正面図、図１６（ｃ）はケルビン検査用ＩＣソケットの一部平面図である。 本発明の第５実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブを示す図であり、図１７（ａ）はプローブの正面図、図１７（ｂ）はプローブの一部を破断して示す右側面図、図１７（ｃ）はプローブの左側面図、図１７（ｄ）はプローブの平面図である。 本発明の第５実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す図であり、図１８（ａ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す一部平面図、図１８（ｂ）はケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す断面図（図１８（ａ）のＡ１３−Ａ１３線に沿って切断して示す断面図）である。 図１９（ａ）は従来例に係るケルビン検査用ＩＣソケットの一部断面図であり、図１９（ｂ）は従来例に係るケルビン検査用ＩＣソケットと電子部品との関係を簡略化して示す図である。 従来例に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブを示す図であり、図２０（ａ）は一部を破断して示すプローブの側面図、図２０（ｂ）はプローブの平面図である。 図２１（ａ）は図１９（ａ）に示した従来例に係るケルビン検査用ＩＣソケットの一部平面図であり、図２１（ｂ）はプローブ収容孔へのプローブの挿入状態を示す図である。 図２２（ａ）は従来例に係るケルビン検査用ＩＣソケットのプローブ誤挿入状態を示す平面図であり、図２２（ｂ）はプローブ挿入孔へのプローブの誤挿入状態を示す図である。

以下、本発明の実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケットを図面に基づき詳述する。

［第１実施形態］
図１は、本発明の第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１を示す図である。また、図２は、本発明の第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１と電子部品２との関係を簡略化して示す図である。なお、図１（ａ）は、ケルビン検査用ＩＣソケット１の一部断面図（図１（ｂ）のＡ１−Ａ１線に沿って切断して示す断面図）である。また、図１（ｂ）は、一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケット１の一部正面図である。また、図１（ｃ）は、ケルビン検査用ＩＣソケット１の一部平面図である。また、図２（ａ）は、ケルビン検査用ＩＣソケット１及び電子部品２の一部断面図（図２（ｂ）のＡ２−Ａ２線に沿って切断して示す断面図）である。また、図２（ｂ）は、一部を破断して示すケルビン検査用ＩＣソケット１及び電子部品２の一部正面図である。

図１及び図２に示すように、ケルビン検査用ＩＣソケット１は、電子部品２の端子３に接触する一対のプローブ４，４が端子３の数に対応して配置され、各プローブ４が絶縁性樹脂材料製のソケット本体５に形成したプローブ収容孔６内にそれぞれ収容されている。なお、本実施形態において、一対のプローブ４，４は、従来例の一対のプローブ１０３，１０３と同様に、一方が電流を供給するためのフォースコンタクトプローブであり、他方が電圧を監視するためのセンスコンタクトプローブである。また、ソケット本体５は、射出成形等により形成される。

また、図１及び図２に示すように、ケルビン検査用ＩＣソケット１は、プローブ４の円筒状のチューブ７がソケット本体５のプローブ収容孔６内に収容され、プローブ４の先端側（電子部品２の端子３側である上端側）に位置するプランジャ８の一部がソケット本体５の上方に突出するようになっている。なお、ソケット本体５は、第１ソケット本体ブロック５Ａ、第２ソケット本体ブロック５Ｂ、及び第３ソケット本体ブロック５Ｃからなる構成を例示しているが、これに限定されるものではなく、全体を２ブロックに分割してもよく、また、全体を４ブロック以上に分割してもよい。

図１乃至図３に示すように、プローブ４は、導電性金属材料製の円筒状のチューブ７と、このチューブ７内の一端側（上端側）に基端部１０が組み付けられた導電性金属材料製のプランジャ８と、このプランジャ８及びチューブ７を常時上方（電子部品２の端子３側）へ向けて付勢するコイルスプリング（ばね部材）１１と、このコイルスプリング１１のばね力で基板１２上の電極１３に押し付けられる導電性金属材料製の電極接触部材１４と、を有している。

プランジャ８は、基端部１０がチューブ７内にかしめ固定されている。そして、このプランジャ８は、ソケット本体５に形成されたプランジャガイド孔１５に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部１６が形成されると共に、プローブ４の中心軸４ａに沿った方向の高さ位置が異なる第１位置決め面１７と第２位置決め面１８とが形成されている。

プランジャ８のスライダ部１６は、丸棒材２０を径方向一端側から中心軸４ａ側に向けて切除すると共に、丸棒材２０を径方向他端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって、プローブ４の中心軸４ａに直交する断面形状（図１（ｃ）及び図３（ｄ）の平面視した形状）が略矩形形状に形成されると共に、プランジャ８の先端側からプローブ４の中心軸４ａに沿って延びる一対の側面２１，２１が形成されている。なお、スライダ部１６は、平行な一対の側面２１，２１と、これら平行な一対の側面２１，２１同士を接続する一対の曲面２２，２２（丸棒材２０の一部外表面）とで構成されている。

