JP2018093024A - 半導体装置および電力変換装置 - Google Patents

半導体装置および電力変換装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018093024A
JP2018093024A JP2016234185A JP2016234185A JP2018093024A JP 2018093024 A JP2018093024 A JP 2018093024A JP 2016234185 A JP2016234185 A JP 2016234185A JP 2016234185 A JP2016234185 A JP 2016234185A JP 2018093024 A JP2018093024 A JP 2018093024A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
low
semiconductor chip
module
lead frame
integrated circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016234185A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6566927B2 (ja
Inventor
誠也 杉町
Masaya Sugimachi
誠也 杉町
政孝 白水
Masataka Shiromizu
政孝 白水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP2016234185A priority Critical patent/JP6566927B2/ja
Priority to US15/691,068 priority patent/US10229869B2/en
Priority to DE102017217710.1A priority patent/DE102017217710A1/de
Priority to CN201711251027.8A priority patent/CN108133927B/zh
Publication of JP2018093024A publication Critical patent/JP2018093024A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6566927B2 publication Critical patent/JP6566927B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • H01L23/49548Cross section geometry
    • H01L23/49551Cross section geometry characterised by bent parts
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/043Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
    • H01L23/051Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body another lead being formed by a cover plate parallel to the base plate, e.g. sandwich type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49537Plurality of lead frames mounted in one device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • H01L23/49548Cross section geometry
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49541Geometry of the lead-frame
    • H01L23/49562Geometry of the lead-frame for devices being provided for in H01L29/00
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/18Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof the devices being of types provided for in two or more different subgroups of the same main group of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02KDYNAMO-ELECTRIC MACHINES
    • H02K11/00Structural association of dynamo-electric machines with electric components or with devices for shielding, monitoring or protection
    • H02K11/30Structural association with control circuits or drive circuits
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02MAPPARATUS FOR CONVERSION BETWEEN AC AND AC, BETWEEN AC AND DC, OR BETWEEN DC AND DC, AND FOR USE WITH MAINS OR SIMILAR POWER SUPPLY SYSTEMS; CONVERSION OF DC OR AC INPUT POWER INTO SURGE OUTPUT POWER; CONTROL OR REGULATION THEREOF
    • H02M7/00Conversion of ac power input into dc power output; Conversion of dc power input into ac power output
    • H02M7/003Constructional details, e.g. physical layout, assembly, wiring or busbar connections
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K7/00Constructional details common to different types of electric apparatus
    • H05K7/18Construction of rack or frame
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45117Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 400°C and less than 950°C
    • H01L2224/45124Aluminium (Al) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45144Gold (Au) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48095Kinked
    • H01L2224/48096Kinked the kinked part being in proximity to the bonding area on the semiconductor or solid-state body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48135Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
    • H01L2224/48137Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate
    • H01L2224/48139Connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip the bodies being arranged next to each other, e.g. on a common substrate with an intermediate bond, e.g. continuous wire daisy chain
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/4901Structure
    • H01L2224/4903Connectors having different sizes, e.g. different diameters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/491Disposition
    • H01L2224/4911Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain
    • H01L2224/49113Disposition the connectors being bonded to at least one common bonding area, e.g. daisy chain the connectors connecting different bonding areas on the semiconductor or solid-state body to a common bonding area outside the body, e.g. converging wires
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/49Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
    • H01L2224/495Material
    • H01L2224/49505Connectors having different materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/495Lead-frames or other flat leads
    • H01L23/49575Assemblies of semiconductor devices on lead frames
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1203Rectifying Diode
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1305Bipolar Junction Transistor [BJT]
    • H01L2924/13055Insulated gate bipolar transistor [IGBT]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/13Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
    • H01L2924/1304Transistor
    • H01L2924/1306Field-effect transistor [FET]
    • H01L2924/13091Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor [MOSFET]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Inverter Devices (AREA)

Abstract

【課題】インバータモジュール全体の厚みを増加させることなくその全体が小型化された半導体装置、およびそれを有する電力変換装置を提供する。【解決手段】半導体装置101は、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とが互いに重なる構成を有する。ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とを跨ぎ、ハイサイド集積回路12およびローサイド集積回路22とを載置する制御側フレーム31をさらに備える。ハイサイドモジュール部分10のハイサイド集積回路12とローサイドモジュール部分20のローサイド集積回路22とは、制御側フレーム31の一方の主表面上に載置される。制御側フレーム31は、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20との境界B1,B2において、ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とが互いに対向するように屈曲されている。【選択図】図2

