JP2015085043A

JP2015085043A - 眼底撮影装置

Info

Publication number: JP2015085043A
Application number: JP2013227561A
Authority: JP
Inventors: 晃一伊藤; Koichi Ito
Original assignee: Nidek Co Ltd
Current assignee: Nidek Co Ltd
Priority date: 2013-10-31
Filing date: 2013-10-31
Publication date: 2015-05-07

Abstract

【課題】画質のよい断層画像を撮影できる。【解決手段】測定光を被検眼眼底に導く測定光路と参照光を導光する参照光路と眼底に照射された測定光と参照光の干渉を検出する検出器とを備える干渉光学系と、測定光を眼底上で走査する走査手段と、対物レンズ系を備え被検眼の瞳位置に測定光の旋回点を形成すると共に旋回点を中心に旋回される測定光を眼底に導く測定光学系と、眼底上の走査位置を設定する走査位置設定手段と、測定光路中のフォーカス用光学部材を移動させる駆動部を備え走査位置に対応する眼底の断層画像を得る眼底撮影装置であって、測定光学系に発生する像面湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮したフォーカス用光学部材の補正情報を、走査位置に応じて取得する補正情報取得手段と、補正情報に基づいて駆動部の動作を制御し、フォーカス用光学部材の位置を調整する駆動制御手段と、を備える。【選択図】図１

Description

被検眼を観察するための眼底撮影装置に関する。

網膜の断層を撮影する装置として、光断層干渉計（Optical Coherence Tomography: OCT）が知られている。このような装置では、眼底観察光学系（例えば、ＳＬＯ）により取得される正面画像に基づいて眼底に対するフォーカス合わせを行っている。すなわち、眼底断層画像のフォーカス合わせについては、眼底正面画像のフォーカス調整をＯＣＴ光学系に適用している（特許文献１参照）。また、このような装置は、走査角度（走査方向）を任意に設定でき、例えば、縦スキャン・横スキャンを行うことができる。

特開２００８−２９４６７号公報特開２０１１−２４５１８３号公報

ところで、断層画像を撮影する際に、装置の光学特性に起因する像面湾曲が問題となる可能性がある。特に、光学系の構成が複雑化される複合機、または高解像度の装置において問題が起こりうると考えられる。

例えば、ＯＣＴ光学系では、像面湾曲の影響があり、光軸中心から離れた画角位置によっては、ベストフォーカス位置がずれてしまう。これによって、断層画像を取得するときに、眼底中心とその周辺でＯＣＴ信号感度にばらつきが発生することが考えられる。
本発明は、上記問題点を鑑み、画質のよい断層画像を撮影できる眼底撮影装置を提供することを技術課題とする。

上記課題を解決するために、本発明は以下のような構成を備えることを特徴とする。

（１）光源と、前記光源からの光を測定光として被検眼眼底に導くための測定光路と、前記光源からの光から参照光として導光するための参照光路と、被検眼眼底に照射された前記測定光と前記参照光との干渉を検出するための検出器と、を備える干渉光学系と、前記測定光路に配置され、前記測定光を被検眼眼底上で走査するための走査手段と、前記測定光路に配置され、対物レンズ系を少なくとも備え、被検眼の瞳位置に前記測定光の旋回点を形成すると共に、前記旋回点を中心に旋回される前記測定光を前記眼底に導く測定光学系と、前記走査手段による前記眼底上の走査位置を設定する走査位置設定手段と、前記測定光束の光路中に配置されたフォーカス用光学部材を移動させる駆動部と、を備え、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に対応する被検眼眼底の断層画像を得る眼底撮影装置であって、前記測定光学系において発生する像面湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮した前記フォーカス用光学部材の補正情報を、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に応じて取得する補正情報取得手段と、前記補正情報取得手段によって取得された補正情報に基づいて前記駆動部の動作を制御し、前記フォーカス用光学部材の位置を調整する駆動制御手段と、を備えることを特徴とする。
（２）光源と、前記光源からの光を測定光として被検眼眼底に導くための測定光路と、前記光源からの光を参照光として導光するための参照光路と、被検眼眼底に照射された前記測定光と前記参照光との干渉を検出するための検出器と、を備える干渉光学系と、前記測定光路に配置され、前記測定光を被検眼眼底上で走査するための走査手段と、前記測定光路に配置され、対物レンズ系を少なくとも備え、被検眼の瞳位置に前記測定光の旋回点を形成すると共に、前記旋回点を中心に旋回される前記測定光を前記眼底に導く測定光学系と、前記走査手段による前記眼底上の走査位置を設定する走査位置設定手段と、前記測定光束の光路中に配置されたフォーカス用光学部材を移動させる駆動部と、を備え、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に対応する被検眼眼底の断層画像を得る眼底撮影装置であって、被検眼眼底の湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮した前記フォーカス用光学部材の補正情報を、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に応じて取得する補正情報取得手段と、前記補正情報取得手段によって取得された補正情報に基づいて前記駆動部の動作を制御し、前記フォーカス用光学部材の位置を調整する駆動制御手段を備えることを特徴とする。

本実施形態の眼底撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。本実施形態の表示部に表示された眼底画像を示す図である。光学系の像面湾曲を説明するための図である。フォーカスレンズの移動を説明するための図である。フォーカスレンズ位置の設定方法を説明するための図である。本実施形態の表示部に表示された眼底画像を示す図である。フォーカスレンズの移動を説明するための図である。フォーカスレンズ位置の推定結果を示す図である。フォーカスレンズ位置の設定方法を説明するための図である。

本発明の実施形態を図面に基づいて説明する。本装置は、被検眼のカラー眼底画像および断層画像を取得するための装置である。図１は、本実施形態の眼底撮影装置の光学系及び制御系を示す図である。なお、本実施形態においては、被検眼の奥行き方向をＺ方向（光軸Ｌ１方向）、奥行き方向に垂直（被検者の顔面と同一平面）な平面上の水平方向成分をＸ方向、鉛直方向成分をＹ方向として説明する。

＜概要＞
本装置１は、干渉光学系（ＯＣＴ光学系）２００と、測定光学系２５０と、走査位置設定手段（例えば、制御部７０）と、駆動部１２４ａと、補正情報取得手段（例えば、制御部７０）と、駆動制御手段（例えば、制御部７０）と、を主に備える。本装置１は、走査位置設定手段によって設定された走査位置に対応する被検眼眼底の断層画像を得る。

