JP2018190949A5 - - Google Patents

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  1. 画素部と、前記画素部を駆動する駆動回路とを有し、
    前記駆動回路は、第1のトランジスタを有し、
    前記画素部は、第2のトランジスタ及び前記第2のトランジスタに電気的に接続される画素電極を有し、
    前記第1のトランジスタは、第1のゲート電極と、第2のゲート電極と、前記第1のゲート電極及び前記第2のゲート電極の間に設けられ、且つチャネルの機能を有する第1の金属酸化物膜と、を有し、
    前記第1のゲート電極及び前記第2のゲート電極は、電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタは、チャネルの機能を有する第2の金属酸化物膜を有し、
    前記画素電極は、第3の金属酸化物膜で形成され、
    前記第3の金属酸化物膜は、前記第2の金属酸化物膜より水素濃度が高い領域を有し、
    前記第1の金属酸化物膜、前記第2の金属酸化物膜、及び前記第3の金属酸化物膜は、それぞれ第1の領域及び第2の領域を有し、
    前記第1の領域は、InまたはZnと、酸素とを有し、
    前記第2の領域は、Inまたは元素Mと、酸素とを有し、
    前記第1の領域及び前記第2の領域は、モザイク状に分散または分布している、
    示装置。
  2. 請求項1において、
    前記第1の金属酸化物膜及び前記第2のトランジスタ上に絶縁膜が設けられ、
    前記絶縁膜は、前記第2のトランジスタ上において開口部を有し、
    前記第2の金属酸化物膜は、ゲート絶縁膜上に設けられ、
    前記第1のゲート電極及び前記第2のゲート電極の一方、並びに前記第3の金属酸化物膜は、前記絶縁膜上に設けられ、
    前記第3の金属酸化物膜は、前記絶縁膜の開口部において、前記第2のトランジスタと電気的に接続される、
    示装置。
  3. 請求項1において、
    前記第1の金属酸化物膜及び前記第2のトランジスタ上に第1の絶縁膜及び第2の絶縁膜が順に積層して設けられ、
    前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜はそれぞれ、前記第2のトランジスタ上において開口部を有し、
    前記第2の金属酸化物膜は、ゲート絶縁膜上に設けられ、
    前記第1のゲート電極及び前記第2のゲート電極の一方は、前記第1の絶縁膜上に設けられ、
    前記第3の金属酸化物膜は、前記第2の絶縁膜上に設けられ、
    前記第3の金属酸化物膜は、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜それぞれの開口部において、前記第2のトランジスタと電気的に接続される、
    示装置。
  4. 請求項1において、
    前記第2のトランジスタは、第3のゲート電極と、ゲート絶縁膜と、を有し、
    前記第2の金属酸化物膜及び前記第3の金属酸化物膜は、前記ゲート絶縁膜上に設けられる、
    示装置。
  5. 画素部と、前記画素部を駆動する駆動回路とを有し、
    前記駆動回路は、第1のトランジスタを有し、
    前記画素部は、第2のトランジスタ及び前記第2のトランジスタに電気的に接続される画素電極を有し、
    前記第2のトランジスタ上に第1の絶縁膜及び第2の絶縁膜が順に積層して設けられ、
    前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜はそれぞれ、前記第2のトランジスタ上において開口部を有し、
    前記第1のトランジスタは、第1のゲート電極と、第2のゲート電極と、前記第1のゲート電極及び前記第2のゲート電極の間に設けられ、且つチャネルの機能を有する第1の金属酸化物膜と、を有し、
    前記第1のゲート電極及び前記第2のゲート電極は、電気的に接続され、
    前記第2のトランジスタは、チャネルの機能を有する第2の金属酸化物膜を有し、
    前記第1のゲート電極及び前記第2のゲート電極の一方は、前記第1の絶縁膜上に設けられ、
    前記画素電極は、前記第2の絶縁膜上に設けられ、
    前記画素電極は、前記第1の絶縁膜及び前記第2の絶縁膜それぞれの開口部において、前記第2のトランジスタと電気的に接続され、
    前記第1の金属酸化物膜及び前記第2の金属酸化物膜は第1の領域及び第2の領域を有し、
    前記第1の領域は、InまたはZnと、酸素とを有し、
    前記第2の領域は、Inまたは元素Mと、酸素とを有し、
    前記第1の領域及び前記第2の領域は、モザイク状に分散または分布している、
    示装置。
  6. 請求項1乃至請求項のいずれか一項において、
    前記第1のトランジスタは、デュアルゲート構造であり、
    前記第2のトランジスタは、シングルゲート構造である、
    示装置。
  7. 請求項1乃至請求項のいずれか一項に記載の表示装置と、
    受信装置と、を有する電子機器。
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Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7110116B2 (ja) * 2017-01-16 2022-08-01 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US10460822B2 (en) * 2017-08-23 2019-10-29 Arm Limited Memory with a controllable I/O functional unit
CN108376695B (zh) * 2018-02-05 2021-01-08 惠科股份有限公司 一种显示面板和显示装置
JP7275112B2 (ja) 2018-04-20 2023-05-17 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP2020092222A (ja) * 2018-12-07 2020-06-11 日新電機株式会社 薄膜トランジスタ及びその製造方法
KR102557031B1 (ko) 2018-12-28 2023-07-19 삼성전자주식회사 금속 베젤을 이용하는 안테나 모듈 및 그것을 포함하는 전자 장치
JP7201508B2 (ja) * 2019-03-28 2023-01-10 株式会社ジャパンディスプレイ 半導体装置
US11036322B2 (en) * 2019-06-24 2021-06-15 Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd Array substrate and method of manufacturing same
KR20210028318A (ko) 2019-09-03 2021-03-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 제조 방법
CN111243540A (zh) * 2020-02-21 2020-06-05 合肥鑫晟光电科技有限公司 一种显示面板的驱动方法、其驱动电路及显示装置
JP7454971B2 (ja) * 2020-03-17 2024-03-25 東京エレクトロン株式会社 検出方法及びプラズマ処理装置
KR20220067651A (ko) * 2020-11-17 2022-05-25 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20230155700A (ko) * 2022-05-04 2023-11-13 경희대학교 산학협력단 강유전성 박막 트랜지스터를 이용한 디스플레이 화소 회로 및 그 구동 방법
TWI825888B (zh) * 2022-08-02 2023-12-11 元太科技工業股份有限公司 觸控顯示裝置及其製作方法

