JP2019130771A - 温度制御装置、温度制御方法、及び、温度制御プログラム - Google Patents

温度制御装置、温度制御方法、及び、温度制御プログラム Download PDF

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Abstract

【課題】樹脂等に対する温度制御を効果的に行う。【解決手段】温度制御装置は、ノズル部と、ノズル部に連接するシリンダ部によって、樹脂流路が形成され、樹脂流路を流れる樹脂の温度を制御する。温度制御装置は、ノズル部を流れる樹脂のノズル温度を検出する第1温度センサと、ノズル温度を第1目標温度になるようにPID制御する第1温度制御部と、シリンダ部を流れる樹脂のシリンダ温度を検出する複数の第2温度センサと、シリンダ温度を第2目標温度になるようにPID制御する、第2温度制御部と、を備える。第2温度制御部は、第1温度制御部からの温度制御情報を用いて、シリンダ温度をPID制御する。【選択図】図2

Description

この発明は、射出成形機等における、樹脂の温度を制御する技術に関する。
特許文献1に記載の構成においては、ノズルとシリンダに対して、複数の温度センサを設置して、それぞれに温度制御を行っている。また、射出成形機は、被加熱部の最も遅い昇温完了時期に、他の被加熱部の昇温完了時期が一致するように制御することによって、温度制御を行っている。
また、特許文献2に記載の射出成形機の構成においては、運転中の成形条件やパージ条件が変更された場合に、所定区間の時間と溶融樹脂に奪われる熱量とに基づいてシリンダの温度制御のフィードフォワード量を算出することによって温度制御を行っている。
特開2016−83778号公報 特開2013−1015号公報
しかしながら、樹脂の流れは、ノズル内のヒータから樹脂までの熱伝導の応答時間に対して速い。したがって、特許文献1、特許文献2の構成を用いた構成では、樹脂の温度を正確に制御できない虞がある。
このことによって、樹脂の温度変動が抑制できず、成形不良率が高くなってしまう。
したがって、本発明の目的は、樹脂等に対する温度制御を効果的に行うことである。
この温度制御装置は、ノズル部と、ノズル部に連接するシリンダ部によって、樹脂流路が形成され、樹脂流路を流れる樹脂の温度を制御する。温度制御装置は、ノズル部を流れる樹脂のノズル温度を検出する第1温度センサと、ノズル温度を第1目標温度になるようにPID制御する第1温度制御部と、シリンダ部を流れる樹脂のシリンダ温度を検出する複数の第2温度センサと、シリンダ温度を第2目標温度になるようにPID制御する、第2温度制御部と、を備える。
第2温度制御部は、第1温度制御部からの温度制御情報を用いて、シリンダ温度をPID制御する。
この構成では、ノズル部の温度制御情報に基づいて、シリンダ部の温度制御を行うことができる。このことによって、ノズル部の温度制御を効果的に行うことができ、成形不良率を抑制できる。
この温度制御装置の温度制御情報は、ノズル温度、または、ノズル温度と第1目標温度との温度偏差であることが好ましい。
この構成では、実際の温度により準じた制御を行うことができる。
この温度制御装置は、それぞれのシリンダ温度の制御位置と、ノズル温度の制御位置との距離に応じて、ゲイン定数、または、遅れ特性を設定し、温度制御情報を補正する温度制御情報設定部を備えていることが好ましい。
この構成では、ノズル部とシリンダ部の位置関係を考慮した温度制御を行うことができる。
この温度制御装置の複数の第2温度制御部の少なくとも1つは、温度制御情報を第2目標温度に加算することが好ましい。
この構成では、実測値に応じた温度制御を行うことができる。
この温度制御装置の複数の第2温度制御部の少なくとも1つは、温度制御情報を第2目標温度に加算する前に、ゲイン定数を乗ずることが好ましい。
この構成では、より実測値に応じた温度制御を行うことができる。
この温度制御装置のゲイン定数は、0より大きく、かつ、1以下であることが好ましい。
この構成では、より安定した温度制御を行うことができる。
