JP2018006713A - 温度を含む駆動条件を考慮した実効的駆動時間と残存寿命が算出可能なレーザ装置 - Google Patents

温度を含む駆動条件を考慮した実効的駆動時間と残存寿命が算出可能なレーザ装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2018006713A
JP2018006713A JP2016136319A JP2016136319A JP2018006713A JP 2018006713 A JP2018006713 A JP 2018006713A JP 2016136319 A JP2016136319 A JP 2016136319A JP 2016136319 A JP2016136319 A JP 2016136319A JP 2018006713 A JP2018006713 A JP 2018006713A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light source
unit
source unit
temperature
time
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016136319A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6374447B2 (ja
Inventor
宏 瀧川
Hiroshi Takigawa
宏 瀧川
哲史 鍵和田
Tetsushi Kagiwada
哲史 鍵和田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fanuc Corp
Original Assignee
Fanuc Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fanuc Corp filed Critical Fanuc Corp
Priority to JP2016136319A priority Critical patent/JP6374447B2/ja
Priority to US15/640,728 priority patent/US9887514B2/en
Priority to DE102017006331.1A priority patent/DE102017006331A1/de
Priority to CN201710546831.2A priority patent/CN107591677B/zh
Publication of JP2018006713A publication Critical patent/JP2018006713A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6374447B2 publication Critical patent/JP6374447B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/0014Measuring characteristics or properties thereof
    • H01S5/0021Degradation or life time measurements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/062Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
    • H01S5/0683Stabilisation of laser output parameters by monitoring the optical output parameters
    • H01S5/06837Stabilising otherwise than by an applied electric field or current, e.g. by controlling the temperature
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/02Details
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/66Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
    • G01N21/68Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using high frequency electric fields
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/02Structural details or components not essential to laser action
    • H01S5/024Arrangements for thermal management
    • H01S5/02407Active cooling, e.g. the laser temperature is controlled by a thermo-electric cooler or water cooling
    • H01S5/02423Liquid cooling, e.g. a liquid cools a mount of the laser

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Lasers (AREA)

Abstract

【課題】光源部の温度による寿命消費と、光出力あるいは駆動電流等の駆動条件による寿命消費と、光源部の個体差を考慮した、レーザ装置の光源部の残存寿命を予測する方法を提供する。
【解決手段】第1算出部が、標準温度、標準条件値の場合を基準とした、光源部の寿命消費の加速係数を算出し、第2算出部が、個々の光源部の性能指数または性能指数の変化速度に対して、個々の光源部の生涯寿命または残存寿命を算出し、計算部が、前記加速係数の時間積分を計算することにより、標準温度、標準条件値で駆動した場合と寿命に与える影響の大きさが等価である実効的累積駆動時間を求め、記録部が、前記実効的累積駆動時間および前記生涯寿命または残存寿命を、光源部の光出力特性と共に記録する。
【選択図】図1

