JPH03172815A - 共焦点走査型顕微鏡 - Google Patents

共焦点走査型顕微鏡

Info

Publication number
JPH03172815A
JPH03172815A JP31244089A JP31244089A JPH03172815A JP H03172815 A JPH03172815 A JP H03172815A JP 31244089 A JP31244089 A JP 31244089A JP 31244089 A JP31244089 A JP 31244089A JP H03172815 A JPH03172815 A JP H03172815A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sample
scanning
main scanning
optical system
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP31244089A
Other languages
English (en)
Inventor
Osamu Iwasaki
修 岩崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP31244089A priority Critical patent/JPH03172815A/ja
Publication of JPH03172815A publication Critical patent/JPH03172815A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は共焦点走査型顕微鏡、特に詳細には、試料を複
数の照明光によって同時に走査するようにした共焦点走
査型顕微鏡に関するものである。
(従来の技術) 従来より、照明光を微小な光点に収束させ、この光点を
試料上において2次元的に走査させ、その際該試料を透
過した光あるいはそこで反射した光を光検出器で検出し
て、試料の拡大像を担持する電気信号を得るようにした
光学式走査型顕微鏡が公知となっている。
なかでも、照明光を試料上において光点に収束させる一
方、この試料からの光束を再度点像に結像させてそれを
光検出器で検出するように構成した共焦点走査型顕微鏡
は、試料面上にピンホールを配する必要が無く、実現容
易となっている。
この共焦点走査型顕微鏡は基本的に、 試料が載置される試料台と、 照明光を試料に照射する照明光照射手段と、この照明光
を試料上において微小な光点として結像させる送光光学
系と、 上記試料からの光束を集光して点像に結像させる受光光
学系と、 この点像を検出する光検出器と、 上記光点を試料上において2次元的に走査させる走査機
構とから構成されるものである。なお特開昭82−21
7218号公報には、この共焦点走査型顕微鏡の一例が
示されている。
(発明が解決しようとする課題) 従来の共焦点走査型顕微鏡においては、上記走査機構と
して、照明光ビームを光偏向器によって2次元的に偏向
させる機構が多く用いられていた。
しかしこの機構においては、ガルバノメータミラーやA
OD (音響光学光偏向器)等の高価な光偏向器が必要
であるという難点が有る。またこの機構においては、特
にAODを使用した場合、AODから射出した光束に非
点収差が生ずるため特殊な補正レンズが必要となり、光
学系がより複雑なものとなる。
上記の点に鑑み従来より、照明光ビームは偏向させない
で、試料台の方を2次元的に移動させて照明光光点の走
査を行なうことが考えられている。
さらには、本出願人による特願平1−246946号明
細書に示されるように、送光光学系と受光光学系とを共
通の移動台に搭載し、この移動台を試料台に対して移動
させることにより、照明光光点の走査を行なうことも考
えられている。
上述のように光学系と試料台とを相対的に移動させて照
明光光点の走査を行なう場合は、撮像所要時間短縮化の
ために、光学系あるいは試料台を高速で移動させること
が求められる。そこで、この移動用の駆動源としては例
えばピエゾ素子や超音波振動子等が利用されるが、その
ような素子は一般に、高速振動可能なものは振幅が小さ
く、逆に振幅が大きく取れるものは高速振動が不可能と
なっている。この振幅が大きく取れないと、上記光点走
査の走査幅を小さく設定せざるを得ず、したがって、試
料の狭い範囲についての顕微鏡像しか得られないことに
なる。他方、高速走査が不可能であれば、顕微鏡像を撮
影するのに要する時間が長くなってしまう。
なお、上述のように高速走査が難しいという問題は、前
述のガルバノメータミラー等の機械式光偏向器を用いて
照明光ビームを偏向させる場合にも認められるものであ