この温度制御装置の複数の第2温度制御部の少なくとも1つは、温度制御情報を第2目標温度に加算する前に、遅れ特性を挿入することが好ましい。
この構成では、ノズル部における、急激な変化を抑制でき、適正な温度制御を行うことができる。
この温度制御装置の遅れ特性は、1次遅れ、または、むだ時間であることが好ましい。
この構成では、より実際の状態に応じた温度制御を行うことができる。
この発明によれば、樹脂の温度制御を効果的に行うことができる。
本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置の概要図である。 本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置のブロック図である。 本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置のフローチャートである。 本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置のフローチャートである。 本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置の制御結果を示すグラフである。 本発明の第2の実施形態に係る温度制御装置のブロック図である。
・適用例
まず、図2を用いて、本発明が適用される一例について説明する。図2は、第1の実施形態に係る温度制御装置のブロック図である。温度制御装置は、例えば、射出成形機に備えられている。以下の実施形態では、制御の具体例として射出成形機を用いて示しているが、他の押出成形機等の制御に対しても適用することができる。
温度制御装置10は、第1制御ループ部100と、第2制御ループ部210、220、230と、温度制御情報設定部300とを備える。第1制御ループ部100は、射出成形機のノズル部15のヒータ102の温度制御を行う。第2制御ループ部210、220、230は、射出成形機のシリンダ部20におけるヒータ212,222,232の温度制御をそれぞれ行う。温度制御情報設定部300は、第1温度制御情報設定部310と第2温度制御情報設定部320と第3温度制御情報設定部330を備える。なお、ヒータ212,222,232の温度は、本発明の「シリンダ温度」である。
第1制御ループ部100は、第1温度センサ101と、ヒータ102と、第1温度制御部103と、温度制御情報生成部104とを備える。
第2制御ループ部210は、第2温度センサ211と、ヒータ212と、第2温度制御部213と目標値補正部214とを備える。第2制御ループ部220は、第2温度センサ221と、ヒータ222と、第2温度制御部223と目標値補正部224とを備える。第2制御ループ部230は、第2温度センサ231と、ヒータ232と、第2温度制御部233と目標値補正部234とを備える。
まず、第1制御ループ部100について説明する。
第1温度センサ101は、ノズル部15の現在温度PV0を検出する。第1温度センサ101は、ノズル部15の現在温度PV0を第1温度制御部103、および、温度制御情報生成部104にフィードバックする。温度制御情報生成部104は、ノズル部15の現在温度PV0と、第1目標温度SP0とから、温度制御情報TD1を算出する。温度制御情報TD1は、ノズル部15の現在温度PV1、または、温度偏差である。温度偏差とは、現在温度PV1と第1目標温度SP0との差分値である。例えば、第1目標温度SP0が摂氏温度(℃)であれば、現在温度PV1も摂氏温度(℃)である。なお、ノズル部15の現在温度PV0とは、本発明の「ノズル温度」である。
第1温度制御部103は、ノズル部15の現在温度PV0と、第1目標温度SP0を用いて、PID制御を実行し、操作量MV0を算出し、ヒータ102に与える。これにより、第1温度制御部103は、ヒータ102への通電を制御する。
次に、第1制御ループ部100から第2制御ループ部210への温度制御情報のフィードバックについて説明する。第1制御ループ部100は、温度制御情報設定部300の第1温度制御情報設定部310を介して、第2制御ループ部210へ温度制御情報をフィードバックする。
