JP7129162B2 - 眼底撮像装置 - Google Patents

Description

本発明は、眼底撮像装置に関する。

眼科分野において、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ（ＯＣＴ：Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）が知られている。ＯＣＴでは、試料（特に眼底）の断層画像を高分解能に得ることができる。以下、このようなＯＣＴにより断層画像を撮像する装置をＯＣＴ装置と記す。

また、共焦点レーザー顕微鏡の原理を利用した眼科装置である走査型レーザー検眼鏡（ＳＬＯ：Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）も知られている。ＳＬＯでは、レーザーを測定光として用いて、眼底に対してラスタースキャンを行い、その戻り光の強度から眼底の平面画像を高分解能かつ高速に得ることができる。以下、このような平面画像を撮像する装置をＳＬＯ装置と記す。

近年、眼底を撮像する機器として、ＯＣＴ装置やＳＬＯ装置等、照明光を走査して眼底を撮像する装置が盛んに用いられている。また、これらの眼底撮像装置において測定光のビーム径を大きくすることにより、横分解能を向上させた網膜の画像を取得することが可能になってきた。

しかしながら、測定光のビーム径の大径化に伴い、眼底画像の取得において、被検眼の収差による画像のＳＮ比及び分解能の低下が問題になる。これを解決するために、波面センサを用いて被検眼の収差をリアルタイムで測定し、被検眼にて発生する測定光やその戻り光の収差を波面補正デバイスで補正する補償光学系を有する補償光学ＯＣＴ装置や補償光学ＳＬＯ装置が開発されている。これらの装置を用いることで、測定光のビーム径の大型化による被検眼の収差を補償することができ、高横分解能な画像を取得することができる。

ここで、補償光学ＯＣＴ装置において、横分解能を向上させるために測定光のビーム径を大きくすると、焦点深度が浅くなる。焦点深度が浅くなると、ＳＮ比のよい画像が得られる深さ方向の範囲が限定される。そのため、補償光学ＯＣＴ装置を用いてよりＳＮ比のよい画像を取得するためには、ＯＣＴ測定光の焦点位置を眼底網膜の撮影したい層により正確に合わせることが重要である。

一方、このような眼底撮像装置では、撮影開始から終了まで多少の時間がかかる。このため、固視微動と呼ばれる不随意的な眼球運動や固視不良による眼球運動、あるいは顔の動きの影響を受けやすくなり、眼底の動きを追尾する眼底トラッキングがより重要になる。特に補償光学ＯＣＴ装置や補償光学ＳＬＯ装置等、高横分解能な画像の取得を行う装置では、より高い精度の眼底トラッキングが重要になる。

特許文献１では、補償光学ＯＣＴ装置と補償光学ＳＬＯ装置とを複合化した構成を有する眼科装置が提案されている。

特開２０１５－２２１０９１号公報

特許文献１では、ＯＣＴ装置の光学系とＳＬＯ装置の光学系の一部を共通の光路とし、その共通光路に反射光学系を用いた視度補正光学系を構成している。これにより、ＯＣＴ装置とＳＬＯ装置の焦点位置を眼底位置に合わせて、ＯＣＴ装置による眼底断層画像とＳＬＯ装置による眼底正面画像とを同時に取得している。

しかしながら、ＯＣＴ装置とＳＬＯ装置の共通光路に視度補正光学系が配置されているため、この視度補正光学系を用いて焦点位置を変更した場合、ＯＣＴ装置とＳＬＯ装置の焦点位置が同じ量だけ変更されてしまう。そのため、ＯＣＴ装置で視細胞等の特徴点が少ない層（例えば、網膜内層等）を撮影する場合、ＯＣＴ装置の焦点位置合わせと同時にＳＬＯ装置もその特徴点が少ない層に焦点位置を合わせてしまう。

ＳＬＯ装置で取得した眼底正面画像を用いて眼底トラッキングを行う場合には、撮影された眼底正面画像の視細胞等の特徴点から位置ずれ量を検出して、検出した位置ずれ量に基づいて眼底の動きを追尾する。そのため、特徴点の少ない層に焦点位置を合わせて撮影した場合、位置ずれ量の検出精度が低下し、精度のよい眼底トラッキングが困難になる。

一方、ＯＣＴ装置とＳＬＯ装置の視度補正光学系を、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路ではなく、それぞれの専用光路に配置する装置構成も考えられる。しかしながら、この場合、それぞれの視度補正光学系が、撮影する被検眼の視度範囲に対応する必要があるため、視度補正光学系の移動範囲が広くなり、装置が大型化しやすい。

また、波面センサを用いた波面補償装置では、波面センサへの不要な迷光を低減するために、光学系を主に反射光学系で構成するのが有利である。しかしながら、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の専用光路に配置される視度補正光学系をそれぞれ反射光学系で構成すると、視度補正時の視度補正光学系の移動範囲がさらに広くなる。この場合には、視度補正光学系の移動範囲に対応するスペースがさらに必要になるため、装置がさらに大型化する。

そこで、本発明では、コンパクトな装置構成でありながら、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の焦点位置を異なる位置に合わせることができる眼底撮像装置を提供する。

本発明の一実施態様による眼底撮像装置は、ＯＣＴ測定光を用いて被検眼の断層情報を取得するＯＣＴ光学系と、ＳＬＯ測定光を用いて前記被検眼の眼底情報を取得するＳＬＯ光学系と、前記ＯＣＴ測定光の戻り光の収差を測定する収差測定手段と、前記ＯＣＴ光学系及び前記ＳＬＯ光学系が、前記ＯＣＴ測定光及び前記ＳＬＯ測定光の光路の少なくとも一部を共有する共通光路と、前記共通光路に設けられた前記収差を補正する収差補正手段及び第１のフォーカス手段と、前記共通光路から分岐した前記ＳＬＯ測定光の光路及び前記ＯＣＴ測定光の光路の少なくとも一方に設けられた第２のフォーカス手段と、前記収差測定手段により測定された前記収差に基づいて、前記収差補正手段を制御する制御手段とを備える。

本発明によれば、コンパクトな装置構成でありながら、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の焦点位置を異なる位置に合わせることができる。

第１の実施形態による眼底撮像装置の概略的な構成を示す。 眼底撮像装置におけるＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の撮影範囲を概略的に示す。 第１の実施形態に係る眼底の撮影手順を示したフローチャートである。 第２の実施形態による眼底撮像装置の概略的な構成を示す。 第２の実施形態に係る眼底の撮影手順を示したフローチャートである。

以下、本発明を実施するための例示的な実施形態を、図面を参照して詳細に説明する。ただし、以下の実施形態で説明する寸法、材料、形状、及び構成要素の相対的な位置等は任意であり、本発明が適用される装置の構成又は様々な条件に応じて変更できる。また、図面において、同一であるか又は機能的に類似している要素を示すために図面間で同じ参照符号を用いる。

なお、以下において、人眼の網膜を被検査物として説明するが、被検査物はこれに限られず、例えば、人眼の前眼部等を被検査物としてもよい。

［第１の実施形態］
図１乃至３を参照しながら、被検眼の眼底等の画像の取得に用いられる、本発明の第１の実施形態による眼底撮像装置について、以下に詳細に説明する。

（装置構成）
本実施形態による眼底撮像装置の一態様としての眼底撮像装置１００について、図１を用いて説明する。本実施形態の眼底撮像装置１００には、ＯＣＴ光学系、ＳＬＯ光学系、前眼観察光学系、固視灯光学系、及び制御部１９０（制御手段）が設けられている。なお、本実施形態では、光学系の全体は、主にミラーを用いた反射光学系で構成されている。

また、制御部１９０は、汎用のコンピュータを用いて構成されてもよいし、眼底撮像装置１００の専用のコンピュータとして構成されてもよい。なお、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系、ＳＬＯ光学系、前眼観察光学系、及び固視灯光学系を備えた撮像部と別個に構成されてもよいし、一体的に構成されてもよい。

まず、眼底撮像装置１００のＯＣＴ光学系について説明する。光源１０１は、光（低コヒーレント光）を発生させるための光源である。本実施形態では、光源１０１として、中心波長が８３０ｎｍ、帯域が５０ｎｍであるＳＬＤ（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）を用いている。本実施形態ではＳＬＤを選択したが、光源の種類としては、低コヒーレント光を出射できる光源であればよく、ＡＳＥ（Ａｍｐｌｉｆｉｅｄ Ｓｐｏｎｔａｎｅｏｕｓ Ｅｍｉｓｓｉｏｎ）等も用いることができる。なお、光源１０１は制御部１９０に接続されており、制御部１９０によって制御される。

また、光源１０１から出射される光の波長は、眼を測定することを鑑みて近赤外光に対応する波長とすることができる。さらに光源１０１から出射される光の波長は、得られる断層画像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長とすることができ、本実施形態では中心波長を８３０ｎｍとする。なお、観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでもよい。また、波長の帯域は広いほど深さ方向の分解能がよくなる。一般的に中心波長が８３０ｎｍの場合、５０ｎｍの帯域では６μｍの分解能、１００ｎｍの帯域では３μｍの分解能である。なお、光源１０１の中心波長や帯域はこれに限られず、所望の構成に応じて変更されてよい。