プランジャ８の第１位置決め面１７は、丸棒材２０を径方向一端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって形成され、スライダ部１６の一対の側面２１，２１の一方側下端に位置している。また、プランジャ８の第２位置決め面１８は、丸棒材２０を径方向他端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって形成され、スライダ部１６の一対の側面２１，２１の他方側下端に位置し、且つ、第１位置決め面１７よりもプランジャ８の先端２３から離れて位置している。

スライダ部１６の先端面２４（図１乃至図３における上端面）は、平面視した形状が略矩形形状の長手方向の一端側（一方の曲面２２側）から長手方向の他端側（他方の曲面２２側）に向かって高さ位置を漸減する傾斜面になっている。そして、このスライダ部１６の先端面２４は、傾斜面の上端側が三角状に尖っており、この三角状に尖った頂点がプランジャ８の先端２３になっている。このプランジャ８の先端２３は、スライダ部１６の一方の曲面２２における上端縁で且つ一方の曲面２２の周方向中央部分に位置しており、プローブ４の中心軸４ａに対してずれて位置している。

このような構成の一対のプローブ４，４は、同一形状であり、プローブ４の中心軸４ａに直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態でプローブ収容孔６に収容されることにより、プランジャ８の先端２３同士が最も接近する正しい姿勢（一対のプランジャ８，８の先端２３，２３が背中合わせで位置する姿勢）が保持されるようになっている。

ソケット本体５のプランジャガイド孔１５は、プローブ収容孔６の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部２５に形成され、プローブ収容孔６の一部を成している。そして、このプランジャガイド孔１５は、図１（ｃ）に示すように、平面視した形状がプランジャ８のスライダ部１６と同様の略矩形形状になっている。

ソケット本体５のプローブ収容孔６は、プローブ４が正しい姿勢で挿入された場合、第１位置決め面１７が当接可能な第１突き当て突起（プランジャ突出量制限部）２６と、第２位置決め面１８が当接可能な第２突き当て突起２７（プランジャ突出量制限部）とが形成されている。そして、図１に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が正しい姿勢で挿入された場合に、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法だけ突出させるようになっている。また、図４に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が誤った姿勢（プランジャ８の先端２３同士が背中合わせで位置しない姿勢）で挿入された場合に、第１位置決め面１７が第２突き当て突起２７に当接し、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法よりも小さく突出させるようになっている。なお、図４に示すように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プローブ４が誤った姿勢でプローブ収容孔６に挿入された場合、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法よりも小さく突出させる構成を例示しているが、これに限定されず、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から突出させないように第１位置決め面１７と第２突き当て突起２７を形成するようにしてもよい。

図５は、ケルビン検査用ＩＣソケット１の組立状態を示す図であり、一対のプローブ４，４の一方が誤った姿勢でプローブ収容孔６に挿入された状態を示す図である。この図５に示すように、第１ソケット本体ブロック５Ａ上に第２ソケット本体ブロック５Ｂが組み付けられた後、第２ソケット本体ブロック５Ｂの上方からプローブ収容孔６，６内に一対のプローブ４，４が挿入される。この際、一対のプローブ４，４の一方が他方に対して誤った姿勢で第２ソケット本体ブロック５Ｂ及び第１ソケット本体ブロック５Ａのプローブ収容孔６内に挿入されると、一対のプローブ４，４の一方の先端２３がプローブ収容孔６内から突出しないか、又はプローブ収容孔６内からの突出量が少なくなる。これにより、ケルビン検査用ＩＣソケット１の組立時において、一対のプローブ４，４の一方の後端（電極接触部材１４）が一対のプローブ４，４の他方の後端（電極接触部材１４）よりも第２ソケット本体ブロック５Ｂから多く突出し、一対のプローブ４，４の一方が誤った姿勢でプローブ収容孔６内に挿入されたことを作業者に視認させることができ、プローブ４が第１ソケット本体ブロック５Ａ及び第２ソケット本体ブロック５Ｂに誤って組み付けられるのを防止することができる。そして、ケルビン検査用ＩＣソケット１は、全てのプローブ４が第１ソケット本体ブロック５Ａ及び第２ソケット本体ブロック５Ｂのプローブ収容孔６に挿入された後、第３ソケット本体ブロック５Ｃが第２ソケット本体ブロック５Ｂ上に組み付けられて、全体の組立作業が完了する。組立完了後、ケルビン検査用ＩＣソケット１は、上下を反転させ、基板１２上に設置されて使用される（図１参照）。

以上のような構成の本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ１０６の側面１１５，１１５，１１６が３箇所加工された従来例（図２０参照）と比較し、プランジャ８の側面２１の加工箇所が２箇所であり、プランジャ８の側面２１の加工工数を減らしても、プローブ４がソケット本体５のプローブ収容孔６内に誤った姿勢で組み付けられるのを防止することができる。このように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ８の側面２１の加工工数を従来例よりも少なくした結果、製造コストを従来例よりも少なくすることができた。

［第２実施形態］
図６は、本発明の第２実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１を示す図であり、図１に対応する図である。図７は、本発明の第２実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４を示す図であり、図３に対応する図である。なお、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、図１に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１と同様の構成部分に同一符号を付し、第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１の説明と重複する説明を省略する。また、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４は、図３に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４と同様の構成部分に同一符号を付し、第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４の説明と重複する説明を省略する。

