JP5943953B2 - 撮像装置及びその制御方法 - Google Patents
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測定光を照射した被検眼からの戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの収差を補正する収差補正手段と、
前記補正された収差の光を用いて得た前記被検眼の戻り光を受ける受光手段と、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの径を変更する変更手段と、
前記戻り光の時間に対する強度変化が閾値未満であり且つ前記戻り光の強度が閾値未満である場合に、前記径が小さくなるように前記変更手段を制御する制御手段と、を有する。
また、本発明に係る撮像装置の制御方法の一つは、
測定光を照射した被検眼からの戻り光の収差を測定する収差測定手段と、前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの収差を補正する収差補正手段と、前記補正された収差の光を用いて得た前記被検眼の戻り光を受ける受光手段と、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの径を変更する変更手段と、を有する撮像装置の制御方法であって、
前記撮像装置が、前記戻り光の時間に対する強度変化が閾値未満であり且つ前記戻り光の強度が閾値未満である場合に、前記径が小さくなるように前記変更手段を制御する工程を有する。
実施例1として、図1を用いて本発明を適用した補償光学系を備えたSLOによる被検査物の光画像を取得する光画像撮像装置および光画像撮像装置の制御方法の構成例について説明する。
図3(b)に反射型液晶光変調器の模式図を示す。
走査光学系109で走査された測定光は、接眼レンズ110−1および110−2を通して眼111に照射される。
各マイクロレンズを通過した光線はスポット140に集光される。
ステップ107において、制御部118は波面補正デバイス108の収差補正能力の限界であるかを確認する。
本実施例では、ステップS110の撮像後にステップS111で終了しているが、眼底の連続撮像を行うような場合には、ステップS110からS103に戻り、分解能設定と撮像を繰り返しても良い。
実施例2として、図2を用いて本発明を適用した補償光学系を備えたOCTによる光画像撮像装置およびその制御方法について説明する。
また、チタンサファイアレーザなどの超短パルスレーザなどを光源に用いることもできる。
光源101から照射された光は、単一モード光ファイバー102を通って、ファイバーカプラー120まで導光される。
ファイバーカプラー120に到達した信号光と参照光は合波され、光ファイバー125を通して分光器142に導光される。
実施例3として、図5のフローチャートを用いて、本発明を適用した補償光学系を備えたSLOによる実施例1とは異なる形態の光画像撮像装置の制御方法の構成例について説明する。
実施例4として、図6のフローチャートを用いて、本発明を適用した補償光学系を備えたSLOによる実施例1及び実施例3とは異なる形態の光画像撮像装置の制御方法の構成例について説明する。
Claims (10)
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光の収差を測定する収差測定手段と、
前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの収差を補正する収差補正手段と、
前記補正された収差の光を用いて得た前記被検眼の戻り光を受ける受光手段と、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの径を変更する変更手段と、
前記戻り光の時間に対する強度変化が閾値未満であり且つ前記戻り光の強度が閾値未満である場合に、前記径が小さくなるように前記変更手段を制御する制御手段と、を有することを特徴とする撮像装置。 - 前記制御手段は、前記受光手段により受けられた前記戻り光の時間に対する強度変化が閾値以上である場合に前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの収差の補正を繰り返し行うように前記収差補正手段を制御することを特徴とする請求項1に記載の撮像装置。
- 前記受光手段により受けられた前記戻り光の強度が閾値以上である場合に前記戻り光の強度に基づいて前記被検眼の画像を取得する取得手段を更に有することを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置。
- 前記変更手段により変更した径の測定光が照射された前記被検眼からの戻り光の強度に基づいて前記被検眼の画像を取得する取得手段を更に有することを特徴とする請求項1または2に記載の撮像装置。
- 前記収差測定手段及び前記収差補正手段は、前記被検眼の前眼部と光学的に共役な位置にあることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮像装置。
- 測定光を照射した被検眼からの戻り光の収差を測定する収差測定手段と、前記収差測定手段の測定結果に基づいて、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの収差を補正する収差補正手段と、前記補正された収差の光を用いて得た前記被検眼の戻り光を受ける受光手段と、前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの径を変更する変更手段と、を有する撮像装置の制御方法であって、
前記撮像装置が、前記戻り光の時間に対する強度変化が閾値未満であり且つ前記戻り光の強度が閾値未満である場合に、前記径が小さくなるように前記変更手段を制御する工程を有することを特徴とする撮像装置の制御方法。 - 前記制御する工程において、前記撮像装置が、前記受光手段により受けられた前記戻り光の時間に対する強度変化が閾値以上である場合に前記測定光と前記戻り光とのうち少なくとも1つの収差の補正を繰り返し行うように前記収差補正手段を制御することを特徴とする請求項6に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記撮像装置が、前記受光手段により受けられた前記戻り光の強度が閾値以上である場合に前記戻り光の強度に基づいて前記被検眼の画像を取得する工程を更に有することを特徴とする請求項6または7に記載の撮像装置の制御方法。
- 前記撮像装置が、前記変更手段により変更した径の測定光が照射された前記被検眼からの戻り光の強度に基づいて前記被検眼の画像を取得する工程を更に有することを特徴とする請求項6または7に記載の撮像装置の制御方法。
- 請求項6乃至9のいずれか1項に記載の撮像装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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