光源１０１から出射された光は、シングルモードファイバー１４２を通って、光分割手段である光カプラー１４１に導かれる。光源１０１から出射された光は、光カプラー１４１において強度比９０：１０で分割され、それぞれ参照光１０３及びＯＣＴ測定光１０４となる。なお、分割の比率はこれに限らず、被検査物に合わせて適切に選択されることができる。

次に、参照光１０３の光路について説明する。光カプラー１４１にて分割された参照光１０３はシングルモードファイバー１４３を通って、レンズ１５１に導かれ、平行光として出射される。次に、参照光１０３は、分散補償用ガラス１５９を透過し、ミラー１１１，１１２によって、参照ミラーであるミラー１２４に導かれる。本実施形態では、参照ミラーとして平面ミラーを用いている。ミラー１２４で反射された光は、再び、ミラー１１２及びミラー１１１に順次反射され、分散補償用ガラス１５９を透過して、光カプラー１４１に導かれる。

分散補償用ガラス１５９は、ＯＣＴ測定光１０４が被検眼Ｅとレンズ１５４を往復したときの分散を、参照光１０３に対して補償することができる。

ミラー１２４は、電動ステージ１２５に搭載されており、光路長調整手段を構成する。電動ステージ１２５は、矢印で図示しているように参照光１０３の光軸方向に移動することができ、ミラー１２４の位置を移動させることで参照光１０３の光路長を調整することができる。電動ステージ１２５は制御部１９０によって制御される。

次に、ＯＣＴ測定光１０４の光路について説明する。光カプラー１４１により分割されたＯＣＴ測定光１０４は、シングルモードファイバー１４５を介して、レンズ１５４に導かれ、平行光として出射される。

次に、ＯＣＴ測定光１０４は、ダイクロイックミラー１７７及びビームスプリッター１７１を透過し、ミラー１１３，１１４によって反射され、収差補正手段であるデフォーマブルミラー１８２に入射する。ここで、デフォーマブルミラー１８２は、収差測定手段である波面センサ１８１にて検知した収差に基づいて、ＯＣＴ測定光１０４とＯＣＴ戻り光１０５との収差を、ミラー形状を自在に変形させることで補正するミラーデバイスである。

本実施形態では、収差補正手段としてデフォーマブルミラーを用いたが、収差補正手段は収差を補正できればよく、液晶を用いた空間光位相変調器等を用いることもできる。また、本実施形態では、収差測定手段としてシャックハルトマン型の波面センサ１８１を用いている。しかしながら、収差測定手段はこれに限られず、収差を測定するための既知の任意のセンサ等を用いて構成されてよい。デフォーマブルミラー１８２及び波面センサ１８１は、制御手段である制御部１９０により制御される。

ＯＣＴ測定光１０４は、デフォーマブルミラー１８２によって反射された後、ミラー１１５，１１６によって反射され、ダイクロイックミラー１７３に入射する。ここで、ダイクロイックミラー１７３，１７４は、光の波長に応じて、光源１０１からの光を反射し、光源１０２からの光を透過させる。

ダイクロイックミラー１７３で反射されたＯＣＴ測定光１０４は、Ｘスキャナ１３２（第２の走査手段）に入射する。ＯＣＴ測定光１０４の中心はＸスキャナ１３２の回転中心と一致するように調整されており、Ｘスキャナ１３２を回転させることで、ＯＣＴ測定光１０４を用いて被検眼Ｅの網膜Ｅｒ上を光軸に垂直な方向にスキャンすることができる。ここでは、Ｘスキャナ１３２としてガルバノミラーを用いる。Ｘスキャナ１３２は、他の任意の偏向ミラーによって構成されてもよい。なお、図示しないがＸスキャナ１３２は制御部１９０に接続されており、制御部１９０によって制御される。

Ｘスキャナ１３２によって反射されたＯＣＴ測定光１０４は、ダイクロイックミラー１７４によって反射された後、ミラー１１７～１２０によって順次反射される。

ミラー１１９，１２０は、電動ステージ１２６に搭載されており、第１のフォーカス手段を構成する。電動ステージ１２６は、矢印で図示しているように、ミラー１１８，１２１に近づく又はこれらから離れる方向に移動することができる。電動ステージ１２６は制御部１９０により制御される。なお、ミラー１１９，１２０は、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路内に配置されている。そのため、電動ステージ１２６によりミラー１１９，１２０を移動させることで、被検眼Ｅの視度に対応してＯＣＴ測定光１０４及びＳＬＯ測定光１０６のフォーカス状態を調整することができる。

本実施形態では、電動ステージ１２６の移動範囲を１６０ｍｍとしており、被検眼Ｅの－１２Ｄ～＋７Ｄの視度範囲に対応してＯＣＴ測定光１０４及びＳＬＯ測定光１０６のフォーカス位置を調整することができる。なお、電動ステージ１２６の移動範囲は所望の構成により任意に設定されてよい。

ここで、本実施形態において、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路に配置される第１のフォーカス手段は、ミラー１１９，１２０の反射光学系によるバダル光学系によって構成される。反射光学系を用いることにより、波面センサ１８１へ不要な迷光が入ることを防ぐことができ、精度のよい収差測定及び収差補正を行うことができる。

ミラー１２０によって反射されたＯＣＴ測定光１０４は、ミラー１２１，１２２によって反射され、Ｙスキャナ１３３（第１の走査手段）に入射する。ＯＣＴ測定光１０４の中心はＹスキャナ１３３の回転中心と一致するように調整されており、Ｙスキャナ１３３を回転させることで、ＯＣＴ測定光１０４を用いて網膜Ｅｒ上を光軸及びＸスキャナ１３２のスキャン方向と垂直な方向にスキャンすることができる。ここでは、Ｙスキャナ１３３としてガルバノミラーを用いる。Ｙスキャナ１３３は、他の任意の偏向ミラーによって構成されてもよい。

なお、図示しないがＹスキャナ１３３は制御部１９０に接続されており、制御部１９０によって制御される。Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３は、ＯＣＴ測定光１０４を被検眼Ｅの眼底上で二次元方向に走査する、ＯＣＴ走査手段を構成する。

Ｙスキャナ１３３によって反射されたＯＣＴ測定光１０４は、ミラー１２３によって反射され、ダイクロイックミラー１７５，１７６を透過し、被検眼Ｅへ入射する。Ｘスキャナ１３２、Ｙスキャナ１３３、及びミラー１１７～１２３はＯＣＴ測定光１０４を用いて網膜Ｅｒをスキャンするための光学系として機能する。当該光学系により、ＯＣＴ測定光１０４を用いて、瞳孔Ｅｐの付近を支点として網膜Ｅｒをスキャンすることができる。

ＯＣＴ測定光１０４は被検眼Ｅに入射すると、網膜Ｅｒによって反射又は散乱され、ＯＣＴ戻り光１０５として、ＯＣＴ測定光１０４の光路を戻り、再び光カプラー１４１に導かれる。

参照光１０３とＯＣＴ戻り光１０５とは、光カプラー１４１にて合波され、干渉光となる。ここで、ＯＣＴ測定光１０４及びＯＣＴ戻り光１０５の光路長と参照光１０３の光路長とがほぼ等しい状態となったときに、ＯＣＴ戻り光１０５と参照光１０３は互いに干渉し、干渉光となる。制御部１９０は、電動ステージ１２５を制御しミラー１２４を移動させることで、被検眼Ｅの被測定部によって変わるＯＣＴ測定光１０４及びＯＣＴ戻り光１０５の光路長に参照光１０３の光路長を合わせることができる。合波された光１０８（干渉光）は、シングルモードファイバー１４４から空間光として出射され、レンズ１５２を通って透過型グレーティング１６１に導かれる。その後、光１０８は、透過型グレーティング１６１によって波長毎に分光され、レンズ１５３で集光され、ラインカメラ１９１に入射する。

ラインカメラ１９１に入射した光１０８は、ラインカメラ１９１上の位置（波長）毎に光強度に応じた電圧信号（干渉信号）に変換される。具体的には、ラインカメラ１９１上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。得られた電圧信号群はデジタル値に変換される。制御部１９０は、デジタル値に変換された干渉信号にデータ処理を施すことで、被検眼Ｅの断層画像を生成することができる。また、制御部１９０は、生成した断層画像を不図示の表示部上に表示する。なお、表示部は任意のモニターによって構成されてよく、撮像部や制御部１９０と別個で構成されてもよいし、一体的に構成されてもよい。また、断層画像を生成する際のデータ処理は、干渉信号から断層画像を生成するための既知の任意のデータ処理であってよい。

なお、シングルモードファイバー１４２及び１４３には、偏光調整用パドル１８３，１８４が設けられている。偏光調整用パドル１８３，１８４はシングルモードファイバー１４２，１４３を通る光の偏光を調整することができる。偏光調整用パドル１８３，１８４を用いることで、光源１０１からの光の偏光状態を調整したり、ＯＣＴ戻り光１０５と参照光１０３の偏光状態が一致するように、参照光１０３の偏光を調整したりすることができる。なお、偏光調整用パドルを設ける位置はこれに限られず、シングルモードファイバー１４５等に設けられてもよい。