干渉光学系２００は、測定光源１０２と、検出器１２０と、走査部１０８と、を主に備える。検出器１２０は、被検眼Ｅに照射された測定光と参照光とを干渉して検出する。測定光は、測定光源１０２から出射され、測定光路を通って被検眼Ｅに導かれる。参照光は、測定光源１０２から出射され、参照光路を通って検出器１２０に導かれる。走査部１０８は、測定光路に配置され、測定光を被検眼Ｅ上で走査する。

走査位置設定手段は、走査部１０８による眼底上の走査位置を設定する。駆動部１２４ａは、測定光束の光路中に配置されたフォーカス用光学部材（例えば、フォーカスレンズ１２４）を移動させる。

補正情報取得手段は、測定光学系２５０において発生する像面湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮したフォーカス用光学部材の補正情報を、走査位置設定手段によって設定された走査位置に応じて取得してもよい。また、補正情報取得手段は、測定光学系２５０において発生する像面湾曲及び被検眼眼底の湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮したフォーカス用光学部材の補正情報を、走査位置設定手段によって設定された走査位置に応じて取得してもよい。

また、補正情報取得手段は、被検眼眼底の湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮したフォーカス用光学部材１２４の補正情報を、走査位置設定手段によって設定された走査位置に応じて取得してもよい。

駆動制御手段は、補正情報取得手段によって取得された補正情報に基づいて駆動部の動作を制御し、フォーカス用光学部材１２４の位置を調整する。また、駆動制御手段は、駆動部１２４ａの動作を制御し、少なくとも一つの走査位置に関して被検眼Ｅの視度を補正する視度補正制御を行ってもよい。視度補正後、補正情報取得手段によって取得された補正情報に基づいて、視度補正制御後のフォーカス用光学部材１２４の位置である合焦位置に対してフォーカス用光学部材１２４の位置を調整してもよい。

なお、走査部１０８によって、測定光束を被検眼Ｅの眼底上の走査画角位置が異なる少なくとも２ヶ所の位置に連続的に走査させる場合、駆動制御手段は、走査画角位置に応じてフォーカス用光学部材１２４の位置を調整してもよい。

なお、装置１は、撮影制御手段（例えば、制御部７０）を備えてもよい。撮影制御手段は、駆動制御手段によってフォーカス用光学部材１２４の位置が調整されるとき、走査部１０８による新たな走査位置での断層画像の取得を一旦停止してもよい。

＜実施例＞
図１に示すように、本実施例の光学系は、照明光学系１０、撮影光学系３０、干渉光学系２００（以下、ＯＣＴ光学系ともいう）を主に備える。さらに、光学系は、フォーカス指標投影光学系４０、アライメント指標投影光学系５０、前眼部観察光学系６０を備えても良い。撮影光学系３０は、眼底を可視光によって撮影（例えば、無散瞳状態）することによってカラー眼底画像を得るための眼底カメラ光学系として用いられる。ＯＣＴ光学系２００は、被検眼眼底の断層画像を光干渉の技術を用いて非侵襲で得る。

＜照明光学系＞
照明光学系１０は、例えば、観察照明光学系と撮影照明光学系を有する。撮影照明光学系は、光源１４、コンデンサレンズ１５、リングスリット１７、リレーレンズ１８、ミラー１９、黒点板２０、リレーレンズ２１、孔あきミラー２２、対物レンズ２５を主に備える。撮影光源１４は、フラッシュランプ等であってもよい。黒点板２０は、中心部に黒点を有する。

また、観察照明光学系は、光源１１、赤外フィルタ１２、コンデンサレンズ１３、ダイクロイックミラー１６、リングスリット１７から対物レンズ２５までの光学系を主に備える。光源１１は、ハロゲンランプ等であってもよい。赤外フィルタ１２は、波長７５０ｎｍ以上の近赤外光を透過する。ダイクロックミラー１６は、コンデンサレンズ１３とリングスリット１７との間に配置される。また、ダイクロイックミラー１６は、光源１１からの光を反射し撮影光源１４からの光を透過する特性を持つ。

＜眼底カメラ光学系＞
撮影光学系３０は、例えば、対物レンズ２５、撮影絞り３１、フォーカシングレンズ３２、結像レンズ３３、撮像素子３５が主に配置されている。撮影絞り３１は、孔あきミラー２２の開口近傍に位置する。フォーカシングレンズ３２は、光軸方向に移動可能である。撮像素子３５は、可視域に感度を有する撮影に利用可能である。撮影絞り３１は対物レンズ２５に関して被検眼Ｅの瞳孔と略共役な位置に配置されている。フォーカシングレンズ３２は、モータを備える移動機構４９により光軸方向に移動される。

また、結像レンズ３３と撮像素子３５の間には、赤外光及び可視光の一部を反射し、可視光の大部分を透過する特性を有するダイクロイックミラー３４が配置される。ダイクロイックミラー３７の反射方向には、赤外域に感度を有する観察用撮像素子３８が配置されている。なお、ダイクロイックミラー３４の代わりに、跳ね上げミラーが用いられても良い。跳ね上げミラーは、例えば、眼底観察時に光路に挿入され、眼底撮影時に光路から退避される。

また、対物レンズ２５と孔あきミラー２２の間には、光路分岐部材としての挿脱可能なダイクロイックミラー（波長選択性ミラー）２４が斜設されている。ダイクロイックミラー２４は、ＯＣＴ測定光の波長光、及びアライメント指標投影光学系５０及び前眼部照明光源５８の波長光（中心波長９４０ｎｍ）を反射する。また、ダイクロイックミラー２４は、眼底観察用照明の波長光の光源波長（中心波長８８０ｎｍ）を含む波長９００ｎｍ以下を透過する特性を有する。撮影時には、ダイクロイックミラー２４は挿脱機構６６により連動して跳ね上げられ、光路外に退避する。挿脱機構６６は、ソレノイドとカム等により構成することができる。

また、ダイクロイックミラー２４の撮像素子３５側には、挿脱機構６６の駆動により光路補正ガラス２８が跳ね上げ可能に配置されている。光路挿入時には、光路補正ガラス２８は、ダイクロイックミラー２４によってシフトされた光軸Ｌ１の位置を補正する役割を持つ。

