JP2018067628A - 加工装置 - Google Patents

加工装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018067628A
JP2018067628A JP2016205120A JP2016205120A JP2018067628A JP 2018067628 A JP2018067628 A JP 2018067628A JP 2016205120 A JP2016205120 A JP 2016205120A JP 2016205120 A JP2016205120 A JP 2016205120A JP 2018067628 A JP2018067628 A JP 2018067628A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cassette
workpiece
processing apparatus
cut
notch
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016205120A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6765930B2 (ja
Inventor
博輝 古澤
Hiroteru Furusawa
博輝 古澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2016205120A priority Critical patent/JP6765930B2/ja
Publication of JP2018067628A publication Critical patent/JP2018067628A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6765930B2 publication Critical patent/JP6765930B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

【課題】簡易な構成でカセットステージ上のカセットの載置状態及びカセット内の被加工物の収容状態を認識すること。【解決手段】カセット(C)から被加工物(WU)を取り出して加工する加工装置(1)が、カセットが位置決め状態で載置されるカセットステージ(31)と、被加工物を保持する保持テーブル(21)と、保持テーブルが保持した被加工物を保持する加工手段と、カセットを撮像する撮像手段(41)と、撮像手段が撮像した撮像画から該カセット及び被加工物の特徴部分を抽出する抽出手段(43)と、カセット及び被加工物の特徴部分に基づいて該カセットの載置状態及び被加工物の収容状態を認識する認識手段(44)とを備える構成にした。【選択図】図2