温度制御情報生成部104は、第1温度制御情報設定部310に温度制御情報TD1を出力する。第1温度制御情報設定部310は、第2制御ループ部210の目標値補正部214に、ゲイン定数K1と遅れ特性TL1とで補正した温度制御情報TD11を出力する。
より具体的には、第1温度制御情報設定部310は、温度制御情報TD1にゲイン定数K1を乗じる。次に、第1温度制御情報設定部310は、温度制御情報TD1に遅れ特性TL1を挿入する。このことから、第1温度制御情報設定部310は、温度制御情報TD11を算出できる。なお、第1温度制御情報設定部310は、温度制御情報TD1にゲイン定数K1を乗じた後に、温度制御情報TD1に遅れ特性TL1を挿入することが好ましい。このことによって、ノイズ等を起因とする急激な変化を抑制できる。
ゲイン定数K1は、0以上1以下の値である。このことによって、温度制御が不安定となることを抑制できる。また、例えば、遅れ特性TL1は、1次遅れ、もしくは、むだ時間であり、シリンダ部20の制御位置(ノズル部15からの距離)によって決定される。なお、ゲイン定数K1はシリンダ部20の制御位置(ノズル部15からの距離)に基づいて設定してもよく、事前の実験シミュレーションの結果を用いて設定してもよい。
目標値補正部214は、第2目標温度SP1と温度制御情報TD11の差分値から、補正目標値SPM1を算出し、第2温度制御部213に出力する。
第2温度制御部213は、補正目標値SPM1と、第2制御ループ部210の現在温度PV1とを用いて、PID制御を行い、操作量MV1を算出する。第2温度制御部213は、操作量MV1によって、ヒータ212の制御を行う。第2温度センサ211は、ヒータ212の温度を検出する。
次に、第1制御ループ部100から第2制御ループ部220への温度制御情報のフィードバックについて説明する。第1制御ループ部100は、温度制御情報設定部300の第2温度制御情報設定部320を介して、第2制御ループ部220へ温度制御情報をフィードバックする。
温度制御情報生成部104は、第2温度制御情報設定部320に温度制御情報TD1を出力する。第2温度制御情報設定部320は、第2制御ループ部220の目標値補正部224にゲイン定数K2と遅れ特性TL2とで補正した温度制御情報TD1である温度制御情報TD12を出力する。
より具体的には、第2温度制御情報設定部320は、温度制御情報TD1にゲイン定数K2を乗じる。次に、第2温度制御情報設定部320は、温度制御情報TD1に遅れ特性TL2を加算する。このことから、第2温度制御情報設定部320は、温度制御情報TD12を算出できる。なお、第2温度制御情報設定部320は、温度制御情報TD1にゲイン定数K2を乗じた後に、温度制御情報TD1に遅れ特性TL2を挿入することが好ましい。このことによって、ノイズ等を起因とする急激な変化を抑制できる。
ゲイン定数K2は、0以上1以下の値である。このことによって、温度制御が不安定となることを抑制できる。また、例えば、遅れ特性TL2は、1次遅れ、もしくは、むだ時間であり、シリンダ部20の制御位置(ノズル部15からの距離)によって決定される。なお、ゲイン定数K2はシリンダ部20の制御位置(ノズル部15からの距離)に基づいて設定してもよく、事前の実験シミュレーションの結果を用いて設定してもよい。
目標値補正部224は、第2目標温度SP2と温度制御情報TD12の差分値から、補正目標値SPM2を算出し、第2温度制御部223に出力する。
第2温度制御部223は、補正目標値SPM2と、第2制御ループ部220の現在温度PV2とを用いて、PID制御を行い、操作量MV2を算出する。第2温度制御部223は、操作量MV2によって、ヒータ222の制御を行う。第2温度センサ221は、ヒータ222の温度を検出する。
次に、第1制御ループ部100から第2制御ループ部230への温度制御情報のフィードバックについて説明する。第1制御ループ部100は、温度制御情報設定部300の第3温度制御情報設定部330を介して、第2制御ループ部230へ温度制御情報をフィードバックする。