Description

本発明は、レーザ光源あるいはレーザ発振のための励起光源として使用される光源部を備えたレーザ装置であって、光源部の温度が変わっても、また、光源部からの光出力や光源部を駆動する駆動電流の大きさが変わっても、光源部の温度が標準温度で、光出力が標準光出力になるように駆動した場合あるいは光源部の駆動電流を標準駆動電流で駆動した場合と光源部の寿命に与える影響の大きさが等価である実効的駆動時間を正確に算出できるレーザ装置であり、寿命のカウントを開始する時点からの実効的駆動時間の累積、即ち、実効的累積駆動時間を光源部の推定生涯寿命から差し引くことによって残存寿命を正確に算出でき、必要に応じて、実効的累積駆動時間および残存寿命の表示や出力が可能なレーザ装置である。
光源部を水冷するレーザ装置では光源部の温度変動は比較的小さいが、光源部を空冷するレーザ装置にあっては、環境温度の影響を受けて光源部の温度がかなり変動する。したがって、特に光源部を空冷するレーザ装置においては、光出力や駆動電流の大きさの違いによる寿命消費の速さの差と同様に、光源部の温度による寿命消費の速さの差も無視することはできない。したがって、温度と光出力あるいは駆動電流の両方の寿命消費への影響を考慮した実効的駆動時間が算出できる必要がある。
実効的な累積駆動時間は、光源部の保証や保守に関連した重要な情報である。また、残存寿命については、特に光源部の寿命後期になると、交換する光源部の準備や光源部交換のタイミングを計る上で残存寿命を精度良く分かることが要求されるが、光源部の寿命は個体差もあり、正確に推定することは困難であった。
本発明の目的は、上記のように、レーザ装置に使用されている光源部を光源部の温度が異なる条件で駆動した場合であっても、また種々の光出力条件で駆動した場合であっても、前記光源部の実効的な累積駆動時間が常時正確に算出でき、更に前記光源部に個体差があった場合も、蓄積したデータを参照して光源部の個体差を考慮することによって、前記光源部の残存寿命が常時正確に算出でき、必要に応じて前記実効的な累積駆動時間および前記残存寿命の表示や出力が可能なレーザ装置の提供である。
本願に記載したレーザ装置は、加工分野では、主に板金切断用あるいは溶接用レーザ加工機として使用される。
従来より、レーザ装置の光源部等の実効的累積駆動時間や残存寿命を予測する方法については、下記のように複数の文献に記載されているが、光源部の温度による寿命消費の加速係数と、光出力あるいは駆動電流等の駆動条件による寿命消費の加速係数の両方を考慮して、正確に実効的駆動時間や実効的累積駆動時間を算出する技術は開示されていない。また、推定生涯寿命から実効的累積駆動時間を引いた時間として推定される残存寿命については、実効的累積駆動時間が正確に算出されないと元々精度の良い推定は困難であるが、所定の実効的累積駆動時間が経過した時点での光源部の特性あるいは特性の変化速度から光源部の個体差を考慮して残存寿命を精度良く推定する方法を開示している文献はない。また、言うまでも無いが、特性の変化速度は、特性の変化幅を実効的駆動時間で除して算出するものであるので、正確な実効的駆動時間が算出できない限り、正確な特性の変化速度も求めることができない。
例えば、特開2004−335030号公報では、半導体レーザの温度および動作時間を測定し、必要に応じて動作時間をその時の温度に対応する温度補正係数で補正し、動作時間または補正後の動作時間を累積的にカウントし、カウントした累積動作時間を所定の閾値と比較し、累積動作時間が前記閾値を超えているときに表示部に対してデータの記録を禁止して再生専用とするか否かのメッセージを表示させる技術を開示しているが、光出力あるいは駆動電流に対する補正には言及していない。また、半導体レーザの個体差を考慮していないので残存寿命の推定精度は低い。
また、特開2014−212234号公報では、電流値と、レーザダイオードの動作時間とから、その動作時間に対するバイアス電流の変化量を算出して、その変化量に基づいて発光素子の寿命時間を予測する技術を開示し、また、発光素子の雰囲気温度に基づいて、所定の動作時間における駆動電流の電流値を、発光素子の雰囲気温度と関連付けて記憶した電流値と比較して、その動作時間に対するバイアス電流の変化量を算出する技術を開示しているが、温度と駆動電流を考慮した実効的累積駆動時間には言及していない。また、レーザダイオードの個体差を考慮していないので残存寿命の推定精度は低い。
特開2005−243089号公報では、半導体レーザ等の電子デバイスにおいて、使用環境温度の寿命への影響を補正するための重み付け係数を導出して、補正した駆動時間を累積する技術が開示されているが、使用環境温度が同じであっても、駆動電流等によって、半導体レーザの場合はpn接合部の温度が変化することを含めて、光出力や駆動電流によって、半導体レーザの寿命は大きく変化するが、実使用環境温度の影響しか補正していない。したがって、駆動電流や光出力が一定でない場合は補正ができず、精度の良い実効的累積駆動時間が算出できず、したがって、半導体レーザの個体差を考慮していないことも含めて、正確な残存寿命も推定することができない。
特開2003−173559号公報では、ディスク再生装置の光ピックアップの周辺温度と動作時間を測定し、温度の上昇に伴って増加する第1のパラメータと動作時間の経過に伴って増加する第2のパラメータとを乗算したダメージ指数を、測定された周辺温度と動作時間を用いて計算し、計算したダメージ指数を累積したダメージ指数の累積値を記録する技術を開示しているが、やはり周辺温度以外の駆動条件が異なる場合のダメージの大きさの違いには言及しておらず、駆動電流等が一定でない場合は精度の良い実効的累積駆動時間が算出できない。したがって、光ピックアップの個体差を考慮していないことも含めて、正確な残存寿命も推定することができない。
特開2004−070349号公報では、発光素子を含む画素が具備された表示パネルにおいて、発光素子の温度特性および経時変化特性を記憶しておき、発光素子の周囲の温度、発光素子の温度特性および映像信号を用いて各画素の点灯期間を演算して、各画素の累積点灯期間を求め、発光素子の経時変化特性と各画素の累積点灯期間を用いて、各画素に入力する映像信号を補正して表示パネルに供給する技術を開示している。しかし、映像信号から供給される各画素の点灯期間のデータと前記加速係数の積を演算して累積点灯期間を求めているだけであり、やはり駆動電流(供給電流)が異なる場合の加速係数には言及していないので、レーザ加工用レーザ装置のように光出力や駆動電流等の駆動条件を色々変える必要がある装置に適用しても精度が望めない。
特開2004−335030号公報 特開2014−212234号公報 特開2005−243089号公報 特開2003−173559号公報 特開2004−070349号公報
レーザ装置の主要部分である光源部については、保証や保守の観点から実効的な累積駆動時間や残存寿命は重要な情報である。実効的累積駆動時間が分からなければ、例えば、光源部の特性が劣化してきたり、寿命が尽きた時に、平均的な光源部より、劣化が速いのか、寿命が短いのかも分からず、光源部の信頼性管理にフィードバックしたり、寿命保証の観点からの判断ができない等の問題が発生する。また、正確な残存寿命が分からなければ、光源部の交換の準備が遅れたり、突然寿命が尽きて保守作業のために生産計画に狂いが生じたりする等の問題が発生する。
前記光源部の温度が一定で、かつ、前記光源部が一定の標準的光出力だけを出力するように駆動されていたり、一定の標準的な駆動電流だけが注入されて使用されていたりするのであれば、累積駆動時間を求めることは容易であるが、レーザ加工用レーザ装置等の場合は、実際には、低出力から高出力、連続レーザ出力からパルスレーザ光出力まで、種々の光出力条件で使用されることが多い。また、光源部が水冷の場合は光源部の温度条件をほぼ一定に保つことは比較的容易であるが、可搬性や重量、サイズ等の点でメリットがある空冷の場合は、光源部の温度条件が環境温度の影響を受けて変化することは避け難い。そのため、光出力や駆動電流等の駆動条件や、光源部の温度条件が一定でなくても、標準的な駆動条件、標準的な温度条件で駆動した場合の駆動時間と寿命消費が等価になる実効的駆動時間とその累積値である実効的累積駆動時間を正確に算出できることが必要であったが、従来技術では、上記のように、光源部の温度を含む駆動条件が一定でないレーザ装置の光源部について、正確な実効的駆動時間、実効的累積駆動時間を算出することができなかった。
また、残存寿命については、光源部の交換時期を予め見越して予算を確保する等の目的から前記光源部の劣化が始まる前の寿命前期においても把握できることが望ましく、光源部の寿命後期になると、交換する光源部の準備や光源部交換のタイミングを計る上で残存寿命を特に精度良く分かることが要求される。
しかし、従来技術では、光源部の温度を含む駆動条件が一定でないレーザ装置の光源部については、元々正確な実効的累積駆動時間を算出することができないこともあって、このような条件で駆動される光源部については、劣化が顕在化しないと残存寿命で推定できなかった。更に光源部の特性の劣化速度には個体差があり、しかも実効的累積駆動時間の経過と共に劣化速度が変化し、その変化の仕方にも個体差があることが残存寿命の正確な推定を益々困難にしていた。
上記のように、光源部の温度を含む駆動条件を色々変えて使用しても、常時光源部の正確な実効的累積駆動時間が算出でき、光源部の劣化が顕在化していない光源部の寿命初期から光源部の劣化の影響が顕著になる寿命後期まで寿命期間内は光源部の個体差も考慮して常時正確に残存寿命が導出でき、特に残存寿命の精度が必要な寿命後期についてはより高精度な残存寿命が導出できるレーザ装置を開発することが課題となっている。
(1)レーザ光源あるいは励起光源として機能する少なくとも一つ以上の光源部と、前記光源部に駆動電流を供給する少なくとも一つ以上の電源部と、前記光源部からの光出力を検出する少なくとも一つ以上の光出力検出部と、前記光源部あるいは前記光源部に熱的に接続する部材の温度を検出する少なくとも一つ以上の温度検出部と、前記温度検出部によって検出された温度あるいは前記温度検出部によって検出された温度から求められた前記光源部の温度が標準温度であり、前記光源部からの光出力あるいは光出力を決める少なくとも一つ以上の前記光源部の駆動条件値が標準条件値である場合を基準とする、前記温度と前記駆動条件値に依存する前記光源部の寿命消費の加速係数を算出する第1算出部と、前記光源部の駆動に伴って変化し、前記光源部の光出力特性から求めることが可能な少なくとも一つ以上の前記光源部の性能指数および前記性能指数の変化速度の内の少なくとも一方の前記光源部の特性に対して前記光源部の生涯寿命および前記光源部の残存寿命の内の少なくとも一方の寿命を算出する第2算出部と、前記加速係数の時間積分を前記光源部の実効的駆動時間として計算する計算部と、前記計算部によって計算された、ある設定した設定時間から前記設定時間より後の任意時間までの前記加速係数の時間積分を前記任意時間までの実効的累積駆動時間として記録すると共に、前記第2算出部で算出された前記生涯寿命および前記残存寿命と前記光出力特性を記録可能な記録部と、前記各部を制御する制御部を備えたレーザ装置を提供する。
(1)のレーザ装置によれば、光源部の温度および光出力や駆動電流のような駆動条件が変化しても、光源部を標準温度および標準駆動条件で駆動した場合の駆動時間に換算した実効的駆動時間、実効的累積駆動時間が算出できるので、光源部の寿命や信頼性を定量的に評価できるようになる。また、光源部の前記性能指数や性能指数の変化速度という特性上の個体差を考慮して光源部の生涯寿命や残存寿命を算出するので光源部の生涯寿命や残存寿命を高精度に推定できる。更に、実効的累積駆動時間を記録すると共に、算出された生涯寿命や残存寿命、光源部の光出力特性を記録可能なので、生涯寿命や残存寿命や光出力特性を記録に残した場合は、第1算出部や第2算出部の算出精度を検証でき、更に算出精度を向上させるための情報として利用することができる。
(2)前記第1算出部によって算出される前記加速係数には、前記実効的累積駆動時間に対する依存性も考慮する。
(2)のレーザ装置によれば、寿命後期になると、基準の1より大きい加速係数F(P,T)については、駆動条件値Pと温度Tが同じであっても、加速係数F(P,T)が次第に大きくなる傾向があるが、実効的累積駆動時間によって加速係数が異なってくる場合にも、精度良く実効的駆動時間や実効的累積駆動時間が算出できる。
(3)前記光源部の残存寿命は、前記第2算出部が、前記光源部の前記性能指数および前記性能指数の変化速度の内の少なくとも一方の前記光源部の特性に対して算出した前記光源部の生涯寿命から前記記録部に記録されている前記任意時間までの前記実効的累積駆動時間を減算して算出する。