る。
そこで本発明は、構成が簡単で安価に形成することがで
き、さらに高速走査が可能で、走査幅を大きく取ること
もできる共焦点走査型顕微鏡を提供することを目的とす
るものである。
(課題を解決するための手段) 本発明による共焦点走査型顕微鏡は、先に述べたような
試料台と、照明光照射手段と、送光光学系と、受光光学
系と、光検出器と、光点の2次元走査機構とを備えた共
焦点走査型顕微鏡において、照明光照射手段として、複
数の照明光を1列に並んだ状態で試料上に照射するもの
を用いるとともに、 光検出器は、上記複数の照明光照射により生じる複数の
点像を個別に検出可能に形成し、そして、上記複数の光
点を試料上においてそれらの並び方向に、少なくとも光
点の並びピッチと同じ走査幅で主走査させる主走査手段
と、上記複数の光点を、試料上において主走査の方向と
ほぼ直交する方向に副走査させる副走査手段とによって
走査機構を構成したことを特徴とするものである。
なお上述の照明光照射手段としては、複数の光源が1列
に並設されてなる光源アレイを用いることもできるし、
あるいは1つの光源と、そこから発せられた1本の光ビ
ームを複数本に分岐する手段とが組み合わされたものを
利用することもできる。
(作  用) 上記の構成において、例えばn本の照明光が試料上を等
ピッチで照射し、試料上の光点の並びピッチと同じ主走
査幅(これを以下、部分主走査幅と称する)が確保され
たとすると、全体的な主走査幅つまり1主走査ラインの
長さは、上記部分主走査幅のn倍となる。換言すれば、
大きな主走査幅を得る場合でも、各光点の実際の主走査
幅は基本的に、光点の並びピッチだけ確保されればよい
ことになる。したがって、この主走査のための駆動源と
して、移動ストロークは大きく取れなくても高速振動が
可能なピエゾ素子等が利用できるようになり、高速走査
が実現される。
なお、上記部分主走査幅は、特に光源の並設ピッチを上
回る程に大きく確保する必要は無いが、何らかの理由に
よりこのピッチをある程度上回っても構わない。その場
合は、試料上の同一部分が、ある光点と別の光点とによ
り重ねて主走査されることになるが、その部分に関して
は、一方の光点の走査で得られた画像信号をカットする
等の処置を取ればよい。
(実 施 例) 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
第1図は、本発明の第1実施例による透過型の共焦点走
査型顕微鏡を示すものであり、また第2および3図は、
それに用いられた走査機構を詳しく示している。
第1図に示されるように、照明光11を発するレーザダ
イオードアレイ(以下、LDアレイと称する)5が、移
動台15に一体的に保持されている。
このLDアレイ5は第4図に詳しく示す通り、点光源状
となる発光部(活性層)5aをn個(複数)1列に並べ
て有するものであり、第1図においては、これらの発光
部5aが左右方向に並んで下方を向く状態に配置されて
いる。なお上記発光部5aの並設ピッチは、本実施例で
は10μmである。
また移動台15には、コリメーターレンズ1Bおよび対
物レンズ17からなる送光光学系18と、対物レンズ1
9および集光レンズ20からなる受光光学系21とが、
互いに光軸を一致させて固定されている。
これらの光学系18.21の間には、移動台15と別体
とされた試料台22が配されている。そして受光光学系
21の下方において移動台15には、光検出器9が固定
されている。この光検出器9は例えばリニアイメージセ
ンサからなり、直線状の受光部が第1図において左右方
向に延びる状態に配置されている。また光検出器9の前
側(図中上方)には、その直線状の受光部に沿って延び
るスリットを有するスリット板8が配されている。
LDアレイ5は、n個の発光部5aが同時にレーザ光(
照明光) 11を発するように駆動される。
なお第1図には、2本の照明光11のみを示しである。
こうして発せられた0本の照明光11はそれぞれコリメ
ーターレンズ16によって平行光とされ、次に対物レン
ズ17によって集光されて、試料台22に載置された試
料23上で(表面部分あるいはその内部で)微小な光点
Pに結像する。試料23を透過した各透過光11’の光
束は、受光光学系21の対物レンズ19によって平行光
とされ、次に集光レンズ20によって集光されてそれぞ
れ点像Qに結像する。
これらの点像Qは、光検出器9によって個別に検出され
る。この光検出器9からは、光点Pで照射された試料2
3の各部分の明るさを示す信号Sが出力される。
次に、照明光11の光点Pの2次元走査について、第2
.3図を参照して説明する。第2図と第3図はそれぞれ
、移動台15の周辺部分を、第1図の上方側、右方側か
ら見た状態を示している。この移動台15は架台32に