温度制御情報生成部104は、第3温度制御情報設定部330に温度制御情報TD1を出力する。第3温度制御情報設定部330は、第2制御ループ部230の目標値補正部234にゲイン定数K3と、遅れ特性TL3で補正した温度制御情報TD1である温度制御情報TD13を出力する。
より具体的には、第3温度制御情報設定部330は、温度制御情報TD1にゲイン定数K3を乗じる。次に、第3温度制御情報設定部330は、温度制御情報TD1に遅れ特性TL3を挿入する。このことから、第3温度制御情報設定部330は、温度制御情報TD13を算出できる。なお、第3温度制御情報設定部330は、温度制御情報TD1にゲイン定数K3を乗じた後に、温度制御情報TD1に遅れ特性TL3を挿入することが好ましい。このことによって、ノイズ等を起因とする急激な変化を抑制できる。
ゲイン定数K3は、0以上1以下の値である。このことによって、温度制御が不安定となることを抑制できる。また、遅れ特性TL3は、1次遅れ、もしくは、むだ時間であり、シリンダ部20の制御位置、すなわち、ノズル部15からの距離によって決定される。
目標値補正部234は、第2目標温度SP3と温度制御情報TD13の差分値を算出し、補正目標値SPM3を算出し、第2温度制御部233に出力する。
第2温度制御部233は、補正目標値SPM3と、第2制御ループ部210の第2目標温度SP3とを用いて、PID制御を行い、操作量MV3を算出する。第2温度制御部233は、操作量MV3によって、ヒータ232の制御を行う。第2温度センサ231は、ヒータ232の温度を検出する。
このことによって、ノズル部15の現在温度PV0は、目標温度である、第1目標温度SP0に対して、より効果的に落ち着く。
すなわち、ノズル部15に樹脂が到達するまでの間に、温度を制御することができ、第1温度制御部103は、ノズル部15における樹脂の温度制御を安定して行える。したがって、効果的な温度制御装置10が実現できる。
・構成例1
図1は、本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置を備える射出成形機の概要図である。図2は、本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置のブロック図である。図3は、本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置のフローチャートである。図4は、本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置の詳細なフローチャートである。図5は、本発明の第1の実施形態に係る温度制御装置の制御結果を示すグラフである。
上述の図2の温度制御装置の構成に基づき、図1を用いて、より具体的な構成例を説明する。
射出成形機1は、ノズル部15と、シリンダ部20と、樹脂流路30と、ヒータ212,222,232とを備えている。ノズル部15は、第1温度センサ101を備えている。また、ヒータ212の加熱部に、第2温度センサ211を備え、ヒータ222の加熱部は、第2温度センサ221を備え、ヒータ232の加熱部には、第2温度センサ231を備える。
樹脂流路30は、ノズル部15と、ノズル部15に連接するシリンダ部20によって形成されている。ノズル部15の先端は、金型150に接続されている。
射出成形機1は、シリンダ部20、ノズル部15によって形成される樹脂流路30を介して、樹脂を金型150に流し込む。
樹脂流路30を流れる樹脂は、ヒータ212,222,232、および、ノズル部15において、加熱される。
ノズル部15の温調をする第1制御ループ部100は、上述のように、温度制御情報をシリンダ部20の温調をする第2制御ループ部210、220、230に、それぞれにフィードバックする。ヒータ212,222,232は、温度制御情報に基づいて、PID制御を行う。
第1制御ループ部100が、温度制御情報をヒータ212,222,232にフィードバックすることによって、樹脂がノズル部15に到達する前に、樹脂の状態に応じた温度制御が行われる。