観察用の光源１１を発した光束は、赤外フィルタ１２により赤外光束とされ、コンデンサレンズ１３、ダイクロイックミラー１６により反射されてリングスリット１７を照明する。そして、リングスリット１７を透過した光は、リレーレンズ１８、ミラー１９、黒点板２０、リレーレンズ２１を経て孔あきミラー２２に達する。孔あきミラー２２で反射された光は、補正ガラス２８、ダイクロイックミラー２４を透過し、対物レンズ２５によって被検眼Ｅの瞳孔付近で一旦収束した後、拡散して被検眼眼底部を照明する。

また、眼底からの反射光は、対物レンズ２５、ダイクロイックミラー２４、補正ガラス２８、孔あきミラー２２の開口部、撮影絞り３１、フォーカシングレンズ３２、結像レンズ３３、ダイクロイックミラー３７、を介して撮像素子３８に結像する。なお、撮像素子３８の出力は制御部７０に入力され、制御部７０は、撮像素子３８によって撮像される被検眼の眼底観察画像８２を表示部７５に表示する（図２参照）。

また、撮影光源１４から発した光束は、コンデンサレンズ１５を介して、ダイクロイックミラー１６を透過する。その後、眼底観察用の照明光と同様の光路を経て、眼底は可視光により照明される。そして、眼底からの反射光は対物レンズ２５、孔あきミラー２２の開口部、撮影絞り３１、フォーカシングレンズ３２、結像レンズ３３を経て、撮像素子３５に結像する。

＜フォーカス指標投影光学系＞
フォーカス指標投影光学系４０は、赤外光源４１、スリット指標板４２、２つの偏角プリズム４３、投影レンズ４７、照明光学系１０の光路に斜設されたスポットミラー４４を主に備える。２つの偏角プリズム４３は、スリット視標板４２に取り付けられる。スポットミラー４４は、照明光学系１０の航路に斜設される。また、スポットミラー４４はレバー４５の先端に固着されている。スポットミラー４４は、通常は光軸に斜設されるが、撮影前の所定のタイミングで、ロータリソレノイド４６の軸の回転により、光路外に退避させられる。なお、スポットミラー４４は被検眼Ｅの眼底と共役な位置に配置される。光源４１、スリット指標板４２、偏角プリズム４３、投影レンズ４７、スポットミラー４４及びレバー４５は、フォーカシングレンズ３２と連動して移動機構４９により光軸方向に移動される。また、フォーカス指標投影光学系４０のスリット指標板４２の光束は、偏角プリズム４３及び投影レンズ４７を介してスポットミラー４４により反射された後、リレーレンズ２１、孔あきミラー２２、ダイクロイックミラー２４、対物レンズ２５を経て被検眼Ｅの眼底に投影される。眼底へのフォーカスが合っていないとき、不図示の指標像は、ずれ方向及びずれ量に応じて分離された状態で眼底上に投影される。一方、フォーカスが合っているときには、指標像は、合致した状態で眼底上に投影される。

＜アライメント指標投影光学系＞
アライメント用指標光束を投影するアライメント指標投影光学系５０には、図１における左上の点線内の図に示すように、撮影光軸Ｌ１を中心として同心円上に４５度間隔で赤外光源が複数個配置されている。本実施形態における眼底撮影装置は、第１視標投影光学系（０度、及び１８０）と、第２視標投影光学系と、を主に備える。第１視標投影光学系は、赤外光源５１とコリメーティングレンズ５２を持つ。第２視標投影光学系は、第１指標投影光学系とは異なる位置に配置され、６つの赤外光源５３を持つ。赤外光源５１は、撮影光軸Ｌ１を通る垂直平面を挟んで左右対称に配置される。この場合、第１指標投影光学系は被検眼Ｅの角膜に無限遠の指標を左右方向から投影する。第２指標投影光学系は被検眼Ｅの角膜に有限遠の指標を上下方向もしくは斜め方向から投影する構成となっている。なお、図１の本図には、便宜上、第１指標投影光学系（０度、及び１８０度）と、第２指標投影光学系の一部のみ（４５度、１３５度）が図示されている。

＜前眼部観察光学系＞
被検眼の前眼部を撮像する前眼部観察（撮影）光学系６０は、ダイクロイックミラー２４の反射側に、ダイクロイックミラー６１、絞り６３、リレーレンズ６４、２次元撮像素子（受光素子：以下、撮像素子６５と省略する場合あり）６５を主に備える。撮像素子６５は、赤外域の感度を持つ。また、撮像素子６５はアライメント指標検出用の撮像手段を兼ね、赤外光を発する前眼部照明光源５８により照明された前眼部とアライメント指標が撮像される。前眼部照明光源５８により照明された前眼部は、対物レンズ２５、ダイクロイックミラー２４及びダイクロイックミラー６１からリレーレンズ６４の光学系を介して撮像素子６５により受光される。また、アライメント指標投影光学系５０が持つ光源から発せられたアライメント光束は被検眼角膜に投影される。その角膜反射像は対物レンズ２５〜リレーレンズ６４を介して撮像素子６５に受光（投影）される。

撮像素子６５の出力は制御部７０に入力され、撮像素子６５によって撮像された前眼部像が表示部７５に表示される。なお、前眼部観察光学系６０は、被検眼に対する装置本体１のアライメント状態を検出するための検出光学系を兼用する。

＜ＯＣＴ光学系＞
ＯＣＴ光学系２００は、いわゆる眼科用光断層干渉計（ＯＣＴ：Optical coherence tomography）の装置構成を持ち、眼Ｅの断層像を撮像する。ＯＣＴ光学系２００は、測定光源１０２から出射された光をカップラー（光分割器）１０４によって測定光（試料光）と参照光に分割する。ＯＣＴ光学系２００は、対物レンズを有する測定光学系２５０によって測定光を眼Ｅの眼底Ｅｆに導く。また、参照光を参照光学系１１０に導く。測定光学系２５０は、例えば、コリメータレンズ１２３、フォーカスレンズ１２４、走査部１０８、対物レンズ２５などを備えてもよい。測定光は、コリメータレンズ１２３、フォーカスレンズ１２４を介し、走査部１０８に達し、例えば、２つのガルバノミラーの駆動によって反射方向が変えられる。そして、走査部１０８で反射された測定光は、リレーレンズ２２を介して、ダイクロイックミラー２４で反射された後、対物レンズ２５を介して、被検眼眼底に集光される。その後、眼底Ｅｆによって反射された測定光と，参照光との合成による干渉光を検出器（受光素子）１２０に受光させる。フォーカスレンズ１２４は、駆動部１２４ａの駆動によって光軸方向に移動可能である。

