CN118091211A - 接触探针及用于电气部件测试的插座 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供了一种接触探针及用于电气部件测试的插座。接触探针包括管状结构、弹簧和柱塞。管状结构的内部形成有容纳腔，在管状结构的第一端设置有用于与第一电气部件的端子接触的接触部，弹簧设置在容纳腔中，柱塞以可滑动的方式与管状结构连接，柱塞的第一端设置有弹簧定位部，弹簧定位部与弹簧相抵接，弹簧定位部为偏离柱塞的中轴线设置的偏心结构体，偏心结构体的顶端具有接触面，接触面具有两个与弹簧相抵接的抵接位置，柱塞的第二端从管状结构的第二端伸出。根据本申请实施例中的接触探针，当弹簧受力弯曲时，弹簧与弹簧定位部上两个抵接位置相抵，这样能够提高接触探针的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。

Description

接触探针及用于电气部件测试的插座

技术领域

本申请涉及一种接触探针及用于电气部件测试的插座。

背景技术

在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其的电气性能进行测试。这种测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。

相关技术中的一种插座，包括插座柱体和接触探针，其中，插座柱体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，另外，插座柱体上还形成有探针收纳孔，接触探针收纳于探针收纳孔。在进行电气测试的过程中，第一电气部件被安置于容纳部，接触探针的一端与第一电气部件的端子接触，另一端与另一电气部件(后文简称第二电气部件)接触，从而建立第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。

为了保证电气测试的结果的精准性，接触探针的电阻值不允许超过容许电阻值。根据接触探针在工作时施加给第二部件的载荷(后文简称载荷)的不同，接触探针可以分为多种型号。本公开的发明人发现，载荷相对较小的这部分型号的接触探针，其电阻值会随着电气测试的次数的增加而变大。这意味着，随着电气测试的次数的增加，载荷相对较小的这部分型号的接触探针，会频繁地出现电阻值超过容许电阻值的情况，这会对电气测试结果的精准性产生不利影响，从而使电气测试的可靠性变差。

发明内容

本申请实施例提供了一种接触探针及用于电气部件测试的插座，以减少接触探针的电阻值出现大于容许电阻值的情况，从而提高电气测试的可靠性。

本申请第一方面的实施例提出了一种接触探针，接触探针包括管状结构、弹簧和柱塞。管状结构的内部形成有容纳腔，在管状结构的第一端设置有用于与第一电气部件的端子接触的接触部，弹簧设置在容纳腔中，柱塞以可滑动的方式与管状结构连接，柱塞的第一端设置有弹簧定位部，弹簧定位部与弹簧相抵接，弹簧定位部为偏离柱塞的中轴线设置的偏心结构体，偏心结构体的顶端具有接触面，接触面具有两个与弹簧相抵接的抵接位置，柱塞的第二端从管状结构的第二端伸出。

根据本申请实施例中的接触探针，接触探针包括管状结构、弹簧和柱塞，其中，管状结构的一端设置有与第一电气部件接触的接触部，管状结构的内部形成有容纳腔，弹簧设置在该容纳腔内，柱塞位于远离接触部的一端，且柱塞结构可滑动的与弹簧抵接。当接触部与第一电气部件抵接，且柱塞结构远离弹簧的一端与第二电气部件抵接时，可建立起第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。在对产品进行电气性能的测试时，弹簧由于压缩会发生弯曲，从而抵靠在管状结构的内壁上。相关技术中的弹簧与柱塞结构的接触部位经常发生变化，也就是说，弹簧与柱塞结构的接触部位经常发生变化，从而导致接触探针的通电接触载荷经常发生变化，这无疑降低了接触弹性的可靠性，从而导致对同一产品进行测量时，测量值会有所不同。在本申请的实施例中，弹簧定位部与弹簧的接触面为两个，如此，当弹簧受力弯曲时，弹簧的侧壁将抵靠在管状结构的内壁上，而弹簧与弹簧定位部有两个接触面，如此对弹簧形成三角型结构的支撑，这样能够提高接触探针的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。而且，在弹簧定位部为偏离所述柱塞的中轴线设置的偏心结构体的情况下，能够明显提高接触探针的通电接触载荷(相比于现有的弹簧定位部采用圆锥体结构的接触探针)。也就是说，通过将弹簧定位部设置为偏心结构体，可以达到提高接触探针的通电接触载荷的效果，从而减少接触探针的电阻值出现大于容许电阻值的情况，进而提高插座的电气测试的可靠性。