したがって、ノズル部15は、金型150に吐出される際の樹脂に対する温度制御を効果的かつ安定的に行うことができる。したがって、成形不良率を抑制した、温度制御装置10を実現できる。
図3のフローチャートを用いて、温度制御装置10の全体の制御手順を示す。なお、以下の手順は、第2制御ループ部210を例として説明するが、第2制御ループ部220、または、第2制御ループ部230も同様の制御が行われる。
また、図3は制御間の流れを示すものである。第1制御ループ部100と、第2制御ループ部210とは、同時並行に逐次実行されている。
第1制御ループ部100は、PID制御を行うとともに、温度制御情報TD1を算出する。第1制御ループ部100は、温度制御情報TD1を第1温度制御情報設定部310に出力する(S101)。
第1温度制御情報設定部310は、第2制御ループ部210に、ゲイン定数K1、遅れ特性TL1で補正した温度制御情報TD1である、温度制御情報TD11を出力する(S102)。
第2制御ループ部210は、温度制御情報TD11と、第2目標温度SP1用いて、PID制御を行い、操作量MV1を算出する。第2制御ループ部210は、ヒータ212に対する温度制御を行う(S103)。すなわち、例えば、時刻tにおける第2制御ループ部210での処理は、時刻t−1での第1制御ループ部100の結果に基づいて実行される。
次に、図3の制御手順を踏まえて、図4を用いて、第1制御ループ部100と、第2制御ループ部210による、温度制御装置10の詳細な制御手順を示す。
まず、第1制御ループ部100の制御手順について説明する。
周期制御を開始することにより、タイマが起動される(S111)。タイマと制御周期が等しくなる場合(S111:Yes)、第1温度制御部103は、タイマをリセットし、ステップS113以降の処理を実行させる(S112)。なお、タイマと制御周期が等しくない場合(S111:No)は、タイマと制御周期が等しくなるまで、ステップS111を繰り返して実行する。
第1温度制御部103は、第1温度センサ101からのノズル部15の温度を読み込む(S113)。
第1温度制御部103は、ノズル部15の温度制御情報TD1を算出する。また、温度制御情報生成部104は、温度制御情報TD1を第1温度制御情報設定部310に出力する(S114)。なお、温度制御情報は、第1温度センサ101が検出した現在温度PV0であってもよい。
第1温度制御部103は、温度制御情報に基づいて、PID制御を行い、ノズル部15の操作量MV0を算出する(S115)。
第1温度制御部103は、ヒータ102に対して、操作量MV0を元に、加熱制御を行う(S116)。
次に、第2温度制御ループの制御手順について説明する。周期制御を開始することにより、タイマが起動される(S121)。タイマと制御周期が等しくなる場合(S121:Yes)、第2温度制御部213は、タイマをリセットし、ステップS123以降の処理を実行させる(S122)。なお、タイマと制御周期が等しくない場合(S121:No)は、タイマと制御周期が等しくなるまで、ステップS121を繰り返して実行する。
第2温度制御部213は、第2温度センサ211からシリンダ部20の現在温度PV1を読み込む(S123)。第1制御ループ部100のタイマと、第2制御ループ部210のタイマは同期しており、制御周期は同じである。
第1温度制御情報設定部310は、温度制御情報生成部104から温度制御情報TD1を読み込む(S124)。
第1温度制御情報設定部310は、温度制御情報TD1と、ゲイン定数K1と、遅れ特性TL1とから温度制御情報TD11を算出し、目標値補正部214に出力する(S125)。
目標値補正部214は、温度制御情報TD11と、第2目標温度SP1とを元に、補正目標値SPM1を算出する。第2温度制御部213は、補正目標値SPM1と現在温度PV1とに基づいて、PID制御を行い、操作量MV1を算出する(S126)。
第2温度制御部213は、ヒータ212に対して、操作量MV1を元に、加熱制御を行う(S127)。