(3)のレーザ装置によれば、前記第2算出部が、前記性能指数の初期特性、例えば前記設定時間における前記性能指数から算出した光源部の生涯寿命から実効的累積駆動時間を引いて残存寿命を算出することができる。この場合、前記性能指数の初期特性という光源部の個体差が考慮されているので、精度の良い残存寿命が算出できる。また、光源部の特性劣化が顕在化する前の寿命初期から精度良く残存寿命が算出できる。
(4)本発明のレーザ装置は、所定のスケジュールに沿って、前記制御部からの指令により、前記電源部が光出力測定のための駆動電流を前記光源部に出力して、前記駆動電流と前記光出力検出部で検出された光出力との関係を表す前記光源部の光出力特性を測定し、その時点における前記実効的累積駆動時間と対応させて、前記光出力特性を記録部に追記あるいは記録する。
(4)のレーザ装置によれば、前記実効的累積駆動時間と対応させて、前記光出力特性を記録部に追記あるいは記録することによって、光出力特性から求めることが可能な前記性能指数について、変化幅を知ることができ、変化幅を実効的累積駆動時間の差で除することによって前記性能指数の変化速度が求まるので、光源部の特性の劣化速度を含む個体差を考慮した残存寿命が算出できるようになる。
また、光出力特性を追記して行くことにより、実効的累積駆動時間の経過に伴う光出力特性や性能指数の変化の履歴を残すことができ、第1算出部や第2算出部の算出精度を更に向上させるための情報として利用することができる。駆動電流を変化させて検出された光出力から求めた光源部の光出力特性を更新することによって、光出力指令に対して正確な光出力が可能になるという効果もある。
(5)本発明のレーザ装置は、駆動電流を独立して制御可能な複数の前記光源部を備え、前記駆動電流を独立して制御可能な個々の前記光源部に対して、それぞれ光出力を検出可能な前記光出力検出部を少なくとも一つ以上備える。
(5)のレーザ装置によれば、複数の光源部の光出力特性を同時に測定できるので、短時間で入出力特性が測定できる。
(6)前記第2算出部によって、前記光源部の前記性能指数と前記性能指数の変化速度に対して算出される前記光源部の前記残存寿命には、前記実効的累積駆動時間に対する依存性も考慮する。
(6)のレーザ装置によれば、例えば、前記性能指数と前記性能指数の変化速度が同じでも、実効的累積駆動時間が短い光源部については、早くから劣化が始まったということになり、通常より多くの劣化要因を内在していることから、今後、急激に劣化が進み、残存寿命が短いと推定される。したがって、前記光源部の前記性能指数と前記性能指数の変化速度に加えて、前記実効的累積駆動時間も考慮して、残存寿命を算出することで、より精度の高い残存寿命の算出が可能になる。
(7)前記実効的累積駆動時間と対応させて、前記記録部に記録あるいは追記された光出力特性から求めた前記性能指数の変化速度あるいは変化幅が前記光出特性の測定誤差を越える所定の値を越えた場合に、過去の前記光源部の前記性能指数や前記性能指数の変化速度に基づいて前記第2算出部によって算出された前記生涯寿命を、新たに測定された前記光源部の前記光出力特性から求めた前記光源部の前記性能指数と前記性能指数の変化速度から算出された前記光源部の前記残存寿命に前記実効的累積駆動時間を加算した値で置換える。
(7)のレーザ装置によれば、光源部の特性劣化、即ち性能指数の変化が顕在化してくると、過去に算出された生涯寿命から実効的累積駆動時間を減算して求めた残存寿命より、最近の光源部の性能指数と性能指数の変化速度から直接算出した残存寿命の方が高精度であるので、精度の高い生涯寿命に更新できる。
(8)前記記録部には、前記実効的累積駆動時間と対応させて記録あるいは追記する前記光出力特性と共に、前記第2算出部によって算出された、前記実効的累積駆動時間における前記光源部の前記残存寿命を記録あるいは追記する。
(8)のレーザ装置によれば、実効的累積駆動時間の経過に対する光出力と第2算出部が算出した残存寿命の履歴を残すことによって、寿命が尽きた時点で、光出力から算出される性能指数や性能指数の変化速度から算出した残存寿命の精度が検証できる。更に、第1算出部や第2算出部の算出精度を向上させるための情報として利用することができる。
(9)前記記録部に、前記実効的累積駆動時間と対応させて記録あるいは追記する前記光出力特性と共に、前記光出力特性の測定時から、次の前記光出力特性の測定時までの期間の、前記温度検出部によって検出された温度あるいは前記温度検出部によって検出された温度から求められた前記光源部の温度および前記光源部の前記駆動条件値の内の少なくとも一方の前記光源部の駆動条件に関する情報を記録あるいは追記する機能を有する。
(9)のレーザ装置によれば、光出力特性の測定時から次の光出力特性の測定まで光源部の駆動条件に関する情報を記録しておくので、その間の駆動条件に対する前記加速係数が過大評価あるいは過小評価ではなかったかが検証でき、第1算出部の算出精度を向上させるための情報として利用することができる。第1算出部の算出精度が向上すると、実効的累積駆動時間の算出精度が向上するので、第2算出部の算出精度も向上させることができる。
(10)前記記録部に記録したデータを記録媒体あるいは通信手段によって出力可能にする。
(10)のレーザ装置によれば、前記光源部の寿命が実際に尽きた時点の前記実効的累積駆動時間も含めて、前記記録部に記録されている履歴データを収集することによって、第1算出部や第2算出部で算出した生涯寿命や残存寿命と実際の生涯寿命や残存寿命を比較することができ、その差が小さくなるように、第1算出部や第3算出部が算出にあたって参照する参照データを見直して更新することができる。その結果、実効的累積駆動時間、生涯寿命、残存寿命の算出精度を更に向上させることができる。
(11)前記第1算出部や前記第2算出部が算出するに当たって参照するデータは、最新版のデータであることが望ましいので、前記第1算出部が前記加速係数の算出に当たって参照するデータおよび前記第2算出部が前記光源部の前記生涯寿命や前記残存寿命を算出するに当たって参照するデータの内の少なくとも一方のデータに関して、前記レーザ装置における前記実効的累積駆動時間が経過した時点でも、記録媒体あるいは通信手段によってデータの入替えが可能であり、前記記録部に記録されたデータが分析できるように、前記記録部に前記実効的累積駆動時間のどの時点で参照するデータを入れ替えたかを記録として残す。
(11)のレーザ装置によれば、前記第1算出部や前記第2算出部が算出するに当たって参照するデータを最新版に置換えることによって、その後の実効的累積駆動時間、生涯寿命、残存寿命の算出精度を向上させることができる。どの版のデータを参照して、実効的累積駆動時間、生涯寿命、残存寿命の算出を行ったかを記録として残すことで、使用途中で参照するデータを更新したレーザ装置の記録部に記録されたデータも参照するデータを更新するためのデータとして利用することができる。
(12)前記第1算出部は、前記加速係数を、前記光源部からの光出力あるいは光出力を決める少なくとも一つ以上の前記光源部の駆動条件値に依存する第1加速係数と、前記温度検出部で検出される温度あるいは前記温度検出部によって検出された温度から求められた前記光源部の温度に依存する第2加速係数の積として算出する。
(12)のレーザ装置によれば、第1算出部が加速係数を算出するに当たって参照するデータが、駆動条件値と温度の二つのパラメータに対する加速係数を与える二次元のデータテーブルである場合は、過去の実績データから取得する必要があるデータ量が多く、データ取得に時間を要するが、加速係数を駆動条件値に依存する第1加速係数と温度に依存する第2加速係数との積で表すと、取得すべきデータを大幅に減らすことができ、比較的少ない工数で必要な参照するデータを作成できる。
(13)前記第1加速係数が、前記駆動条件値が変化することに付随して前記光源部における発熱量が変わることによって前記光源部の温度が変化することに起因する寿命消費の加速効果が除外された、前記光源部の温度を前記標準温度に固定した条件での加速係数であり、前記第2加速係数は、前記光源部の温度による加速係数とする。
(13)のレーザ装置によれば、例えば、加速係数を与える駆動条件値が駆動電流の場合、駆動電流による第1加速係数は温度によって異なるため、複数の温度に対して、第1加速係数を算出するためのデータが必要であるが、駆動条件の変化に伴う温度の変化による寿命消費の加速への影響を切り離すと、駆動電流による加速係数のデータを複数の温度に対して用意する必要がなく、必要なデータ量が更に少なくなり、少ない工数で算出に当たって参照が必要なデータを作成できるという(12)のレーザ装置の効果がより顕著になる。
(14)前記光源部がレーザダイオードあるいは複数のレーザダイオードから構成されるレーザダイオードモジュールである場合は、前記温度検出部を前記レーザダイオードのpn接合から前記pn接合で発生した熱を吸熱する冷却部までの熱経路のいずれかの位置の温度を検出するように設置して、前記第1算出部が、前記温度検出部によって検出された温度と、温度検出位置から前記pn接合までの熱抵抗と、前記光源部の光出力特性から算出された前記pn接合における発熱量とから算出された前記pn接合の温度に対して、前記第2加速係数を算出する。
(14)のレーザ装置によれば、光源部がレーザダイオードあるいは複数のレーザダイオードから構成されるレーザダイオードモジュールである場合は、光源部の温度として、pn接合の温度が分かれば、前記第2加速係数の算出に加速寿命試験等に広く利用されているアレニウスモデル式を利用することができる。pn接合の温度は、レーザ波長等から計測することは可能だが、常時温度を検出することは困難な場合が多いが、上記の方法によれば、光出力特性から求まる発熱量と略一定で見積り可能な温度検出位置から前記pn接合までの熱抵抗によりpn接合の温度を算出できる。
(15)前記光源部がレーザダイオードあるいは複数のレーザダイオードから構成されるレーザダイオードモジュールであった場合は、前記第1算出部が、前記第1加速係数を、前記駆動条件値を標準駆動条件値で除した数式、あるいは、前記駆動条件値からある正の整数を減じた値を前記標準駆動条件値から前記ある正の整数減じた値で除した数式の累乗関数として算出する。
(15)のレーザ装置によれば、前記第1加速係数も数式によって算出するようにすることにより、前記加速係数の算出に当たって参照するデータが少なくなり、第1加速係数の算出に当たって参照するデータ取得に要する時間が低減される。光出力や駆動電流のようにpn接合の温度が変化する駆動条件値は、駆動条件値の変化に伴う温度の影響を除去した式を使用することによって、温度が異なっても、同じ式で前記第1加速係数が算出できるので、前記加速係数の算出に当たって必要な参照データを更に少なくすることができる。
本発明に係るレーザ装置によれば、光出力あるいは駆動電流に加えて、光源部の温度も考慮した寿命消費の加速係数を時間積分して実効的駆動時間、実効的累積駆動時間を算出することによって、光源部の温度を含む駆動条件が一定でない場合にも、標準的な駆動条件に対する光源部の寿命の長短の評価、光源部の信頼性の評価が行えるようになるという効果を奏する。また、実効的累積駆動時間が正確に算出できると、実効的累積駆動時間に対応した光出力特性から導出可能な性能指数および性能指数の変化速度と残像寿命の関係を示すデータとの比較により残存寿命も精度良く推定できるようになるという効果を奏する。実効的累積駆動時間に対応した性能指数および性能指数の変化速度と残存寿命の関係を示すデータは、実効的累積駆動時間に対応した性能指数および性能指数の変化速度のデータを記録して残すことによって蓄積でき、精度を向上させることができる。
本発明の第1実施形態に係るレーザ装置の構造を示す摸式図である。 本発明の第1実施形態に係るレーザ装置の第1算出部が加速係数を算出に当たって参照するデータの構成例の模式図である。 本発明の第1実施形態に係るレーザ装置の第2算出部が生涯寿命を算出に当たって参照するデータの構成例の模式図である。 本発明の第2実施形態に係るレーザ装置において、第1算出部が加速係数を算出に当たって参照するデータの構成例の模式図である。 本発明の第4実施形態に係るレーザ装置において、記録部に記録されたデータの構成例の模式図である。 本発明の第4実施形態に係るレーザ装置において、記録部に記録されたデータの他の構成例の模式図である。 本発明の第5実施形態に係るレーザ装置の構造を示す摸式図である。 本発明の第6実施形態に係るレーザ装置において、第2算出部が残存寿命や生涯寿命を算出に当たって参照するデータの構成例の模式図である。 本発明の第8実施形態に係るレーザ装置において、記録部に記録されたデータの構成例の模式図である。 本発明の第9実施形態に係るレーザ装置において、記録部に記録されたデータの構成例の模式図である。 本発明の第11実施形態に係るレーザ装置において、記録部に記録されたデータの構成例の模式図である。 本発明の第12実施形態に係るレーザ装置において、第1算出部が駆動条件値である光出力による第1加速係数を算出するに当たって参照するデータ(グラフ)の例である。 本発明の第12実施形態に係るレーザ装置において、第1算出部が温度による第2加速係数を算出するに当たって参照するデータ(グラフ)の例である。 本発明の第13実施形態に係るレーザ装置において、第1算出部が駆動条件値である光出力による第1加速係数を算出するに当たって参照するデータ(グラフ)の例である。 本発明の第14実施形態に係るレーザ装置において、pn接合の温度を導出する方法を説明するために熱の流れ等を模式的に示した図である。 本発明の第15実施形態に係るレーザ装置において、第1算出部が駆動条件値である光出力による第1加速係数を算出するに当たって参照するデータ(グラフ)の例である。 本発明の第15実施形態に係るレーザ装置において、第1算出部が駆動条件値である駆動電流による第1加速係数を算出するに当たって参照するデータ(グラフ)の例である。
