JP2018179877A - 坏土の評価方法、押出物の製造方法 - Google Patents

坏土の評価方法、押出物の製造方法 Download PDF

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Abstract

【課題】押出スクリュ由来の坏土状態の欠陥を定量的に評価することができる坏土の評価方法、該評価方法によって製造され、ハニカム構造体の構造欠陥の発生を抑制できる押出物の製造方法を提供する。【解決手段】ハニカム構造体の製造に用いられる坏土の評価方法、及びこれを用いた押出物の製造方法である。原料の混合物を混練することにより坏土を得る。次いで、坏土を押出すと共に圧密させることにより押出物2を得る。押出物2の正常部24及び異常部25のそれぞれについて、パルスNMR法によって水プロトンから発せられるT1緩和時間及びT2緩和時間の少なくとも一方を計測する。上記正常部と上記異常部におけるT1緩和時間の差及び上記正常部と上記異常部におけるT2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて、坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価する。【選択図】図3

Description

本発明は、ハニカム構造体の製造に用いられる坏土の評価方法、押出物の製造方法に関する。
自動車等の内燃機関から排出される排ガスを浄化するための排ガス浄化フィルタ等として、セラミックス製のハニカム構造体が知られている。ハニカム構造体は、ハニカム状のセル壁と該セル壁に囲まれたセルとを有する。このようなハニカム構造体は、セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水等を混練することにより坏土を得る工程、坏土を所望形状に押出成形することにより成形体を得る工程、成形体を乾燥させる工程、及び乾燥後の成形体を焼成する工程を順次行うことにより製造される。
坏土の性状は、セラミックスからなるハニカム構造体の特性に大きく影響する。しかし、実際の生産現場では、坏土の性状の評価は、作業者の熟練した感覚に依存するところが大きく、高品質な製品の安定的な供給が困難になっている。
そこで、特許文献1には、例えば加圧ニーダを用いて得られる坏土について、NMR法によってプロトンのT1緩和時間及び/又はT2緩和時間を計測して坏土の混練状態を評価する評価方法、及びこの評価方法を用いて坏土を製造する製造方法が提案されている。
そして、T1緩和時間が混練前の初期値の80%以下となるまで坏土の混練時間を長くすることにより、キレやササクレのない薄壁から構成されるハニカム成形体が作製できることを明かにしている。
特開2010−208066号公報
しかしながら、従来の評価方法及び製造方法は、ハニカム構造体の構造欠陥の抑制効果が十分ではないだけでなく、実用上現実的ではない。すなわち、実際の生産現場では、バッチ式の加圧ニーダではなく、オーガスクリュ成形機と呼ばれる押出スクリュ成形機が用いられており、従来法のように混練時間を変更することは実質不可能である。そこで、より実用的な評価方法、構造欠陥の抑制効果の高い製造方法の開発が望まれている。
押出スクリュ成形機を用いたハニカム成形において最も重要な点は、成形時に坏土の押し出し速度を面内で均一化させることである。均一化できない場合には、セル歪み、タテヨレとも呼ばれるセル壁の波状部、クラックといった構造欠陥が発生するおそれがある。このような構造欠陥は、セル壁の厚みを薄化させるほど顕著になる。
これらの構造欠陥のうち、セル歪み、クラックは製造工程内の目視検査ではじかれる。しかし、セル壁の波状部に関しては定量的に目視で判断することができないため、流出させない条件で製造することが最も重要になる。波状部が発生した場合には、例えばハニカム構造体に触媒をコートする際に触媒コート幅が不均一になるという不具合が発生する。
成形時における押出速度を均一化させるためには、成形前の坏土特性が均一であることが重要である。しかし、押出スクリュ成形機は、そのスクリュ構造が原因となって、坏土からなる押出物の内部にスクリュの回転運動に由来した欠陥を発生させる。この欠陥は高圧力環境で螺旋状のスクリュ表面に染み出した坏土中の液相成分に由来していることが明かになってきた。
本発明は、かかる課題に鑑みてなされたものであり、押出スクリュ由来の坏土状態の欠陥を定量的に評価することができる坏土の評価方法、該評価方法によって製造され、ハニカム構造体の構造欠陥の発生を抑制できる押出物の製造方法を提供しようとするものである。
本発明の一態様は、ハニカム構造体(H)の製造に用いられる坏土(1)の評価方法であって、
セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水を少なくとも含む混合物を混練することにより上記坏土を得る混練工程と、
上記坏土を押出スクリュ成形機(3)により押出すと共に抵抗管(35)を通して圧密させることにより、上記坏土からなる押出物(2)を得る押出工程と、