図６及び図７に示すように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１において、プランジャ８は、ソケット本体５に形成されたプランジャガイド孔１５に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部１６が形成されると共に、プローブ４の中心軸４ａに沿った方向の高さ位置が変化する一対の位置決め傾斜面２８，２８が形成されている。

プランジャ８のスライダ部１６は、丸棒材２０を径方向一端側から中心軸４ａ側に向けて切除すると共に、丸棒材２０を径方向他端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって、プローブ４の中心軸４ａに直交する断面形状が略矩形形状に形成されると共に、プランジャ８の先端２３側からプローブ４の中心軸４ａに沿って延びる一対の側面２１，２１が形成されている。なお、スライダ部１６は、平行な一対の側面２１，２１と、これら平行な一対の側面２１，２１同士を接続する一対の曲面２２，２２（丸棒材２０の一部外表面）とで構成されている。

プランジャ８の一対の位置決め傾斜面２８，２８は、丸棒材２０を径方向一端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって一対の位置決め傾斜面２８，２８の一方が形成され、この一対の位置決め傾斜面２８，２８の一方がスライダ部１６の一対の側面２１，２１の一方側下端に位置し、丸棒材２０を径方向他端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって一対の位置決め傾斜面２８，２８の他方が形成され、この一対の位置決め傾斜面２８，２８の他方がスライダ部１６の一対の側面２１，２１の他方側下端に位置している。

スライダ部１６の先端面２４（図６における上端面）は、平面視した形状が略矩形形状の長手方向の一端側（一方の曲面２２側）から長手方向の他端側（他方の曲面２２側）に向かって高さ位置を漸減する傾斜面になっている。そして、このスライダ部１６の先端面２４は、傾斜面の頂点がプランジャ８の先端２３になっている。このプランジャ８の先端２３は、スライダ部１６の一方の曲面２２における上端縁で且つ一方の曲面２２の周方向中央部分に位置しており、プローブ４の中心軸４ａに対してずれて位置している。

このような構成の一対のプローブ４，４は、同一形状であり、プローブ４の中心軸４ａに直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態でプローブ収容孔６に収容されることにより、プランジャ８の先端２３同士が最も接近する正しい姿勢（一対のプランジャ８，８の先端２３，２３が背中合わせで位置する姿勢）が保持されるようになっている。

ソケット本体５のプランジャガイド孔１５は、プローブ収容孔６の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部２５に形成され、プローブ収容孔６の一部を成している。そして、このプランジャガイド孔１５は、図６（ｃ）に示すように、平面視した形状がプランジャ８のスライダ部１６と同様の略矩形形状になっている。

図６及び図８に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が正しい姿勢で挿入された場合、一対の位置決め傾斜面２８，２８と同一の傾斜角になる突き当て傾斜面３０ａを有する一対の突き当て突起（プランジャ突出量制限部）３０，３０が形成されている。そして、図６に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が正しい姿勢で挿入された場合に、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法だけ突出させるようになっている。また、図９に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が誤った姿勢（プランジャ８の先端２３同士が背中合わせで位置しない姿勢）で挿入された場合に、一対の位置決め傾斜面２８，２８と突き当て傾斜面３０ａ，３０ａとが逆の傾斜角になり、一対の位置決め傾斜面２８，２８のうちでプランジャ８の先端２３に最も近い位置を一対の位置決め傾斜面２８，２８の最も高い位置とすると、一対の位置決め傾斜面２８，２８の最も高い位置が一対の突き当て突起３０，３０における突き当て傾斜面３０ａ，３０ａの最も低い位置に当接し、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法よりも小さく突出させる。なお、図９に示すように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プローブ４が誤った姿勢でプローブ収容孔６に挿入された場合、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法よりも小さく突出させる構成を例示しているが、これに限定されず、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から突出させないように、一対の位置決め傾斜面８，２８と一対の突き当て突起３０，３０を形成するようにしてもよい。

このような本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、図５に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１の組立状態と同様に、一対のプローブ４，４の一方が他方に対して誤った姿勢で第２ソケット本体ブロック５Ｂ及び第１ソケット本体ブロック５Ａのプローブ収容孔６内に挿入されると、一対のプローブ４，４の一方の先端２３がプローブ収容孔６内から突出しないか、又はプローブ収容孔６内からの突出量が少なくなる。これにより、ケルビン検査用ＩＣソケット１の組立時において、一対のプローブ４，４の一方の後端（電極接触部材１４）が一対のプローブ４，４の他方の後端（電極接触部材１４）よりも第２ソケット本体ブロック５Ｂから多く突出し、一対のプローブ４，４の一方が誤った姿勢でプローブ収容孔６内に挿入されたことを作業者に視認させることができ、プローブ４が第１ソケット本体ブロック５Ａ及び第２ソケット本体ブロック５Ｂに誤って組み付けられるのを防止することができる。

以上のような構成の本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ１０６の側面１１５，１１５，１１６が３箇所加工された従来例と比較し（図２０参照）、プランジャ８の側面２１の加工箇所が２箇所であり、プランジャ８の側面２１の加工工数を減らしても、プローブ４がソケット本体５のプローブ収容孔６内に誤った姿勢で組み付けられるのを防止することができる。このように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ８の側面２１の加工工数を従来例よりも少なくした結果、製造コストを従来例よりも少なくすることができた。