Description

本発明は、カセット内から取り出された被加工物を加工する加工装置に関する。
一般に加工装置では、カセットから被加工物を取り出して保持テーブル上で加工した後、加工済みの被加工物をカセット内に収容している。カセットには、被加工物として、切削用のダイシングテープを介してリングフレームに支持されたウエーハや、研削用の保護テープが貼着されたウエーハが収容されている。カセットの内側面は棚状に形成されており、各棚に複数の被加工物が上下に間隔を空けて支持されている。このような加工装置としては、カセットステージ上に搬入されたカセットの有無を反射型のフォトセンサ等で検出するものが知られている(例えば、特許文献1参照)。
特開2015−115545号公報
ところで、カセットから被加工物を取り出すには、特許文献1に記載の加工装置のようにカセットの有無を検出する他、カセットサイズ、カセットステージ上にカセットが正常に載置されているかを認識するためのセンサが必要になっていた。さらに、カセットの各棚に被加工物が正常に収容されているか否かを認識するためのセンサが必要になっていた。このように、カセット及び被加工物の様々な状態を認識するために、加工装置に多数のセンサを用意しなければならず、装置構成が複雑になるという問題があった。
本発明はかかる点に鑑みてなされたものであり、簡易な構成でカセットステージ上のカセットの載置状態及びカセット内の被加工物の収容状態を認識することができる加工装置を提供することを目的の1つとする。
本発明の一態様の加工装置は、板状の被加工物を載置して棚状に収容する棚と被加工物を出し入れ可能とする開口とを有するカセットと、該カセットを所定の位置に載置する載置面と位置決め部とを有するカセットステージと、該被加工物を保持する保持テーブルと、該保持テーブルが保持した被加工物を加工する加工手段と、該保持テーブルと該カセットステージに載置される該カセットとに被加工物を搬送する搬送手段と、を備える加工装置あって、該カセットを撮像する撮像手段と、該撮像手段が撮像した撮像画から該カセット及び被加工物の特徴部分を抽出する抽出手段と、該カセット及び被加工物の特徴部分に基づいて該カセットの載置状態及び被加工物の収容状態を認識する認識手段とを備える。
この構成によれば、撮像画からカセットの特徴部分と被加工物の特徴部分が抽出されて、カセットの載置状態と被加工物の収容状態を認識することができる。よって、単一の撮像画から、例えば、カセットの有無、カセットサイズ、カセットの正常載置、被加工物の有無、被加工物の傾き、被加工物の飛び出しを認識することができ、個別にセンサを設ける構成と比較して装置構成を簡略化することができる。また、撮像画からカセット及び被加工物の特徴部分のみを抽出して認識処理を実施するため、処理量が大きくなることがなく負荷を軽減して処理速度を向上させることができる。
本発明の一態様の加工装置において、被加工物は、中央に円開口を有するリングフレームの該円開口を塞いでダイシングテープを貼着し該円開口のダイシングテープにウエーハを貼着していて、該リングフレームは、該リングフレームの中心を中心として90度ごと角度違いで外周部の少なくとも3か所が直線に切り欠かれていて向かい合う2つの第1の切り欠き辺と第2の切り欠き辺と、該第1の切り欠き辺と該第2の切り欠き辺とに直交する方向の第3の切り欠き辺との3つの切り欠き辺を備え、該カセットに収容される該被加工物は、該カセットの側壁と該第1の切り欠き辺と該第2の切り欠き辺とで該リングフレームの中心を軸にした回転方向が規制され該開口側に該第3の切り欠き辺が向けられていて、該抽出手段は、該撮像手段が撮像した撮像画から被加工物の特徴部分として該第3の切り欠き辺を抽出し、該認識手段は、撮像画から抽出された該第3の切り欠き辺の傾きに基づいて該カセットに収容された被加工物が傾いて収容されているか否か、及び撮像画から抽出された該第3の切り欠き辺の長さに基づいて該カセットに収容された被加工物が該カセットの開口から飛び出しているか否かを認識する。
本発明の一態様の加工装置において、該抽出手段は、該撮像手段が撮像した撮像画から該カセットの特徴部分として該カセットの側壁を抽出し、該認識手段は、撮像画から抽出された該側壁が傾いているか否かで、該カセットが正常に載置しているか否かを認識する。
本発明によれば、単一の撮像画からカセットの載置状態及び被加工物の収容状態を認識することで、加工装置の装置構成を簡略化することができる。
本実施の形態の加工装置の斜視図である。 本実施の形態の加工装置の上面模式図である。 本実施の形態のカセットに対する認識処理の一例を示す図である。 本実施の形態の被加工物に対する認識処理の一例を示す図である。
以下、添付図面を参照して、本実施の形態の加工装置について説明する。図1は、本実施の形態の加工装置の斜視図である。なお、加工装置は、図1に示す切削装置に限定されない。加工装置は、カセットが載置されるカセットステージを備えた加工装置であれば、どのような加工装置であってもよい。
図1に示すように、加工装置1では、複数の被加工物WUを収容したカセットCが搬入され、カセットCから引き出された被加工物WUに対して切削加工が施されて、加工済みの被加工物WUがカセットC内に再び収容される。被加工物WUは、リングフレームFの中央の円開口を塞ぐようにダイシングテープTを貼着し、リングフレームFの円開口から露出したダイシングテープTにウエーハWを貼着して構成されている。ウエーハWの表面は、格子状の分割予定ラインによって複数の領域に区画され、各領域に各種デバイスが形成されている。
