JP2018070440A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2018070440A5
JP2018070440A5 JP2017200837A JP2017200837A JP2018070440A5 JP 2018070440 A5 JP2018070440 A5 JP 2018070440A5 JP 2017200837 A JP2017200837 A JP 2017200837A JP 2017200837 A JP2017200837 A JP 2017200837A JP 2018070440 A5 JP2018070440 A5 JP 2018070440A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
silicon carbide
carbide epitaxial
basal plane
less
epitaxial layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017200837A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP2018070440A (ja
JP6891758B2 (ja
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP2017544970A external-priority patent/JP6233555B1/ja
Application filed filed Critical
Publication of JP2018070440A publication Critical patent/JP2018070440A/ja
Publication of JP2018070440A5 publication Critical patent/JP2018070440A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6891758B2 publication Critical patent/JP6891758B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2017200837A 2016-10-04 2017-10-17 炭化珪素エピタキシャル基板及び炭化珪素半導体装置の製造方法 Active JP6891758B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016196636 2016-10-04
JP2016196636 2016-10-04
JP2017544970A JP6233555B1 (ja) 2016-10-04 2017-06-05 炭化珪素エピタキシャル基板及び炭化珪素半導体装置の製造方法

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017544970A Division JP6233555B1 (ja) 2016-10-04 2017-06-05 炭化珪素エピタキシャル基板及び炭化珪素半導体装置の製造方法

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2018070440A JP2018070440A (ja) 2018-05-10
JP2018070440A5 true JP2018070440A5 (cg-RX-API-DMAC7.html) 2020-07-02
JP6891758B2 JP6891758B2 (ja) 2021-06-18

Family

ID=61831463

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017200837A Active JP6891758B2 (ja) 2016-10-04 2017-10-17 炭化珪素エピタキシャル基板及び炭化珪素半導体装置の製造方法

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10714572B2 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP (1) JP6891758B2 (cg-RX-API-DMAC7.html)
CN (1) CN109791879B (cg-RX-API-DMAC7.html)
DE (1) DE112017005034T5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
WO (1) WO2018066173A1 (cg-RX-API-DMAC7.html)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112074928B (zh) 2018-05-09 2023-12-22 住友电气工业株式会社 碳化硅外延衬底和制造碳化硅半导体器件的方法
JP6585799B1 (ja) * 2018-10-15 2019-10-02 昭和電工株式会社 SiC基板の評価方法及びSiCエピタキシャルウェハの製造方法
JP2023508691A (ja) 2019-12-27 2023-03-03 ウルフスピード インコーポレイテッド 大口径炭化ケイ素ウェハ
WO2022041157A1 (zh) * 2020-08-28 2022-03-03 华为技术有限公司 一种衬底及功率放大器件
US12125701B2 (en) * 2020-12-15 2024-10-22 Wolfspeed, Inc. Large dimension silicon carbide single crystalline materials with reduced crystallographic stress
CN113388888B (zh) * 2021-06-22 2022-07-12 山东天岳先进科技股份有限公司 一种碳化硅晶体、其使用的籽晶及籽晶的制备方法
WO2024080071A1 (ja) * 2022-10-11 2024-04-18 住友電気工業株式会社 炭化珪素結晶基板、エピタキシャル基板および半導体装置の製造方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7314520B2 (en) * 2004-10-04 2008-01-01 Cree, Inc. Low 1c screw dislocation 3 inch silicon carbide wafer
WO2009035085A1 (ja) 2007-09-12 2009-03-19 Daikin Industries, Ltd. 電解液
JP5273741B2 (ja) * 2007-09-12 2013-08-28 昭和電工株式会社 エピタキシャルSiC単結晶基板及びエピタキシャルSiC単結晶基板の製造方法
JP2010184833A (ja) * 2009-02-12 2010-08-26 Denso Corp 炭化珪素単結晶基板および炭化珪素単結晶エピタキシャルウェハ
CA2999629C (en) 2010-03-01 2020-12-15 The University Of British Columbia Derivatized hyperbranched polyglycerols
JP6025306B2 (ja) * 2011-05-16 2016-11-16 株式会社豊田中央研究所 SiC単結晶、SiCウェハ及び半導体デバイス
JP5958949B2 (ja) * 2011-05-26 2016-08-02 一般財団法人電力中央研究所 炭化珪素基板、炭化珪素ウェハ、炭化珪素ウェハの製造方法及び炭化珪素半導体素子
US8940614B2 (en) * 2013-03-15 2015-01-27 Dow Corning Corporation SiC substrate with SiC epitaxial film
JP6122704B2 (ja) 2013-06-13 2017-04-26 昭和電工株式会社 SiCエピタキシャルウェハ及びその製造方法
WO2016051975A1 (ja) 2014-10-01 2016-04-07 住友電気工業株式会社 炭化珪素エピタキシャル基板
JP2016166112A (ja) * 2015-03-10 2016-09-15 株式会社東芝 半導体基板及び半導体装置
US10626520B2 (en) * 2015-07-29 2020-04-21 Showa Denko K.K. Method for producing epitaxial silicon carbide single crystal wafer
US20170321345A1 (en) * 2016-05-06 2017-11-09 Ii-Vi Incorporated Large Diameter Silicon Carbide Single Crystals and Apparatus and Method of Manufacture Thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2018070440A5 (cg-RX-API-DMAC7.html)
JP6572832B2 (ja) 炭化珪素エピタキシャル基板の製造方法
JP6304699B2 (ja) エピタキシャル炭化珪素ウエハの製造方法
JP2016171348A5 (ja) 炭化珪素エピタキシャル基板の製造方法
US10714572B2 (en) Silicon carbide epitaxial substrate and method for manufacturing a silicon carbide semiconductor device
WO2017082126A1 (ja) Iii族窒化物半導体基板の製造方法及びiii族窒化物半導体基板
TWI222104B (en) Semiconductor wafer and method of fabricating the same
JP5910430B2 (ja) エピタキシャル炭化珪素ウエハの製造方法
US20060048702A1 (en) Method for manufacturing a silicon structure
JP7259906B2 (ja) ヘテロエピタキシャルウェーハの製造方法
JP2008222509A (ja) SiCエピタキシャル膜付き単結晶基板の製造方法
JP5339239B2 (ja) SiC基板の作製方法
JP2015078093A (ja) 3C−SiCエピタキシャル層の製造方法、3C−SiCエピタキシャル基板および半導体装置
JP4467615B2 (ja) 窒化物半導体結晶の成長方法、成長装置、および、プログラム
JP2006253617A (ja) SiC半導体およびその製造方法
JP2012171811A (ja) 炭化珪素単結晶エピタキシャルウエハの製造方法
US20120037067A1 (en) Cubic silicon carbide film manufacturing method, and cubic silicon carbide film-attached substrate manufacturing method
JP4511378B2 (ja) SOI基板を用いた単結晶SiC層を形成する方法
US12176399B2 (en) Method of manufacturing a silicon carbide epitaxial substrate
WO2015097852A1 (ja) 単結晶SiCエピタキシャル膜の形成方法
JP6951236B2 (ja) GaN基板およびその製造方法
JP5315944B2 (ja) シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法
JP2006222402A (ja) 窒化ガリウム系化合物半導体および製造方法
JP2008028277A (ja) 半導体基板の製造方法
JP2009274899A (ja) 炭化珪素エピタキシャル用基板の製造方法