Description

本発明は半導体装置および電力変換装置に関し、特に、ハイサイド半導体素子とローサイド半導体素子とが対向する構造を有するインバータモジュールとしての半導体装置、およびそれを有する電力変換装置に関するものである。
インバータモジュールは、その小型化に伴い、客先にて基板に実装される面積を小さくすることが強く求められている。このような要求に応えるために、従来のインバータモジュールでは半導体チップの小型化および高性能化がなされ、その客先にて基板に実装される面積が縮小されてきた。しかし従来のインバータモジュールでは、スイッチング素子および還流用ダイオードが同一の面上に実装される。このためモジュールサイズの検討においてはスイッチング素子などを搭載する半導体チップを小型化する必要がある。
小型化された半導体チップを有するインバータモジュールにおいて、小型化されていないインバータモジュールと同等の特性を得るためには、半導体チップの性能を向上させる必要がある。しかし小型化された半導体チップを小型化される以前の半導体チップよりも性能向上させることは困難である。したがって従来のインバータモジュールにおける上記の手法による基板実装面積の縮小には限界がある。
そこで、ローサイド電極を含むローサイド半導体チップを、ハイサイド電極を含むハイサイド半導体チップ上にスタックすることにより、インバータモジュールの基板実装面積を縮小させる技術が、たとえば特開2013−038105号公報(特許文献1)に開示されている。なお大電力により駆動するインバータモジュールにおけるローサイド電極およびハイサイド電極とは、直流電圧のそれぞれ低電位側および高電位側を受ける電極である。
特開2013−038105号公報
上記の特開2013−038105号公報においては、ローサイド電極を含むローサイド半導体チップと、ハイサイド電極を含むハイサイド半導体チップとが、両者間のミドルサイド電極を介して接続される。このため、ミドルサイド電極の厚み分だけインバータモジュール全体の厚みが増加する問題が生じ得る。
本発明は以上の問題に鑑みてなされたものであり、その目的は、インバータモジュール全体の厚みを増加させることなくその全体が小型化された半導体装置、およびそれを有する電力変換装置を提供することである。
本発明の半導体装置は、ハイサイドモジュール部分とローサイドモジュール部分とが互いに重なる構成を有する。ハイサイドモジュール部分とローサイドモジュール部分とを跨ぎ、ハイサイド集積回路およびローサイド集積回路とを載置する制御側フレームをさらに備える。ハイサイドモジュール部分のハイサイド集積回路とローサイドモジュール部分のローサイド集積回路とは、制御側フレームの一方の主表面上に載置される。制御側フレームは、ハイサイドモジュール部分とローサイドモジュール部分との境界において、ハイサイド半導体チップとローサイド半導体チップとが互いに対向するように屈曲されている。
本発明によれば、ハイサイド半導体チップとローサイド半導体チップとが互いに対向するように、制御側フレームが屈曲される。このため、ハイサイド半導体チップとローサイド半導体チップとの間にミドルサイド電極を挟むことなく、ローサイド半導体チップとハイサイド半導体チップとが積層されるように接続される。したがってインバータモジュール全体の厚みを増加させることなく、その全体を小型化させることができる。
実施の形態1の第1例のインバータモジュールの構成を示す概略側面図である。 実施の形態1の第1例のインバータモジュールについての、フレームを屈曲させる前の状態を示す概略平面図である。 図2の制御側フレームに含まれるグランド線を示す概略平面図である。 図1の実施の形態1の第1例のインバータモジュールを平面視したときの態様を透視して示す概略平面図である。 図4のインバータモジュールの回路図である。 図4中のVI−VI線に沿う部分の概略断面図である。 図4中のVII−VII線に沿う部分の概略断面図である。 実施の形態1の第2例のインバータモジュールの構成を示すための、図6と同様の概略断面図である。 実施の形態1の第3例のインバータモジュールの構成を示すための、図2と同様の概略平面図である。 実施の形態1の第4例のインバータモジュールの構成を示すための、図1と同様の概略側面図である。 実施の形態1の第5例のインバータモジュールの構成を示すための、図1と同様の概略側面図である。 実施の形態2の電力変換装置を適用した電力変換システムの構成を示すブロック図である。
以下、本発明の実施の形態について図に基づいて説明する。
実施の形態1.
まず本実施の形態の第1例の半導体装置の構成としてのインバータモジュールの構成について、図1〜図7を用いて説明する。なお説明の便宜のため、一部の図においてはX方向、Y方向、Z方向が導入されている。
図1は、図4中の矢印に示す方向Iから本実施の形態の第1例のインバータモジュールを見たときの外観態様を示す側面図(正面図)である。図1を参照して、本実施の形態の第1例のインバータモジュール101は、ハイサイドモジュール部分10と、ローサイドモジュール部分20とを備えている。インバータモジュール101は、たとえば直流電圧の電圧変換または電力変換を行なうモジュールである。ハイサイドモジュール部分10は、インバータモジュール101のうち直流電圧の高電位側を受けるハイサイド回路としての部分である。またローサイドモジュール部分20は、インバータモジュール101のうち直流電圧の低電位側を受けるローサイド回路としての部分である。
ハイサイドモジュール部分10は、ハイサイド半導体チップ11と、ハイサイド集積回路12と、ハイサイドリードフレーム13とを含んでいる。またローサイドモジュール部分20は、ローサイド半導体チップ21と、ローサイド集積回路22と、ローサイドリードフレーム23とを含んでいる。
ハイサイドモジュール部分10のハイサイド半導体チップ11は、直流電圧の高電位側が接続される半導体チップであり、スイッチング素子11Aと、還流用ダイオード11Bとを含んでいる。スイッチング素子11Aは、MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)またはIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)が搭載された半導体チップであり、還流用ダイオード11Bは、当該ダイオードが搭載された半導体チップである。スイッチング素子11Aおよび還流用ダイオード11Bは、ハイサイドリードフレーム13の一方の主表面上に載置されている。ハイサイドリードフレーム13は、直流電流の高電位側が接続されるリードフレームであり、ハイサイド回路の電極としての機能を有している。
ローサイドモジュール部分20のローサイド半導体チップ21は、直流電圧の低電位側が接続される半導体チップであり、スイッチング素子21Aと、還流用ダイオード21Bとを含んでいる。スイッチング素子21Aは、MOSFETまたはIGBTが搭載された半導体チップであり、還流用ダイオード21Bは、当該ダイオードもしくはMOSFETが搭載された半導体チップである。スイッチング素子21Aおよび還流用ダイオード21Bは、ローサイドリードフレーム23の一方の主表面上に載置されている。ローサイドリードフレームとしてのワイヤ接続用フレーム23Cおよびn側リード端子23Dは、直流電流の低電位側が接続されるリードフレームであり、ローサイド回路の電極としての機能を有している。
ハイサイド集積回路12は、ハイサイドモジュール部分10を制御するための集積回路が搭載された半導体チップである。またローサイド集積回路22は、ローサイドモジュール部分20を制御するための集積回路が搭載された半導体チップであり、ハイサイド集積回路12およびローサイド集積回路22は、制御側フレーム31に載置されている。
図1においては、ローサイドモジュール部分20の上にハイサイドモジュール部分10が重畳された構成を有している。このような構成は、以下のようにして形成されている。図2および図3を参照して、本実施の形態の第1例のインバータモジュール101は、ハイサイドモジュール部分10に配置されるハイサイドリードフレーム13と、ローサイドモジュール部分20に配置されるローサイドリードフレーム23とが互いに分離された状態となっている。しかしこれらハイサイドリードフレーム13とローサイドリードフレーム23とは、元々は一体の部材として形成されており、それが製造工程にて分離されてもよい。もともと一体であるハイサイドリードフレーム13とローサイドリードフレーム23とは、それらの外側にて互いを繋ぐようなタイバーと呼ばれる枠体により一体とされている。
図2においてはハイサイドモジュール部分10はローサイドモジュール部分20のX方向正側に配置されているが、これに限らず、逆にローサイドモジュール部分20の方がX方向正側に配置されてもよい。
ハイサイドリードフレーム13およびローサイドリードフレーム23は、いずれもその主表面がXY平面に沿うように配置されている。そしてハイサイドリードフレーム13は、パワーp側フレーム13Aと、そこから延びるp側リード端子13Bとを含んでいる。なおハイサイド電極を含む回路としてのハイサイドモジュール部分10にはMOSFETのような大電流の供給により駆動するスイッチング素子が用いられるため、ハイサイドリードフレーム13に含まれる端子の部分をここではパワーp側フレーム13Aおよびp側リード端子13Bとしている。パワーp側フレーム13Aはたとえば矩形状に広がる領域であり、図2におけるその一方の主表面上すなわちZ方向正側の主表面上には、スイッチング素子11Aと還流用ダイオード11Bとがたとえば3つずつ、互いに間隔をあけて、ダイボンドにより接合されている。なおX方向に関して3列並ぶハイサイド半導体チップ11は、たとえば図2の左側から右側へ、UP相、VP相、WP相の順であり、これにより三相のインバータを構成可能である。第1の接合素材42Aを用いてダイボンド接合されることにより、ハイサイドリードフレーム13とハイサイド半導体チップ11とが互いに電気的に接続されている。p側リード端子13Bは、パワーp側フレーム13Aに接合されたハイサイド半導体チップ11と、インバータモジュール101の外部とを電気的に接続するための端子である。