上記押出物の正常部(24)及び異常部(25)のそれぞれについて、パルスNMR法によって水プロトンから発せられるT1緩和時間及びT2緩和時間の少なくとも一方を計測し、上記正常部と上記異常部におけるT1緩和時間の差及び上記正常部と上記異常部におけるT2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて上記坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価する評価工程と、を有する坏土の評価方法にある。
本発明の他の態様は、ハニカム構造体(H)の製造に用いられる押出物(2)の製造方法であって、
セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水を少なくとも含む混合物を混練することにより坏土(1)を得る混練工程と、
上記坏土を押出スクリュ成形機(3)により押出すと共に抵抗管(35)を通して圧密させることにより、上記坏土からなる上記押出物を得る押出工程と、
上記押出物の正常部(21)及び異常部(22)のそれぞれについて、パルスNMR法によって水プロトンから発せられるT1緩和時間及びT2緩和時間の少なくとも一方を計測し、上記坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価する評価工程と、を有し、
上記正常部と上記異常部における上記T1緩和時間の差及び上記正常部と上記異常部における上記T2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて上記混練工程における混練条件及び上記押出工程における圧密条件を決定する、押出物の製造方法にある。
上記評価方法においては、上記のように混練工程、押出工程、及び評価工程を行う。混練工程においては、セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水を少なくとも含む混合物を混練する。これにより坏土を得る。押出工程においては、坏土を押出スクリュ成形機により押出すと共に抵抗管を通して圧密させる。これにより、坏土からなる押出物を得る。
押出スクリュ成形機により坏土を押出すと、混練や圧密が不十分な場合には、押出物中の水などの液相成分が周囲から分離してくる。この分離した離水部分が異常部となる。評価工程においては、この異常部とその周囲の正常部のそれぞれについて、パルスNMR法によって水プロトンから発せられるT1緩和時間及びT2緩和時間の少なくとも一方を計測する。そして、正常部と異常部におけるT1緩和時間の差、及び正常部と異常部におけるT2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて、坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価する。
つまり、上記評価方法によれば、T1緩和時間の差及びT2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて、客観的で定量的に坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価することができる。そのため、作業者の熟練した感覚に依存することなく、ハニカム構造体の構造欠陥を引き起こしうる坏土性状の要因特定を早期に進めることができる。したがって、生産歩留りを向上させることができる。
上記押出物の製造方法においては、上記のごとく、混練工程、押出工程、及び評価工程を行う。つまり、正常部と異常部におけるT1緩和時間の差及び正常部と異常部におけるT2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて混練工程における混練条件及び押出工程における圧密条件を決定する。これにより、押出物の坏土特性を均一にできる。そのため、押出物を用いると、ハニカム構造体の構造欠陥の発生を抑制することができる。
以上のごとく、上記態様によれば、押出スクリュ由来の坏土状態の欠陥を定量的に評価することができる坏土の評価方法、該評価方法によって製造され、ハニカム構造体の構造欠陥の発生を抑制できる押出物の製造方法を提供することができる。
なお、特許請求の範囲及び課題を解決する手段に記載した括弧内の符号は、後述する実施形態に記載の具体的手段との対応関係を示すものであり、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