ところで、ＯＣＴ戻り光１０５は、ＯＣＴ測定光１０４の光路を戻る際に、ビームスプリッター１７１によって分割され、一部が波面センサ１８１に入射する。波面センサ１８１は、入射したＯＣＴ戻り光１０５の収差を測定する。本実施形態において、ビームスプリッター１７１は、ＯＣＴ戻り光１０５の一部を反射し、後述するＳＬＯ戻り光１０７を透過させる。これにより、ＯＣＴ戻り光１０５の収差を選択的に測定することができる。波面センサ１８１は制御部１９０に電気的に接続されている。制御部１９０は、波面センサ１８１からの出力をツェルニケ多項式に当てはめることで、波面センサ１８１によって測定された被検眼Ｅの有する収差を把握する。

制御部１９０は、ツェルニケ多項式のデフォーカスの成分について、電動ステージ１２６を用いてミラー１１９，１２０の位置を制御して、被検眼Ｅの視度を補正する。また、制御部１９０は、デフォーカス以外の成分については、デフォーマブルミラー１８２の表面形状を制御して補正する。これにより、制御部１９０は、高横分解能な断層画像を生成（取得）することができる。

ここで、瞳孔Ｅｐ、Ｘスキャナ１３２、Ｙスキャナ１３３、波面センサ１８１、及びデフォーマブルミラー１８２が光学的に共役になるように、ミラー１１３～１２３が配置される。これにより、波面センサ１８１は被検眼Ｅの有する収差を測定することができる。

次に、ＳＬＯ光学系について説明する。光源１０２は、光源１０１とは異なる波長の光を発生させるための光源である。本実施形態では、光源１０２として波長７８０ｎｍのＳＬＤを用いる。ＳＬＯ光学系の光源１０２の種類は、これに限られず、光源１０２としてＬＤ（Ｌａｓｅｒ Ｄｉｏｄｅ）等を用いることもできる。また、光源１０２の波長もこれに限られず、所望の構成に応じて変更されてよい。なお、光源１０２は制御部１９０に接続されており、制御部１９０によって制御される。

光源１０２から出射された光はレンズ１５５に導かれ、平行光として出射される。レンズ１５５を透過した光は、ビームスプリッター１７２に導かれ、透過光と反射光（ＳＬＯ測定光１０６）の強度比が９０：１０で分割される。ビームスプリッター１７２によって反射されたＳＬＯ測定光１０６は、フォーカスレンズ１５７及びレンズ１５８を透過する。

フォーカスレンズ１５７は、電動ステージ１２７に搭載されており、第２のフォーカス手段を構成する。電動ステージ１２７は、矢印で図示しているようにＳＬＯ測定光１０６の光軸方向に移動することができ、ＳＬＯ測定光１０６のフォーカス状態を調整することができる。電動ステージ１２７は制御部１９０によって制御される。

制御部１９０は、電動ステージ１２７を制御してフォーカスレンズ１５７を移動させることで、ＯＣＴ測定光１０４のフォーカス位置と異なる位置にＳＬＯ測定光１０６のフォーカス位置を合わせることができる。ここでは、電動ステージ１２７の移動範囲を１０ｍｍとし、当該移動範囲は－２Ｄ～＋２Ｄの視度範囲に対応している。なお、電動ステージ１２７の移動範囲はこれに限られず、電動ステージ１２６の移動範囲よりも狭い任意の移動範囲に設定されてよい。

本実施形態では、第１のフォーカス手段を用いてＯＣＴ測定光１０４及びＳＬＯ測定光１０６のフォーカス調整を行い被検眼Ｅの視度補正を行うため、第２のフォーカス手段のフォーカス調整範囲は狭く抑えることができる。そのため、電動ステージ１２７の移動範囲は、電動ステージ１２６の移動範囲に対して狭くすることができる。従って、より小型のステージを用いてＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系の焦点位置を異なる位置に合わせることができるため、光学系を小型化することができる。

なお、図１ではフォーカスレンズ１５７を凸レンズ、レンズ１５８を凹レンズとして図示しているが、フォーカスレンズ１５７及びレンズ１５８の構成はこれに限らない。フォーカスレンズ１５７を凹レンズ、レンズ１５８を凸レンズとしてもよいし、両方を凸レンズにして、これらの間に中間像を形成する構成としてもよい。

フォーカスレンズ１５７及びレンズ１５８を透過した光は、ダイクロイックミラー１７７へ向かう。ダイクロイックミラー１７７は、光の波長に応じて、光源１０１からの光を透過させ、光源１０２からの光を反射する。ダイクロイックミラー１７７で反射されたＳＬＯ測定光１０６は、ＯＣＴ測定光１０４との共通光路を通って、ダイクロイックミラー１７３に入射する。ここで、ＳＬＯ測定光１０６とＯＣＴ測定光１０４の共通光路には、ダイクロイックミラー１７７、ビームスプリッター１７１、ミラー１１３，１１４、デフォーマブルミラー１８２、ミラー１１５，１１６、及びダイクロイックミラー１７３が含まれる。

ダイクロイックミラー１７３，１７４は、光の波長に応じて、光源１０１からの光を反射させ、光源１０２からの光を透過させる。このため、ミラー１１６で反射されたＳＬＯ測定光１０６は、ダイクロイックミラー１７３を透過し、Ｘスキャナ１３１（第３の走査手段）に入射する。ＳＬＯ測定光１０６の中心はＸスキャナ１３１の回転中心と一致するように調整されており、Ｘスキャナ１３１を回転させることで、ＳＬＯ測定光１０６を用いて網膜Ｅｒ上を光軸に垂直な方向にスキャンすることができる。なお、図示しないがＸスキャナ１３１は制御部１９０に接続されており、制御部１９０によって制御される。Ｘスキャナ１３１及びＹスキャナ１３３はＳＬＯ測定光１０６を被検眼Ｅの眼底上で二次元方向に走査するＳＬＯ走査手段を構成する。

本実施形態では、ダイクロイックミラー１７３によりＯＣＴ測定光１０４の光路とＳＬＯ測定光１０６の光路を分岐させ、ＯＣＴ測定光１０４のＸスキャナ１３２とＳＬＯ測定光１０６のＸスキャナ１３１を別に配置する構成としている。ＯＣＴ測定光１０４のスキャン速度は、ラインカメラ１９１の読み出し速度により制限される。これに対し、ＯＣＴ測定光１０４のＸスキャナ１３２とＳＬＯ測定光１０６のＸスキャナ１３１を別にすることで、ＳＬＯ測定光１０６のスキャン速度を上げることができる。これにより、ＳＬＯ光学系を用いた眼底平面画像の取得のフレームレートを上げることができる。本実施形態では、Ｘスキャナ１３１として共振ミラーを用いているが、所望の構成に応じて任意の偏向ミラーを用いてもよい。

Ｘスキャナ１３１で反射されたＳＬＯ測定光１０６は、ダイクロイックミラー１７４を透過し、再びＯＣＴ測定光１０４との共通光路を通って被検眼Ｅへ入射する。ここで、ＳＬＯ測定光１０６とＯＣＴ測定光１０４との共通光路には、ダイクロイックミラー１７４、ミラー１１７～１２２、Ｙスキャナ１３３、ミラー１２３、及びダイクロイックミラー１７５，１７６が含まれる。ここで、ＳＬＯ測定光１０６とＯＣＴ測定光１０４との共通光路についてまとめると、当該共通光路には、ダイクロイックミラー１７７～ダイクロイックミラー１７３の光路、及びダイクロイックミラー１７４～ダイクロイックミラー１７６の光路が含まれる。

ＳＬＯ測定光１０６は、被検眼Ｅに入射すると網膜Ｅｒによって反射又は散乱され、ＳＬＯ戻り光１０７として、ＳＬＯ測定光１０６の光路を戻り、ダイクロイックミラー１７７で反射された後、ビームスプリッター１７２を透過する。ビームスプリッター１７２を透過したＳＬＯ戻り光１０７は、レンズ１５６で集光されピンホール板１７８を通過する。ピンホール板１７８のピンホール位置は眼底と共役な位置に調整されており、ピンホール板１７８は共役点以外からの不要な光を遮光する共焦点絞りとして作用する。

ピンホール板１７８を通過したＳＬＯ戻り光１０７は、受光素子１９２で受光される。本実施形態では、受光素子１９２としてＡＰＤ（Ａｖａｌａｎｃｈｅ Ｐｈｏｔｏ Ｄｉｏｄｅ）を用いるが、所望の構成に応じて他の任意の受光素子が用いられてもよい。受光素子１９２は受光した光を光強度に応じて電圧信号に変換する。得られた電圧信号群はデジタル値に変換される。制御部１９０はデジタル値に変換された受光素子１９２の出力信号にデータ処理を施し、眼底平面画像を生成することができる。また、制御部１９０は、生成した眼底平面画像を不図示の表示部上に表示する。なお、眼底平面画像を生成する際のデータ処理は、受光素子１９２からの出力信号から眼底平面画像を生成するための既知の任意のデータ処理であってよい。