同様に、ローサイドリードフレーム23は、パワーn側フレーム23Aと、そこから延びるn側リード端子23Bとを含んでいる。なおローサイド電極を含む回路としてのローサイドモジュール部分20にはMOSFETのような大電流の供給により駆動するスイッチング素子が用いられるため、ローサイドリードフレーム23に含まれる端子の部分をここではパワーn側フレーム23Aおよびn側リード端子23Bとしている。
パワーn側フレーム23Aとn側リード端子23Bとからなるローサイドリードフレーム23の部分は、互いに間隔をあけてたとえば3つ配置されている。なお3つ並ぶn側リード端子23Bおよびローサイド半導体チップ21は、たとえば図2の右側から左側へ、UN相、VN相、WN相の順であり、これにより三相のインバータを構成可能である。それぞれのローサイドリードフレーム23に含まれるパワーn側フレーム23Aはたとえば矩形状に広がる領域であり、図2におけるその一方の主表面上すなわちZ方向正側の主表面上に、スイッチング素子21Aと還流用ダイオード21Bとがたとえば1つずつ、互いに間隔をあけて、ダイボンドにより接合されている。第1の接合素材を用いてダイボンド接合されることにより、ローサイドリードフレーム23とローサイド半導体チップ21とが互いに電気的に接続されている。n側リード端子23Bは、パワーn側フレーム23Aに接合されたローサイド半導体チップ21と、インバータモジュール101の外部とを電気的に接続するための端子である。
さらにローサイドリードフレーム23としては、ワイヤ接続用フレーム23Cと、そこから延びるn側リード端子23Dとからなるローサイドリードフレーム23を有している。ワイヤ接続用フレーム23Cとn側リード端子23Dとからなるローサイドリードフレーム23には、アルミニウムワイヤ44を介してローサイド半導体チップ21が接続されている。
すなわちローサイドリードフレーム23として、図2においてはたとえば、パワーn側フレーム23Aとn側リード端子23Bとからなるローサイドリードフレーム23が3つ、ワイヤ接続用フレーム23Cとn側リード端子23Dとからなるローサイドリードフレーム23が1つ、互いに間隔をあけて並ぶように配置されている。これらの各ローサイドリードフレーム23はハイサイドリードフレーム13とともに、タイバーなどにより元々は一体の部材として形成されるが後に分離されたものであってもよい。
制御側フレーム31は、図2においてはたとえばハイサイドリードフレーム13およびローサイドリードフレーム23が配置される領域のY方向正側に並ぶように配置されているが、これに限らず、逆にたとえばハイサイドリードフレーム13のY方向負側に並ぶように配置されてもよい。
制御側フレーム31は、その主表面がXY平面に沿うように配置されており、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とを跨ぐように配置されている。すなわち単一の制御側フレーム31が、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20との双方に配置されるように備えられている。制御側フレーム31は、制御用チップ載置部31Aと、そこから延びる制御用リード端子31Bとを含んでいる。制御用チップ載置部31Aはたとえば矩形状に広がる領域であり、たとえばハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とに1つずつ、合計2つ形成されている。ハイサイドモジュール部分10側の制御用チップ載置部31Aの一方の主表面上すなわちZ方向正側の主表面上に、ハイサイド集積回路12がダイボンドにより接合されている。またローサイドモジュール部分20の制御用チップ載置部31Aの一方の主表面上すなわちZ方向正側の主表面上に、ローサイド集積回路22がダイボンドにより接合されている。制御用リード端子31Bは制御用チップ載置部31Aに接合されたハイサイド集積回路12およびローサイド集積回路22と、インバータモジュール101の外部とを電気的に接続するための端子である。
制御側フレーム31はハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とを跨ぐように配置されているため、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20との境界において、制御用リード端子31Bが繋がるようにX方向に延びている。図3を参照して、制御側フレーム31がハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20との境界を跨ぐ箇所と、それに接続された制御用チップ載置部31Aとからなるグランド線32を定義することができる。このグランド線32は、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20との共通の接地電位部分である。このようなグランド線32を設けることにより、インバータモジュール101の実装面積をより縮小させることができる。
再度図1および図2を参照して、ハイサイド集積回路12とスイッチング素子11Aとは、金ワイヤ43すなわち金からなる細線により電気的に接続されており、これによりゲート配線が形成されている。またローサイド集積回路22とスイッチング素子21Aとは、金ワイヤ43すなわち金からなる細線により電気的に接続されており、これによりゲート配線が形成されている。さらに、ローサイドモジュール部分20において、3つのパワーn側フレーム23Aのそれぞれの上のスイッチング素子21Aと還流用ダイオード21Bとはアルミニウムワイヤ44すなわちアルミニウムからなる細線により電気的に接続されている。また3つの還流用ダイオード21Bのそれぞれとワイヤ接続用フレーム23Cとはアルミニウムワイヤ44により電気的に接続されている。このように、インバータモジュール101においては、ローサイド半導体チップ21としてのスイッチング素子21Aと還流用ダイオード21Bとは、ボンディングワイヤにより電気的に接続されている。
図2に示すように、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20との境界には、たとえばY方向に沿って延びる境界線B1および境界線B2が設けられている。この境界線B1および境界線B2において、インバータモジュール101の特にハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とを跨ぐように延びる制御側フレーム31が、ほぼ直角に屈曲されている。すなわち元々図2の境界線B1と境界線B2とに挟まれた領域のX方向に延びる部分が、上記屈曲の結果Z方向正側に延び、ハイサイドモジュール部分10が図2に対して裏返った状態でローサイドモジュール部分20にほぼ平行に対向するように配置される。
その結果、図4〜図7を参照して、ハイサイドモジュール部分10のハイサイド半導体チップ11と、ローサイドモジュール部分20のローサイド半導体チップ21とが、Z方向に関して互いに対向するように、制御側フレーム31が屈曲された態様となる。すなわちインバータモジュール101において、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とは、平面視において互いに重なるように配置されている。このように、制御側フレーム31の屈曲によりハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とが互いに対向するのは、ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とがともにハイサイドリードフレーム13またはローサイドリードフレーム23のZ方向正側の主表面上に接合されているためである。ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とは、いずれもXY平面に沿うように水平方向に拡がり、互いに対向する構成を有している。これにより、インバータモジュール101は水平対向構造となっている。
また同様に、上記の制御側フレーム31の屈曲により、ハイサイド集積回路12とローサイド集積回路22とも、Z方向に関して互いに対向するように配置される。このように、制御側フレーム31の屈曲によりハイサイド集積回路12とローサイド集積回路22とが互いに対向するのは、ハイサイド集積回路12とローサイド集積回路22とは、ともに図2に示す制御用チップ載置部31Aの一方の主表面上すなわちZ方向正側の主表面上に接合されているためである。
なお図2などにおいてはハイサイドリードフレーム13とローサイドリードフレーム23と制御側フレーム31とは別の部材として分離されているが、上記のようにこれらは、制御側フレーム31が屈曲される時点においてはタイバーにより一体とされていたものである。このため制御側フレーム31の屈曲によりハイサイドリードフレーム13とローサイドリードフレーム23とも互いに対向する向きとなるよう配置される。具体的には、まずハイサイド半導体チップ11、ローサイド半導体チップ21、ハイサイド集積回路12およびローサイド集積回路22が、タイバーにより一体となっているフレームの各部分上にダイボンドされた後、金ワイヤ43およびアルミニウムワイヤ44によるワイヤボンディングがなされる。その後、タイバーにより一体となっているフレームが図2の境界線B1および境界線B2にて屈曲され、ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21となどが互いに対向される。次に、フレームのタイバーがカットされ、ハイサイドリードフレーム13、ローサイドリードフレーム23および制御側フレーム31に分離される。