実施形態1における、混練・押出成形機の断面模式図。 実施形態1における、押出スクリュ成形機の断面模式図。 実施形態1における、押出方向と直交方向における棒状坏土断面を示す図面代用写真。 実施形態1における、押出方向と平行方向の切断面で切断したハニカム成形体を示す図面代用写真。 図4における領域Vを拡大表示する図面代用写真。 実施形態2におけるハニカム構造体の斜視図。 実施形態2における、1回の混練で得られる棒状坏土の断面を示す図面代用写真(a)、2回の混練で得られる棒状坏土の断面を示す図面代用写真(b)、3回の混練で得られる棒状坏土の断面を示す図面代用写真(c)、1回の混練及び絞り率を10%増やして得られる棒状坏土の断面を示す図面代用写真(d)。 実施形態2における、混練回数、絞り率を変更して作製した各丸棒坏土の正常部と異常部のT1緩和時間を示すグラフ。 実施形態2における、混練回数、絞り率を変更して作製した各丸棒坏土の正常部と異常部のT2緩和時間を示すグラフ。 実施形態2における、1回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体の光透過を示す図面代用写真(a)、2回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体の光透過を示す図面代用写真(b)、3回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体の光透過を示す図面代用写真(c)、1回の混練及び絞り率を10%増やして得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体の光透過を示す図面代用写真(d)。 実施形態2における、1回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体のX線CTスキャン画像を示す図面代用写真(a)、2回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体のX線CTスキャン画像を示す図面代用写真(b)、3回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体のX線CTスキャン画像を示す図面代用写真(c)、1回の混練及び絞り率を10%増やして得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体のX線CTスキャン画像を示す図面代用写真(d)。 実施形態2における、1回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体の触媒コート幅を示す図面代用写真(a)、2回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体の触媒コート幅を示す図面代用写真(b)、3回の混練で得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体の触媒コート幅を示す図面代用写真(c)、1回の混練及び絞り率を10%増やして得られる棒状坏土を用いて得られたハニカム構造体の触媒コート幅を示す図面代用写真(d)。 実施形態2における、吸引方式により触媒スラリーをハニカム構造体に担持する方法を示す模式図。
(実施形態1)
坏土の評価方法に係る実施形態について、図1〜図5を参照して説明する。坏土は、例えばハニカム構造体の製造に用いられるものであり、以下のように評価を行う。まず、混練工程及び押出工程を行うことにより、押出物を作製する。混練工程、押出工程には、図1及び図2に例示される混練・成形機Mを用いることができる。
図1に例示されるように、混練・成形機Mは、例えば混練機4と押出スクリュ成形機3とを備えている。同図においては、混練機4及び押出スクリュ成形機3はいずれも1軸タイプであるが、2軸タイプであってもよい。後述の異常部と正常部との判別がし易く、例えば目視による判別が可能になり易いという観点からは1軸タイプが好ましい。
混練機4は、混練スクリュ41とバレル42と整流板43とを備える。バレル42は、混練スクリュ41を内挿する例えば筒状体である。整流板43は、バレル43の先端に設けられ、混練された坏土は整流板43を通ってペレット状に押し出される。
押出スクリュ成形機3は、押出スクリュ31とバレル32と抵抗管35と金型37とを備える。バレル32は押出スクリュ31を内挿する例えば筒状体である。バレル32の先端には抵抗管35が設けられている。抵抗管35は、筒状の縮径部を有しており、先端に向けて径が小さくなっている。抵抗管35の先端には金型37が設けられている。金型37はハニカム状のスリットを有している。
混練機4における混練スクリュ41及びバレル42の少なくとも一方は、冷却液が流れる冷却管を備えることができる。この冷却液の温度により、混練機4内の原料温度を調整することができる。また、押出スクリュ成形機3における押出スクリュ31及びバレル32の少なくとも一方も、冷却液が流れる冷却管を備えることができる。冷却液の温度により、押出スクリュ成形機3内の坏土の温度を調整することができる。冷却管の図示は省略する。
図1に例示されるように、混練機4及び押出スクリュ成形機3は、鉛直方向の上下に配置されており、混練機4が鉛直方向の上側、押出スクリュ成形機3が下側に配置されている。このような混練・成形機Mは、横出し成形機と呼ばれ、例えば(株)ユニバース製などの市販品を用いることができる。横出し形式の混練・成形機Mにおいては、混練機4の整流板43を通過してペレット状に成形された坏土1が自重により落下して押出スクリュ成形機3に供給される構成となっている。