以下、本発明の実施形態について図面に基づいて説明する。
[第1実施形態]
図1は、本発明の第1実施形態に係るレーザ装置1内の構造を示す模式図である。
図1に示したように、第1実施形態に係るレーザ装置1は、レーザ光源あるいは励起光源として機能する少なくとも一つ以上の光源部2と、光源部2に駆動電流を供給する少なくとも一つ以上の電源部3と、光源部2からの光出力を検出する少なくとも一つ以上の光出力検出部4と、光源部2あるいは光源部2に熱的に接続する部材の温度を検出する少なくとも一つ以上の温度検出部5と、温度検出部5によって検出された温度Tあるいは温度検出部5によって検出された温度Tから求められた光源部2の温度Tが標準温度Tであり、光源部2からの光出力あるいは光出力を決める少なくとも一つ以上の光源部2の駆動条件値Pが標準条件値Pである場合を基準とする、温度Tと駆動条件値Pに依存する光源部2の寿命消費の加速係数F(P,T)を算出する第1算出部6と、光源部2の駆動に伴って変化し、光源部2の光出力特性から求めることが可能な少なくとも一つ以上の光源部2の性能指数Qおよび性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtの内の少なくとも一方の光源部2の特性に対して光源部2の生涯寿命τおよび光源部2の残存寿命τの内の少なくとも一方の寿命を算出する第2算出部9と、時間tから時間tより後の時間tまでの加速係数F(P,T)の時間積分、即ち、数式1を光源部2の時間tから時間tまでの間の実効的駆動時間として計算する計算部7と、計算部7によって計算された、ある設定した設定時間tから設定時間tより後の任意時間tまでの加速係数F(P,T)の時間積分、即ち、数式2を任意時間tまでの実効的累積駆動時間tとして記録すると共に、第2算出部9で算出された生涯寿命τおよび残存寿命τと光出力特性を記録可能な記録部8と、前記各部を制御する制御部10を備えている。
Figure 2018006713
なお、本願において、生涯寿命τと残存寿命τはいずれも光源部2を標準温度T、標準駆動条件値Pで駆動した時の生涯寿命や残存寿命を意味している。また、温度Tは、温度検出部5によって検出された温度Tあるいは温度検出部5によって検出された温度Tから求められた光源部2の温度Tのいずれかの温度を表す総称として使用している。
光源部2から出力された光出力は、図1に記載したようにレーザ光学系11を経由して、レーザ装置1の外部にレーザ光として出射される。光源部2が励起光として使用される場合は、励起光をレーザ光に変換するNd添加YAG結晶やYb添加ファイバレーザ等のレーザ媒体等が必要であるが、レーザ光学系11は、必要に応じて、レーザ媒体、光結合、焦点結像用光学、光結合用光学系、光分岐用光学系、光学系を内蔵した加工ヘッド等も含んだ光学系を意味している。また、光線は模式的に点線の矢印で表しているが、空間を伝搬している光線に限定するものではなく、ファイバ内の伝搬する光であっても良い。フォトダイオード等で構成される光出力検出部4の設置場所も、図1に示した位置に限定されるものではなく、レーザ光学系11を伝搬した後のレーザ光を検出しても良い。また光出力の検出方法も図1に示した配置に限定するものではなく、空中を伝搬するレーザ光の場合はハーフミラーでレーザ光の一部を光出力検出部4に入射させても良いし、レーザ光がファイバ内を伝搬している場合は、クラッドからの漏れ光を検出しても良いし、分岐したファイバの端部に光出力検出部4を設置しても良い。
なお、光源部2における発熱による光源部2の温度上昇を抑制するために、光源部2は冷却部12と熱的に接続していることが望ましい。冷却部12は水冷の場合は水冷板、空冷の場合は放熱フィンを備えたヒートシンク等である。
また、レーザ装置1には、制御部10に外部から指令を入力するための入力部13や計算部7による計算結果等を表示する表示部14を備えても良い。
図2は、第1算出部6において、温度検出部5によって検出された温度Tおよび光源部2の駆動条件値Pに対して、温度Tが標準温度Tであり、駆動条件値Pが標準駆動条件値Pである場合を基準のF(P,T)=1とする、光源部2の寿命消費の加速係数F(P,T)を算出する方法の実施例を説明するための図であり、第1算出部6は、図2に示したような温度Tと駆動条件値Pを指定すると加速係数F(P,T)を読み出すことができる二次元のデータテーブルを備えることができる。図2に示したように、光出力や駆動電流のような駆動条件値Pが大きい程、寿命が短くなる。即ち、寿命消費の加速係数F(P,T)が大きい場合は、加速係数F(P,T)は、Pが大きい程、またTが高い程、大きい加速係数になり、T<TでP<Pの場合は、F(P,T)<1になる。なお、図2のようなデータテーブルは、過去の実績データに基づいて作成することができる。なお、駆動条件値Pと温度Tが一致するデータがデータテーブルに無い場合には、補間法等で加速係数を算出すれば良い。
この加速係数F(P,T)を時間tから時間tより後の時間tまでの時間積分すると、光源部2のtからt間の実効的駆動時間が計算できる。例えば、加速係数F(P,T)が2であった場合は、実効的駆動時間は実際の駆動時間の2倍に算出される。なお、光源部2を駆動していない時間は加速係数が0なので、時間積分しても、実効的駆動時間には算入されない。
時間積分の開始時間tを例えば光源の出荷データ取得完了後やバーンイン完了後等に設定すれば、その時点から時間tまでの加速係数F(P,T)の時間積分によって、光源部2の温度と光出力あるいは駆動電流のような駆動条件の両方も考慮した設定時間tから時間tまでの実効的累積駆動時間tが計算できる。
光源部2の温度が変化しても、駆動条件を変えても、標準温度Tかつ標準駆動条件値Pで駆動した場合に換算した実効的累積駆動時間tが算出できるので、寿命管理が可能になり、寿命や信頼性を定量的に評価できるようになる。
計算部7によって算出された実効的累積駆動時間tは、記録部8に光源部2が駆動されている間は絶えず時間積分値を加算して更新される状態で記録されるようにすれば良い。記録部8には、最新の実効的累積駆動時間tだけでなく、駆動履歴を残すために、測定された光源部2の光出力特性、光源部2に対して推定された生涯寿命τや残存寿命τも記録可能であることが望ましい。
図3は、第2算出部9において、光源部2の駆動に伴って変化し、光源部2の光出力特性から求めることが可能な少なくとも一つ以上の性能指数Qおよび性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtの内の少なくとも一方の光源部2の特性に対して光源部2の生涯寿命τおよび残存寿命τの内の少なくとも一方の寿命を算出する方法の実施例を説明するための図であり、第2算出部9は、図3に示したような、例えば、設定時間tにおける性能指数Qから推定される光源部2の生涯寿命τを読み出し可能なデータを備えることができる。性能指数Qと光源部2の生涯寿命τの関係を示すグラフの形でデータを備えても良い。性能指数Qが、例えば所定の駆動電流で得られる光出力のように性能指数Qが大きい程、性能が良く生涯寿命τが長いと推定される場合は、図3に示したようなデータになる。逆に、性能指数Qが、所定の光出力を得るのに必要な駆動電流のように、性能指数Qが小さい程生涯寿命τが長いと推定される場合は、図3とは逆の関係を示す。図3のようなデータも過去の実績データに基づいて作成することができる。
以上に説明した第1実施形態により、光源部2の温度および光出力や駆動電流のような駆動条件が変化しても、光源部2を標準温度Tおよび標準駆動条件値Pで駆動した場合の駆動時間に換算した実効的駆動時間、実効的累積駆動時間tが算出できるので、光源部2の寿命や信頼性を定量的に評価できるようになる。また、光源部2の性能指数Qや性能指数Qの変化速度という特性上の個体差を考慮して光源部2の生涯寿命τや残存寿命τを算出するので光源部2の生涯寿命τや残存寿命τを高精度に推定できるため、突然光源部2の寿命が尽きて、長時間レーザ装置1が使用できない等の事態を招くことなく、計画的に光源部2の交換等を行うことができ、レーザ装置1の生産性が向上する。更に、実効的累積駆動時間tを記録すると共に、算出された生涯寿命τや残存寿命τ、光源部2の光出力特性を記録可能なので、生涯寿命τや残存寿命τや光出力特性を記録に残した場合は、第1算出部6や第2算出部9の算出精度を検証でき、更に算出精度を向上させるための情報として利用することができる。
[第2実施形態]
本発明の第2実施形態に係るレーザ装置においては、第1算出部6によって算出される加速係数F(P,T)に、実効的累積駆動時間tに対する依存性も考慮される。図4は、第2の実施例のレーザ装置が、加速係数F(P,T)の算出に当たって参照するデータテーブルの構成例を示している。図2に示した1層の二次元データテーブルが複数の実効的累積駆動時間に対して、それぞれ備えられている。図4のデータテーブルを参照するに当たって、実効的累積駆動時間tが一致するデータテーブルが無い場合にも、補間法等で加速係数F(P,T)を算出できる。寿命後期になると、基準の1より大きい加速係数F(P,T)については、駆動条件値Pと温度Tが同じであっても、加速係数F(P,T)が次第に大きくなる傾向があるが、実効的累積駆動時間tによって加速係数F(P,T)が異なってくる場合にも、精度良く実効的駆動時間や実効的累積駆動時間tが算出できる。寿命前期については、加速係数F(P,T)の変化は少ないので、図4の二次元データテーブル間の実効的累積駆動時間tの間隔を大きくしても良い。
[第3実施形態]
本発明の第3実施形態に係るレーザ装置においては、第2算出部9が、光源部2の性能指数Qおよび性能指数Qの変化速度の内の少なくとも一方の光源部2の特性に対して算出した光源部2の生涯寿命τから、記録部8に記録されている任意時間tまでの実効的累積駆動時間tを減算して任意時間tにおける光源部2の残存寿命τを算出することができる。即ち、τ=τ−tで算出することができる。第2算出部9が、性能指数Qの初期特性、例えば設定時間t(即ち、実効的累積駆動時間t=0)おける性能指数Qから算出した光源部2の生涯寿命τから、実効的累積駆動時間tを引いて残存寿命τが算出できる。性能指数Qの初期特性という光源部2の個体差が考慮されているので、精度の良い残存寿命τが算出できる。また、光源部2の特性劣化が顕在化する前の寿命初期から精度良く残存寿命が算出できる。そのため、例えば、光源部2の交換時期を早くから知ることができるので、光源部2の交換費用を計画的に予算化すること等が可能になる。
[第4実施形態]
本発明の第4実施形態に係るレーザ装置においては、制御部10からの指令により、所定のスケジュールに沿って、電源部3が光出力測定のための駆動電流を光源部2に出力して、駆動電流と光出力検出部4で検出された光出力との関係を表す光源部2の光出力特性を測定し、その時点における実効的累積駆動時間tと対応させて、光出力特性を記録部8に追記あるいは記録することができる。
図5は、記録部8に記録されるデータの構成例を模式的に示しており、実効的累積駆動時間tのカウント開始時点である設定時間t(即ち、実効的累積駆動時間t=0)における光源部2の光出力特性と光出力特性を測定した時の検出温度Tを記録した後、例えば、所定のスケジュールに沿って光源部2の光出力特性を測定する度に、実効的累積駆動時間tと光出力特性と光出力特性測定時の検出温度Tを追記して行くことができる。なお、図中の右上がりの三角形の記号は、「Δ」と同じ意味である。異常なデータが記録されていた場合の原因調査等に有用と思われるので、図5に示したように、実時間(実時刻)tを実効的累積駆動時間tと併記しても良い。また、光源部2の光出力特性から求めることが可能な性能指数Qは、例えば、所定の駆動電流で得られる光出力や所定の光出力を得るために必要な駆動電流等で、光出力特性が記録されていれば、後刻でも算出できるので、記録部8に記録を残すことは必須要件ではないが、光源部2の残存寿命τの算出に当たって参照される性能指数Qおよび性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtも併記しても良い。性能指数の変化速度ΔQ/Δtは、性能指数Qの差ΔQを、その間の実効的累積駆動時間tの差Δtで除した値であり、図5において、実効的累積駆動時間t=tcnにおける性能指数の変化速度(ΔQ/Δt)t=tcnは、(Q−Q(n−1))/(tcn−tc(n−1))により算出でき、正確な実効的累積駆動時間tが算出できて初めて正確に算出できる値である。
