JP5743380B2 - 光断層撮像装置および光断層撮像方法 - Google Patents

光断層撮像装置および光断層撮像方法 Download PDF

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Description

本発明は、光断層撮像装置および光断層撮像方法に関し、特に眼科診療等に用いられる光断層撮像装置および光断層撮像方法に関するものである。

光断層画像撮像装置は、多波長光波干渉を利用した光コヒーレンストモグラフィ(OCT:Optical Coherence Tomography)によって被検査物の断層像を高分解能に得ることができる装置である。
この装置は、眼科領域では網膜の断層像を得るために必要不可欠な装置になりつつある。以下、このようなOCTシステムによる光断層画像撮像装置を、OCT装置と記す。
上記OCT装置によると、低コヒーレント光である測定光を被検査物に照射し、その被検査物からの後方散乱光を、干渉計を用いることで高感度に測定することができる。また、測定光を被検査物上にスキャンすることで、断層像を高分解能に得ることができる。

近年、眼科用OCT装置は、従来のタイムドメイン(Time−domain)方式から、より高速な撮像が可能なフーリエドメイン(Fourier−domain)方式に移行しつつある。
この、フーリエドメイン方式には、干渉した光を分光するスペクトラルドメイン(Spectral−domain)方式と、波長掃引可能な光源を用いるスエプトソース(Swept source)方式とがある。
また、分解能においてもより高い分解能での撮像が試みられているが、眼球の動きによって画像のブレや欠落に、より大きな影響が与えられ、上記フーリエドメイン方式による高速な撮像でもその解決には不十分である。
眼科用機器では、この眼球運動による様々な影響を軽減するために、眼球の動き
を検出してその動きを追いかけるトラッキングが以前から行われている。

眼科用OCT装置においても、特許文献1では、トラッキング用ビームの反射を解析して眼球の動きを検出し、その動きにOCT用スキャニング・ビームを追従させるトラッキング・システムが提案されている。

一方、OCT装置は撮像や測定を行う装置であるため、画像や測定のデータを取得した後に、データの補正を行うことも可能である。
特許文献2においては、つぎのように補正を行うOCT装置が開示されている。すなわち、ここではタイムドメイン方式あるいはフーリエドメイン方式の第1のOCTで角膜表面の位置を測定し、同様の第2のOCTで眼軸長を測定して、眼球の動きによる第2のOCTでの眼軸長の測定誤差を、第1のOCTでの位置測定値で補正している。

特許第3976678号公報 国際公開2007/039267パンフレット

横分解能が高いOCT装置では焦点深度が浅くなるので、得られるOCTの断層画像(OCT像)には、眼球などの被検査物の動きによる画像のブレを軽減するため位置補正することが必要となる。
しかしながら、このような位置補正を行う方法を含め、上記した従来例におけるOCT装置では、横分解能が高い場合に、眼球などの被検査物の動きによる画像のブレを軽減させる上で、必ずしも十分ではなかった。

本発明は、上記課題に鑑み、横分解能が高いOCTシステムにより断層画像を撮像するに際し、被検査物の動きによる画像のブレをより一層軽減することが可能となる光断層撮像装置および光断層撮像方法を提供することを目的とする。

本発明は、つぎのように構成した光断層撮像装置および光断層撮像方法を提供するものである。
本発明の光断層撮像装置は、
光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮る光断層撮像装置であって、
第1の照射光と前記被検査物における該第1の照射光のスポット径よりも小さく且つ焦点深度が浅い第2の照射光とを、光軸に交差する方向における前記被検査物の異なる位置に照射する照射手段と、
前記第1の照射光に基づく前記被検査物の第1断層画像情報と、前記第2の照射に基づき且つ該第1断層画像情報より狭い範囲の前記被検査物の第2断層画像情報を取得する取得手段と、
前記第1断層画像情報を用いて前記第2断層画像情報の位置を補正する補正手段と、を有する。
また、本発明の光断層撮像方法は、
光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮る光断層撮像方法であって、
第1の照射光と前記被検査物における該第1の照射光のスポット径よりも小さく且つ焦点深度が浅い第2の照射光とを、光軸に交差する方向における前記被検査物の異なる位置に照射する工程と、
前記第1の照射光に基づく前記被検査物の第1断層画像情報と、前記第2の照射に基づき且つ該第1断層画像情報より狭い範囲の前記被検査物の第2断層画像情報を取得する工程と、
前記第1断層画像情報を用いて前記第2断層画像情報の位置を補正する工程と、を有する。

本発明によれば、横分解能が高いOCTシステムにより断層画像を撮像するに際し、被検査物の動きによる画像のブレをより一層軽減することが可能となる光断層撮像装置および光断層撮像方法を実現することができる。

本発明の実施例1におけるOCT装置の光学系の構成について説明する図である。 図2(a)は本発明の実施例1におけるOCT装置の出射光側の光路について説明する図、図2(b)はOCT装置の被検眼への測定光の入射を説明する図、図2(c)はOCT装置の合波された光の光路について説明する図である。 本発明の実施例1のOCT装置における画像形成装置でのスキャンのパターンについて説明する図である。 本発明の実施例1のOCT装置における画像形成装置での位置補正の手順フローについて説明する図である。 図5(a)は本発明の実施例1のOCT装置における画像形成装置でのスキャンのパターンについて説明する図、図5(b)は本発明の実施例1のOCT装置における画像形成装置でのAスキャン情報の位置決定について説明する図である。 図6(a)は本発明の実施例2のOCT装置における画像形成装置でのスキャンのパターンについて説明する図、図6(b)は本発明の実施例2のOCT装置における画像形成装置での位置補正の手順フローについて説明する図である。 図7(a)は本発明の実施例3におけるOCT装置の光学系の構成について説明する図、図7(b)は本発明の実施例3におけるOCT装置の出射光側光路について説明する図である。 図8(a)は本発明の実施例3のOCT装置における画像形成装置での位置補正の手順フローについて説明する図、図8(b)は本発明の実施例3のOCT装置における画像形成装置でのスキャンのパターンについて説明する図である。