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050017244A1 (en) 2003-07-25 2005-01-27 Randy Hoffman Semiconductor device
WO2011007675A1 (en) 2009-07-17 2011-01-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
TWI634642B (zh) 2009-08-07 2018-09-01 半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置和其製造方法
JP5458102B2 (ja) 2009-09-04 2014-04-02 株式会社東芝 薄膜トランジスタの製造方法
KR101801540B1 (ko) 2009-10-16 2017-11-27 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 액정 표시 장치 및 액정 표시 장치를 포함한 전자 기기
WO2011048924A1 (en) 2009-10-21 2011-04-28 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and electronic device including display device
TWI525818B (zh) 2010-11-30 2016-03-11 半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置及半導體裝置之製造方法
WO2013154195A1 (en) 2012-04-13 2013-10-17 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device
KR102388690B1 (ko) 2012-05-31 2022-04-19 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치
TWI821777B (zh) 2012-09-24 2023-11-11 日商半導體能源研究所股份有限公司 半導體裝置
US9166021B2 (en) 2012-10-17 2015-10-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and method for manufacturing the same
US9704894B2 (en) 2013-05-10 2017-07-11 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device including pixel electrode including oxide
CN105659370A (zh) 2013-10-22 2016-06-08 株式会社半导体能源研究所 显示装置
JP6625796B2 (ja) * 2013-10-25 2019-12-25 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
JP6486660B2 (ja) * 2013-11-27 2019-03-20 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置
KR102220450B1 (ko) 2013-12-02 2021-02-25 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 표시 장치
JP6506545B2 (ja) * 2013-12-27 2019-04-24 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US9929279B2 (en) * 2014-02-05 2018-03-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
CN104867981B (zh) 2014-02-21 2020-04-21 株式会社半导体能源研究所 半导体膜、晶体管、半导体装置、显示装置以及电子设备
US10043913B2 (en) 2014-04-30 2018-08-07 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor film, semiconductor device, display device, module, and electronic device
KR20150126272A (ko) * 2014-05-02 2015-11-11 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 산화물의 제작 방법
US20150318171A1 (en) * 2014-05-02 2015-11-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing oxide
KR102333604B1 (ko) 2014-05-15 2021-11-30 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 반도체 장치, 이 반도체 장치를 포함하는 표시 장치
US10249644B2 (en) 2015-02-13 2019-04-02 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method of the same
DE112016001033T5 (de) 2015-03-03 2017-12-21 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Halbleitervorrichtung, Verfahren zum Herstellen derselben oder Anzeigevorrichtung mit derselben
JP2016183322A (ja) 2015-03-25 2016-10-20 日本ポリプロ株式会社 電気電子機器部品搬送ケース用プロピレン系樹脂組成物及び電気電子機器部品搬送ケース
WO2017149413A1 (en) 2016-03-04 2017-09-08 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and manufacturing method thereof
WO2017153862A1 (en) 2016-03-11 2017-09-14 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Composite and transistor
JP6917734B2 (ja) 2016-03-18 2021-08-11 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
US10388738B2 (en) 2016-04-01 2019-08-20 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Composite oxide semiconductor and method for manufacturing the same
KR102492209B1 (ko) 2016-05-19 2023-01-27 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 복합 산화물 반도체 및 트랜지스터

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