JP6108810B2 - 眼科装置およびその制御方法 - Google Patents

Description

本発明は、被検眼の収差を測定する眼科装置およびその制御方法に関する。

近年、眼科装置として、眼底上で２次元的にレーザ光を走査して、眼底からの反射光を受光して眼底の２次元画像を取得するＳＬＯ（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ）装置や、低コヒーレンス光の干渉を利用して眼底の断層画像を取得するＯＣＴ（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：光干渉断層計あるいは光干渉断層法）が知られている。ＯＣＴの種類として、主に、ＴＤ−ＯＣＴ（Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ：タイムドメイン法）とＦＤ−ＯＣＴ（Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ：フーリエドメイン法）がある。また、ＦＤ−ＯＣＴの種類として、ＳＤ−ＯＣＴ（Ｓｐｅｃｔｒａｌ Ｄｏｍａｉｎ ＯＣＴ：スペクトラルドメイン法）とＳＳ−ＯＣＴ（Ｓｗｅｐｔ Ｓｏｕｒｃｅ ＯＣＴ）がある。

このような眼科装置は、近年において、レーザ照射光学系の高ＮＡ化等による高分解能化が進められている。このとき、眼底を撮影する場合、測定光は、角膜や水晶体等の眼の光学組織を通る必要があるため、角膜や水晶体の収差の影響により撮影した眼底画像の画質が低下する可能性がある。そこで、眼の収差を測定し、その収差を補正する補償光学（Ａｄａｐｔｉｖｅ Ｏｐｔｉｃｓ：ＡＯ）を光学系に組み込んだ、ＡＯ−ＳＬＯやＡＯ−ＯＣＴについて、非特許文献１に開示されている。眼の収差を測定する場合、一般的には、シャックハルトマン波面センサー方式が用いられる。この方式は、まず、眼の網膜上にレーザを集光して照射する。次に、網膜からの反射散乱光のうち、瞳孔を通過して瞳から放射された光を、マイクロレンズアレイを通してＣＣＤカメラ等のセンサーで受光し、この受光結果に基づいて波面を測定することができる。そして、測定した波面を補正するように可変形状ミラーや空間位相変調器の波面補正デバイスを駆動する。これにより、高分解能な眼底の撮影が可能となる。

Ｙ．Ｚｈａｎｇ ｅｔ ａｌ，Ｏｐｔｉｃｓ Ｅｘｐｒｅｓｓ，Ｖｏｌ．１４，Ｎｏ．１０，１５Ｍａｙ２００６

ここで、被検眼を測定する場合や被検眼の眼底画像を取得する場合、被検眼と眼科装置との位置合わせを行う必要がある。一般的に、位置合わせ用の光学系（カメラ）からのアライメント光を前眼部に照射し、角膜反射輝点像を前眼部カメラで確認しながら上記位置合わせを行う手法が考えられる。

しかしながら、上記位置合わせ用の光学系が被検眼と正確に位置合わせされたとしても、眼科装置を組み立てた際の公差等の影響により、この光学系とは異なる光学系であるＡＯ光学系（シャックハルトマン波面センサーを含む光学系）が被検眼と正確に位置合わせされているとは限らない。このように、ＡＯ光学系とは異なる光学系を用いて上記位置合わせを行うと、ＡＯ光学系と被検眼との位置合わせの精度によっては、正確に収差を補正することが難しい。

ところで、上記波面センサーで受光した場合、被検眼の瞳孔に対応する円形の明部（シャックハルトマン波面センサーを示す図３（ｃ）を参照）が取得される。この円形の明部が上記波面センサーの略中心に来るようにして、正確な上記位置合わせを行うことができる。しかしながら、被検眼の瞳孔が大きい場合や散瞳眼の場合には、上記波面センサー全体が明部（シャックハルトマン波面センサーを示す図３（ｄ）を参照）となるため、該明部を用いて位置合わせを行うことが難しいことがある。

本発明の目的は、上述した課題を鑑みて、例えば、波面センサー等の収差測定手段の測定結果によりＡＯ光学系と被検眼との位置合わせを行う場合において正確な位置合わせを行うために、収差測定手段における明部の大きさを変更することである。