なお、ウエーハWは、例えば、半導体基板に半導体デバイスが形成された半導体ウエーハでもよいし、無機材料基板に光デバイスが形成された光デバイスウエーハでもよいし、CSP(Chip Size Package)基板等のパッケージ基板でもよい。また、被加工物WUは、カセットCに取り出し可能に収容される構成であればよく、加工装置が研削装置の場合には研削対象になるものであればよい。例えば、被加工物WUは、ウエーハに保護テープが貼着されたものでもよいし、デバイス形成前の半導体基板や無機材料基板に保護テープが貼着されたものでもよい。
加工装置1は、切削加工の加工スペースを覆う直方体状の筐体11と、筐体11に隣接して待機スペースや洗浄スペースを形成する支持台12とを有している。支持台12の上面中央は、筐体11内に延在するように開口されており、この開口は保持テーブル21と共に移動可能な移動板22及び蛇腹状の防水カバー23に覆われている。防水カバー23の下方には、保持テーブル21をX軸方向に移動させるボールねじ式の移動機構(不図示)が設けられている。図1においては、保持テーブル21を筐体11の外部に移動させて支持台12上で待機させた状態を示している。
保持テーブル21は、ポーラスセラミック材で形成した保持面24で被加工物WUを吸引保持し、保持テーブル21の周囲のクランプ部25で被加工物WUを四方から挟持固定する。保持テーブル21の上方には、Y軸方向に延在する一対のガイドレール26が設けられている。一対のガイドレール26は、X軸方向の離間接近によってカセットCに対して被加工物WUを出し入れ可能にガイドすると共に、保持テーブル21に対して被加工物WUのX軸方向を位置決めする。保持テーブル21に保持された被加工物WUは筐体11内に送り込まれ、筐体11内の加工手段(不図示)によって被加工物WUが加工される。
また、支持台12上には、保持テーブル21を挟んで、カセット(不図示)が載置されるカセットステージ31と加工済みの被加工物WUを洗浄する洗浄手段35とが設けられている。カセットステージ31は、カセットCが載置された載置面32を昇降させて、カセットC内の被加工物WUの出し入れ位置を高さ方向で調整する。カセットステージ31の載置面32の四隅には、上面視L字状の4つ位置決め部33が設けられており、各位置決め部33がカセットCの四隅に当接することでカセットCが位置決め状態で所定の位置に載置される。
洗浄手段35は、被加工物WUを保持したスピンナテーブル36を支持台12内に降下させ、高速回転された被加工物WUに向けて洗浄水を噴射して被加工物WUを洗浄し、続けて洗浄水の代わりに被加工物WUに向けて乾燥エアを噴射して乾燥する。支持台12上には、保持テーブル21及び洗浄手段35を挟んでカセットステージ31に対向する位置に、カセットCを撮像する撮像手段41が設けられている。支持台12の上方には、カセットC、保持テーブル21、洗浄手段35の相互間で被加工物WUを搬送する1つ又は複数の搬送手段(不図示)が設けられている。
筐体11の前面13には、タッチパネル式のモニタ14が設置されている。モニタ14には、加工条件等が表示される共に、加工条件等を設定するための操作画面が表示される。また、加工装置1には、装置各部を統括制御する制御手段42が設けられている。制御手段42は、各種処理を実行するプロセッサやメモリ等により構成される。メモリは、用途に応じてROM(Read Only Memory)、RAM(Random Access Memory)等の一つ又は複数の記憶媒体で構成される。メモリには、例えば、装置各部を制御する制御プログラムの他、後述する画像処理を実施する処理プログラムが記憶されている。
ところで、加工装置1では、カセットステージ31上のカセットCの有無やカセットC内の被加工物WUの有無の他に、カセットCの正常載置、被加工物WUの傾き、被加工物WUの飛び出し等を認識する必要がある。通常は、これらを認識するためにセンサを用意する必要があるが、個別にセンサを設けなければならないため装置構成が複雑になるという問題がある。また、加工装置1にはカセットCの種類に応じてカセット段数やピッチ等のカセット情報を設定しなければならないが、手作業にてカセット情報を設定するとオペレータの作業負担が増加する。
そこで、本実施の形態では、撮像手段41にてカセットC全体を撮像して撮像画に画像処理を施すことで、カセットCの有無、カセットCの正常配置、被加工物WUの有無、被加工物WUの傾き、被加工物WUの飛び出しを認識している。さらに、撮像画からカセットサイズ、すなわちカセットCの種類を認識して、カセット段数等のカセット情報を自動的に加工装置1に設定するようにしている。このように、カセットCの載置状態及び被加工物WUの収容状態を認識するため、個別にセンサを用意する必要がなく装置構成を簡略化することが可能になっている。
図2−図4を参照して、本実施の形態の撮像画に対する画像処理について説明する。図2は、本実施の形態の加工装置の上面模式図である。図3は、本実施の形態のカセットに対する認識処理の一例を示す図である。図4は、本実施の形態の被加工物に対する認識処理の一例を示す図である。なお、抽出手段及び認識手段は、上記したプロセッサ及びメモリ等によって構成されている。
図2に示すように、支持台12の一端側のカセットステージ31上にカセットCが載置され、支持台12の他端側にカセットCを撮像する撮像手段41が設けられている。カセットCは、一対の側壁51の上部同士を上板52で連結し、一対の側壁51の下部同士を下板53(図1参照)で連結して構成されている。一対の側壁51の対向面には複数の棚54(図1参照)が平行に形成され、各棚54に板状の被加工物WUが載置された棚状に収容されている。カセットCの正面及び背面は開放されており、カセットCの正面は被加工物WUを出し入れ可能とする開口55になっている。
