JP5055061B2 - 導電接触ピン - Google Patents
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Description
2 プローブ本体
21 ヘッド部
22 接続端子部
23 ストッパーリング
24,24 ガイド面
3 スリーブ
31 支持孔
32 鍔部
33 ガイド部
34 ベース部
35 舌片
351 Dカット面
4 スプリング
Claims (5)
- 先端に被導電接触体に当接するヘッド部を有し、他端にリード線が接続される接続端子を備えたプローブ本体と、上記プローブ本体を軸線方向に沿って往復的にスライド可能に支持する支持孔を有するスリーブとを備えている導電接触ピンにおいて、
上記スリーブの上記接続端子側の一端には、上記スリーブの軸線方向に対して平行な平滑面からなり、上記支持孔の一部を塞ぐ少なくとも1つのガイド面を有するガイド部が突設されており、上記プローブ本体には、上記ガイド面に沿って摺接する回転規制面が設けられているとともに、
上記ガイド部の外径は、上記スリーブの外径よりも小径であり、上記ガイド部の外周には、上記スリーブの外径とほぼ同じ外径の補強リングが設けられていることを特徴とする導電接触ピン。 - 上記ガイド面は、上記軸線を挟んで対称に2カ所設けられており、これに対応して上記回転規制面も2カ所設けられていることを特徴とする請求項1に記載の導電接触ピン。
- 上記回転規制面および/または上記ガイド面には、低摩擦処理が施されていることを特徴とする請求項1または2に記載の導電接触ピン。
- 上記スリーブの上記支持孔には、低摩擦処理が施されていることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の導電接触ピン。
- 上記スリーブは、ステンレス製であることを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の導電接触ピン。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007207783A JP5055061B2 (ja) | 2007-08-09 | 2007-08-09 | 導電接触ピン |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007207783A JP5055061B2 (ja) | 2007-08-09 | 2007-08-09 | 導電接触ピン |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2009042090A JP2009042090A (ja) | 2009-02-26 |
JP5055061B2 true JP5055061B2 (ja) | 2012-10-24 |
Family
ID=40442973
Family Applications (1)
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JP2007207783A Active JP5055061B2 (ja) | 2007-08-09 | 2007-08-09 | 導電接触ピン |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP5055061B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN110687324B (zh) * | 2018-07-05 | 2023-01-31 | 台湾中国探针股份有限公司 | 两用可拆式测试针结构 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6259868U (ja) * | 1985-10-04 | 1987-04-14 | ||
JP4450397B2 (ja) * | 1999-06-03 | 2010-04-14 | 有限会社清田製作所 | 両端摺動型コンタクトプローブ |
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2007
- 2007-08-09 JP JP2007207783A patent/JP5055061B2/ja active Active
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JP2009042090A (ja) | 2009-02-26 |
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