次に、固視灯光学系について説明する。固視灯光学系は、ダイクロイックミラー１７５及び固視灯パネル１９４から構成される。

ダイクロイックミラー１７５は、光の波長に応じて、固視灯パネル１９４の可視光を反射し、光源１０１及び光源１０２からの光を透過させる。これにより、固視灯パネル１９４に表示されるパターンがダイクロイックミラー１７５を介して被検眼Ｅの網膜Ｅｒに投影される。固視灯パネル１９４に所望のパターンを表示することで、被検眼Ｅの固視方向を指定し、撮像する網膜Ｅｒの範囲を設定することができる。本実施形態では、固視灯パネル１９４として有機ＥＬパネルを用いるが、他のディスプレイが用いられてもよい。なお、固視灯パネル１９４は制御部１９０に接続されており、制御部１９０によって制御される。

次に、前眼観察光学系について説明する。前眼観察光学系は、ダイクロイックミラー１７６、前眼観察カメラ１９３及び不図示の前眼照明光源から構成される。

ダイクロイックミラー１７６は、光の波長に応じて、前眼照明光源の赤外光を反射させ、固視灯パネル１９４の可視光、並びに光源１０１及び光源１０２からの光を透過させる。前眼観察カメラ１９３の光軸は、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系の光軸と一致するように調整されている。このため、前眼観察カメラ１９３からの出力に基づく被検眼Ｅの前眼部の画像を表示部上で観察して基準位置に合わせることで、被検眼Ｅに対するＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系のＸ方向及びＹ方向の位置合わせ（アライメント）を行うことができる。なお、前眼観察カメラ１９３は制御部１９０に接続されており、制御部１９０によって制御される。

また、前眼観察カメラ１９３のフォーカスは、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系のワーキングディスタンス（Ｚ方向の作動距離）と一致したときに、被検眼Ｅの虹彩にピントが合うように調整されている。そのため、前眼部の画像における虹彩を表示部上で観察してピントを合わせることで、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系のＺ方向の位置合わせを行うことができる。本実施形態では前眼照明光源として波長が９７０ｎｍのＬＥＤを用い、前眼観察カメラ１９３としてＣＣＤカメラを用いる。しかしながら、前眼照明光源及び前眼観察カメラはこれに限られず、他の光源や撮像素子等を用いることもできる。また、前眼照明光源の波長もこれに限られず、所望の構成に応じて変更されてよい。

（撮影範囲の関係）
次に、図２を参照して、本実施形態におけるＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の撮影範囲の関係について説明する。図２において、実線がＯＣＴ光学系の撮影範囲２２０、破線の枠内がＳＬＯ光学系の撮影範囲２１０を示しており、ＯＣＴ光学系で１ライン撮影したときのＯＣＴ光学系の撮影範囲２２０とＳＬＯ光学系の撮影範囲２１０との関係を模式的に示している。

ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系は、Ｙスキャナ１３３を共通光路に配置しているため、Ｙ方向（図２の紙面上下方向）には同時にスキャンされる。一方、Ｘスキャナとしては、Ｘスキャナ１３２とＸスキャナ１３１の別々のスキャナを用いているため、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系のＸ方向（図２の紙面左右方向）の撮影範囲はそれぞれ独立に設定されることができる。例えば、図２では、ＳＬＯ光学系の撮影範囲２１０の略中央にＯＣＴ光学系の撮影範囲２２０を設定しているが、Ｘ方向の撮影範囲の関係はこれに限らない。ＯＣＴ光学系の撮影範囲２２０はＳＬＯ光学系の撮影範囲２１０に関わらず、任意に設定してよい。

また、Ｘスキャナ１３１の共振ミラーは、ガルバノミラーよりスキャン速度が速いため、１回のＹ方向のスキャンの間に、ＳＬＯ測定光１０６はＸ方向に複数回スキャンされる。そのため、例えば、長さＬのＯＣＴ光学系の撮影範囲（１ライン）をｍ点のサンプリング（Ａスキャン）で撮影し、Ｌ×ＬのＳＬＯ撮影範囲をｍ回のＸスキャンで撮影することができる。これにより、ＯＣＴ光学系で長さＬの１ラインの断層画像を撮影する間に、ＳＬＯ光学系でＬ×Ｌの眼底正面画像（二次元画像）を取得することができる。なお、Ｌ及びｍの数値は、所望の構成に応じて任意に設定されてよい。

また、３Ｄボリューム画像を撮影する場合は、Ｙスキャナ１３３のスキャンに加えて、Ｘスキャナ１３２でＯＣＴ測定光１０４をスキャンし、上述したＹ方向の１ラインの撮影をＸスキャナ１３２のスキャン位置を変更して繰り返す。例えば、Ｘ方向にＬの範囲でｍライン撮影することで、Ｌ×Ｌの３Ｄボリューム画像を取得することができる。また、この間にＳＬＯ光学系を用いてｍ枚のＬ×Ｌの眼底正面画像（二次元画像）を取得することができる。

（トラッキングの手順）
次に、ＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底正面画像（二次元画像）に基づく位置ずれ補正（トラッキング）の方法について説明する。

本実施形態のトラッキング処理では、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系を用いて同じ位置のライン断層画像を複数回撮影する際の１回目の撮影時に、ＳＬＯ光学系を用いて取得した被検眼Ｅの眼底情報（第１の眼底情報）に基づく眼底正面画像を参照画像とする。次に、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系を用いた２回目以降の撮影時にＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底情報（第２の眼底情報）に基づく眼底画像を位置ずれ検出のための対象画像とする。制御部１９０は、参照画像に対する対象画像の位置ずれ量を算出する。位置ずれ量の算出は、パターンマッチング等の画像処理で行うことができる。

制御部１９０は、算出された位置ずれ量を補正するように、Ｘスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３を制御する。これにより、制御部１９０は、固視微動等による眼底の移動に基づく断層画像の撮影位置のずれを補正する眼底トラッキングを行うことができる。なお、取得された複数枚の同じ位置のライン断層画像は、重ね合わせによる断層画像のノイズ低減処理等に用いることができる。

この眼底トラッキングは、ＯＣＴ光学系を用いて３Ｄボリューム画像を取得する場合も同様に適用することができる。この場合には、前述のように、ＯＣＴ光学系を用いてＸ方向の位置を変えながらＹ方向の１ラインの断層画像を繰り返し取得する。このとき、制御部１９０は、１回目（１ライン目）の撮影時に取得した被検眼Ｅの眼底情報に基づく眼底正面画像を参照画像とする。また、制御部１９０は、２回目（２ライン目）以降の撮影時に取得した眼底情報に基づく眼底正面画像を対象画像とする。制御部１９０は、参照画像と対象画像の位置ずれ量を算出し、眼底トラッキングを行う。これにより、３Ｄボリューム画像を取得する場合にも、被検眼Ｅの網膜Ｅｒに対する断層画像の撮影位置のずれを補正することができる。

なお、参照画像として、ＯＣＴ光学系を用いた１回目の撮影時に、ＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底正面画像の全域を用いてもよいし、眼底正面画像の部分画像を用いてもよい。同様に、対象画像についても、ＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底正面画像の全域を用いてもよいし、眼底正面画像の部分画像を用いてもよい。なお、対象画像として眼底正面画像の部分画像を用いる場合には、対象画像の取得間隔を短縮することができ、眼底トラッキングの制御レートを上げることができる。これにより、眼底のより速い動きによる位置ずれを補正しやすくなる。

また、ここで、参照画像の画像サイズを対象画像の画像サイズより大きく設定してもよい。この場合、対象画像の画像サイズを小さく抑えて制御レートを維持しつつ、参照画像と対象画像の位置ずれ量が大きくても両画像の重なり領域を大きく確保しやすくなり、眼底の大きな動きによる位置ずれを補正しやすくなる。なお、眼底の動きが遅く、眼底トラッキングの制御レートに余裕がある場合は、対象画像の画像サイズを参照画像の画像サイズより大きく設定してもよい。この場合でも、眼底の大きな動きによる位置ずれの補正がしやすくなる。言い換えると、参照画像及び対象画像の一方の画像サイズを他方の画像サイズより大きく設定することで、眼底の大きな動きによる位置ずれを補正しやすくなる。

（眼底の撮影手順）
次に、図３を参照して、眼底撮像装置１００における眼底の撮影手順を説明する。図３は、本実施形態に係る眼底の撮影手順のフローチャートである。

まず、検者が表示部上に表示された前眼照明光源ボタン（不図示）を押すと、ステップＳ３０１において、制御部１９０は、不図示の前眼照明光源を点灯する。前眼照明光源を点灯すると、制御部１９０は、前眼観察カメラ１９３の出力に基づいて被検眼Ｅの前眼部の画像を生成し、表示部上に表示させる。