［第３実施形態］
図１０は、本発明の第３実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１を示す図であり、図１に対応する図である。図１１は、本発明の第３実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４を示す図であり、図３に対応する図である。なお、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、図１に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１と同様の構成部分に同一符号を付し、第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１の説明と重複する説明を省略する。また、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４は、図３に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４と同様の構成部分に同一符号を付し、第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４の説明と重複する説明を省略する。

図１０及び図１１に示すように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１において、プランジャ８は、ソケット本体５に形成されたプランジャガイド孔１５に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部１６が形成されると共に、プランジャガイド孔１５からのプローブ４の突出量を決定する一対の位置決め面３１，３１が形成されている。

プランジャ８のスライダ部１６は、丸棒材２０を径方向一端側から中心軸４ａ側に向けて切除すると共に、丸棒材２０を径方向他端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって、プローブ４の中心軸４ａに直交する断面形状が略三角形状に形成され、プランジャ８の先端２３側からプローブ４の中心軸４ａに沿って延びる一対の側面２１，２１が形成されている。なお、スライダ部１６は、一対の側面２１，２１と、これら一対の側面２１，２１同士を接続する一対の曲面２２ａ，２２ｂ（丸棒材２０の一部外表面）とで構成されている。

プランジャ８の一対の位置決め面３１，３１は、丸棒材２０を径方向一端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって一対の位置決め面３１，３１の一方が形成され、この一対の位置決め面３１，３１の一方がスライダ部１６の一対の側面２１，２１の一方側下端に位置し、丸棒材２０を径方向他端側から中心軸４ａ側に向けて切除することによって一対の位置決め面３１，３１の他方が形成され、この一対の位置決め面３１，３１の他方がスライダ部１６の一対の側面２１，２１の他方側下端に位置している。

スライダ部１６の先端面２４（図１０における上端面）は、平面視した形状が略三角形状の長手方向の一端側（一方の曲面２２ａ側）から長手方向の他端側（他方の曲面２２ｂ側）に向かって高さ位置を漸減する傾斜面になっている。そして、このスライダ部１６の先端面２４は、傾斜面の頂点がプランジャ８の先端２３になっている。このプランジャ８の先端２３は、スライダ部１６の一方の曲面２２ａにおける上端縁で且つ一方の曲面２２ａの周方向中央部分に位置しており、プローブ４の中心軸４ａに対してずれて位置している。

このような構成の一対のプローブ４，４は、同一形状であり、プローブ４の中心軸４ａに直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態でプローブ収容孔６に収容されることにより、プランジャ８の先端２３同士が最も接近する正しい姿勢（一対のプランジャ８の先端２３が背中合わせで位置する姿勢）が保持されるようになっている。

ソケット本体５のプランジャガイド孔１５は、プローブ収容孔６の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部２５に形成され、プローブ収容孔６の一部を成している。そして、このプランジャガイド孔１５は、図１０（ｃ）に示すように、平面視した形状がプランジャ８のスライダ部１６と同様の略三角形状になっている。

図１０に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が正しい姿勢で挿入された場合に一対の位置決め面３１，３１をプランジャガイド部（プランジャ突出量制限部）２５，２５に当接させて、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法だけ突出させるようになっている。また、図１２に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が誤った姿勢（プランジャ８の先端２３同士が背中合わせで位置しない姿勢）で挿入された場合に、プランジャ８の先端２３側をプランジャガイド部（プランジャ突出量制限部）２５に当接させて、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法よりも小さく突出させる。なお、図１２は、プローブ４が誤った姿勢でプローブ収容孔６に挿入された場合、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法よりも小さく突出させる構成を例示しているが、これに限定されず、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から突出させないように、プランジャガイド部２５の厚さ（プローブ４の中心軸４ａに沿った方向の肉厚）に形成するようにしてもよい。

このような本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、図５に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１の組立状態と同様に、一対のプローブ４，４の一方が他方に対して誤った姿勢で第２ソケット本体ブロック５Ｂ及び第１ソケット本体ブロック５Ａのプローブ収容孔６内に挿入されると、一対のプローブ４，４の一方の先端２３がプローブ収容孔６内から突出しないか、又はプローブ収容孔６内からの突出量が少なくなる。これにより、ケルビン検査用ＩＣソケット１の組立時において、一対のプローブ４，４の一方の後端（電極接触部材１４）が一対のプローブ４，４の他方の後端（電極接触部材１４）よりも第２ソケット本体ブロック５Ｂから多く突出し、一対のプローブ４，４の一方が誤った姿勢でプローブ収容孔６内に挿入されたことを作業者に視認させることができ、プローブ４が第１ソケット本体ブロック５Ａ及び第２ソケット本体ブロック５Ｂに誤って組み付けられるのを防止することができる。

以上のような構成の本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ１０６の側面１１５，１１５，１１６が３箇所加工された従来例と比較し（図２０参照）、プランジャ８の側面２１の加工箇所が２箇所であり、プランジャ８の側面２１の加工工数を減らしても、プローブ４がソケット本体５のプローブ収容孔６内に誤って組み付けられるのを防止することができる。このように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ８の側面２１の加工工数を従来例よりも少なくした結果、製造コストを従来例よりも少なくすることができた。