検出器１２０は、測定光と参照光との干渉状態を検出する。フーリエドメインＯＣＴの場合では、干渉光のスペクトル強度が検出器１２０によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって所定範囲における深さプロファイル（Ａスキャン信号）が取得される。例えば、Spectral-domain OCT（ＳＤ−ＯＣＴ）、Swept-source OCT（ＳＳ−ＯＣＴ）が挙げられる。Spectral-domain OCT（ＳＤ−ＯＣＴ）の場合、例えば、光源１０２として広帯域光源が用いられ、検出器１２０として分光器（スペクトロメータ）が用いられる。Swept-source OCTの場合、例えば、光源１０２として波長可変光源が用いられ、検出器１２０として単一のフォトダイオードが用いられる（平衡検出を行ってもよい）。また、Time-domain OCT（ＴＤ−ＯＣＴ）であってもよい。

走査部１０８は、測定光源から発せられた光を被検眼眼底上で走査させる。例えば、走査部１０８は、眼底上で二次元的（ＸＹ方向（横断方向））に測定光を走査させる。走査部１０８は、瞳孔と略共役な位置に配置される。走査部１０８は、例えば、２つのガルバノミラーであり、その反射角度が駆動部１５１によって任意に調整される。

これにより、光源１０２から出射された光束はその反射（進行）方向が変化され、眼底上で任意の方向に走査される。これにより、眼底Ｅｆ上における撮像位置が変更される。走査部１０８としては、光を偏向させる構成であればよい。例えば、反射ミラー（ガルバノミラー、ポリゴンミラー、レゾナントスキャナ）の他、光の進行（偏向）方向を変化させる音響光学素子（ＡＯＭ）等が用いられる。

参照光学系１１０は、眼底Ｅｆでの測定光の反射によって取得される反射光と合成される参照光を生成する。参照光学系１１０は、マイケルソンタイプであってもよいし、マッハツェンダタイプであっても良い。

参照光学系１１０は、参照光路中の光学部材を移動させることにより、測定光と参照光との光路長差を変更してもよい。例えば、参照ミラーが光軸方向に移動される。光路長差を変更するための構成は、測定光学系２５０の測定光路中に配置されてもよい。

より詳細には、参照光学系１１０は、例えば、コリメータレンズ１２９、参照ミラー１３１、参照ミラー駆動部１５０を主に備える。参照ミラー駆動部１５０は、参照光路中に配置され、参照光の光路長を変化させるべく、光軸方向に移動可能な構成になっている。光を参照ミラー１３１により反射することにより再度カップラー１０４に戻し、検出器１２０に導く。他の例としては、参照光学系１１０は、透過光学系（例えば、光ファイバー）によって形成され、カップラー１０４からの光を戻さず透過させることにより検出器１２０へと導く。

＜制御部＞
本実施形態の制御部７０には、表示部７５と、操作部７４、メモリ７２、コンピュータ９０、各撮像素子、各光源（図は略す）、各種アクチュエータ（図は略す）等が接続される。メモリ７２は、記憶手段として機能する。

＜制御動作＞
以上のような構成を備える装置において、その制御動作について説明する。検者は、図示無き固視標を注視するように被検者に指示する。初期段階では、ダイクロイックミラー２４は撮影光学系３０の光路に挿入されており、撮像素子６５に撮像された前眼部像が表示部７５に表示される。

検者は、上下左右方向のアライメント調整として、例えば、ジョイスティック７４ａを操作し、図示無き前眼部像が表示部７５に現れるように装置１の測定部を左右上下に移動させる。前眼部像が表示部７５に現れるようになると、前眼部像に８つの指標像が現れるようになる。

＜アライメント検出及びＸＹＺ方向に関する自動アライメント＞
８つのアライメント指標像が撮像素子６５に検出されると、制御部７０は、自動アライメント制御を開始する。制御部７０は、撮像素子６５から出力される撮像信号に基づいて被検眼に対する測定部のアライメント偏位量を検出する。
そして、制御部７０は、この偏位量がアライメント完了の許容範囲に入るように、測定部を駆動制御し、自動アライメントを行う。

また、制御部７０は、前述のように検出される８つの指標からＺ方向のアライメントを行う。アライメントの方法としては、例えば、特開平６−４６９９９号に記載のアライメント方法を利用してもよい。

また、制御部７０は、Ｚ方向についても、Ｚ方向のアライメント基準位置に対する偏位量を求め、その偏位量が、アライメントが完了したとされるアライメント許容範囲に入るように、測定部を駆動制御し、自動アライメントを行う。

前述したアライメント動作によって、ＸＹＺ方向のアライメント状態がアライメント完了の条件を満たしたら、制御部７０はＸＹＺ方向のアライメントが合致したと判定し、次のステップに移行する。ここで、ＸＹＺ方向におけるアライメントが完了すると、制御部７０は、アライメント完了信号を出力する。

＜瞳孔径の判定＞
アライメント完了後、制御部７０は、被検眼の瞳孔状態の適否の判定を開始する。この場合、瞳孔径の適否は、撮像素子６５による前眼部像から検出される瞳孔エッジが、所定の瞳孔判定エリアから外れているか否かで判定される。瞳孔判定エリアの大きさは、画像中心（撮影光軸中心）を基準に、眼底照明光束が通過可能な径（例えば、直径４ｍｍ）として設定されているものである。簡易的には、画像中心を基準に左右方向及び上下方向で検出される４点の瞳孔エッジを使用する。瞳孔エッジの点が瞳孔判定エリアよりも外にあれば、撮影時の照明光量が十分に確保される（詳しくは、本出願人による特開２００５−１６０５４９号公報を参考にされたい）。なお、瞳孔径の適否判定は、撮影が実行されるまで継続され、その判定結果が表示部７５上に表示される。

＜フォーカス状態の検出／オートフォーカス＞
また、撮像素子６５を用いたアライメントが完了されると、制御部７０は、被検眼の眼底に対するオートフォーカスを行う。表示部７５または表示部９５には、撮像素子３８で撮像された眼底画像が表示されていおり、眼底画像の中心にフォーカス視標投影光学系４０によるフォーカス指標像が投影されている。ここで、フォーカス指標像は、フォーカスが合っていないときには分離され、フォーカスが合っているときに一致して投影される。制御部７０は、指標像を画像処理により検出し、その分離情報を得る。そして、制御部７０は、指標像の分離情報を基に移動機構４９の駆動を制御し、眼底に対するピントが合うようにレンズ３２を移動させる。