坏土1は、混練機4から押出スクリュ成形機3に供給された後、押出スクリュ成形機3内の押出スクリュ31により抵抗管35を通過して金型37から押し出される。これにより、ハニカム成形体が得られる。
押出スクリュ成形機3のバレル32と金型37との間には縮径部を有する抵抗管35が設けられている。したがって、坏土1は、押出スクリュ31により押出されて抵抗管35を通過するときに圧密される。抵抗管35が円筒の場合には、圧密後、金型通過前において、例えば丸棒状のような棒状坏土が得られる。丸棒状の坏土を以下、丸棒坏土という。
抵抗管35の絞り率、押出方向の長さは、適宜変更できる。これにより、坏土の圧密状態を調整することができる。なお、絞り率Rは、図2に例示される抵抗管35の入口直径Φ1と出口直径Φ2とから以下の式(I)で算出される。
R=(Φ1−Φ2)×100/Φ1 ・・・(I)
丸棒坏土は、抵抗管35の先端に設けられた金型37の図示しないスリットを通過してハニカム状に成形される。ハニカム成形体を乾燥、焼成することによりにより、ハニカム構造体が得られる。
坏土は、セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水を少なくとも含む混合物を混練することにより得られる。セラミック原料としては、例えば焼成後にコージェライトを生成するコージェライト化原料を用いることができる。コージェライト化原料としては、例えば、アルミナ、水酸化アルミニウム、シリカ、タルク、カオリンなどが用いられる。
ハニカム構造体は、コージェライトの他に、SiC、チタン酸アルミ、ゼオライト、アルミナとセリア−ジルコニアとの複合材料、チタニア等からなるものがある。これらを生成するセラミック原料を用いることも可能である。好ましくは、熱膨張係数の低いコージェライトがよい。
バインダとしては、メチルセルロース、ヒドロキシプロピルメチルセルロース、ヒドロキシプロピルエチルセルロース、ヒドロキシエチルセルロース、カルボキシメチルセルロース、シリカゾル、アルミナゾル等を用いることができる。
潤滑油としては、オレイン酸、リノール酸、あまに油、菜種油、日油株式会社製のユニルーブ等を用いることができる。菜種油としては、キャノーラ油等を用いることができる。ユニルーブ等の市販品の潤滑油は、グリスであっても乳化剤であってもよい。あまに油、菜種油などの植物油は、トリアシルグリセリンを主成分とするものが好ましい。トリアシルグリセリンを構成する脂肪酸は、炭素数が18であることが好ましい。このような脂肪酸としては、例えば,ステアリン酸、オレイン酸、リノール酸、リノレン酸、エライジン酸、シスバクセン酸、バクセン酸等が挙げられる。潤滑油は、成形速度を向上させる役割を果たすことができる。
坏土の評価にあたっては、押出物の正常部及び異常部のそれぞれについてパルスNMR法によって水プロトンから発せられるT1緩和時間を計測する。T1緩和時間の代わりにT2緩和時間を計測してもよいし、T1緩和時間及びT2緩和時間の両方を計測してもよい。NMRとは核磁気共鳴のことである。
評価に用いる押出物2は、図3に例示されるように、金型通過前の丸棒坏土21であっても、図4に例示されるように金型通過後のハニカム成形体22であってもよい。つまり、押出物2は、金型通過前のもの及び金型通過後のものを含む概念である。いずれの場合であっても、押出物2中の坏土の混練・圧密状態を評価できる。なお、図4に示すハニカム成形体は、切断されたものであり、完全体ではない。ハニカム成形体22は、通常、後述の実施形態2の図6に例示されるハニカム構造体と同形状である。
図3に例示されように、坏土の混練や圧密が不十分であると、金型通過前の丸棒坏土22に、押出スクリュ31の回転運動に由来した模様が中心付近に残ることがある。図3において、黒から濃い灰色部分の螺旋状の模様が押出スクリュ31の回転運動に由来した模様である。この螺旋状の模様部分が異常部25であり、模様がない部分が正常部24である。つまり、図3においては、黒から濃い灰色部分が異常部25であり、白から薄い灰色部分が正常部24である。
異常部25は、坏土から離水したラミネーション部251であり、正常部24は離水のない非ラミネーション部241である。異常部25と正常部24とは、上述の模様部分を例えば目視によって判別することができる。
目視判定が容易になるという観点から、坏土は、セラミック原料として少なくともタルクを含有することが好ましい。この場合には、異常部25においてタルクと潤滑油と水とが混ざり合って黒色を呈するため、上述のように目視判定が容易になる。
オーガスクリュ成形機と呼ばれ押出スクリュ成形機を使用する場合には、通常、ラミネーション部251からなる異常部52が発生するが、濃淡による目視判定が困難な場合がある。この場合には、正常部と異常部との判別方法として例えば以下のような方法を採用することができる。
例えば丸棒坏土21等の押出物2を乾燥機に入れて水分を飛ばす方法がある。この場合には、異常部25に割れが発生するため、異常部25の特定がより精度よく行える。つまり、乾燥後に割れが発生した部分が異常部25であり、割れが発生していない部分が正常部24である。異常部25では十分に坏土が圧着していないため、乾燥により異常部25を起点に割れが発生する。