［第４実施形態］
図１３は、本発明の第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１を示す図であり、図１に対応する図である。図１４は、本発明の第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４を示す図であり、図３に対応する図である。なお、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、図１に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１と同様の構成部分に同一符号を付し、第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１の説明と重複する説明を省略する。また、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４は、図３に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４と同様の構成部分に同一符号を付し、第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４の説明と重複する説明を省略する。

図１３及び図１４に示すように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１において、プランジャ８は、ソケット本体５に形成されたプランジャガイド孔１５に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部１６が形成されると共に、プランジャガイド孔１６からのプローブ４の突出量を決定する位置決め面３２が形成されている。

プランジャ８のスライダ部１６は、丸棒材２０を径方向一端側から中心軸４ａまで切除することによって、プローブ４の中心軸４ａに直交する断面形状が半円形状に形成され、プランジャ８の先端２３側からプローブ４の中心軸４ａに沿って延びる側面（平面）２１が形成されている。なお、スライダ部１６は、側面（平面）２１と曲面２２（丸棒材２０の外周面を周方向に沿って２分割した曲面）とを有している。

プランジャ８の位置決め面３２は、丸棒材２０を径方向一端側から中心軸４ａまで切除することによって側面２１の下端側に形成され、プローブ４の中心軸４ａに直交するように形成されており、平面視した形状が半円形状になっている。

スライダ部１６の先端面２４（図１３における上端面）は、平面視した形状が半円形状の直径方向一端側から直径方向他端側に向かって高さ位置を漸減する傾斜面になっている。そして、このスライダ部１６の先端面２４は、傾斜面の頂点がプランジャ８の先端２３になっている。このプランジャ８の先端２３は、平面視した形状が半円形状の先端面２４の直径方向一端側に位置しており、プローブ４の中心軸４ａに対してずれて位置している。

このような構成の一対のプローブ４，４は、同一形状であり、プローブ４の中心軸４ａに直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態でプローブ収容孔６に収容されることにより、プランジャ８の先端２３同士が最も接近する正しい姿勢（一対のプランジャ８の先端２３が背中合わせで位置する姿勢）が保持されるようになっている。

ソケット本体５のプランジャガイド孔１５は、プローブ収容孔６の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部２５に形成され、プローブ収容孔６の一部を成している。そして、このプランジャガイド孔１５は、図１３（ｃ）に示すように、平面視した形状がプランジャ８のスライダ部１６と同様の半円形状になっている。

図１３に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が正しい姿勢で挿入された場合に、プランジャ８の位置決め面３２をプランジャガイド部（プランジャ突出量制限部）２５に当接させて、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法だけ突出させるようになっている。また、図１５に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が誤った姿勢（プランジャ８の先端２３同士が背中合わせで位置しない姿勢）で挿入された場合に、プランジャ８の先端２３側をプランジャガイド部（プランジャ突出量制限部）２５に当接させて、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から突出させないようになっている。

このような本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、図５に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１の組立状態と同様に、一対のプローブ４，４の一方が他方に対して誤った姿勢で第２ソケット本体ブロック５Ｂ及び第１ソケット本体ブロック５Ａのプローブ収容孔６内に挿入されると、一対のプローブ４，４の一方の先端２３がプローブ収容孔６内から突出しない。これにより、ケルビン検査用ＩＣソケット１の組立時において、一対のプローブ４，４の一方の後端（電極接触部材１４）が一対のプローブ４，４の他方の後端（電極接触部材１４）よりも第２ソケット本体ブロック５Ｂから多く突出し、一対のプローブ４，４の一方が誤った姿勢でプローブ収容孔６内に挿入されたことを作業者に視認させることができ、プローブ４が第１ソケット本体ブロック５Ａ及び第２ソケット本体ブロック５Ｂに誤って組み付けられるのを防止することができる。

以上のような構成の本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ１０６の側面１１５，１１５，１１６が３箇所加工された従来例と比較し（図２０参照）、プランジャ８の側面２１の加工箇所が１箇所であり、プランジャ８の側面２１の加工工数を減らしても、プローブ４がソケット本体５のプローブ収容孔６内に誤った姿勢で組み付けられるのを防止することができる。このように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ８の側面２１の加工工数を従来例よりも少なくした結果、製造コストを従来例よりも少なくすることができた。

［第５実施形態］
図１６は、本発明の第５実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１を示す図であり、図１３に示したケルビン検査用ＩＣソケット１の変形例を示す図である。図１７は、本発明の第５実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４を示す図であり、図１４に示したケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４の変形例を示す図である。なお、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、図１３に示した第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１と同様の構成部分に同一符号を付し、第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１の説明と重複する説明を省略する。また、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４は、図１４に示した第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４と同様の構成部分に同一符号を付し、第４実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１のプローブ４の説明と重複する説明を省略する。