＜最適化制御＞
アライメント完了信号が出力されると、制御部７０は、最適化制御を開始するためのトリガ信号を発し、最適化の制御動作を開始する。制御部７０は、最適化を行うことによって、検者が所望する眼底部位が高感度・高解像度で観察できるようにする。なお、本実施例において、最適化の制御は、光路長調整、フォーカス調整、偏光状態の調整（ポラライザ調整）、の制御である。なお、最適化の制御において、眼底に対する一定の許容条件を満たすことができればよく、最も適切な状態に調整する必要は必ずしもない。

最適化制御において、制御部７０は、初期化の制御として、参照ミラー１３１とフォーカシングレンズ１２４の位置を初期位置に設定する。初期化完了後、制御部７０は、設定した初期位置から参照ミラー１３１を一方向に所定ステップで移動させ、第１光路長調整を行う（第１自動光路長調整）。また、第１光路長調整と並行するように、制御部７０は、前述の被検眼眼底に対する眼底カメラ光学系のフォーカス結果に基づいて、眼底観察画像８２被検眼眼底に対する合焦位置情報（例えば、レンズ３２の移動量）を取得する。合焦位置情報が取得されると、制御部７０は、駆動部１２４ａの駆動を制御し、フォーカスシングレンズ１２４を合焦位置に移動させ、オートフォーカス調整（フォーカス調整）を行う。なお、合焦位置とは、観察画像として許容できる断層画像のコントラストを取得できる位置であればよく、必ずしも、フォーカス状態の最適位置である必要はない。

そして、フォーカス調整完了後、制御部７０は、再度、参照ミラー１３１を光軸方向に移動させ、光路長の再調整（光路長の微調整）をする第２光路長調整を行う。第２光路長調整完了後、制御部７０は、参照光の偏光状態を調節するためのポラライザ１３３を駆動させ、測定光の偏光状態を調整する（詳しくは、特願２０１２−５６２９２号参照）。

以上のようにして、最適化の制御が完了されることにより、検者が所望する眼底部位が高感度・高解像度で観察できるようになる。そして、制御部７０は、走査部１０８の駆動を制御し、眼底上で測定光を走査する。

検出器１２０によって検出された検出信号（スペクトルデータ）は、コンピュータ９０に送信される。コンピュータ９０は、検出器１２０によって検出された検出信号を受信し、検出信号を演算処理することによって断層画像８３を生成する。

アライメント及び画質調整が完了されると、制御部７０は、走査部１０８の駆動を制御し、眼底上で測定光を所定方向に関して走査させ、走査中に検出器１２０から出力される出力信号から所定の走査領域に対応する検出信号を取得して断層画像を形成する。

制御部７０またはコンピュータ９０は、表示部７５，９５上に、前眼部観察光学系２０によって取得された前眼部画像、赤外眼底画像、断層画像、スキャンライン等を表示する。スキャンラインは、赤外眼底画像上における断層画像の測定位置（取得位置）を表す指標である。スキャンラインは、表示部７５，９５上の赤外眼底画像上に電気的に表示される。

本実施形態では、検者が表示部７５に、タッチ操作又はドラック操作を行うことによって、撮影条件の設定が可能な構成となっている。検者は、タッチ操作によって表示部７５上の任意の位置を指定できる。もちろん、コンピュータ９０に備えられた図示無きマウスまたはキーボード等によっても表示部９０上の任意の位置を指定できる。

＜スキャンラインの設定＞
図２は、表示部９０に表示される赤外眼底画像の一例を示す図である。断層画像及び眼底観察画像８２が表示部９０に表示されたら、検者は、リアルタイムで観察される表示部９０上の眼底観察画像８２から検者の撮影したい断層画像の位置を設定する。ここで、検者は、マウス等を用いて、ドラッグ操作を行うことによって、眼底観察画像８２に対してラインＬｓを移動させていき、走査位置を設定する。なお、スキャンラインＬｓがＸ方向となるように設定すれば、ＸＺ面の断層画像の撮影が行われ、スキャンラインＬｓがＹ方向となるように設定すれば、ＹＺ面の断層画像の撮影が行われるようになっている。また、スキャンラインＬｓを任意の形状（例えば、斜め方向や丸等）に設定できるようにしてもよい。

検者によってスキャンラインＬｓが眼底観察画像８２に対して移動されると、制御部７０は、随時走査位置の設定を行い、これに対応する走査位置の断層画像を取得する。そして、取得された断層画像を随時表示部７５の表示画面上に表示する。また、制御部７０は、表示部７５から出力される操作信号に基づいて測定光の走査位置を変更すると共に、変更された走査位置に対応する表示位置にスキャンラインＬｓを表示する。

＜断層画像の取得＞
制御部７０は、設定された走査位置に基づいてＢスキャンによる断層画像の取得を行う。制御部７０は、眼底観察画像８２上に設定されたスキャンラインＬｓの表示位置に基づいて、スキャンラインＬｓの位置に対応する眼底の断層画像が得られるように、走査部１０８を駆動させて測定光を走査させる。なお、スキャンラインＬｓの表示位置（表示部上における座標位置）と走査部１０８による測定光の走査位置との関係は、予め定まっているので、制御部７０は、設定したスキャンラインＬｓの表示位置に対応する走査範囲に対して測定光が走査されるように、走査部１０８の２つのガルバノミラーを適宜駆動制御する。

＜光学系の像面湾曲を考慮したフォーカス調整＞
ＯＣＴ光学系２００に像面湾曲性がある場合、画角０°（対物レンズ２５の光軸中心）でフォーカスレンズ位置が視度０Ｄ（ディオプター）だったとすると、光軸中心から離れた走査位置（例えば、画角１５°）において、フォーカスが眼底に合わないことがある（図３参照）。このとき、光軸中心から離れた走査位置に対応する眼底に対してフォーカスを合わせようとすると、フォーカスレンズ１２４のフォーカス位置は、光軸中心に対してずれた位置（例えば、視度−２．５Ｄの位置）であったりする。