本発明に係る眼科装置は、
測定光を照射した被検眼からの戻り光から、収差を測定するための光を分割する光分割手段と、
前記光分割手段により分割された前記収差を測定するための光に基づいて前記被検眼の収差を測定する収差測定手段と、
前記光分割手段と前記収差測定手段の間に配置され、前記収差を測定するための光の太さを変更する変更手段と、
前記被検眼の前眼部画像を取得する取得手段と、
前記前眼部画像から瞳孔の大きさを検出する検出手段と、
前記瞳孔の大きさが閾値以上の場合に、前記収差を測定するための光の太さが細くなるように前記変更手段を制御する制御手段と、を有し
前記変更手段により太さを変更された光が、前記収差測定手段に照射されることを特徴とする。

本発明によれば、被検眼からの戻り光が収差測定手段に照射する照射領域の大きさを変更することができる。これにより、収差測定手段における明部の大きさを変更することができるため、例えば、波面センサー等の収差測定手段の測定結果によりＡＯ光学系と被検眼との位置合わせを行う場合において正確な位置合わせを行うことができる。

第１の実施形態に係る収差測定装置を説明するための模式図である。 第１の実施形態に係る波面補正デバイスを説明するための模式図である。 第１の実施形態に係る波面センサーを説明するための模式図である。 第１の実施形態の制御ステップの一例を示すフロー図である。 第２の実施形態に係る収差測定装置の一部を説明するための模式図である。

本発明を実施するための形態を、以下の実施形態により説明する。ただし、本発明はこれらに限定されるものではない。

（第１の実施形態）
図１は、本実施形態を適用するのに好適な眼科装置の一例を示す模式図である。本例は補償光学付きの走査型レーザ検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｈｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ／ＳＬＯ）の一例である。

１０１は光源であり、波長８４０ｎｍのＳＬＤ光源（Ｓｕｐｅｒ Ｌｕｍｉｎｅｓｃｅｎｔ Ｄｉｏｄｅ）を用いた。光源１０１の波長は特に制限されるものではないが、眼底撮影用としては被検者の眩しさの軽減と分解能の維持のために、８００〜１５００ｎｍ程度が好適に用いられる。本実施形態においてはＳＬＤ光源を用いたが、その他にレーザ等も用いられる。本実施形態では眼底撮影と波面測定のための光源を共用しているが、それぞれ別光源とし、途中で合波する構成としてもよい。

まず、光源１０１から照射された光は、単一モード光ファイバー１０２を通って、コリメータ１０３により、平行光線として照射される。照射された測定光１０５は、眼底画像取得用の光分割手段の一例であるビームスプリッタ１０４を透過し、分解能変更部１０６に入射する。

ここで、分解能変更部１０６は、入射したビーム径を変更して出射することにより、分解能を変更することができる。ビーム径を７ｍｍから１ｍｍ程度の範囲で変更することにより、眼底上の３μｍから２０μｍ程度の分解能で撮影することが可能となる。分解能は、広画角の撮影時にデータ量を抑えるために分解能を低くしたり、被検眼１１３の収差に応じて分解能を調整したり、撮影方法によっては細いビームで透過率の低い部位を避けて撮影したりするために、可変としておくことが有用である。分解能変更部１０６は分解能制御部１２１により制御される。また、分解能制御部１２１は制御部２２２と協調して動作する。なお、分解能変更部１０６は、例えば、複数の光学部材のいずれか一つを光路に挿入する構成や、サイズを変更可能な絞りを光路に設ける構成等が好ましい。これにより、分解能を連続的に変更する構成や離散的に変更する構成が可能である。

また、分解能変更部１０６を透過した測定光１０５は、補償光学系に導光される。補償光学の光学系は、収差測定用の光分割手段の一例であるビームスプリッタ１０７、収差測定手段の一例である波面センサー１１９、波面補正デバイス１０９および、それらに導光するために反射ミラー１０８−１〜４から構成される。ここで、反射ミラー１０８−１〜４は、少なくとも、被検眼１１３の瞳と波面センサー１１９、波面補正デバイス１０９とが光学的に共役関係になるように設置されている。また、ビームスプリッタ１０７として、本実施形態ではビームスプリッタを用いた。ビームスプリッタ１０７を透過した測定光１０５は、波面補正デバイス１０９に入射する。波面補正デバイス１０９で反射された測定光１０５は、反射ミラー１０８−３に出射する。