図4および図6に示すように、ハイサイドモジュール部分10のスイッチング素子11Aとローサイドモジュール部分20のスイッチング素子21Aとが少なくとも一部において、平面視において重なる領域を含むことが好ましい。またハイサイドモジュール部分10の還流用ダイオード11Bとローサイドモジュール部分20の還流用ダイオード21Bとが少なくとも一部において、平面視において重なる領域を含むことが好ましい。さらに図4および図7に示すように、ハイサイド集積回路12とローサイド集積回路22とが少なくとも一部において重なっていることが好ましい。このようにすれば、インバータモジュール101の平面視における面積を縮小することができ、客先での実装面積を小さくすることができる。ただし逆に、ハイサイドモジュール部分10のスイッチング素子11Aとローサイドモジュール部分20のスイッチング素子21Aとが平面視において重なる部分をまったく含まなくてもよい。還流用ダイオード11Bと還流用ダイオード21Bと、およびハイサイド集積回路12とローサイド集積回路22と、についても同様である。
ローサイドリードフレーム23のパワーn側フレーム23Aの主表面上の、特にスイッチング素子21Aが接合される領域に隣接する領域には、突起部41が形成されている。突起部41はローサイドリードフレーム23から延びており、図2のZ方向すなわちローサイドリードフレーム23の厚み方向に延びている。この突起部41の先端部は、ハイサイドリードフレーム13のパワーp側フレーム13Aに載置されたハイサイド半導体チップ11としてのスイッチング素子11Aの一部と平面的に重なっており、互いに電気的に接続されている。インバータモジュール101においては突起部41はローサイドリードフレーム23と一体となっている。このため突起部41はローサイドリードフレーム23と電気的に接続されている。
同様に、パワーn側フレーム23Aの主表面上の、特に還流用ダイオード21Bが接合される領域に隣接する領域には、突起部41が形成されている。この突起部41は基本的に上記の突起部41と同様であり、その先端部は、ハイサイドモジュール部分10の還流用ダイオード11Bの一部と平面的に重なっており、互いに電気的に接続されている。以上により図5の回路図に示すように、ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とはともにn側リード端子23Bに接続されている。
上記のようにする観点から、図4〜図7においては、スイッチング素子11Aとスイッチング素子21Aとは一部のみにおいて互いに重なっており、他の一部である互いに重ならない領域においてスイッチング素子11Aに突起部41が接続可能となっている。還流用ダイオード11Bと還流用ダイオード21Bとについても同様に一部のみにおいて互いに重なっており、他の一部である互いに重ならない領域において還流用ダイオード11Bに突起部41が接続可能となっている。
しかしスイッチング素子11Aとスイッチング素子21Aとはその全体において平面的に完全に重なっていてもよい。還流用ダイオード11Bと還流用ダイオード21Bとについても同様である。この場合、突起部41はその一部においてはローサイドリードフレーム23の厚み方向に延びるものの、一部においてスイッチング素子11Aまたは還流用ダイオード11Bに重なる位置までXY平面に沿って延びるように屈曲することで、スイッチング素子11A上または還流用ダイオード11B上に達している。なおハイサイド集積回路12とローサイド集積回路22についても、その全体において完全に重なってもよい。
また図4〜図7においてはローサイドリードフレーム23から突起部41が延びており、これがハイサイドモジュール部分10のハイサイド半導体チップ11に接続されている。
以上のように、インバータモジュール101においては、ローサイドモジュール部分20のパワーn側フレーム23A上における、3つのスイッチング素子21Aのそれぞれと隣接する領域、および3つの還流用ダイオード21Bのそれぞれと隣接する領域に、合計6つの突起部41が設けられている。
図1および図6を再度参照して、還流用ダイオード11Bと突起部41とは、第2の接合素材42Bにより接合されている。スイッチング素子11Aと突起部41とについても同様である。これにより、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とが互いに電気的に接続されている。なお上記のように、ハイサイド半導体チップ11(スイッチング素子11Aおよび還流用ダイオード11B)とハイサイドリードフレーム13とは、第1の接合素材42Aにより接合されている。ここで、第2の接合素材42Bは第1の接合素材42Aよりも融点が低いことが好ましい。
以上のような構成を有するインバータモジュール101の各部材は、モールド樹脂45により封止されている。モールド樹脂45は、ハイサイド半導体チップ11、ローサイド半導体チップ21、ハイサイド集積回路12、ローサイド集積回路22を封止している。ただしp側リード端子13B、n側リード端子23B,23D、制御用リード端子31Bの先端側の一部の領域はモールド樹脂45から露出しており、この部分にてインバータモジュール101の外部と電気的に接続可能となっている。
次に、本実施の形態の第1例の背景技術について説明したうえで、本実施の形態の第1例の作用効果について説明する。
インバータモジュールにおいて、ハイサイド回路とローサイド回路とを互いに重ねることにより、そのモジュールサイズを小型化するという、本願発明の比較例としての背景技術がある。しかし比較例のようにハイサイド回路とローサイド回路との間にミドルサイド電極を介して両者を接続すれば、ミドルサイド電極の分だけインバータモジュール全体の厚みが増加する。これはモジュールの小型化に背反する結果となるとともに、ミドルサイド電極が存在する分だけたとえばその上側の回路から下側の回路への放熱性が低下する可能性がある。
その他にも、比較例においては、次のような問題がある。たとえば上記のハイサイド回路とローサイド回路とを重ねる構成を形成する場合には、ハイサイド回路のハイサイド半導体チップとローサイド回路のローサイド半導体チップとを別の工程にてダイボンドする必要がある。すなわちハイサイド半導体チップのダイボンドの後、その上に、ローサイド半導体チップとハイサイド半導体チップとの接合の際に両者間に挟まれるミドルサイド電極がダイボンドされ、さらにその上にローサイド半導体チップがダイボンドされる必要がある。この場合、ローサイド半導体チップのダイボンドの際に、先にダイボンドされたハイサイド半導体チップとハイサイド電極の接合剤が再加熱されるため、当該接合剤のボイド率が増加してその信頼性が低下する問題が生じ得る。
さらに、従来インバータモジュールはその構造上、p側リード端子13Bとn側リード端子23Dとを近接させることが困難であり、その客先での基板への実装時に配線の引き回しおよび配線のインダクタンス抑制が困難となる問題が生じ得る。
そこで本実施の形態の第1例のインバータモジュール101のように、制御側フレーム31が、ハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20との境界において、ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とが互いに対向するように屈曲される。これにより、元々これと一体となっていたハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とについても、互いに対向するように重なり合う位置関係となっている。
このようにすれば、ミドルサイド電極を挟むことなく、ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とを電気的に接続することができる。このためハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とが重なり合う構成を有しつつ、その全体の厚みを薄く保つことができる。そのため、インバータモジュール101全体の厚みを増加させることなくその全体を小型化させることができる。これにより、インバータモジュール101における部材間の放熱性の低下を抑制することができる。
また本実施の形態において、ハイサイド集積回路12とローサイド集積回路22とは制御側フレーム31の一方の主表面上、すなわちZ方向に関する同じ側である正側に載置されている。また同様に、ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とも同様に、ハイサイドリードフレーム13およびローサイドリードフレーム23のそれぞれの一方の主表面上すなわちZ方向に関する同じ側である正側に載置されている。つまりフレームの境界線B1,B2での屈曲前においては、図2に示すように、ハイサイド半導体チップ11、ローサイド半導体チップ21、ハイサイド集積回路12、ローサイド集積回路22のすべてがZ方向に関する同じ側に接合されている。このためこれらのすべてを1回のダイボンド工程にて同時にフレームに接合することができる。したがって、後から行われるダイボンド工程の際に、先にダイボンドされた部分の接合剤が再加熱される不具合を排除することができ、当該接合剤のボイド率の上昇および信頼性の低下を排除することができる。