すなわち、光軸中心に対する走査位置である走査画角位置によってベストフォーカス位置が異なる。このため、光軸中心にウェイトを置いたフォーカスレンズ位置の調整が実施された場合、例えば、ＭＡＰスキャン（３次元測定）を行った場合、周辺のラインスキャンでは、ベストフォーカス位置からずれたフォーカスレンズ位置でＯＣＴ計測を行うことになるため、断層画像の画質が低下してしまう。

この影響を低減させるため、断層画像を取得したい走査画角位置におけるフォーカスレンズ１２４の好適な位置を、光軸中心に合わせられたフォーカスレンズ位置から、走査画角位置に応じてオフセットをかけることで決定する。

以下に、既知の光学系の像面湾曲情報からフォーカスレンズ位置を決定する流れを説明する。なお、ＯＣＴ光学系２００の像面湾曲情報は、光学系の設計値から算出するか、または実験的に求めることができる。求めた像面湾曲情報は、予めメモリ７２に記憶される。例えば、像面湾曲の影響をなくすために設定されたフォーカスレンズ１２４の移動量と走査画角位置との関係がメモリ７２に記憶されてもよい。詳細は後述する。

＜ラインスキャン時＞
例えば、図３に示すように、画角１５°のラインスキャンによって断層画像を取得する場合について説明する。

まず、制御部７０は、対物レンズ２５の光軸中心にて断層画像のフォーカスを合わせる。このとき、制御部７０は、例えば、ＯＣＴの信号が大きく検出される位置にフォーカスレンズ１２４を移動させる。

図４において、画角０°でラインスキャンをすることにより決定されたＯＣＴ光学系２００のフォーカスレンズ１２４の位置をＡとする。データの欲しい走査位置は、画角１５°のラインスキャンであるとする（図３参照）。すると、制御部７０は、画角１５°のときに、像面湾曲の影響をなくすために設定されたフォーカスレンズ１２４の移動量ｄ１をメモリ７２から読み出す。

そして、制御部７０は、駆動部１２４ａの駆動を制御し、レンズ位置Ａから、読み出した移動量ｄ１だけシフトしたフォーカスレンズ位置Ｂにフォーカスレンズ１２４を移動させる。フォーカスレンズ１２４を移動させた後、制御部７０は、断層画像を取得する。

このように、走査画角位置に対応させてフォーカスレンズ位置を制御することによって、光学系に起因する像面湾曲の影響で、画像の中心部と周辺部でＯＣＴ信号の強度がばらつくことを低減させることができる。つまり、装置１は、画像の中心部と周辺部との画質が均一な画像を生成することができる。従って、検者は、断層画像の中心部と周辺部とで画質の差を感じることが少なくなり、両者を好適に診断することができる。

例えば、本実施形態のように眼底カメラの光学系にＯＣＴの光学系を組み合わせた複合機等の場合、主に眼底カメラの光学系の対物レンズ２５の影響によって、ＯＣＴ光学系から出射される測定光に像面湾曲が発生することがあった（特に、ホールミラーより前で眼底カメラの光学系とＯＣＴ光学系とを分岐させる場合）。このような場合でも、ＯＣＴ光学系２００の像面湾曲情報を考慮してフォーカスレンズ１２４の位置を制御することで、光学系の構成を複雑にすることなく、信号強度のばらつきを抑えることができる。

なお、メモリ７２にはフォーカスレンズ１２４の移動量ｄ１が記憶されると説明したが、これに限らない。例えば、ある画角に対して、フォーカスレンズ１２４が視度何ディオプターの位置に配置されるとよいか、という関係がメモリ７２に記憶されていてもよい。

＜３次元測定（ＭＡＰスキャン）時＞
以下、３次元測定（ＭＡＰスキャンともいう）を行う場合について説明する。３次元測定の走査パターンとしては、ラスタースキャン、サークルスキャン、又はラジカルスキャン等がある。以下、走査パターンとしてラスタースキャンが設定された場合を例として説明する。ラスタースキャンは、眼底Ｅｆ上を測定光が矩形状に走査するパターンである。

ラスタースキャンは、例えば、解析マップを得るためのスキャンとして用いられる。解析マップは、例えば、眼底組織における厚みの二次元的な分布を示す。ラスタースキャンでは、例えば、予め設定された走査領域（例えば、矩形領域）において測定光がラスターされる。その結果として、走査領域（例えば、矩形領域）内における各走査ラインでの断層画像が取得される。

ラスタースキャンにおける走査条件として、例えば、主走査方向及び副走査方向におけるライン幅（始点から終点までの距離）、走査速度、各走査ラインの間隔、走査ラインの数等が予め設定される。もちろん、ラスタースキャンにおける走査条件が、任意に設定される構成であってもよい。

３次元計測（ＭＡＰスキャン）においては、制御部７０は、中心ラインスキャンと周辺ラインスキャンの中間画角位置のフォーカスレンズ位置を選択して断層画像を取得してもよい。これによって、全体的に輝度ばらつきの少ないデータを取得することができる。

例えば、図５に示すように、検者は、表示部９０等に表示された眼底観察画像８２において、中心ラインスキャン位置Ｌｃと周辺ラインスキャン位置Ｌｇの中間の画角位置Ｒｍを指定する。例えば、検者は、表示部９０等を確認し、図示無きマウス等の操作によって、画角位置Ｒｍの位置を制御部７０に指定する。

制御部７０は、画角位置Ｒｍが指定されると、例えば、画角位置Ｒｍにおいて像面湾曲の影響をなくすためのフォーカスレンズの移動量ｄ２をメモリ７２から読み出す。そして、図４のように、制御部７０は、駆動部１２４ａを制御し、レンズ位置Ａから、Ｃの位置にフォーカスレンズ１２４を制御し、ＯＣＴの３次元測定を行う。

このように、例えば、複数位置で連続的にスキャンを行う場合、制御部７０は、スキャン領域全体において、ＯＣＴ信号の強度が均等になるようなフォーカスレンズ位置にフォーカスレンズ１２４を制御して、３次元の広域測定を行ってもよい。これによって、複数位置で測定された断層画像の信号強度のばらつきが低減される。また、スキャン位置ごとにフォーカスレンズ位置が調整される場合よりも、平均的な位置に設定された状態で測定されることによって、ＭＡＰスキャンに要する時間が長くなることを低減できる。

なお、制御部７０は、縦方向のスキャン位置（画角）に合わせて、フォーカスレンズ補正量に則って、駆動部１２４ａによってフォーカスレンズ１２４の位置を動かしながら、断層画像の取得を行ってもよい。