また、反射ミラー１０８−３、４で反射された光は、走査光学系１１０によって、１次元もしくは２次元に走査される。本実施形態では走査光学系１１０に主走査用と副走査用として２つのガルバノスキャナーを用いた。より高速な撮影のために、走査光学系１１０の主走査側に共振スキャナーを用いることもある。構成によっては、走査光学系１１０内の各スキャナーを光学的に共役状態にするために、各スキャナーの間にミラーやレンズといった光学素子を用いる場合もある。本実施形態において、走査光学系１１０は眼底画像を撮影する際に必要な機構であるため、収差測定の過程においては走査角度ゼロ度の位置で静止している。なお、各種工差を補正するために、適切なオフセット角で静止させてもよい。

また、走査光学系１１０で走査された測定光１０５は、レンズ１１１−１、２および前眼部観察用の光分割手段の一例であるビームスプリッタ１１２を通して被検眼１１３に照射される。なお、本実施形態ではビームスプリッタ１１２として、穴あきミラー等を用いてもよい。被検眼１１３に照射された測定光は眼底で反射もしくは散乱される。レンズ１１１−１、２の位置を調整することによって、被検眼１１３の視度にあわせて最適な照射を行うことが可能となる。ここでは、レンズを用いたが、球面ミラー等で構成してもよい。

また、前眼部観察カメラ１１４は、ビームスプリッタ１１２を通して前眼部を観察し、ディスプレイ１１５には被検眼１１３の前眼部の様子が映し出される。その様子は画像データとしてメモリ２２５に記憶される。

また、被検眼１１３の網膜から反射もしくは散乱された反射散乱光（戻り光とも言う。）は、入射した時と同様の経路を逆向きに進行する。また、戻り光のうちビームスプリッタ１０７で分割された光は、変更手段の一例である変倍光学系１１６を透過して波面センサー１１９に照射され、光線の波面を測定するために用いられる。このとき、収差測定用の光分割手段は、戻り光の一部を収差測定手段に照射する光として分割する。また、変更手段は、収差測定用の光分割手段と収差測定手段との間に設けられる。

なお、本実施形態では、眼底画像取得と収差測定とをリアルタイムで実行する場合を想定しているため、ビームスプリッタ１０７により戻り光の一部を波面センサー１１９に導光している。１０７として、光分割手段以外に、光路に対して挿脱可能な反射部材（例えば、跳ね上げミラー）が考えられる。この場合、制御部２２２が、反射部材を光路に挿入した状態で収差測定を行い、収差測定が終わった後に、反射部材を光路から離脱するように制御することが好ましい。これにより、眼底画像を取得する際に、戻り光の光量損失を抑制することができる。以上より、波面センサー１１９に導光する戻り光は、一部でも良いし、全部でも良く、少なくとも一部であれば良い。

ここで、変倍光学系１１６は、反射散乱光の太さを変更することができる。これにより、波面センサー１１９に照射される反射散乱光の照射領域の大きさを変更することができる。なお、本実施形態では、変倍光学系１１６としてズームレンズを用いたが、それに限定されるものではない。例えば、倍率の異なる複数の光学部材のいずれか一つを光路に挿入する構成等でも良い。変倍光学系１１６等の変更手段は、反射散乱光が波面センサー１１９に照射される照射領域の大きさを変更できる構成であれば、何でも良い。

また、ディスプレイ２２３には、波面センサー１１９のＣＣＤセンサーの集光状態が表示させることができる。また、ビームスプリッタ１０７を透過した反射散乱光は、ビームスプリッタ１０４によって一部が反射され、コリメータ２１６、光ファイバー１１７を通して光強度センサー１１８に導光される。光強度センサー１１８で光は電気信号に変換され、制御部２２２によって眼底画像として画像に構成されて、ディスプレイ２２３に表示される。