另外，根据本申请实施例的接触探针，还可具有如下附加的技术特征：

在本申请的一些实施例中，所述偏心结构体为半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有所述接触面的第一结构；或所述偏心结构体为类半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有所述接触面的第二结构。

在本申请的一些实施例中，所述半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，所述第一结构包括第一部段和第二部段，所述第一部段为所述半圆柱体未进行切割部分的结构，所述第二部段为所述半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，所述第二部段的顶部形成有所述接触面，所述第一部段和所述第二部段之间形成有阶梯结构，所述阶梯结构的开口朝向所述弹簧的边缘。

在本申请的一些实施例中，所述第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述接触面位于所述顶面，所述第一侧面和所述第三侧面相对设置，且所述第一侧面和所述第三侧面均为平面，所述第二侧面和所述第四侧面为弧面。

在本申请的一些实施例中，所述类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，所述第二结构包括第一部段和第二部段，所述第一部段为所述类半圆柱体未进行切割部分的结构，所述第二部段为所述类半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，所述第二部段的顶部形成有所述接触面，所述第一部段和所述第二部段之间形成有阶梯结构，所述阶梯结构的开口朝向所述弹簧的边缘。

在本申请的一些实施例中，所述第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述接触面位于所述顶面，所述第一侧面和所述第三侧面相对设置，且所述第一侧面和所述第三侧面均为平面，所述第二侧面和所述第四侧面为弧面。

在本申请的一些实施例中，所述半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，所述第一结构包括顶面、第五侧面和斜切面，接触面位于所述顶面，所述第五侧面为所述半圆柱体的纵切面，所述斜切面与所述第五侧面之间的夹角为锐角。

在本申请的一些实施例中，所述类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，所述第二结构包括顶面、第五侧面和斜切面，接触面位于所述顶面，所述第五侧面为所述类半圆柱体的纵切面，所述斜切面与所述第五侧面之间的夹角为锐角。

在本申请的一些实施例中，在所述容纳腔的内壁上设置有弹簧挡板，所述弹簧的第一端与所述弹簧挡板相抵接，所述弹簧的第二端与所述弹簧定位部相抵接。

在本申请的一些实施例中，所述管状结构的第二端形成有供所述柱塞穿出的通孔，在所述柱塞的第一端形成有膨大部，所述膨大部的外径大于所述通孔的直径。

本申请第二方面的实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括插座本体和第一方面任一实施例中的接触探针，其中，插座本体上设置有探针收纳孔，接触探针设置在探针收纳孔中。

根据本申请实施例中的用于电气部件测试的插座，由于其具备第一方面任一实施例中的接触探针，因此其也具备第一方面任一实施例的有益效果，在此不再赘述。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或相关技术中的技术方案，下面对本申请实施例或相关技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本申请实施例的接触探针的结构示意图；

图2为本申请实施例的接触探针的内部结构示意图；

图3为本申请其中一个实施例的接触探针的柱塞和弹簧的结构示意图；

图4为图3中的A处的局部放大图(其中一个视角)；

图5为图3中的A处的局部放大图(另外一个视角)；

图6为本申请其中一个实施例的接触探针的柱塞的结构示意图；

图7为本申请另外一个实施例的接触探针的柱塞和弹簧的结构示意图；

图8为图7中B处的局部放大图(其中一个视角)；

图9为图7中B处的局部放大图(另外一个视角)；

图10为本申请另外一个实施例的接触探针的柱塞的结构示意图；

图11为本申请实施例的插座的示意图。

图中标记如下：

100-接触探针；110-管状结构；111-容纳腔；112-接触部；113-通孔；114-弹簧挡板；115-限位凸缘；101-抵接位置；

120-弹簧；

130-柱塞；131-弹簧定位部；1311-第一部段；1312-第二部段；13121-第一侧面；13122-第二侧面；13123-顶面；13132-第五侧面；13131-斜切面；132-膨大部；

