JP2009276389A - テラヘルツ波発生装置およびテラヘルツ波発生方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】分光装置を簡素に構築することができるテラヘルツ波発生装置の実現。
【解決手段】シグナル光源10からのシグナル光とポンプ光源11からのポンプ光とを無偏光ビームスプリッタ12によって合波して合波光を生成し、ファイバーアンプにより増幅した。そして、偏光ビームスプリッタ15によって合波光を2つの合波光A、Bに分割し、偏光ビームスプリッタ16により合波光A、Bが位相整合角を成してGaP結晶17において重なるように混合した。これにより、合波光B中のポンプ光と合波光A中のシグナル光との差周波混合によるテラヘルツ波と、合波光A中のポンプ光と合波光B中のシグナル光との差周波混合によるテラヘルツ波が2方向に放射される。2方向に放射されるテラヘルツ波のうち、一方を参照光とすることができるので、分光装置を簡素に構築できる。
【選択図】図1
【解決手段】シグナル光源10からのシグナル光とポンプ光源11からのポンプ光とを無偏光ビームスプリッタ12によって合波して合波光を生成し、ファイバーアンプにより増幅した。そして、偏光ビームスプリッタ15によって合波光を2つの合波光A、Bに分割し、偏光ビームスプリッタ16により合波光A、Bが位相整合角を成してGaP結晶17において重なるように混合した。これにより、合波光B中のポンプ光と合波光A中のシグナル光との差周波混合によるテラヘルツ波と、合波光A中のポンプ光と合波光B中のシグナル光との差周波混合によるテラヘルツ波が2方向に放射される。2方向に放射されるテラヘルツ波のうち、一方を参照光とすることができるので、分光装置を簡素に構築できる。
【選択図】図1
Description
本発明は、非線形結晶を用いて差周波混合によりテラヘルツ波を生成するテラヘルツ波発生装置およびテラヘルツ波発生方法に関する。
近年、電波と光との境界の電磁波であるテラヘルツ波が注目され、テラヘルツ波を用いた分光技術やイメージング技術について研究開発がなされている。
テラヘルツ波発生装置として、非線形結晶を用いた差周波数の発生を利用するものが知られている(たとえば、特許文献1〜3)。これは、周波数差がテラヘルツ帯域である2つの励起光を位相整合条件を満たすようにして非線形光学結晶に入射させ、差周波混合によってテラヘルツ波を発生させるものである。
GaPなどの等方性の非線形光学結晶を用いる場合は、複屈折性を利用して位相整合させることができないため、2つの励起光に微小な角度を持たせるノンコリニア位相整合を行っている。GaP結晶の場合のノンコリニア位相整合について、特許文献1、3に詳しく記載されている。
特開2004−318028
特開2006−91802
特開2007−133339
特許文献1〜3などに示された従来のテラヘルツ波発生装置では、発生するテラヘルツ波は1方向である。そのため、従来のテラヘルツ波発生装置を分光法に用いる場合はハーフミラーなどによってテラヘルツ波を分割して参照光を得る必要があった。しかし、ハーフミラーには周波数依存性があり、測定精度を悪化させていた。また、テラヘルツ帯域を扱うハーフミラーなどの光学部品は高価であり、コストの点で問題があった。
そこで本発明の目的は、分光法における測定精度を向上させることができ、かつ低コストに分光装置を構築することができるテラヘルツ波発生装置を実現することである。
第1の発明は、第1励起光を放射する第1励起光源と、第1励起光との周波数差がテラヘルツ帯域である第2励起光を放射する第2励起光源と、第1励起光と第2励起光とを合波させて合波光を生成する合波手段と、合波光を2つに分割する分割手段と、2つの合波光の成す角度が位相整合角となるよう角度を調整して混合させる角度調整手段と、2つの合波光が位相整合角を成して入射し、差周波混合によって同時に2方向にテラヘルツ波を放射する非線形光学結晶と、を備えていることを特徴とするテラヘルツ波発生装置である。
非線形光学結晶は、差周波混合によってテラヘルツ波を発生させることができ、ノンコリニア位相整合により位相整合条件が満たされるものであればよい。たとえば、GaP結晶やLiNbO3 結晶などを用いることができる。
第2の発明は、第1の発明において、テラヘルツ波発生装置は、合波光を分割手段により分割する前に増幅するファイバーアンプを備えていることを特徴とするテラヘルツ波発生装置である。
第3の発明は、第1の発明または第2の発明において、テラヘルツ波発生装置は、合波光を分割手段により分割する前に集光し、非線形光学結晶においてもっともビーム径が絞られるように調整するレンズを備えていることを特徴とするテラヘルツ波発生装置である。