（波面補正デバイス）
ここで、本実施形態では、波面補正デバイス１０９（収差補正デバイスとも呼ぶ。）として液晶素子を用いた空間位相変調器を用いた。図２（ａ）に反射型液晶光変調器の模式図を示す。反射型液晶光変調器は、ベース部１２２とカバー１２３に挟まれた空間に液晶分子１２５−１、１２５−２が封入されている構造となっている。ベース部１２２には複数の画素電極１２４を有し、カバー１２３には不図示の透明な対向電極を有している。電極間に電圧を印加していない場合には、液晶分子は１２５−１のような配向をしており、電圧を印加すると１２５−２のような配向状態に遷移し、入射光に対する屈折率が変化する。各画素電極の電圧を制御して各画素の屈折率を変化させることにより、空間的な位相変調が可能となる。例えば入射光１２６が本変調器に入射した場合、液晶分子１２５−２を通過する光は液晶分子１２５−１を通過する光よりも位相が遅れ、結果として図中１２７で示すような波面を形成する。一般的に反射型液晶光変調器は、数万〜数十万個の画素から構成されている。また、液晶素子は偏光特性を有するため、入射光の偏光を調整するための偏光素子を、本変調器の入射光路上に具備することもある。

また、波面補正デバイス１０９の他の例としては、可変形状ミラーがある。可変形状ミラーとは、局所的に光の反射方向を変えることができるものであり、様々な方式のものが実用化されている。例えば、その断面を図２（ｂ）に示すようなデバイスである。入射光を反射する変形可能な膜状のミラー面１２９と、ベース部１２８と、これらに挟まれて配置されたアクチュエータ１３０と、ミラー面１２９を周囲から支持する不図示の支持部から構成されている。アクチュエータ１３０の動作原理としては、静電力や磁気力、圧電効果を利用したものがあり、動作原理によってアクチュエータ１３０の構成は異なる。アクチュエータ１３０はベース部１２８上に二次元的に複数配列されていて、それらを選択的に駆動することにより、ミラー面１２９を自在に変形できるようになっている。一般的に可変形状ミラーは数十〜数百のアクチュエータで構成されている。

（波面センサー）
ここで、反射ミラー１０８−２、１及びビームスプリッタ１０７で反射された反射散乱光は、波面センサー１１９に照射され、光線の波面を測定するために用いられる。本実施形態では、波面センサー１１９としてシャックハルトマン波面センサーを用いた。図３（ａ）と図３（ｂ）にシャックハルトマン波面センサーの模式図を示す。１３１が波面を測定する光線であり、マイクロレンズアレイ１３２を通して、ＣＣＤセンサー１３３上の焦点面１３４に集光される。図３（ｂ）は、図３（ａ）のＡ−Ａ´から見た様子を示す図である。マイクロレンズアレイ１３２が、複数のマイクロレンズ１３５から構成されている様子を示したものである。光線１３１は各マイクロレンズ１３５を通してＣＣＤセンサー１３３上に集光されるため、光線１３１はマイクロレンズ１３５の個数分のスポットに分割されて集光される。ここで、ＣＣＤセンサー１３３上に集光された状態は、反射散乱光（戻り光）の太さと波面センサー１１９の大小関係によって、図３（ｃ）と図３（ｄ）のように異なる。各マイクロレンズを通過した光線はスポット１３６に集光される。被検眼の瞳孔径が小さい場合、図３（ｃ）のように、反射散乱光の太さが波面センサー１１９より小さくなる。この場合、ＣＣＤセンサー１３３で受光された像は、瞳孔に対応した円形の明部（反射散乱光が波面センサー１１９に照射する照射領域とも言う。）となる。一方、被検眼の瞳孔径が大きい（あるいは散瞳している）場合、図３（ｄ）のように、反射散乱光の太さが波面センサー１１９より大きくなる。この場合、ＣＣＤセンサー１３３の全面で受光されるため、その全面に対応した形状の明部となる。

また、入射した光線の波面計算はマイクロレンズにより集光された各スポット１３６の位置をもとに行われる。例えば、図３（ｅ）に球面収差を持つ波面を測定した場合の模式図を示す。光線１３１は１３７で示すような波面で形成されている。光線１３１はマイクロレンズアレイ１３２によって、波面の局所的な垂線方向の位置に集光される。この場合のＣＣＤセンサー１３３の集光状態を図３（ｆ）に示す。光線１３１が球面収差を持つため、スポット１３６は中央部に偏った状態で集光される。この位置を計算することによって、光線１３１の波面が分かる。なお、本発明に適用できる波面センサーは、シャックハルトマン波面センサーに限定されるものではなく、波面を測定可能であれば何でも良い。例えば、波面曲率センサーがあり、これは光の進行方向の前後における光の明るさ分布の変化に基づいて波面を測定することができる。