測定した光源部2の光出力特性を実効的累積駆動時間tと対応させて記録に残すことにより、上述のように、光出力特性から求めることが可能な性能指数Qについて、変化幅ΔQを知ることができ、変化幅ΔQを実効的累積駆動時間の差Δtで除することによって性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtが求まるので、光源部2の特性の劣化速度を含む個体差を考慮した残存寿命τが算出できるようになる。また、光出力特性を追記して行くことにより、実効的累積駆動時間tの経過に伴う光出力特性や性能指数の変化の履歴を残すことができ、第1算出部6や第2算出部9の算出精度を更に向上させるための情報として利用することができる。駆動電流を変化させて検出された光出力から求めた光源部2の光出力特性を更新することによって、光出力指令に対して正確な光出力が可能になるという効果もある。
なお、光出力特性は検出温度Tがほぼ同じ温度の時に測定するのが原則だが、複数の温度を光出力特性の測定条件に採用すれば、温度が測定条件に設定した温度と同じになる時を待っていて光出力特性のデータ更新タイミングを逸することを回避できる。その場合、記録部8には、図6のように、異なる検出温度毎にデータを記録すれば良い。補助的にファン風量、ヒータの発熱量、電子冷却素子の冷却能力等を制御して、検出温度を光出力の測定予定温度へ温度調節しても良い。
[第5実施形態]
図7は、本発明の第5実施形態に係るレーザ装置内の構造を示す模式図である。
図7に示したように、駆動電流を独立して制御可能な複数の光源部2を備え、駆動電流を独立して制御可能な個々の光源部2に対して、それぞれ光出力を検出可能な光出力検出部4を少なくとも一つ以上備えることができる。複数の光源部2の光出力特性を同時に測定できるので、短時間で光出力特性が測定でき、温度が不安定な空冷レーザ装置等でも正確な入出力特性が測定できる。なお、図7では、図が煩雑になるので、光源部2に熱的に接続している温度検出部5と冷却部12は省略している。また、光源部2、温度検出部5、レーザ光学系11と制御部10を接続する信号線も省略している。また、レーザ光学系11は光結合部を含むものとして記載している。
また、独立した駆動条件で駆動可能な光源部2が複数存在する場合には、記録部8に記録するデータは、各光源部毎に、図5や図6に示したような構成のデータを記録に残せば良い。
なお、駆動電流を独立して制御可能な複数の光源部2を備える場合は、それぞれの光源部2の残存寿命τを参照して、残存寿命τが比較的長い光源部2を優先的に駆動したり、残存寿命τが比較的長い光源部2に駆動電流の割振り量を増やしたりして、各光源部の寿命が尽きる時期を揃えたり、レーザ装置全体としての寿命が長くなるようしたりすることも可能である。
[第6実施形態]
本発明の第6実施形態に係るレーザ装置においては、光源部2の性能指数Qと性能指数Qの変化速度に対して、第2算出部9によって算出される残存寿命τの実効的累積駆動時間tに対する依存性が考慮される。図8は、第6の実施例のレーザ装置が、前記残存寿命τの算出に当たって参照するデータテーブルの構成例を模式的に示している。図8のデータテーブルは、光源部2の光出力特性から求めることが可能な少なくとも一つ以上の性能指数Qが所定の駆動電流で得られる光出力のように性能指数Qが大きい程、光源部2の性能が良く残存寿命τが長い場合の残存寿命τのデータテーブルであり、性能指数Qが高く、性能指数Qの変化速度が小さい程、残存寿命τが長い二次元のデータテーブルが、複数の実効的累積駆動時間tに対して備えられている。実効的累積駆動時間tが一致する二次元データテーブルの性能指数Qと性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtが一致する点から残存寿命τを読み出すことによって、残存寿命τが算出できる。性能指数Qと性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtが一致する点にデータが無い場合は、補間法で残存寿命τが算出できる。また、実効的累積駆動時間tが一致するデータテーブルが無い場合にも、補間法等で残存寿命τを算出できる。性能指数Qと性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtが一致する点から残存寿命τを読み出す二次元データテーブルは、離散的な実効的累積駆動時間tに対して記録されているが、性能指数Qが変化し始めるまでの寿命初期は、時間間隔を広くし、性能指数Qの変化が現れ始める寿命後期は時間間隔を短くすることが望ましい。所定のスケジュールは、光出力特性の測定のタイミングが、第1算出部6や第2算出部9が参照する複数の二次元データテーブルの実効的累積駆動時間tと一致するように設定しても良い。なお、図8の実効的累積駆動時間t=0の時のデータは、図3に記載したデータと同じデータである。
本実施例により、例えば、性能指数Qと性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtが同じでも、実効的累積駆動時間tが短い光源部2については、早くから劣化が始まったということになり、通常より多くの劣化要因が内在していることから、今後、急激に劣化が進み、残存寿命τが短いと推定されるが、第2算出部9によって、光源部2の性能指数Qと性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtに加えて、光源部2の実効的累積駆動時間tも考慮することによって、光源部2の劣化状態の個体差が正確に反映されたより精度の高い残存寿命τの算出が可能になる。即ち、光源部2の特性劣化が顕在化してくる寿命後期の残存寿命τを特性とその劣化速度という個体差を考慮して算出しているので、寿命後期においても、精度良く残存寿命τが算出できる。なお、精度の良い残存寿命τの推定に必要な性能指数Qの変化速度も、精度良く算出された実効的累積駆動時間tがあって初めて精度良く算出できる。
[第7実施形態]
本発明の第7実施形態に係るレーザ装置においては、実効的累積駆動時間tと対応させて、記録部8に記録あるいは追記された光出力特性から求めた性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtあるいは変化幅ΔQが光出特性の測定誤差を越える所定の値を越えた場合に、過去の光源部2の性能指数Qや性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtに基づいて第2算出部9によって算出された生涯寿命τを、新たに測定された光源部2の光出力特性から求めた光源部2の性能指数Qと性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtから算出された光源部2の残存寿命τに実効的累積駆動時間tを加算した値、即ち、τ+tで置換える機能を備える。
光源部2の特性劣化、即ち性能指数Qの変化が顕在化してくると、過去に算出された生涯寿命τから実効的累積駆動時間tを減算して求めた残存寿命τより、最近の光源部2の性能指数Qと性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtから第6実施形態の方法によって直接算出した残存寿命τの方が高精度であるので、精度の良い生涯寿命τに更新することができる。また、生涯寿命τの更新によって、第3実施形態の機能を寿命後期でも変更することなく、高精度の残存寿命τが算出できる。
[第8実施形態]
本発明の第8実施形態に係るレーザ装置においては、記録部8に、実効的累積駆動時間tと対応させて記録あるいは追記する光出力特性と共に、第2算出部9によって算出された、実効的累積駆動時間tにおける光源部2の残存寿命τを記録あるいは追記する機能を有することができる。図9は、記録部8に記録されるデータの構成例を示す模式図であり、実効的累積駆動時間tの経過に対する光出力と第2算出部9が算出した残存寿命τの履歴を残すことによって、寿命が尽きた段階で、光出力から算出される性能指数Qや性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtから算出した生涯寿命τや残存寿命τの精度が検証でき、更に、第1算出部6や第2算出部9の算出精度を向上させるための情報として利用することができる。例えば、ある実効的累積駆動時間tにおいて、性能指数Qや性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtが同じデータを集めて平均値を算出し、その平均値が、第2算出部9が参照する二次元データテーブルに記載されている残存寿命τとずれていた場合には、第2算出部9が参照する二次元データテーブルをずれが減少するように更新すること等が可能になる。
[第9実施形態]
本発明の第9実施形態に係るレーザ装置においては、記録部8に、実効的累積駆動時間tと対応させて記録あるいは追記する光出力特性と共に、光出力特性の測定時から、次の光出力特性の測定時までの期間の、温度検出部5によって検出された温度Tあるいは温度検出部5によって検出された温度から求められた光源部2の温度および光源部2の駆動条件値Pを記録あるいは追記する機能を有することもできる。
図10は、記録部8に記録されるデータの構成例を示す模式図であり、光出力特性の測定時から次の光出力特性の測定まで光源部2の温度を含む駆動条件に関する情報を記録しておくと、その間の駆動条件に対する加速係数F(P,T)が過大評価あるいは過小評価ではなかったかが検証でき、第1算出部6の算出精度を向上させるための情報として利用することができる。例えば、ある実効的累積駆動時間tにおいて、性能指数Qや性能指数Qの変化速度ΔQ/Δtが同じデータを集めて残存寿命τの分布を見て、残存寿命τの長い方に温度Tが高い駆動条件のデータが偏在している場合は、温度Tの上昇による加速係数F(P,T)を過大評価して実効的駆動時間が長い目に算出されていることを示しており、上記の偏在を解消するように第1算出部6が参照する二次元データテーブルを見直して更新し、第1算出部6の算出精度を向上させることができる。第1算出部6の算出精度が向上すると、実効的駆動時間の算出精度が向上するので、波及的に第2算出部9が参照するデータテーブルの更新精度が上がり、第2算出部9の算出精度も向上させることができる。データテーブルの更新に利用しやすいデータを取得するために、温度を含む駆動条件が変わる度に光出力特性を測定して、記録部8に実効的累積駆動時間t、光出力特性、性能指数Q、性能指数Qの変化速度ΔQ/Δt、残存寿命τ等と共に、検出温度Tと駆動条件値P等の駆動条件を記録しても良い。
[第10実施形態]
本発明の第10実施形態に係るレーザ装置においては、記録部8に記録した図5、図6、図9、図10のようなデータを記録媒体あるいは通信手段によってデータの集積や分析が可能なコンピューティングシステムやサーバー等に出力することができる。前述のように、光源部2の寿命が実際に尽きた時点の実効的累積駆動時間tも含めて、記録部8に記録されているデータを収集し、分析することによって、第1算出部6や第2算出部9で算出した生涯寿命τや残存寿命τと実際の生涯寿命や残存寿命を比較することができ、その差が小さくなるように、第1算出部6や第2算出部9が算出にあたって参照するデータテーブルを見直して更新することができる。その結果、実効的累積駆動時間t、生涯寿命τ、残存寿命τの算出精度を更に向上させることができる。
多くのレーザ装置からの膨大なデータを集めるためにネットワークとサーバーを利用し、膨大なデータを分析して第1算出部6や第2算出部9が加速係数F(P,T)や残存寿命τを算出するに当たって参照するデータベースを更新するために人工知能や機械学習装置を利用しても良い。第1算出部6や第2算出部9が加速係数F(P,T)や残存寿命τを算出するに当たって参照するデータベースは、レーザ装置1内部に存在する必要性はなく、例えば、リアルタイム性と両立させるために、フォグコンピューティングシステムのサーバー等に備え、ネットワークを経由してデータベースを参照して加速係数F(P,T)や残存寿命τを算出しても良い。また、記録部8に記録するデータもネットワークで接続したサーバー等に記録するようにしても良い。
また、ネットワーク等を通じて、レーザ装置1の製造業者や保守契約業者に、残存寿命τ等の情報を自動的に適時出力するようにして、レーザ装置1が稼働できない時間を最小限に抑えられるように、顧客への注意喚起や交換する光源部2の準備が行えるようにしても良い。