ステップＳ３０２では、制御部１９０は、表示部上に表示された前眼部の画像に基づいて、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系が設けられた撮像部を被検眼Ｅに対してＸ、Ｙ、及びＺ方向の位置合わせ（前眼ＸＹＺアライメント）を行う。具体的には、検者が前眼部の画像を観察し、検者の入力に応じて制御部１９０が撮影部の不図示の駆動機構を制御して、被検眼Ｅに対して撮影部のアライメントを行う。前述したように、前眼観察カメラ１９３は、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系に対してＸ、Ｙ、及びＺ方向の位置が調整されている。そのため、検者は表示部上に表示された前眼部の画像のＸＹ位置及びピント（Ｚ位置）が合うように撮像部のＸ、Ｙ、及びＺ方向の位置を調整することで、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系のＸ、Ｙ、及びＺ方向の位置合わせを行うことができる。なお、撮影部の位置合わせは不図示の撮影部の駆動機構を検者が操作して行ってもよい。

前眼ＸＹＺアライメントが完了したら、ステップＳ３０３において、検者が表示部上に表示された前眼照明光源ボタンを再度押すことに応じて、制御部１９０が前眼照明光源を消灯する。

前眼照明光源を消灯したら、ステップＳ３０４において、検者が表示部上に表示された光源ボタン（不図示）を押すことに応じて、制御部１９０がＯＣＴ光学系の光源１０１及びＳＬＯ光学系の光源１０２を点灯する。なお、ＯＣＴ光学系の光源１０１を点灯するタイミングは、これに限らない。例えば、後述するステップＳ３０５のラフフォーカス調整の後に光源１０１を点灯してもよい。

ＳＬＯ光学系の光源１０２が点灯したら、制御部１９０は受光素子１９２の出力に基づいて眼底平面画像を生成し、表示部に表示させる。ステップＳ３０５において、制御部１９０は、表示部に表示される眼底平面画像に基づく検者の入力に応じて、ＳＬＯ光学系及びＯＣＴ光学系の大よそのフォーカス調整（ラフフォーカス調整）を行う。

具体的には、検者が眼底平面画像を観察し、表示部上に表示されるフォーカス調整バー（不図示）を動かすことに応じて、制御部１９０が電動ステージ１２６を移動させる。電動ステージ１２６及びミラー１１９，１２０は、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６との共通光路に配置されており、ＳＬＯ測定光１０６のフォーカス調整を行うことにより、ＯＣＴ測定光１０４も同時にラフフォーカス調整が行われる。ここでは、眼底平面画像の輝度が最大になるようにフォーカス調整を行う。

なお、この際、制御部１９０は、ＳＬＯ光学系に設けられた電動ステージ１２７を予め設定された初期状態の位置に配置しておく。ここでは、電動ステージ１２７の初期状態の位置として、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６のフォーカス位置が略一致するような電動ステージ１２７の位置が設定されている。

ラフフォーカス調整を行ったら、ステップＳ３０６において、制御部１９０は、表示部に表示される波面センサ１８１のハルトマン像の位置に基づく検者の入力に応じて、被検眼Ｅに対する撮影部のＸＹファインアライメントを行う。ＸＹファインアライメントでは、検者が表示部上に表示される波面センサ１８１のハルトマン像の位置を観察し、制御部１９０が検者の入力に応じて被検眼Ｅに対し撮影部のＸ方向及びＹ方向の細密な位置合わせを行う。

ここで波面センサ１８１は、波面センサ１８１の中心位置がＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系の光軸と合うように調整されている。そのため、検者はハルトマン像が波面センサ１８１の中心に合うように、被検眼Ｅに対して撮影部の位置を調整することで、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系のＸ方向及びＹ方向の位置合わせを行うことができる。なお、表示部には、波面センサ１８１の中心位置に対応する指標等及びハルトマン像が表示されてよい。

ＸＹファインアライメントを行ったら、ステップＳ３０７において、検者が表示部上に表示された波面補正ボタン（不図示）を押すことに応じて、制御部１９０がデフォーマブルミラー１８２による波面補正を開始する。ここで制御部１９０は、波面センサ１８１で測定された収差に基づいてデフォーマブルミラー１８２の形状を変形させ、デフォーカス成分以外の被検眼Ｅの収差を補正する。ここで、デフォーマブルミラーを用いた収差補正の手法に関しては、既存の手法により行ってよいため、説明を省略する。

デフォーマブルミラー１８２は、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６との共通光路に配置されている。このため、ＯＣＴ測定光１０４についてデフォーマブルミラー１８２の形状を変形させて被検眼Ｅの収差を補正することにより、ＳＬＯ測定光１０６についても被検眼Ｅの収差を補正することができる。

波面補正が開始されたら、ステップＳ３０８において、制御部１９０は参照光１０３の光路長を調整する。具体的には、検者が表示部上に表示された参照光路長調整バー（不図示）を動かすことに応じて、制御部１９０が電動ステージ１２５を制御して参照光１０３の光路長を調整する。ここでは、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系を用いて取得された断層画像を表示部上に表示し、検者による入力に応じて、断層画像における所望の層の像が断層画像表示領域内の所望の位置に合うように、参照光１０３の光路長を調整する。

参照光１０３の光路長が調整されたら、ステップＳ３０９において、制御部１９０はＯＣＴ光学系のファインフォーカス調整を行う。具体的には、検者が断層画像に基づいて表示部上に表示されたフォーカス調整バー（不図示）を動かすことに応じて、制御部１９０が電動ステージ１２６を制御してＯＣＴ光学系の細密なフォーカス調整を行う。高横分解能の補償光学ＯＣＴの光学系では、眼底における測定光のＮＡが大きく焦点深度が浅いため、網膜Ｅｒの深さ方向の全域にわたって同時にフォーカスを合わせることが困難になる。そのため、ステップＳ３０９では、特に撮影したい網膜Ｅｒの層にＯＣＴ測定光１０４のフォーカスが合うようにファインフォーカス調整が行われる。例えば、網膜表層の血管を撮影したい場合、その部分の輝度が最大になるように、制御部１９０が電動ステージ１２６を制御してＯＣＴ測定光１０４のフォーカスを調整する。

ファインフォーカス調整によりＯＣＴ測定光１０４を所望のフォーカス状態に調整したら、ステップＳ３１０において、制御部１９０は、ＳＬＯ光学系を用いて取得された眼底平面画像に基づいてＳＬＯファインフォーカス調整を行う。具体的には、検者が表示部上に表示されたＳＬＯフォーカス調整バー（不図示）を動かすことに応じて、制御部１９０が電動ステージ１２７を制御する。ここでは、表示部上に表示された眼底平面画像の視細胞のコントラストが高くなるように、フォーカス調整を行う。なお、ＳＬＯ光学系のフォーカスを合わせる位置は、視細胞に限らない。ＳＬＯ光学系のフォーカスを合わせる位置は、所望のトラッキング精度が達成できる場合は、血管等、他の特徴点を有する位置であってもよい。

電動ステージ１２７に搭載されたフォーカスレンズ１５７は、ＯＣＴ光学系との共通光路から分岐したＳＬＯ光学系の専用光路に配置されている。従って、電動ステージ１２７でフォーカスレンズ１５７の位置を変更することにより、ＯＣＴ光学系のフォーカス状態に影響を与えることなく、ＳＬＯ光学系のフォーカスを調整できる。

また、フォーカスレンズ１５７は、ＳＬＯ測定光１０６とＳＬＯ戻り光１０７との共通光路に配置されている。これにより、ＳＬＯ測定光１０６の焦点位置を網膜Ｅｒの所望の位置に合わせると同時に、その位置からのＳＬＯ戻り光１０７の焦点位置をピンホール板１７８のピンホール位置に合わせることができる。

なお、ＳＬＯ光学系のフォーカス調整は、ＳＬＯ測定光１０６の専用光路に配置されたレンズ１５５及びＳＬＯ戻り光１０７の専用光路に配置されたレンズ１５６をそれぞれ光軸方向に移動させることで行うこともできる。しかしながら、その場合、レンズ１５５及びレンズ１５６の位置をそれぞれ制御する必要があり、装置構成及び制御が複雑になる。これに対し、フォーカスレンズ１５７を用いてＳＬＯ光学系のフォーカス調整を行う場合には、装置構成及び制御を簡単にすることができる。

ＳＬＯファインフォーカス調整を行ったら、ステップＳ３１１において、検者が表示部に表示されたトラッキングボタン（不図示）を押すことに応じて、制御部１９０が眼底トラッキングを開始する。眼球運動検出手段として機能する制御部１９０は、上述のように、ＳＬＯ光学系を用いて取得した眼底平面画像の特徴点から位置ずれ量を算出し、算出したずれ量に基づいてＸスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３を制御することにより眼底トラッキングを行う。これにより、眼底撮像装置１００は、断層画像の重ね合わせによるノイズ処理に用いる複数の断層画像や、動画、３Ｄボリューム画像等を、位置ずれを小さく抑えて取得することができる。

