JP2018063292A5 - - Google Patents
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Claims (12)
- 試料に面状光を照射する照射光学系と、
前記面状光の照射面に対して前記試料を一定の速度で走査する走査部と、
前記照射面に対して傾斜する観察軸を有し、前記面状光の照射によって前記試料で発生した観察光を結像する結像光学系と、
前記走査部による前記試料の走査中に、前記結像光学系によって結像された前記観察光による光像の一部に対応する部分画像データを複数取得する画像取得部と、
前記画像取得部によって生成された複数の部分画像データに基づいて前記試料の観察画像データを生成する画像生成部と、を備えた試料観察装置。 - 前記試料は、前記面状光の入力面を有する試料容器によって保持され、
前記照射光学系による前記面状光の光軸は、前記試料容器の前記入力面に対して直交するように配置されている請求項1記載の試料観察装置。 - 前記走査部は、前記照射光学系による前記面状光の光軸に対して直交する方向に前記試料を走査する請求項1又は2記載の試料観察装置。
- 前記面状光の照射面に対する前記結像光学系の前記観察軸の傾斜角度は、10°〜80°となっている請求項1〜3のいずれか一項記載の試料観察装置。
- 前記面状光の照射面に対する前記結像光学系の前記観察軸の傾斜角度は、20°〜70°となっている請求項1〜4のいずれか一項記載の試料観察装置。
- 前記面状光の照射面に対する前記結像光学系の前記観察軸の傾斜角度は、30°〜65°となっている請求項1〜5のいずれか一項記載の試料観察装置。
- 前記画像取得部は、二次元撮像装置を含み、前記二次元撮像装置から出力されたデータから前記観察光の光像の一部に対応する画像データを前記部分画像データとして抽出する請求項1〜6のいずれか一項記載の試料観察装置。
- 前記画像取得部は、前記観察光による光像の一部を撮像し、前記部分画像データを出力するラインセンサを含む請求項1〜6のいずれか一項記載の試料観察装置。
- 前記画像取得部は、前記観察光による光像の一部を通過させるスリットと、前記スリットを通過した光像を検出する光検出器とを含み、前記光検出器から出力されたデータに基づいて前記部分画像データを生成する請求項1〜6のいずれか一項記載の試料観察装置。
- 前記画像生成部は、前記複数の部分画像データに基づいて、前記面状光の光軸に直交する面における前記試料の観察画像データを生成する請求項1〜9のいずれか一項記載の試料観察装置。
- 前記観察画像データを解析し、解析結果を生成する解析部を更に備える請求項1〜10のいずれか一項記載の試料観察装置。
- 試料に面状光を照射する照射ステップと、
前記面状光の照射面に対して前記試料を走査する走査ステップと、
前記照射面に対して傾斜する観察軸を有する結像光学系を用い、前記面状光の照射によって前記試料で発生した観察光を結像する結像ステップと、
前記結像光学系によって結像された前記観察光による光像の一部に対応する部分画像データを複数取得する画像取得ステップと、
前記複数の部分画像データに基づいて前記試料の観察画像データを生成する画像生成ステップと、を備えた試料観察方法。
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016200075A JP6423841B2 (ja) | 2016-10-11 | 2016-10-11 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
CN201780062595.5A CN109844606A (zh) | 2016-10-11 | 2017-08-15 | 试样观察装置及试样观察方法 |
PCT/JP2017/029367 WO2018070098A1 (ja) | 2016-10-11 | 2017-08-15 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
US16/340,797 US10809509B2 (en) | 2016-10-11 | 2017-08-15 | Sample observation device and sample observation method |
EP17859579.9A EP3528030A4 (en) | 2016-10-11 | 2017-08-15 | SAMPLE MONITORING DEVICE AND SAMPLING MONITORING METHOD |
US17/006,995 US11131839B2 (en) | 2016-10-11 | 2020-08-31 | Sample observation device and sample observation method |
US17/411,533 US11391934B2 (en) | 2016-10-11 | 2021-08-25 | Sample observation device and sample observation method |
US17/751,818 US11822066B2 (en) | 2016-10-11 | 2022-05-24 | Sample observation device and sample observation method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016200075A JP6423841B2 (ja) | 2016-10-11 | 2016-10-11 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018197569A Division JP6754408B2 (ja) | 2018-10-19 | 2018-10-19 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018063292A JP2018063292A (ja) | 2018-04-19 |
JP2018063292A5 true JP2018063292A5 (ja) | 2018-07-12 |
JP6423841B2 JP6423841B2 (ja) | 2018-11-14 |
Family
ID=61905513
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016200075A Active JP6423841B2 (ja) | 2016-10-11 | 2016-10-11 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US10809509B2 (ja) |
EP (1) | EP3528030A4 (ja) |
JP (1) | JP6423841B2 (ja) |
CN (1) | CN109844606A (ja) |
WO (1) | WO2018070098A1 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7207860B2 (ja) * | 2018-04-09 | 2023-01-18 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置 |
WO2021240960A1 (ja) | 2020-05-27 | 2021-12-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 光照射装置及び試料観察装置 |
WO2023007828A1 (ja) | 2021-07-26 | 2023-02-02 | 浜松ホトニクス株式会社 | 試料観察装置及び試料観察方法 |
Family Cites Families (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62180241A (ja) | 1986-02-04 | 1987-08-07 | Hamamatsu Photonics Kk | 断層像観察装置 |
JPH03172815A (ja) | 1989-12-01 | 1991-07-26 | Fuji Photo Film Co Ltd | 共焦点走査型顕微鏡 |
JPH11211439A (ja) | 1998-01-22 | 1999-08-06 | Takaoka Electric Mfg Co Ltd | 表面形状計測装置 |
JP3736213B2 (ja) | 1999-07-15 | 2006-01-18 | 横河電機株式会社 | 共焦点光スキャナ |