、ピエゾ素子33を介して保持されている。ピエゾ素子
33はピエゾ素子駆動回路34から駆動電力を受けて、
移動台15を矢印X方向(発光部5aの並び方向)に高
速で往復移動させる。この往復移動のストロークは、発
光部5aの並設ピッチと同じ10μmとされている。こ
うして移動台15が1回往復移動されると、試料23上
の矢印X方向に延びる1ラインについて光点Pの主走査
が完了する。
なお第5図に、上記のようにして主走査がなされる1本
のラインを分かりやすく示す。図中P1、P2、P3・
・・・・・Pnがそれぞれ、第1.2.3・・・・・・
n番目の発光部5aから発せられた照明光11の光点で
あり、これらの光点P1、P2、P3・・・・・・Pn
によりそれぞれ、部分ラインL1、L2、L3・・・・
・・Lnが同時に走査される。こうして全体的には、光
点ピッチのn倍の長いラインLが主走査される。
上述のようにして光点Pの主走査がなされることにより
、光検出器9からは、部分ラインL1、L2、L3・・
・・・・Lnについての像を示す画素分割された信号S
が出力され、結局、1主走査ラインLについての信号S
が得られる。
移動台15の振動数は、例えば100kHzとされる。
その場合、発光部5aの数n−10とすれば、主走査幅
は10μmX1O−100μmであり、主走査速度は、 100 Xl03XIOXIO’ X2−2m/ sと
なる。
一方試料台22は、2次元移動ステージ35に固定され
ている。この2次元移動ステージ35は、モータ駆動回
路3Bから駆動電流を受けるパルスモータ37により、
マイクロメータ38を介して矢印Y方向に往復移動され
る。それにより試料台22は移動台15に対して相対移
動され、前記光点Pが試料23上を、前記主走査方向X
と直交するY方向に副走査する。なお、この副走査の所
要時間は例えば1/200秒とされ、その場合、副走査
幅を100μmとすると、副走査速度は、 200 xtoo xto°’ −0,002m / 
5−20mm/s と、前記主走査速度よりも十分に低くなる。この程度の
副走査速度であれば、試料台22を移動させても、試料
23が飛んでしまうことを防止できる。
以上のようにして光点Pが試料23上を2次元的に走査
することにより、前記光検出器9からは、該試料23の
2次元像を担持する時系列の信号Sが得られる。
また本実施例においては2次元移動ステージ35が、モ
ータ駆動回路39から駆動電流を受けるパルスモータ4
0により、主、副走査方向X1Yと直交する矢印2方向
(すなわち光学系18.21の光軸方向)に移動される
。こうして2次元移動ステージ35を2方向に所定距離
移動させる毎に前記光点Pの2次元走査を行なえば、合
焦点面の情報のみが光検出器9によって検出される。そ
こで、この光検出器9の出力Sをフレームメモリに取り
込むことにより、試料23を2方向に移動させた範囲内
で、全ての面に焦点が合った画像を担う信号を得ること
が可能となる。
なおピエゾ素子駆動回路34およびモータ駆動回路36
.39には、制御回路41から同期信号が入力され、そ
れにより、光点Pの主、副走査および試料台22のZ方
向移動の同期が取られる。
上記の構成においては、スリット板8により点像Qのハ
ローや試料23における散乱光をカットする作用は、副
走査方向についてのみ得られる。したがってこの走査型
顕微鏡は完全な共焦点型ではないが、それでも、上記ハ
ローや散乱光が光検出器に2次元的に入射してしまうも
のと比べれば、極めて高い解像力が得られるものとなる
以上説明した実施例においては、種々の変更が可能であ
る。例えば、2次元移動ステージ35に固定された試料
台22をY方向に往復移動(副走査)させるための駆動
源であるパルスモータ37は、エンコーダ付きのDCモ
ータでもよい。
またこのように試料台22を移動させることによって光
点Pの副走査を行なう代わりに、移動台15を移動させ
ることによって光点Pの副走査を行なうようにしてもよ
い。一方光点Pの主走査を、試料台22を移動させるこ
とによって行なうようにしてもよい。しかしその場合は
、主走査のために試料台22が著しく高速で往復移動す
るので、その上の試料23が飛んでしまうことが起きや
すい。したがって、このような不具合の発生を防止する
上では、主走査は光学系側を移動させて行なうのが好ま
しい。
さらに移動台15や試料台22の移動は、ピエゾ素子を
利用して行なう他、例えばボイスコイルおよび超音波に
よる固体の固有振動を利用した走査方式等を用いて行な
うことも可能である。また、リニアイメージセンサから
なる光検出器9の代わりに、例えばフォトダイオードア
レイ等を用いることも可能である。
次に第6図を参照して、本発明の第2実施例について説