トラッキングが開始されたら、ステップＳ３１２において、検者が表示部上に表示された撮影ボタン（不図示）を押すことに応じて、制御部１９０は眼底断層画像及び眼底平面画像の取得を行う。ＯＣＴ測定光１０４と参照光１０３との干渉光（光１０８）は、ラインカメラ１９１で受光され、電圧信号に変換される。さらに、得られた電圧信号群はデジタル値に変換されて、制御部１９０にてデータの保存及び処理が行われる。制御部１９０は干渉光に基づくデータを処理することで眼底断層画像を生成する。また、ＳＬＯ戻り光１０７は、受光素子１９２で受光され、電圧信号に変換される。さらに、得られた電圧信号群はデジタル値に変換されて、制御部１９０にてデータの保存及び処理が行われる。制御部１９０はＳＬＯ戻り光１０７に基づくデータを処理することで眼底平面画像を生成する。

本実施形態では、補償光学ＳＬＯの光学系を用いて取得した眼底平面画像を用いて精度のよい眼底トラッキングを行いながら、補償光学ＯＣＴの光学系を用いて、網膜Ｅｒの所望の層にフォーカスを合わせて高解像度でＳＮ比のよい眼底断層画像を撮影できる。また、ＳＬＯ光学系におけるフォーカスレンズ１５７の移動による収差変動がＯＣＴ光学系に影響しないため、精度よく収差補正を行ったままＯＣＴ光学系を用いて眼底断層画像を取得できる。

上記のように、本実施形態による眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４を用いて被検眼Ｅの断層情報を取得するＯＣＴ光学系と、ＳＬＯ測定光１０６を用いて被検眼Ｅの眼底情報を取得するＳＬＯ光学系とを備える。また、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系が、ＯＣＴ測定光１０４及びＳＬＯ測定光１０６の光路の少なくとも一部を共有する共通光路と、共通光路に設けられたミラー１１９，１２０により構成されるバダル光学系を備える。さらに、眼底撮像装置１００は、共通光路から分岐したＳＬＯ測定光１０６の光路に設けられたフォーカスレンズ１５７を備える。ここで、フォーカスレンズ１５７によるフォーカス調整範囲は、バダル光学系によるフォーカス調整範囲より狭い。

また、眼底撮像装置１００は、バダル光学系及びフォーカスレンズ１５７を制御する制御部１９０と、ＯＣＴ測定光１０４の戻り光の収差を測定する波面センサ１８１と、共通光路に設けられ、収差を補正するデフォーマブルミラー１８２を備える。制御部１９０は、波面センサ１８１により測定された収差に基づいて、デフォーマブルミラーの形状の変化を制御する。

さらに、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４を被検眼眼底上で二次元方向に走査するＸスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３を備える。制御部１９０、ＳＬＯ光学系を用いて取得した被検眼Ｅの眼底情報に基づいて眼底の動きを検出し、検出した眼底の動きに基づいてＸスキャナ１３２及びＹスキャナ１３３を制御する。

このような構成から、眼底撮像装置１００は、コンパクトな装置構成でありながら、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の焦点位置を異なる位置に合わせることができる。従って、眼底撮像装置１００では、補償光学ＯＣＴの光学系の焦点位置を撮影したい層に合わせ、且つ、補償光学ＳＬＯの光学系の焦点位置を、眼底トラッキングのための位置検出に有利な特徴点の多い層に合わせることができる。これにより、補償光学ＳＬＯの光学系を用いて高精度な眼底トラッキングを行いながら、補償光学ＯＣＴの光学系で高横解像度な断層画像を撮影することができる。そのため、複数の断層画像や動画及び３Ｄボリューム画像を、撮影中の位置ずれをより小さく抑えて取得することができる。

また、本実施形態による眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６をＹ方向（第１の走査方向）に走査するＹスキャナ１３３と、ＯＣＴ測定光１０４をＹ方向に垂直なＸ方向（第２の走査方向）に走査するＸスキャナ１３２を備える。さらに、眼底撮像装置１００は、ＳＬＯ測定光１０６をＸ方向に走査するＸスキャナ１３１を備える。ここで、制御部１９０は、Ｘスキャナ１３２による一回の走査を行う間にＹスキャナ１３３によりＯＣＴ測定光１０４及びＳＬＯ測定光１０６を繰り返し走査させる。また、制御部１９０は、Ｙスキャナ１３３による一回の走査を行う間にＸスキャナ１３１によりＳＬＯ測定光１０６を繰り返し走査させる。

また、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路は、ＯＣＴ測定光１０４及びＳＬＯ測定光１０６を分離するダイクロイックミラー１７３（第１のダイクロイックミラー）を備える。さらに共通光路は、ダイクロイックミラー１７３によって分離されたＯＣＴ測定光１０４及びＳＬＯ測定光１０６を結合するダイクロイックミラー１７４（第２のダイクロイックミラー）を備える。ここで、ダイクロイックミラー１７３により分離されたＯＣＴ測定光１０４の光路にＸスキャナ１３２が配置され、同様に分離されたＳＬＯ測定光１０６の光路にＸスキャナ１３１が配置される。

このような構成により、眼底撮像装置１００は、ＯＣＴ光学系及びＳＬＯ光学系においてＹスキャナを共有するため、それぞれの光学系に別個にＹスキャナを設ける場合に比べてコンパクトな装置構成とすることができる。また、眼底撮像装置１００は、Ｘスキャナ１３２とＸスキャナ１３１の別々のＸスキャナを用いているため、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系のＸ方向の撮影範囲はそれぞれ独立に設定することができる。さらに、眼底撮像装置１００は、ＳＬＯ光学系及びＯＣＴ光学系におけるＸスキャナ１３１，１３２を異なる周期で回転させることができ、ＳＬＯ光学系の測定光の走査速度をＯＣＴ光学系における測定光の走査速度より速くすることができる。

[第２の実施形態]
図４及び５を参照して、本発明の第２の実施形態による眼底撮像装置４００について説明する。

（装置構成）
以下、図４を参照して、本実施形態による眼底撮像装置４００について、第１の実施形態による眼底撮像装置１００との相違点を中心に説明する。図４は本実施形態による眼底撮像装置４００の概略的な構成を示す。なお、第１の実施形態による眼底撮像装置１００と同様の構成については、同一の参照符号を用いて説明を省略する。

眼底撮像装置４００の基本構成は、第１の実施形態に係る眼底撮像装置１００と同様である。ただし、眼底撮像装置４００は、ＳＬＯ光学系の専用光路に第２のフォーカス手段を配置せず、ＯＣＴ光学系の専用光路に第２のフォーカス手段を配置する点で、眼底撮像装置１００と異なる。眼底撮像装置４００では、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系との共通光路から分岐されたＯＣＴ光学系の専用光路に、第２のフォーカス手段としてフォーカスレンズ４５７が配置される。

本実施形態では、ＯＣＴ測定光１０４の光路におけるレンズ１５４とダイクロイックミラー１７７との間において、フォーカスレンズ４５７及びレンズ４５８が設けられている。フォーカスレンズ４５７は電動ステージ４２７に搭載されている。電動ステージ４２７は制御部１９０の制御により、矢印で図示しているようにＯＣＴ測定光１０４の光軸方向に移動することができる。

なお、図４ではフォーカスレンズ４５７を凸レンズ、レンズ４５８を凹レンズとして図示しているが、フォーカスレンズ４５７及びレンズ４５８の構成はこれに限らない。フォーカスレンズ４５７を凹レンズ、レンズ４５８を凸レンズとしてもよいし、両方を凸レンズにして、これらの間に中間像を形成する構成としてもよい。

（眼底の撮影手順）
次に、図５を参照して、本実施形態の眼底撮像装置４００における眼底の撮影手順を説明する。図５は、本実施形態に係る眼底の撮影手順のフローチャートである。なお、ステップＳ５０１～Ｓ５０７は第１の実施形態に係る撮影手順におけるステップＳ３０１～Ｓ３０７と同様であるため説明を省略する。

撮影が開始され、ステップＳ５０１～Ｓ５０７において、第１の実施形態におけるステップＳ３０１～Ｓ３０７と同様に、アライメントやラフフォーカス調整、波面補正の開始が行われると、処理はステップＳ５０８に移行する。

ステップＳ５０８では、制御部１９０はＳＬＯ光学系のファインフォーカス調整を行う。具体的には、検者が眼底平面像に基づいて表示部上に表示されたフォーカス調整バー（不図示）を動かすことに応じて、制御部１９０が電動ステージ１２６を制御してＳＬＯ光学系の細密なフォーカス調整を行う。ステップＳ５０８では、表示部上に表示された眼底平面画像の視細胞のコントラストが高くなるようにフォーカス調整を行う。なお、ＳＬＯ光学系のフォーカスを合わせる位置は、視細胞に限らない。ＳＬＯ光学系のフォーカスを合わせる位置は、所望のトラッキング精度が達成できる場合は、血管等、他の特徴点を有する位置であってもよい。

また、この際、制御部１９０は、ＯＣＴ光学系に設けられた電動ステージ４２７を予め設定された初期状態の位置に配置しておく。ここでは、電動ステージ４２７の初期状態の位置として、ＯＣＴ測定光１０４とＳＬＯ測定光１０６のフォーカス位置が略一致するような電動ステージ４２７の位置が設定されている。

ファインフォーカス調整により視細胞のコントラストが最大になるように調整したら、制御部１９０は、ステップＳ５０９において、第１の実施形態のステップＳ３１１と同様に眼底トラッキングを開始する。その後、制御部１９０は、ステップＳ５１０において、第１の実施形態のステップＳ３０８と同様に、参照光路長を調整する。

