KR20180024187A - 척프로브핀 - Google Patents

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KR20180024187A
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최병철
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Abstract

본 발명은 척프로브핀에 대한 것으로, 반도체와 같은 전자소자를 회로기판에 실장하거나, 실장되기 전의 소자를 탐침하여 전기적인 특성을 검사하는 검사장치에 적용되며, 표면이 고르지 못하거나, 비교적 넓은 상태를 유지하는 솔더링 표면 등을 탐침하기 위한 것이다.
이를 위해, 회로기판 등에 실장되는 전자소자 및 납땜으로 인해 형성된 솔더링 부분에 접촉하여 전기적인 특성을 검사하기 위한 프로브핀에 있어서, 관형상으로 형상되며, 일측단부는 플런저(20)를 결속하기 위한 복수개의 척(11)이 형성되며, 타측면에는 탄성스프링(30)을 지지하기 위한 소구경마감부(12)가 형성되는 몸체부(10);와 상기 몸체부(10)에 일부분이 내삽되며, 검사대상물에 접촉되는 플런저(20); 및 상기 몸체부(10)에 내삽되며, 플런저(20)를 지지하는 탄성스프링(30)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 척프로브핀을 제공하게 되는 것이다.

Description

척프로브핀{CHUCK-PROBE PIN}
본 발명은 척프로브핀에 대한 것으로, 반도체와 같은 전자소자를 회로기판에 실장하거나, 실장되기 전의 소자를 탐침하여 전기적인 특성을 검사하는 검사장치에 적용되며, 표면이 고르지 못하거나, 비교적 넓은 상태를 유지하는 솔더링 표면 등을 탐침하기 위한 것이다.
프로브핀은 전자장치 또는 반도체와 같은 부품소자의 검사시에 적용되는 것으로, 검사를 위한 검사장치 또는 지그 등에 결합하여, 검사대상인 전자장치 또는 부품소자의 단자부에 접촉하여 검사를 시행할 때 사용되는 것이다.
상기와 같은 프로브핀은 다양한 종류가 있으며, 대표적으로는 포고핀이라는 형태로 내측에 금속스프링을 구비하여 반도체 테스트나 IT분야의 테스트시 사용되며, 상단부분에 지그 등에 결합되는 탑플런저(Top-plunger) 부분과 하단부분에 구비되며, 검사대상에 접촉되는 핀형태의 바텀프런저(Bottom-plunger)로 구성된다.
또한, 상기 탑플런저의 경우 그 형상에 따라 크라운타입 등 다양한 형상으로 구성된다.
그러나, 이와 같은 형태의 경우 금속재 파이프의 내측에 금속재 탄성부재인 스프링을 탑플런저와 바텀플런저의 사이에 배치되도록 하여 탑플런저와 바텀플런저가 탄성을 유지하도록 형성되는데, 금속재의 스프링과 파이프의 접촉면이 반복적인 사용으로 마모되어 파손되거나, 양부재 모두 도전되어 스파크 또는 저항증가와 같은 전기적인 특성에 영향을 미치게 되는 것이다.
그 대표적인 예로 금속스프링 형태의 탄성부재의 경우 인덕턴스가 발생하게 되어 측정시 전기적으로 영향을 미치게 되거나, 금속재 스프링의 완충동작시 크기 등이 변하여 스프링에서 발생될 수 있는 저항값의 차이로 인한 정밀측정값의 변화 또는 오차 등이 발생하게 되는 것이다.
또한, 반복적인 동작에 의해 부품간의 기계적인 마찰에 의해 조립된 상태에서 각각의 부품이 이탈되는 상황이 빈번히 발생하기 때문에 프로브핀의 제조시 금속재 파이프와 플런저의 결합부위가 밀착되도록 형성하여 제조를 위한 조립시 조립작업이 어려운 문제가 발생하게되어 작업생산량이 저하되는 문제가 있엇다.
또한, 탐침을 위한 검사부위가 넓을 경우 적용되는 프로브핀의 경우 기계적인 접촉을 위한 플런저의 접촉면에 마찰력이 저하되어 접촉상태를 유지하기 어려워 측정시 전기적인 특성의 변화가 발생할 수 있는 문제도 있다.
대한민국 등록특허 제10-0823111호(프로브핀 및 그 제조방법, 2008년 04월 11일 등록)
상기와 같은 문제점을 극복하기 위해, 조립이 용이한, 척프로브핀을 제공하는데 본 발명의 목적이 있다.
본 발명의 또다른 목적은 회로기판 등에 형성되는 솔더링과 같은 불규칙하고 비교적 넓은 표면적을 보유하는 검사부위의 기계적인 접촉상태를 유지하도록 하여 검사시 전기적인 특성 변화에 따른 검사값의 오차를 최소화 할 수 있도록 하는 척프로브핀을 제공하는 것이다.
본 발명의 목적을 달성하기 위한 회로기판 등에 실장되는 전자소자 및 납땜으로 인해 형성된 솔더링 부분에 접촉하여 전기적인 특성을 검사하기 위한 프로브핀에 있어서, 관형상으로 형상되며, 일측단부는 플런저(20)를 결속하기 위한 복수개의 척(11)이 형성되며, 타측면에는 탄성스프링(30)을 지지하기 위한 소구경마감부(12)가 형성되는 몸체부(10)와 상기 몸체부(10)에 일부분이 내삽되며, 검사대상물에 접촉되는 플런저(20) 및 상기 몸체부(10)에 내삽되며, 플런저(20)를 지지하는 탄성스프링(30)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 척프로브핀을 제공하게 된다.
또한, 상기 플런저(20)는 일측 단부에 프렌지 형상의 검침헤드(21)가 형성되고, 상기 검침헤드(21)의 타측으로 연장되어 기둥(22)이 형성되고, 상기 기둥(22)상에는 기둥(22)의 직경보다 크게 외부로 돌출되도록 하는 걸림링(23)이 형성되며, 기둥(22)의 단부에는 탄성스프링(30)과 접촉되어 지지될 수 있는 스프링지지단부(24)가 형성되고, 상기 검침헤드(21)의 일측 단면에는 검사부위의 표면에서 이탈되는 것을 방지하기 위한 복수개의 접합돌기(21a)가 더 형성되도록 한다.
