JP6074241B2 - 補償光学装置、撮像装置、補償光学装置の制御方法およびプログラム - Google Patents
補償光学装置、撮像装置、補償光学装置の制御方法およびプログラム Download PDFInfo
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Description
前記被検査物の波面収差を測定する測定手段と、
前記波面収差を補正する補正手段と、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光のスポット数が閾値未満である場合に前記波面収差の測定を妨げる物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことを検知し、前記スポット数が閾値以上となった場合に前記波面収差の測定を妨げる物体が前記被検査物と前記測定手段との間から外れたことを検知する検知手段と、
前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の補正を中断し、前記補正の中断後に前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間から外れたことが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の前記中断した補正を再開するように前記補正手段を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
前記被検眼の波面収差を測定する測定手段と、
前記被検眼の波面収差を補正する補正手段と、
前記測定光が照射された前記被検眼からの戻り光のスポット数が閾値未満である場合に前記被検眼の瞼が閉じたことを検知し、前記スポット数が閾値以上となった場合に前記被検眼の瞼が開いたことを検知する検知手段と、
前記検知手段の検知結果を用いて前記補正手段による補正を制御する制御手段と、を備えることを特徴とする。
本発明の第1実施形態に係る補償光学装置および撮像装置として、補償光学装置を備えたAO−SLO装置の構成例について説明する。尚、本発明は、AO−SLO装置に限定されるものではなく、AO−OCT装置に対しても同様に適用可能である。
検知部148は波面センサー115の情報から、収差測定を妨げる物体が被検査物と波面センサー115との間に入り込んだこと、または、収差測定を妨げる物体が被検査物と波面センサー115との間から外れたことを検知する。ここで、収差測定を妨げる物体としては、例えば、被検眼の瞼、被検眼のまつ毛、被検者の髪の毛、被検者の人体の一部などが挙げられる。収差測定を妨げる物体が被検査物(例えば、被検眼)と波面センサー115との間に入り込むと、波面センサー115における戻り光の光量に変化が生じる。検知部148は波面センサー115における戻り光の光量の変化から、収差測定を妨げる物体の有無を検知する。以下の説明では、収差測定を妨げる物体として、被検眼の瞼を例にして説明する。検知部148は、収差測定を妨げる物体が被検査物と波面センサー115との間に入り込んだこととして、被検眼の瞼が閉じたことを検知する。また、検知部148は、収差測定を妨げる物体が眼の瞳孔と装置との間から外れたこととして、被検眼の瞼が開いたことを検知する。補償光学制御部116は、被検眼で発生する収差を補正するため収差補正デバイス108における収差補正処理をフィードバック制御する制御部として機能する。補償光学制御部116は波面センサー115の情報から収差を補正するための補正情報を演算し、接続されている収差補正デバイス108に指示する。例えば、収差補正デバイス108が形状可変ミラーで構成されている場合、補償光学制御部116は、波面センサー115から取得した情報を基に、収差を相殺するような形状可変ミラーの反射面の形状を計算する。そして、補償光学制御部116は収差補正デバイス108(可変形状ミラー)にその反射面の形状に変形するように指示する。
図2を参照して、本発明の第2実施形態に係る補償光学装置および撮像装置として、補償光学装置を備えたAO−SLO装置の構成例について説明する。図2に示すAO−SLO装置の構成は、基本的に図1で説明したAO−SLO装置と同様の構成を有するが、被検眼111の前に光分割部201および被検眼の前眼部の画像を取得する前眼部観察カメラ202が構成されている点で第1実施形態の構成と相違する。光分割部201としては、例えば、ビームスプリッタや穴あきミラー等を用いることが可能である。
第1および第2実施形態では、瞬きにより瞼が閉じていることを検知した際の収差補正のフィードバック制御について説明した。本実施形態では、第1実施形態を具体的な被検眼の眼底画像の撮像に適用した場合について説明する。眼底画像の撮像を行うために、光源101からの測定光105が補償光学装置および接眼部110を介して被検眼111の眼底に照射され、眼底から反射散乱された戻り光は入射した時と同様の経路を逆向きに進行し波面センサー115に戻ることになる。検知部148は、波面センサー115のCCDセンサー137上のスポットの数を計数する。スポットの数は、基本的には、測定光のビーム径とレンズアレイのピッチで決まるが、被検査物である被検眼の影響を受けるため測定時に計数する。補償光学制御部116は、検知部148による計数後に第1実施形態で説明したように収差補正のフィードバック制御を行う。ここで、瞬きにより瞼が閉じたことを示す閾値を、瞼が閉じていない(瞼が開いている)場合のスポット数の90%と設定する。例えば、瞼が閉じていない(瞼が開いている)場合のスポット数が1000であるとすると、計数したスポットの数が900を下回ると、検知部148は瞬きにより瞼が閉じた状態であると判定する。計数したスポットの数が900以上の場合、検知部148は瞼が閉じていない(瞼が開いている)状態であると判定する。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (24)