スライダ部１６の先端面２４（図１６における上端面）は、平面視した形状が半円形状の周方向中央位置からプローブ４の中心軸４ａに向かって高さ位置を漸減する傾斜面になっている。そして、このスライダ部１６の先端面２４は、傾斜面の頂点がプランジャ８の先端２３になっている。このプランジャ８の先端２３は、平面視した形状が半円形状の先端面２４の周方向中央に位置しており、プローブ４の中心軸４ａに対してずれて位置している。

このような構成の一対のプローブ４，４は、同一形状であり、プローブ４の中心軸４ａに直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態でプローブ収容孔６に収容されることにより、プランジャ８の先端２３同士が最も接近する正しい姿勢（一対のプランジャ８の先端２３が背中合わせで位置する姿勢）が保持されるようになっている。

ソケット本体５のプランジャガイド孔１５は、プローブ収容孔６の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部２５に形成され、プローブ収容孔６の一部を成している。そして、このプランジャガイド孔１５は、図１６（ｃ）に示すように、平面視した形状がプランジャ８のスライダ部１６と同様の半円形状になっている。

図１６に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が正しい姿勢で挿入された場合に位置決め面３３をプランジャガイド部（プランジャ突出量制限部）２５に当接させて、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から設計寸法だけ突出させるようになっている。また、図１８に示すように、プローブ収容孔６は、プローブ４が誤った姿勢（プランジャ８の先端２３同士が背中合わせで位置しない姿勢）で挿入された場合に、プランジャ８の先端２３側をプランジャガイド部（プランジャ突出量制限部）２５に当接させて、プランジャ８をプランジャガイド孔１５から突出させないようになっている。

このような本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、図５に示した第１実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１の組立状態と同様に、一対のプローブ４，４の一方が他方に対して誤った姿勢で第２ソケット本体ブロック５Ｂ及び第１ソケット本体ブロック５Ａのプローブ収容孔６内に挿入されると、一対のプローブ４，４の一方の先端２３がプローブ収容孔６内から突出しない。これにより、ケルビン検査用ＩＣソケット１の組立時において、一対のプローブ４，４の一方の後端（電極接触部材１４）が一対のプローブ４，４の他方の後端（電極接触部材１４）よりも第２ソケット本体ブロック５Ｂから多く突出し、一対のプローブ４，４の一方が誤った姿勢でプローブ収容孔６内に挿入されたことを作業者に視認させることができ、プローブ４が第１ソケット本体ブロック５Ａ及び第２ソケット本体ブロック５Ｂに誤って組み付けられるのを防止することができる。

以上のような構成の本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ１０６の側面１１５，１１５，１１６が３箇所加工された従来例と比較し（図２０参照）、プランジャ８の側面２１の加工箇所が１箇所であり、プランジャ８の側面２１の加工工数を減らしても、プローブ４がソケット本体５のプローブ収容孔６内に誤って組み付けられるのを防止することができる。このように、本実施形態に係るケルビン検査用ＩＣソケット１は、プランジャ８の側面２１の加工工数を従来例よりも少なくした結果、製造コストを従来例よりも少なくすることができた。

［その他の実施形態］
本発明に係るＩＣソケットは、ケルビン検査用ＩＣソケットを例にして説明したが、ケルビン検査用に限定されず、電子部品の各端子毎に１本のプローブを配置し、電子部品の一般的な通電テスト用として使用することができる。

１……ケルビン検査用ＩＣソケット（ＩＣソケット）、２……電子部品、３……端子、４……プローブ、４ａ……中心軸、５……ソケット本体、６……プローブ収容孔、７……チューブ、８……プランジャ、１１……コイルスプリング（ばね部材）、１５……プランジャガイド孔、１６……スライダ部、２０……丸棒材、２１……側面、２３……先端、２５……プランジャガイド部（プランジャ突出量制限部）、２６……第１突き当て突起（プランジャ突出量制限部）、２７……第２突き当て突起（プランジャ突出量制限部）、３０……突き当て突起（プランジャ突出量制限部）

Claims (5)