またインバータモジュール101によれば、制御側フレーム31の屈曲により、たとえばハイサイドモジュール部分10に含まれるハイサイド端子としてのp側リード端子13Bと、ローサイドモジュール部分20に含まれるローサイド端子としてのn側リード端子23B,23Dとが互いに隣接するように配置される。そのようにハイサイドモジュール部分10とローサイドモジュール部分20とが互いに重畳される。このため客先でのインバータモジュール101の基板への実装時などに、p側リード端子13Bとn側リード端子23B,23Dとを結ぶ配線の引き回しをより簡素にすることができ、その引き回された配線のインダクタンスを低減させることができる。
次に、インバータモジュール101においては、ローサイドリードフレーム23からはハイサイド半導体チップ11と電気的に接続可能な突起部41が延びている。ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とが互いに対向する構成であるため、両者間をボンディングワイヤにより電気的に接続することは困難である。そこでローサイドリードフレーム23から延びる突起部41を用いてこれをハイサイド半導体チップ11と接続させることにより、ローサイドリードフレーム23とハイサイド半導体チップ11との電気的接続を可能としている。ローサイドリードフレーム23の主表面上にローサイド半導体チップ21がダイボンド工程などにより電気的に接合されるため、ハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21とを電気的に接続させることができる。
ローサイドリードフレーム23と突起部41とが一体であることにより、突起部41はたとえばローサイドリードフレーム23の一部を折り曲げるだけで簡単に形成することができる。
その他、インバータモジュール101においては、ハイサイド半導体チップ11とハイサイドリードフレーム13とを接合する第1の接合素材42Aよりも、ハイサイド半導体チップ11と突起部41とを接合する第2の接合素材42Bの方が、融点が低くなっている。これにより、ハイサイド半導体チップ11とハイサイドリードフレーム13とが第1の接合素材42Aにより接合された後に、ハイサイド半導体チップ11と突起部41とが第2の接合素材42Bにより接合される場合に、第2の接合素材42Bを用いた接合における加熱による第1の接合素材42Aの再溶融を抑制することができ、その接合部の信頼性の低下を抑制することができる。
次に、本実施の形態の第2例の半導体装置の構成としてのインバータモジュールの構成について、図8を用いて説明する。
図8を参照して、本実施の形態の第2例のインバータモジュール102は、突起部46はローサイドリードフレーム23とは別体となっている。ただし突起部46はローサイドリードフレーム23と同一材質からなっており、ローサイドリードフレーム23と電気的に接続されるように接合されていることが好ましい。その他のインバータモジュール102の構成は基本的にインバータモジュール101と同様であるため、同一の構成部材には同一の参照符号を付しその説明を繰り返さない。
インバータモジュール102のようにローサイドリードフレーム23と別部材としての突起部46をこれに接合させた構成としてもよい。このようにすれば、突起部46の材質の選択肢を広げることができる。
次に、本実施の形態の第3例の半導体装置の構成としてのインバータモジュールの構成について、図9を用いて説明する。
図9を参照して、本実施の形態の第3例のインバータモジュール103は、インバータモジュール101と同様に、ハイサイド半導体チップ11およびローサイド半導体チップ21のそれぞれが、スイッチング素子と還流用ダイオードとを有している。すなわちハイサイド半導体チップ11としてのスイッチング素子11Aおよび還流用ダイオード11Bと、ローサイド半導体チップ21としてのスイッチング素子21Aおよび還流用ダイオード21Bとを有している。そしてインバータモジュール101と同様に、ローサイド半導体チップ21としてのスイッチング素子21Aと還流用ダイオード21Bとがアルミニウムワイヤ44によりボンディングされており、還流用ダイオード21Bとワイヤ接続用フレーム23Cとがボンディングワイヤとしてのアルミニウムワイヤ44により接続されている。
しかしこれに加えて、インバータモジュール103においては、ハイサイド半導体チップ11としてのスイッチング素子11Aと還流用ダイオード11Bとがボンディングワイヤとしてのアルミニウムワイヤ44により接続されている。この点においてインバータモジュール103は、スイッチング素子11Aと還流用ダイオード11Bとがアルミニウムワイヤ44により接続されていないインバータモジュール101と異なっている。
その他のインバータモジュール103の構成は基本的にインバータモジュール101と同様であるため、同一の構成部材には同一の参照符号を付しその説明を繰り返さない。
インバータモジュール103のように、ローサイドモジュール部分20のスイッチング素子21Aおよび還流用ダイオード21Bのみならず、ハイサイドモジュール部分10のスイッチング素子11Aおよび還流用ダイオード11Bがアルミニウムワイヤ44により接続されることにより、突起部41の数を減らすことができる。具体的には、インバータモジュール101においては各スイッチング素子21Aおよび各還流用ダイオード21Bに隣接する領域に合計6つの突起部41が設けられているのに対し、インバータモジュール103においては各スイッチング素子21Aに隣接する領域のみに合計3つの突起部41が設けられている。
インバータモジュール103においてはスイッチング素子11Aと還流用ダイオード11Bとがアルミニウムワイヤ44により電気的に接続されているため、突起部41においてスイッチング素子11Aと接合させ電気的接続させるだけで、突起部41すなわちローサイドリードフレーム23と還流用ダイオード11Bもしくはスイッチング素子11Aとを電気的に接続させることができる。スイッチング素子11Aと還流用ダイオード11Bとがアルミニウムワイヤ44により電気的に接続されているためである。この点においてインバータモジュール103は、スイッチング素子11Aと還流用ダイオード11Bとがワイヤボンディングされていないために還流用ダイオード11Bと突起部41とを接合させる必要があるインバータモジュール101と異なっている。
このためインバータモジュール103は、インバータモジュール101に比べて突起部41の数を減少させることができ、製品組立性を向上させることができる。
なお図9においては、スイッチング素子21Aに隣接する領域のみに合計3つの突起部41が設けられているが、逆に還流用ダイオード21Bに隣接する領域のみに合計3つの突起部41が設けられてもよい。
次に、本実施の形態の第4例の半導体装置の構成としてのインバータモジュールの構成について、図10を用いて説明する。
図10を参照して、本実施の形態の第4例のインバータモジュール104は、基本的に図1のインバータモジュール101と同様の構成を有している。しかしインバータモジュール104は、ハイサイドリードフレーム13の、ハイサイド半導体チップ11が接合される第1の主表面すなわち図10の下側の主表面と反対側の第2の主表面すなわち図10の上側の主表面上にヒートシンク51が載置されている。またインバータモジュール104は、ローサイドリードフレーム23の、ローサイド半導体チップ21が接合される第3の主表面すなわち図10の上側の主表面と反対側の第4の主表面すなわち図10の下側の主表面上にもヒートシンク51が載置されている。すなわち図10の上下方向に関して、インバータモジュール104全体の上下方向に関する、ハイサイドリードフレーム13およびローサイドリードフレーム23のそれぞれの外側に、ヒートシンク51が載置されている。
その他のインバータモジュール104の構成は基本的にインバータモジュール101と同様であるため、同一の構成部材には同一の参照符号を付しその説明を繰り返さない。
本願発明の各インバータモジュールにおいては、スイッチング素子11A,21Aおよび還流用ダイオード11B,21Bなどの各半導体チップが、互いに対向するように、インバータモジュール全体の上下方向に関する内側の領域に集中するように配置される。このため各半導体チップから発生する熱がインバータモジュールの内部にこもりやすく、その外側に放熱されにくい。このため当該インバータモジュールは、その熱抵抗の低下が懸念される。
そこでインバータモジュール104においては、ハイサイドリードフレーム13およびローサイドリードフレーム23のそれぞれの、インバータモジュール104全体の外側を向く主表面上にヒートシンク51が載置される。このようにすれば、水平対向構造を有するハイサイド半導体チップ11とローサイド半導体チップ21のそれぞれの発する熱を、当該ヒートシンク51から、インバータモジュール104の外部へ高効率に放熱することができる。
ヒートシンク51として、上記第2の主表面および第4の主表面のそれぞれに放熱フィンを取り付けることにより、インバータモジュール104の熱抵抗の低下を抑制することができる。
次に、本実施の形態の第5例の半導体装置の構成としてのインバータモジュールの構成について、図11を用いて説明する。
図11を参照して、本実施の形態の第5例のインバータモジュール105は、基本的に図10のインバータモジュール104と同様の構成を有している。しかしインバータモジュール105においては、ハイサイドリードフレーム13の上記第2の主表面(図11の上側の主表面)上のヒートシンク52と、ローサイドリードフレーム23の上記第4の主表面(図11の下側の主表面)上のヒートシンク52とが、一体として接合されている。この点においてインバータモジュール105は、上記第2の主表面上のヒートシンク51と上記第4の主表面上のヒートシンク51とが別々に配置されるインバータモジュール104と構成上異なっている。