200-插座本体；210-探针收纳孔；211-限位槽；

300-第二电气部件。

具体实施方式

下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员基于本申请所获得的所有其它实施例，都属于本申请保护的范围。

如图1至图4所示，本申请第一方面的实施例提出了一种接触探针100，接触探针100包括管状结构110、弹簧120和柱塞130。管状结构110的内部形成有容纳腔111，在管状结构110的第一端设置有用于与第一电气部件的端子接触的接触部112，弹簧120设置在容纳腔111中，柱塞130以可滑动的方式与管状结构110连接，柱塞130的第一端设置有弹簧定位部131，弹簧定位部131与弹簧120相抵接，所述弹簧定位部131为偏离所述柱塞130的中轴线设置的偏心结构体，所述偏心结构体的顶端具有接触面，所述接触面具有两个与所述弹簧相抵接的抵接位置101，柱塞130的第二端从管状结构110的第二端伸出。

接触探针100包括管状结构110、弹簧120和柱塞130，其中，管状结构110的一端设置有与第一电气部件接触的接触部112，管状结构110的内部形成有容纳腔111，弹簧120设置在该容纳腔111内，柱塞130位于远离接触部112的一端，且柱塞130结构可滑动的与弹簧120抵接。当接触部112与第一电气部件抵接，且柱塞130结构远离弹簧120的一端与第二电气部件抵接时，可建立起第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。在对产品进行电气性能的测试时，弹簧120由于压缩会发生弯曲，从而抵靠在管状结构110的内壁上。相关技术中的弹簧与柱塞结构的接触部位经常发生变化，也就是说，弹簧与柱塞结构的接触部位经常发生变化，从而导致接触探针的通电接触载荷经常发生变化，这无疑降低了接触弹性的可靠性，从而导致对同一产品进行测量时，测量值会有所不同。在本申请的实施例中，弹簧定位部131与弹簧120的抵接位置101为两个，如此，当弹簧120受力弯曲时，弹簧120的侧壁将抵靠在管状结构110的内壁上，而弹簧120与弹簧定位部131有两个抵接位置101，如此对弹簧120形成三角型结构的支撑，这样能够提高接触探针100的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。而且，在弹簧定位部131为偏离所述柱塞130的中轴线设置的偏心结构体的情况下，能够明显提高接触探针100的通电接触载荷(相比于现有的弹簧定位部131采用圆锥体结构的接触探针100)。也就是说，通过将弹簧定位部131设置为偏心结构体，可以达到提高接触探针100的通电接触载荷的效果，从而减少接触探针100的电阻值出现大于容许电阻值的情况，进而提高插座的电气测试的可靠性。

可以理解的是，管状结构110、弹簧120和柱塞130均由导电性金属材料制成，使得接触探针100具有导电性，从而能够利用接触探针100建立起第一电气部件和第二电气部件300之间的电性连接。

如图4至图6所示，在本申请的一些实施例中，偏心结构体为半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有接触面的第一结构；或偏心结构体为类半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有接触面的第二结构。在本申请其中一个实施例中，第一结构为半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后剩下的结构，且接触面位于剩下结构的顶端，也就是说，弹簧120与弹簧定位部131的抵接位置位于顶端。在本申请另外一个实施例中，第二结构为为类半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后剩下的结构，且接触面位于剩下结构的顶端，也就是说，弹簧120与弹簧定位部131的抵接位置101位于顶端。

在本申请的一些实施例中，半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，第一结构包括第一部段和第二部段，第一部段为半圆柱体未进行切割部分的结构，第二部段为半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，第二部段的顶部形成有接触面，第一部段和第二部段之间形成有阶梯结构，阶梯结构的开口朝向弹簧的边缘。在本实施例中，第一部段为半圆柱体未进行切割部分的结构，也就是说，第一部段所呈现的结构还是半圆柱体，而第二部段为半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，此时，第二部段可以为半圆柱体，也可以为其他形式。第一部段与第二部段之间形成有阶梯结构，其开口朝向弹簧120的边缘，如此设置，当弹簧120压缩时，弹簧120将朝向固定方向弯曲，从而使弹簧120与弹簧定位部131抵接的两个抵接位置101始终位于第二部段靠近柱塞130轴线的部位上，即使弹簧120发生旋转，两个抵接位置101的位置也不发生变化，如此能够提高接触探针100的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。

