JP2018175108A - 眼科撮影装置及びその制御方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の眼科撮影装置における他の態様は、光源から出射された光が測定光と参照光とに分岐された後、前記測定光を被検眼に照射して得られる戻り光と前記参照光とを合波して干渉光を得る合波手段と、前記戻り光および前記参照光のうちの少なくともいずれかの光の偏光状態を調整する調整手段と、前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態とが第1の関係にある場合に得られる第1の干渉光の強度と、前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態との一致度合いが前記第1の関係にある場合と異なる第2の関係となるように前記調整手段により調整されている場合に得られる第2の干渉光の強度とを用いて、前記被検眼の偏光解消性に関する情報を取得する取得手段とを有する。
また、本発明は、上述した眼科撮影装置の制御方法を含む。
まず、本発明の第1の実施形態について説明する。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る眼科撮影装置100の概略構成の一例を示す図である。この眼科撮影装置100は、例えば被検眼Eの網膜(眼底Ef)や前眼部等の画像を撮影する装置である。以下の説明では、被検眼Eの眼底Efを撮影する例について説明を行う。また、以下の説明では、眼科撮影装置100として、フーリエドメイン方式の光干渉断層法を用いて被検眼Eの撮影を行う装置を適用した例について説明を行う。また、図1に示す眼科撮影装置100を「眼科撮影装置100−1」とする。
次に、図1に示す眼科撮影装置100−1を用いて、被検眼Eの眼底Efの網膜の断層画像を撮影する方法を説明する。
次に、偏光の制御について説明する。
図2は、図1に示す偏光調整部170の概略構成の一例を示す図である。図2に示すように、偏光調整部170は、複数のパドル171〜173と、この複数のパドル171〜173のそれぞれに対応して設けられた複数のステッピングモータ174〜176を有して構成されている。
ここで、Φは複屈折量(リターダンス)、aは定数(石英ファイバーでは0.133)、Nはファイバーの巻き数、dはファイバーのクラッド径、λは光の波長、Dはパドルの曲率半径である。
図3は、本発明の第1の実施形態を示し、サンプル光の偏光状態及び参照光の偏光状態の一例を示す図である。
まず、制御部140は、干渉状態のパドル角度(θa1,θb1,θc1)で被検眼E(具体的には、眼底Ef)の通常のOCT撮影を行い、断層画像データ(OCT画像データ)を生成する。ここでのOCT撮影は、制御部140が、サンプル光の偏光状態と参照光の偏光状態とが一致するように偏光調整部170を制御する第1の偏光状態の場合の撮影であり、この撮影で得られたOCT画像データは、第1の画像データ(以下、「第2のOCT画像データ」と称する)に相当する。
I_np(x,z)=(I_max(x,z)−I_min(x,z))
・・・(2)
次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
第1の実施形態においては、偏光測定器410を用いて干渉状態のパドル角度の組合せと、非干渉状態のパドル角度の組み合わせを用いて、偏光調整を行う例を説明した。第2の実施形態では、サンプル光学系192に配置した工具420からの戻り光であるサンプル光と、参照光学系193の参照光との干渉信号をフーリエ変換したPSFを用いて、パドル角度の偏光調整を行う例を説明する。
図6において、破線601は、分光強度分布から計算された理想的な干渉波形のPSFを示し、実線602は、実際の干渉波形から計算したPSFを示す。そして、ここでは、この破線601の高さに対する実線602の高さの比をPL値とする。このPL値は、サンプル光の偏光状態と参照光の偏光状態との一致度合いを示す一致度合値に相当するものである。また、このPL値は、例えばCPU143で算出される。差動検知器133を用いた場合、この分光強度分布に関する信号は差動により失われるため、差動する前のモニタ信号521及び522を用いることにより得られる。
まず、制御部140は、第1の実施形態と同様に、干渉状態のパドル角度(θa1,θb1,θc1)で被検眼E(具体的には、眼底Ef)の通常のOCT撮影を行い、断層画像データ(OCT画像データ)を生成する。ここでのOCT撮影は、制御部140が、サンプル光の偏光状態と参照光の偏光状態とが一致するように偏光調整部170を制御する第1の偏光状態の場合の撮影であり、この撮影で得られたOCT画像データは、第1の画像データ(第2のOCT画像データ)に相当する。
I_np(x,z)=(I_max(x,z)−I_min(x,z))
/(PL1−PL2) ・・・(3)
次に、本発明の第3の実施形態について説明する。