また、波面センサー１１９は、補償光学制御部１２０に接続され、受光した波面を補償光学制御部１２０に伝える。波面補正デバイス１０９も補償光学制御部１２０に接続されており、補償光学制御部１２０から指示された変調を行う。補償光学制御部１２０は波面センサー１１９から取得した波面を基に、収差のない波面へと補正するような変調量を計算し、波面補正デバイス１０９にそのように変調するように指令する。波面の測定と波面補正デバイス１０９への指示は繰り返し処理され、常に最適な波面となるようにフィードバック制御が行われる。

（収差測定の流れ）
次に、本実施形態に係る測定の流れを、図４のフローチャートを用いて説明する。まず、ステップ７０１において、制御部２２２が制御を開始する。また、ステップ７０２において、不図示の表示制御部の一例である制御部２２２が前眼部観察像をディスプレイ１１５に表示させる。また、制御部２２２が前眼部観察像を画像データとしてメモリ２２５に記憶させる。また、ステップ７０３において、制御部２２２がメモリ２２５に記憶させた前眼部画像から被検眼１１３の瞳孔領域を画像処理により抽出する。また、制御部２２２が抽出された瞳孔領域に基づいて被検眼１１３の瞳孔径を検出する。なお、被検眼１１３の瞳孔径を検出する場合は、例えば、経線方向毎に瞳孔径を検出し、これらの平均値を瞳孔径とする。また、瞳孔径で有る必要はなく、瞳孔の大きさ、例えば、瞳孔の面積でも良い。また、ステップ７０４において、検出された瞳孔径が基準値（閾値）以上か否かを判断する。なお、操作者がこの判断を行ってもよいし、制御部２２２が検出された瞳孔径と基準値との比較を行うことによりこの判断を行ってもよい。ここで、検出された瞳孔径が基準値未満の場合には、ステップ７０７以降の処理が実行される。また、検出された瞳孔径が基準値以上の場合には、ステップ７０５に進む。ここで、基準値は、ＣＣＤセンサー１３３の大きさと光学系との関係により決定されるものであるが、本実施形態では４ｍｍとする。

また、ステップ７０５において、波面センサー１１９のＣＣＤセンサー１３３上の照射領域の一例であるスポットエリアが、図３（ｃ）のように、瞳孔に対応した円形の状態として表示されるように、変倍光学系１１６の倍率を調整する。これは、瞳孔径が閾値以上の場合には、図３（ｄ）のように、スポットエリアがＣＣＤセンサー１３３よりも大きくなる可能性が高いからである。なお、倍率の調整は、操作者が手動で行ってもよいし、モータ等で構成された駆動機構（不図示）を制御することで自動的に行ってもよい。例えば、照射領域の大きさが所定の大きさ（例えば、ＣＣＤセンサー１３３の範囲内の大きさ）になるように、倍率を調整することが考えられる。また、ステップ７０６において、倍率の調整が完了したか否かを判断する。なお、操作者が判断してもよいし、制御部２２２が画像情報処理によって自動的に判断してもよい。

また、ステップ７０７において、ＣＣＤセンサー上のスポットエリアが所定の位置となるように、不図示の表示制御部が矢印等の方向を示す表示形態をディスプレイ２２３に表示させる。これにより、被検眼１１３と補償光学系等を含む光学部２２４との相対位置（被検眼１１３に対する光学部１１４の位置、または光学部１１４に対する被検眼１１３の位置）を調整するように、操作者に促すことができる。なお、表示制御部が、スポットエリアの中心位置を示す表示形態（例えば、アライメントマーク）をディスプレイ２２３に表示させてもよい。また、装置や被検眼の光学系に起因する各種オフセットを加味して、ディスプレイ２２３上にスポットエリアを導くアライメント指標を表示してもよい。ステップ７０８でスポットエリアが所定の位置、つまり被検眼１１３と光学部２２４の位置関係が所定の位置となっているか判断する。判断は操作者が行ってもよいし、一定時間、操作者による操作がないこと等によって、制御部２２２が判断してもよい。スポットエリアが所定の位置であった場合は、ステップ７０９において、再度、変倍光学系１１６の調整が必要か判断する。なお、操作者が判断してもよいし、倍率の基準値を設定しておき、制御部２２２が比較すること等により判断してもよい。再調整が不要と判断された場合には、ステップ７１１以降の処理が実行される。また、再調整が必要と判断された場合には、ステップ７１０へと進む。