第4の発明は、第1の発明から第3の発明において、非線形光学結晶は、GaP結晶であることを特徴とするテラヘルツ波発生装置である。
第5の発明は、第1の発明から第4の発明において、第1励起光源と前記第2励起光源のうち少なくとも一方は波長可変であることを特徴とするテラヘルツ波発生装置である。
第6の発明は、第1励起光と、第1励起光との周波数差がテラヘルツ帯域である第2励起光とを生成し、第1励起光と第2励起光とを合波させて合波光を生成し、合波光を2つに分割し、2つの合波光の成す角度が位相整合角となるよう角度を調整し、2つの合波光を位相整合角を成して非線形光学結晶に入射させ、第1励起光と第2励起光との差周波数であることを特徴とするテラヘルツ波発生方法である。
第7の発明は、第6の発明のテラヘルツ波発生方法により発生した2方向のテラヘルツ波のうち、一方を試料に照射する測定光とし、他方を参照光とすることを特徴とする分光法である。
第1の発明のテラヘルツ波発生装置によると、テラヘルツ波を2方向に同時に発生させることができる。そのため、第1の発明のテラヘルツ波発生装置を用いて分光装置を構築すれば、従来のようにテラヘルツ波をハーフミラー等の光学部品によって分割して参照光を得る必要がない。したがって、本発明のテラヘルツ波発生装置を用いれば分光装置の構成を簡素化することができ、低コストで測定精度の高い分光装置を構築することができる。
また、第2の発明のように、第1励起光と第2励起光とを合波しているため、1台のファイバーアンプで第1励起光と第2励起光の双方を増幅することができ、テラヘルツ波発生装置の構成を簡素化することができ、低コスト化を図ることができる。
また、第3の発明のように、第1励起光と第2励起光を合波して同時に集光しているため、ビーム径が円形となり、非線形光学結晶において2つの合波光を効率的に重ねることができ、テラヘルツ波の出力を向上させることができる。
また、第4の発明のように、非線形光学結晶としてGaP結晶を用いることができる。
また、第5の発明のように、第1励起光源と前記第2励起光源のうち少なくとも一方を波長可変とすれば、第1励起光と第2励起光との周波数差を制御することができるので、発生させるテラヘルツ波の周波数を可変とすることができる。
また、第6の発明によると、テラヘルツ波を2方向に同時に発生させることができる。
また、第7の発明によると、従来のようにテラヘルツ波をハーフミラー等の光学部品によって分割して参照光を得る必要がないので、測定精度を向上させることができ、低コストで分光測定することができる。
以下、本発明の具体的な実施例について図を参照に説明するが、本発明は実施例に限定されるものではない。
実施例1は、同時に2方向にテラヘルツ波を発生させることができ、そのテラヘルツ波の周波数が可変であるテラヘルツ波発生装置である。図1は、実施例1のテラヘルツ波発生装置の構造について示した図である。テラヘルツ波発生装置は、シグナル光源10と、ポンプ光源11と、無偏光ビームスプリッタ12と、ファイバーアンプ13と、レンズ14と、偏光ビームスプリッタ15、16と、GaP結晶17と、ミラー18〜20と、1/2波長板21〜24と、を備えている。シグナル光源10、ポンプ光源11は本発明の第1、第2励起光源に相当している。また、無偏光ビームスプリッタ12が本発明の合波手段に相当し、偏光ビームスプリッタ15が本発明の分割手段に相当し、偏光ビームスプリッタ16が本発明の角度調整手段に相当し、GaP結晶17が本発明の非線形光学結晶に相当している。
シグナル光源10は、LD励起のYAGレーザである。波長1.064μm、線幅15MHz、出力200mWのシグナル光を放射する。
ポンプ光源11は、波長可変な外部共振器型半導体レーザである。共振器のアライメントにより波長を1.02μmから1.08μmの範囲で可変であり、シグナル光との周波数差は最大12THzである。この波長範囲において出力は500mW以上である。また、線幅は2MHzである。
ファイバーアンプ13は、Ybをドープした光ファイバ増幅器であり、無偏光ビームスプリッタ12からの合波光を増幅させるものである。
レンズ14は、焦点距離500mmである。このレンズ14によって、ファイバーアンプ13からの合波光のビーム径がGaP結晶17において最も絞られるようにする。
無偏光ビームスプリッタ12および偏光ビームスプリッタ15、16は、三角プリズムの斜面に誘電体多層膜を形成し、2つの三角プリズムを斜面で接着したキューブ型の素子である。偏光ビームスプリッタ16は回転、移動させることができる。たとえば、偏光ビームスプリッタ16を1軸ステージ上に乗せることで移動の制御が可能である。無偏光ビームスプリッタ12に入射した光は、その偏光状態によらずに反射光と透過光に分割される。偏光ビームスプリッタ15、16に入射した光は、反射光と透過光に分割され、その反射光と透過光の偏光方向は互いに直交する。無偏光ビームスプリッタ12は、シグナル光とポンプ光とを合波するためのものである。偏光ビームスプリッタ15は、シグナル光とポンプ光との合波光を2つに分割するものである。偏光ビームスプリッタ16は、その回転、移動を制御することで、2つの合波光の成す角度と重なる位置を調整して混合するものである。