明する。なおこの第6図において、前記第1図中の要素
と同等の要素には同番号を付し、それらについての詳し
い説明は省略する(以下、同様)。
この第6図の装置においては照明光照射手段として、1
本のレーザ光(照明光) 11を発するレーザ光源50
と、−面52bに光透過率を調整する干渉薄膜51が形
成された光学ウェッジ52との組合せが用いられている
。このウェッジ52に入射した照明光11は、一部が上
記の面52bを透過するとともに、一部がそこで反射す
る。この反射した照明光11はウェッジ52の他の面5
2aで再度反射し、面52bの上記とは異なる部分に入
射する。以上のことが繰り返されることにより、ウェッ
ジ52からは、複数本に分岐された照明光11が出射す
る。
これらの照明光11はそれぞれ振動ミラー53で反射し
、ハーフミラ−54を透過し、対物レンズ17を通過す
ることにより試料23上で微小な光点Pに収束する。こ
の試料23で反射した反射光11″はハーフミラ−54
で反射し、集光レンズ20により集光されて、点像Qに
結像する。この点像Qは、第1図の装置と同様に、スリ
ット板8を介して光検出器9によって光電的に検出され
る。
次に、光点Pの2次元走査について説明する。
振動ミラー53はその一端が揺動軸55に軸支され、こ
の揺動軸55を中心として矢印G方向に揺動可能とされ
ている。そしてこの振動ミラー53の他端部にはピエゾ
素子56が取り付けられ、このピエゾ素子56の駆動に
より、振動ミラー53が上記の方向に往復揺動する。そ
れにより各照明光光点Pは試料23上において、それら
の並び方向(矢印X方向)に主走査する。この場合も各
光点Pの部分主走査の幅は基本的に、それらの並びピッ
チだけ確保されればよい。したがって上記ピエゾ素子5
B等を用いて、振動ミラー53を極めて高速で往復揺動
させることが可能となる。
なお本実施例において光点Pの副走査は、第1図の装置
と同様に、試料台22をY方向に移動させることによっ
て行なわれる。しかしこの副走査も、照明光11を偏向
させて行なうようにしても構わない。
次に、第7図を参照して本発明の第3実施例について説
明する。この第7図の装置においては、第6図に示され
たものと同様の光学ウェッジ52、ハーフミラ−54、
対物レンズ17、集光レンズ20、スリット板8および
光検出器9が、移動台60に搭載されている。そしてレ
ーザ光源50から射出されたレーザ光(照明光) 11
は、屈折率分布型レンズ等からなる入射レンズ61によ
って絞られて光フアイバー62内に入射する。この光フ
ァイバー62の光出射端は、屈折率分布型レンズ等から
なるコリメーターレンズ63を介して上記移動台BOに
固定されており、光ファイバー62から出射した照明光
11は、上記コリメーターレンズB3により平行ビーム
とされて光学ウェッジ52に入射する。
上記移動台60は、例えば第1図の装置の移動台15と
同様にして、矢印X方向に往復移動される。
それにより照明光光点Pの主走査がなされる。光ファイ
バー62は可撓性を有するので、このような移動台60
の往復移動を許容する。
なお本実施例でも光点Pの副走査は、試料台22をY方
向に移動させることによってなされるが、移動台80の
移動によって副走査を行なうことも勿論可能である。
なお、以上説明した実施例の共焦点走査型顕微鏡は、モ
ノクロ画像を得るものであるが、本発明の共焦点走査型
顕微鏡は、カラー画像を得るように構成することも可能
である。
(発明の効果) 以上詳細に説明した通り、本発明の共焦点走査型顕微鏡
においては、複数の照明光光点で試料を同時に照射し、
これらの光点の各主走査幅が小さくても全体として大き
な主走査幅が確保できるようにしたから、光点主走査の
ための光学系、試料台あるいは光ビーム偏向手段の駆動
ストロークが小さくて済むものとなっている。したがっ
て、この主走査のための駆動源として、駆動ストローク
は大きく取れなくても高速駆動が可能な素子が利用でき
るようになり、その上複数光点による併行走査が可能で
あるから、走査速度の大幅な向上、ひいては撮像所要時
間の大幅な短縮化が実現される。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明の第1実施例による共焦点走査型顕微
鏡を示す概略正面図、 第2図と第3図はそれぞれ、上記共焦点走査型顕微鏡の
要部を示す平面図と側面図、 第4図は、上記共焦点走査型顕微鏡に用いられた光源ア
レイを示す一部破断斜視図、 第5図は、本発明の共焦点走査型顕微鏡における光点の
主走査を説明する説明図、 第6図と第7図はそれぞれ、本発明の第2実施例、第3
実施例による共焦点走査型顕微鏡を示す概略正面図であ
る。 5・・・LDアレイ    5a・・・発光部9・・・