図5を用いて、上述の構成を用いたフィードバック制御を行った、ノズル部15から最も遠いA地点、シリンダ部20の加熱部に近いB地点、ノズル部15に近いC地点の温度変化の一例をグラフに示す。
図5に示すように、A地点、B地点においては、温度偏差に変化があまり見られない。しかしながら、C地点においては、時間を経るにつれて、温度偏差T1、T2、T3と変化する。より具体的には、温度偏差は、温度偏差T1>温度偏差T2>温度偏差T3と変化している。
すなわち、上述の温度制御装置10を用いたフィードバック制御を行うことによって、ノズル部15の温度偏差を抑制することができる。このことから、ノズル部15は、金型150に吐出される際の樹脂の温度に対する制御を効果的、かつ安定的に行うことができる。したがって、成形不良率を抑制する、温度制御装置10を実現できる。
・構成例2
次に、図6を用いて、第2の実施形態に係る温度制御装置の概要について説明する。図6は、本発明の第2の実施形態に係る温度制御装置のブロック図である。
第2の実施形態においては、第1の実施形態と比較して、温度制御情報のフィードバックの実行方法において異なる。その他の点については、第1の実施形態と同様であり、同様の箇所の説明は省略する。
温度制御装置10Aは、第1制御ループ部100と、第2制御ループ部210A、220A、230Aと温度制御情報設定部300Aとを備える。温度制御情報設定部300Aは、第1温度制御情報設定部310Aと、第2温度制御情報設定部320Aと、第3温度制御情報設定部330Aとを備える。第1制御ループ部100は、射出成形機のノズル部15のヒータ102の温度制御を行う。第2制御ループ部210A、220A、230Aは、射出成形機のシリンダ部20におけるヒータ212,222,232の温度制御をそれぞれ行う。
第2制御ループ部210Aは、第2温度センサ211と、ヒータ212と、第2温度制御部213と、目標値補正部214Aとを備える。第2制御ループ部220Aは、第2温度センサ221と、ヒータ222と、第2温度制御部223と、目標値補正部224Aとを備える。第2制御ループ部230Aは、第2温度センサ231と、ヒータ232と、第2温度制御部233と、目標値補正部234Aとを備える。
まず、第1制御ループ部100から第2制御ループ部210Aへの温度制御情報のフィードバックについて説明する。第1制御ループ部100は、温度制御情報設定部300Aの第1温度制御情報設定部310Aを介して、第2制御ループ部210Aへフィードバックする。
温度制御情報生成部104は、第1温度制御情報設定部310Aに温度制御情報TD1を出力する。第1温度制御情報設定部310Aは、ゲイン定数K1と、遅れ特性TL1とで補正した、温度制御情報TD11を、第2制御ループ部210Aの目標値補正部214Aに出力する。
より具体的には、第1温度制御情報設定部310Aは、温度制御情報TD1にゲイン定数K1を乗じる。次に、第1温度制御情報設定部310Aは、温度制御情報TD1に遅れ特性TL1を挿入する。このことから、第1温度制御情報設定部310Aは、温度制御情報TD11を算出できる。
目標値補正部214Aは、第2目標温度SP1と温度制御情報TD11の差分値から補正目標値SPM1を算出し、第2温度制御部213に出力する。
第2温度制御部213は、補正目標値SPM1と、第2制御ループ部210の現在温度PV1とを用いて、PID制御を行い、操作量MV1を算出する。第2温度制御部213は、操作量MV1によって、ヒータ212の制御を行う。第2温度センサ211は、ヒータ212の温度を検出する。
なお、目標値補正部214Aは、第2制御ループ部220Aへのフィードバックを行うために、第2温度制御情報設定部320Aに温度制御情報TD12を出力する。温度制御情報TD12は、第2目標温度SP1と、現在温度PV1から算出される。すなわち、温度制御情報TD12は、現在温度PV1と第2目標温度SP1との偏差を用いる。なお、温度制御情報TD12は、現在温度PV1であってもよい。