1. 電子部品の電気的テストに使用されるＩＣソケットにおいて、
   前記電子部品の端子に接触するプローブと、前記プローブを収容するプローブ収容孔が形成されたソケット本体と、を有し、
   前記プローブは、前記ソケット本体の前記プローブ収容孔内に収容されるチューブと、前記チューブの一端側に組み付けられ、前記チューブ内に収容されたばね部材で付勢されて前記電子部品の前記端子に先端が接触するプランジャと、を有し、
   前記プランジャは、前記ソケット本体に形成されたプランジャガイド孔に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部が形成され、
   前記プランジャガイド穴は、前記プローブ収容孔の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部に形成され、前記プローブ収容孔の一部を成し、
   前記スライダ部は、丸棒材を径方向一端側から中心側に向けて切除することにより形成された一側面で且つ前記プランジャの先端側から前記プローブの中心軸に沿って延びる一側面を有するか、又は丸棒材を径方向一端側及び径方向他端側から中心側に向けて切除することにより形成された一対の側面で且つ前記プランジャの先端側から前記プローブの中心軸に沿って延びる一対の側面を有し、
   前記スライダ部の一側面又は前記スライダ部の一対の側面は、前記プランジャガイド孔に係合され、
   前記ソケット本体は、前記プローブが前記プローブ収容孔に正しい姿勢で挿入された場合に、前記プランジャに当接して、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から設計寸法だけ突出させ、前記プローブが前記プローブ収容孔に誤った姿勢で挿入された場合に、前記プランジャに当接して、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から突出させないか又は前記設計寸法よりも小さく突出させるプランジャ突出量制限部を有する、
   ことを特徴とするＩＣソケット。
2. 電子部品の電気的テストに使用されるＩＣソケットにおいて、
   前記電子部品の端子に接触するフォースコンタクトプローブとセンスコンタクトプローブとからなる同一形状の一対のプローブと、前記プローブを収容するプローブ収容孔が形成されたソケット本体と、を有し、
   前記プローブは、前記ソケット本体の前記プローブ収容孔内に収容されるチューブと、前記チューブの一端側に組み付けられ、前記チューブ内に収容されたばね部材で付勢されて前記電子部品の前記端子に先端が接触するプランジャとを備え、
   前記プランジャは、前記ソケット本体に形成されたプランジャガイド孔に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部が形成されると共に、前記プローブの中心軸に沿った方向の高さ位置が異なる第１位置決め面と第２位置決め面とが形成され、
   前記プランジャガイド孔は、前記プローブ収容孔の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部に形成され、前記プローブ収容孔の一部を成し、
   前記スライダ部は、丸棒材を径方向一端側から中心側に向けて切除すると共に、前記丸棒材を径方向他端側から中心側に向けて切除することによって、前記プローブの中心軸に直交する断面形状が略矩形形状に形成され、前記プランジャの先端側から前記プローブの中心軸に沿って延びる一対の側面を有し、
   前記第１位置決め面は、前記丸棒材を径方向一端側から中心側に向けて切除することによって形成され、前記スライダ部の前記一対の側面の一方側に位置し、
   前記第２位置決め面は、前記丸棒材を径方向他端側から中心側に向けて切除することによって形成され、前記スライダ部の前記一対の側面の他方側に位置し、且つ、前記第１位置決め面よりも前記プランジャの前記先端から離れて位置し、
   前記プランジャの前記先端は、前記プローブの中心軸に対してずれて位置し、
   前記一対のプローブは、前記プローブの中心軸に直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態で前記プローブ収容孔に収容されることにより、前記プランジャの前記先端同士が最も接近する正しい姿勢が保持され、
   前記プローブ収容孔は、前記プローブが正しい姿勢で挿入された場合に前記第１位置決め面が当接可能な第１突き当て突起と前記第２位置決め面が当接可能な第２突き当て突起とが形成されており、前記プローブが正しい姿勢で挿入された場合に、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から設計寸法だけ突出させ、前記プローブが誤った姿勢で挿入された場合に、前記第１位置決め面が前記第２突き当て突起に当接し、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から突出させないか又は前記設計寸法よりも小さく突出させる、
   ことを特徴とするＩＣソケット。
3. 電子部品の電気的テストに使用されるＩＣソケットにおいて、
   前記電子部品の端子に接触するフォースコンタクトプローブとセンスコンタクトプローブとからなる同一形状の一対のプローブと、前記プローブを収容するプローブ収容孔が形成されたソケット本体と、を有し、
   前記プローブは、前記ソケット本体の前記プローブ収容孔内に収容されるチューブと、前記チューブの一端側に組み付けられ、前記チューブ内に収容されたばね部材で付勢されて前記電子部品の前記端子に先端が接触するプランジャとを備え、
   前記プランジャは、前記ソケット本体に形成されたプランジャガイド孔に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部が形成されると共に、前記プローブの中心軸に沿った方向の高さ位置が変化する一対の位置決め傾斜面が形成され、
   前記プランジャガイド孔は、前記プローブ収容孔の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部に形成され、前記プローブ収容孔の一部を成し、
   前記スライダ部は、丸棒材を径方向一端側から中心側に向けて切除すると共に、前記丸棒材を径方向他端側から中心側に向けて切除することによって、前記プローブの中心軸に直交する断面形状が略矩形形状に形成され、前記プランジャの先端側から前記プローブの中心軸に沿って延びる一対の側面を有し、
   前記一対の位置決め傾斜面は、前記丸棒材を径方向一端側から中心側に向けて切除することによって前記一対の位置決め傾斜面の一方が形成され、この一対の位置決め傾斜面の一方が前記スライダ部の前記一対の側面の一方側に位置し、前記丸棒材を径方向他端側から中心側に向けて切除することによって前記一対の位置決め傾斜面の他方が形成され、この一対の位置決め傾斜面の他方が前記スライダ部の前記一対の側面の他方側に位置し、