[第11実施形態]
本発明の第11実施形態に係るレーザ装置においては、第1算出部6が加速係数F(P,T)の算出に当たって参照するデータおよび第2算出部9が光源部2の生涯寿命τや残存寿命τを算出するに当たって参照するデータの内の少なくとも一方のデータが、レーザ装置1における実効的累積駆動時間tが経過した時点でも、記録媒体あるいは通信手段によってデータの入替えが可能であり、記録部8に実効的累積駆動時間tのどの時点でデータを入れ替えたかの記録を残すことができる。
第1算出部6や第2算出部9が算出に当たって参照しているデータを、最新版に置換えることによって、置き換え後の実効的累積駆動時間t、生涯寿命τ、残存寿命τの算出精度を向上させることができる。実効的累積駆動時間tが経過した途中で参照するデータを更新しても、どの版のデータを参照して、算出を行ったかを記録として残すことで、使用途中で参照するデータを更新したレーザ装置1の記録部8に記録されたデータも、第1算出部6や第2算出部9が算出に当たって参照するデータを更新するためのデータとして利用することができる。図11は記録部8に記録するデータの構成例を模式的に示している。参照するデータをレーザ装置1内に備える場合は、参照するデータの入替えもネットワークを通じて、前述のデータの集積や分析を実施したフォグコンピューティングシステムのサーバー等から出力されたデータを取り込むことによって自動的に行えるようにしても良い。
[第12実施形態]
本発明の第12実施形態に係るレーザ装置においては、第1算出部6が、加速係数F(P,T)を、光源部2からの光出力あるいは光出力を決める少なくとも一つ以上の光源部2の駆動条件値Pに依存する第1加速係数F(P)と、温度検出部5で検出される温度Tあるいは温度検出部5によって検出された温度Tから求められた光源部2の温度Tに依存する第2加速係数F(T)の積、即ち、F(P)・F(T)として算出することができる。
第1算出部が加速係数を算出するに当たって参照するデータが、図2に示したように、駆動条件値Pと温度Tの二つのパラメータに対する加速係数F(P,T)を与える二次元のデータテーブルではなく、図12に例を示したような駆動条件値Pと第1加速係数F(P)の関係を示すグラフと、図13に例を示したような温度Tと第2加速係数F(T)の関係を示すグラフを参照して加速係数F(P,T)=F(P)・F(T)を算出できる。図12では、光源部2からの光出力あるいは光出力を決める少なくとも一つ以上の光源部2の駆動条件値Pを光出力としており、標準条件値Pは,50Wである。駆動条件値Pは光出力以外に駆動電流等にすることもできる。また、図13において、標準温度Tは50℃である。即ち、図12と図13に示した例では、光出力が50Wで、温度検出部5で検出される温度Tあるいは温度検出部5によって検出された温度Tから求められた光源部2の温度Tが50℃の場合が標準駆動条件であり、加速係数F(50W,50℃)=F(50W)・F(50℃)=1である。
参照するデータが二次元のデータテーブルである場合は、過去の実績データから取得する必要があるデータ量が多く、データ取得に時間を要するが、加速係数F(P,T)を駆動条件値Pに依存する第1加速係数F(P)と温度Tに依存する第2加速係数F(T)との積で表すと、取得すべきデータを大幅に減らすことができ、比較的少ない工数で必要な参照するデータを作成できる。
[第13実施形態]
本発明の第13実施形態に係るレーザ装置においては、第1加速係数F(P)が、駆動条件値Pが変化することに付随して光源部2における発熱量が変わることによって光源部2の温度が変化することに起因する寿命消費の加速効果が除外された、光源部2の温度を標準温度Tに固定した条件での加速係数であり、第2加速係数F(T)は、光源部2の温度による加速係数である。
例えば、加速係数F(P,T)を与える駆動条件値Pが駆動電流の場合、駆動電流による第1加速係数F(P)は温度によって異なるため、複数の温度に対して、それぞれ第1加速係数F(P)を算出するためのデータが必要であるが、駆動条件の変化に伴う温度の変化による寿命消費の加速への影響を切り離すと、駆動電流による加速係数のデータを複数の温度に対して用意する必要がなく、必要なデータ量を更に少なくすることができる。
第1加速係数F(P)を温度に依存しない加速係数とするために、駆動条件値Pが変化することに付随して光源部2における発熱量が変わることによって光源部2の温度が変化することに起因する寿命消費の加速効果を除外することが必要であり、光源部2の温度を標準温度Tに固定した条件での加速係数とし、第2加速係数F(T)は、光源部2の温度による加速係数とすることが必要である。
図14は、加速係数を与える駆動条件値Pが光出力の場合について、例えば、冷却部12の温度をある温度に固定した場合の光出力による加速係数と、光源部2の温度を標準温度に固定とした場合の光出力による加速係数を例示している。前者は、光源部2と冷却部12の間には熱抵抗があるので、光出力の増加と共に光源部2の温度は上昇するので、温度の影響を含んだ光出力による第1加速係数F(P)であり、後者が温度の影響を除いた光出力による第1加速係数F(P)である。冷却部12の温度が変わると同じ光出力でも第1加速係数F(P)が変化するので、前者については、複数の冷却部12の温度について第1加速係数F(P)が求められるように複数本のグラフが必要であるが、後者については、冷却部12の温度が変わっても、第1加速係数F(P)が1本のグラフを参照するだけで算出できる。
[第14実施形態]
本発明の第14実施形態に係るレーザ装置においては、光源部2がレーザダイオードあるいは複数のレーザダイオードから構成されるレーザダイオードモジュールであって、図15に示したように、温度検出部5がレーザダイオードのpn接合からpn接合で発生した熱を吸熱する冷却部12までの熱経路のいずれかの位置の温度を検出するように設置されており、第1算出部6が、温度検出部5によって検出された温度Tと、温度検出位置からpn接合までの熱抵抗Rと、光源部2の光出力特性から算出されたpn接合における発熱量Hとから、T=T+R・(H−ΔH)≒T+R・Hの式で算出されたpn接合の温度Tに対して、第2加速係数F(T)を算出することができる。pn接合からpn接合で発生した熱を吸熱する冷却部12までの熱経路を経由しない発熱量ΔHは、通常、ΔH≪Hであるので、上記の式では無視している。
上記の熱抵抗Rはpn接合における発熱量とレーザ波長のシフト量、温度検出で検出された温度T等から見積可能であり、一度見積ると同じ設計仕様のレーザダイオードには同じ値を使用しても誤差は少なく問題無い。また、発熱量Hは、光源部2、即ち、レーザダイオードの光出力特性において、レーザダイオードへの印加電圧が分かると、発熱量=印加電圧×駆動電流−光出力エネルギーの式で算出することができる。光源部2の発熱量が分かるように、記録部8に記録する光出力特性には、駆動電流と併せて光源への印加電圧も光出力特性データとして測定して記録することが望ましい。
以上のように、光源部2の温度Tであるpn接合の温度が分かると、pn接合の温度Tによる加速係数である第2加速係数F(T)は、加速寿命試験等に広く利用されている数式3のアレニウスモデル式を利用して算出することができる。
Figure 2018006713
数式3において、Eは活性化エネルギー(eV)、kはボルツマン定数=8.6173×10−5(eV/K)である。Tは光源部2の温度で光源部2がレーザダイオードであった場合はpn接合の温度であり、Tは前述のように標準温度である。数式3では絶対温度で表された温度を使用する必要がある。アレニウスモデル式を利用すると、活性化エネルギーEを求めるだけで、第2加速係数F(T)が算出できる。
光源部2、即ち、レーザダイオードのpn接合の温度Tに対する第2加速係数F(T)を使用すると、駆動電流や光出力等の温度以外の駆動条件値Pによる加速係数から温度Tによる加速の影響を除外できるため、図12のような第1加速係数F(P)のグラフを複数の温度に対して備えることは不必要になり、第1加速係数F(P)を算出するために必要なデータ数が少なくなり、データ取得に要する時間が大幅に削減できる。
なお、光源部2がレーザダイオードあるいは複数のレーザダイオードから構成されるレーザダイオードモジュールである場合、複数のレーザダイオードあるいはレーザダイオードモジュールが、直接あるいは収納ケースを介して、レーザダイオードで発生する熱を吸収するための冷却板に装着されている場合が多いが、冷却板の温度分布を計測するために、複数の温度検出部5を冷却板に熱的に接続した状態に設置して、レーザダイオードの冷却板における位置によって、異なった実効的累積駆動時間tを算出する等、よりきめの細かい寿命管理を行っても良い。複数のレーザダイオードが独立に駆動できる複数のグループに分かれている場合は、それぞれのグループの残存寿命τを参照して、残存寿命τの長いグループのレーザダイオードを優先的に駆動して、残存寿命τの平準化を図ること等も可能である。
また、冷却板にヒートパイプを敷設して、冷却板の温度分布が均一になるようにして、特定のレーザダイオードの実効的累積駆動時間tが他のレーザダイオードより大幅に大きくなり、他のレーザダイオードより、かなり早く寿命が尽きるというような事態を避けることもできる。
[第15実施形態]
本発明の第15実施形態に係るレーザ装置においては、光源部2がレーザダイオードあるいは複数のレーザダイオードから構成されるレーザダイオードモジュールであって、第1算出部6が、第1加速係数F(P)を、数式4と数式5に示したように、駆動条件値Pを標準駆動条件値Pで除した数式、あるいは、駆動条件値Pからある正の整数を減じた値を標準駆動条件値Pから前記ある正の整数減じた値で除した数式の累乗関数として算出することができる。
Figure 2018006713
ここで、Pは標準駆動条件値、εは正の整数である。
図16は、光出力あるいは光出力を決める少なくとも一つ以上の光源部2の駆動条件値Pが光出力の場合であり、第1加速係数F(P)は、数式4で算出されており、標準駆動条件値P(標準光出力)は50Wである。図17は、駆動条件値Pが駆動電流の場合であり、第1加速係数F(P)は、数式5で算出されており、εは略閾値電流に相当し、標準駆動条件値P(標準駆動電流)は9Aである。
温度以外の駆動条件値による第1加速係数F(P)も、図14や図15に示したような式で導出することにより、第1加速係数F(P)の算出に当たって参照するデータが、殆ど冪数nだけになり、データ取得に要する時間が大幅に低減される。
光出力や駆動電流のようにpn接合の温度が変化する駆動条件値Pは、駆動条件値Pの変化に伴う温度の影響を除去した式を使用することによって、温度が異なっても、同じ式で第1加速係数F(P)が算出できるので、第1加速係数F(P)の算出に当たって必要な参照データを更に少なくすることができる。
なお、図16や図17に示したような第1加速係数F(P)の算出に当たって参照されるグラフ(データ)についても、図4のように、複数の実効的累積駆動時間tに対応した複数のデータを備え、実効的累積駆動時間tの経過に伴って、第1加速係数F(P)が変化する、即ち、冪数nが変化する場合にも、精度良く第1加速係数F(P)が算出できるようにしても良い。
以上、本発明の第1実施形態〜第15実施形態について説明したが、本発明は前述した実施形態に限るものではない。また、第1実施形態〜第15実施形態に記載された効果は、本発明から生じる最も好適な効果を列挙したに過ぎず、本発明による効果は、第1実施形態〜第15実施形態に記載されたものに限定されるものではない。
なお、本願では、第1算出部6、第2算出部9、記録部8、計算部7、制御部10を備えたレーザ装置1として記載しているが、各機能を説明するために機能ブロックに分けて記載しただけであり、互いに物理的に分離している必要性は無く、これらの機能ブロックの内の複数の機能ブロック、あるいはこれらの機能ブロックの全てを一つのプロセッサーで実現しても良い。
第1算出部6、第2算出部9、記録部8、計算部7、制御部10における処理は、ハードウェアまたはソフトウェアにより実現して良い。ソフトウェアによって実現される場合には、このソフトウェアを構成するプログラムが、コンピュータにインストールされる。また、これらのプログラムは、リムーバブルメディアに記録されてユーザに配布されても良いし、ネットワークを介してユーザのコンピュータにダウンロードされることにより配布されても良い。更に、これらのプログラムは、ダウンロードされることなくネットワークを介したWebサービスとしてユーザのコンピュータに提供されても良い。
1 レーザ装置
2 光源部
3 電源部
4 光出力検出部
5 温度検出部
6 第1算出部
7 計算部
8 記録部
9 第2算出部
10 制御部
11 レーザ光学系
12 冷却部
13 入力部
14 表示部