また、ステップ７１０において、変倍光学系１１６の倍率を再度調整する。なお、ステップ７０５の倍率（調整前の倍率）に調整してもよいし、倍率を上げることで収差測定の精度を上げてもよい。所定の倍率へと調整できれば良い。また、操作者が手動で調整を行ってもよいし、モータ等で構成された駆動機構（不図示）を制御することで行ってもよい。調整が終了したらステップ７１１の収差測定へと進む。その後、測定した収差の値に基づき、ステップ７１２で収差の補正が行われた後、ステップ７１３で眼底の撮影が行われる。

このように、本実施形態によれば、瞳孔が広いあるいは広がった被検眼に対しても光学系との高精度な位置合わせを促すことができ、これによって高精度な収差測定を行うことができる。また、変倍光学系を追加することにより、構成が簡素化できる。

（第２の実施形態）
本実施形態は、走査型レーザ検眼鏡（Ｓｃａｎｎｉｎｇ Ｌａｓｅｒ Ｏｐｔｈａｌｍｏｓｃｏｐｅ／ＳＬＯ）を適用している。第１の実施形態と異なる点は、変倍光学系１１６の構成である。なお、変倍光学系１１６以外の構成は、第１の実施形態の構成と同様であるため、説明を省略する。本実施形態は、変倍光学系の一例である縮小光学系を光路に対して挿脱することにより、ＣＣＤセンサー１３３に照射される戻り光の太さを変更することができる。これにより、ＣＣＤセンサー１３３上の照射領域の大きさを変更することができる。この構成について、図５を用いて説明する。

まず、図５（ａ）は、被検眼と光学部２２４との位置合わせの場合を想定している。このとき、縮小光学系８０１が光路中に挿入されている。縮小光学系８０１により、波面センサー１１９に照射される反射散乱光を細くすることができる。これにより、被検眼１１３の瞳孔が大きい（あるいは散瞳している）状態でも、図５（ａ）のように、ＣＣＤセンサー４０３上のスポットエリアが瞳孔に対応した円形の状態として表示される。なお、縮小光学系８０１の有無によって、被検眼の瞳孔と波面センサー１１９、波面補正デバイス１０９との光学的な共役関係に影響は与えない。

また、図５（ｂ）は、収差を測定する場合を想定している。このとき、縮小光学系８０１が光路から離脱されている。上述した位置合わせによりスポットエリアが所定の位置となったら、図５（ｂ）のように、縮小光学系８０１を光路から離脱する。このとき、操作者が手動で縮小光学系８０１を光路から離脱させてもよい。また、例えば、制御部２２２が、モータ、ソレノイド、シリンダ等で構成された駆動機構（不図示）により自動的に縮小光学系８０１を光路から離脱してもよい。なお、縮小光学系８０１を光路から離脱する際のトリガーとしては、制御部２２２が、被検眼１１３と光学部２２４との位置合わせが完了したことを判断することが好ましい。例えば、スポットエリアがＣＣＤセンサー１３３における所定の位置になったことを判断することが考えられる。なお、本実施形態において、縮小光学系８０１をビームスプリッタ１０７と波面センサー１１９との間に設置したが、被検眼１１３と波面センサー１１９との間であればどこに配置してもよい。また、収差測定および画像を取得する場合、縮小光学系８０１を光路から離脱するだけでなく、拡大光学系（不図示）を挿入することが好ましい。これにより、図３（ｄ）のように、波面センサー１１９の測定領域をできるだけ大きくすることができるので、収差測定の精度を高めることができる。