つまりインバータモジュール105においては、第2の主表面上のヒートシンク52と第4の主表面上のヒートシンク52とを接続する、図11の上下方向に延びる部分をさらに有している。この上下方向に延びる部分が第2の主表面上の部分および第4の主表面上の部分と一体となるように、インバータモジュール105の内部にて接続されている。
このように複数のヒートシンク52の部分をインバータモジュール105の内部にて互いに接続して一体とする構成を有することにより、以下の作用効果を奏する。すなわちハイサイドモジュール部分10およびローサイドモジュール部分20の双方における半導体チップにより放熱がインバータモジュール105の内部で図11の上下方向に延びるヒートシンク52の部分を伝搬し、図11の最上部および最下部のそれぞれのヒートシンク52の部分に高効率に到達する。このため第2の主表面上のヒートシンク52の部分、または第4の主表面上のヒートシンク52の部分のいずれかのみに放熱フィンを取り付けるだけで、高効率な放熱が可能となる。
インバータモジュール105においては、より発熱量の多い、ローサイドモジュール部分20のスイッチング素子21Aおよび還流用ダイオード21Bの熱をより高効率に放出する観点から、ローサイドリードフレーム23の第4の主表面上のヒートシンク52の部分のみに放熱フィンを設けることがより好ましい。またローサイドリードフレーム23の第4の主表面上のヒートシンク52の部分のみをモールド樹脂45から露出させた構成とすることがより好ましい。
実施の形態2.
本実施の形態は、上述した実施の形態1の第1例〜第5例に係る半導体装置としてのインバータモジュールを電力変換装置に適用したものである。本発明は特定の電力変換装置に限定されるものではないが、以下、実施の形態2として、三相のインバータに本発明を適用した場合について説明する。
図12を参照して、電力変換装置としての電力変換システム201は、電源99と、電力変換装置90と、誘導負荷97と、から構成される。電源99は直流電源であり、電力変換用半導体モジュール98に直流電力を供給する。電源99は種々のもので構成することが可能であり、たとえば直流系統、太陽電池、蓄電池で構成することができる。あるいは電源99を交流系統に接続された整流回路またはAC/DCコンバータで構成することとしてもよい。また電源99を、直流系統から出力される直流電力を所定の電力に変換するDC/DCコンバータによって構成することとしてもよい。
電力変換装置90は、電源99と誘導負荷97との間に接続された三相のインバータである。電力変換装置90は電源99から供給された直流電力を交流電力に変換し、誘導負荷97に交流電力を供給する。図12に示すように、電力変換装置90は、電力変換用半導体モジュール98と、制御回路96と、放熱フィン95とを含んでいる。より具体的には、電力変換装置90は、直流電力を交流電力に変換して誘導負荷97に出力する主変換回路としての電力変換用半導体モジュール98と、電力変換用半導体モジュール98を制御する制御信号を電力変換用半導体モジュール98に出力する制御回路96とを備えている。
誘導負荷97は、電力変換用半導体モジュール98から供給された交流電力によって駆動される三相の電動機である。なお、誘導負荷97は特定の用途に限られるものではなく、各種電気機器に搭載された電動機である。誘導負荷97は、たとえばハイブリッド自動車、電気自動車、鉄道車両、エレベータ、または空調機器のいずれか向けの電動機として用いられる。
以下、電力変換装置90の詳細を説明する。電力変換用半導体モジュール98は、スイッチング素子と還流用ダイオードと、それらの制御用の集積回路を備えている。スイッチング素子がスイッチングすることによって、電源99から供給される直流電力が交流電力に変換され、誘導負荷97に供給される。電力変換用半導体モジュール98の具体的な回路構成は種々のものがあるが、本実施の形態に係る電力変換用半導体モジュール98は2レベルの三相フルブリッジ回路であり、6つのスイッチング素子とそれぞれのスイッチング素子に逆並列接続された6つの還流用ダイオードとから構成することができる。6つのスイッチング素子は2つのスイッチング素子ごとに直列接続され上下アームすなわち上述のハイサイドモジュール部分10およびローサイドモジュール部分20を構成する。各上下アームはフルブリッジ回路の各相すなわちU相、V相およびW相を構成する。そして各上下アームの出力端子すなわち電力変換用半導体モジュール98の3つの出力端子は誘導負荷97に接続される。
6つのスイッチング素子および還流用ダイオードを含む電力変換用半導体モジュール98は、上述した実施の形態1の各例のインバータモジュール101〜105に相当する半導体モジュール94によって構成される。
電力変換用半導体モジュール98に内蔵される制御用の集積回路(上記のハイサイド集積回路12およびローサイド集積回路22に相当)は、同じく電力変換用半導体モジュール98に内蔵されるスイッチング素子を駆動する駆動信号を生成する。具体的には、制御用の集積回路は、後述する制御回路96からの制御信号に従い、スイッチング素子をオン状態にする駆動信号と、スイッチング素子をオフ状態にする駆動信号とを各スイッチング素子の制御電極に出力する。スイッチング素子をオン状態に維持する場合、駆動信号はスイッチング素子の閾値電圧以上の電圧信号(オン信号)であり、スイッチング素子をオフ状態に維持する場合、駆動信号はスイッチング素子の閾値電圧以下の電圧信号(オフ信号)となる。
制御回路96は、誘導負荷97に所望の電力が供給されるよう電力変換用半導体モジュール98の半導体チップを制御する。具体的には、制御回路96は、誘導負荷97に供給すべき電力に基づいて電力変換用半導体モジュール98の各半導体チップがオン状態となるべき時間(オン時間)を算出する。たとえば制御回路96は、出力すべき電圧に応じて半導体チップのオン時間を変調するPWM制御によって電力変換用半導体モジュール98を制御することができる。そして制御回路96は、電力変換用半導体モジュール98に内蔵される制御用の集積回路に制御指令すなわち制御信号を出力する。これは各時点においてオン状態となるべき半導体チップにはオン信号を、オフ状態となるべき半導体チップにはオフ信号が出力されるようにするためである。当該制御用の集積回路はこの制御信号に従い、各半導体チップの制御電極にオン信号またはオフ信号を駆動信号として出力する。
放熱フィン95は、電力変換用半導体モジュール98の駆動によって生じた熱を外部に放出する。具体的には放熱フィン95と電力変換用半導体モジュール98との間に接合用グリースを塗布し、放熱フィン95および接合用グリースの熱伝導を利用して電力変換用半導体モジュール98が生成した熱を外部に放出する。なお、放熱フィン95は電力変換用半導体モジュール98を構成する複数の側面のうちの1つの側面のみに取り付けられてもよいし、電力変換用半導体モジュール98を構成する複数の側面のうちの互いに対向する2つの側面の双方に取り付けられてもよい。
本実施の形態に係る電力変換装置としての電力変換システム201においては、電力変換用半導体モジュール98が、上述した実施の形態1の各例のインバータモジュール101〜105に相当する半導体モジュール94によって構成される。このため電力変換システム201の小型化および信頼性向上を実現することができる。
本実施の形態では、2レベルの3相インバータに本発明を適用する例を説明したが、本発明はこれに限られるものではなく、種々の電力変換装置に適用することができる。本実施の形態では2レベルの電力変換装置としたが、3レベルまたはマルチレベルの電力変換装置であってもよい。あるいは単相負荷に電力を供給する場合には単相のインバータに本発明を適用してもよい。また直流負荷等に電力を供給する場合には、DC/DCコンバータまたはAC/DCコンバータに本発明を適用することもできる。
また本発明を適用した電力変換装置は、上述した負荷が電動機の場合に限定されるものではなく、たとえば放電加工機、レーザー加工機、誘導加熱調理器、または非接触器給電システムのいずれか向けの電源装置として用いることができる。さらに本発明を適用した電力変換装置は、太陽光発電システムまたは蓄電システムなどのパワーコンディショナーとして用いることもできる。
以上に述べた各実施の形態(に含まれる各例)に記載した特徴を、技術的に矛盾のない範囲で適宜組み合わせるように適用してもよい。
今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は上記した説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味および範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。
10 ハイサイドモジュール部分、11 ハイサイド半導体チップ、11A,21A スイッチング素子、11B,21B 還流用ダイオード、12 ハイサイド集積回路、13 ハイサイドリードフレーム、13A パワーp側フレーム、13B p側リード端子、20 ローサイドモジュール部分、21 ローサイド半導体チップ、22 ローサイド集積回路、23 ローサイドリードフレーム、23A パワーn側フレーム、23B,23D n側リード端子、23C ワイヤ接続用フレーム、31 制御側フレーム、31A 制御用チップ載置部、31B 制御用リード端子、32 グランド線、41,46 突起部、42A 第1の接合素材、42B 第2の接合素材、43 金ワイヤ、44 アルミニウムワイヤ、45 モールド樹脂、51,52 ヒートシンク、90 電力変換装置、94 半導体モジュール、95 放熱フィン、96 制御回路、97 誘導負荷、98 電力変換用半導体モジュール、99 電源、101,102,103,104,105 インバータモジュール、201 電力変換システム、B1,B2 境界線。

