JP5921639B2 - 光干渉断層撮影装置、光干渉断層撮影装置の制御方法およびプログラム - Google Patents
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Description
光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の断層画像を取得する取得手段と、
前記取得された断層画像における前記被検眼の部位と同一の部位の断層画像をデータベースから読み出す手段と、
前記取得された断層画像の輝度と前記読み出された断層画像の輝度との差分が閾値を超えるか否かを判断する手段と、
前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記差分が低減されるように調整する制御手段と、を備えることを特徴とする。
本実施形態で説明する装置は、いわゆるフーリエドメイン方式を用いた光干渉断層撮影装置(OCT装置)である。以下、本実施形態のOCT装置において、過去の断層像とほぼ同等の断層像を得るための制御方法について詳細に述べる。
次に、選択された過去の断層像と現在の断層像の網膜の傾きを合わせる手順について、図6に基づいて説明する。断層像比較部303は、入力された過去の断層像について、図5(a)のrで表わされる断層像上での網膜色素上皮(RPE)の角度を検出する(S201)。
次に、選択された過去の断層像と現在の断層像の網膜の明るさを合わせる手順について、図8に基づいて説明する。断層像比較部303は、入力された過去の断層像について、図7(a)で示される断層像上での網膜色素上皮(RPE)の輝度を検出する(S301)。
また、本実施形態ではファイバループ104a、104bのうち少なくともいずれか一方を駆動せしめることにより、断層像上での網膜の輝度を変化させているが、別の形態としては参照光の光量を変化させることで網膜の輝度を変化させる構成も可能である。例えば、図10に示されるような濃度勾配を持つ回転可能なNDフィルタ110を参照光路に配置し、駆動量算出部304は入力されたRPE輝度の差に基づいてNDフィルタ110の回転角度(すなわち、差分が低減される回転角度)を算出する(S304)。算出された回転角度は、光量制御部115へ出力され、光量制御部115は、NDフィルタ110を駆動する(S305)。
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施形態の機能を実現するソフトウェア(プログラム)を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU等)がプログラムを読み出して実行する処理である。
Claims (17)
- 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の断層画像を取得する取得手段と、
前記取得された断層画像における前記被検眼の部位と同一の部位の断層画像をデータベースから読み出す手段と、
前記取得された断層画像の輝度と前記読み出された断層画像の輝度との差分が閾値を超えるか否かを判断する手段と、
前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記差分が低減されるように調整する制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮影装置。 - 前記制御手段は、前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記取得された断層画像の輝度と前記読み出された断層画像の輝度とを合わせるように調整することにより、前記差分が低減されるように調整することを特徴とする請求項1に記載の光干渉断層撮影装置。
- 前記制御手段は、前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記取得された断層画像における前記被検眼の所定の部位の輝度と前記読み出された断層画像における前記被検眼の所定の部位の輝度との前記差分を低減するように調整することを特徴とする請求項1または2に記載の光干渉断層撮影装置。
- 前記取得された断層画像及び前記読み出された断層画像において、網膜色素上皮層の輝度または内境界膜の輝度を、前記所定の部位の輝度として検出する手段を更に備えることを特徴とする請求項3に記載の光干渉断層撮影装置。
- 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の現在の断層画像を取得する取得手段と、
前記現在の断層画像における前記被検眼の部位と同一の部位の過去の断層画像の輝度と前記現在の断層画像の輝度との差分が閾値を超えるか否かを判断する手段と、
前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記差分が低減されるように調整する制御手段と、
を備えることを特徴とする光干渉断層撮影装置。 - 前記制御手段は、前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記現在の断層画像の輝度と前記過去の断層画像の輝度とを合わせるように調整することにより、前記差分が低減されるように調整することを特徴とする請求項5に記載の光干渉断層撮影装置。
- 前記制御手段は、前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記現在の断層画像における前記被検眼の所定の部位の輝度と前記過去の断層画像における前記被検眼の所定の部位の輝度との前記差分を低減するように調整することを特徴とする請求項5または6に記載の光干渉断層撮影装置。
- 前記現在の断層画像及び前記過去の断層画像において、網膜色素上皮層の輝度または内境界膜の輝度を、前記所定の部位の輝度として検出する手段を更に備えることを特徴とする請求項7に記載の光干渉断層撮影装置。
- 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の断層画像を取得する取得工程と、
前記取得された断層画像における前記被検眼の部位と同一の部位の断層画像をデータベースから読み出す工程と、
前記取得された断層画像の輝度と前記読み出された断層画像の輝度との差分が閾値を超えるか否かを判断する工程と、
前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記差分が低減されるように調整する制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置の制御方法。 - 前記制御工程は、前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記取得された断層画像の輝度と前記読み出された断層画像の輝度とを合わせるように調整することにより、前記差分が低減されるように調整することを特徴とする請求項9に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
- 前記制御工程は、前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記取得された断層画像における前記被検眼の所定の部位の輝度と前記読み出された断層画像における前記被検眼の所定の部位の輝度との前記差分を低減するように調整することを特徴とする請求項9または10に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
- 前記取得された断層画像及び前記読み出された断層画像において、網膜色素上皮層の輝度または内境界膜の輝度を、前記所定の部位の輝度として検出する工程を更に有することを特徴とする請求項11に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
- 光源からの光を測定光と参照光とに分割し、該測定光を測定光路を介して被検眼に照射し、前記参照光を参照光路に導き、前記参照光と前記被検眼からの戻り光とが干渉した干渉光に基づく前記被検眼の現在の断層画像を取得する取得工程と、
前記現在の断層画像における前記被検眼の部位と同一の部位の過去の断層画像の輝度と前記現在の断層画像の輝度との差分が閾値を超えるか否かを判断する工程と、
前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記差分が低減されるように調整する制御工程と、
を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置の制御方法。 - 前記制御工程は、前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記現在の断層画像の輝度と前記過去の断層画像の輝度とを合わせるように調整することにより、前記差分が低減されるように調整することを特徴とする請求項13に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
- 前記制御工程は、前記差分が閾値を超えると判断された場合、前記現在の断層画像における前記被検眼の所定の部位の輝度と前記過去の断層画像における前記被検眼の所定の部位の輝度との前記差分を低減するように調整することを特徴とする請求項13または14に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
- 前記現在の断層画像及び前記過去の断層画像において、網膜色素上皮層の輝度または内境界膜の輝度を、前記所定の部位の輝度として検出する工程を更に有することを特徴とする請求項15に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法。
- コンピュータに、請求項9乃至15のいずれか1項に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法の各工程を実行させるためのプログラム。
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