参照光路長を調整したら、ステップＳ５１１において、制御部１９０はＯＣＴファインフォーカス調整を行う。具体的には、検者が断層画像に基づいて表示部上に表示されたＯＣＴフォーカス調整バー（不図示）を動かすことに応じて、制御部１９０が電動ステージ４２７を制御してフォーカスレンズ４５７を移動させ、ＯＣＴ光学系の細密なフォーカス調整を行う。ここでは、表示部に表示された断層画像における撮影したい層の輝度が最大になるようにフォーカス調整が行われる。

本実施形態では、フォーカスレンズ４５７は、ＳＬＯ光学系との共通光路から分岐したＯＣＴ光学系の専用光路に配置されている。そのため、電動ステージ４２７でフォーカスレンズ４５７の位置を変更することにより、ＳＬＯ光学系のフォーカス状態に影響を与えることなく、ＯＣＴ光学系のフォーカスを調整できる。

ＯＣＴファインフォーカス調整により所望の層の輝度が最大になったら、ステップＳ５１２において、第１の実施形態におけるステップＳ３１２と同様の手順で撮影を行う。

上記のように、本実施形態による眼底撮像装置４００は、共通光路から分岐したＯＣＴ光学系におけるＯＣＴ測定光１０４の光路に第２のフォーカス手段であるフォーカスレンズ４５７を備える。このような構成であっても、眼底撮像装置４００は、コンパクトな装置構成でありながら、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の焦点位置を異なる位置に合わせることができる。

そのため、本実施形態による眼底撮像装置４００も、第１の実施形態による眼底撮像装置１００と同様に、精度のよい眼底トラッキングを行いながら、ＯＣＴ光学系で所望の層にフォーカスを合わせて高解像度に撮影できる。また、眼底撮像装置４００では、ＳＬＯ光学系を用いた眼底トラッキングを行ったまま、ＯＣＴ光学系のフォーカスを異なる層に変更することができるため、例えば、ＯＣＴ光学系の複数のフォーカス位置で断層画像を撮影する場合等で操作が容易になる。

［変形例１］
第１及び第２の実施形態では、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路に配置された電動ステージ１２６に搭載されたミラー１１９，１２０を第１のフォーカス手段とし、これらを移動させることによりラフフォーカス調整及びファインフォーカス調整を行った。しかしながら、これらフォーカス調整に用いる第１のフォーカス手段はこれに限らない。例えば、第１のフォーカス手段としてＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系の共通光路に配置されたデフォーマブルミラー１８２を用いることもできる。

特にファインフォーカス調整は、デフォーマブルミラー１８２を変形させることにより行ってもよい。この場合、制御部１９０は、波面センサ１８１の測定値に基づいたデフォーマブルミラー１８２の目標形状に、デフォーカス成分のオフセットを与えて制御する。これにより、被検眼Ｅの収差を補正しつつ、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系のフォーカス位置を変更することができる。なお、ラフフォーカス調整においても、フォーカスの調整量が少なくて済む場合には、同様にデフォーマブルミラー１８２を用いることができる。

また、第１のフォーカス手段として、フォーカスレンズや電気光学素子、ピエゾ素子、液晶光学素子、可変形状ミラー等、他の任意のフォーカス手段を用いてもよい。

［変形例２］
また、第１及び第２の実施形態では、第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を独立に制御してフォーカス調整を行っているが、眼底撮像装置は第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を連動させて制御するモードを有してもよい。

この場合の装置構成は図１に示す眼底撮像装置１００と同様であり、眼底の撮影手順は図５のフローチャートと同様である。ただし、ＯＣＴファインフォーカス調整時（ステップＳ５１１）に、第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を連動させて制御する点で異なる。

この場合、制御部１９０は、ステップＳ５０８において、電動ステージ１２６を制御しフォーカスレンズ１５７を移動させてＳＬＯ光学系のファインフォーカス調整を行う。その後、ステップＳ５１１において、電動ステージ１２６を移動させてＯＣＴファインフォーカス調整を行うときに、電動ステージ１２６による調整を打ち消す方向に動作させるように、ＳＬＯ光学系の専用光路に配置された電動ステージ１２７を制御する。言い換えると、制御部１９０は、共通光路に配置された第１のフォーカス手段によるＯＣＴファインフォーカス調整時に、当該調整による影響を打ち消す方向に、専用光路に配置された第２のフォーカス手段を第１のフォーカス手段に連動させて動作させる。これにより、ＳＬＯ光学系のフォーカス状態を変えることなく、ＯＣＴ光学系のフォーカス調整をすることができる。

その後、ＯＣＴファインフォーカス調整により所望の層の輝度が最大になったら、ステップＳ５１２において、制御部１９０は第１の実施形態におけるステップＳ３１２と同様に撮影を行う。

この場合でも、精度のよい眼底トラッキングを行いながら、補償光学ＯＣＴの光学系で所望の層にフォーカスを合わせて高解像度にＳＮ比がよい画像を撮影できる。また、補償光学ＳＬＯの光学系を用いて眼底トラッキングを行ったまま、補償光学ＯＣＴの光学系のフォーカスを異なる層に変更することができるため、例えば、複数のフォーカス位置で撮影を行う場合等で操作が容易になる。また、電動ステージ１２７に搭載されたフォーカスレンズ１５７の移動による収差変動がＯＣＴ光学系に影響しないため、精度よく収差補正を行ったまま補償光学ＯＣＴの光学系を用いて眼底断層画像を取得できる。また、眼底撮像装置４００の構成において、図３のフローチャートに記載された眼底の撮影手順を行う際に同様の処理を行うこともできる。

なお、第１のフォーカス手段としてデフォーマブルミラー１８２を変形させてフォーカス調整を行ってもよい。この場合、デフォーマブルミラー１８２の目標形状にデフォーカス成分のオフセットを与えて制御し、そのオフセット量を打ち消すように第２のフォーカス手段である電動ステージ１２７を制御すればよい。

また、第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を連動させるための連動機構を設けてもよい。この場合には、制御部１９０は連動機構を制御することにより、第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を連動させることができる。また、連動機構は第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段の連動を解除可能に構成されてよく、この場合、制御部１９０は、連動機構による連動を解除して第１のフォーカス手段と第２のフォーカス手段を別々に制御することができる。

［変形例３］
また、第１の実施形態のステップＳ３０５及び第２の実施形態のステップＳ５０５でラフフォーカス調整を行うとき、参照光路に設けられた光路長調整手段の調整と第１のフォーカス手段によるフォーカス調整を連動させて制御してもよい。

この場合、制御部１９０は、ラフフォーカス調整時のミラー１１９，１２０の移動による光路長変化量と、略同じだけ光路長が変化するように電動ステージ１２５を制御してミラー１２４を移動させる。これにより、ＯＣＴ測定光１０４と参照光１０３との光路長差を変えることなく、フォーカスを調整することができる。そのため、第１の実施形態のステップＳ３０８及び第２の実施形態のステップＳ５１０で参照光路長調整を行う際のミラー１２４の移動量を小さく抑えることができる。電動ステージ１２５に搭載されるミラー１２４の移動量が小さいと光路長の調整時間を短縮することができ、操作開始から撮影完了までの合計の撮影時間を短縮することができるため、被検者の負担を軽減することができる。

また、光路長調整手段と第１のフォーカス手段とを連動させるための連動機構を設けてもよい。この場合には、制御部１９０は連動機構を制御することにより、電動ステージ１２５に搭載されるミラー１２４と第１のフォーカス手段を連動させることができる。また、連動機構は光路長調整手段と第１のフォーカス手段との連動を解除可能に構成されてよく、この場合、制御部１９０は、連動機構による連動を解除して光路長調整手段と第１のフォーカス手段を別々に制御することができる。

なお、第１及び第２の実施形態では、光路長調整手段は参照光１０３の光路に設けられたミラー１２４によって構成された。しかしながら、光路長調整手段は、ＯＣＴ測定光１０４の光路に設けられてもよい。

［変形例４］
第１及び第２の実施形態では、第２のフォーカス手段をＯＣＴ光学系の専用光路及びＳＬＯ光学系の専用光路の一方に設けている。しかしながら、第２のフォーカス手段はＯＣＴ光学系の専用光路及びＳＬＯ光学系の専用光路の両方に設けられてもよい。上述のように、第２のフォーカス手段は、第１のフォーカス手段に比べてフォーカス調整範囲が狭く、対応可能な被検眼Ｅの視度範囲が狭いため、各光学系のファインフォーカス調整に用いられる。本変形例では、撮像手順において、ラフフォーカス後のファインフォーカスが、ＯＣＴ光学系の専用光路及びＳＬＯ光学系の専用光路にそれぞれ設けられた第２のフォーカス手段によって別々に行われる。