Claims (10)

  1. 平面視において互いに重なるように配置された、ハイサイドモジュール部分とローサイドモジュール部分とを備える半導体装置であって、
    前記ハイサイドモジュール部分は、ハイサイド半導体チップと、ハイサイド集積回路と、前記ハイサイド半導体チップを載置するハイサイドリードフレームとを含み、
    前記ローサイドモジュール部分は、ローサイド半導体チップと、ローサイド集積回路と、前記ローサイド半導体チップを載置するローサイドリードフレームとを含み、
    前記ハイサイドモジュール部分と前記ローサイドモジュール部分とを跨ぎ、前記ハイサイド集積回路および前記ローサイド集積回路とを載置する制御側フレームをさらに備え、
    前記ハイサイド集積回路および前記ローサイド集積回路は前記制御側フレームの一方の主表面上に載置され、
    前記制御側フレームは、前記ハイサイドモジュール部分と前記ローサイドモジュール部分との境界において、前記ハイサイド半導体チップと前記ローサイド半導体チップとが互いに対向するように屈曲されている、半導体装置。
  2. 前記ローサイドリードフレームからは前記ハイサイドリードフレームに載置された前記ハイサイド半導体チップと電気的に接続可能であり前記ローサイドリードフレームの厚み方向に延びる突起部が延びている、請求項1に記載の半導体装置。
  3. 前記ローサイドリードフレームと前記突起部とは一体である、請求項2に記載の半導体装置。
  4. 前記ローサイドリードフレームと前記突起部とは別体である、請求項2に記載の半導体装置。
  5. 前記ハイサイド半導体チップと前記ハイサイドリードフレームとは第1の接合素材により接合されており、
    前記ハイサイド半導体チップと前記突起部とは第2の接合素材により接合されており、
    前記第2の接合素材は前記第1の接合素材よりも融点が低い、請求項2〜4のいずれか1項に記載の半導体装置。
  6. 前記ハイサイドリードフレームの前記ハイサイド半導体チップが接合される第1の主表面と反対側の第2の主表面上、および前記ローサイドリードフレームの前記ローサイド半導体チップが接合される第3の主表面と反対側の第4の主表面上にヒートシンクが載置される、請求項1〜5のいずれか1項に記載の半導体装置。
  7. 前記第2の主表面上の前記ヒートシンクと、前記第4の主表面上の前記ヒートシンクとは一体として接合されている、請求項6に記載の半導体装置。
  8. 前記ハイサイド半導体チップおよび前記ローサイド半導体チップのそれぞれは、スイッチング素子と、還流用ダイオードとを有し、
    前記ハイサイド半導体チップとしての前記スイッチング素子と前記還流用ダイオードとはボンディングワイヤにより接続されており、
    前記ローサイド半導体チップとしての前記スイッチング素子と前記還流用ダイオードとはボンディングワイヤにより接続されている、請求項1〜7のいずれか1項に記載の半導体装置。
  9. 前記ハイサイドモジュール部分はハイサイド端子を含み、
    前記ローサイドモジュール部分はローサイド端子を含み、
    前記ハイサイド端子と前記ローサイド端子とは互いに隣接するように配置される、請求項1〜8のいずれか1項に記載の半導体装置。
  10. 請求項1〜9のいずれか1項に記載の半導体装置を有し、入力される電力を変換して出力する主変換回路と、
    前記主変換回路を制御する制御信号を前記主変換回路に出力する制御回路とを備えた、電力変換装置。
JP2016234185A 2016-12-01 2016-12-01 半導体装置および電力変換装置 Active JP6566927B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016234185A JP6566927B2 (ja) 2016-12-01 2016-12-01 半導体装置および電力変換装置
US15/691,068 US10229869B2 (en) 2016-12-01 2017-08-30 Semiconductor device and power conversion device including a bent control side frame
DE102017217710.1A DE102017217710A1 (de) 2016-12-01 2017-10-05 Halbleitervorrichtung und Leistungswandlungsvorrichtung
CN201711251027.8A CN108133927B (zh) 2016-12-01 2017-12-01 半导体装置及电力变换装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016234185A JP6566927B2 (ja) 2016-12-01 2016-12-01 半導体装置および電力変換装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018093024A true JP2018093024A (ja) 2018-06-14
JP6566927B2 JP6566927B2 (ja) 2019-08-28