本発明の実施形態における光断層撮像装置および光断層撮像方法の構成例を、以下の実施例により説明する。

以下に、本発明の実施例について説明する。
[実施例1]
実施例1においては、本発明を適用した、OCTシステムによる光断層画像撮像装置について説明する。
ここでは、特に、被検査物を被検眼とした光断層画像撮像装置について説明する。
まず、本実施例における光断層画像撮像装置の光学系の全体の概略構成を、図1を用いて説明する。
なお、図1で被検眼107の向きは、図中の座標軸XYZの+Y側が上、−Y側が下になっている。

本実施例のOCTシステムによる光断層画像撮像装置100(以下これをOCT装置100と記す)は、フーリエドメイン方式のうち、干渉した光を分光するスペクトラルドメイン方式のOCT装置が用いられる。
また、本実施例のOCT装置100は、図1に示されるように、全体としてマイケルソン干渉計を構成している。
図中、光源101から出射した光がビームスプリッタ103によって参照光105と測定光106とに分割される。
測定光106は、観察対象である被検眼107によって反射あるいは散乱された戻り光108となって戻され、ビームスプリッタ103によって、参照光105と合波される。
参照光105と戻り光108とは合波された後、透過型グレーティング141によって波長毎に分光され、ラインカメラ139に入射される。
ラインカメラ139は各位置(波長)毎に光強度を電圧に変換し、その信号を用いて、被検眼107の断層像が構成される。

つぎに、光源101の周辺について説明する。
光源101は代表的な低コヒーレント光源であるSLD(Super Lumi
nescent Diode)である。波長は830nm、バンド幅50nmである。
ここで、バンド幅は、得られる断層像の光軸方向の分解能に影響するため、重要なパラメーターである。
また、光源の種類は、ここではSLDを選択したが、低コヒーレント光が出射できればよく、ASE(Amplified Spontaneous Emission)等も用いることができる。
また、波長は眼を測定することを鑑みると、近赤外光が適する。さらに波長は、得られる断層像の横方向の分解能に影響するため、なるべく短波長であることが望ましく、ここでは830nmとする。
観察対象の測定部位によっては、他の波長を選んでも良い。光源101から出射された光は2本のシングルモードファイバー110を通して、レンズ111に導かれる。
図2(a)は、この2本のシングルモードファイバー110−a、110−bの出射光側の光路をXY面について示したものである。
2本のシングルモードファイバー110−a、110−bから出射した光は、レンズ111−a、111−bによって、小ビーム径(ビーム径1mm)の第1ビームと、大ビーム径(ビーム径4mm)の第2ビームとの平行光になるように調整される。そして、これらがビームスプリッタ103に向かう。

つぎに、参照光105の光路について説明する。
ビームスプリッタ103によって分割された参照光105はミラー114−2に入射されて方向を変え、レンズ135−1によりミラー114−1に集光され、反射されることで、再びビームスプリッタ103に向かう。
次に、参照光105はビームスプリッタ103を通過し、ラインカメラ139に導かれる。
ここで、115は分散補償用ガラスである。分散補償用ガラス115は被検眼107に測定光106が往復した時の分散を、参照光105に対して補償するものである。
ここでは、日本人の平均的な眼球の直径として代表的な値を想定し、L1=23mmとする。さらに、117−1は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、参照光105の光路長を、調整・制御することができる。

つぎに、測定光106の光路について説明する。
ビームスプリッタ103によって分割された測定光106は、XYスキャナ119のミラーに入射される。
ここでは、簡単のため、XYスキャナ119は一つのミラーとして記したが、実際にはXスキャン用ミラーとYスキャン用ミラーとの2枚のミラーが近接して配置され、網膜127上を光軸に垂直な方向にラスタースキャンするものである。図2(a)に示すように、2本のシングルモードファイバー110−a、110−bから出射した光がそれぞれ測定光106−a、106−bとなっている。
また、測定光106の中心はXYスキャナ119のミラーの回転中心Oと一致するように調整されている。
レンズ120−1、120−2は網膜127を走査するための光学系で等倍になっており、測定光106を角膜126の付近を支点として、網膜127をスキャンする役割がある。
また、117−2は電動ステージであり、矢印で図示している方向に移動することができ、付随するレンズ120−2の位置を、調整・制御することができる。レンズ120−2の位置を調整することで、被検眼107の網膜127の所望の層に測定光106を集光し、観察することが可能になる。
また、被検眼107が屈折異常を有している場合にも対応できる。

図2(b)は被検眼107への測定光の入射を説明する図である。
2本のシングルモードファイバー110−a、110−bから出射された光は、図2(b)に示すように、次式(1)に従って、それぞれスポット径がd1、d2として網膜に集光する。

d=4λ・f/(π・ω) (1)

ここで、dはスポット径、λは波長で本実施例では830nm、fは被検眼107の焦点距離である。
また、ωはレンズ120−1に入射する際のビーム径で、本実施例では2本のシングルモードファイバー110−a、110−bから出射された光による測定光106−a、106−bそれぞれのビーム径は1mm、4mmとされている。
そして、スポット径dは、(1)式よりビーム径ωに反比例する。したがって、ビーム径が1mmの測定光106−aのスポット径d1は大スポット径となり、ビーム径が4mmの測定光106−bのスポット径d2は小スポット径となる。本実施例ではスポット径d1、d2は、被検眼107の焦点距離やレンズ120−2の位置によって多少異なるが、それぞれおよそ20μm、5μmとなる。
測定光106は被検眼107に入射すると、網膜127からの反射や散乱により戻り光108となり、ビームスプリッタ103で反射され、ラインカメラ139に導かれる。ここで、電動ステージ117−2はパソコン125により制御することができるようになっている。

つぎに、本実施例のOCT装置における測定系の構成について説明する。
OCT装置100は、マイケルソン干渉計による干渉信号の強度から構成される断層像(OCT像)を取得することができる。
その測定系について説明すると、網膜127にて反射や散乱された光である戻り光108は、ビームスプリッタ103で反射される。
ここで、参照光105と戻り光108とはビームスプリッタ103の後方で合波されるように調整される。
そして、合波された光142は、レンズ143−1、143−2を通って透過型グレーティング141に入る。
そして、透過型グレーティング141によって波長毎に分光された後、レンズ135−2で集光され、ラインカメラ139にて光の強度が各位置(波長)毎に電圧に変換される。