被加工物WUのリングフレームFは、リングフレームFの中心を中心として90度ごと角度違いで外周部の4箇所が直線状に切り欠かれている。リングフレームFには、直線状の第1、第2の切り欠き辺61、62が向かい合うように形成されると共に、第1、第2の切り欠き辺61、62に直交する直線状の第3、第4の切り欠き辺63、64が向かい合うように形成されている。第1、第2の切り欠き辺61、62がカセットCの棚54(図1参照)に支持されることで、リングフレームFの中心を軸とした回転方向のズレが規制され、第3の切り欠き辺63がカセットCの開口55側に向けられている。
このように、カセットCは開口55を撮像手段41側に向けてカセットステージ31に載置され、カセットC内の被加工物WUを撮像手段41に露出している。撮像手段41は、CCDカメラ等で構成されており、カセットCを撮像視野に含めるように倍率等が調整されている。撮像手段41によってカセットC及びカセットC内の被加工物WUが撮像されると、抽出手段43によって撮像画からカセットC及び被加工物WUの特徴部分が抽出される。抽出手段43では、例えば、撮像画に対してエッジ抽出及びハフ変換等が施されて、カセットC及び被加工物WUの輪郭データから特徴部分が抽出される。
そして、認識手段44によってカセットC及び被加工物WUの特徴部分に基づいて、カセットCの載置状態及び被加工物WUの収容状態が認識される。カセットCの載置状態として、例えば、カセットステージ31上のカセットCの有無、カセットサイズ、カセットCの正常な載置が認識される。また、被加工物WUの収容状態として、例えば、カセットC内の被加工物WUの有無、被加工物WUの傾き、被加工物WUの飛び出しが認識される。また、カセットサイズからは、カセット段数等の加工装置1(図1参照)に設定されるカセット情報が検出される。
具体的には、図3Aに示すように、カセットCの撮像画から特徴部分として、一対の側壁51の外面の直線成分L1、L2、上板52の上面の直線成分L3、下板53の底面の直線成分L4がそれぞれ抽出される。カセットCの撮像画から直線成分L1−L4が抽出された場合には、カセットステージ31上にカセットCが載置されていると認識される。一方で、カセットCの撮像画から直線成分L1−L4が抽出されない場合には、カセットステージ31上にカセットCが載置されていないと認識される。撮像画上の直線成分の有無に応じて、カセットCの有無が認識される。
また、直線成分L1、L2の左右間隔を算出することによってカセットCの幅寸法が求められ、直線成分L3、L4の上下間隔を算出することによってカセットCの高さ寸法が求められる。カセットCの幅寸法及び高さ寸法からカセットサイズ、すなわちカセットCの種類が認識されて、カセットCの種類に応じた加工段数等のカセット情報が検出される。カセットサイズに応じてカセット情報が自動的に加工装置1(図1参照)に設定されるため、オペレータがカセット情報の設定作業をする必要がなく作業負担を軽減することができる。
図3Bに示すように、カセットCの直線成分L1、L2の傾きに応じて、カセットCの正常に載置されているか否かが認識される。この場合、カセットCの直線成分L1、L2と鉛直方向の基準線が比較される。直線成分L1、L2が鉛直方向の基準線と平行になる場合には、位置決め部33(図2参照)の内側の適切な位置にカセットCが載置されていると認識される。一方で、直線成分L1、L2が鉛直方向の基準線に対して傾いている場合には、カセットCの一部が位置決め部33の上に乗り上がって適切な位置に載置されていないと認識される。なお、カセットCの直線成分L3、L4と水平方向の基準線が比較されてもよい。
図4Aに示すように、カセットC内の各被加工物WUの撮像画から特徴部分として、リングフレームFの第3の切り欠き辺63が直線成分L5−L12として抽出される。カセットC内の被加工物WUの撮像画から直線成分L5−L12が抽出された各棚54には、被加工物WUが収容されていると認識される。一方で、カセットC内の被加工物WUの撮像画から直線成分が抽出されていない棚54には、被加工物WUが収容されていないと認識される。カセットC内の直線成分の有無に応じて、カセットC内の被加工物WUの有無が認識される。
また、被加工物WUの直線成分L5−L12の傾きに応じて、カセットC内の各棚54に被加工物WUが傾いて収容されているか否かが認識される。この場合、被加工物WUの各直線部分L5−L12と水平方向の基準線が比較される。例えば、直線成分L5−L7、L9−L12は水平方向の基準線に対して平行であるため、カセットCの棚54に対して被加工物WUが水平姿勢で収容されていると認識される。一方で、各直線成分L8は水平方向の基準線に対して傾いているため、カセットCの棚54に対して被加工物WUが傾いた姿勢で収容されていると認識される。
ところで、カセットC内の被加工物WUと撮像手段41の遠近方向の距離によって直線成分L5−L13の長さが伸縮する。このため、図4Bに示すように、直線成分L5−L13の長さを測定して基準長さDと比較することによって、カセットCの開口55(図2参照)から被加工物WUが飛び出しているか否かが認識される。例えば、直線成分L5−L8、L10−L13は基準長さD以下であるため、カセットC内に被加工物WUが完全に収容されていると認識される。一方で、直線成分L9は基準長さDを超えるため、カセットCの開口55から被加工物WUが飛び出していると認識される。