光検出器     11・・・照明光11″・・・透過
光     11″・・・反射光15.80・・・移動
台    16・・・コリメーターレンズ17.19・
・・対物レンズ  18・・・送光光学系20・・・集
光レンズ    21・・・受光光学系22・・・試料
台      23・・・試料32・・・架台    
   33.56・・・ピエゾ素子34・・・ピエゾ素
子駆動回路 35・・・2次元移動ステージ 3B、39・・・モータ駆動回路 38・・・マイクロメータ 50・・・レーザ光源 52・・・光学ウェッジ 54・・・ハーフミラ− P・・・光点 37.40・・・パルスモータ 41・・・制御回路 51・・・干渉薄膜 53・・・振動ミラー 62・・・光ファイバー Q・・・点像 第 6 図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 試料が載置される試料台と、 複数の照明光を1列に並んだ状態で試料上に照射する照
    明光照射手段と、 前記照明光の各々を試料上において微小な光点に収束さ
    せる送光光学系と、 前記試料からの光束を集光して点像に結像させる受光光
    学系と、 この点像を個別に検出する光検出器と、 前記複数の光点を前記試料上において光点の並び方向に
    、少なくとも光点の並びピッチと同じ走査幅で主走査さ
    せる主走査手段と、 前記複数の光点を、試料上において前記主走査の方向と
    ほぼ直交する方向に副走査させる副走査手段とからなる
    共焦点走査型顕微鏡。
JP31244089A 1989-12-01 1989-12-01 共焦点走査型顕微鏡 Pending JPH03172815A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31244089A JPH03172815A (ja) 1989-12-01 1989-12-01 共焦点走査型顕微鏡

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP31244089A JPH03172815A (ja) 1989-12-01 1989-12-01 共焦点走査型顕微鏡

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH03172815A true JPH03172815A (ja) 1991-07-26

Family

ID=18029228

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP31244089A Pending JPH03172815A (ja) 1989-12-01 1989-12-01 共焦点走査型顕微鏡

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH03172815A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001027728A (ja) * 1999-07-15 2001-01-30 Yokogawa Electric Corp 共焦点光スキャナ
JP2004509370A (ja) * 2000-09-18 2004-03-25 ヴァンサン・ロウエ 共焦点用光学走査装置
JP2011112779A (ja) * 2009-11-25 2011-06-09 Olympus Corp レーザ走査型顕微鏡
WO2018190125A1 (ja) * 2017-04-13 2018-10-18 横河電機株式会社 共焦点スキャナ、顕微鏡システム、及び共焦点顕微鏡
JP2018180516A (ja) * 2017-04-13 2018-11-15 横河電機株式会社 共焦点スキャナ、及び共焦点顕微鏡
JP2019023751A (ja) * 2018-10-19 2019-02-14 浜松ホトニクス株式会社 試料観察装置及び試料観察方法
US10809509B2 (en) 2016-10-11 2020-10-20 Hamamatsu Photonics K.K. Sample observation device and sample observation method

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001027728A (ja) * 1999-07-15 2001-01-30 Yokogawa Electric Corp 共焦点光スキャナ
JP2004509370A (ja) * 2000-09-18 2004-03-25 ヴァンサン・ロウエ 共焦点用光学走査装置