図2(c)は、合波された光142がラインカメラ139に到るyz面内の光路を示したものである。
本実施例では、ラインカメラ139はセンサ部が複数本あるタイプを用い、そのうちの2本のセンサ139−a、139−bを使用している。
そして、2本のシングルモードファイバー110−a、110−bから出射された光による合波された光142を、それぞれ142−a、142−bとする。
これらの光は共通のレンズ143−1、143−2を通って再び平行光となり、透過型グレーティング141によって波長毎に分光される。
その後、それぞれレンズ135−2−a、135−2−bによって集光して、ラインカメラ139の別のセンサ139−a、139−bでそれぞれ受光される。具体的には、ラインカメラ139上には波長軸上のスペクトル領域の干渉縞が観察されることになる。

なお、スポット径d1(大スポット径、ここでは20μm)、d2(小スポット径、ここでは5μm)の照射ビームの焦点深度DOFは、次式(2)に従い、さらに屈折率を考慮すると、それぞれおよそ1mm、60μmとなる。

DOF=π・d2/(2λ) (2)

得られた電圧信号群はフレームグラバー140にてデジタル値に変換されて、パソコン125にてデータ処理を行い断層像を形成する。
ここでは、ラインカメラ139のセンサ139−a、139−bは1024画素を有し、合波された光142の波長毎(1024分割)の強度を得ることができる。

つぎに、本実施例におけるOCTシステムにおける断層像を取得する手段(画像情報取得手段)について説明する。
OCT装置100は、XYスキャナ119を制御する制御手段を備え(不図示)
、該制御手段を制御し、ラインカメラ139で干渉縞を取得することによって、網膜127の断層像を取得することができる(図1)。
測定光106は角膜126を通して、網膜127に入射すると様々な位置における反射や散乱により戻り光108となり、それぞれの位置での時間遅延を伴って、ラインカメラ139に到達する。
ここでは、光源101のバンド幅が広く、空間コヒーレンス長が短いために、参照光路の光路長と測定光路の光路長とが略等しい場合に、ラインカメラ139にて、干渉縞が検出できる。
上述のように、ラインカメラ139で取得されるのは波長軸上のスペクトル領域の干渉縞となる。次に、波長軸上の情報である該干渉縞を、ラインカメラ139と透過型グレーティング141との特性を考慮して、光周波数軸の干渉縞に変換する。
さらに、変換された光周波数軸の干渉縞を逆フーリエ変換することで、深さ方向の情報(いわゆるAスキャン情報)が得られる。
そして、XYスキャナ119のX軸を駆動しながら該干渉縞を検知すれば、各X軸の位置毎に干渉縞が得られ、つまり、各X軸の位置毎の深さ方向の情報(いわゆるBスキャン情報)を得ることができる。
結果として、XZ面での戻り光108の強度の2次元分布が得られ、それはすなわち断層像である。

つぎに、本実施例における断層像情報の位置補正について説明する。
図3は照射ビームのスキャンのパターンを示したものである。
本実施例では図3に示すように、網膜上に照射するスポット径d1(大スポット径、ここでは20μm)をもつ第1の照射ビーム161−aと、d2(小スポット径、ここでは5μm)をもつ第2の照射ビーム161−bとが、200μm程度離れている。
このように、第1の照射ビームと第2の照射ビームとを、XYスキャナ119によるスキャンを制御する手段を介して被検査物上に近接して照射することが可能に構成されている。
OCT装置100はXYスキャナ119を制御して、これらの第1、第2の照射ビーム161−a、161−bが、図3の矢印の方向にラスタースキャンし、スキャン範囲162−a、162−b内をスキャンするように駆動する。
このとき測定光106a、106bは共通のXYスキャナ119のミラーで反射するため、第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−bは同期してスキャンする。

図4に位置補正の手順フローを示す。
先ず、ステップS1で、図3に示すように1ラインでY方向におよそ10μmのピッチになるようにスキャンする。
そして、スキャン範囲162−a、162−b全体のスキャンが終了した後、スキャン範囲162−a、162−bのスキャン開始位置に戻るようにXYスキャナ119を制御する。
そして、再びスキャン範囲162−a、162−b全体のスキャンを行い、これを繰り返して合計10回のスキャンを行う。
次に、ステップS2で、上記ステップS1での第1の照射ビーム161−aによるスキャン範囲162−aのXY面内(横方向)各位置における深さ方向の情報を求める。
ここでは、このような各Aスキャン情報の各画素について、10回分の平均値を求める。
そして、平均値から標準偏差以上離れたデータは除き、標準偏差内のデータのみで再び平均値を求める。
なお、標準偏差以上離れたデータは、被検眼107が大きく動いたか瞬きをしたものと考えられる。
スキャン範囲162−aにおける、この平均値を用いた横方向(XY面内)における深さ方向(Z方向)の情報全体を位置補正の基準の画像(基準画像情報)とする。
このように、本実施例では予め基準画像情報を得ておき、これをパソコン125に記憶させる。

図5(a)に、ステップS3での照射ビームのスキャンのパターンを示す。
ステップS3では、今度は1ラインでY方向におよそ2.5μmのピッチになるようにスキャンし、スキャン範囲162−a、162−b全体のスキャンを行う。
次に、ステップS4で、電動ステージ117−2を移動、すなわちレンズ120−2を移動して網膜の50μm程度深い位置に測定光106を集光させる。
ステップS5では、所望の深さでのスキャンが終了したかどうかを判断し、これらのステップS3、S4を所望の深さでのスキャンが終了するまで繰り返す。
このスキャンの間に、通常、被検眼107が動くために、得られた画像情報を単純に並べると歪んだ画像になる。
そのため、ステップS6では、ステップS3で得られた画像情報のうち、第1の照射ビーム161−aによる各Aスキャン情報(第1画像情報)の、XYZ座標におけるZ方向に当たる深さ方向と、XY方向に当たる横方向の位置を決定する。