なお、基準長さDは、カセットCの開口端に被加工物WUの第3の切り欠き辺63を位置付けて、被加工物WUを撮像したときの直線成分の長さに設定されている。また、上記した直線成分L5−L13の長さから被加工物WUのフレームサイズを認識することもできる。さらに直線成分L5−L13の間隔からカセットCの種類を認識することもでき、カセットCの種類に応じた加工段数等のカセット情報が検出される。よって、カセットサイズを認識する代わりに、直線成分L5−L13の間隔を認識して、カセット情報を自動的に加工装置1(図1参照)に設定することができる。
このように、カセットC及び被加工物WUの撮像画から特徴部分を抽出することで、カセットCの有無、カセットサイズ、カセットCの正常な載置、被加工物WUの有無、被加工物WUの傾き、被加工物WUの飛び出しが認識される。撮像画から特徴部分だけを抽出して測長処理や比較処理が実施されるため、データ量が大きくなることがなく処理速度を向上させることができる。なお、カセットCの特徴部分は、カセットCの載置状態を認識可能であればよく、カセットCの角形状や棚54の溝形状等でもよい。また、被加工物WUの特徴部分は、被加工物WUの収容状態を認識可能であればよく、リングフレームFの厚みでもよい。
以上のように、本実施の形態の加工装置1によれば、撮像画からカセットCの特徴部分と被加工物WUの特徴部分が抽出されて、カセットCの載置状態と被加工物WUの収容状態を認識することができる。よって、単一の撮像画から、例えば、カセットCの有無、カセットサイズ、カセットCの正常載置、被加工物WUの有無、被加工物WUの傾き、被加工物WUの飛び出しを認識することができ、個別にセンサを設ける構成と比較して装置構成を簡略化することができる。また、撮像画からカセットC及び被加工物WUの特徴部分のみを抽出して認識処理を実施するため、処理量が大きくなることがなく負荷を軽減して処理速度を向上させることができる。
なお、本実施の形態では、撮像手段がCCDカメラである構成にしたが、この構成に限定されない。撮像手段は、カセット及び被加工物を撮像可能であればよく、例えば、CMOSカメラで構成されてもよい。
また、抽出手段の抽出処理及び認識手段の認識処理は、上記した実施の形態に記載された内容に限定されない。抽出手段は、カセット及び被加工物から特徴部分を抽出可能であればよく、認識手段は、カセット及び被加工物の特徴部分に基づいてカセットの載置状態及び被加工物の収容状態を認識可能であればよい。
また、本実施の形態では、単一のカセットを撮像手段で撮像する構成にしたが、この構成に限定されない。複数のカセットを撮像手段で撮像し、複数のカセットの載置状態及び各カセット内の被加工物の収容状態が認識されてもよい。
また、本実施の形態では、リングフレームに4つの直線状の切り欠き辺が形成される構成にしたが、この構成に限定されない。リングフレームには、向かい合う2つの第1、第2の切り欠き辺と、第1、第2の切り欠き辺に直交する第3の切り欠き辺が少なくとも形成されていればよい。
また、本実施の形態では、認識手段がカセットの有無、カセットサイズ、カセットの正常載置、被加工物の有無、被加工物の傾き、被加工物の飛び出しを認識する構成にしたが、この構成に限定されない。認識手段は、カセットの載置状態及び被加工物の収容状態のいずれかを認識する構成でもよい。
また、本実施の形態では、加工装置として切削装置を例示したが、この構成に限定されない。加工装置は、カセットから被加工物を取り出して加工するものであればよく、例えば、研削装置、研磨装置、レーザ加工装置、エッチング装置等でもよい。この場合、加工手段は、研削手段、研磨手段、レーザ加工手段、エッチング手段で構成される。
また、本実施の形態では、搬送手段は、保持テーブルとカセットとに被加工物を搬送する構成であればよく、ボールねじ式又はリニアモータ式の移動機構で搬送パッド等を移動させる搬送機構で構成されてもよいし、多関節型及び直交型のロボットアームで構成されてもよい。
また、本実施の形態では、位置決め部がカセットの四隅の角部を位置決めする構成にしたが、この構成に限定されない。位置決め部は載置面上でカセットを位置決め可能であればよく、形状及び設置箇所は限定されない。
また、本実施の形態及び変形例を説明したが、本発明の他の実施の形態として、上記実施の形態及び変形例を全体的又は部分的に組み合わせたものでもよい。
また、本発明の実施の形態及び変形例は上記の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の技術的思想の趣旨を逸脱しない範囲において様々に変更、置換、変形されてもよい。さらには、技術の進歩又は派生する別技術によって、本発明の技術的思想を別の仕方で実現することができれば、その方法を用いて実施されてもよい。したがって、特許請求の範囲は、本発明の技術的思想の範囲内に含まれ得る全ての実施形態をカバーしている。
また、本実施の形態では、本発明をカセットから被加工物を取り出す加工装置に適用したが、カセットの載置状態及び被加工物の収容状態を認識可能な他の装置に適用することが可能である。
以上説明したように、本発明は、簡易な構成でカセットステージ上のカセットの載置状態及びカセット内の被加工物の収容状態を認識できるという効果を有し、特に、カセットから取り出した被加工物に切削加工や研削加工を実施する加工装置に有用である。
1 加工装置
21 保持テーブル
31 カセットステージ
32 カセットステージの載置面
33 位置決め部
41 撮像手段
43 抽出手段
44 認識手段
54 カセットの棚
55 カセットの開口
61 第1の切り欠き辺
62 第2の切り欠き辺
63 第3の切り欠き辺
C カセット
F リングフレーム
T ダイシングテープ
W ウエーハ
WU 被加工物