例えば、図５において、装置１は、左から右にスキャンし、上から下に１ライン下がって、再び左から右にスキャンするという動作を繰り返すものとする（ラスタースキャン）。この場合、制御部７０は、上から下に１ライン下がる度にフォーカスレンズ１２４の位置を調整してもよい。これによって、よりＳ／Ｎ比の高いデータを取得することができる。
なお、制御部７０は、縦方向に限らず、横方向のスキャン位置の変化に応じて、フォーカスレンズ１２４の位置を調整してもよい。

例えば、制御部７０は、左から右にスキャンするときの画角の変化に応じて、フォーカスレンズ１２４の位置を制御してもよい。図５において、例えば、中心ラインスキャンの場合、制御部７０は、左側のスキャン開始位置Ｓから右側のスキャン完了位置Ｇまでの１ラインの測定途中に、画角の変化に応じて、フォーカスレンズ１２４の位置を制御してもよい。

例えば、図５において、位置Ｓから中間点Ｍまでスキャンを行う経路において、スキャンを行う画角位置は、光軸中心に対して連続的に小さくなる。これに応じて、制御部７０は、駆動部１２４ａによって、フォーカスレンズ１２４の位置を連続的に変化させながらスキャンを行ってもよい。同様に、中間点Ｍから位置Ｇまでのスキャンを行う経路において、スキャンを行う画角位置は、光軸中心に対して連続的に大きくなる。これに応じて、制御部７０は、フォーカスレンズ１２４の位置を連続的に変化させながらスキャンを行ってもよい。

以上のように、縦方向だけでなく、画角に応じてフォーカスレンズ位置を調整しながら断層画像の撮影を行ってもよい。これによって、断層画像を精細かつ均一な状態で取得することができる。

また、縦方向、横方向の各々について画角に応じて好適なフォーカスレンズ補正量を定めることができるので、任意のスキャンパターンに合わせて、固定の補正量を幾つにするか、もしくはフォーカスレンズ１２４を移動させながらＯＣＴ計測をするかなど、状況に応じて既知のフォーカスレンズ補正量を利用することができる。

ここでＯＣＴ光学系のフォーカスレンズ位置の決定方法は、上記ＯＣＴ光学系を利用したものに限らず、眼底カメラの眼底観察系などを利用したものでも良い（例えば、後述するスプリット合焦系など）。

＜第２実施形態＞
以下に、フォーカスレンズ位置を補正する別の方法として、光学系の像面湾曲性または被検眼の眼底面湾曲度合いを推定することにより、フォーカスレンズ位置を決定する流れを説明する。例えば、制御部７０は、２ヶ所以上でフォーカスレンズ１２４のベストフォーカス位置を決定して、そこから光学系の像面湾曲性または被検眼の眼底面湾曲度合いを推定する。

図６のように、例えば、スキャンラインＬｓ１及びスキャンラインＬｓ２のラインスキャンデータを利用するとする。制御部７０は、縦方向について２画角以上の位置で断層画像を取得し、フォーカスレンズ位置を決定する。

例えば、制御部７０は、まず、画角０°（図６のスキャンラインＬｃ）の位置で断層画像を測定し、フォーカスを合わせる。制御部７０は、フォーカスレンズ１２４を移動させ、ＯＣＴ信号が強く検出されるフォーカスレンズ位置Ａ（図７参照）を求める。そして、制御部７０は。少なくとも２ヶ所以上で断層画像の測定を行い、適正なフォーカスレンズ位置を求める。

例えば、制御部７０は、ある縦方向の走査画角位置にて取得された断層画像について、断層画像の輝度レベルに基づいて結像状態を検出し、その検出結果に基づいて視度補正情報を特定する。制御部７０は、特定した視度補正情報をメモリ７２に記憶させる。なお、視度補正情報の特定方法は、特許文献２に記載の方法が利用できる。

例えば、制御部７０は、スキャンラインＬｓ１，Ｌｓ２をスキャンし、断層画像を取得する。制御部７０は、駆動部１２４ａによって、フォーカスレンズ１２４を移動させ、ＯＣＴ信号が最も強く検出されるまでのフォーカスレンズ位置Ｆ１及びＦ２を求める。

制御部７０は、縦方向の２画角に対するフォーカスレンズ位置Ｆ１，Ｆ２を用い、画角０°対称に線形近似または２次曲線近似などで、任意の画角における視度補正情報（例えば、フォーカスレンズ位置など）を推定する。

例えば、スキャンラインＬｓ１は画角Ｊ°、スキャンラインＬｓ２は画角Ｋ°におけるスキャンであるとする。そして、スキャンラインＬｓ１を測定するときにフォーカスレンズ１２４が位置Ａから移動した距離が移動量ｄｊ、スキャンラインＬｓ２のときは移動量ｄｋであったとする。制御部７０は、例えば、画角Ｊ°及び移動量ｄｊ並びに画角Ｋ°及び移動量ｄｋを用いて、画角と移動量の関係を最小二乗法等によって近似的に求める（図８参照）。これによって、制御部７０は、画像を取得しなかった任意の画角におけるフォーカスレンズ位置を推定することが可能となる。
制御部７０は、このようにして得られたフォーカスレンズ位置の推定情報から、フォーカスレンズ１２４の位置を制御し、断層画像の測定を行う。

このように、スキャンデータを利用してフォーカスレンズ位置の推定を行う場合、被検眼眼底の湾曲度合いという既知でない情報も考慮されることになる。つまり、光学系に起因する像面湾曲だけでなく、眼底の湾曲度合いについても考慮されたフォーカスレンズ位置を推定することができる。従って、制御部７０は、より精細な断層画像を取得することができる。
なお、制御部７０は、ラインスキャンに限らず、画角原点を中心としたサークルスキャンデータを基にフォーカスレンズ位置を決定してもよい。

例えば、図９に示すように、制御部７０は、画角原点を中心としたサークルスキャンを、眼球中心に対して任意の２画角にて行い、得られた情報を基にフォーカスレンズ位置を決定しても良い。

なお、ＯＣＴ光学系のフォーカスレンズ位置の決定方法は、眼底カメラ光学系を利用したものでも良い。例えば、固視灯とフォーカススプリット合焦光学系が用いられてもよい。合焦光学系は、その性質上、対物レンズ基準の光軸に対して所定の画角方向にしか、照明できない。このため、合焦光学系は、固視灯を動かすことによって被検眼を回旋させることにより、任意の２ヶ所以上の固視点で、スプリット照明像を合致させ、合焦させる。