図5(b)は、1つのAスキャン情報の横方向と深さ方向の位置を決定する方法を概念的に示したものである。
163は、第1の照射ビーム161−aによるAスキャン情報164と対応する第2の照射ビーム161−bによるAスキャン情報165の一例を示したものである。
164と165は、それぞれ深さ方向の光強度を解析した結果を濃淡で示し、光強度が大きいほど濃い表示になっている。
Lは、第1の照射ビーム161−aによるAスキャン位置と、対応する第2の照射ビーム161−bによるAスキャン位置との相対距離を示し、本実施例ではおよそ200μmである。
166は、基準画像情報を表し、ステップS2で求めた基準画像情報のうち、代表的にX方向5個のAスキャン、Y方向13個のAスキャンの情報を立方体として並べたものである。網膜の湾曲は考慮せず、平坦であるとして表示している。
また、1ラインのスキャンがX軸方向に平行であるとしている。
167は代表的にそのうちの1つのAスキャン情報を表し、深さ方向の光強度を解析した結果を濃淡で示している。その他のAスキャン情報では、167のような深さ方向の光強度の表示は省略してある。
第1の照射ビーム161−aによる各Aスキャン情報(第1画像情報)の横方向と深さ方向の位置を決定するためには、第1の照射ビーム161−aによる画像情報をステップS2で求めた基準画像情報と比較する。
具体的には、ステップS3で得られた1つのAスキャン情報164の光強度パターン(濃淡のパターン)を、基準画像情報166のすべての光強度パターンとの間で相関関数を用いたパターンマッチングを行う。
そして、Aスキャン情報164と最も一致するAスキャン情報を求める。
この際に、深さ方向にもパターンマッチングを行い、XYZ座標で最も一致する位置を求め、Aスキャン164の位置を特定する。
図5(b)では、Aスキャン情報164のP部がAスキャン情報167のQ部と一致していることから、位置が特定できる。これをすべてのAスキャン情報について行う。

次に、ステップS7では、ステップS6での第1の照射ビーム161−aによるAスキャン情報の位置決定結果を基に、第2の照射ビーム161−bによるAスキャン情報(第2画像情報)の位置の補正を行う。
第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−bは同期してスキャンし、それらの相対的な位置関係は常に一定である。
したがって、第1の照射ビーム161−aによるAスキャン情報(第1画像情報)の位置の決定ができると、それに合わせて対応する第2の照射ビーム161−bによるAスキャン情報(第2画像情報)の位置を合わせれば良い。
これを、第2の照射ビーム161−bによるすべてのAスキャン情報について行う。

ところで、ステップS7では、第2の照射ビーム161−bによるAスキャン
情報の位置を合わせるのに、第1の照射ビーム161−aによる情報、すなわちスポット径が大きく、横分解能が低い情報を基にしている。
したがって、決定される位置の横分解能が低いことになる。
そこで、第2の照射ビーム161−bによる対応するAスキャン情報の詳細位置を決定するには以下のように行う。
まず、ステップS6での第1の照射ビーム161−aによる1つのAスキャン情報の位置決定の際に、横方向(XY方向)の動きが無く、スキャンの位置と情報の位置とが合致する場合には、つぎのように詳細位置を決定する。
すなわち、上記ステップS7の補正で、第2の照射ビーム161−bによる対応するAスキャン情報の位置をスキャンの順に並べて詳細位置とする。
そして、横方向(XY方向)の動きがあって、スキャンの位置と情報の位置とが合致しない場合は、通常同じ位置に第2の照射ビーム161−bによる複数のAスキャン情報が割り当てられることになる。
それらの詳細位置は、ステップS8で、隣同士のAスキャン情報がより近いものになるように決める。
具体的には、その複数のAスキャン情報の詳細位置の組み合わせの1つに対して、隣同志のAスキャン情報の光強度パターンとの間での相関関数の和を求める。そして、すべての組み合わせに対してその和を求め、その値が最も高い組み合わせを、隣同士の情報がより近いものとして採用する。

以上のように断層像情報の位置補正を行うことにより、被検眼107の動きによる歪んだ画像を補正する。
これにより、横分解能が高いフーリエドメイン方式のOCT装置においても、複雑なトラッキング・システムを使用せずに、眼球の動きによる画像のブレを容易に、より軽減することができる。
特に、本実施例では、深さ方向横方向との両方に対して容易に画像のブレを軽減することができる。

[実施例2]
本実施例のOCT装置100は実施例1と同様であり、図1の光学系全体の概略構成はそのまま適用できる。
但し、本実施例では、図1での被検眼107の向きは、図中の座標軸XYZの−X側が上、+X側が下になっている。
つぎに、本実施例での断層像情報の位置補正について説明する。
図6(a)は本実施例での照射ビームによるスキャンのパターンを示す。
網膜上に照射するスポット径d1(大スポット径、ここでは20μm)をもつ第1の照射ビーム161−aと、d2(小スポット径、ここでは5μm)をもつ第2の照射ビーム161−bとが、スキャン方向に25μm程度離れている。
本実施例のOCT装置100はXYスキャナ119を制御して、これらの第1、第2の照射ビーム161−a、161−bが、図6(a)の矢印の方向にラスタースキャンし、略スキャン範囲162内をスキャンするように駆動する。
このとき、測定光106a、106bは共通のXYスキャナ119のミラーで反射するため、第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−bは同期してスキャンする。

図6(b)に位置補正の手順フローを示す。
本実施例では、位置合わせの際に基準となる基準画像情報は実施例1と同様に事前に得られていて、パソコン125に記憶されている。
そして、被検眼の固視方向を変えるための、図示しない内部固視灯の表示位置、スキャナのスキャン位置も記憶されている。
この記憶された内部固視灯の表示位置に内部固視灯を表示した上で、先ず、ステップS11で図6(a)に示すように、1ラインでY方向におよそ2.5μmのピッチになるようにスキャンする。
そして、記憶されたスキャン位置のスキャン範囲162全体のスキャンが終了したら、スキャン範囲162のスキャン開始位置に戻るようにXYスキャナ119を制御する。
次に、ステップS12で、電動ステージ117−2を移動、すなわちレンズ120−2を移動して網膜の50μm程度深い位置に測定光106を集光させる。
ステップS13では、所望の深さでのスキャンが終了したかどうかを判断し、これらのステップS11、S12を所望の深さでのスキャンが終了するまで繰り返す。