他の判別手法としては、例えば丸棒坏土21等の押出物2を急冷させる方法がある。急冷により水が体積膨張するため、水を多く含む異常部は割れが発生する。つまり、急冷後に割れが発生した部分が異常部25であり、割れが発生していない部分が正常部24である。
また、分析対象の押出物2は、上述のように、圧密された坏土からなる丸棒坏土21であってもよいが、図4に例示されるように、金型37を通過した後のハニカム成形体22であってもよい。ハニカム成形体22の場合には、図4及び図5に例示されるように、タテヨレと呼ばれる波状部252が発生している部分を異常部25、波状部のない非波状部242を正常部24として判別できる。なお、図4及び図5に示す成形体22は、正常部24と異常部25の判別をより明確にするため、乾燥してある。
また、押出成形においては、成形機内の切り替わりを可視化するために、原料ロットや材料組成を仕様毎に変更する際に、坏土を着色液で色づけすることがある。この着色は、正常部24と異常部25との判別をより容易にする。つまり、この場合には、濃く着色された部分が異常部25となり、薄く着色された部分が正常部24となる。したがって、色の濃淡によってより明確な判別が可能になるという観点からは、坏土を着色してもよい。
また、異常部25には、離水した水の他、潤滑油などが含まれるため、フーリエ変換赤外分光光度計(つまり、FT−IR)によって、異常部25と正常部24との正確な判別を行うことも可能である。この場合には、FT−IRにより、潤滑油成分由来のピークが相対的に強く検出される部分が異常部25となり、異常部よりも検出ピークが弱い部分が正常部24となる。
NMR分析装置としては、Xigo Nanotools社製のAcorn Areaを用いることができる。NMRは、例えば、14MHzの電磁波パルス、温度25℃という条件で測定される。正常部24及び異常部25からそれぞれ採取した少量の坏土を試験管内に充填し、T1緩和時間、T2緩和時間を計測することができる。
NMR分析装置を用いたパルスNMR法によって正常部24及び異常部25のそれぞれについて、T1緩和時間及びT2緩和時間の少なくとも一方を計測すると、坏土中の原料粒子の表面を濡らしている水分子と、バルクとして存在する水分子とを判別できる。具体的には、水分子が原料粒子の表面に付着した状態のときには、水プロトンのT1緩和時間及びT2緩和時間は短くなる。一方、液体の水のように水分子が自由に運動できる状態のときには、T1緩和時間及びT2緩和時間は長くなる。
異常部25における水分子は、高圧での圧密により周囲から染み出して離水した水分子が大半であるためバルクとして存在する。その結果、異常部25におけるT1緩和時間及びT2緩和時間は長くなる。一方、正常部24における水分子は、化学吸着された水分子が大半であるため、正常部24におけるT1緩和時間及びT2緩和時間は短くなる。
したがって、正常部24と異常部25におけるT1緩和時間の差、正常部24と異常部25におけるT2緩和時間の差によって混練・圧密が十分に行われたか否かを判断できる。正常部と異常部との緩和時間の差が小さいほど混練・圧密が十分に行われていると評価できる。
本形態の評価方法においては、上記のように混練工程、押出工程、及び評価工程を行う。混練工程においては、図1に例示されるように、例えば混練スクリュ41により、セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水等を含む混合物を混練する。これにより坏土1が得られる。押出工程においては、坏土1を押出スクリュ成形機3により押出すと共に抵抗管35を通して圧密させる。これにより、図3〜図5に例示されるように坏土からなる押出物2が得られる。
図1に例示されるように、押出スクリュ成形機3により坏土1を押出すと、押出物中の水などの液相成分が周囲から分離してくる。混練や圧密が不十分な場合に液相成分の分離が顕著になる。
図3〜図5に例示されるように、この分離した離水部分が異常部25となり、離水していない部分が正常部24となる。正常部24と異常部25とは、通常は、目視による濃淡により判別される。周囲よりも濃い部分が異常部25である。薄い部分が正常部24である。
評価工程においては、正常部24と異常部25のそれぞれについて、パルスNMR法によって水プロトンから発せられるT1緩和時間及びT2緩和時間の少なくとも一方を計測する。これにより、坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価することができる。
つまり、上記評価方法によれば、正常部24と異常部25におけるT1緩和時間の差及び正常部24と異常部25におけるT2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて、客観的で定量的に坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価することができる。そのため、作業者の熟練した感覚に依存することなく、ハニカム構造体の構造欠陥を引き起こしうる坏土性状の要因特定を早期に進めることができる。したがって、生産歩留りを向上させることができる。