또한, 상기 플런저(20)는 몸체부(10)와 결합될 때, 기둥(22)의 일측에 형성되는 스프링지지단부(24)가 내삽되어, 몸체부(10)의 내측에 내삽되어 있는 탄성스프링(30)의 일측과 접촉되어 탄성스프링(30)을 가압하게 되며, 기둥(22)상에 형성되는 걸림링(23)이 몸체부(10)의 척(11)에 의해 걸리도록 하여 몸체부(10)와 플런저(20)가 결속되는 것을 특징으로 하는 척프로브핀을 제공함으로써, 본 발명의 목적을 보다 잘 달성할 수 있도록 하는 것이다.
본 발명의 척프로브핀을 제공함으로써, 제조를 위한 조립이 용이하여 제조시간을 단축할 수 있으며, 검사부위와의 기계적인 접촉력이 우수하여 측정시 전기적인 특성의 변화가 적어, 검사값의 오차를 최소화할 수 있도록 하는 효과가 있다.
도 1은 본 발명의 사시도이다.
도 2는 본 발명의 전개사시도이다.
도 3은 본 발명의 정면도이다.
도 4은 본 발명의 구성을 도시하기 위한 단면도이다.
도 5는 본 발명의 부분확대도이다.
도 6은 본 발명의 결합관계를 도시하기 위한 부품도이다.
이하에서 당업자가 본 발명의 척프로브핀을 용이하게 실시할 수 있도록 도면을 참조하여 상세하게 설명하도록 한다.
도 1은 본 발명의 사시도이고, 도 2는 본 발명의 전개사시도이며, 도 3은 본 발명의 정면도이다.
또한, 도 4는 본 발명의 구성을 도시하기 위한 단면도이고, 도 5는 본 발명의 부분확대도이며, 도 6은 본 발명의 결합관계를 도시하기 위한 부품도이다.
도 1 내지 도 6을 참조하여 상세하게 설명하면, 본 발명의 척프로브핀은 관형상의 몸체부(10)와 상기 몸체부(10)에 일부분이 내삽되며, 검사대상물에 접촉되는 플런저(20)와 상기 몸체부(10)에 내삽되며, 플런저(20)를 지지하는 탄성스프링(30)으로 구성된다.
상기 몸체부(10)는 관형상으로 형상되며, 일측단부는 플런저(20)를 결속하기 위한 복수개의 척(11)이 형성되며, 타측면에는 탄성스프링(30)을 지지하기 위한 소구경마감부(12)가 형성된다.
상기 척(10)은 몸체부(10)의 일측면에 복수의 절개홈을 형성하도록 하여 각각의 절개홈의 사이에 존재하는 부분이 척(11)으로 형성되는 것이다.
상기와 같은 척(11)은 플런저(20)가 몸체부(10)에 일부분 내삽되어 결속될 때, 삽입이 용이할 수 있도록 하여 제조시 소요되는 공정시간을 단축할 수 있도록 함과 동시에 제조에 따른 불량율을 감소할 수 있도록 하기 위한 것이다.
상기와 같은 몸체부(10)의 일측에 결합되어 검사부위에 기계적인 접촉을 유지하도록 하는 플런저(20)는 일측 단부에 검침헤드(21)가 형성되고, 상기 검침헤드(21)의 타측으로 연장되어 기둥(22)이 형성된다.
또한, 상기 기둥(22)상에는 기둥(22)의 직경보다 크게 외부로 돌출되도록 하는 걸림링(23)이 형성되며, 기둥(22)의 단부에는 탄성스프링(30)과 접촉되어 지지될 수 있는 스프링지지단부(24)가 형성된다.
이때, 상기 검침헤드(21)는 프렌지형상으로 형성되고, 단면에 복수개의 접합돌기(21a)가 형성된다.
이때, 상기 검침헤드(21)는 본 발명의 상세한 설명을 위해 첨부된 도면상에서 원형으로 도시되었으나 이를 한정하는 것은 아니며, 다양한 형태로 제안될 수 있다.
여기서 상기 접합돌기(21a)는 회로기판에 납땜으로 형성되는 솔더링부위와 같이 표면의 형상이 고르지 못하며 전자소자의 단자보다 넓은 부위에 기계적인 결합이 유지되도록 하기 위해 복수개가 검침헤드(21)의 일측면에 형성되는 것이다.
보다 상세하게 설명하면, 검사부위의 표면형상이 불규칙할 경우 기계적인 가압에 의해 접촉하고 있을 때, 외부에서 가해지는 충격에 의해 검침부위에서 검침헤드(21)가 미끌어지거나 이탈되는 것을 방지하기 위한 것이다.
상기와 같이 형성된 플런저(20)는 몸체부(10)와 결합될 때, 기둥(22)의 일측에 형성되는 스프링지지단부(24)가 내삽되어, 몸체부(10)의 내측에 내삽되어 있는 탄성스프링(30)의 일측과 접촉되어 탄성스프링(30)을 가압하게 되며, 기둥(22)상에 형성되는 걸림링(23)이 몸체부(10)의 척(11)에 의해 걸리도록 하여 몸체부(10)와 플런저(20)가 결속되도록 하는 것이다.
이때, 상기 플런저(20)는 탄성스프링(30)에 의해 탄성력을 유지하도록 하고, 몸체부(10)의 내측으로 이동할 수 있도록 하여 검사부위에 기계적인 접촉시 탄성력에 의해 검사부위에 가해지는 충격을 완충할 수 있도록 하는 것이다.
또한, 상기와 같은 구조에 의해 반복적으로 몸체부(10)의 내측으로 플런저(20)가 유동되어 움직일 때, 척(11)에 의해 접촉되고 결합되기 때문에, 몸체부(10)와 플런저(20)의 접촉부위가 일반적인 링형상의 개방구와의 접촉면보다 작기 때문에 마찰력에 의한 접촉면 손상을 최소화 할 수 있도록 하는 것이다.
보다 상세하게 설명하면, 척(11)에 의해 플런저(20)의 기둥(22)을 결속하고 있기 때문에 일부분이 절개된 부분을 제외한 부분인 척부분만 기둥의 외주면에 접촉하여 일반적인 프로브핀에 비해 접촉면이 적어지는 것이고, 연속적인 동작시 척부분이 탄성력을 구비하기 때문에 플런저(20)의 기둥(22)이 움직일 경우 척(11)의 탄성력에 의해 접촉면이 파손되는 것을 방지하게 되는 것이다.
상기와 같은 구성에 의해 본 발명의 척프로브핀을 완성할 수 있는 것이다.
10 : 몸체부 11 : 척
12 : 소구경마감부 20 : 플런저
21 : 검침헤드 22 : 기둥
23 : 걸림링 24 : 스프링지지단부
30 : 턴성스프링