在本申请其中一个具体的实施例中，第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，接触面位于顶面，第一侧面和第三侧面相对设置，且第一侧面和第三侧面均为平面，第二侧面和第四侧面为弧面。在本实施例中，半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵剖面切掉一半后剩下的结构，可以理解，当将半圆柱体沿平行于纵剖面的平面切割后，会形成两部分结构，其中一个结构具有一个弧面，另外一个结构具有相对设置的两个弧面，在本实施例中，第二部段为具有相对设置的两个弧面，也就是说，第二侧面和第四侧面即为该弧面。在本实施例中，第一部段和第二部段可以共用一个原胚制作而成，示例性的，可以先将一个完整的圆柱体切掉一半形成半圆柱体，接着再将半圆柱体继续切掉一部分，以此便能够形成第二侧面和第四侧面均为弧面的结构，且第二侧面和第四侧面与第一部段的弧面共面。本实施例中的弹簧定位部制作简单，可以通过一体成型的方式制备。

如图5和图6所示，在本申请另外一个实施例中，类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，第一结构包括第一部段1311和第二部段1312，第一部段1311为类半圆柱体未进行切割部分的结构，第二部段1312为类半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，第二部段1312的顶部形成有接触面，第一部段1311和第二部段1312之间形成有阶梯结构，阶梯结构的开口朝向弹簧的边缘。在本实施例中，第一部段1311为类半圆柱体未进行切割部分的结构，也就是说，第一部段1311所呈现的结构还是类半圆柱体，而第二部段1312为类半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，此时，第二部段1312可以为类半圆柱体，也可以为其他形式。第一部段1311与第二部段1312之间形成有阶梯结构，其开口朝向弹簧120的边缘，如此设置，当弹簧120压缩时，弹簧120将朝向图中的a1方向弯曲，从而使弹簧120与弹簧定位部131抵接的两个抵接位置101始终位于第二部段1312靠近柱塞130轴线的部位上，即使弹簧120发生旋转，两个抵接位置101的位置也不发生变化，如此能够提高接触探针100的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。

在本申请另外一个具体的实施例中，第二部段1312包括顶面13123、第一侧面13121、第二侧面13122、第三侧面和第四侧面，接触面位于顶面13123，第一侧面13121和第三侧面相对设置，且第一侧面13121和第三侧面均为平面，第二侧面13122和第四侧面为弧面。在本实施例中，半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵剖面切掉一半后剩下的结构，可以理解，当将半圆柱体沿平行于纵剖面的平面切割后，会形成两部分结构，其中一个结构具有一个弧面，另外一个结构具有相对设置的两个弧面，在本实施例中，第二部段1312为具有相对设置的两个弧面，也就是说，第二侧面13122和第四侧面即为该弧面。在本实施例中，第一部段1311和第二部段1312可以共用一个原胚制作而成，示例性的，可以先将一个完整的圆柱体切掉一半形成半圆柱体，接着再将半圆柱体继续切掉一部分，以此便能够形成第二侧面13122和第四侧面均为弧面的结构，且第二侧面13122和第四侧面与第一部段1311的弧面共面。本实施例中的弹簧定位部131制作简单，可以通过一体成型的方式制备。

在本申请另外一些实施例中，半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，第一结构包括顶面、第五侧面和斜切面，接触面位于顶面，第五侧面为半圆柱体的纵切面，斜切面与第五侧面之间的夹角为锐角。在本实施例中，偏心结构体为半圆柱体，该半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，该半圆柱体还包括第五侧面和斜切面，斜切面与第五侧面之间的夹角为锐角，也就是说该斜切面朝弹簧120的外边缘倾斜，如此，当弹簧120压缩时，弹簧120将固定方向弯曲，即使弹簧120发生旋转，弹簧120也始终会朝一个方向弯曲，因此，弹簧120与弹簧定位部121的两个地接位置101的位置也不发生变化。如此使弹簧始终朝同一方向弯曲，能够提高接触探针100的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。