次に、第2制御ループ部210Aから第2制御ループ部220Aへの温度制御情報のフィードバックについて説明する。第2制御ループ部210Aは、温度制御情報設定部300Aの第2温度制御情報設定部320Aを介して、第2制御ループ部220Aへフィードバックする。
第2温度制御情報設定部320Aは、ゲイン定数K2と、遅れ特性TL2とで補正した温度制御情報TD21を、第2制御ループ部220Aの目標値補正部224Aに出力する。
より具体的には、第2温度制御情報設定部320Aは、温度制御情報TD12にゲイン定数K2を乗じる。次に、第2温度制御情報設定部320Aは、温度制御情報TD12に遅れ特性TL2を挿入する。このことから、第2温度制御情報設定部320Aは、温度制御情報TD21を算出できる。
目標値補正部224Aは、第2目標温度SP2と温度制御情報TD21の差分値から、補正目標値SPM2を算出し、第2温度制御部223に出力する。
第2温度制御部223は、補正目標値SPM2と、第2制御ループ部220の現在温度PV2とを用いて、PID制御を行い、操作量MV2を算出する。第2温度制御部223は、操作量MV2によって、ヒータ222の制御を行う。第2温度センサ221は、ヒータ212の温度を検出する。
なお、目標値補正部224Aは、第2制御ループ部230Aへのフィードバックを行うために、第3温度制御情報設定部330Aに温度制御情報TD22を出力する。温度制御情報TD22は、第2目標温度SP2と、現在温度PV2から算出される。すなわち、温度制御情報TD22は、現在温度PV2と第2目標温度SP2との偏差を用いる。なお、温度制御情報TD22は、現在温度PV2であってもよい。
次に、第2制御ループ部220Aから第2制御ループ部230Aへの温度制御情報のフィードバックについて説明する。第2制御ループ部220Aは、温度制御情報設定部300Aの第3温度制御情報設定部330Aを介して、第2制御ループ部230Aへフィードバックする。
第3温度制御情報設定部330Aは、ゲイン定数K3と、遅れ特性TL3とで補正した温度制御情報TD31を、第2制御ループ部230Aの目標値補正部234Aに出力する。
より具体的には、第3温度制御情報設定部330Aは、温度制御情報TD22にゲイン定数K3を乗じる。次に、第3温度制御情報設定部330Aは、温度制御情報TD22に遅れ特性TL3を挿入する。このことから、第3温度制御情報設定部330Aは、温度制御情報TD31を算出できる。
目標値補正部234Aは、第2目標温度SP3と温度制御情報TD31の差分値から、補正目標値SPM3を算出し、第2温度制御部233に出力する。
第2温度制御部233は、補正目標値SPM3と、第2制御ループ部230の現在温度PV3とを用いて、PID制御を行い、操作量MV3を算出する。第2温度制御部233は、操作量MV3によって、ヒータ232の制御を行う。第2温度センサ231は、ヒータ212の温度を検出する。
このことによって、ノズル部15の現在温度PV1は、目標温度である、第1目標温度SP0に対して、より効果的に落ち着く。
なお、上述の構成では、複数の第2制御ループ部を用いて説明した。しかしながら、少なくとも1つの第2制御ループを用いることでも、上述の構成を実現できる。
また、上述の制御方法は、温度制御装置の温度上昇が一定になる状態で使用することが好ましい。このことによって、より適正なフィードバック制御を行うことができる。
K1、K2、K3…ゲイン定数
MV0、MV1、MV2、MV3…操作量
PV0、PV1、PV2、PV3…現在温度
SP0…第1目標温度
SP1、SP2、SP3…第2目標温度
SPM1、SPM2、SPM3…補正目標値
T1、T2、T3…温度偏差
TD1、TD11、TD12、TD13、TD21、TD22、TD31…温度制御情報
TL1、TL2、TL3…遅れ特性
1…射出成形機
10、10A…温度制御装置
15…ノズル部
20…シリンダ部
30…樹脂流路
100…第1制御ループ部
101…第1温度センサ
102…ヒータ
103…第1温度制御部
104…温度制御情報生成部
150…金型
210、210A…第2制御ループ部
211…第2温度センサ
212…ヒータ