Claims (3)

  1. 板状の被加工物を載置して棚状に収容する棚と被加工物を出し入れ可能とする開口とを有するカセットと、該カセットを所定の位置に載置する載置面と位置決め部とを有するカセットステージと、該被加工物を保持する保持テーブルと、該保持テーブルが保持した被加工物を加工する加工手段と、該保持テーブルと該カセットステージに載置される該カセットとに被加工物を搬送する搬送手段と、を備える加工装置あって、
    該カセットを撮像する撮像手段と、該撮像手段が撮像した撮像画から該カセット及び被加工物の特徴部分を抽出する抽出手段と、該カセット及び被加工物の特徴部分に基づいて該カセットの載置状態及び被加工物の収容状態を認識する認識手段とを備える加工装置。
  2. 被加工物は、
    中央に円開口を有するリングフレームの該円開口を塞いでダイシングテープを貼着し該円開口のダイシングテープにウエーハを貼着していて、
    該リングフレームは、該リングフレームの中心を中心として90度ごと角度違いで外周部の少なくとも3か所が直線に切り欠かれていて向かい合う2つの第1の切り欠き辺と第2の切り欠き辺と、該第1の切り欠き辺と該第2の切り欠き辺とに直交する方向の第3の切り欠き辺との3つの切り欠き辺を備え、
    該カセットに収容される該被加工物は、該カセットの側壁と該第1の切り欠き辺と該第2の切り欠き辺とで該リングフレームの中心を軸にした回転方向が規制され該開口側に該第3の切り欠き辺が向けられていて、
    該抽出手段は、該撮像手段が撮像した撮像画から被加工物の特徴部分として該第3の切り欠き辺を抽出し、
    該認識手段は、撮像画から抽出された該第3の切り欠き辺の傾きに基づいて該カセットに収容された被加工物が傾いて収容されているか否か、及び撮像画から抽出された該第3の切り欠き辺の長さに基づいて該カセットに収容された被加工物が該カセットの開口から飛び出しているか否かを認識する請求項1記載の加工装置。
  3. 該抽出手段は、該撮像手段が撮像した撮像画から該カセットの特徴部分として該カセットの側壁を抽出し、
    該認識手段は、撮像画から抽出された該側壁が傾いているか否かで、該カセットが正常に載置しているか否かを認識する請求項1記載の加工装置。
JP2016205120A 2016-10-19 2016-10-19 加工装置 Active JP6765930B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016205120A JP6765930B2 (ja) 2016-10-19 2016-10-19 加工装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016205120A JP6765930B2 (ja) 2016-10-19 2016-10-19 加工装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018067628A true JP2018067628A (ja) 2018-04-26
JP6765930B2 JP6765930B2 (ja) 2020-10-07