Claims (4)

  1. 회로기판 등에 실장되는 전자소자 및 납땜으로 인해 형성된 솔더링 부분에 접촉하여 전기적인 특성을 검사하기 위한 프로브핀에 있어서,
    관형상으로 형상되며, 일측단부는 플런저(20)를 결속하기 위한 복수개의 척(11)이 형성되며, 타측면에는 탄성스프링(30)을 지지하기 위한 소구경마감부(12)가 형성되는 몸체부(10);와
    상기 몸체부(10)에 일부분이 내삽되며, 검사대상물에 접촉되는 플런저(20); 및 상기 몸체부(10)에 내삽되며, 플런저(20)를 지지하는 탄성스프링(30)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 척프로브핀.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 플런저(20)는 일측 단부에 프렌지 형상의 검침헤드(21)가 형성되고, 상기 검침헤드(21)의 타측으로 연장되어 기둥(22)이 형성되고, 상기 기둥(22)상에는 기둥(22)의 직경보다 크게 외부로 돌출되도록 하는 걸림링(23)이 형성되며, 기둥(22)의 단부에는 탄성스프링(30)과 접촉되어 지지될 수 있는 스프링지지단부(24)가 형성되는 것을 특징으로 하는 척프로브핀.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 검침헤드(21)의 일측 단면에는 검사부위의 표면에서 이탈되는 것을 방지하기 위한 복수개의 접합돌기(21a)가 더 형성되는 것을 특징으로 하는 척프로브핀.
  4. 제 2항에 있어서,
    상기 플런저(20)는 몸체부(10)와 결합될 때, 기둥(22)의 일측에 형성되는 스프링지지단부(24)가 내삽되어, 몸체부(10)의 내측에 내삽되어 있는 탄성스프링(30)의 일측과 접촉되어 탄성스프링(30)을 가압하게 되며, 기둥(22)상에 형성되는 걸림링(23)이 몸체부(10)의 척(11)에 의해 걸리도록 하여 몸체부(10)와 플런저(20)가 결속되는 것을 특징으로 하는 척프로브핀.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102259150B1 (ko) * 2020-10-27 2021-06-02 (주) 네스텍코리아 전자부품 검사용 연결핀
WO2024123117A1 (en) * 2022-12-08 2024-06-13 Leeno Industrial Inc. Test probe and test device

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