上述した本発明の各実施形態においては、偏光調整部170(或いは偏光調整部1010)を参照光学系193に配置し、参照光学の偏光状態を調整する形態について説明を行ったが、本発明のおいてはこの形態に限定されるものではない。例えば、偏光調整部170(或いは偏光調整部1010)をサンプル光学系192に配置し、サンプル光の偏光状態を調整する形態も、本発明に含まれる。さらに、偏光調整部170(或いは偏光調整部1010)を参照光学系193及びサンプル光学系192の両方に配置し、参照光学の偏光状態及びサンプル光の偏光状態を調整する形態も、本発明に含まれる。
Int_np(x,y,z)=(Int_max(x,y,z)−Int_min(x,y,z))/(PL1−PL2) ・・・(4)
Claims (7)
- 光源から出射された光が測定光と参照光とに分岐された後、前記測定光を被検眼に照射して得られる戻り光と前記参照光とを合波して干渉光を得る合波手段と、
前記戻り光および前記参照光のうちの少なくともいずれかの光の偏光状態を調整する調整手段と、
前記調整手段によって、前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態とが一致するように調整された第1の偏光状態と、前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態とが異なるように調整された第2の偏光状態とになされた場合に、前記第1の偏光状態で得られた前記干渉光である第1の干渉光の強度と、前記第2の偏光状態で得られた前記干渉光である第2の干渉光の強度との変化に応じて、前記被検眼の偏光解消性を示す情報を取得する取得手段と
を有することを特徴とする眼科撮影装置。 - 光源から出射された光が測定光と参照光とに分岐された後、前記測定光を被検眼に照射して得られる戻り光と前記参照光とを合波して干渉光を得る合波手段と、
前記戻り光および前記参照光のうちの少なくともいずれかの光の偏光状態を調整する調整手段と、
前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態とが第1の関係にある場合に得られる第1の干渉光の強度と、前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態との一致度合いが前記第1の関係にある場合と異なる第2の関係となるように前記調整手段により調整されている場合に得られる第2の干渉光の強度とを用いて、前記被検眼の偏光解消性に関する情報を取得する取得手段と
を有することを特徴とする眼科撮影装置。 - 前記第1の干渉光の強度に基づく前記被検眼の第1の画像データを生成するとともに、前記第2の干渉光の強度に基づく前記被検眼の第2の画像データを生成する生成手段を更に有し、
前記取得手段は、前記第1の画像データと前記第2の画像データとを用いて、前記偏光解消性を示す情報として第3の画像データを取得することを特徴とする請求項1または2に記載の眼科撮影装置。 - 前記取得手段は、前記第1の画像データと前記第2の画像データとを差分処理して、前記第3の画像データを取得することを特徴とする請求項3に記載の眼科撮影装置。
- 前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態との一致度合いを示す一致度合値を算出する算出手段を更に有し、
前記取得手段は、前記第1の画像データおよび前記第2の画像データと、前記第1の干渉光の強度が得られる場合の前記一致度合値である第1の一致度合値および前記第2の干渉光の強度が得られる場合の前記一致度合値である第2の一致度合値とを用いて、前記第3の画像データを取得することを特徴とする請求項3または4に記載の眼科撮影装置。 - 前記取得手段は、前記第1の画像データと前記第2の画像データとを差分処理して得た第1の差分値と、前記第1の一致度合値と前記第2の一致度合値とを差分処理して得た第2の差分値とを用いて、前記第3の画像データを取得することを特徴とする請求項5に記載の眼科撮影装置。
- 光源から出射された光が測定光と参照光とに分岐された後、前記測定光を被検眼に照射して得られる戻り光と前記参照光とを合波して干渉光を得る合波手段を備える眼科撮影装置の制御方法であって、
前記戻り光および前記参照光のうちの少なくともいずれかの光の偏光状態を調整する調整ステップと、
前記調整ステップによって、前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態とが一致するように調整された第1の偏光状態と、前記戻り光の偏光状態と前記参照光の偏光状態とが異なるように調整された第2の偏光状態とになされた場合に、前記第1の偏光状態で得られた前記干渉光である第1の干渉光の強度と、前記第2の偏光状態で得られた前記干渉光である第2の干渉光の強度との変化に応じて、前記被検眼の偏光解消性を示す情報を取得する取得ステップと
を有することを特徴とする眼科撮影装置の制御方法。
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