Claims (15)

  1. レーザ光源あるいは励起光源として機能する少なくとも一つ以上の光源部と、
    前記光源部に駆動電流を供給する少なくとも一つ以上の電源部と、
    前記光源部からの光出力を検出する少なくとも一つ以上の光出力検出部と、
    前記光源部あるいは前記光源部に熱的に接続する部材の温度を検出する少なくとも一つ以上の温度検出部と、
    前記温度検出部によって検出された温度あるいは前記温度検出部によって検出された温度から求められた前記光源部の温度が標準温度であり、前記光源部からの光出力あるいは光出力を決める少なくとも一つ以上の前記光源部の駆動条件値が標準条件値である場合を基準とする、前記温度と前記駆動条件値に依存する前記光源部の寿命消費の加速係数を算出する第1算出部と、
    前記光源部の駆動に伴って変化し、前記光源部の光出力特性から求めることが可能な少なくとも一つ以上の前記光源部の性能指数および前記性能指数の変化速度の内の少なくとも一方の前記光源部の特性に対して前記光源部の生涯寿命および前記光源部の残存寿命の内の少なくとも一方の寿命を算出する第2算出部と、
    前記加速係数の時間積分を前記光源部の実効的駆動時間として計算する計算部と、
    前記計算部によって計算された、ある設定時間から前記設定時間より後の任意時間までの前記加速係数の時間積分を前記任意時間までの実効的累積駆動時間として記録すると共に、前記第2算出部で算出された前記生涯寿命および前記残存寿命と前記光出力特性を記録可能な記録部と、
    前記各部を制御する制御部を備えたことを特徴とするレーザ装置。
  2. 前記第1算出部によって算出される前記加速係数が、前記実効的累積駆動時間にも依存することを特徴とする請求項1に記載のレーザ装置。
  3. 前記第2算出部が、前記光源部の前記性能指数および前記性能指数の変化速度の内の少なくとも一方の前記光源部の特性に対して算出した前記光源部の生涯寿命から前記記録部に記録されている前記任意時間までの前記実効的累積駆動時間を減算して、前記任意時間における前記光源部の残存寿命を算出する機能を有することを特徴とする請求項1または請求項2に記載のレーザ装置。
  4. 前記制御部からの指令により、所定のスケジュールに沿って、前記電源部が光出力測定のための駆動電流を前記光源部に出力して、前記駆動電流と前記光出力検出部で検出された光出力との関係を表す前記光源部の光出力特性を測定し、その時点における前記実効的累積駆動時間と対応させて、前記光出力特性を記録部に追記あるいは記録する機能を有することを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  5. 駆動電流を独立して制御可能な複数の前記光源部を備え、前記駆動電流を独立して制御可能な個々の前記光源部に対して、それぞれ光出力を検出可能な前記光出力検出部を少なくとも一つ以上備えることを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  6. 前記第2算出部によって、前記光源部の前記性能指数と前記性能指数の変化速度に対して算出される前記光源部の前記残存寿命が、前記実効的累積駆動時間にも依存することを特徴とする請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  7. 前記実効的累積駆動時間と対応させて、前記記録部に記録あるいは追記された光出力特性から求めた前記性能指数の変化速度あるいは変化幅が前記光出力特性の測定誤差を越える所定の値を越えた場合に、過去の前記光源部の前記性能指数や前記性能指数の変化速度に基づいて前記第2算出部によって算出された前記生涯寿命を、新たに測定された前記光源部の前記光出力特性から求めた前記光源部の前記性能指数と前記性能指数の変化速度から算出された前記光源部の前記残存寿命に前記実効的累積駆動時間を加算した値で置換える機能を有することを特徴とする請求項1〜請求項6のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  8. 前記記録部に、前記実効的累積駆動時間と対応させて記録あるいは追記する前記光出力特性と共に、前記第2算出部によって算出された、前記実効的累積駆動時間における前記光源部の前記残存寿命を記録あるいは追記する機能を有することを特徴とする請求項1〜請求項7のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  9. 前記記録部に、前記実効的累積駆動時間と対応させて記録あるいは追記する前記光出力特性と共に、前記光出力特性の測定時から、次の前記光出力特性の測定時までの期間の、前記温度検出部によって検出された温度あるいは前記温度検出部によって検出された温度から求められた前記光源部の温度および前記光源部の前記駆動条件値の内の少なくとも一方の前記光源部の駆動条件に関する情報を記録あるいは追記する機能を有することを特徴とする請求項1〜請求項8のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  10. 前記記録部に記録したデータを記録媒体あるいは通信手段によって出力可能なことを特徴とする請求項1〜請求項9のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  11. 前記第1算出部が前記加速係数の算出に当たって参照するデータおよび前記第2算出部が前記光源部の前記生涯寿命や前記残存寿命を算出するに当たって参照するデータの内の少なくとも一方のデータに関して、前記レーザ装置における前記実効的累積駆動時間が経過した時点でも、記録媒体あるいは通信手段によってデータの入替えが可能であり、前記記録部に前記実効的累積駆動時間のどの時点で参照するデータを入れ替えたかを記録として残すことが可能なことを特徴とする請求項1〜請求項10のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  12. 前記第1算出部が、前記加速係数を、前記光源部からの光出力あるいは光出力を決める少なくとも一つ以上の前記光源部の駆動条件値に依存する第1加速係数と、前記温度検出部で検出される温度あるいは前記温度検出部によって検出された温度から求められた前記光源部の温度に依存する第2加速係数の積として算出することを特徴とする請求項1〜請求項11のいずれか1項に記載のレーザ装置。
  13. 前記第1加速係数は、前記駆動条件値が変化することに付随して前記光源部における発熱量が変わることによって前記光源部の温度が変化することに起因する寿命消費の加速効果が除外された、前記光源部の温度を前記標準温度に固定した条件での加速係数であり、前記第2加速係数は、前記光源部の温度による加速係数であることを特徴とする請求項12に記載のレーザ装置。
  14. 前記光源部がレーザダイオードあるいは複数のレーザダイオードから構成されるレーザダイオードモジュールであって、前記温度検出部が前記レーザダイオードのpn接合から前記pn接合で発生した熱を吸熱する冷却部までの熱経路のいずれかの位置の温度を検出するように設置されており、前記第1算出部が、前記温度検出部によって検出された温度と、温度検出位置から前記pn接合までの熱抵抗と、前記光源部の光出力特性から算出された前記pn接合における発熱量とから算出された前記pn接合の温度に対して、前記第2加速係数を算出することを特徴とする請求項12または請求項13に記載のレーザ装置。
  15. 前記光源部がレーザダイオードあるいは複数のレーザダイオードから構成されるレーザダイオードモジュールであって、前記第1算出部が、前記第1加速係数を、前記駆動条件値を標準駆動条件値で除した数式、あるいは、前記駆動条件値からある正の整数を減じた値を前記標準駆動条件値から前記ある正の整数減じた値で除した数式の累乗関数として算出することを特徴とする請求項12〜請求項14のいずれか1項に記載のレーザ装置。
JP2016136319A 2016-07-08 2016-07-08 温度を含む駆動条件を考慮した実効的駆動時間と残存寿命が算出可能なレーザ装置 Expired - Fee Related JP6374447B2 (ja)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016136319A JP6374447B2 (ja) 2016-07-08 2016-07-08 温度を含む駆動条件を考慮した実効的駆動時間と残存寿命が算出可能なレーザ装置
US15/640,728 US9887514B2 (en) 2016-07-08 2017-07-03 Laser apparatus enabling calculation of effective driving time and remaining lifetime taking account of drive conditions including temperature
DE102017006331.1A DE102017006331A1 (de) 2016-07-08 2017-07-04 Lasereinrichtung zur Ermöglichung der Berechnung einer effektiven Betriebszeit und einer Restbetriebszeit unter Berücksichtigung von Betriebsbedingungen einschließlich der Temperatur
CN201710546831.2A CN107591677B (zh) 2016-07-08 2017-07-06 激光装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016136319A JP6374447B2 (ja) 2016-07-08 2016-07-08 温度を含む駆動条件を考慮した実効的駆動時間と残存寿命が算出可能なレーザ装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2018006713A true JP2018006713A (ja) 2018-01-11
JP6374447B2 JP6374447B2 (ja) 2018-08-15