GaP結晶17は(110)面で研磨されている。この(110)面が光の入射面となる。実施例1のテラヘルツ波発生装置は、このGaP結晶17に2つの励起光を入射させて差周波混合を生じさせることによりテラヘルツ波を発生させるものである。GaP結晶17は等方性の非線形光学結晶であり、複屈折性を有していないため、2つの励起光に角度を持たせて行う位相整合(ノンコリニア位相整合)によって位相整合条件を満たすようにする。
ミラー18〜20はいずれも光の照射方向を制御するためのものであり、1/2波長板21〜24はいずれも光の偏光方向を調整するためのものである。
このテラヘルツ波発生装置は、GaP結晶17からポンプ光とシグナル光との差周波数のテラヘルツ波を2方向に同時に発生させることができるものである。また、ポンプ光源11を制御してポンプ光の波長を変化させ、ポンプ光とシグナル光との周波数差を変化させることにより、発生させるテラヘルツ波の周波数を制御することができる。
以下、テラヘルツ波発生装置によるテラヘルツ波発生の動作についてより詳しく説明する。
まず、ポンプ光源11を制御してポンプ光の波長を調整し、シグナル光とポンプ光との周波数差が、所望のテラヘルツ波の周波数となるようにする。そして、シグナル光源10からシグナル光を、ポンプ光源11からポンプ光を出力させる。
シグナル光源10から放射されるシグナル光は、1/2波長板21を通したのち、ミラー20によって反射させ、無偏光ビームスプリッタ12に入射させる。一方、ポンプ光源11から放射されるポンプ光は、1/2波長板22を通して無偏光ビームスプリッタ12に入射させる。これにより、偏光方向が揃った状態でシグナル光およびポンプ光を合波させ、合波光を出力させる。
次に、無偏光ビームスプリッタ12から出力された合波光をファイバーアンプ13に入射させ、合波光を増幅させる。
次に、レンズ14によって合波光を集光し、GaP結晶17においてもっともビーム径が絞られるようにする。
次に、偏光ビームスプリッタ15によって合波光を、合波光A、Bの2つに分割する。一方の合波光Aは、1/2波長板23を通して偏光ビームスプリッタ16に入射させる。他方の合波光Bは、ミラー19によって反射させ、1/2波長板24を透過し、さらにミラー20によって反射させたのち、偏光ビームスプリッタ16に入射させる。そして、偏光ビームスプリッタ16によって、GaP結晶17において2つの合波光A、Bが角度を成して混合するようにする。合波光A、Bの成す角度および重なる位置は、偏光ビームスプリッタ16を回転、移動させることで制御することができる。合波光A、Bの成す角度は位相整合条件を満たすように制御する。
2つの合波光A、Bは、GaP結晶17の(110)面に重ね合わせて入射させる。(110)面に入射させるのは、他の結晶面よりも効率よくTOフォノンが励起され、効率よくテラヘルツ波を発生させることができるからである。また、合波光A、Bの偏光方向は、一方が[001]軸方向となるように、他方が[1−10]軸方向となるようにする。これは、ラマン選択則から導かれるフォノンの励起効率に優れるからである。いずれの現象もGaP結晶のフォノン−ポラリトンの分散曲線から説明される。
GaP結晶17中では差周波混合によってフォノン−ポラリトンが励起され、ポンプ光とシグナル光との差周波数のテラヘルツ波が発生する。図2は、GaP結晶17中におけるシグナル光、ポンプ光、およびテラヘルツ波(フォノン−ポラリトン)の波数ベクトルの関係を示した図である。図2中において、ks は合波光A中のシグナル光の波数ベクトル、kp は合波光B中のポンプ光の波数ベクトル、ks ’は合波光B中のシグナル光の波数ベクトル、kp ’は合波光A中のポンプ光の波数ベクトル、q、q’は発生するテラヘルツ波の波数ベクトルを示している。q=kp −ks 、q’=kp ’−ks ’である。この図2のように、ポンプ光の波数ベクトルとシグナル光の波数ベクトルとの差kp −ks 、kp ’−ks ’がテラヘルツ波の波数ベクトルq、q’と一致するときに位相整合条件が満たされる。2本の合波光A、Bを入射させているため、一方の合波光A中のシグナル光と他方の合波光B中のポンプ光によるテラヘルツ波(q=kp −ks 、図2(a)参照)と、一方の合波光A中のポンプ光と他方の合波光B中のシグナル光によるテラヘルツ波(q’=kp ’−ks ’、図2(b)参照)の2波が発生し、GaP結晶17からそれぞれ異なる方向に放射される。すなわち、qとkp との成す角度と、q’とkp ’との成す角度が等しく、kp +kp ’の方向に対して対称的な2方向にテラヘルツ波が出力される。