- 測定光を被検査物に照射する照射手段と、
前記被検査物の波面収差を測定する測定手段と、
前記波面収差を補正する補正手段と、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光のスポット数が閾値未満である場合に前記波面収差の測定を妨げる物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことを検知し、前記スポット数が閾値以上となった場合に前記波面収差の測定を妨げる物体が前記被検査物と前記測定手段との間から外れたことを検知する検知手段と、
前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の補正を中断し、前記補正の中断後に前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間から外れたことが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の前記中断した補正を再開するように前記補正手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする補償光学装置。 - 前記補正を中断する場合、前記補正手段は、前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことが検知された時点における波面収差の補正状態を維持することを特徴とする請求項1に記載の補償光学装置。
- 前記中断した補正を再開する場合、前記補正手段は、前記維持されている前記補正状態から補正を再開することを特徴とする請求項2に記載の補償光学装置。
- 前記測定手段における前記被検査物からの戻り光の光強度が閾値未満の場合、前記検知手段は、前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことを検知し、
前記光強度が閾値以上となった場合、前記検知手段は、前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間から外れたことを検知する
ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の補償光学装置。 - 前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことを前記検知手段により検知してからの経過時間を計測する計測手段を更に備え、
前記経過時間が所定の時間を超えた場合には、前記制御手段の制御により前記補正手段は補正を中断することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の補償光学装置。 - 測定光を被検査物に照射する照射手段と、
前記被検査物の波面収差を測定する測定手段と、
前記波面収差を補正する補正手段と、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光のスポット数が閾値未満であるか否かを検知する検知手段と、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光のスポット数が閾値未満であることが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の補正を中断し、前記補正の中断後に前記スポット数が閾値以上となったことが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の前記中断した補正を再開するように前記補正手段を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする補償光学装置。 - 測定光を被検眼に照射する照射手段と、
前記被検眼の波面収差を測定する測定手段と、
前記被検眼の波面収差を補正する補正手段と、
前記測定光が照射された前記被検眼からの戻り光のスポット数が閾値未満である場合に前記被検眼の瞼が閉じたことを検知し、前記スポット数が閾値以上となった場合に前記被検眼の瞼が開いたことを検知する検知手段と、
前記検知手段の検知結果を用いて前記補正手段による補正を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする補償光学装置。 - 前記制御手段は、前記被検眼の瞼が閉じたことが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の補正を中断し、前記補正の中断後に前記被検眼の瞼が開いたことが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の前記中断した補正を再開することを特徴とする請求項7に記載の補償光学装置。
- 前記制御手段は、補正状態を決定するために、前記検知手段の検知結果に応じて前記補正手段を制御し、
前記補正を中断する場合、前記補正手段は、前記被検眼の瞼が閉じたことが検知された時点における波面収差の補正状態を維持することを特徴とする請求項7または8に記載の補償光学装置。 - 前記中断した補正を再開する場合、前記補正手段は、前記維持されている前記補正状態から補正を再開することを特徴とする請求項9に記載の補償光学装置。
- 前記測定手段における前記被検眼からの戻り光の光強度が閾値未満の場合、前記検知手段は、前記検知手段は前記被検眼の瞼が閉じたことを検知し、
前記光強度が閾値以上となった場合、前記検知手段は前記被検眼の瞼が開いたことを検知する
ことを特徴とする請求項7乃至10のいずれか1項に記載の補償光学装置。 - 前記戻り光を用いて前記被検眼の前眼部の画像を取得する取得手段を更に備え、
前記検知手段は、前記画像において前記被検眼の瞳に対応する画像領域を特定できない場合に、前記被検眼の瞼が閉じたことを検知し、
前記検知手段は、前記画像領域を特定できる場合に、前記被検眼の瞼が開いたことを検知する