本実施形態のように、ＯＣＴ光学系が像面湾曲性を有している光学系であっても、断層画像の画質を低下させないようにすることができる。また、被検眼眼底の湾曲性を考慮して、より高品質な断層画像を取得することができる。
なお、ＯＣＴシステムのスポットサイズを小さくする場合、焦点深度が浅くなるため、被検者毎の眼底形状を把握することは重要である。

なお、以上の説明において、制御部７０は、各画角に対する視度補正情報として、画角０°のフォーカスレンズ位置からの移動量をメモリ７２に記憶させるものとしたが、これに限らない。各画角に対する視度補正情報としては、視度補正に関連した情報であればよく、ディオプター値であってもよい。

断層画像が得られると、制御部７０は、眼底カメラ光学系１００によってカラー眼底画像を取得するステップに移行する。検者は、表示部７５に表示される眼底観察画像８２を観察しながら、所望する状態で撮影できるように、アライメントとフォーカスの微調整を行う。そして、検者による撮影開始スイッチ７４ｂの入力があると、撮影が実行される。制御部７０は、撮影開始スイッチ７４ｂによる撮影開始のトリガ信号に基づいて、挿脱機構６６を駆動することによって、ダイクロイックミラー２４を光路から離脱させると共に、撮影光源１４を発光させる。

撮影光源１４が発光されることによって、被検眼眼底は可視光によって照射される。眼底からの反射光は対物レンズ２５、孔あきミラー２２の開口部、撮影絞り３１、フォーカシングレンズ３２、結像レンズ３３、ダイクロイックミラー３７を通過し、撮像素子３５に結像する。撮像素子３５で撮影された眼底画像８２は、制御部に受信され、その後、メモリ７２に記憶される。

なお、以上の説明において、画角ごとにフォーカスレンズ位置を調整するものと説明したが、これに限らない。例えば、画角帯に応じてフォーカスレンズ位置が設定されており、制御部７０は、画角帯に応じて設定されたフォーカスレンズ位置に基づいて、フォーカスレンズ位置をしてもよい。

また、以上の説明において、フォーカスレンズ１２４を動かす際には、ＯＣＴ信号の検出動作を停止させてもよい。これによって、フォーカスレンズ１２４の移動によって生じたＯＣＴ信号のぶれを検出してしまうことを抑制できる。

１眼底撮影装置
２５対物レンズ
７０制御部
７４操作ユニット
７５表示部
９０コンピュータ
９５表示部
１０８走査部
１２０検出器
１２４フォーカスレンズ

Claims

光源と、前記光源からの光を測定光として被検眼眼底に導くための測定光路と、前記光源からの光を参照光として導光するための参照光路と、被検眼眼底に照射された前記測定光と前記参照光との干渉を検出するための検出器と、を備える干渉光学系と、
前記測定光路に配置され、前記測定光を被検眼眼底上で走査するための走査手段と、
前記測定光路に配置され、対物レンズ系を少なくとも備え、被検眼の瞳位置に前記測定光の旋回点を形成すると共に、前記旋回点を中心に旋回される前記測定光を前記眼底に導く測定光学系と、
前記走査手段による前記眼底上の走査位置を設定する走査位置設定手段と、
前記測定光束の光路中に配置されたフォーカス用光学部材を移動させる駆動部と、
を備え、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に対応する被検眼眼底の断層画像を得る眼底撮影装置であって、
前記測定光学系において発生する像面湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮した前記フォーカス用光学部材の補正情報を、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に応じて取得する補正情報取得手段と、
前記補正情報取得手段によって取得された補正情報に基づいて前記駆動部の動作を制御し、前記フォーカス用光学部材の位置を調整する駆動制御手段と、
を備えることを特徴とする眼底撮影装置。
前記駆動制御手段は、
前記駆動部の動作を制御し、少なくとも一つの走査位置に関して前記被検眼の視度を補正する視度補正制御を行い、
前記視度補正後、前記補正情報取得手段によって取得された補正情報に基づいて、前記視度補正制御後の前記フォーカス用光学部材の位置である合焦位置に対して前記フォーカス用光学部材の位置を調整することを特徴とする請求項１の眼底撮影装置。
前記補正情報取得手段は、
前記測定光学系において発生する像面湾曲及び被検眼眼底の湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮した前記フォーカス用光学部材の補正情報を、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に応じて取得することを特徴とする請求項１〜２のいずれかの眼底撮影装置。
前記走査手段によって、前記測定光束を、前記被検眼の眼底上の走査画角位置が異なる少なくとも２ヶ所の位置に連続的に走査させる場合、前記駆動制御手段は、前記走査画角位置に応じて前記フォーカス用光学部材の位置を調整することを特徴とする請求項１〜３のいずれかの眼底撮影装置。
前記駆動制御手段によって前記フォーカス用光学部材の位置が調整されるとき、前記走査手段による新たな走査位置での断層画像の取得を一旦停止する撮影制御手段をさらに備えることを特徴とする請求項１〜４のいずれかの眼底撮影装置。
光源と、前記光源からの光を測定光として被検眼眼底に導くための測定光路と、前記光源からの光を参照光として導光するための参照光路と、被検眼眼底に照射された前記測定光と前記参照光との干渉を検出するための検出器と、を備える干渉光学系と、
前記測定光路に配置され、前記測定光を被検眼眼底上で走査するための走査手段と、
前記測定光路に配置され、対物レンズ系を少なくとも備え、被検眼の瞳位置に前記測定光の旋回点を形成すると共に、前記旋回点を中心に旋回される前記測定光を前記眼底に導く測定光学系と、
前記走査手段による前記眼底上の走査位置を設定する走査位置設定手段と、
前記測定光束の光路中に配置されたフォーカス用光学部材を移動させる駆動部と、
を備え、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に対応する被検眼眼底の断層画像を得る眼底撮影装置であって、
被検眼眼底の湾曲によるフォーカス位置の変化を考慮した前記フォーカス用光学部材の補正情報を、前記走査位置設定手段によって設定された走査位置に応じて取得する補正情報取得手段と、
前記補正情報取得手段によって取得された補正情報に基づいて前記駆動部の動作を制御し、前記フォーカス用光学部材の位置を調整する駆動制御手段を備えることを特徴とする眼底撮影装置。