如图7至图10所示，在本申请另外一些实施例中，类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，第二结构包括顶面、第五侧面13132和斜切面13131，接触面位于顶面，第五侧面13132为类半圆柱体的纵切面，斜切面13131与第五侧面13132之间的夹角为锐角。在本实施例中，偏心结构体还可以为类半圆柱体，该类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，如此，当弹簧受力压缩时，将朝向图中所示a2的方向弯曲。此外，该类半圆柱体还包括第五侧面13132和斜切面13131，斜切面13131与第五侧面13132之间的夹角为锐角，也就是说该斜切面13131朝弹簧120的外边缘倾斜，如此，当弹簧120压缩时，弹簧120将朝向图中的a2方向弯曲，从而使弹簧120与弹簧定位部131抵接的两个抵接位置101始终位于类半圆柱体的顶部，当弹簧120发生旋转，由于弹簧120始终朝一个方向弯曲，因此，弹簧120与弹簧定位部121的两个抵接位置101的位置也不发生变化。如此使弹簧始终朝同一方向弯曲，能够提高接触探针100的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。

在本申请的一些实施例中，如图2所示，在容纳腔111的内壁上设置有弹簧挡板114，弹簧120的第一端与弹簧挡板114相抵接，弹簧120的第二端与弹簧定位部131相抵接。由此，在弹簧120的作用下，使柱塞130具有伸出管状结构110的第二端的运动趋势。当接触探针100应用于插座并且插座处于工作状态时，管状结构110的第一端与第一电气部件的端子接触，柱塞130的第二端与第二电气部件300接触，由此，建立起第一电气部件与第二电气部件300之间的电性连接。并且，在弹簧120的作用下，柱塞130和管状结构110之间保持相互远离的运动趋势，这样，就可以使管状结构110与第一电气部件的端子紧密相抵，以及柱塞130与第二电气部件300紧密相抵，从而使得接触探针100不会轻易与第一电气部件的端子和/或第二电气部件300分离，由此，可以提高第一电气部件与第二电气部件300之间的电性连接的稳定性。

如图1、图2所示，在本申请的一些实施例中，接触部112与管状结构110为一体式结构。在本申请的其它一些实施例中，接触部112也可以与管状结构110呈分体式设置，即接触部112为独立于管状结构110的单独的构件。

在本申请的一些实施例中，管状结构110的第二端形成有供柱塞130穿出的通孔113，在柱塞130的第一端形成有膨大部132，膨大部132的外径大于通孔113的直径。在本实施例中，柱塞130的第一端形成有膨大部132，并且膨大部132的外径大于通孔113的直径，使得膨大部132无法自由进出通孔113，这样，就能够避免柱塞130从通孔113中脱离。

如图11所示，本申请第二方面的实施例提出了一种用于电气部件测试的插座。插座包括插座本体200和接触探针100，其中，在插座本体200上设置有探针收纳孔210，接触探针100为上述任一实施例中的接触探针100，接触探针100设置在探针收纳孔210中。

根据本申请实施例中的用于电气部件测试的插座，其包括第一方面任一实施例中的接触探针100。接触探针100的管状结构110的第一端具有接触部112，接触探针100的柱塞130的第二端从管状结构110的第二端伸出。当接触部112与第一电气部件的端子接触并且柱塞130的第二端与第二电气部件300接触时，可建立起第一电气部件与第二电气部件300之间的电性连接。此外，弹簧定位部131与弹簧120的抵接位置101为两个，如此，当弹簧120受力弯曲时，弹簧120的侧壁将抵靠在管状结构110的内壁上，而弹簧120与弹簧定位部131有两个抵接位置101，如此对弹簧120形成三角型结构的支撑，这样能够提高接触探针100的内部接触稳定性，从而增加电气测试的可靠性。