また、レンズ14によってシグナル光およびポンプ光を同時に集光しているため、GaP結晶17において合波光A、Bのビーム形状はほぼ円形となる。そのため、図3に示すように合波光A、Bを効率的に重ね合わせることができる。
以上のように、実施例1のテラヘルツ波発生装置からは、同時に2方向にテラヘルツ波が発生する。したがって、実施例1のテラヘルツ波発生装置を用いて分光装置を構築すれば、テラヘルツ波を光学部品を用いて分割して参照光を生成する必要がないので、低コストに分光装置を構築することができ、また高精度に分光測定を行うことができる。
図4は、ポンプ光の波長を1.055μmとした場合の位相整合角度と出力の関係を示すグラフである。横軸はGaP結晶17に入射する直前での合波光A、Bの成す角度θで単位は分、縦軸はテラヘルツ波の相対強度を示している。テラヘルツ波発生装置からは、波長1.064μmのシグナル光と波長1.055μmのポンプ光との周波数差である2.41THzのテラヘルツ波が2方向に放射される。この放射されるテラヘルツ波を、液体ヘリウム冷却のシリコンボロメータを用いて検出した。なお、合波光Aに光学チョッパーを用いて同期させ、ロックインアンプを用いることでテラヘルツ波を高感度に検出できるようにしている。合波光A、Bの成す角度θを変化させて周波数2.41THzのテラヘルツ波の出力を測定したところ、図4のように±19.8分の角度に出力のピークがあることがわかり、合波光A、Bの進行方向に対して約43度と約−43度の2方向にテラヘルツ波が発生したことが確認できた。
なお、実施例では非線形光学結晶としてGaP結晶を用いたが、差周波混合によってテラヘルツ波を発生させ、ノンコリニア位相整合により位相整合条件を満たすことができる非線形光学結晶であれば他のものを用いてもよい。たとえば、LiNbO3 結晶などを用いることができる。
本発明のテラヘルツ波発生装置は、分光法などに用いることができる。
10:シグナル光源
11:ポンプ光源
12:無偏光ビームスプリッタ
13:ファイバーアンプ
14:レンズ
15、16:偏光ビームスプリッタ
17:GaP結晶
11:ポンプ光源
12:無偏光ビームスプリッタ
13:ファイバーアンプ
14:レンズ
15、16:偏光ビームスプリッタ
17:GaP結晶
Claims (7)
- 第1励起光を放射する第1励起光源と、
前記第1励起光との周波数差がテラヘルツ帯域である第2励起光を放射する第2励起光源と、
前記第1励起光と前記第2励起光とを合波させて合波光を生成する合波手段と、
前記合波光を2つに分割する分割手段と、
2つの前記合波光の成す角度が位相整合角となるよう角度を調整して混合させる角度調整手段と、
2つの前記合波光が位相整合角を成して入射し、差周波混合によって同時に2方向にテラヘルツ波を放射する非線形光学結晶と、
を備えていることを特徴とするテラヘルツ波発生装置。 - 前記テラヘルツ波発生装置は、前記合波光を前記分割手段により分割する前に増幅するファイバーアンプを備えている、
ことを特徴とする請求項1に記載のテラヘルツ波発生装置。 - 前記テラヘルツ波発生装置は、前記合波光を前記分割手段により分割する前に集光し、前記非線形光学結晶においてもっともビーム径が絞られるように調整するレンズを備えている、
ことを特徴とする請求項1または請求項2に記載のテラヘルツ波発生装置。 - 前記非線形光学結晶は、GaP結晶であることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか1項に記載のテラヘルツ波発生装置。
- 前記第1励起光源と前記第2励起光源のうち少なくとも一方は波長可変であることを特徴とする請求項1ないし請求項4のいずれか1項に記載のテラヘルツ波発生装置。
- 第1励起光と、前記第1励起光との周波数差がテラヘルツ帯域である第2励起光とを生成し、
前記第1励起光と前記第2励起光とを合波させて合波光を生成し、
前記合波光を2つに分割し、
2つの前記合波光の成す角度が位相整合角となるよう角度を調整し、
2つの前記合波光を位相整合角を成して非線形光学結晶に入射させ、前記第1励起光と前記第2励起光との差周波数であるテラヘルツ波を2方向に発生させる、
ことを特徴とするテラヘルツ波発生方法。 - 請求項6に記載のテラヘルツ波発生方法により発生した2方向のテラヘルツ波のうち、一方を試料に照射する測定光とし、他方を参照光とすることを特徴とする分光法。
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