Family

ID=60676480

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016136319A Expired - Fee Related JP6374447B2 (ja) 2016-07-08 2016-07-08 温度を含む駆動条件を考慮した実効的駆動時間と残存寿命が算出可能なレーザ装置

Country Status (4)

Country Link
US (1) US9887514B2 (ja)
JP (1) JP6374447B2 (ja)
CN (1) CN107591677B (ja)
DE (1) DE102017006331A1 (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019187399A1 (ja) * 2018-03-27 2019-10-03 株式会社フジクラ レーザモジュール及びレーザ装置
JP2020177945A (ja) * 2019-04-15 2020-10-29 ファナック株式会社 レーザ装置
JP2021162612A (ja) * 2020-03-30 2021-10-11 キヤノン株式会社 光源装置、照明装置、及び露光装置。
JP7515001B2 (ja) 2020-08-18 2024-07-11 サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー 予測的に較正をスケジュール設定する装置及び方法

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20180316555A1 (en) * 2017-04-29 2018-11-01 Cisco Technology, Inc. Cognitive profiling and sharing of sensor data across iot networks
EP3462216B1 (en) * 2017-09-27 2022-06-01 Rockwell Automation Switzerland GmbH Optoelectronic sensor having plug-in unit for providing extended functionality
WO2022230053A1 (ja) * 2021-04-27 2022-11-03 三菱電機株式会社 半導体レーザ光源装置
CN113378368B (zh) * 2021-06-03 2022-07-22 中国人民解放军32181部队 一种基于非线性退化轨迹模型的加速因子评估方法
CN113343463B (zh) * 2021-06-08 2022-04-29 西南交通大学 考虑老化进程的地铁牵引整流器二极管剩余寿命预测方法
CN113570138B (zh) * 2021-07-28 2022-04-26 朗坤智慧科技股份有限公司 一种时间卷积网络的设备剩余使用寿命预测方法及装置
CN114925753A (zh) * 2022-04-28 2022-08-19 南通东升灯饰有限公司 一种led地灯的使用异常报警系统

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000180764A (ja) * 1998-12-17 2000-06-30 Fuji Xerox Co Ltd 光走査装置
JP2005257531A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Omron Corp 光電センサ装置
JP2006165298A (ja) * 2004-12-08 2006-06-22 Furukawa Electric Co Ltd:The 光増幅器
JP2006222411A (ja) * 2005-01-17 2006-08-24 Fanuc Ltd レーザ発振器及びレーザ発振器の励起光源の寿命推定方法
EP2071568A1 (en) * 2007-12-13 2009-06-17 Harman/Becker Automotive Systems GmbH Temperature sensing in an optical reproducing / recording device
JP2009182471A (ja) * 2008-01-29 2009-08-13 Fujitsu Ltd 故障予測装置、故障予測方法および故障予測プログラム
JP2012080286A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Brother Ind Ltd 光学装置および画像表示装置
JP2013077367A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Sharp Corp 情報記録装置、情報記録装置の制御方法、計算機、及び映像記録装置
JP2014212234A (ja) * 2013-04-19 2014-11-13 住友電気工業株式会社 光送信機および発光素子の寿命予測方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3934410B2 (ja) 2001-12-05 2007-06-20 アルパイン株式会社 ディスク再生装置
JP2003338651A (ja) * 2002-05-20 2003-11-28 Mitsubishi Cable Ind Ltd Ld監視システム及び監視方法、並びに、そのシステムを制御するコンピュータプログラム及びそれを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
JP4447262B2 (ja) 2002-07-25 2010-04-07 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置、表示装置の駆動方法及び電子機器
US20040150594A1 (en) 2002-07-25 2004-08-05 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device and drive method therefor
JP2004070346A (ja) 2002-07-26 2004-03-04 Teijin Ltd ポリカーボネート系配向フィルムおよび位相差フィルム
JP3763145B2 (ja) 2003-05-09 2006-04-05 船井電機株式会社 光ディスク装置
JP2005145006A (ja) * 2003-11-19 2005-06-09 Kyocera Mita Corp 露光装置、画像形成装置、寿命判定装置
JP4507634B2 (ja) 2004-02-24 2010-07-21 ソニー株式会社 寿命提示回路および寿命提示方法ならびに記録再生装置
US7366214B2 (en) * 2004-09-14 2008-04-29 B & W Property Inc. Diode-pumped solid-state laser with self-maintained multi-dimensional optimization
CN102439801B (zh) * 2009-05-21 2013-06-26 松下电器产业株式会社 气体激光振荡装置及气体激光加工机
US9190809B2 (en) * 2012-12-29 2015-11-17 Zephyr Photonics Inc. Method and apparatus for active voltage regulation in optical modules

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000180764A (ja) * 1998-12-17 2000-06-30 Fuji Xerox Co Ltd 光走査装置
JP2005257531A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Omron Corp 光電センサ装置
JP2006165298A (ja) * 2004-12-08 2006-06-22 Furukawa Electric Co Ltd:The 光増幅器
JP2006222411A (ja) * 2005-01-17 2006-08-24 Fanuc Ltd レーザ発振器及びレーザ発振器の励起光源の寿命推定方法
EP2071568A1 (en) * 2007-12-13 2009-06-17 Harman/Becker Automotive Systems GmbH Temperature sensing in an optical reproducing / recording device
JP2009182471A (ja) * 2008-01-29 2009-08-13 Fujitsu Ltd 故障予測装置、故障予測方法および故障予測プログラム
JP2012080286A (ja) * 2010-09-30 2012-04-19 Brother Ind Ltd 光学装置および画像表示装置
JP2013077367A (ja) * 2011-09-30 2013-04-25 Sharp Corp 情報記録装置、情報記録装置の制御方法、計算機、及び映像記録装置
JP2014212234A (ja) * 2013-04-19 2014-11-13 住友電気工業株式会社 光送信機および発光素子の寿命予測方法

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2019187399A1 (ja) * 2018-03-27 2019-10-03 株式会社フジクラ レーザモジュール及びレーザ装置
JP2019175906A (ja) * 2018-03-27 2019-10-10 株式会社フジクラ レーザモジュール及びレーザ装置
CN111886760A (zh) * 2018-03-27 2020-11-03 株式会社藤仓 激光模块及激光装置
US11309683B2 (en) 2018-03-27 2022-04-19 Fujikura Ltd. Laser module and laser apparatus
JP2020177945A (ja) * 2019-04-15 2020-10-29 ファナック株式会社 レーザ装置
JP2021162612A (ja) * 2020-03-30 2021-10-11 キヤノン株式会社 光源装置、照明装置、及び露光装置。
JP7418128B2 (ja) 2020-03-30 2024-01-19 キヤノン株式会社 光源装置、照明装置、及び露光装置。
JP7515001B2 (ja) 2020-08-18 2024-07-11 サイマー リミテッド ライアビリティ カンパニー 予測的に較正をスケジュール設定する装置及び方法

Also Published As

Publication number Publication date
US9887514B2 (en) 2018-02-06
JP6374447B2 (ja) 2018-08-15
DE102017006331A1 (de) 2018-01-11
CN107591677B (zh) 2019-03-08
CN107591677A (zh) 2018-01-16
US20180013259A1 (en) 2018-01-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6374447B2 (ja) 温度を含む駆動条件を考慮した実効的駆動時間と残存寿命が算出可能なレーザ装置
EP2527942B1 (en) System and method for estimating remaining life for a device
JP2017163036A (ja) 機械学習装置、レーザ装置および機械学習方法
JP6328683B2 (ja) 小型チラーが使用可能なレーザ装置
EP2431719A1 (en) Temperature measurement system and temperature measurement method
US11774174B2 (en) Profiling an oven
US20090254287A1 (en) Method for predicting lifetime of photo-semiconductor device and drive apparatus
US20140146845A1 (en) Thermally determining flow and/or heat load distribution in parallel paths
JP5825352B2 (ja) 温度分布測定システム、温度分布測定装置及び温度分布測定方法
CN110829175B (zh) 激光装置
JP5673830B2 (ja) 温度分布測定装置及び温度分布測定方法
JP2019046311A (ja) 情報処理装置および情報処理方法
JP2010107279A (ja) 温度測定方法
US8582406B2 (en) Information recording device detecting issues in a laser included therein and a method of controlling the same
JPWO2012056567A1 (ja) 温度測定システム及び温度測定方法
JP2002197709A5 (ja) 記録再生装置、状態検出方法、情報処理装置、情報処理方法、および記録媒体
JP2018112502A (ja) 熱電対による温度測定装置
JP5772464B2 (ja) 寿命推定装置、寿命推定方法及びプログラム
CN112463565A (zh) 一种服务器寿命预测方法及相关设备
JP7152222B2 (ja) ファンモータの寿命予測方法およびファンモータの寿命予測装置
JP2017182536A (ja) 高温炉設備の保全管理装置および方法
JP2017195343A (ja) 実効的駆動時間を算出するレーザ装置
WO2024048173A1 (ja) 光出力制御システム
CN117680574A (zh) 智能键合铜丝生产系统自动监测劈刀异常方法及系统
JP2018119915A (ja) 製品管理装置

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20180516

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180626

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180719

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6374447

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees