JP2020036717A - 眼科撮影装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 ＯＣＴ光学系のフォーカス調整を容易に実施することができる眼科撮影装置を提供する。【解決手段】 被検眼に照射された測定光と参照光による干渉信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、干渉信号を処理することで被検眼のＯＣＴデータを取得する眼科撮影装置であって、被検眼の眼軸長を取得する眼軸長取得手段と、眼軸長に基づいて被検眼の眼屈折力を取得する眼屈折力取得手段と、ＯＣＴ光学系のフォーカス位置を調整するためのフォーカス調整用光学部材と、フォーカス位置が眼屈折力に対応する位置となるように、フォーカス調整用光学部材を駆動するフォーカス制御手段と、を備える。【選択図】 図１

Description

本開示は、被検眼を撮影するための眼科撮影装置に関する。

被検眼を撮影する眼科撮影装置として、例えば、低コヒーレント光を用いた光断層干渉計（Optical Coherence Tomography:OCT）が知られている。特許文献１には、正面観察光学系（ＳＬＯ光学系、眼底カメラ光学系、等）を用いて眼底正面画像のフォーカスを調整するとともに、ＯＣＴ光学系を用いて眼底断層画像のフォーカスを調整する眼科撮影装置が提案されている。すなわち、正面観察画像のフォーカスが、眼底断層画像のフォーカスに適用されている。

特開２００６−２１２１５３号公報

上記の眼科撮影装置において、正面観察画像が撮像できなかったとき、あるいは、正面観察画像のフォーカスが所望の撮影部位に合わなかったとき、等には、正面観察光学系を用いた眼底正面画像のフォーカスを、ＯＣＴ光学系を用いた眼底断層画像のフォーカスに適用できないため、ＯＣＴ光学系のフォーカス調整を容易に実施することができなかった。

本開示は、上記従来技術に鑑み、ＯＣＴ光学系のフォーカス調整を容易に実施することができる眼科撮影装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本開示は、以下のような構成を備えることを特徴とする。

（１）被検眼に照射された測定光と参照光による干渉信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記干渉信号を処理することで前記被検眼のＯＣＴデータを取得する眼科撮影装置であって、前記被検眼の眼軸長を取得する眼軸長取得手段と、前記眼軸長に基づいて前記被検眼の眼屈折力を取得する眼屈折力取得手段と、前記ＯＣＴ光学系のフォーカス位置を調整するためのフォーカス調整用光学部材と、前記フォーカス位置が前記眼屈折力に対応する位置となるように、前記フォーカス調整用光学部材を駆動するフォーカス制御手段と、を備えることを特徴とする。

本実施例に係る眼科撮影装置の光学系を示す図である。 本実施例に係る眼科撮影装置の光学系を示す図である。 制御動作を説明するフローチャートである。 前眼部撮影時におけるモニタの表示画面の一例である。 干渉信号の強度分布を示す図である。 眼底撮影時におけるモニタ７５の表示画面の一例である。

＜概要＞
本開示の実施形態に係る眼科撮影装置の概要について説明する。なお、以下の＜＞にて分類された項目は、独立または関連して利用されうる。

本実施形態における眼科撮影装置（例えば、眼科撮影装置１）は、被検眼に照射された測定光と参照光による干渉信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、干渉信号を処理することで被検眼のＯＣＴデータを取得する光干渉断層計であってもよい。また、例えば、眼科撮影装置は、ＳＬＯ光学系を有し、被検眼の正面画像データを取得する走査型レーザ検眼鏡と、光干渉断層計と、が複合された装置であってもよい。また、例えば、眼科撮影装置は、眼底カメラ光学系を有し、被検眼の正面画像データを取得する眼底カメラと、光干渉断層計と、が複合された装置であってもよい。なお、本実施例における眼科撮影装置は、少なくともＯＣＴ光学系を備える眼科撮影装置であればよい。

＜ＯＣＴ光学系＞
例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、被検眼に照射された測定光と参照光による干渉信号を検出するＯＣＴ光学系（例えば、ＯＣＴ光学系１００）を有し、干渉信号を処理することで、被検眼のＯＣＴデータを取得する。例えば、ＯＣＴ光学系は、被検眼上の走査ラインにて測定光を走査するための走査部（例えば、光スキャナ１５６）を備えてもよい。また、例えば、ＯＣＴ光学系は、光源からの光を測定光路と参照光路に分割するための検出器（例えば、検出器１２０）を有し、測定光路を介して被検眼に導かれた測定光と、参照光路からの参照光と、による干渉信号を検出してもよい。

例えば、ＯＣＴ光学系は、１つの参照光路及び１つの検出器を有し、被検眼の１部位の干渉信号を取得してもよい。例えば、ＯＣＴ光学系は、１つの参照光路及び１つの検出器を有し、被検眼の複数部位の干渉信号を取得してもよい。この場合には、被検眼の撮影部位（撮影領域）を切り換えることで、複数部位の干渉信号を別々に取得する構成であってもよい。このとき、測定光を所定の位置に集光させて、複数部位の干渉信号を別々のタイミングで取得してもよいし、測定光を撮影領域毎に集光させて、複数部位の干渉信号を別々のタイミングで取得してもよい。

例えば、ＯＣＴ光学系は、複数の参照光路及び複数の検出器を有し、被検眼の複数部位の干渉信号を同時に取得してもよい。複数の参照光路は、第１参照光路、および、第１参照光路とは異なる第２参照光路、であってもよい。複数の検出器は、測定光と第１参照光路からの参照光との第１干渉信号を検出するための第１検出器と、第１検出器とは異なる第２検出器であって、測定光と第２参照光路からの参照光との第２干渉信号を検出するための第２検出器と、であってもよい。

例えば、ＯＣＴ光学系は、フーリエドメインＯＣＴ光学系を基本的構成としてもよい。フーリエドメインＯＣＴ光学系としては、スペクトルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ）光学系であってもよいし、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ）光学系であってもよい。また、例えば、ＯＣＴ光学系は、タイムドメインＯＣＴ（ＴＤ−ＯＣＴ）を基本構成としてもよい。

なお、本開示の技術は、被検眼の反射強度を検出するための強度ＯＣＴ、被検眼のモーションコントラストデータを検出するためのＯＣＴアンジオグラフィー（例えば、ドップラーＯＣＴ）、偏光感受ＯＣＴ（ＰＳ−ＯＣＴ：Polarization Sensitive OCT）、等において適用されてもよい。また、強度ＯＣＴとＰＳ−ＯＣＴとが複合されたマルチファンクションＯＣＴにおいて適用されてもよい。

＜ＯＣＴデータ＞
ＯＣＴデータは、信号データであってもよいし、信号データから生成される画像データであってもよい。例えば、ＯＣＴデータは、被検眼の反射強度特性を示す断層画像データ、被検眼のＯＣＴアンジオデータ（例えば、ＯＣＴモーションコントラストデータ）、被検眼のドップラー特性を示すドップラーＯＣＴデータ、被検眼の偏光特性を示す偏光特性データ、等の少なくともいずれかであってもよい。

例えば、ＯＣＴデータは、Ａスキャンデータ（例えば、Ａスキャン断層画像データ等）、Ｂスキャンデータ（例えば、Ｂスキャン断層画像データ、二次元ＯＣＴアンジオデータ、等）、正面（En face）データ（例えば、ＯＣＴ正面データ、正面モーションコントラストデータ、等）、三次元データ（例えば、三次元断層画像データ、三次元ＯＣＴアンジオデータ、等）、等の少なくともいずれかであってもよい。

例えば、断層画像データは、Ａスキャン断層画像データであってもよい。また、例えば、断層画像データは、Ｂスキャン断層画像データであってもよい。なお、Ｂスキャン断層画像データは、走査ライン（横断位置）に沿って測定光をＸＹ方向のいずれかの方向（例えば、Ｘ方向）に走査させることによって取得された断層画像データであってもよい。また、例えば、断層画像データは、三次元断層画像データであってもよい。なお、三次元断層画像データは、測定光を二次元的に走査することによって取得される断層画像データであってもよい。

＜光路長調整＞
例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、光路長調整用光学部材を備える。光路長調整用光学部材は、測定光と参照光との光路長差を調整する。例えば、光路長調整用光学部材は、測定光と第１参照光との光路長差と、測定光と第２参照光との光路長差と、を共通の光学部材の駆動によって、同時に調整する構成であってもよい。例えば、本実施例においては、測定光路に設けられた測定光の光路長を調整するための光学部材（例えば、カップラ１５３、コリメータレンズ１５４）を移動させることによって、測定光と第１参照光との光路長差と、測定光と第２参照光との光路長差と、が同時に調整される。もちろん、光路長調整用光学部材は、測定光と第１参照光との光路長差と、測定光と第２参照光との光路長差と、のそれぞれを独立に調整可能な構成としてもよい。この場合には、第１参照光路と、第２参照光路と、のそれぞれに、参照光の光路長を調整するための光学部材（例えば、光学部材１１２）が設けられてもよい。このような構成であれば、各参照光の光路長を調整することによって、測定光と第１参照光との光路長差と、測定光と第２参照光との光路長差と、を独立に調整することができる。

例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、光路長制御手段（例えば、制御部７０）を備える。光路長制御手段は、光路長調整用光学部材を制御する。光路長制御手段は、測定光の光路長を調整するための光路長調整用光学部材、及び、参照光の光路長を調整するための光路長調整用光学部材、の少なくともいずれかの光学部材を移動させてもよい。

＜フォーカス調整＞
例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、フォーカス調整用光学部材を備える。フォーカス調整用光学部材は、ＯＣＴ光学系のフォーカス位置を調整する。例えば、ＯＣＴ光学系のフォーカス位置は、被検眼の眼底に調整されてもよい。本実施例においては、測定光路に設けられたフォーカス調整用光学部材（例えば、フォーカスレンズ１５５）を移動させ、ＯＣＴ光学系の測定光を眼底に集光させることによって、フォーカス位置を眼底に調整することができる。なお、フォーカス調整用光学部材としては、測定光路において移動可能に配置されたレンズに限らず、測定光路において固定配置された可変焦点レンズ、等が用いられてもよい。また、例えば、前眼部と眼底に対応する２つの測定光路を設けて、各測定光路にフォーカス調整用光学部材を配置するようにしてもよい。このような構成であれば、被検眼の前眼部に対するフォーカス位置と、被検眼の眼底に対するフォーカス位置と、を独立に調整することもできる。

例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、フォーカス制御手段（例えば、制御部７０）を備える。フォーカス制御手段は、ＯＣＴ光学系のフォーカス位置が被検眼の眼屈折力に対応する位置となるように、フォーカス調整用光学部材を駆動してもよい。例えば、被検眼の眼屈折力に対するフォーカス調整用光学部材の位置は、予め実験やシミュレーション等から設定されていてもよい。

なお、フォーカス制御手段は、被検眼の眼屈折力に基づいてフォーカス調整用光学部材の初期位置を設定し、初期位置からフォーカス調整用光学部材を駆動させることで、フォーカス位置を微調整してもよい。従来の眼科撮影装置では、予め設定されたフォーカス位置からフォーカス調整用光学部材を駆動させていたが、このような構成とすることで、眼屈折力に基づく初期位置からフォーカス調整用光学部材を駆動させることができ、従来よりもフォーカス調整にかかる時間を短縮することができる。また、フォーカス位置を微調整することで、より鮮明なＯＣＴデータを得ることができる。

また、フォーカス制御手段は、光路長制御手段による光路長調整用光学部材の駆動に連動してフォーカス調整用光学部材を駆動させることで、フォーカス位置を被検眼の眼屈折力に対応する位置に調整してもよい。すなわち、フォーカス制御手段は、光路長調整用光学部材が移動された位置に応じて、フォーカス調整用光学部材を移動させてもよい。例えば、本実施例では、光路長調整用光学部材の位置に対し、眼屈折力に基づいて予めフォーカス調整用光学部材の位置が対応付けられていてもよい。これによって、例えば、光路長調整手段が光路長調整用光学部材の最適な位置（すなわち、光路長差が最適となる位置）を探索しながら、フォーカス調整手段がフォーカス調整用光学部材の最適な位置（すなわち、被検眼の眼屈折力に対応する位置）を調整することができる。つまり、光路長調整に連動してフォーカス調整を容易に行うことができる。なお、光路長調整用光学部材の移動位置から眼屈折力が取得され、その眼屈折力からフォーカス位置が取得されることで、フォーカス調整用光学部材が最適な位置に移動されてもよい。また、光路長調整用光学部材の移動位置から眼屈折力に基づくフォーカス位置が求められることで、フォーカス調整用光学部材が最適な位置に移動されてもよい。このような光路長調整用光学部材の移動とフォーカス調整用光学部材の移動は同時に行われてもよいし、光路長調整用光学部材の移動に追従するようにフォーカス調整用光学部材の移動が行われてもよい。

＜眼軸長取得手段＞
例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、眼軸長取得手段（例えば、制御部７０）を備える。眼軸長取得手段は、被検眼の眼軸長を取得する。眼軸長取得手段は、眼科撮影装置が備えるＯＣＴ光学系を用いて、被検眼の眼軸長を取得してもよい。例えば、眼軸長取得手段は、光路長調整手段によって光路長調整用光学部材が駆動されることにより調整された光路長差に基づいて、眼軸長を取得してもよい。この場合、眼軸長取得手段は、被検眼の前眼部のＯＣＴデータと眼底のＯＣＴデータとをそれぞれ取得し、これらを用いて被検眼の眼軸長を取得してもよい。また、この場合、眼軸長取得手段は、被検眼の前眼部及び眼底を含むＯＣＴデータを取得し、これを用いて被検眼の眼軸長を取得してもよい。例えば、眼軸長取得手段は、ＯＣＴデータを解析することで得られる角膜からの干渉信号と眼底からの干渉信号、及び、参照光路の光路長差、等に基づいて眼軸長を取得してもよい。もちろん、干渉信号に基づいて生成される画像から角膜と眼底を検出することで、被検眼の眼軸長を取得してもよい。このような構成であれば、光路長調整によって被検眼の眼軸長を容易に取得できるとともに、光路長調整の後のフォーカス調整に被検眼の眼軸長を適用することで、フォーカス調整を容易に実行できる。

なお、被検眼の眼軸長は、公知の模型眼（例えば、グルストランド模型眼等）のデータ等を利用して取得されてもよい。この場合、所定の眼軸長に対するＯＣＴ光学系の光路長差が予め設定されていてもよい。より詳細には、例えば、被検眼と眼科撮影装置とが一定の距離（一定のワーキングディスタンス）に保たれた状態で、所定の眼軸長（例えば、２２．５ｍｍ）に対して眼底のＯＣＴデータを取得できるような光路長調整用光学部材の位置が、基準位置として予め記憶されていてもよい。眼軸長取得手段は、光路長調整の際に、光路長調整用光学部材が基準位置から移動した移動位置に基づいて、被検眼の眼軸長を取得してもよい。もちろん、眼軸長取得手段は、光路長調整の際に、光路長調整用光学部材が基準位置から移動した移動距離に基づいて、被検眼の眼軸長を取得してもよい。

例えば、眼軸長取得手段は、光路長制御手段によって光路長差が調整されるよりも先に、眼軸長を取得してもよい。この場合、眼軸長取得手段は、眼科撮影装置の記憶部に記憶された過去の測定データを呼び出すことによって、被検眼の眼軸長を取得してもよい。また、眼軸長取得手段は、サーバやクラウドに保存された過去の測定データを呼び出すことによって、被検眼の眼軸長を取得してもよい。また、眼軸長取得手段は、眼科撮影装置とは異なる別の装置（例えば、眼軸長測定装置など）を用いて測定された眼軸長を受信することにより、被検眼の眼軸長を取得してもよい。例えば、取得された眼軸長は、光路長制御手段によるＯＣＴ光学系の光路長差の調整と、フォーカス制御手段によるＯＣＴ光学系のフォーカス位置の調整と、に用いられてもよい。これによって、取得した眼軸長に基づく光路長調整と、眼軸長から取得される眼屈折力に基づくフォーカス調整と、を容易に実行することができる。

なお、眼軸等取得手段が光路長差の調整よりも先に眼軸長を取得する場合、光路長調整手段は、眼軸長取得手段により取得された眼軸長に基づいて光路長差を取得し、取得された光路長差に基づいて光路長調整用光学部材を駆動してもよい。また、フォーカス制御手段は、光路長調整手段により取得された光路長差に基づく光路長調整用光学部材の駆動にともなって、フォーカス調整用光学部材の駆動を同時に行い、フォーカス位置を眼屈折力取得手段により取得される眼屈折力に対応する位置に調整してもよい。すなわち、眼軸長に基づいて光路長調整用光学部材が移動されるとともに、眼軸長から取得される被検眼の眼屈折力に基づいてフォーカス調整用光学部材が移動されることで、ＯＣＴ光学系の光路長調整とフォーカス調整とが同時に行われてもよい。これによって、正面観察光学系を用いなくても、ＯＣＴ光学系の光路長差の調整とフォーカス位置の調整とが同時に実行できる。装置を複雑な構成とすることなく、また、ＯＣＴ光学系における光路長調整とフォーカス調整を容易に実施できる。

＜眼屈折力取得手段＞
例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、眼屈折力取得手段（例えば、制御部７０）を備える。眼屈折力取得手段は、被検眼の眼屈折力を被検眼の眼軸長に基づいて取得する。例えば、眼屈折力取得手段は、被検眼の眼屈折力を、眼軸長取得手段により取得された眼軸長に基づいて演算することで取得する構成としてもよい。この場合、眼屈折力取得手段は、予め実験やシミュレーションにより設定された演算式を用いることで、被検眼の眼屈折力を演算してもよい。

また、例えば、眼屈折力取得手段は、被検眼の眼屈折力を、被検眼の眼軸長と眼屈折力とが予め対応付けられたテーブルを用いることで取得する構成としてもよい。なお、被検眼の眼軸長は、光路長調整用光学部材の移動位置と考えてもよい。つまり、光路長調整用光学部材の位置と、眼屈折力と、が予め対応付けられたテーブルであってもよい。これによって、被検眼の眼軸長（または、光路長調整用光学部材の移動位置）に基づいて被検眼の眼屈折力が求められ、ＯＣＴ光学系のフォーカス位置が眼屈折力に対応する位置に合わせられてもよい。

さらに、このようなテーブルの眼屈折力は、フォーカス位置に対応付けられていてもよい。すなわち、テーブルは、被検眼の眼軸長（または、光路長調整用光学部材の移動位置）に対して被検眼の眼屈折力が対応付けられ、被検眼の眼屈折力にフォーカス位置が対応付けられたテーブルであってもよい。また、テーブルは、被検眼の眼軸長（または、光路長調整用光学部材の移動位置）と、眼屈折力に基づくフォーカス位置と、が対応付けられたテーブルであってもよい。フォーカス位置は、フォーカス調整用光学部材の移動位置と考えてもよい。

例えば、被検眼の眼屈折力は、被検眼の眼軸長を主な要因としてその強さが決定される。このため、被検眼の眼軸長に基づく眼屈折力を取得することで、ＯＣＴ光学系におけるフォーカス位置を調整することができる。しかし、被検眼の眼屈折力は、被検眼の角膜や水晶体によっても変化する。そこで、本実施例では、被検眼の角膜や水晶体の情報を用いることで、より精度よく被検眼の眼屈折力を取得し、この眼屈折力に基づいて、ＯＣＴ光学系におけるフォーカス位置を調整するようにしてもよい。

例えば、眼屈折力取得手段は、眼科撮影装置が角膜情報を取得する場合、眼軸長と角膜情報とに基づく被検眼の眼屈折力を取得してもよい。これによって、眼軸長のみを考慮した眼屈折力を取得する場合よりも精度が向上され、フォーカス調整がより容易になる。また、例えば、眼屈折力取得手段は、眼科撮影装置が水晶体情報を取得する場合、眼軸長と水晶体情報とに基づく被検眼の眼屈折力を取得するようにしてもよい。これによって、眼軸長に加えて水晶体の形状や屈折力を考慮した眼屈折力を取得することができ、眼軸長のみを考慮した眼屈折力を取得する場合よりも精度が向上され、フォーカス調整がより容易になる。

なお、本実施例において、眼屈折力取得手段は、眼軸長と、角膜情報及び水晶体情報の少なくともいずれかと、に基づいて、被検眼の眼屈折力を取得するようにしてもよい。もちろん、眼屈折力取得手段は、眼軸長、角膜情報、及び水晶体情報に基づいて、被検眼の眼屈折力を取得するようにしてもよい。この場合には、眼軸長に加えて、角膜の形状や屈折力と、水晶体の形状や屈折力と、を考慮した眼屈折力を取得することができるため、フォーカス位置をより精度よく調整することができる。

＜角膜情報取得手段＞
例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、角膜情報取得手段（例えば、制御部７０）を備えてもよい。角膜情報取得手段は、被検眼の角膜情報を取得する。角膜情報は、角膜の形状に関する情報、角膜の屈折力に関する情報、等であってもよい。例えば、角膜の屈折率、角膜の曲率、角膜の曲率半径、等の少なくともいずれかの情報であってもよい。なお、これらの角膜情報は、角膜の前面に関する情報、角膜の後面に関する情報、の少なくともいずれかであってもよい。

角膜情報取得手段は、眼科撮影装置とは異なる別の装置（例えば、角膜形状測定装置等）を用いて測定された角膜情報を受信することにより、被検眼の角膜情報を取得してもよい。また、角膜情報取得手段は、眼科撮影装置が備えるＯＣＴ光学系を用いて、被検眼の角膜を含むＯＣＴデータを取得することにより、被検眼の角膜情報を取得してもよい。なお、被検眼の角膜を含むＯＣＴデータは、被検眼の前眼部のＯＣＴデータであってもよいし、前眼部から眼底までを含むＯＣＴデータであってもよい。これらの場合、角膜情報取得手段は、ＯＣＴデータを画像処理（例えば、エッジ検出等）することで角膜を検出し、検出された角膜に基づく角膜情報を取得してもよい。

＜水晶体情報取得手段＞
例えば、本実施例に係る眼科撮影装置は、水晶体情報取得手段（例えば、制御部７０）を備えてもよい。水晶体情報取得手段は、被検眼の水晶体情報を取得する。水晶体情報は、水晶体の形状に関する情報、水晶体の屈折力に関する情報、等であってもよい。例えば、水晶体の屈折率、水晶体の曲率、水晶体の曲率半径、等の少なくともいずれかの情報であってもよい。なお、これらの水晶体情報は、水晶体の前面に関する情報、水晶体の後面に関する情報、の少なくともいずれかであってもよい。

水晶体情報取得手段は、眼科撮影装置とは異なる別の装置を用いて測定された水晶体情報を受信することにより、被検眼の水晶体情報を取得してもよい。また、水晶体情報取得手段は、眼科撮影装置が備えるＯＣＴ光学系を用いて、被検眼の水晶体を含むＯＣＴデータを取得することにより、被検眼の水晶体情報を取得してもよい。なお、被検眼の水晶体を含むＯＣＴデータは、被検眼の前眼部のＯＣＴデータであってもよいし、前眼部から眼底までを含むＯＣＴデータであってもよい。これらの場合、水晶体情報取得手段は、ＯＣＴデータを画像処理（例えば、エッジ検出等）することで水晶体を検出し、検出された水晶体に基づく水晶体情報を取得してもよい。

例えば、本実施例における眼科撮影装置は、上記の構成を備えることによって、従来の眼科撮影装置ように、正面観察光学系（ＳＬＯ光学系、眼底カメラ光学系、等）による眼底正面画像のフォーカスを、ＯＣＴ光学系による眼底断層画像のフォーカスに適用することなく、ＯＣＴ光学系のフォーカス調整を容易に実施することができる。

＜実施例＞
以下、本実施形態に係る一実施例を図面に基づいて説明する。なお、本実施例においては、被検眼Ｅの軸方向（前後方向）をＺ方向、水平方向（左右方向）をＸ方向、鉛直方向（上下方向）をＹ方向として説明する。眼底の表面方向をＸＹ方向として考えてもよい。

図１及び図２は眼科撮影装置１の光学系を示す図である。本実施例の眼科撮影装置１は、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）１００、照明光学系３００、撮影光学系（正面撮影光学系）４００、を主に備える。さらに、眼科撮影装置１は、フォーカス指標投影光学系５００、固視標投影光学系６００、アライメント指標投影光学系７００、前眼部観察光学系８００、を備えてもよい。その他、眼科撮影装置１は、演算制御器（以下、制御部）７０、メモリ７２、モニタ（表示部）７５、図示なき固視標投影系、等を備えてもよい。

＜干渉光学系（ＯＣＴ光学系）＞
ＯＣＴ光学系１００は、いわゆる眼科用光干渉断層計（ＯＣＴ：Optical coherence tomography）の装置構成をもち、光干渉の技術を用いて、被検眼Ｅの断層像を撮像する。本実施例において、例えば、ＯＣＴ光学系１００は、波長掃引式ＯＣＴ（ＳＳ−ＯＣＴ：Swept Source-OCT）を基本構成とし、光源１０２、カップラ（スプリッタ）１０４、カップラ（スプリッタ）１３０、導光光学系１５０、参照光学系１１０、検出器１２０、偏光調整機構、等を備える。

ＯＣＴ光学系１００は、導光光学系１５０によって、測定光を被検眼Ｅに導く。ＯＣＴ光学系１００は、参照光を参照光学系１１０に導く。ＯＣＴ光学系１００は、被検眼Ｅに反射された測定光と、参照光学系１１０に反射された参照光と、の干渉によって取得される干渉信号光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。さらに、本実施例のＯＣＴ光学系１００は、ＦＰＮ生成光学系２００を備える。なお、ＯＣＴ光学系１００は、図示なき筐体（装置本体）内に搭載され、ジョイスティック等の操作部材を介して、周知のアライメント移動機構により、被検眼Ｅに対して筐体を３次元的に移動させることで、被検眼Ｅに対するアライメントが行われてもよい。

光源１０２には、出射波長を時間的に高速で変化させる波長可変光源（波長走査型光源）が用いられる。光源１０２は、例えば、レーザ媒体、共振器、及び波長選択フィルタ、等によって構成される。波長選択フィルタとしては、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、ファブリー・ペローエタロンを用いたフィルタ、が挙げられる。なお、光源１０２には、ＶＣＳＥＬ式波長可変光源が用いられてもよい。

カップラ１０４は、第１の光分割器として用いられ、光源１０２から出射された光、を測定光路と参照光路に分割する。カップラ１０４は、例えば、光源１０２からの光を、測定光路側の光ファイバー１０５に導光するとともに、参照光路側の参照光学系１１０に導光する。

カップラ１３０は、第２の光分割器として用いられ、光ファイバー１０５からの光（測定光）を、導光光学系１５０の光路と、ＦＰＮ生成光学系２００の光路と、に分割する。つまり、測定光路には、導光光学系１５０とＦＰＮ生成光学系２００が設けられている。カップラ１３０は、ビームスプリッタであってもよいし、サーキュレータであってもよい。

＜導光光学系＞
導光光学系１５０は、被検眼Ｅに測定光を導くために設けられる。導光光学系１５０には、例えば、光ファイバー１５２、カップラ１５３、コリメータレンズ１５４、フォーカスレンズ１５５、光スキャナ１５６、及び対物レンズ系１５８、が順次設けられてもよい。この場合、測定光は、光ファイバー１５２、カップラ１５３を介して、コリメータレンズ１５４によって平行光束となり、フォーカスレンズ１５５を介して光スキャナ１５６に向かう。光スキャナ１５６を通過した光は、対物レンズ系１５８を介して、被検眼Ｅに照射される。測定光は、前眼部及び後眼部の両方に照射され、各組織にて散乱・反射される。

光スキャナ１５６は、光源１０２からの光がカップラ１０４にて分割された測定光を、被検眼Ｅ上で二次元的（ＸＹ方向（横断方向））に走査させてもよい。光スキャナ１５６は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動機構によって任意に調整される。これにより、測定光の反射（進行）方向が変化され、被検眼の前眼部上または眼底上で任意の方向に走査される。光スキャナ１５６としては、例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられてもよい。

この場合、被検眼Ｅに測定光を照射したことによる被検眼Ｅからの散乱光（反射光）は、対物レンズ系１５８、光スキャナ１５６、フォーカスレンズ１５５、コリメータレンズ１５４、カップラ１５３、光ファイバー１５２、を経た後、カップラ１３０に達する。カップラ１３０は、光ファイバー１５２からの光を、第１検出器１２０ａに向かう光路（例えば、光ファイバー１１５〜カップラ３５０ａ）と、第２検出器１２０ｂに向かう光路（例えば、光ファイバー１０５〜カップラ１０４〜光ファイバー１１７〜カップラ３５０ｂ）に分割する。

カップラ１３０によって分割された測定光のうち、第１検出器１２０ａに向かう光路を経由した測定光は、カップラ３５０ａにて、第１参照光路１１０ａからの参照光と合波されて干渉する。また、第２検出器１２０ｂに向かう光路を経由した測定光は、カップラ３５０ｂにて、第２参照光路１１０ｂからの参照光と合波されて干渉する。

なお、導光光学系１５０には、測定光の合焦位置を調整するための光学部材が配置されていてもよい。例えば、本実施例においては、フォーカスレンズ１５５が光軸方向に移動されることで、測定光の合焦位置が調整され、結果として被検眼Ｅに対するフォーカスが調整される。例えば、フォーカスレンズ１５５は可変焦点レンズであってもよく、この場合には、可変焦点レンズを光軸方向に対して固定配置し、その屈折力を変化させることで、被検眼Ｅに対するフォーカスを調整してもよい。

＜参照光学系＞
参照光学系１１０は、被検眼Ｅでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成するために設けられる。参照光学系１１０を経由した参照光は、カップラ（例えば、カップラ３５０ａ、３５０ｂ）にて、測定光路からの光と合波されて干渉する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであってもよい。

参照光学系１１０は、例えば、反射光学系によって形成され、カップラ１０４からの光を反射光学系により反射することで、参照光を検出器１２０に導いてもよい。なお、参照光学系１１０は、透過光学系によって形成されてもよい。この場合、参照光学系１１０は、カップラ１０４からの光を戻さず透過させることにより、参照光を検出器１２０へと導く。

なお、測定光路と参照光路の少なくともいずれかには、測定光と参照光との光路長差を調整するための光学部材が配置されてもよい。例えば、コリメータレンズ１５４とカップラ１５３とが一体的に移動されることで、測定光の光路長が調整され、結果として、測定光と参照光との光路長差が調整されてもよい。もちろん、参照光路に配置された光学部材が移動されることによって、結果として、測定光と参照光との光路長差が調整されてもよい。

本実施例において、参照光学系１１０としては複数の参照光路が設けられてもよく、例えば、第１参照光路１１０ａと、第２参照光路１１０ｂとが設けられてもよい。また、参照光学系１１０には、例えば、参照光路を第１参照光路１１０ａと第２参照光路１１０ｂに分割するための光分割器（例えば、カップラ１１１）が設けられてもよい。第１参照光路１１０ａと、第２参照光路１１０ｂと、の少なくともいずれかには、例えば、参照光の光路長を変更するために移動される光学部材１１２が設けられてもよい。光学部材１１２は、制御部７０により制御される図示なき駆動部によって移動されてもよい。

例えば、カップラ１０４からの参照光は、カップラ１１１によって第１参照光路１１０ａと第２参照光路１１０ｂに分割される。第１参照光路１１０ａを経由した参照光は、カップラ３５０ａにて、光ファイバー１１５からの測定光と合波されて干渉する。第２参照光路１１０ｂを経由した参照光は、カップラ３５０ｂにて、光ファイバー１１７からの測定光と合波されて干渉する。

第１参照光路１１０ａと、第２参照光路１１０ｂと、は互いに異なる光路長に設定されてもよい。これによって、例えば、互いに異なる深さ領域に対応する干渉信号を同時に取得でき、結果として、広範囲のＯＣＴデータを同時に取得できる。例えば、第１参照光路１１０ａが、被検眼Ｅにおける第１の深さ領域（例えば、角膜）に対応する干渉信号を得るために設けられ、第２参照光路１１０ｂが、被検眼Ｅにおける第２の深さ領域（例えば、水晶体、眼底）に対応する干渉信号を得るために設けられてもよい。この場合、第１の深さ領域に対して、第２の深さ領域が異なる領域に設定される。第１の深さ領域と第２の深さ領域は、互いに分離した領域であってもよいし、互いに隣接した領域であってもよいし、一部が重複した領域であってもよい。

なお、第１参照光路１１０ａと、第２参照光路１１０ｂは、同じ光路長に設定されてもよい。これによって、例えば、同一の深さ領域に対応する干渉信号を同時に取得でき、結果として、同一領域に関する複数のＯＣＴデータを同時に取得できる。

＜光検出器＞
検出器１２０は、測定光路からの光と参照光路からの光による干渉を検出するために設けられる。なお、検出器１２０は、受光素子であってもよく、例えば、受光部が１つのみからなるポイントセンサであって、例えば、アバランシェ・フォト・ダイオードが用いられてもよい。

本実施例では、検出器１２０として、第１検出器１２０ａと、第１検出器１２０ａとは異なる第２検出器１２０ｂと、が設けられてもよい。第１検出器１２０ａは、第１参照光路１１０ａからの参照光と、光ファイバー１１５からの測定光と、による第１干渉信号を検出するための検出器として設けられてもよい。第２検出器１２０ｂは、第２参照光路１１０ｂからの参照光と、光ファイバー１１７からの測定光と、による第２干渉信号を検出するための検出器として設けられてもよい。この場合、第１検出器１２０ａにて第１干渉信号を検出すると同時に、第２検出器１２０ｂにて第２干渉信号を検出することによって、第１干渉信号と第２干渉信号を同時に検出可能である。これらの検出器のサンプリング速度は、互いに異なっていてもよいし、同じであってもよい。

なお、第１検出器１２０ａと第２検出器１２０ｂは、それぞれ平衡検出器であってもよい。この場合、第１検出器１２０ａと第２検出器１２０ｂは、複数の受光素子をそれぞれ備え、第１受光素子からの干渉信号と第２受光素子からの干渉信号との差分を得て、干渉信号に含まれる不要なノイズを削減できる。

＜ＦＰＮ生成光学系＞
ＦＰＮ生成光学系２００は、第１のＦＰＮ信号と第２のＦＰＮ信号を生成するために設けられてもよい。例えば、ＦＰＮ生成光学系２００は、第１のＦＰＮを発生させる第１の光学部材２０４と、第２のＦＰＮを発生させる第２の光学部材２０６と、を少なくとも備えてもよい。第２の光学部材２０６は、第２の光学部材を経由した光が、第１の光学部材２０４を経由した光による光路長とは異なるように配置されてもよい。これによって、第２のＦＰＮは、第１のＦＰＮに対して異なる位置に発生される。

第１検出器１２０ａには、第１干渉信号とともにＦＰＮ信号が検出され、第２検出器１２０ｂには、第２干渉信号とともにＦＰＮ信号が検出される。ＦＰＮ信号は、例えば、第１干渉信号に基づく第１ＯＣＴデータと第２干渉信号に基づく第２ＯＣＴデータの合成、各干渉信号の波数マッピング補正、偏光調整、等に用いられてもよい。

なお、ＦＰＮ生成光学系についての詳細は、例えば、特開２０１８−１２４１８８号公報を参照されたい。

＜偏波調整機構＞
本実施例のＯＣＴ光学系１００においては、複数の偏光調整部が設けられてもよく、例えば、ＯＣＴ光学系１００の光路には、第１偏光調整部３２０、第２偏光調整部３３０、第３偏光調整部３４０、が設けられてもよい。

第１偏光調整部３２０は、第１参照光路１１０ａの光路に配置され、第１参照光路１１０ａを経由する参照光の偏光状態を調整するために設けられてもよい。第２偏光調整部３３０は、第２参照光路１１０ｂの光路に配置され、第２参照光路１１０ｂを経由する参照光の偏光状態を調整するために設けられてもよい。第３偏光調整部３４０は、ＦＰＮ生成光学系２００の光路に配置され、ＦＰＮ生成光学系２００の光路を経由する光の偏光状態を調整するために設けられてもよい。

＜深さ情報の取得＞
光源１０２により出射波長が変化されると、これに対応する干渉信号光が検出器１２０に受光され、結果的に、スペクトル信号として検出器１２０に検出される。制御部７０は、検出器１２０に検出されたスペクトル信号を処理（フーリエ解析）し、被検眼ＥのＯＣＴデータを得る。

スペクトル信号（スペクトルデータ）は、波長λの関数として書き換えられ、波数ｋ（＝２π／λ）に関して等間隔な関数Ｉ（ｋ）に変換されてもよい。あるいは、初めから波数ｋに関して等間隔な関数Ｉ（ｋ）として取得されてもよい（Ｋ−ＣＬＯＣＫ技術）。制御部７０は、波数ｋ空間でのスペクトル信号をフーリエ変換することにより、深さ（Ｚ）領域におけるＯＣＴデータを得てもよい。

さらに、フーリエ変換後の情報は、Ｚ空間での実数成分と虚数成分を含む信号として表されてもよい。制御部７０は、Ｚ空間での信号における実数成分と虚数成分の絶対値を求めることによって、ＯＣＴデータを得てもよい。

本実施例において、制御部７０は、第１検出器１２０ａにより検出された第１干渉信号を処理して第１ＯＣＴデータを得るとともに、第２検出器１２０ｂにより検出された第２干渉信号を処理して第２ＯＣＴデータを得てもよい。ここで、第１参照光路１１０ａと第２参照光路１１０ｂとが異なる光路長に設定される場合、第１ＯＣＴデータと第２ＯＣＴデータは、深さ方向に関して少なくとも一部が異なる領域のＯＣＴデータが取得され、第１参照光路１１０ａと第２参照光路１１０ｂとが同じ光路長に設定される場合、第１ＯＣＴデータと第２ＯＣＴデータは、深さ方向に関して同じ領域のＯＣＴデータが取得される。

＜照明光学系＞
照明光学系３００（図２参照）は、例えば、撮影照明光学系と観察照明光学系を有する。撮影照明光学系は、光源３０１、コンデンサレンズ３０２、リングスリット３０３、リレーレンズ３０４、ミラー３０５、黒点板３０６、リレーレンズ３０７、孔あきミラー３０８、対物レンズ系１５８、を主に備える。光源３０１は、フラッシュランプ等であってもよい。黒点板３０６は、中心部に黒点を有する。

また、観察照明光学系は、光源３１１、赤外フィルタ３１２、コンデンサレンズ３１３、ダイクロイックミラー３１４、リングスリット３０３から対物レンズ系１５８までの光学系、を主に備える。光源３１１は、例えば、ハロゲンランプ等であってもよい。赤外フィルタ３１２は、例えば、波長７５０ｎｍ以上の近赤外光を透過する。ダイクロイックミラー３１４は、例えば、コンデンサレンズ３１３とリングスリット３０３との間に配置される。また、ダイクロイックミラー３１４は、例えば、光源３１１からの光を反射し、光源３０１からの光を透過する特性をもつ。

＜撮影光学系（正面撮影光学系）＞
撮影光学系４００（図２参照）は、眼底を撮影（例えば、無散瞳状態）することによって眼底画像を得るための眼底カメラ光学系として用いられる。例えば、赤外光によって赤外眼底画像が取得され、可視光によってカラー眼底画像が取得される。撮影光学系４００は、所定の励起光によって蛍光眼底画像を撮影してもよい。

撮影光学系４００には、例えば、対物レンズ系１５８、撮影絞り４０１、フォーカシングレンズ４０２、結像レンズ４０３、撮像素子４０４、が主に配置されている。撮影絞り４０１は、孔あきミラー３０８の開口近傍に位置する。また、撮影絞り４０１は、例えば、対物レンズ系１５８に関して被検眼Ｅの瞳孔と略共役な位置に配置されている。フォーカシングレンズ４０２は、例えば、モータを備える移動機構４１０により、光軸方向に移動可能である。撮像素子４０４は、例えば、可視域に感度を有する撮影に利用可能である。

結像レンズ４０３と撮像素子４０４の間には、赤外光及び可視光の一部を反射し、可視光の大部分を透過する特性を有するダイクロイックミラー４０５が配置される。ダイクロイックミラー４０５の反射方向には、赤外域に感度を有する観察用撮像素子４０６が配置されている。なお、ダイクロイックミラー４０５の代わりに、跳ね上げミラーが用いられてもよい。跳ね上げミラーは、例えば、眼底観察時に光路に挿入され、眼底撮影時に光路から退避される。

なお、対物レンズ系１５８と撮影絞り４０１の間には、例えば、光路分岐部材としてダイクロイックミラー（波長選択性ミラー）４５０が斜設されている。ダイクロイックミラー４５０は、例えば、ＯＣＴ測定光の波長光と、アライメント指標投影光学系７００及び前眼部照明光源７０５の波長光（中心波長９４０ｎｍ）と、を反射する。

また、ダイクロイックミラー４５０は、例えば、眼底観察用照明の波長光の光源波長（中心波長８８０ｎｍ）を含む波長９００ｎｍ以下を透過する特性を有する。撮影光学系４００によって撮影を行うときには、ダイクロイックミラー４５０が挿脱機構４４０により連動して跳ね上げられ、光路外に退避する。挿脱機構４４０は、ソレノイドとカム等により構成することができる。

また、ダイクロイックミラー４５０の撮像素子４０４側には、挿脱機構４４０の駆動により、光路補正ガラス４２０が跳ね上げ可能に配置されている。光路挿入時において、光路補正ガラス４２０は、ダイクロイックミラー４５０によってシフトされた光軸Ｌ１の位置を補正する役割をもつ。

光源３１１から発した光束は、赤外フィルタ３１２により赤外光束とされ、コンデンサレンズ３１３、ダイクロイックミラー３１４により反射されてリングスリット３０３を照明する。そして、リングスリット３０３を透過した光束は、リレーレンズ３０４、ミラー３０５、黒点板３０６、リレーレンズ３０７を経て孔あきミラー３０８に達する。孔あきミラー３０８で反射された光束は、光路補正ガラス４２０、ダイクロイックミラー４５０を透過し、対物レンズ系１５８により被検眼Ｅの瞳孔付近で一旦収束した後、拡散して眼底Ｅｆを照明する。

眼底Ｅｆからの反射光は、対物レンズ系１５８、ダイクロイックミラー４５０、光路補正ガラス４２０、孔あきミラー３０８の開口部、撮影絞り４０１、フォーカシングレンズ４０２、結像レンズ４０３、ダイクロイックミラー４０５、ダイクロイックミラー４１５、リレーレンズ４１８、を介して撮像素子４１９に結像する。なお、撮像素子４１９の出力は制御部７０に入力され、制御部７０は、撮像素子４１９によって撮像される被検眼の眼底観察画像をモニタ７５に表示する。

また、光源３０１から発した光束は、コンデンサレンズ３０２を介して、ダイクロイックミラー３１４を透過する。その後、眼底観察用の照明光と同様の光路を経て、眼底Ｅｆは可視光により照明される。そして、眼底からの反射光は、対物レンズ系１５８、孔あきミラー３０８の開口部、撮影絞り４０１、フォーカシングレンズ４０２、結像レンズ４０３を経て、ダイクロイックミラー４０５を透過し、撮像素子４０４に結像する。

＜フォーカス指標投影光学系＞
フォーカス指標投影光学系５００（図２参照）は、赤外光源５０１、スリット指標板５０２、２つの偏角プリズム５０３、投影レンズ５０４、照明光学系３００の光路に斜設されたスポットミラー５０５、を主に備える。２つの偏角プリズム５０３は、スリット指標板５０２に取り付けられる。スポットミラー５０５は、照明光学系３００の光路に斜設される。また、スポットミラー５０５は、レバー５０６の先端に固着されている。スポットミラー５０５は、通常は光軸に斜設されるが、撮影前の所定のタイミングで、ロータリソレノイド５０７の軸の回転により、光路外に退避させられる。

なお、スポットミラー５０５は、被検眼Ｅの眼底と共役な位置に配置される。赤外光源５０１、スリット指標板５０２、偏角プリズム５０３、投影レンズ５０４、スポットミラー５０５、及びレバー５０６、はフォーカシングレンズ４０２と連動して移動機構４１０により光軸方向に移動される。また、スリット指標板５０２の光束は、偏角プリズム５０３及び投影レンズ５０４を介してスポットミラー５０５により反射された後、リレーレンズ３０７、孔あきミラー３０８、ダイクロイックミラー４５０、対物レンズ系１５８、を経て被検眼Ｅの眼底に投影される。例えば、眼底へのフォーカスが合っていないとき、フォーカス指標像はずれ方向及びずれ量に応じて分離された状態で眼底上に投影される。一方、眼底へのフォーカスが合っているとき、フォーカス指標像合致した状態で眼底上に投影される。フォーカス指標像は、撮像素子４０４によって眼底像と共に撮像される。

＜固視標投影光学系＞
固視標投影光学系６００（図２参照）は、固視標６０１を備えてもよい。固視標投影光学系６００は、固視標を眼底Ｅｆに投影するために構成されてもよい。固視標投影光学系６００は、固視標の呈示位置が可変な構成であってもよい。呈示位置の変更によって、眼Ｅが所定の視線方向に誘導される。

固視標投影光学系としては、例えば、マトリクス状に配列された光源（例えば、ＬＥＤ）の点灯位置により固視位置を調整する構成、表示位置の変更によって固視位置を調整するディスプレイパネル（例えば、液晶パネル）、光源からの光を光スキャナによって走査させ、光源の点灯制御により固視位置を調整する構成、等、種々の構成が考えられる。固視標投影光学系は、内部固視灯タイプであってもよいし、外部固視灯タイプであってもよい。

固視標６０１からの光束は、レンズ６０２、ダイクロイックミラー４１５、ダイクロイックミラー４０５、結像レンズ４０３、フォーカシングレンズ４０２、孔あきミラー３０８、ダイクロイックミラー４５０、対物レンズ系１５８、を通過して眼底Ｅｆに投影される。被検者は、投影光束を固視標として視認する。

＜アライメント指標投影光学系＞
アライメント指標投影光学系７００（図２参照）は、被検眼Ｅに対して、アライメント用指標光束を投影する。アライメント指標投影光学系７００には、図２における右下の点線内に示すように、測定光軸を中心として同心円上に４５度間隔で赤外光源が複数個配置されている。本実施例におけるアライメント指標投影光学系７００は、第１指標投影光学系（０度及び１８０度）と、第２指標投影光学系と、を主に備える。

第１指標投影光学系は、光源７０１とコリメーティングレンズ７０２を持つ。第２指標投影光学系は、第１指標投影光学系とは異なる位置に配置され、６つの赤外光源７０３をもつ。光源７０１は、測定光軸を通る垂直平面を挟んで左右対称に配置される。

この場合、第１指標投影光学系は、被検眼Ｅの角膜に無限遠の指標を左右方向から投影する。第２指標投影光学系は、被検眼Ｅの角膜に有限遠の指標を上下方向もしくは斜め方向から投影する。なお、図２の本図には、便宜上、第１指標投影光学系（０度及び１８０度）と、第２指標投影光学系の一部のみ（４５度及び１３５度）と、が図示されている。

＜前眼部観察光学系（前眼部撮影光学系）＞
前眼部観察光学系８００（図１参照）は、被検眼Ｅの前眼部を撮像する。前眼部観察光学系８００は、ダイクロイックミラー４５０の反射側に、ダイクロイックミラー８０１、絞り８０２、リレーレンズ８０３、撮像素子８０４、リレーレンズ８０５、を主に備える。撮像素子８０４は、赤外域の感度をもつ。また、撮像素子８０４は、アライメント指標検出用の撮像手段を兼ね、赤外光を発する前眼部照明光源７０５（図２参照）により照明された前眼部とアライメント指標が撮像される。前眼部からの反射光は、対物レンズ系１５８、ダイクロイックミラー４５０、リレーレンズ８０５、及びダイクロイックミラー８０１からリレーレンズ８０３の光学系、を介して撮像素子８０４により受光される。また、アライメント指標投影光学系５０からのアライメント光束は、被検眼角膜に投影される。角膜反射像は、対物レンズ系１５８〜リレーレンズ８０３を介して、撮像素子８０４に受光（投影）される。

撮像素子８０４の出力は制御部７０に入力される。モニタ７５には、撮像素子８０４によって撮像された前眼部像が表示される。なお、前眼部観察光学系８００は、被検眼に対する装置本体のアライメント状態を検出するための検出光学系を兼用する。

＜制御系＞
制御部７０は、ＣＰＵ（プロセッサ）、ＲＡＭ、ＲＯＭ、等を備えてもよい（図１参照）。例えば、制御部７０のＣＰＵは、眼科撮影装置１の制御を司ってもよい。制御部７０のＲＡＭは、各種情報を一時的に記憶する。制御部７０のＲＯＭには、眼科撮影装置１の動作を制御するための各種プログラム、初期値、等が記憶されてもよい。

制御部７０には、記憶部としての不揮発性メモリ（メモリ）７２、モニタ７５、各光源、各駆動部、各撮像素子、等が電気的に接続されてもよい。なお、煩雑化を避けるため、図１においては、各光源、各駆動部、及び各撮像素子、等と制御部７０との接続を示す線を省略している。

制御部７０は、撮像素子８０４によって撮像された前眼部観察画像と、撮像素子４１９によって撮像された赤外眼底観察画像と、を本体のモニタ７５に表示してもよい。制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００及び撮影光学系４００を駆動制御して、ＯＣＴ画像及び赤外眼底像の各画像を１フレーム毎に取得してもよい。制御部７０は、モニタ７５を表示制御し、モニタ７５上のＯＣＴ画像及び赤外眼底像を随時更新してもよい。

メモリ７２には、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体が用いられてもよい。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュＲＯＭ、ＵＳＢメモリ、等を使用することができる。メモリ７２には、ＯＣＴデータの取得及びＯＣＴ画像の撮影を制御するための制御プログラム、ＦＰＮを用いてＯＣＴ画像を合成するための演算処理プログラム、各波数成分のマッピング状態を補正するための補正情報を得る演算処理プログラム、等が記憶されてもよい。また、メモリ７２には、ＯＣＴデータから生成されるＯＣＴ画像の他、撮影に関する各種情報が記憶されてもよい。

＜制御動作＞
図３に示すフローチャートを用いて、上記の構成を備える眼科撮影装置１の制御動作を説明する。

例えば、本実施例における眼科撮影装置１は、被検眼Ｅの角膜及び水晶体を含む前眼部ＥｃのＯＣＴデータと、眼底ＥｆのＯＣＴデータと、を取得可能な構成であってもよく、さらに、前眼部Ｅｃ及び眼底ＥｆのＯＣＴデータに基づいて、眼軸長を測定可能な構成であってもよい。

例えば、眼科撮影装置１は、自動または手動によるモード切換信号に応じて、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃを撮影するモードと、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを撮影するモードと、が切り換えられる。このとき、モードに応じて、ＯＣＴ光学系１００の光学配置が切り替えられてもよい。例えば、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃを撮影するための光学配置では、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃ上に測定光の集光位置が形成されてもよい。また、例えば、被検眼Ｅの眼底Ｅｆを撮影するための光学配置では、被検眼Ｅの眼底Ｅｆ上に測定光の集光位置が形成されてもよい。

＜前眼部に対するアライメント（Ｓ１）＞
まず、検者は、被検眼Ｅと眼科撮影装置１とのアライメントを行う。被検眼Ｅには、アライメント指標投影光学系７００が備える光源７０１及び７０３によって、アライメント指標像が投影される。また、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃは、前眼部観察光学系８００の撮像素子８０４に検出され、前眼部観察像としてモニタ７５に表示される。

検者は、被検者に固視標６０１を注視するよう指示する。また、検者は、アライメント指標像及び前眼部観察像をみながら図示なき操作部（例えば、ジョイスティック）を操作し、被検眼Ｅの角膜頂点位置（略角膜頂点位置）と、測定光軸と、を一致させるアライメントを行う。これによって、ワーキングディスタンス（例えば、被検眼Ｅの角膜から対物レンズ系１５８においてもっとも被検眼Ｅ側に配置されるレンズ面までの距離）が所定の距離となる。なお、制御部７０は、角膜頂点位置と測定光軸との位置ずれを検出し、アライメントを自動的に行ってもよい。

＜前眼部におけるＯＣＴデータの撮影と取得（Ｓ２）＞
例えば、本実施例では、被検眼Ｅと眼科撮影装置１とが所定のワーキングディスタンスであるときに、前眼部Ｅｃが撮影されるように、導光光学系１５０におけるカップラ１５３及びコリメータレンズ１５４が移動されてもよい。例えば、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０において、角膜がＯＣＴデータ２４０の中央付近に写るように、カップラ１５３及びコリメータレンズ１５４が移動されてもよい。もちろん、角膜に限定されず、例えば、水晶体がＯＣＴデータ２４０の中央付近に写るように、カップラ１５３及びコリメータレンズ１５４が移動されてもよい。制御部７０は、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃに対する測定光と参照光との光路長差をメモリ７２に記憶してもよい。なお、所定のワーキングディスタンスにおいて、前眼部Ｅｃが撮影されるように、導光光学系１５０におけるカップラ１５３及びコリメータレンズ１５４の位置が予め設定されていてもよい。

また、例えば、本実施例では、被検眼Ｅと眼科撮影装置１とが所定のワーキングディスタンスであるときに、前眼部ＥｃにＯＣＴ光学系１００のフォーカスが合うように、導光光学系１５０におけるフォーカスレンズ１５５の位置が予め設定されていてもよい。

制御部７０は、アライメントが行われた状態でＯＣＴ光学系１００を制御し、前眼部ＥｃのＯＣＴデータを撮影（キャプチャ）する。前眼部ＥｃのＯＣＴデータは、２次元データであってもよいし、３次元データであってもよい。なお、制御部７０は、前眼部観察光学系８００を制御して、前眼部ＥｃにおけるＯＣＴデータの撮影と同時に、前眼部Ｅｃの正面データを取得してもよい。

図４は前眼部撮影時におけるモニタ７５の表示画面の一例である。前眼部ＥｃのＯＣＴデータが撮影された後、モニタ７５の表示画面には、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０、前眼部Ｅｃの正面データ２３０、等が表示される。制御部７０は、前眼部Ｅｃの撮影を終了するための図示なきスイッチが操作されると、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０をメモリ７２に記憶させ、前眼部Ｅｃの撮影を終了する。

＜角膜情報の取得（Ｓ３）＞
制御部７０は、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０から角膜情報を取得する。角膜情報は、例えば、角膜の屈折率、角膜の曲率、角膜の曲率半径、等の少なくともいずれかの情報であってもよい。本実施例においては、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０を画像解析することで角膜２４１を検出し、角膜２４１の曲率半径を取得する場合を例示する。

制御部７０は、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０をエッジ検出することで、角膜２４１の位置を検出する。また、制御部７０は、角膜２４１の近似曲線を求め、近似曲線に基づいて、角膜２４１の曲率半径を求める。なお、角膜２４１の曲率半径としては、角膜前面の曲率半径を求めてもよいし、角膜後面の曲率半径を求めてもよいし、角膜前面の曲率半径と角膜後面の曲率半径の双方を求めてもよい。制御部７０は、取得した角膜２４１の曲率半径をメモリ７２に記憶させる。
＜水晶体情報の取得（Ｓ４）＞
また、制御部７０は、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０から、水晶体情報を取得する。水晶体情報は、例えば、水晶体の屈折率、水晶体の曲率、水晶体の曲率半径、等の少なくともいずれかの情報であってもよい。本実施例においては、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０を画像解析することで水晶体２４２を検出し、水晶体２４２の曲率半径を取得する場合を例示する。

制御部７０は、前眼部ＥｃのＯＣＴデータ２４０をエッジ検出することで、水晶体２４２の位置を検出する。また、制御部７０は、水晶体２４２の近似曲線を求め、近似曲線に基づいて、水晶体２４２の曲率半径を求める。なお、水晶体２４２の曲率半径としては、水晶体前面の曲率半径を求めてもよいし、水晶体後面の曲率半径を求めてもよいし、水晶体前面の曲率半径と水晶体後面の曲率半径の双方を求めてもよい。制御部７０は、取得した水晶体２４２の曲率半径をメモリ７２に記憶させる。

＜集光位置の切り換え（Ｓ５）＞
制御部７０は、前眼部Ｅｃの撮影が終了すると、導光光学系１５０を制御して、眼底ＥｆのＯＣＴデータを得るための光学配置に切り換える。この場合、例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの瞳孔上に測定光の旋回点が形成されるとともに、被検眼Ｅの眼底Ｅｆ上に測定光の集光位置が形成されるように、導光光学系１５０の光学配置を切り換えてもよい。これによって、測定光の集光位置が前眼部Ｅｃから眼底Ｅｆに切り替えられ、眼底ＥｆのＯＣＴデータを撮影できるようになる。

＜眼底撮影時における撮影条件の最適化（Ｓ６）＞
集光位置が切り換わると、被検眼Ｅの眼底撮影に対する撮影条件が調整され、最適化される。例えば、光路長調整、フォーカス調整、ポラライザ調整、が行われ、検者が所望する眼底部位が、高感度・高解像度で観察できるようになる。

＜光路長調整（Ｓ６−１）＞
制御部７０は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対する測定光と参照光との光路長差を調整する光路長調整を行ってもよい。制御部７０は、例えば、参照光学系１１０における光学部材１１２を初期位置に配置し、光学部材１１２を初期位置から一方向へ移動させる。より詳細には、眼底Ｅｆで反射された測定光の光路長と、第２参照光路１１０ｂの光路長とが、等しくなるように、光学部材１１２が移動される。例えば、本実施例では、ＯＣＴデータ２５０の中央付近に網膜が写るように、光学部材１１２が移動されてもよい。これによって、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対する光路長が調整される。

＜眼軸長の取得（Ｓ６−２）＞
本実施例では、カップラ１５３及びコリメータレンズ１５４が前眼部Ｅｃに対して予め設定された位置に配置されていることで、第１検出器１２０ａによるＯＣＴデータの取得領域が前眼部Ｅｃに設定されている。また、本実施例では、光学部材１１２を移動させて眼底Ｅｆに対する光路長調整を行ったことで、第２検出器１２０ｂによるＯＣＴデータの取得領域が眼底Ｅｆに設定されている。このため、制御部７０は、第１検出器１２０ａ及び第２検出器１２０ｂからの出力信号を処理することで、前眼部ＥｃにおけるＯＣＴデータと眼底ＥｆにおけるＯＣＴデータを同時に生成してもよい。また、制御部７０は、前眼部ＥｃのＯＣＴデータに基づいて角膜の位置を検出し、眼底ＥｆのＯＣＴデータに基づいて網膜の位置を検出してもよい。

図５は干渉信号の強度分布を示す図である。図５に示す強度分布には、角膜からの戻り光による干渉信号ＡＣ、網膜からの戻り光による干渉信号ＰＲ、等が現れる。制御部７０は、例えば、干渉信号ＡＣ及び干渉信号ＰＲがそれぞれ示す位置情報の差分と、第１参照光路１１０ａ及び第２参照光路１１０ｂとの光路長差と、を利用して被検眼Ｅの眼軸長Ｌを測定してもよい。制御部７０は、干渉信号ＡＣから干渉信号ＰＲまでの深さ方向の長さＬ１を求める。そして、予めメモリ７２に記憶された第１参照光路１１０ａおよび第２参照光路１１０ｂとの光路長差Ｌ２を、長さＬ１に加える。これにより、被検眼Ｅの眼軸長Ｌを得ることができる（眼軸長Ｌ＝Ｌ１＋Ｌ２）。制御部７０は、取得した眼軸長Ｌをメモリ７２に記憶させる。

＜眼屈折力の取得（Ｓ６−３）＞
続いて、制御部７０は、被検眼Ｅの眼屈折力を取得する。制御部７０は、例えば、取得した眼軸長Ｌに基づいて、眼屈折力を取得してもよい。また、制御部７０は、例えば、取得した眼軸長Ｌと角膜情報とに基づいて、眼屈折力を取得してもよい。また、制御部７０は、例えば、取得した眼軸長Ｌと水晶体情報とに基づいて、眼屈折力を取得してもよい。もちろん、制御部７０は、例えば、取得した眼軸長Ｌと角膜情報と水晶体情報とに基づいて、眼屈折力を取得してもよい。つまり、制御部７０は、少なくとも眼軸長Ｌに基づいて、被検眼Ｅの眼屈折力を取得してもよい。

本実施例では、眼軸長Ｌ、角膜情報、及び水晶体情報に基づいて、被検眼Ｅの眼屈折力が取得される。制御部７０は、例えば、眼軸長Ｌと、角膜情報による角膜の屈折力と、水晶体情報による水晶体の屈折力と、に基づく演算処理を行うことによって、被検眼Ｅの眼屈折力を求めてもよい。

＜フォーカス調整（Ｓ６−４）＞
制御部７０は、ＯＣＴ光学系１００のフォーカス位置を調整する。本実施例では、ＯＣＴ光学系１００のフォーカス位置が被検眼の眼屈折力に対応する位置となるように、フォーカスレンズ１５５が移動される。例えば、制御部７０は、被検眼Ｅの眼屈折力が−３Ｄと求められた場合、フォーカスレンズ１５５を−３Ｄに相当する位置Ｋ３（図１参照）に配置することで、測定光を眼底Ｅｆに集光させ、眼底Ｅｆにフォーカス位置を合わせてもよい。各眼屈折力に対応するフォーカスレンズ１５５の位置は、予め設定されていてもよい。これによって、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対するフォーカスが調整される。

なお、本実施例において、制御部７０は、フォーカスレンズ１５５を位置Ｋ３へと移動させた際、さらに、フォーカスレンズ１５５を位置Ｋ３の前後（すなわち、移動開始位置Ｋ１側及び移動終了位置Ｋ２側）に所定の距離だけ移動させてもよい。つまり、制御部７０は、位置Ｋ３を初期位置として設定し、初期位置からフォーカスレンズ１５５を移動させ、フォーカス位置を微調整してもよい。これによって、被検眼Ｅの眼底Ｅｆにフォーカスがもっとも合う位置を探索してもよい。

＜ポラライザ調整（Ｓ６−５）＞
また、制御部７０は、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対する偏光状態の調整（ポラライザ調整）を行う。例えば、制御部７０は、干渉信号を強く検出できる位置（すなわち、測定光と参照光との偏光状態が合う位置）に、第１偏光調整部３２０及び第２偏光調整部３３０移動させる。これによって、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃに対する偏光状態が調整される。

＜眼底におけるＯＣＴデータの撮影と取得（Ｓ７）＞
制御部７０は、集光位置の切り換えと最適化が行われた状態でＯＣＴ光学系１００を制御し、眼底ＥｆのＯＣＴデータを撮影する。眼底ＥｆのＯＣＴデータは、２次元データであってもよいし、３次元データであってもよい。なお、制御部７０は、観察光学系８００を制御して、眼底ＥｆにおけるＯＣＴデータの撮影と同時に、前眼部Ｅｃの正面データを取得してもよい。

図６は眼底撮影時におけるモニタ７５の表示画面の一例である。眼底ＥｆのＯＣＴデータが撮影された後、モニタ７５の表示画面には、眼底ＥｆのＯＣＴデータ２５０、前眼部Ｅｃの正面データ２３０、等が表示される。制御部７０は、眼底Ｅｆの撮影を終了するための図示なきスイッチが操作されると、眼底ＥｆのＯＣＴデータ２５０をメモリ７２に記憶させ、眼底Ｅｆの撮影を終了する。

以上説明したように、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の眼軸長を取得し、眼軸長に基づいて被検眼の眼屈折力を取得し、ＯＣＴ光学系のフォーカス位置が被検眼の眼屈折力に対応する位置となるように、フォーカス調整用光学部材を駆動する。例えば、従来は、眼科撮影装置が正面観察光学系とＯＣＴ光学系を備え、正面観察光学系（ＳＬＯ光学系、眼底カメラ光学系、等）による眼底正面画像のフォーカスを、ＯＣＴ光学系による眼底断層画像のフォーカスに適用することで、ＯＣＴ光学系を用いた眼底断層画像のフォーカス調整が行われていた。より詳細には、被検眼の眼屈折力を撮影光学系４００におけるフォーカシングレンズ４０２の移動量から求め、ＯＣＴ光学系１００におけるフォーカスレンズ１５５を被検眼Ｅの眼屈折力に対応する位置に移動させていた（これについての詳細は、例えば、特開２０１６−２０２２４９号公報を参照されたい）。しかし、本実施例のような構成を備える眼科撮影装置であれば、正面観察光学系を用いなくても、ＯＣＴ光学系のフォーカス調整を容易に実施することができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の眼屈折力に基づいてフォーカス調整用光学部材の初期位置を設定し、初期位置からフォーカス調整用光学部材を駆動させることで、フォーカス位置を微調整する。例えば、従来は予め設定されたフォーカス位置（一例として、０Ｄに対応するフォーカス位置）からフォーカス調整用光学部材を駆動させることで、フォーカス位置を調整していた。しかし、本実施例では、このような構成であることによって、眼屈折力に基づく初期位置からフォーカス調整用光学部材を駆動させることができる。例えば、眼屈折力に基づく初期位置は、眼屈折力に対応する位置であってもよい。一例として、眼屈折力が−３Ｄであった場合には、−３Ｄに対応する位置が初期位置として設定され、初期位置から微調整の範囲（例えば、±２Ｄの範囲、等）にフォーカス調整用光学部材が駆動されてもよい。また、例えば、眼屈折力に基づく初期位置は、眼屈折力と微調整の範囲を考慮して設定される位置であってもよい。一例として、眼屈折力が−３Ｄであった場合には、初期位置が−１Ｄの位置に設定され、−１Ｄから−５Ｄに対応する範囲にフォーカス調整用光学部材が駆動されてもよい。このような構成とすることで、従来の眼科撮影装置よりもフォーカス調整にかかる時間を短縮することができる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の角膜情報を取得し、被検眼の眼屈折力を眼軸長と角膜情報とに基づいて取得する。これによって、眼軸長に加えて角膜の形状や屈折力を考慮した眼屈折力を取得することができ、眼軸長のみを考慮した眼屈折力を取得する場合よりも精度が向上され、フォーカス調整がより容易になる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、被検眼の水晶体情報を取得し、被検眼の眼屈折力を眼軸長と水晶体情報とに基づいて取得する。これによって、眼軸長に加えて水晶体の形状や屈折力を考慮した眼屈折力を取得することができ、眼軸長のみを考慮した眼屈折力を取得する場合よりも精度が向上され、フォーカス調整がより容易になる。

また、例えば、本実施例における眼科撮影装置は、光路長調整用光学部材を駆動することで測定光と参照光との光路長が調整された光路長差に基づいて、被検眼の眼軸長を取得する。このため、光路長調整によって被検眼の眼軸長を容易に取得できるとともに、光路長調整の後のフォーカス調整に被検眼の眼軸長を適用することで、フォーカス調整を容易に実行できる。

＜変容例＞
なお、本実施例では、光路長調整において、導光光学系１５０におけるカップラ１５３及びコリメータレンズ１５４を一体的に移動させ、測定光の光路長を調整することによって、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃに対する光路長を調整する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。また、光路長調整において、参照光学系１１０における光学部材１１２を移動させ、参照光の光路長を調整することによって、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃ及び眼底Ｅｆに対する光路長を調整する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、光路長調整においては、導光光学系１５０を経由した測定光の光路長と、参照光学系１１０を経由した参照光の光路長と、が一致するように、測定光と参照光の少なくともいずれかの光路長が調整される構成であればよい。すなわち、カップラ１５３及びコリメータレンズ１５４を一体的に移動させることによって、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃ及び眼底Ｅｆの双方に対する光路長を調整してもよい。光学部材１１２を移動させることによって、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃ及び眼底Ｅｆの双方に対する光路長を調整してもよい。

なお、本実施例では、ＯＣＴ光学系１００を用いて被検眼Ｅの前眼部Ｅｃを撮影することで、被検眼Ｅの角膜情報を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅの前眼部に対するアライメントを行った際に、被検眼Ｅに投影されるアライメント指標像を用いて、角膜情報を取得するようにしてもよい。また、例えば、被検眼Ｅの角膜形状を測定することが可能な別の眼科測定装置を利用して、被検眼Ｅの角膜情報を取得してもよい。この場合、別の眼科測定装置によって予め角膜情報が測定されるとともに測定結果が送信され、眼科撮影装置１がこの測定結果を受信することで、被検眼Ｅの角膜情報を取得してもよい。また、眼科撮影装置のメモリ７２に記憶された過去の測定データ、サーバやクラウドに保存された過去の測定データ、等を呼び出すことによって、被検眼Ｅの角膜情報を取得してもよい。

また、本実施例では、ＯＣＴ光学系１００を用いて被検眼Ｅの前眼部Ｅｃを撮影することで、被検眼Ｅの水晶体情報を取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼Ｅの水晶体形状を測定することが可能な別の眼科測定装置を利用して、被検眼Ｅの水晶体情報を取得してもよい。この場合、別の眼科測定装置によって予め水晶体情報が測定されるとともに測定結果が送信され、眼科撮影装置１がこの測定結果を受信することで、被検眼Ｅの水晶体情報を取得してもよい。また、眼科撮影装置のメモリ７２に記憶された過去の測定データ、サーバやクラウドに保存された過去の測定データ、等を呼び出すことによって、被検眼Ｅの水晶体情報を取得してもよい。

なお、本実施例では、ＯＣＴ光学系１００を用いて被検眼Ｅの前眼部Ｅｃ及び眼底Ｅｆを撮影することで、被検眼Ｅの眼軸長Ｌを取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。すなわち、光路長調整とともに被検眼Ｅの眼軸長Ｌを取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、光路長調整よりも先に被検眼Ｅの眼軸長Ｌを取得する構成としてもよい。この場合には、被検眼Ｅの眼軸長を測定することが可能な別の眼科測定装置（例えば、特開２０１６−１５８９０６号公報に記載の眼軸長測定装置等）を利用して、被検眼Ｅの眼軸長Ｌを取得してもよい。例えば、別の眼科測定装置によって予め眼軸長が測定されるとともに測定結果が送信され、眼科撮影装置１がこの測定結果を受信することで、被検眼Ｅの眼軸長Ｌを取得してもよい。また、この場合、眼科撮影装置のメモリ７２に記憶された過去の測定データ、サーバやクラウドに保存された過去の測定データ、等を呼び出すことによって、被検眼の眼軸長Ｌを取得してもよい。

例えば、光路長調整よりも先に眼軸長Ｌを取得する場合には、取得した眼軸長Ｌに基づく光路長調整と、眼軸長Ｌから取得される眼屈折力に基づくフォーカス調整と、が同時に行われてもよい。この場合、制御部７０は、眼軸長Ｌに基づいてＯＣＴ光学系１００の光路長差を取得し、光学部材１１２を移動させる位置を決定してもよい。光学部材１１２を決定された光学部材１１２の位置へと移動させることで、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対する光路長差を調整することができる。さらに、制御部７０は、眼軸長Ｌに基づいて被検眼Ｅの眼屈折力を取得し、この眼屈折力に基づいて、フォーカスレンズ１５５を移動させる位置を決定してもよい。フォーカスレンズ１５５を決定されたフォーカスレンズ１５５の位置へと移動させることによって、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに対するフォーカス位置を調整することができる。例えば、予め眼軸長Ｌを取得しておく構成であれば、光路長調整とフォーカス調整とを同時に行うことができる。これらの調整は、いずれか一方の調整が開始された以後に他方の調整が開始されることで並行して行われてもよいし、双方の調整が同時に開始されることで並行して行われてもよい。

例えば、上記のような構成であることによって、正面観察光学系を用いなくても、ＯＣＴ光学系の光路長差の調整とフォーカス位置の調整とを同時に行うことができる。また、装置を複雑な構成とすることなく、ＯＣＴ光学系における光路長調整とフォーカス調整を容易に実施できる。

なお、本実施例では、ＯＣＴ光学系１００の光路長差を調整した際、被検眼Ｅの前眼部Ｅｃに対するＯＣＴデータと眼底Ｅｆに対するＯＣＴデータとを用いて、被検眼Ｅの眼軸長Ｌを取得する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、公知の模型眼（例えば、グルストランド模型眼等）のデータ等を利用して、被検眼Ｅの眼軸長を取得する構成としてもよい。この場合には、前述のワーキングディスタンスが所定の距離に保たれた状態（例えば、アライメントが完了した状態）で、被検眼Ｅの眼軸長を取得することができる。例えば、所定のワーキングディスタンスにおいて、グルストランド模型眼における眼底ＥｆのＯＣＴデータを取得できるような光学部材１１２の位置が、所定のワーキングディスタンスに対する光学部材１１２の基準位置として予め記憶されていてもよい。例えば、被検眼Ｅが所定のワーキングディスタンスにある状態で、眼底ＥｆのＯＣＴデータが取得された場合、被検眼Ｅの眼軸長はグルストランド模型眼の眼軸長と同じ２２．５ｍｍであると取得されてもよい。また、例えば、被検眼Ｅが所定のワーキングディスタンスにある状態で、眼底ＥｆのＯＣＴデータが取得されなかった場合には、光路長調整が行われ、光学部材１１２が移動される。このとき、眼底Ｅｆで反射された測定光の光路長と、第２参照光路１１０ｂの光路長とが、等しくなるように、光学部材１１２が移動される。例えば、光学部材１１２が基準位置に対して移動した移動位置（あるいは、移動距離）に基づいて、被検眼Ｅの眼軸長Ｌが取得されてもよい。光学部材１１２の移動距離と実距離とは予め対応付けられていてもよく、例えば、光学部材１１２の移動距離から、グルストランド模型眼の眼軸長（２２．５ｍｍ）に加算または減算する距離が求められ、これによって被検眼Ｅの眼軸長Ｌが取得されてもよい。

なお、本実施例では、被検眼の眼軸長に基づいて被検眼の眼屈折力を演算し、眼屈折力に基づいてフォーカス位置を調整する構成を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検眼の眼軸長と眼屈折力とが予め対応付けられたテーブルを用いて、被検眼の眼屈折力を取得し、眼屈折力に基づくフォーカス位置を調整してもよい。例えば、制御部７０は、光学部材１１２を移動させて光路長差を調整し、テーブルを参照することで、光学部材１１２の移動位置から被検眼の眼屈折力を取得することができる。また、例えば、制御部７０は、取得した眼屈折力に対応する位置にフォーカスレンズ１５５を移動させることで、ＯＣＴ光学系のフォーカスを調整することができる。例えば、光学部材１１２の移動と、フォーカスレンズ１５５の移動と、は連動して行われてもよい。これによって、例えば、光学部材１１２を移動させて最適な光路長差を探索しながら、フォーカスレンズ１５５を移動させて最適なフォーカス位置に合わせることができる。すなわち、光路長調整とフォーカス調整が同時に行われてもよい。なお、光路長調整とフォーカス調整は、いずれか一方の調整が開始された以後に他方の調整が開始されることで並行して行われてもよいし、双方の調整が同時に開始されることで並行して行われてもよい。

例えば、上記では、被検眼の眼軸長と眼屈折力とが予め対応付けられたテーブルを用いた場合について説明したがこれに限定されない。被検眼の眼軸長と眼屈折力とが予め対応付けられ、さらに眼屈折力に基づいてフォーカス位置が対応付けられたテーブルを用いてもよい。被検眼の眼軸長と、眼屈折力に基づくフォーカス位置と、が対応付けられたテーブルを用いてもよい。このような場合であっても、光学部材１１２を移動させるとともにフォーカスレンズ１５５を移動させ、眼屈折力に対応する位置にフォーカス位置を調整することができる。例えば、光学部材１１２の位置に対して、眼屈折力に基づくフォーカスレンズ１５５の位置を予め対応付けておくことにより、光路長調整とフォーカス調整を容易に行うことができる。

なお、本実施例では、被検眼ＥのＯＣＴデータを撮影するための眼科撮影装置を例に挙げて説明したがこれに限定されない。例えば、被検物のＯＣＴデータを撮影するための装置において本実施形態が適用されてもよい。例えば、被検物は、眼、皮膚、血管等の生体であってもよいし、樹脂体等の生体以外の試料であってもよい。

１ 眼科撮影装置
７０ 制御部
７５ モニタ
１００ ＯＣＴ光学系
１２０ 検出器
２００ ＦＰＮ生成光学系
３００ 照明光学系
４００ 撮影光学系
５００ フォーカス指標投影光学系
６００ 固視標投影光学系
７００ アライメント指標投影光学系
８００ 前眼部観察光学系

Claims (11)

1. 被検眼に照射された測定光と参照光による干渉信号を検出するＯＣＴ光学系を有し、前記干渉信号を処理することで前記被検眼のＯＣＴデータを取得する眼科撮影装置であって、
   前記被検眼の眼軸長を取得する眼軸長取得手段と、
   前記眼軸長に基づいて前記被検眼の眼屈折力を取得する眼屈折力取得手段と、
   前記ＯＣＴ光学系のフォーカス位置を調整するためのフォーカス調整用光学部材と、
   前記フォーカス位置が前記眼屈折力に対応する位置となるように、前記フォーカス調整用光学部材を駆動するフォーカス制御手段と、
   を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
2. 請求項１の眼科撮影装置において、
   前記フォーカス制御手段は、前記眼屈折力に基づいて前記フォーカス調整用光学部材の初期位置を設定し、前記初期位置から前記フォーカス調整用光学部材を駆動させることで、前記フォーカス位置を微調整することを特徴とする眼科撮影装置。
3. 請求項１または２の眼科撮影装置において、
   前記被検眼の角膜情報を取得する角膜情報取得手段を備え、
   前記眼屈折力取得手段は、前記眼軸長と前記角膜情報とに基づいて、前記眼屈折力を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
4. 請求項１〜３のいずれかの眼科撮影装置において、
   前記被検眼の水晶体情報を取得する水晶体情報取得手段を備え、
   前記眼屈折力取得手段は、前記眼軸長と前記水晶体情報とに基づいて、前記眼屈折力を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
5. 請求項１〜４のいずれかの眼科撮影装置において、
   前記眼屈折力取得手段は、前記眼屈折力を、前記眼軸長取得手段により取得された前記眼軸長に基づいて演算することで取得することを特徴とする眼科撮影装置。
6. 請求項１〜４の眼科撮影装置において、
   前記眼屈折力取得手段は、前記眼軸長と前記眼屈折力とが予め対応付けられたテーブルを有し、前記テーブルを用いて前記眼屈折力を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
7. 請求項１〜６のいずれかの眼科撮影装置において、
   前記測定光と前記参照光との光路長差を調整するための光路長調整用光学部材と、
   前記光路長調整用光学部材を駆動する光路長制御手段と、
   を備えることを特徴とする眼科撮影装置。
8. 請求項７の眼科撮影装置において、
   前記眼軸長取得手段は、前記光路長制御手段によって前記光路長調整用光学部材が駆動されることにより調整された前記光路長差に基づいて、前記眼軸長を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
9. 請求項７の眼科撮影装置において、
   前記眼軸長取得手段は、前記光路長制御手段によって前記光路長差が調整されるよりも先に、前記眼軸長を取得することを特徴とする眼科撮影装置。
10. 請求項９の眼科撮影装置において、
    前記光路長制御手段は、前記眼軸長取得手段により取得された前記眼軸長に基づいて前記光路長差を取得し、取得された前記光路長差に基づいて前記光路長調整用光学部材を駆動させ、
    前記フォーカス制御手段は、前記光路長差に基づく前記光路長調整用光学部材の駆動にともなって、前記フォーカス調整用光学部材の駆動を同時に行い、前記フォーカス位置を前記眼屈折力取得手段により取得された前記眼屈折力に対応する位置に調整することを特徴とする眼科撮影装置。
11. 請求項７の眼科撮影装置において、
    前記フォーカス制御手段は、前記光路長制御手段による前記光路長調整用光学部材の駆動に連動して前記フォーカス調整用光学部材を駆動させることで、前記フォーカス位置を前記眼屈折力取得手段により取得された前記眼屈折力に対応する位置に調整することを特徴とする眼科撮影装置。
    

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