ステップS14で、パソコン125に保存されていた基準画像情報を読み込み、ステップS15では、ステップS11で得られた画像情報のうち、第1の照射ビーム161−aによる各Aスキャン情報の横方向と深さ方向の位置を決定する。
実施例1と同様に、第1の照射ビーム161−aによる画像情報をステップS14で読み込んだ基準画像情報と比較する。
具体的には、ステップS11で得られた1つのAスキャンの光強度パターン(濃淡のパターン)を、基準画像情報の光強度パターンとの間で相関関数を用いたパターンマッチングを行い、基準画像情報の中で最も一致するAスキャン情報を求める。
この際に、深さ方向にもパターンマッチングを行い、横方向、深さ方向で最も一致する位置を求め、1つのAスキャンの位置を特定する。これをすべてのAスキャン情報について行う。
次に、ステップS16では、ステップS14での第1の照射ビーム161−aによるAスキャン情報の位置決定結果を基に、第2の照射ビーム161−bによるAスキャン情報の位置の補正を行う。
実施例1と同様に、第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−bは同期してスキャンし、それらの相対的な位置関係は常に一定である。
したがって、第1の照射ビーム161−aによるAスキャン情報の位置の決定ができると、それに合わせて対応する第2の照射ビーム161−bによるAスキャン情報の位置を合わせれば良い。
これを、第2の照射ビーム161−bによるすべてのAスキャン情報について行う。

ここで、実施例1と同様に、ステップS15での第1の照射ビーム161−a
による1つのAスキャン情報の位置決定の際に、横方向(XY方向)の動きが無く、スキャンの位置と情報の位置とが合致する場合は、つぎのように詳細位置を決定する。
すなわち、上記ステップS16の補正で、第2の照射ビーム161−bによる対応するAスキャン情報の位置をスキャンの順に並べて詳細位置とする。
そして、横方向(XY方向)の動きがあって、スキャンの位置と情報の位置とが合致しない場合は、通常同じ位置に第2の照射ビーム161−bによる複数のAスキャン情報が割り当てられることになる。
それらの詳細位置は、ステップS17で、隣同士のAスキャン情報がより近いものになるように決める。
具体的には、その複数のAスキャン情報の詳細位置の組み合わせの1つに対して、隣同志のAスキャン情報の光強度パターンとの間での相関関数の和を求める。そして、すべての組み合わせに対してその和を求め、その値が最も高い組み合わせを、隣同士の情報がより近いものとして採用する。

以上のように断層像情報の位置補正を行うことにより、被検眼107の動きによる歪んだ画像を補正する。
これにより、横分解能が高いフーリエドメイン方式のOCT装置においても、複雑なトラッキング・システムを使用せずに、眼球の動きによる画像のブレを容易に、より軽減することができる。
本実施例でも、深さ方向と横方向との両方に対して容易に画像のブレを軽減することができる。

本実施例では、第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−bとが近接して照射している。そのため、眼底の湾曲による、被検眼107のZ方向の動きに対する2つの照射ビームの相対的な位置ずれの差が少ないので、2つの照射ビームが離れている場合よりさらに正確に、歪んだ画像を補正することができる。
また、本実施例では、第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−
bとの2つのビームによるクロス・トークを低減させるために、照射位置を一致させずに近接させている。
しかし、異なる波長の2つのビームを用いて波長分離すれば、照射位置を一致させることもできる。
また、本実施例では、位置合わせの際に基準となる基準画像情報として事前に得られているものを用いるので、撮像時間が短くなり、被検者への負担が少なくなる。
なお、本実施例では基準画像情報は実施例1の方法で事前に得られているとしているが、別のOCT装置を用いて事前に基準画像情報を構成してパソコン125に記憶しても良い。
また、本実施例では、基準画像情報を保存している範囲とスキャン範囲とを一致させる場合について説明したが、スキャン範囲を基準画像情報の保存範囲の一部としても良い。
あるいは、基準画像情報を取得する範囲が充分に広ければ、内部固視灯を特定の位置に表示する必要はなく、任意の位置をスキャン範囲として断層像情報を取得しても良い。

[実施例3]
つぎに、実施例3におけるOCT装置100の構成例について説明する。
図7(a)に示すように、パソコン125が光源101に接続され、そのオン・オフがパソコン125から制御できるようになっている。
その他の構成は実施例1と同様なので説明は省略する。
但し、本実施例では、図7(a)での被検眼107の向きは、実施例2と同様に図中の座標軸XYZの−X側が上、+X側が下になっている。
図7(b)は、図2と同様に2本のシングルモードファイバー110−a、110−bの出射光側の光路をXY面について示したものである。
本実施例では光源が2個あり、2個の光源101−a、101−bがそれぞれのファイバーに対応している。
2本のシングルモードファイバー110−a、110−bから出射した光は、レ
ンズ111−a、111−bによってそれぞれビーム径1mm、4mmの平行光になるように調整され、ビームスプリッタ103に向かう。

つぎに、本実施例での断層像情報の位置補正について説明する。
実施例2と同様に、本実施例では図6(a)に示すように、第1の照射ビームと第2の照射ビームとが、つぎのように離れている。
すなわち、網膜上に照射するスポット径d1(大スポット径、ここでは20μm)をもつ第1の照射ビーム161−aと、d2(小スポット径、ここでは5μm)をもつ第2の照射ビーム161−bとが、スキャン方向に25μm程度離れている。
OCT装置100はXYスキャナ119を制御して、これらの第1、第2の照射ビーム161−a、161−bが、図6(a)の矢印の方向にラスタースキャンし、略スキャン範囲162内をスキャンするように駆動する。
このとき測定光106a、106bは共通のXYスキャナ119のミラーで反射するため、第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−bは同期してスキャンする。