ことを特徴とする請求項7乃至11のいずれか1項に記載の補償光学装置。 - 前記取得手段は、予め定められたフレームレートの前記被検眼の前眼部の動画像を取得し、
前記検知手段は、前記動画像のフレームにおいて、前記画像領域を特定できない場合に、前記被検眼の瞼が閉じたことを検知し、
前記検知手段は、前記フレームにおいて、前記画像領域を特定できる場合に、前記被検眼の瞼が開いたことを検知する
ことを特徴とする請求項12に記載の補償光学装置。 - 前記制御手段は、前記スポット数が閾値未満の場合に、前記被検眼の瞼が閉じたことを示す識別情報を表示手段に表示させ、前記スポット数が閾値以上の場合に、前記被検眼の瞼が開いていることを示す識別情報を前記表示手段に表示させることを特徴とする請求項7乃至13のいずれか1項に記載の補償光学装置。
- 測定光を被検眼に照射する照射手段と、
前記被検眼の波面収差を測定する測定手段と、
前記被検眼の波面収差を補正する補正手段と、
前記測定光が照射された前記被検眼からの戻り光のスポット数が閾値未満であるか否かを検知する検知手段と、
前記検知手段の検知結果を用いて前記補正手段による補正を制御する制御手段と、
を備えることを特徴とする補償光学装置。 - 前記制御手段は、前記測定光が照射された前記被検眼からの戻り光のスポット数が閾値未満であることが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の補正を中断し、前記補正の中断後に前記測定光が照射された前記被検眼からの戻り光のスポット数が閾値以上となったことが前記検知手段により検知された場合に前記補正手段の前記中断した補正を再開することを特徴とする請求項15に記載の補償光学装置。
- 請求項7乃至16のいずれか1項に記載の補償光学装置と、
前記補償光学装置により波面収差が補正された前記被検眼の画像を生成する生成手段と、
を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記制御手段は、前記スポット数が閾値未満の場合には、前記被検眼の瞼が閉じたことを示す識別情報を前記生成された画像と共に記憶部に格納し、前記スポット数が閾値以上の場合に、前記被検眼の瞼が開いていることを示す識別情報を前記生成された画像と共に前記記憶部に格納することを特徴とする請求項17に記載の撮像装置。
- 前記制御手段は、前記被検眼の瞼が開いていることを示す識別情報と共に前記記憶部に格納された画像を読み出し、前記読み出された画像を表示手段に表示させることを特徴とする請求項18に記載の撮像装置。
- 測定光を被検査物に照射する照射手段と、前記被検査物の波面収差を測定する測定手段と、前記波面収差を補正する補正手段と、を有する補償光学装置の制御方法であって、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光のスポット数が閾値未満である場合に前記波面収差の測定を妨げる物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことを検知し、前記スポット数が閾値以上となった場合に前記波面収差の測定を妨げる物体が前記被検査物と前記測定手段との間から外れたことを検知する検知工程と、
前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間に入り込んだことが前記検知工程で検知された場合に前記補正手段の補正を中断し、前記補正の中断後に前記物体が前記被検査物と前記測定手段との間から外れたことが前記検知工程で検知された場合に前記補正手段の前記中断した補正を再開するように前記補正手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする補償光学装置の制御方法。 - 測定光を被検査物に照射する照射手段と、前記被検査物の波面収差を測定する測定手段と、前記波面収差を補正する補正手段と、を有する補償光学装置の制御方法であって、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光のスポット数が閾値未満であるか否かを検知する検知工程と、
前記測定光が照射された前記被検査物からの戻り光のスポット数が閾値未満であることが前記検知工程で検知された場合に前記補正手段の補正を中断し、前記補正の中断後に前記スポット数が閾値以上となったことが前記検知工程で検知された場合に前記補正手段の前記中断した補正を再開するように前記補正手段を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする補償光学装置の制御方法。 - 測定光を被検眼に照射する照射手段と、前記被検眼の波面収差を測定する測定手段と、前記被検眼の波面収差を補正する補正手段と、を有する補償光学装置の制御方法であって、
前記測定光が照射された前記被検眼からの戻り光のスポット数が閾値未満である場合に前記被検眼の瞼が閉じたことを検知し、前記スポット数が閾値以上となった場合に前記被検眼の瞼が開いたことを検知する検知工程と、
前記検知工程の検知結果を用いて前記補正手段による補正を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする補償光学装置の制御方法。 - 測定光を被検眼に照射する照射手段と、前記被検眼の波面収差を測定する測定手段と、前記被検眼の波面収差を補正する補正手段と、を有する補償光学装置の制御方法であって、
前記測定光が照射された前記被検眼からの戻り光のスポット数が閾値未満であるか否かを検知する検知工程と、
前記検知工程の検知結果を用いて前記補正手段による補正を制御する制御工程と、
を有することを特徴とする補償光学装置の制御方法。 - コンピュータに、請求項20乃至23のいずれか1項に記載の補償光学装置の制御方法の各工程を実行させるためのプログラム。
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