このように本実施形態によれば、瞳孔が大きい（あるいは散瞳している）状態に対しても、被検眼と光学系との高精度な位置合わせを促すことができる。これにより、高精度な収差測定を行うことができる。なお、本実施形態では、縮小光学系を用いているが、光路に対して拡大光学系を挿脱する構成でも良い。この場合、位置合わせの際には拡大光学系を光路から離脱しておき、収差を測定する際に拡大光学系を光路に挿入することが好ましい。

（その他の実施形態）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

Claims (10)

1. 測定光を照射した被検眼からの戻り光から、収差を測定するための光を分割する光分割手段と、
   前記光分割手段により分割された前記収差を測定するための光に基づいて前記被検眼の収差を測定する収差測定手段と、
   前記光分割手段と前記収差測定手段の間に配置され、前記収差を測定するための光の太さを変更する変更手段と、
   前記被検眼の前眼部画像を取得する取得手段と、
   前記前眼部画像から瞳孔の大きさを検出する検出手段と、
   前記瞳孔の大きさが閾値以上の場合に、前記収差を測定するための光の太さが細くなるように前記変更手段を制御する制御手段と、を有し
   前記変更手段により太さを変更された光が、前記収差測定手段に照射されることを特徴とする眼科装置。
2. 前記収差測定手段に照射された前記収差を測定するための光の照射領域を示す表示形態を表示手段に表示させる表示制御手段を更に有することを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
3. 前記制御手段が、前記被検眼と前記収差測定手段を含む光学部との位置合わせが完了した場合に、前記照射領域が大きくなるように前記変更手段を制御し、
   前記収差測定手段が、前記変更された大きさの照射領域により前記被検眼の収差を測定することを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
4. 前記被検眼に対して前記光学部を駆動する駆動手段を更に有し、
   前記制御手段が、前記照射領域が前記収差測定手段の所定の位置になるように、前記駆動手段を制御することを特徴とする請求項３に記載の眼科装置。
5. 前記制御手段が、前記変更手段により前記照射領域の大きさが前記収差測定手段のセンサーの範囲内の大きさになるように変更された後に、前記照射領域が前記収差測定手段の所定の位置になるように、前記駆動手段を制御することを特徴とする請求項４に記載の眼科装置。
6. 光を異なる太さに変更する複数の光学部材を有し、
   前記変更手段が、前記収差測定手段の光路に対して前記複数の光学部材を選択的に挿脱することにより、前記照射領域の大きさを変更することを特徴とする請求項１乃至５のいずれか１項に記載の眼科装置。
7. コンピュータを、請求項１乃至６のいずれか１項に記載の眼科装置の各手段として機能させることを特徴とするプログラム。
8. 被検眼の前眼部画像を取得手段により取得する取得工程と、
   前記前眼部画像から瞳孔の大きさを検出手段により検出する検出工程と、
   前記瞳孔の大きさが閾値以上の場合に、測定光を照射した前記被検眼からの戻り光から、光分割手段により分割された収差を測定するための光の太さが細くなるように変更手段により変更する変更工程と、
   前記変更手段により変更された前記太さよりも太さが太い前記収差を測定するための光に基づいて前記被検眼の収差を収差測定手段により測定する工程と、を有し、
   前記変更工程は、前記光分割手段と前記収差測定手段の間に配置された前記変更手段により実行されることを特徴とする眼科装置の制御方法。
9. 測定光を照射した被検眼からの戻り光から、収差を測定するための光を分割する光分割手段と、
   前記光分割手段により分割された前記収差を測定するための光に基づいて、前記被検眼の収差を測定する収差測定手段と、
   前記光分割手段と前記収差測定手段の間に配置され、前記収差を測定するための光の太さを変更する変更手段と、
   少なくとも前記光分割手段と前記収差測定手段と前記変更手段とを含む光学部と前記被検眼との位置合わせの場合に、前記収差を測定するための光の太さを、前記収差の補正に用いられる収差を測定する場合の太さより細くなるように前記変更手段を制御する制御手段と、を有することを特徴とする眼科装置。
10. 前記変更手段は、変倍光学系、縮小光学系、及び、拡大光学系の何れかであることを特徴とする請求項９に記載の眼科装置。

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