図8(a)に位置補正の手順フローを示す。
先ず、ステップS21で、光源101−aのみをオンにする。
図8(b)は本実施例での照射ビームのスキャンのパターンを示す。
ステップS22で、光源101−aによる第1の照射ビーム161−aが1ラインでY方向におよそ10μmのピッチになるようにスキャンする。
スキャン範囲162全体のスキャンが終了したら、スキャン範囲162のスキャン開始位置に戻るようにXYスキャナ119を制御する。
そして、再びスキャン範囲162全体のスキャンを行い、これを繰り返して合計10回のスキャンを行う。

次に、ステップS23で、上記ステップS22の第1の照射ビーム161−aによるスキャン範囲162でのXY面内(横方向)各位置における情報、すなわ
ち各Aスキャン情報の各画素について10回分の平均値を求める。
そして、平均値から標準偏差以上離れたデータは除き、標準偏差内のデータのみで再び平均値を求める。なお、標準偏差以上離れたデータは、被検眼107が大きく動いたか瞬きをしたものと考えられる。スキャン範囲162における、この平均値を用いた横方向(XY面内)、深さ方向(Z方向)の情報全体を位置補正の基準の画像(基準画像情報)として用いる。
そして、ステップS24では、光源101−bもオンにする。

次に、ステップS25では、図6(a)に示すように今度は第1、第2の照射ビーム161−a、161−b両方を1ラインでY方向におよそ2.5μmのピッチになるようにスキャンし、スキャン範囲162全体のスキャンを行う。
さらに、ステップS26で、電動ステージ117−2を移動、すなわちレンズ120−2を移動して網膜の50μm程度深い位置に測定光106を集光させる。ステップS27では、所望の深さでのスキャンが終了したかどうかを判断し、これらのステップS25、S26を所望の深さでのスキャンが終了するまで繰り返す。
ステップS28では、ステップS25で得られた画像情報のうち、第1の照射ビーム161−aによる各Aスキャン情報の深さ方向の位置を決定する。
本実施例のOCT装置には図示しない横方向トラッキング・システムが備えられており、XY面内(横方向)の被検眼107の動きに対してOCT用スキャニング・ビームを追従できるようになっている。
そのため、実施例1、2と異なり、深さ方向のみの位置を決定するが、方法は実施例1、2と同様に、第1の照射ビーム161−aによる画像情報をステップS23で求めた基準画像情報と比較する。
具体的には、ステップS25で得られた1つのAスキャンの光強度パターン(濃淡のパターン)を、対応する位置の基準画像情報の光強度パターンとの間で相関関数を用いて深さ方向にパターンマッチングを行う。
そして、深さ方向で最も一致する位置を求め、1つのAスキャンの深さ方向の位置を特定する。これをすべてのAスキャン情報について行う。

次に、ステップS29では、ステップS28での第1の照射ビーム161−aによるAスキャン情報の深さ方向の位置決定結果を基に、第2の照射ビーム161−bによるAスキャン情報の位置の補正を行う。
第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−bは同期してスキャンし、それらの相対的な位置関係は常に一定である。
したがって、第1の照射ビーム161−aによるAスキャン情報の位置の決定ができると、それに合わせて対応する第2の照射ビーム161−bによるAスキャン情報の位置を合わせれば良い。
これを、第2の照射ビーム161−bによるすべてのAスキャン情報について行う。
ここで、本実施例では、横方向(XY方向)の動きに対しては横方向トラッキング・システムで追従できるので、第2の照射ビーム161−bによる対応するAスキャン情報の位置をスキャンの順に並べれば詳細位置を決定したことになる。以上のように断層像情報の位置補正を行うことにより、被検眼107の動きによる歪んだ画像を補正する。
これにより、横分解能が高いフーリエドメイン方式のOCT装置においても、深さ方向の複雑なトラッキング・システムを使用せずに、眼球の動きによる画像のブレを容易に、より軽減することができる。
本実施例では、光源101のオン・オフをパソコン125から制御し、必要時にオンにするので、被検眼107に不必要な照射をせず、被検者への負担を減らすことができる。
なお、本実施例では、光源101のオン・オフを制御しているが、光源101の光量を制御しても良い。

以上の各実施例では、網膜用のOCT装置について説明したが、本発明は、それ以外にも前眼部、皮膚、内視鏡やカテーテルでの観察を始めとする生体観察用などの動きのある被検査物用のOCT装置に適用することができる。
また、以上の各実施例では、フーリエドメイン方式のOCT装置のうち、干渉し
た光を分光するスペクトラルドメイン方式について説明したが、波長掃引可能な光源を用いるスエプトソース方式のOCT装置にも適用できる。
なお、以上の各実施例では、第1の照射ビーム161−aと第2の照射ビーム161−bのスキャン範囲が別々である場合と一致する場合について説明したが、一部が重なる走査範囲でも良い。
さらに、以上の各実施例では、第1の照射ビーム161−aによる深さ方向情報を常に取得しているが、第2の照射ビーム161−bとの横分解能の違いを考慮して、情報取得を間欠に行ったり、照射を間欠に行っても良い。
また、以上の各実施例では、2つのAスキャン情報の類似性を求めるのに相関関数を用いたが、他の様々な評価関数を用いても良い。

100:OCT装置
101:光源
103:ビームスプリッタ
105:参照光
106:測定光
107:被検眼
108:戻り光
110:シングルモードファイバー
111、120、135、143:レンズ
114:ミラー
115:分散補償用ガラス
117:電動ステージ
119:XYスキャナ
125:パソコン
126:角膜
127:網膜
139:ラインカメラ
140:フレームグラバー
141:透過型グレーティング
142:合波された光
161:照射ビーム
162:スキャン範囲
d1、d2:スポット径

Claims (24)