Family

ID=62087278

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016205120A Active JP6765930B2 (ja) 2016-10-19 2016-10-19 加工装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6765930B2 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020183000A (ja) * 2019-05-08 2020-11-12 株式会社ディスコ 加工装置
JP2020188145A (ja) * 2019-05-15 2020-11-19 株式会社ディスコ 加工装置
JP7439376B2 (ja) 2020-06-24 2024-02-28 株式会社東京精密 ワーク処理システム

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000174103A (ja) * 1998-12-01 2000-06-23 Yamatake Corp 板状部材存在状態検出装置
JP2001015580A (ja) * 1999-06-23 2001-01-19 Applied Materials Inc ウェハカセット監視装置
JP2009255289A (ja) * 1997-07-11 2009-11-05 Applied Materials Inc 可撓膜を有するケミカルメカニカルポリシングシステム用キャリアヘット
JP2009302392A (ja) * 2008-06-16 2009-12-24 Kawasaki Heavy Ind Ltd 基板検出装置および方法
JP2010192654A (ja) * 2009-02-18 2010-09-02 Renesas Electronics Corp カセット検出システム、カセット搬送システム、およびカセット検出方法
JP2010232560A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Sinfonia Technology Co Ltd マッピング機構、foup、及びロードポート
JP2012505763A (ja) * 2008-10-16 2012-03-08 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド テクスチャ付きプラテン
JP2013004927A (ja) * 2011-06-21 2013-01-07 Toshiba Corp ウェーハマッピング装置およびウェーハマッピング方法
JP2013009927A (ja) * 2011-06-29 2013-01-17 Tomoko Akiyama 洋式トイレの便座持ち上げ妨げ具
JP2015115545A (ja) * 2013-12-13 2015-06-22 株式会社ディスコ カセットステージ