このような場合であっても、第１のフォーカス手段と比べ、第２のフォーカス手段はフォーカス調整範囲が狭いため、例えばフォーカスレンズを搭載した電動ステージの移動範囲を狭くでき、従来の装置に比べて装置構成をコンパクトにできる。また、第２のフォーカス手段は、フォーカスレンズを搭載した電動ステージに限られない。例えば、タンタル酸ニオブ酸カリウムの結晶等の電気光学素子や、同様の効果を得ることが可能なその他のピエゾ素子、液晶光学素子、可変形状ミラーなどによって第２のフォーカス手段を構成してもよい。この場合には、電動ステージの移動範囲を確保する必要がないため、装置構成をよりコンパクトにできる。

なお、上記実施形態及び変形例では、検者の入力に応じて制御部１９０が各種アライメントや、光路長調整、フォーカス調整を行った。しかしながら、上述の各種アライメントや、光路長調整、フォーカス調整において用いられた前眼部の画像、眼底平面画像、ハルトマン像、及び断層画像等に基づいて、制御部１９０が自動的にこれらのアライメントや調整を行ってもよい。この場合には、例えば、制御部１９０が上述のアライメントや調整と同様に、眼底平面画像の輝度や撮影すべき層等に基づいて、これらのアライメントや調整を行うことができる。

また、上記実施形態及び変形例では、眼底撮像装置の干渉光学系としてマイケルソン干渉計の構成を用いているが、干渉光学系の構成はこれに限られない。例えば、眼底撮像装置の干渉光学系はマッハツェンダー干渉計の構成を有していてもよい。また、上記実施形態及び変形例における、各ダイクロイックミラーによって反射する又は透過させる光の波長は任意であり、上記構成とは逆の光を反射する又は透過させる構成としてもよい。

さらに、上記実施形態及び変形例では、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系においてＹスキャナ１３３を共有しているが、ＯＣＴ光学系とＳＬＯ光学系に別々にＹスキャナを設けてもよい。また、共通光路に配置される第１のフォーカス手段は、Ｙスキャナ１３３とＸスキャナ１３１，１３２との間に配置される構成に限られない。例えば、被検眼Ｅと第１のフォーカス手段の間に、Ｘスキャナ１３１，１３２の少なくとも１つが設けられてもよい。また、Ｙスキャナ１３３が被検眼Ｅと第１のフォーカス手段の間に設けられなくてもよい。

さらに、上記実施形態及び変形例では、ＯＣＴ光学系として、ＳＬＤを光源として用いたスペクトラルドメインＯＣＴ（ＳＤ－ＯＣＴ）光学系について述べたが、本発明によるＯＣＴ光学系の構成はこれに限られない。例えば、出射光の波長を掃引することができる波長掃引光源を用いた波長掃引型ＯＣＴ（ＳＳ－ＯＣＴ）光学系等の他の任意の種類のＯＣＴ光学系にも本発明を適用することができる。

（その他の実施形態）
本発明は、上述の実施形態の１以上の機能を実現するプログラムを、ネットワーク又は記憶媒体を介してシステム又は装置に供給し、そのシステム又は装置のコンピュータにおける１つ以上のプロセッサーがプログラムを読出し実行する処理でも実現可能である。また、１以上の機能を実現する回路（例えば、ＡＳＩＣ）によっても実現可能である。

以上、実施形態を参照して本発明について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。本発明の趣旨に反しない範囲で変更された発明、及び本発明と均等な発明も本発明に含まれる。また、上述の各実施形態及び変形例は、本発明の趣旨に反しない範囲で適宜組み合わせることができる。また、各実施形態及び変形例で説明されている特徴の組み合わせの全てが本発明の解決手段に必須のものとは限らない。

１００：眼底撮像装置、１０１，１０２：光源、１１９，１２０：ミラー、１２６，１２７：電動ステージ、１５７：フォーカスレンズ、１７３，１７４，１７７：ダイクロイックミラー、１９１：ラインカメラ、１９２：受光素子、Ｅ：被検眼

Claims (15)

1. ＯＣＴ測定光を用いて被検眼の断層情報を取得するＯＣＴ光学系と、
   ＳＬＯ測定光を用いて前記被検眼の眼底情報を取得するＳＬＯ光学系と、
   前記ＯＣＴ測定光の戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
   前記ＯＣＴ光学系及び前記ＳＬＯ光学系が、前記ＯＣＴ測定光及び前記ＳＬＯ測定光の光路の少なくとも一部を共有する共通光路と、
   前記共通光路に設けられた前記収差を補正する収差補正手段及び第１のフォーカス手段と、
   前記共通光路から分岐した前記ＳＬＯ測定光の光路及び前記ＯＣＴ測定光の光路の少なくとも一方に設けられた第２のフォーカス手段と、
   前記収差測定手段により測定された前記収差に基づいて、前記収差補正手段を制御する制御手段と、
   を備える、眼底撮像装置。
2. 前記第２のフォーカス手段によるフォーカス調整範囲は、前記第１のフォーカス手段によるフォーカス調整範囲より狭い、請求項１に記載の眼底撮像装置。
3. 前記第２のフォーカス手段は前記共通光路から分岐した前記ＳＬＯ測定光の光路に設けられる、請求項１又は２に記載の眼底撮像装置。
4. 前記制御手段は、前記第１のフォーカス手段及び前記第２のフォーカス手段を制御する、請求項１乃至３のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。
5. 前記第１のフォーカス手段は、前記収差測定手段及び前記収差補正手段と前記被検眼との間の光路に設けられた反射光学系で構成されたバダル光学系である、請求項１乃至４のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。
6. 前記制御手段は、前記第２のフォーカス手段を前記第１のフォーカス手段に連動して制御する、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。
7. 前記ＯＣＴ光学系における前記ＯＣＴ測定光の光路及び前記ＯＣＴ測定光に対応する参照光の光路の一方に設けられた光路長調整手段を更に備え、
   前記制御手段は、前記光路長調整手段を前記第１のフォーカス手段に連動して制御する、請求項４乃至６のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。
8. 前記ＯＣＴ測定光を前記被検眼の眼底上で二次元方向に走査する走査手段を更に備え、
   前記制御手段は、
   前記被検眼の前記眼底情報に基づいて眼底の動きを検出し、
   検出した前記眼底の動きに基づいて前記走査手段を制御する、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。
9. 前記制御手段は、前記ＳＬＯ光学系により取得された第１の眼底情報に基づく平面画像の部分画像である参照画像と、前記第１の眼底情報の後に前記ＳＬＯ光学系により取得された第２の眼底情報に基づく平面画像の部分画像である対象画像との位置ずれを検出することにより前記眼底の動きを検出し、
   前記参照画像及び前記対象画像の一方の画像サイズは他方の画像サイズより大きい、請求項８に記載の眼底撮像装置。
10. 前記ＯＣＴ測定光と前記ＳＬＯ測定光を第１の走査方向に走査する第１の走査手段と、
    前記ＯＣＴ測定光を第１の走査方向に垂直な第２の走査方向に走査する第２の走査手段と、
    前記ＳＬＯ測定光を前記第２の走査方向に走査する第３の走査手段と、
    を更に備え、
    前記制御手段は、前記第２の走査手段による一回の走査を行う間に前記第１の走査手段により前記ＯＣＴ測定光及び前記ＳＬＯ測定光を繰り返し走査させるとともに、前記第１の走査手段による一回の走査を行う間に前記第３の走査手段により前記ＳＬＯ測定光を繰り返し走査させる、請求項１乃至７のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。
11. 前記共通光路は、
    前記ＯＣＴ測定光及び前記ＳＬＯ測定光を分離する第１のダイクロイックミラーと、
    前記第１のダイクロイックミラーによって分離された前記ＯＣＴ測定光及び前記ＳＬＯ測定光を結合する第２のダイクロイックミラーと、
    を含み、
    前記分離されたＯＣＴ測定光の光路に前記第２の走査手段が配置され、
    前記分離されたＳＬＯ測定光の光路に前記第３の走査手段が配置された、請求項１０に記載の眼底撮像装置。
12. 前記被検眼と前記第１のフォーカス手段との間に前記第１の走査手段、前記第２の走査手段及び前記第３の走査手段の少なくとも一つが配置された、請求項１０又は１１に記載の眼底撮像装置。
13. 前記制御手段は、前記第１のフォーカス手段により前記ＯＣＴ測定光及び前記ＳＬＯ測定光のフォーカス状態を調整した後に、前記第２のフォーカス手段により前記ＯＣＴ測定光及び前記ＳＬＯ測定光の少なくとも一方のフォーカス状態を更に調整する、請求項１乃至１２のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。
14. 前記第２のフォーカス手段と前記第１のフォーカス手段を連動させる連動機構を更に備え、
    前記連動機構は前記第２のフォーカス手段と前記第１のフォーカス手段の連動を解除可能である、請求項１乃至５のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。
15. 前記ＯＣＴ光学系における前記ＯＣＴ測定光の光路及び前記ＯＣＴ測定光に対応する参照光の光路の一方に設けられた光路長調整手段と、
    前記光路長調整手段と前記第１のフォーカス手段を連動させる連動機構と、
    を更に備え、
    前記連動機構は前記光路長調整手段と前記第１のフォーカス手段の連動を解除可能である、請求項１乃至６のいずれか一項に記載の眼底撮像装置。

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