213…第2温度制御部
214、214A…目標値補正部
220、220A…第2制御ループ部
221…第2温度センサ
222…ヒータ
223…第2温度制御部
224、224A…目標値補正部
230、230A…第2制御ループ部
231…第2温度センサ
232…ヒータ
233…第2温度制御部
234、234A…目標値補正部
310、310A…第1温度制御情報設定部
320、320A…第2温度制御情報設定部
330、330A…第3温度制御情報設定部

Claims (10)

  1. ノズル部と、前記ノズル部に連接するシリンダ部によって、樹脂流路が形成され、前記樹脂流路を流れる樹脂の温度を制御する、温度制御装置であって、
    前記ノズル部を流れる樹脂のノズル温度を検出する、第1温度センサと、
    前記ノズル温度を第1目標温度になるようにPID制御する、第1温度制御部と、
    前記シリンダ部を流れる樹脂のシリンダ温度を検出する、第2温度センサと、
    前記シリンダ温度を第2目標温度になるようにPID制御する、複数の第2温度制御部と、
    を備え、
    前記第2温度制御部は、
    前記第1温度制御部からの温度制御情報を用いて、前記シリンダ温度をPID制御する、
    温度制御装置。
  2. 前記温度制御情報は、
    前記ノズル温度、または、前記ノズル温度と前記第1目標温度との温度偏差である、
    請求項1に記載の温度制御装置。
  3. それぞれの前記シリンダ温度の制御位置と、前記ノズル温度の制御位置との距離に応じて、
    ゲイン定数、または、遅れ特性を設定し、前記温度制御情報を補正する温度制御情報設定部を備える、
    請求項1または請求項2に記載の温度制御装置。
  4. 前記複数の第2温度制御部の少なくとも1つは、
    前記温度制御情報を前記第2目標温度に加算する、
    請求項1乃至請求項3のいずれかに記載の温度制御装置。
  5. 前記複数の第2温度制御部の少なくとも1つは、
    前記温度制御情報を前記第2目標温度に加算する前に、
    ゲイン定数を乗じる、
    請求項3に記載の温度制御装置。
  6. 前記ゲイン定数は、0より大きく、かつ、1以下である、請求項5に記載の温度制御装置。
  7. 前記複数の第2温度制御部の少なくとも1つは、
    前記温度制御情報を前記第2目標温度に加算する前に、
    遅れ特性を挿入する、
    請求項3記載の温度制御装置。
  8. 前記遅れ特性は、1次遅れ、または、むだ時間である、請求項7に記載の温度制御装置。
  9. ノズル部と、前記ノズル部に連接するシリンダ部によって、樹脂流路が形成され、前記樹脂流路を流れる樹脂の温度を制御する温度制御方法であって、
    前記ノズル部を流れる樹脂のノズル温度を検出するステップと、
    前記ノズル温度を第1目標温度になるようにPID制御するステップと、
    前記シリンダ部を流れる樹脂のシリンダ温度を検出するステップと、
    前記シリンダ温度を第2目標温度になるようにPID制御するステップと、
    をコンピュータが実行し、
    温度制御情報を用いて、前記シリンダ温度をPID制御するステップを実行する、
    温度制御方法。
  10. ノズル部と、前記ノズル部に連接するシリンダ部によって、樹脂流路が形成され、前記樹脂流路を流れる樹脂の温度を制御する温度制御プログラムであって、
    前記ノズル部を流れる樹脂のノズル温度を検出するステップと、
    前記ノズル温度を第1目標温度になるようにPID制御するステップと、
    前記シリンダ部を流れる樹脂のシリンダ温度を検出するステップと、
    前記シリンダ温度を第2目標温度になるようにPID制御するステップと、
    をコンピュータに実行させ、
    温度制御情報を用いて、前記シリンダ温度をPID制御するステップをコンピュータに実行させる、
    温度制御プログラム。
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