  1. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮る光断層撮像装置であって、
    第1の照射光と前記被検査物における該第1の照射光のスポット径よりも小さく且つ焦点深度が浅い第2の照射光とを、光軸に交差する方向における前記被検査物の異なる位置に照射する照射手段と、
    前記第1の照射光に基づく前記被検査物の第1断層画像情報と、前記第2の照射光に基づき且つ該第1断層画像情報より狭い範囲の前記被検査物の第2断層画像情報とを取得する取得手段と、
    前記第1断層画像情報を用いて前記第2断層画像情報の位置を補正する補正手段と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置。
  2. 前記照射手段は、前記第1の照射光と前記第2の照射光とを前記異なる位置に同時に照射し、
    前記補正手段は、基準画像情報と前記第1断層画像情報との位置関係に基づいて、前記第2断層画像情報の位置を補正することを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。
  3. 前記補正手段は、基準画像情報に基づいて前記第1断層画像情報の位置を特定し、前記特定された位置に基づいて前記第2断層画像情報の位置を補正することを特徴とする請求項1または2に記載の光断層撮像装置。
  4. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮る光断層撮像装置であって、
    第1の照射光に基づく前記被検査物の第1断層画像情報と、前記被検査物における該第1の照射光のスポット径よりも小さく且つ焦点深度が浅い第2の照射光に基づき且つ該第1断層画像情報より狭い範囲の前記被検査物の第2断層画像情報とを取得する取得手段と、
    基準画像情報に基づいて前記第1断層画像情報の位置を特定し、前記特定された位置に基づいて前記第2断層画像情報の位置を補正する補正手段と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置。
  5. 前記基準画像情報が、前記第1の照射光を前記被検査物においてスキャンして得られた画像情報であることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
  6. 前記補正手段は、前記第1断層画像情報における互いの位置関係により前記第2断層画像情報の位置を補正することを特徴とする請求項1に記載の光断層撮像装置。
  7. 前記被検査物において前記第1及び第2の照射光を同期してスキャンする手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
  8. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮る光断層撮像装置であって、
    前記被検査物において、第1の照射光と前記被検査物における該第1の照射光のスポット径よりも小さく且つ焦点深度が浅い第2の照射光とを、同期してスキャンする手段と、
    前記第1の照射光に基づく前記被検査物の第1断層画像情報と、前記第2の照射光に基づき且つ該第1断層画像情報より狭い範囲の前記被検査物の第2断層画像情報とを取得する取得手段と、
    前記第1断層画像情報を用いて前記第2断層画像情報の位置を補正する補正手段と、
    を有することを特徴とする光断層撮像装置。
  9. 前記第1及び第2断層画像情報の位置関係は、前記スキャンする手段により前記同期してスキャンすることで保たれる距離であることを特徴とする請求項7または8に記載の光断層撮像装置。
  10. 前記スキャンする手段は、前記第1及び第2の照射光を、該スキャンを制御する手段を介して前記被検査物上に近接して照射することを特徴とする請求項7乃至9のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
  11. 前記第2断層画像情報の位置の補正は、XYZ座標におけるZ方向に当たる深さ方向と、XY方向に当たる横方向と、に対する補正であることを特徴とする請求項1乃至10のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
  12. 前記第1断層画像情報は、複数のAスキャン情報から成り、
    前記複数のAスキャン情報の位置を特定することを特徴とする請求項1乃至11のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
  13. 前記第1断層画像情報による画像の横分解能が、前記第2断層画像情報による画像の横分解能よりも低いことを特徴とする請求項1乃至12のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
  14. 前記被検査物は被検眼の網膜であり、
    前記被検眼の角膜の付近を支点として、前記網膜において前記第1の照射光と前記第2の照射光とをスキャンする手段を更に有することを特徴とする請求項1乃至6のいずれか1項に記載の光断層撮像装置。
  15. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮る光断層撮像方法であって、
    第1の照射光と前記被検査物における該第1の照射光のスポット径よりも小さく且つ焦点深度が浅い第2の照射光とを、光軸に交差する方向における前記被検査物の異なる位置に照射する工程と、
    前記第1の照射光に基づく前記被検査物の第1断層画像情報と、前記第2の照射光に基づき且つ該第1断層画像情報より狭い範囲の前記被検査物の第2断層画像情報とを取得する工程と、
    前記第1断層画像情報を用いて前記第2断層画像情報の位置を補正する工程と、
    を有することを特徴とする光断層撮像方法。
  16. 前記照射する工程において、前記第1の照射光と前記第2の照射光とを前記異なる位置に同時に照射し、
    前記補正する工程において、基準画像情報と前記第1断層画像情報との位置関係に基づいて、前記第2断層画像情報の位置を補正することを特徴とする請求項15に記載の光断層撮像方法。
  17. 前記補正する工程において、基準画像情報に基づいて前記第1断層画像情報の位置を特定し、前記特定された位置に基づいて前記第2断層画像情報の位置を補正することを特徴とする請求項15または16に記載の光断層撮像方法。
  18. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮る光断層撮像方法であって、
    第1の照射光に基づく前記被検査物の第1断層画像情報と、前記被検査物における該第1の照射光のスポット径よりも小さく且つ焦点深度が浅い第2の照射光に基づき且つ該第1断層画像情報より狭い範囲の前記被検査物の第2断層画像情報とを取得する工程と、
    基準画像情報に基づいて前記第1断層画像情報の位置を特定し、前記特定された位置に基づいて前記第2断層画像情報の位置を補正する工程と、
    を有することを特徴とする光断層撮像方法。
  19. 前記基準画像情報が、前記第1の照射光を前記被検査物上においてスキャンして得られた画像情報であることを特徴とする請求項1乃至18のいずれか1項に記載の光断層撮像方法。
  20. 前記補正する工程において、前記第1断層画像情報における互いの位置関係により前記第2断層画像情報の位置を補正することを特徴とする請求項15に記載の光断層撮像方法。
  21. 前記被検査物において前記第1及び第2の照射光を同期してスキャンする工程を更に有することを特徴とする請求項15乃至20のいずれか1項に記載の光断層撮像方法。
  22. 光干渉断層法を用いて被検査物の断層画像を撮る光断層撮像方法であって、
    前記被検査物において、第1の照射光と前記被検査物における該第1の照射光のスポット径よりも小さく且つ焦点深度が浅い第2の照射光とを、同期してスキャンする工程と、
    前記第1の照射光に基づく前記被検査物の第1断層画像情報と、前記第2の照射光に基づき且つ該第1断層画像情報より狭い範囲の前記被検査物の第2断層画像情報とを取得する工程と、
    前記第1断層画像情報を用いて前記第2断層画像情報の位置を補正する工程と、
    を有することを特徴とする光断層撮像方法。
  23. 前記被検査物は被検眼の網膜であり、
    前記被検眼の角膜の付近を支点として、前記網膜において前記第1の照射光と前記第2の照射光とをスキャンする工程を更に有することを特徴とする請求項15乃至20のいずれか1項に記載の光断層撮像方法。
  24. 請求項15乃至23のいずれか1項に記載の光断層撮像方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。
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Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5743411B2 (ja) 2009-05-08 2015-07-01 キヤノン株式会社 光画像撮像装置及びその方法
US8773650B2 (en) 2009-09-18 2014-07-08 Intuitive Surgical Operations, Inc. Optical position and/or shape sensing
JP5641744B2 (ja) 2010-02-10 2014-12-17 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP5627248B2 (ja) 2010-02-17 2014-11-19 キヤノン株式会社 眼科装置および眼科装置の制御方法、そのプログラム
JP5836564B2 (ja) 2010-03-12 2015-12-24 キヤノン株式会社 眼科撮像装置、および眼科撮像方法、そのプログラム
US20130003077A1 (en) * 2010-03-31 2013-01-03 Canon Kabushiki Kaisha Tomographic imaging apparatus and control apparatus for tomographic imaging apparatus
US9025158B2 (en) * 2010-06-01 2015-05-05 Intuitive Surgical Operations, Inc. Interferometric measurement with crosstalk suppression
JP5610884B2 (ja) 2010-07-09 2014-10-22 キヤノン株式会社 光断層撮像装置及び光断層撮像方法
JP5627321B2 (ja) * 2010-07-09 2014-11-19 キヤノン株式会社 光断層画像撮像装置及びその撮像方法
JP5864910B2 (ja) 2010-07-16 2016-02-17 キヤノン株式会社 画像取得装置及び制御方法
JP5836634B2 (ja) * 2011-05-10 2015-12-24 キヤノン株式会社 画像処理装置及び方法
JP5913999B2 (ja) 2012-01-16 2016-05-11 キヤノン株式会社 眼科撮像装置およびその制御方法
JP6039185B2 (ja) 2012-01-20 2016-12-07 キヤノン株式会社 撮影装置
JP6061554B2 (ja) 2012-01-20 2017-01-18 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP5988772B2 (ja) 2012-01-20 2016-09-07 キヤノン株式会社 画像処理装置及び画像処理方法
JP6146951B2 (ja) 2012-01-20 2017-06-14 キヤノン株式会社 画像処理装置、画像処理方法、撮影装置及び撮影方法
JP5936368B2 (ja) 2012-01-20 2016-06-22 キヤノン株式会社 光干渉断層撮影装置及びその作動方法
JP2013148509A (ja) 2012-01-20 2013-08-01 Canon Inc 画像処理装置及び画像処理方法
JP6039908B2 (ja) 2012-02-21 2016-12-07 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像装置の制御方法
JP6108811B2 (ja) 2012-02-21 2017-04-05 キヤノン株式会社 撮像装置
JP5955020B2 (ja) 2012-02-21 2016-07-20 キヤノン株式会社 眼底撮像装置及び方法
US9192294B2 (en) * 2012-05-10 2015-11-24 Carl Zeiss Meditec, Inc. Systems and methods for faster optical coherence tomography acquisition and processing
JP5772783B2 (ja) * 2012-10-17 2015-09-02 住友電気工業株式会社 光断層画像取得装置
JP6213708B2 (ja) * 2012-10-31 2017-10-18 株式会社ニデック 眼科撮影装置、及び眼科撮影プログラム
EP3081146B1 (en) 2015-04-15 2019-10-30 Novartis AG An apparatus for modelling ocular structures
JP6105020B2 (ja) * 2015-10-06 2017-03-29 株式会社トーメーコーポレーション 眼科装置
JP2017153543A (ja) * 2016-02-29 2017-09-07 株式会社トプコン 眼科撮影装置
CN106419828B (zh) * 2016-09-19 2017-10-20 苏州轩睿医疗科技有限公司 一种快速提高眼科光学相干断层扫描成像设备分辨率的方法
WO2019071295A1 (en) * 2017-10-11 2019-04-18 OncoRes Medical Pty Ltd A method of volumetric imaging of a sample