JP2011112779A (ja) * 2009-11-25 2011-06-09 Olympus Corp レーザ走査型顕微鏡
US10809509B2 (en) 2016-10-11 2020-10-20 Hamamatsu Photonics K.K. Sample observation device and sample observation method
US11822066B2 (en) 2016-10-11 2023-11-21 Hamamatsu Photonics K.K. Sample observation device and sample observation method
US11391934B2 (en) 2016-10-11 2022-07-19 Hamamatsu Photonics K.K. Sample observation device and sample observation method
US11131839B2 (en) 2016-10-11 2021-09-28 Hamamatsu Photonics K.K. Sample observation device and sample observation method
WO2018190125A1 (ja) * 2017-04-13 2018-10-18 横河電機株式会社 共焦点スキャナ、顕微鏡システム、及び共焦点顕微鏡
CN110462483A (zh) * 2017-04-13 2019-11-15 横河电机株式会社 共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜
CN110462483B (zh) * 2017-04-13 2022-08-12 横河电机株式会社 共聚焦扫描仪、显微镜系统以及共聚焦显微镜
US11506878B2 (en) 2017-04-13 2022-11-22 Yokogawa Electric Corporation Confocal scanner, microscope system, and confocal microscope
JP2018180516A (ja) * 2017-04-13 2018-11-15 横河電機株式会社 共焦点スキャナ、及び共焦点顕微鏡
JP2019023751A (ja) * 2018-10-19 2019-02-14 浜松ホトニクス株式会社 試料観察装置及び試料観察方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2613118B2 (ja) 共焦点走査型顕微鏡
EP0418928B1 (en) Scanning microscope and scanning mechanism for the same
JP3816632B2 (ja) 走査型顕微鏡
JPH0618785A (ja) 共焦点型レーザ走査透過顕微鏡
JPH0527177A (ja) 走査型顕微鏡
EP1596238A2 (en) Optical stimulation apparatus and optical-scanning examination apparatus
US20140055852A1 (en) Laser scanning microscope
JPH03172815A (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JP2663195B2 (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JP4169647B2 (ja) 共焦点顕微鏡
JPH03223709A (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JPH05288992A (ja) 透過型顕微鏡
JPH10142507A (ja) レーザ走査顕微鏡
JP2660613B2 (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JPH03134609A (ja) レーザ走査型顕微鏡
JPH05224127A (ja) 共焦点走査型微分干渉顕微鏡
JPH05127089A (ja) 走査型顕微鏡
JPH0760217B2 (ja) 透過型顕微鏡
JP2608483B2 (ja) 共焦点走査型顕微鏡
JPH03209415A (ja) 顕微鏡像出力方法および走査型顕微鏡
JP2613130B2 (ja) 共焦点走査型位相差顕微鏡
JPH08136810A (ja) 共焦点顕微鏡
JP2517065B2 (ja) 光照射装置
JPH03131811A (ja) 共焦点走査型透過顕微鏡
JP6380622B2 (ja) 制御装置および制御方法