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009255289A (ja) * 1997-07-11 2009-11-05 Applied Materials Inc 可撓膜を有するケミカルメカニカルポリシングシステム用キャリアヘット
JP2000174103A (ja) * 1998-12-01 2000-06-23 Yamatake Corp 板状部材存在状態検出装置
JP2001015580A (ja) * 1999-06-23 2001-01-19 Applied Materials Inc ウェハカセット監視装置
JP2009302392A (ja) * 2008-06-16 2009-12-24 Kawasaki Heavy Ind Ltd 基板検出装置および方法
JP2012505763A (ja) * 2008-10-16 2012-03-08 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド テクスチャ付きプラテン
JP2010192654A (ja) * 2009-02-18 2010-09-02 Renesas Electronics Corp カセット検出システム、カセット搬送システム、およびカセット検出方法
JP2010232560A (ja) * 2009-03-27 2010-10-14 Sinfonia Technology Co Ltd マッピング機構、foup、及びロードポート
JP2013004927A (ja) * 2011-06-21 2013-01-07 Toshiba Corp ウェーハマッピング装置およびウェーハマッピング方法
JP2013009927A (ja) * 2011-06-29 2013-01-17 Tomoko Akiyama 洋式トイレの便座持ち上げ妨げ具
JP2015115545A (ja) * 2013-12-13 2015-06-22 株式会社ディスコ カセットステージ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2020183000A (ja) * 2019-05-08 2020-11-12 株式会社ディスコ 加工装置
JP2020188145A (ja) * 2019-05-15 2020-11-19 株式会社ディスコ 加工装置
JP7439376B2 (ja) 2020-06-24 2024-02-28 株式会社東京精密 ワーク処理システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP6765930B2 (ja) 2020-10-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102192041B1 (ko) 마크 검출 방법
JP6935168B2 (ja) 加工装置
TWI463587B (zh) 工件支撐結構及使用該結構之裝置
KR102345188B1 (ko) 가공 장치
JP6522735B2 (ja) 部品実装機
JP2011134898A (ja) 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体
JP2018067628A (ja) 加工装置
JP6415349B2 (ja) ウェーハの位置合わせ方法
JPH11198068A (ja) 資材搬送装置及びこれを利用した資材搬送方法
US6452503B1 (en) Semiconductor wafer imaging system
KR20150120869A (ko) 기판 처리 장치
US20090092470A1 (en) End effector with sensing capabilities
JP2001015580A (ja) ウェハカセット監視装置
KR102156896B1 (ko) 기판 처리 장치 및 반송 로봇 핸드의 티칭 방법
JP7126849B2 (ja) 加工装置
JP2010114125A (ja) 半導体ウエーハ加工装置
JP2018170358A (ja) 搬送容器接続装置、ロードポート装置、搬送容器保管ストッカー及び搬送容器接続方法
JP6474275B2 (ja) 加工装置
JP6522476B2 (ja) 搬送機構
TWI813825B (zh) 加工裝置
JP6016566B2 (ja) 切削装置
JP6723055B2 (ja) 基板処理装置および基板有無確認方法
WO2022196712A1 (ja) ウエハ搬送ロボット及びウエハ取出方法
JP2003152052A (ja) 搬送装置、半導体製造装置および搬送方法
JP7421077B2 (ja) 搬送システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20190814

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20200414

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20200512

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20200709

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20200825

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20200916

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6765930

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250