本形態の評価方法は、例えば設備導入時、製品ロット変更時、材料組成変更時などに好適である。評価結果に基づいて、例えば、混練条件、圧密条件を調整することにより、正常部24及び異常部25におけるT1緩和時間、T2緩和時間を制御することができる。具体的には、混練機4の内部を流れる冷却液の温度、抵抗管35の押出方向における長さ、抵抗管35の絞り率、混練回数等を調整することができる。これにより、生産歩留まりを向上させつつ構造欠陥の少ないハニカム構造体の量産が可能になる。
(実施形態2)
押出物の製造方法及びハニカム構造体の製造方法に係る実施形態について、図6〜図13を参照して説明する。本形態においては、実施形態1の評価方法に基づいて得られる押出物を用いてハニカム構造体を製造する。なお、実施形態2以降において用いた符号のうち、既出の実施形態において用いた符号と同一のものは、特に示さない限り、既出の実施形態におけるものと同様の構成要素等を表す。
ハニカム構造体Hは、図6に例示されるように、筒状外皮H11と、多孔質のセル壁H12と、筒状外皮の軸方向Xに伸びる多数のセルCとを有する。筒状外皮11は円筒状である。セル壁H12は、筒状外皮H11の内側を区画する。セルCは、セル壁H12に囲まれ、ガス流路を形成する。
ハニカム構造体Hは、図6に例示されるように、セルCの大きさを周方向に分割した複数の領域ごとに変更することができる。例えば、内周側と外周側とで異なるセル密度にすることができる。図6においては、内周側に設けられたセル密度の高い高セル密度領域Hhaと、外周側に設けられた低セル密度領域Hlaとを有するハニカム構造体1を示している。高セル密度領域Hhaと低密度領域Hlaと間には円筒状の境界壁H15が設けられている。なお、具体的な構成の図示を省略するが、境界壁H15を有していなくてもよく、また、筒状外皮H11の内側においてセル密度を均一にすることも可能である。
本形態の製造方法においては、混練工程、押出工程、及び評価工程を行って押出物を製造し、その後、乾燥、焼成を行ってハニカム構造体Hを製造する。混練工程及び押出工程においては、実施形態1と同様に、図1に例示される混練・成形機Mを用いることができる。
混練工程においては、セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水を少なくとも含む混合物を混練することにより坏土1を得る。次いで、押出工程においては、押出スクリュ成形機3により、坏土を押出すと共に抵抗管35を通して圧密させることにより、坏土からなる押出物を得る。
セラミック原料としては、焼成後にコージェライトとなるコージェライト化原料を用いる。具体的には、アルミナ、水酸化アルミニウム、シリカ、タルク、及びカオリンを使用した。バインダとしてはメチルセルロースを用いた。バインダの含有量は4.5wt%とし、水の含有量は20wt%とした。さらに、成形速度を向上させるために、オレイン酸、リノール酸等を含む潤滑油を用いた。潤滑油の含有量は1.8wt%とした。
セラミックス原料、バインダ、水、潤滑油を、混練・成形機Mに投入し、実施形態1と同様にして坏土の混練、圧密を行うことにより、ハニカム成形体を得た。なお、本形態においては、混練機4の整流板43から排出されるペレット状の坏土1を回収して再度混練機4に投入し、混練を繰り返し行った坏土1を用いてハニカム成形体を作製した。そして、金型通過前の丸棒坏土の正常部と異常部から、それぞれ少量の坏土サンプルを採取した。
このようにして、混練機での混練回数が1〜3回の丸棒坏土の正常部及び異常部からそれぞれ坏土サンプルを試験管に採取した。試験管としては、日本ルフト製のACORN DROP測定用セルのノーマルタイプを用いた。この坏土サンプルについて、NMR法によりT1緩和時間及びT2緩和時間を測定した。NMR測定は、電磁波14MHz、温度25℃という条件にて行った。測定は2回ずつ行い、その平均値をT1緩和時間、T2緩和時間とした。
混練回数1〜3回で得られた各丸棒坏土の断面写真を図7(a)〜(c)に示す。また、各丸棒坏土の正常部及び異常部におけるT1緩和時間を図8、T2緩和時間を図9に示す。
また、混練回数は1回であるが、押出スクリュ成形機3の先端に設けられた抵抗管35の絞り率を10%増やして丸棒坏土を作製し、この丸棒坏土を用いてハニカム成形体を作製した。絞り率を10%増やして作製した丸棒坏土の断面写真を図7(d)に示す。また、絞り率を10%高くして作製した丸棒坏土の正常部及び異常部におけるT1緩和時間を上述の図8に併記し、T2緩和時間を上述の図9に併記する。
また、正常部におけるT1緩和時間をNT1(ms)、異常部におけるT1緩和時間AT1(ms)とすると、T1緩和時間の差ΔT1(%)は下記式(II)により算出される。また、正常部におけるT2緩和時間をNT2(ms)、異常部におけるT1緩和時間AT2(ms)とすると、T2緩和時間の差ΔT2(%)は、下記式(III)により算出される。その結果を表1に示す。
ΔT1=(AT1-NT1)/AT1×100 ・・・(II)
ΔT2=(AT2-NT2)/AT2×100 ・・・(III)