在本申请的一些实施例中，在管状结构110的外侧面上形成有限位凸缘115，相应地，在探针收纳孔210的内壁设置有限位槽211，限位凸缘115限制于限位槽211内，由此，使得接触探针100被保持在探针收纳孔210内，从而防止接触探针100从探针收纳孔210中意外掉出。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其它要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中的各个实施例均采用相关的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处。

以上所述仅为本申请的较佳实施例而已，并非用于限定本申请的保护范围。凡在本申请的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本申请的保护范围内。

Claims (11)

1.一种接触探针，其特征在于，包括：

管状结构，所述管状结构的内部形成有容纳腔，在所述管状结构的第一端设置有用于与第一电气部件的端子接触的接触部；

弹簧，所述弹簧设置在所述容纳腔中；

柱塞，所述柱塞以可滑动的方式与所述管状结构连接，所述柱塞的第一端设置有弹簧定位部，所述弹簧定位部与所述弹簧相抵接，所述弹簧定位部为偏离所述柱塞的中轴线设置的偏心结构体，所述偏心结构体的顶端具有接触面，所述接触面具有两个与所述弹簧相抵接的抵接位置，所述柱塞的第二端从所述管状结构的第二端伸出。

2.根据权利要求1所述的接触探针，其特征在于，所述偏心结构体为半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有所述接触面的第一结构；或所述偏心结构体为类半圆柱体顶端切掉圆弧侧部分体积后形成的顶端具有所述接触面的第二结构。

3.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，所述第一结构包括第一部段和第二部段，所述第一部段为所述半圆柱体未进行切割部分的结构，所述第二部段为所述半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，所述第二部段的顶部形成有所述接触面，所述第一部段和所述第二部段之间形成有阶梯结构，所述阶梯结构的开口朝向所述弹簧的边缘。

4.根据权利要求3所述的接触探针，其特征在于，所述第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述接触面位于所述顶面，所述第一侧面和所述第三侧面相对设置，且所述第一侧面和所述第三侧面均为平面，所述第二侧面和所述第四侧面为弧面。

5.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，所述第二结构包括第一部段和第二部段，所述第一部段为所述类半圆柱体未进行切割部分的结构，所述第二部段为所述类半圆柱体切掉圆弧侧部分后剩下的结构，所述第二部段的顶部形成有所述接触面，所述第一部段和所述第二部段之间形成有阶梯结构，所述阶梯结构的开口朝向所述弹簧的边缘。

6.根据权利要求5所述的接触探针，其特征在于，所述第二部段包括顶面、第一侧面、第二侧面、第三侧面和第四侧面，所述接触面位于所述顶面，所述第一侧面和所述第三侧面相对设置，且所述第一侧面和所述第三侧面均为平面，所述第二侧面和所述第四侧面为弧面。

7.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉1/2体积后所形成的结构，所述第一结构包括顶面、第五侧面和斜切面，所述接触面位于所述顶面，所述第五侧面为所述半圆柱体的纵切面，所述斜切面与所述第五侧面之间的夹角为锐角。

8.根据权利要求2所述的接触探针，其特征在于，所述类半圆柱体为将完整的圆柱体沿纵向切掉大于1/2体积后所形成的结构，所述第二结构包括顶面、第五侧面和斜切面，所述接触面位于所述顶面，所述第五侧面为所述类半圆柱体的纵切面，所述斜切面与所述第五侧面之间的夹角为锐角。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的接触探针，其特征在于，在所述容纳腔的内壁上设置有弹簧挡板，所述弹簧的第一端与所述弹簧挡板相抵接，所述弹簧的第二端与所述弹簧定位部相抵接。

10.根据权利要求1至8中任一项所述的接触探针，其特征在于，所述管状结构的第二端形成有供所述柱塞穿出的通孔，在所述柱塞的第一端形成有膨大部，所述膨大部的外径大于所述通孔的直径。

11.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，包括：

插座本体，在所述插座本体上设置有探针收纳孔；

根据权利要求1至10中任一项所述的接触探针，所述接触探针设置在所述探针收纳孔中。