JP2018087725A - 画像取得装置、これを用いた画像取得方法及び照射装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 テラヘルツ波を用いて画像を取得する画像取得装置1001であって、テラヘルツ波を発生する複数の発生素子が配置面117に配置されている発生部112と、テラヘルツ波を結像面115に結像する照射光学系111と、被写体で反射したテラヘルツ波を結像する結像光学系101と、複数の画素を含むセンサ102と、を有し、複数の発生素子は、発生部において隣り合っており且つ被写体に対する照射角度が異なる第1の発生素子113と第2の発生素子114とを少なくとも含み、第1の発生素子からの第1のテラヘルツ波156のビームと第2の発生素子からの第2のテラヘルツ波157のビームとが、結像面において重複する重複領域を有する画像取得装置。
【選択図】 図1
Description
本実施形態の画像取得装置1001について、図1を参照して説明する。図1は、画像取得装置1001の構成を説明する模式図である。
本実施形態の画像取得装置1003について、図4を参照して説明する。図4は、画像取得装置1003の構成を説明する模式図である。画像取得装置1003は、第1の実施形態の画像取得装置1002と照射部410、420の配置が異なる。なお、上述の実施形態と共通する構成については、図4において同じ付番を付し、詳細な説明は省略する。
本実施形態の画像取得装置1004の構成について、図5を参照して説明する。図5は、画像取得装置1004の構成を説明する模式図である。画像取得装置1004は、照射部510と検出部100との位置関係が上述の実施形態と異なる。なお、上述の実施形態と共通する構成については、図5において同じ付番を付し、詳細な説明は省略する。
本実施形態の画像取得装置1005について、図6を参照して説明する。図6は、画像取得装置1005の構成を説明する模式図である。画像取得装置1005は、上述の実施形態の画像取得装置に、テラヘルツ波を走査する構成を加えたものである。ここでは、第1の実施形態の画像取得装置1002に、テラヘルツ波を走査する機構を加えたものを一例として述べる。なお、上述の実施形態と共通する構成については、図5において同じ付番を付し、詳細な説明は省略する。
102 センサ
110 第1の照射部(第1の照射装置)
111 照射光学系
112 発生部(面光源)
113 第1の発生素子(第1の点光源)
114 第2の発生素子(第2の点光源)
115 結像面
116 物体面
117 配置面
156 第1のテラヘルツ波
157 第2のテラヘルツ波
1001 画像取得装置
Claims (16)
- テラヘルツ波を用いて被写体の画像を取得する画像取得装置であって、
テラヘルツ波を発生する複数の発生素子が配置面に配置されている発生部と、
前記発生部からのテラヘルツ波を結像面に結像する照射光学系と、
前記被写体で反射したテラヘルツ波を結像する結像光学系と、
複数の画素を含み、前記結像光学系からのテラヘルツ波を検出するセンサと、を有し、
前記複数の発生素子は、前記発生部において隣り合っており且つ前記被写体に対する照射角度が異なる第1の発生素子と第2の発生素子とを少なくとも含み、
前記第1の発生素子からの第1のテラヘルツ波のビームと前記第2の発生素子からの第2のテラヘルツ波のビームとが、前記結像面において重複する重複領域を有する
ことを特徴とする画像取得装置。 - 前記重複領域は、前記結像面において前記複数の画素の少なくとも1つに対応する観察領域と重なっている
ことを特徴とする請求項1に記載の画像取得装置。 - 前記発生部の少なくとも一部は、前記照射光学系の物体面に配置されている
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の画像取得装置。 - 前記配置面と前記物体面とは、交差する
ことを特徴とする請求項1から3のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - 前記配置面は、曲面を有する
ことを特徴とする請求項4に記載の画像取得装置。 - 前記第1の発生素子は、前記第1のテラヘルツ波の放射パターンの第1の指向軸と前記照射光学系の光軸とが交差するように配置されており、
前記第2の発生素子は、前記第2のテラヘルツ波の放射パターンの第2の指向軸と前記照射光学系の光軸とが交差するように配置されている
ことを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - 前記照射光学系と前記結像光学系とは、前記発生部を挟んで同軸上に配置されている
ことを特徴とする請求項1から6のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - 前記第1のテラヘルツ波及び前記第2のテラヘルツ波に含まれる波長のうちの最長波長をλとすると、前記第1の発生素子と前記第2の発生素子との間隔は、0.5λ以上36λ以下である
ことを特徴とする請求項1から7のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - 前記第1の発生素子と前記第2の発生素子との間隔は、0.5λ以上8λ以下である
ことを特徴とする請求項8に記載の画像取得装置。 - 前記被写体に入射する前記発生部からのテラヘルツ波の入射角度を、第1の入射角度から第2の入射角度に変更する走査部と、
前記第1の入射角度における前記検出部の検出結果と、前記第2の入射角度における前記検出部の検出結果とを用いて、前記被写体の画像を取得する処理部と、をさらに有する
ことを特徴とする請求項1から9のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - 前記照射光学系は、透過型の光学素子を含む
ことを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - 前記照射光学系は、反射型の光学素子を含む、
ことを特徴とする請求項1から10のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - 前記発生部からのテラヘルツ波は、0.3THz以上30THz以下のテラヘルツ波を含む
ことを特徴とする請求項1から12のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - 前記発生部からのテラヘルツ波は、0.3THz以上1THz以下のテラヘルツ波を含む
ことを特徴とする請求項1から13のいずれか一項に記載の画像取得装置。 - テラヘルツ波を発生する複数の発生素子が配置面に配置されている発生部と、
前記発生部からのテラヘルツ波を結像面に収束する照射光学系と、を有し、
前記複数の発生素子は、前記発生部において隣り合っており且つ前記被写体に対する照射角度が異なる第1の発生素子と第2の発生素子とを少なくとも含み、
前記第1の発生素子からの第1のテラヘルツ波のビームと前記第2の発生素子からの第2のテラヘルツ波のビームとが、前記結像面において重複する重複領域を有する
ことを特徴とする照射装置。 - 第1の発生素子から第1のテラヘルツ波を発生する第1の発生ステップと、
第2の発生素子から第2のテラヘルツ波を発生する第2の発生ステップと、
前記第1のテラヘルツ波及び前記第2のテラヘルツ波を結像面に収束する収束ステップと、
前記被写体で反射した前記第1のテラヘルツ波及び前記第2のテラヘルツ波を結像する結像ステップと、
前記結像ステップで結像した前記第1のテラヘルツ波及び前記第2のテラヘルツ波を検出する検出ステップと、を有し、
前記第1の発生ステップ及び前記第2の前記第1のテラヘルツ波のビームと前記第2のテラヘルツ波のビームとが、前記結像面において重複する
ことを特徴とする画像取得方法。
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