DE10257423A1 (de) * | 2002-12-09 | 2004-06-24 | Europäisches Laboratorium für Molekularbiologie (EMBL) | Mikroskop |
US7009172B2 (en) * | 2003-03-06 | 2006-03-07 | Board Of Regents Of The University And Community College System Of Nevada, Reno | Method and apparatus for imaging using continuous non-raster patterns |
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JP4538633B2 (ja) | 2005-03-29 | 2010-09-08 | 国立大学法人浜松医科大学 | Dlp式スリット光走査顕微鏡 |
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US9134521B2 (en) | 2008-07-30 | 2015-09-15 | The Regents Of The University Of California | Multidirectional selective plane illumination microscopy |
GB0814039D0 (en) | 2008-07-31 | 2008-09-10 | Imp Innovations Ltd | Optical arrangement for oblique plane microscopy |
JP2010054391A (ja) * | 2008-08-29 | 2010-03-11 | Nano Photon Kk | 光学顕微鏡、及びカラー画像の表示方法 |
JP5311195B2 (ja) * | 2008-09-16 | 2013-10-09 | 横河電機株式会社 | 顕微鏡装置 |
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US8711211B2 (en) * | 2010-06-14 | 2014-04-29 | Howard Hughes Medical Institute | Bessel beam plane illumination microscope |
EP2732326B1 (en) | 2011-07-14 | 2020-11-18 | Howard Hughes Medical Institute | Microscopy with adaptive optics |
WO2013053454A1 (de) | 2011-10-11 | 2013-04-18 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop und verfahren zur spim mikroskopie |
JP2013156286A (ja) | 2012-01-26 | 2013-08-15 | Olympus Corp | 撮像装置 |
DE102012110077A1 (de) | 2012-10-23 | 2014-06-26 | Karlsruher Institut für Technologie | Mikroskop mit mindestens einem Beleuchtungsstrahl in Form einer Lichtscheibe |
JP6086366B2 (ja) | 2013-04-05 | 2017-03-01 | 国立研究開発法人理化学研究所 | 顕微鏡、焦準器具、流体保持器具、及び光学ユニット |
JP6010505B2 (ja) * | 2013-06-11 | 2016-10-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 画像取得装置及び画像取得装置のフォーカス方法 |
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JP2015135463A (ja) * | 2013-12-19 | 2015-07-27 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置、及び、顕微鏡システム |
US10061111B2 (en) * | 2014-01-17 | 2018-08-28 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | Systems and methods for three dimensional imaging |
DE102014102215A1 (de) | 2014-02-20 | 2015-08-20 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Lichtblattmikroskopie |
JP2016033620A (ja) * | 2014-07-31 | 2016-03-10 | キヤノン株式会社 | 画像取得装置 |
WO2016102200A1 (en) * | 2014-12-22 | 2016-06-30 | Koninklijke Philips N.V. | Method for simultaneous capture of image data at multiple depths of a sample |
JP6605269B2 (ja) * | 2015-09-24 | 2019-11-13 | オリンパス株式会社 | 倒立顕微鏡及び倒立顕微鏡用遮光装置 |
JP2017191228A (ja) * | 2016-04-14 | 2017-10-19 | オリンパス株式会社 | ライトシート顕微鏡およびサンプル観察方法 |
US10409052B2 (en) * | 2016-09-28 | 2019-09-10 | University Of Washington | Inverted light-sheet microscope |
WO2018191392A1 (en) * | 2017-04-11 | 2018-10-18 | Calico Life Sciences Llc | Fluorescence microscopy system and methods based on stimulated emission |
US20210161385A1 (en) * | 2018-05-10 | 2021-06-03 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Line excitation array detection microscopy |
DE102019100184A1 (de) * | 2019-01-07 | 2020-07-09 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Hochauflösende Scanning-Mikroskopie |
-
2016
- 2016-10-11 JP JP2016200075A patent/JP6423841B2/ja active Active
-
2017
- 2017-08-15 WO PCT/JP2017/029367 patent/WO2018070098A1/ja unknown
- 2017-08-15 CN CN201780062595.5A patent/CN109844606A/zh active Pending
- 2017-08-15 EP EP17859579.9A patent/EP3528030A4/en active Pending
- 2017-08-15 US US16/340,797 patent/US10809509B2/en active Active
-
2020
- 2020-08-31 US US17/006,995 patent/US11131839B2/en active Active
-
2021
- 2021-08-25 US US17/411,533 patent/US11391934B2/en active Active
-
2022
- 2022-05-24 US US17/751,818 patent/US11822066B2/en active Active
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