   前記プランジャの前記先端は、前記プローブの中心軸に対してずれて位置し、
   前記一対のプローブは、前記プローブの中心軸に直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態で前記プローブ収容孔に収容されることにより、前記プランジャの前記先端同士が最も接近する正しい姿勢が保持され、
   前記プローブ収容孔は、前記プローブが正しい姿勢で挿入された場合に前記一対の位置決め傾斜面と同一の傾斜角になる突き当て傾斜面を有する一対の突き当て突起が形成されおり、前記プローブが正しい姿勢で挿入された場合に、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から設計寸法だけ突出させ、前記プローブが誤った姿勢で挿入された場合に、前記一対の位置決め傾斜面と前記突き当て傾斜面とが逆の傾斜角になり、前記一対の位置決め傾斜面のうちで前記プランジャの前記先端に最も近い位置を前記一対の位置決め傾斜面の最も高い位置とすると、前記一対の位置決め傾斜面の最も高い位置が前記一対の突き当て突起における前記突き当て傾斜面の最も低い位置に当接し、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から突出させないか又は前記設計寸法よりも小さく突出させる、
   ことを特徴とするＩＣソケット。
4. 電子部品の電気的テストに使用されるＩＣソケットにおいて、
   前記電子部品の端子に接触するフォースコンタクトプローブとセンスコンタクトプローブとからなる同一形状の一対のプローブと、前記プローブを収容するプローブ収容孔が形成されたソケット本体と、を有し、
   前記プローブは、前記ソケット本体の前記プローブ収容孔内に収容されるチューブと、前記チューブの一端側に組み付けられ、前記チューブ内に収容されたばね部材で付勢されて前記電子部品の前記端子に先端が接触するプランジャとを備え、
   前記プランジャは、前記ソケット本体に形成されたプランジャガイド孔に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部が形成されると共に、前記プランジャガイド孔からの前記プローブの突出量を決定する一対の位置決め面が形成され、
   前記プランジャガイド孔は、前記プローブ収容孔の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部に形成され、前記プローブ収容孔の一部を成し、
   前記スライダ部は、丸棒材を径方向一端側から中心側に向けて切除すると共に、前記丸棒材を径方向他端側から中心側に向けて切除することによって、前記プローブの中心軸に直交する断面形状が略三角形状に形成され、前記プランジャの先端側から前記プローブの中心軸に沿って延びる一対の側面を有し、
   前記一対の位置決め面は、前記丸棒材を径方向一端側から中心側に向けて切除することによって前記一対の位置決め面の一方が形成され、この一対の位置決め面の一方が前記スライダ部の前記一対の側面の一方側に位置し、前記丸棒材を径方向他端側から中心側に向けて切除することによって前記一対の位置決め面の他方が形成され、この一対の位置決め面の他方が前記スライダ部の前記一対の側面の他方側に位置し、
   前記プランジャの前記先端は、前記プローブの中心軸に対してずれて位置し、
   前記一対のプローブは、前記プローブの中心軸に直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態で前記プローブ収容孔に収容されることにより、前記プランジャの前記先端同士が最も接近する正しい姿勢が保持され、
   前記プローブ収容孔は、前記プローブが前記正しい姿勢で挿入された場合に前記一対の位置決め面を前記プランジャガイド部に当接させて、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から設計寸法だけ突出させ、前記プローブが誤った姿勢で挿入された場合に、前記プランジャの先端側を前記プランジャガイド部に当接させて、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から突出させないか又は前記設計寸法よりも小さく突出させる、
   ことを特徴とするＩＣソケット。
5. 電子部品の電気的テストに使用されるＩＣソケットにおいて、
   前記電子部品の端子に接触するフォースコンタクトプローブとセンスコンタクトプローブとからなる同一形状の一対のプローブと、前記プローブを収容するプローブ収容孔が形成されたソケット本体と、を有し、
   前記プローブは、前記ソケット本体の前記プローブ収容孔内に収容されるチューブと、前記チューブの一端側に組み付けられ、前記チューブ内に収容されたばね部材で付勢されて前記電子部品の前記端子に先端が接触するプランジャとを備え、
   前記プランジャは、前記ソケット本体に形成されたプランジャガイド孔に回り止めされた状態でスライド移動可能に係合されるスライダ部が形成されると共に、前記プローブの前記プランジャガイド孔からの突出量を決定する位置決め面が形成され、
   前記プランジャガイド孔は、前記プローブ収容孔の一端側を塞ぐように位置するプランジャガイド部に形成され、前記プローブ収容孔の一部を成し、
   前記スライダ部は、丸棒材を径方向一端側から中心まで切除することによって、前記プローブの中心軸に直交する断面形状が半円形状に形成され、前記プランジャの先端側から前記プローブの中心軸に沿って延びる側面を有し、
   前記位置決め面は、前記丸棒材を径方向一端側から中心まで切除することによって、前記側面の下端に形成され、
   前記プランジャの前記先端は、前記プローブの中心軸に対してずれて位置し、
   前記一対のプローブは、前記プローブの中心軸に直交する仮想平面への投影形状において、一方が他方に対して１８０°回転させられた状態で前記プローブ収容孔に収容されることにより、前記プランジャの前記先端同士が最も接近する正しい姿勢が保持され、
   前記プローブ収容孔は、前記プローブが前記正しい姿勢で挿入された場合に前記一対の位置決め面を前記プランジャガイド部に当接させて、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から設計寸法だけ突出させ、前記プローブが誤った姿勢で挿入された場合に、前記プランジャの先端側を前記プランジャガイド部に当接させて、前記プランジャを前記プランジャガイド孔から突出させない、
   ことを特徴とするＩＣソケット。

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