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4960327A (en) * 1987-07-15 1990-10-02 Kabushiki Kaisha Topcon Optical system in a lasar scanning eye fundus camera
US6322216B1 (en) * 1999-10-07 2001-11-27 Visx, Inc Two camera off-axis eye tracker for laser eye surgery
US7703922B2 (en) * 2005-07-15 2010-04-27 Jozef F Van de Velde Relaxed confocal catadioptric scanning laser ophthalmoscope
US6325512B1 (en) 2000-10-31 2001-12-04 Carl Zeiss, Inc. Retinal tracking assisted optical coherence tomography
US20020138072A1 (en) * 2001-03-23 2002-09-26 Black John F. Handpiece for projecting laser radiation in spots of different color and size
US7260253B2 (en) * 2002-04-19 2007-08-21 Visiongate, Inc. Method for correction of relative object-detector motion between successive views
JP2009052879A (ja) 2002-08-22 2009-03-12 Sfc:Kk 電力の貯蔵システム
US7884945B2 (en) * 2005-01-21 2011-02-08 Massachusetts Institute Of Technology Methods and apparatus for optical coherence tomography scanning
GB2429522A (en) * 2005-08-26 2007-02-28 Univ Kent Canterbury Optical mapping apparatus
US7400410B2 (en) * 2005-10-05 2008-07-15 Carl Zeiss Meditec, Inc. Optical coherence tomography for eye-length measurement
EP2012653B1 (en) * 2006-05-01 2012-12-12 Physical Sciences, Inc. Hybrid spectral domain optical coherence tomography line scanning laser ophthalmoscope
US20070291277A1 (en) * 2006-06-20 2007-12-20 Everett Matthew J Spectral domain optical coherence tomography system
JP5448353B2 (ja) * 2007-05-02 2014-03-19 キヤノン株式会社 光干渉断層計を用いた画像形成方法、及び光干渉断層装置

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