次に、混練回数を変更して作製した各ハニカム構造体、絞り率を10%高くして作製したハニカム構造体について、構造欠陥を調べた。具体的には、以下の、光透過試験、X線CTスキャン試験、触媒コート試験を行った。
[光透過試験]
各ハニカム構造体にLED光を透過させながら、軸方向の端面の写真を撮影した。その結果を図10(a)〜(d)に示す。この試験においては、ハニカム構造体のセル壁に波状部がある場合には、その部分が黒い影となる。
[X線CTスキャン試験]
X線CTスキャンにより、各ハニカム構造体のセル壁における波状部の有無を調べた。その結果を図11の(a)〜(d)に示す。X線CTスキャン装置としては、株式会社島津製作所製の「SMX−225CT」を用いた。
[触媒コート試験]
チクソトロピー性を有する触媒スラリーを吸引方式で各ハニカム構造体にコートした。通常、吸引方式では、図13に例示されるように、まず、ハニカム構造体Hの軸方向Xの一端面H7に触媒スラリーSを接触させ、反対側の端面H8から吸引を行うことにより、触媒スラリーSをコートした後、反対側の端面H8からも同様の操作を行う。しかし、本試験においては、ハニカム構造体1の一端面H7から触媒スラリーSをコートした後、反対側からのコートを行わない。これにより、ハニカム構造体Hからの端面からのコート幅Wのばらつきの発生の有無がわかりやすくなる。触媒スラリーSのコート領域は、非コート領域よりも濃い色になるため、濃淡からコート領域を判別できる。したがって、端面から濃い部分の長さを測定することによりコート幅Wが計測できる。コート幅の段差dは、図12(a)〜(d)に示されるように、触媒スラリーのコート幅の差の最大値である。コート幅の段差は、波状部が発生した部分と発生していない部分との境界で起こり易い。コート後に、ハニカム構造体を軸方向Xと平行な面で切断し、断面を写真で撮影した。その結果を図12(a)〜(d)に示す。触媒スラリーのコート領域は、非コート領域よりも濃い色になる。したがって、濃淡からコート幅の段差dがわかる。なお、チクソトロピー性を有する触媒スラリーとしては、アルミナ、セリアジルコニア、硫酸バリウムなどの固体成分を70wt%、バインダを1.4wt%を含有し、残部が水であるスラリーを用いた。
図7(a)〜(c)に示すように、混練回数を増加させるほど、異常部におけるラミネーションに由来する黒色部が薄くなっていくことが確認できる。また、図7(a)と図7(d)とを比較してわかるように、絞り率を高くしても、ラミネーションに由来する黒色部が薄くなる。
図8、図9、及び表1に示すように、混練回数を増やすと、正常部と異常部におけるT1緩和時間の差ΔT1、T2緩和時間の差ΔT2が小さくなる。さらに絞り率を高めても、ΔT1、ΔT2は小さくなっている。
図10より知られるように、混練回数を増やしたり、絞り率を高め、正常部と異常部とのT1緩和時間の差ΔT1、及び正常部と異常部とのT2緩和時間の差ΔT2を小さくすることにより、ハニカム構造体の波状部由来の影が薄くなっている。また、図11より知られるように、ΔT1、ΔT2を小さくすることにより、実際に波状部が減少している。さらに、図12より知られるように、ΔT1、ΔT2を小さくすることにより、触媒スラリーのコート幅の段差dが小さくなっている。つまり、ΔT1、ΔT2の少なくとも一方に基づいて、混練条件、圧密条件を決定することができ、ΔT1、ΔT2の少なくとも一方が所定範囲内になる混練条件及び圧密条件で混練工程及び押出工程をそれぞれ行うことが好ましい。
また、図12より知られるように、混練回数を2回以上に増やしても触媒スラリーのコート幅の段差はほとんど変化しなくなる。つまり、ΔT1=2.3%以下、ΔT2=1.3%以下にすることにより、コート幅の段差は非常に小さい値でほとんど変化しなくなる。設備や細孔特性のバラツキによる影響を考慮すると、波状部によるコート幅の段差はほとんど無視できるレベルまで緩和されている。
したがって、ΔT1が2.3%以内又はΔT2が1.3%以内になるまで、混練工程における混練を行うか、押出工程における圧密を行うことにより、セル壁の波状部の発生を十分に抑制でき、コート幅の段差を十分に小さくできることがわかる。ΔT1を2.3%以下、ΔT2を1.3%以下にできれば、混練工程における混練条件及び押出工程における圧密条件はいずれか一方を調整しても、両方を調整してもよい。また、ΔT1≦2.3%及びΔT2≦1.3%の少なくとも一方を満足すればよいが、両方を満足するように、混練条件、圧密条件を調整してもよい。
正常部と異常部におけるT1緩和時間の差ΔT1が1.3%以内又はT2緩和時間の差が1.1%以内になる混練条件及び圧密条件で混練工程及び押出工程をそれぞれ行うことがより好ましい。この場合には、図10〜図11より知られるように、セル壁の波状部などのハニカム構造体の構造欠陥の発生をより一層抑制することができる。
以上のように、本形態によれば、波状部等のハニカム構造体の構造欠陥の発生を抑制できる押出物を製造できることがわかる。また、この押出物を用いてハニカム構造体を製造することにより、実際に、構造欠陥の少ないハニカム構造体を製造できる。