Family

ID=62164320

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016234185A Active JP6566927B2 (ja) 2016-12-01 2016-12-01 半導体装置および電力変換装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US10229869B2 (ja)
JP (1) JP6566927B2 (ja)
CN (1) CN108133927B (ja)
DE (1) DE102017217710A1 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021061331A (ja) * 2019-10-08 2021-04-15 ローム株式会社 半導体装置
WO2022097646A1 (ja) 2020-11-04 2022-05-12 株式会社シンプロジェン 枯草菌におけるウイルスベクタープラスミド生産
WO2022097647A1 (ja) 2020-11-04 2022-05-12 株式会社シンプロジェン 統合型プラスミド

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016047212A1 (ja) * 2014-09-25 2016-03-31 日立オートモティブシステムズ株式会社 電力変換装置
JP7271337B2 (ja) 2019-06-27 2023-05-11 新光電気工業株式会社 電子部品装置及び電子部品装置の製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009071059A (ja) * 2007-09-13 2009-04-02 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置
JP2013251297A (ja) * 2012-05-30 2013-12-12 Toyota Motor Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2016076727A (ja) * 2015-12-24 2016-05-12 トヨタ自動車株式会社 半導体装置
JP2016111088A (ja) * 2014-12-03 2016-06-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002324887A (ja) * 2001-04-25 2002-11-08 Nec Yamagata Ltd 半導体装置の製造方法
JP4498170B2 (ja) * 2005-03-02 2010-07-07 三菱電機株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP5733092B2 (ja) 2011-08-03 2015-06-10 トヨタ自動車株式会社 半導体装置及びその製造方法
JP5836993B2 (ja) * 2013-03-22 2015-12-24 株式会社日立製作所 インバータ装置
EP3104411A4 (en) * 2015-04-28 2017-12-06 Shindengen Electric Manufacturing Co., Ltd. Semiconductor module
US9953903B2 (en) * 2015-07-22 2018-04-24 Nxp B.V. Heatsink very-thin quad flat no-leads (HVQFN) package

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009071059A (ja) * 2007-09-13 2009-04-02 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置
JP2013251297A (ja) * 2012-05-30 2013-12-12 Toyota Motor Corp 半導体装置及びその製造方法
JP2016111088A (ja) * 2014-12-03 2016-06-20 ルネサスエレクトロニクス株式会社 半導体装置
JP2016076727A (ja) * 2015-12-24 2016-05-12 トヨタ自動車株式会社 半導体装置

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2021061331A (ja) * 2019-10-08 2021-04-15 ローム株式会社 半導体装置
JP7385414B2 (ja) 2019-10-08 2023-11-22 ローム株式会社 半導体装置
WO2022097646A1 (ja) 2020-11-04 2022-05-12 株式会社シンプロジェン 枯草菌におけるウイルスベクタープラスミド生産
WO2022097647A1 (ja) 2020-11-04 2022-05-12 株式会社シンプロジェン 統合型プラスミド

Also Published As

Publication number Publication date
US10229869B2 (en) 2019-03-12
JP6566927B2 (ja) 2019-08-28
DE102017217710A1 (de) 2018-06-07
CN108133927B (zh) 2021-02-23
CN108133927A (zh) 2018-06-08
US20180158761A1 (en) 2018-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6566927B2 (ja) 半導体装置および電力変換装置
JP5206743B2 (ja) 半導体モジュールおよびその製造方法
JP7196815B2 (ja) 半導体モジュール及び電力変換装置
CN110178304B (zh) 半导体装置
JP5092892B2 (ja) 半導体装置
US10804186B2 (en) Semiconductor module and power converter
JP6123722B2 (ja) 半導体装置
CN113519050A (zh) 半导体装置
JP2020043154A (ja) 半導体装置及びその製造方法、並びに、電力変換装置
JP5202365B2 (ja) 半導体装置
JP6410998B1 (ja) 半導体モジュール、半導体モジュールの製造方法および電力変換装置
US11217514B2 (en) Power semiconductor device, method for manufacturing power semiconductor device, and power conversion device
JP2018073923A (ja) 電力用半導体装置、電力用半導体装置の製造方法および電力変換装置
WO2022224904A1 (ja) 半導体装置およびその製造方法ならびに電力変換装置
WO2022107439A1 (ja) パワー半導体モジュール
JP7268760B2 (ja) 半導体モジュール、電力変換装置及び移動体
JP7146113B2 (ja) 半導体装置および電力変換装置
JP7329583B2 (ja) 半導体装置および電力変換装置
US20230163052A1 (en) Semiconductor device and power conversion device
JP6541896B1 (ja) 半導体モジュールおよび電力変換装置
JP2011014744A (ja) 半導体装置
JP2012209598A (ja) 半導体装置
JP2018081947A (ja) パワーモジュールおよびその製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181101

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20190702

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190628

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20190730

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6566927

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250