本発明は上記各実施形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の実施形態に適用することが可能である。例えば、ΔT1、ΔT2の調整のために変更可能な混練条件としては、上述の混練回数の他に、混練機4内の冷却水の温度、原料組成等がある。混練回数を増やしたり、冷却水の温度を下げたり、原料中の水の量を少なくすることにより、ΔT1、ΔT2を下げることができる。これは、粘度の増大により、せん断応力が高くなり、短時間で混練を完了できるからであると考えられる。
ΔT1、ΔT2の調整のために変更可能な圧密条件としては、上述の抵抗管35の絞り率の他に、抵抗管35の長さ、押出スクリュ成形機3内を流れる冷却水の温度等がある。絞り率を高めたり、抵抗管35を長くしたり、冷却水の温度を下げたりすることにより、ΔT1、ΔT2を下げることができる。これは、坏土の液膜が破壊されて拡散するためであると考えられる。
1 坏土
2 押出物
21 棒状坏土
22 ハニカム成形体
24 正常部
25 異常部
3 押出スクリュ成形機
35 抵抗管

Claims (13)

  1. ハニカム構造体(H)の製造に用いられる坏土(1)の評価方法であって、
    セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水を少なくとも含む混合物を混練することにより上記坏土を得る混練工程と、
    上記坏土を押出スクリュ成形機(3)により押出すと共に抵抗管(35)を通して圧密させることにより、上記坏土からなる押出物(2)を得る押出工程と、
    上記押出物の正常部(24)及び異常部(25)のそれぞれについて、パルスNMR法によって水プロトンから発せられるT1緩和時間及びT2緩和時間の少なくとも一方を計測し、上記正常部と上記異常部におけるT1緩和時間の差及び上記正常部と上記異常部におけるT2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて上記坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価する評価工程と、を有する坏土の評価方法。
  2. 上記押出物が棒状坏土(21)である、請求項1に記載の坏土の評価方法。
  3. 上記異常部がラミネーション部(251)であり、上記正常部が非ラミネーション部(241)である、請求項1又は2に記載の坏土の評価方法。
  4. 上記押出物がハニカム成形体(22)である、請求項1に記載の坏土の評価方法。
  5. 上記異常部が上記ハニカム成形体のセル壁における波状部(252)であり、上記正常部が上記ハニカム成形体のセル壁の非波状部(242)である、請求項4に記載の坏土の評価方法。
  6. ハニカム構造体(H)の製造に用いられる押出物(2)の製造方法であって、
    セラミック原料、バインダ、潤滑油、及び水を少なくとも含む混合物を混練することにより坏土(1)を得る混練工程と、
    上記坏土を押出スクリュ成形機(3)により押出すと共に抵抗管(35)を通して圧密させることにより、上記坏土からなる上記押出物を得る押出工程と、
    上記押出物の正常部(21)及び異常部(22)のそれぞれについて、パルスNMR法によって水プロトンから発せられるT1緩和時間及びT2緩和時間の少なくとも一方を計測し、上記坏土の混練状態及び圧密状態の均一性を評価する評価工程と、を有し、
    上記正常部と上記異常部における上記T1緩和時間の差及び上記正常部と上記異常部における上記T2緩和時間の差の少なくとも一方に基づいて上記混練工程における混練条件及び上記押出工程における圧密条件を決定する、押出物の製造方法。
  7. 上記T1緩和時間の差及び上記T2緩和時間の差の少なくとも一方が所定範囲内になる上記混練条件及び上記圧密条件で上記混練工程及び上記押出工程をそれぞれ行う、請求項6に記載の押出物の製造方法。
  8. 上記T1緩和時間の差が2.3%以内又は上記T2緩和時間の差が1.3%以内になる上記混練条件及び上記圧密条件で上記混練工程及び上記押出工程をそれぞれ行う、請求項6又は7に記載の押出物の製造方法。
  9. 上記T1緩和時間の差が1.3%以内又は上記T2緩和時間の差が1.1%以内になる上記混練条件及び上記圧密条件で上記混練工程及び上記押出工程をそれぞれ行う、請求項6又は7に記載の押出物の製造方法。
  10. 上記押出物が棒状坏土(21)である、請求項6〜9のいずれか1項に記載の押出物の製造方法。
  11. 上記異常部がラミネーション部(251)であり、上記正常部が非ラミネーション部(241)である、請求項6〜10のいずれか1項に記載の押出物の製造方法。
  12. 上記押出物がハニカム成形体(22)である、請求項6〜9のいずれか1項に記載の押出物の製造方法。
  13. 上記異常部が上記ハニカム成形体のセル壁の波状部(252)であり、上記正常部が上記ハニカム成形体のセル壁の非波状部(242)である、請求項12に記載の押出物の製造方法。
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